CN201194167Y - 具有角度的滑道式存储卡测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型为一种具有角度的滑道式存储卡测试装置，包括滑道模块、固定模块、闸门模块及探针模块，该滑道模块包括模板单元以及机架，该模板呈一倾斜角度设置于机架处，该模板单元的上表面具有多道滑道，该滑道可供待测存储卡滑动。该固定模块包括第一压板机构及第二压板机构，该第一、第二压板机构采用紧邻方式横向设置前述模板单元处，能适时将不同位置的待测存储卡暂时固定于滑道内。该探针模块设置于前述模板单元的下方位置，具有多组探针单元，该探针单元能适时上升与待测存储卡相接触。该闸门模块邻近前述固定模块，使测试后的存储卡得以经该滑道输出。由此提供一种体积小、结构简单、且快速稳定性佳、又低耗能的自动化存储卡测试读写装置。

Description

具有角度的滑道式存储卡测试装置

技术领域

本实用新型为一种存储卡测试读写装置的技术领域，尤其指一种采用倾斜式滑道的设计，配合相关的机械结构，让测试装置能进行存储卡的自动化测试读写作业。

背景技术

一般快闪式存储卡(例如SD卡、mini SD卡、MMC卡...等)在厂商出货前，须至少通过二道的测试作业。第一道为开卡测试，确认存储卡是否为良品。第二道为读写测试，测试存储卡是否能正常作业。习用的测试作业包括开卡测试与读写测试皆是采用手动模式，测试机器为多台与计算机联机的治具及设备。测试流程依序为：以人工确认测试物数量、设定测试参数、连接测试治具、将测试物放置于测试治具处、进行开卡(或读写测试)、以及依测试结果区分良品与不良品。上述每道流程皆为人工手动模式，故须大量人员操作，同时也须大量测试治具及设备。因此以人工测试作业的工厂，常见的情形工厂内具有大量的测试设备及大量的测试人员。

基于上述原因，部份厂商即开始研发自动化的测试机台。自动化测试机台通常包括一供料装置，负责容纳待测存储卡的料盘。一取放装置，负责取放待测/完测的存储卡。一测试装置，负责测试存储卡。多组载送装置，负责于供料装置与测试装置间载送待测/完测的存储卡。一收料装置负责容纳完测的存储卡的料盘。此类的自动化测试机台一次能测试的存储卡数目愈多，机器的体积就愈大。再者该自动化测试机台须具有多组载送装置负责将存储卡由供料装置移出、送至测试装置处，或者将测试完成的存储卡由测试装置再送回收料装置处，如此繁复的操作流程，须配合数目众多的机器、传感器及复杂的电控系统，使得自动化测试机台的造价相当昂贵。

因此本创作人即思考如何设计一组结构简单、节省能源又确实稳定的测试装置，主要负责进行存储卡的测试读写作业。将存储卡移动置至测试区进行测试的动作，及测试后良品及不良品的退出动作皆不以繁复的机构辅助，如此能以较简单的机械设备完成存储卡的测试读写。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种具有角度的滑道式存储卡测试装置，主要是设计一组测试装置能以自动化的机械系统，负责进行存储卡的测试作业。

本实用新型的次要目的是提供一种体积小、成本低的测试装置。

为达上述的目的，本实用新型主要包括一滑道模块、一固定模块、一闸门模块以及一探针模块。该滑道模块包括一模板单元以及一机架，该模板呈一倾斜角度设置于机架处，该模板单元的上表面具有多个滑道，每个滑道皆可供待测存储卡滑动。该固定模块包括第一压板机构及第二压板机构，该第一、第二压板机构采用紧邻方式横向跨设于前述模板单元处，能适时将滑道上不同位置的待测存储卡暂时固定于滑道内。该探针模块设置于前述滑道平台的下方位置，具有多组探针单元，该探针单元能适时上升与待测存储卡相接触，进行相关的测试作业。该闸门模块也采用横向设置于前述模板单元处，邻近前述固定模块，能适时作动使模板单元的多个滑道开启或被关闭。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该模板单元的多个滑道的进料区段具有一料管机构。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该模板单元的多个滑道的进料区段具有一第一送片机构。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中第一送片机构包括有一马达、一主动轮轴、一从动轮轴，该主动轮轴具有多个滚轮，该模板单元的每一滑道的进料区段内具有一导引孔，该主动轮轴与从动轮轴采用分别设置于模板单元的上方及下方，该主动轮轴的滚轮位于该滑道的导引孔内。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该模板单元的多个滑道的中段区域具有一第二送片机构。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该模板单元的多个滑道的后段区域具有多个阻挡电磁阀，让阻挡电磁阀设置于模板单元底面，每一个阻挡电磁阀对应着一滑道，该阻挡电磁阀具有一伸缩顶针，当阻挡电磁阀作动时该伸缩顶针会缩回至滑道下方。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该第一压板机构包括多个施压单元及一升降单元，该升降单元能适时该多个施压单元产生同步的上升或下降动作。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该第二压板机构包括多个施压单元及一升降单元，该升降单元能适时让多个施压单元产生同步的上升或下降动作。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该探针模块包括一探针升降单元及多组探针单元，该探针单元是由多根弹簧探针所构成，该弹簧探针的数目及分布位置则依所待测的存储卡规格而定，另外于每一滑道内具有一探针开口，该探针开口的位置是对应着前述探针单元的所在之处，该探针升降单元能适时带动多组探针单元产生同步的升降动作。

所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其中该滑道模块的模板单元为可调整角度方式，该滑道模块包括一机架、一模板单元及至少一可调式支撑杆组，该模板单元的一侧边是枢接于机架处，该模板单元相对于枢接处的另一侧边则以该可调整式支撑杆结合机架的另一侧边，使该模板单元倾斜一角度，欲调整角度时，转动该可调整式支撑杆使其伸长或缩短，即可改变模板单元的倾斜角度。

本实用新型的有益效果：主要是设计一组测试装置能以自动化的机械系统，负责进行存储卡的测试作业。利用一组具有角度的滑道，让存储卡能自动滑至测试区，待测试完成后再滑出滑道而被收集，如此减少了负责移载存储卡的机器数量，降低了构件数量及复杂度。另外本实用新型连续的测试作业，与习用人工操作的测试作业或与市售自动测试机台相较，使测试效率大幅提升且成本大幅降低。本实用新型的体积小、成本低，该测试装置一次能进行至少8个存储卡且连续性的测试作业，让存储卡测试效率有效提升。另外整体的体积小，在有限的工厂空间内所能放置更多数量的测试装置，使得测试效率相对提升。另外机器造价较低，为传统自动化测试装置的十分之一或更少，对测试厂商设备投资的资金压力相对减少，因此更具市场竞争力。

附图说明

图1为本实用新型的立体图；

图2为本实用新型的侧视图；

图3为本实用新型模板单元的纵向剖面图；

图4为本实用新型固定模块的立体图；

图5为本实用新型的压板模块、闸门模块及探针模块的局部剖面放大示意图；

图6为本实用新型的仅闸门模块与模板单元之间的结构平面示意图；

图7为本实用新型的探针模块的立体图。

主要元件符号说明

A    测试装置

1    滑道模块

11   模板单元                 12   机架

13   滑道                     131  导引孔

132  阻挡孔                   133  探针开口

14   可调式支撑杆             15   料管机构

16   第一送片机构             161  马达

162  主动轮轴                 163  从动轮轴

164  滚轮                     17   第二送片机构

18   阻挡电磁阀               181  伸缩顶针

19   辅助导轮机构             191  马达

192  轮轴                     193  辅助轮

2    固定模块

21   第一压板机构             211  施压单元

2111 缓冲顶柱                 2112 弹簧

2113 调整螺丝                 212  升降单元

2121 压板                     2122 作动轮

2123 机座                     2124 突块

2125 凸轮

22   第二压板机构

221  施压单元                 222  升降单元

2221 压板                     2222 作动轮

2224 马达                     2225 时规皮带

3   闸门模块

31  闸门单元               311  门板

312 缺口                   32   动力单元

4   探针模块

41  探针单元               411  弹簧探针

42  探针升降单元           421  平板

422 作动轮                 423  机座

424 马达

具体实施方式

为使熟悉该项技艺人士了解本实用新型的目的、特征及功效，兹通过下述具体实施例，并配合所附之图式，对本实用新型详加说明如后。

如图1、图2所示，为本实用新型的立体图及侧视图。本实用新型具有角度的滑道式存储卡测试装置A包括有一滑道模块1、一固定模块2、一闸门模块3及一探针模块4，该滑道模块1包括一模板单元11以及一机架12，该模板单元11是呈一倾斜角度设置于机架12处，该模板单元11的上表面具有多个滑道13。本实施例是利用滑道13具有斜度的特性，使待测试存储卡放置于滑道13处时即自动能向下滑行。该固定模块2包括一第一压板机构21及第二压板机构22，该第一、第二压板机构21、22采用紧邻方式横向设置前述滑道模块1的模板单元11处。该第一压板机构21具有多组施压单元211，而第二压板机构也具有多组施压单元221。第一压板机构21用以暂时固定着待测试存储卡，以供该探针模块4与待测试存储卡接触而进行测试作业。该第二压板机构22虽然也是暂时固定另一个待测试存储卡，但是目的是在避免闸门模块3开启时，未测试的存储卡滑出。该闸门模块3，设置于前述模板单元11的上表面，邻紧着前述固定模块2的第一压板机构21的侧边，该闸门模块3具有一闸门单元31，该闸门单元31能适当产生横向的位移，使得模板单元11的多个滑道13被关闭或开启，另外该闸门机构3有作为待测存储卡的定位功能。该探针模块4设置于前述模板单元11的下方位置，位置对应于第一压板机构21处，该探针模块4具有多组探针单元41，该探针单元41能适时上升与待测存储卡相接触。如此本实用新型的测试装置A得顺利进行存储卡的测试工作。

以下就各构件的详细结构作一说明：

该滑道模块1主要目的使待存储卡自动滑动至测试区，待测试完成后自动再离开。为了使待测存储卡能自动滑行，本实用新型则采用斜倾斜方式设计。该滑道模块1主要包括一模板单元11及一机架12，该模板单元11是呈一倾斜角度设置于机架12处，该模板单元11的上表面具有多个滑道13。该模板单元11的倾斜角度可为固定式或可调整式。在本实施例中则为一可调整式，因此该滑道模块1内可进一步包括至少为一组的可调式支撑杆组14。此时，该模板单元11一侧边是枢接于机架12处，该模板单元11相对于枢接处的另一侧边则以该可调整式支撑杆组14结合机架12的另一侧边，使该模板单元11倾斜一角度(如图2)。欲调整角度时，转动该可调整式支撑杆组14使其伸长或缩短，即可改变模板单元11的倾斜角度。

上述结构为本实用新型滑道模块1的基本架构，但为了使该滑道模块1在使用上达成自动化及待测存储卡滑动时更为顺畅稳定，该滑道模块1另包括有多个料管机构15、第一送片机构16、第二送片机构17、多个阻挡电磁阀18、以及一辅助导轮机构19。

将待测存储卡放置于模板单元11的滑道13内的方式有很多种，例如机械手臂的自动化方式、输送带的传送...等。但在本实施例则采用最简单手动的方式，即于每一个滑道13的前段区域(即进料区域)具有一料管机构15，该料管机构15能供一可插拔的存储卡多片式堆栈料管插置。该料管机构15底部与滑道13底面之间具有一空隙，使料管机构15内堆栈的待测存储卡经该空隙依序滑入滑道13内。为了使待测存储卡能更顺利进入滑道13内，本实用新型另设计一第一送片机构16来辅助待测存储卡移动。如图1、图3所示，该第一送片机构16设置于模板单元11处，紧邻前述料管机构15处，目的使最低层的待测存储卡顺利由料管机构15内被带出。该第一送片机构16包括有一马达161、一主动轮轴162、一从动轮轴163，该马达161带动主动轮轴162转动，该主动轮轴162的轴上具有多个滚轮164，该多个滚轮164为间隔设置。该模板单元11的每一个滑道13内皆具有一导引孔131，该导引孔131延伸至料管机构15下方位置且寛度较窄。该主动轮轴162的每一个滚轮164皆位于相对应的导引孔131内。该主动轮轴162与从动轮轴163分别设置于模板单元11的下方及上方位置。当料管机构15内最底层的待测存储卡落入滑道13内时，因滑道13有斜度会自然下滑而离开料管机构15。本实施例为增加平稳性，则由滚轮164与待测存储卡下面接触，从动轮轴163由上方辅助导引顺利将待测存储卡带出料管机构15底部并送入滑道13内。

该模板单元11接近固定模块2的附近另具有一第二送片机构17。该第二送片机构17的结构完全与前述第一送片机构16相同，故不再就结构作一详细描述。该第二送片机构17的目的是为使排列于滑道13内的待测存储卡能确实进入固定模块2内的区域，以进行后续的测试作业。

该多个阻挡电磁阀18设置于模板单元11的最末段区域的底面，接近滑道13的出口处。该阻挡电磁阀18具有一伸缩顶针181，每一阻挡电磁阀18位于一滑道13底部的相对处，此处的每一滑道13内则具有一阻挡孔132。最初状态时该伸缩顶针181是伸出于滑道13内，当阻挡电磁阀18作动时(通电)，该伸缩顶针181会经由阻挡孔132处缩回滑道13下方，用以排放测试完成的存储卡滑出滑道13处。

该辅助导轮机构19设置于模板单元后段局域的顶面，包括有一马达191、一轮轴192及多个辅助轮193，该多个辅助轮193采用等间距分布于轮轴192处，每一辅助轮193对应一滑道13。该马达191则负责带动轮轴192转动。该辅助导轮机构19是帮助完测的存储卡进入预备退出滑道13处。

如图1、图2、图4所示，该固定模块2包括一第一压板机构21及一第二压板机构22，该第一压板机构21、第二压板机构22的结构大致相同，本实施例先就第一压板机构21作说明。该第一压板机构21包括多组施压单元211及一升降单元212，每一个施压单元211位于一滑道13的上方位置。该升降单元212则负责将每一施压单元211同步带动下降，而使施压单元211压置于待测存储卡顶部，以暂时将存储卡固定于滑道12处。该施压单元211及升降单元212可为各种方式设计，本实施例仅各提供一结构作说明，但并不因此限制本实用新型的范围。该升降单元212包括一压板2121、一作动轮2122、以及一机座2123，该机座2123处设有滑轨使得该压板2121能平稳地上升或下降。该压板2121是供前述多个施压单元211设置之处，其上另具有多个突块2124。该作动轮2122可接受外部的动力使之转动，其轮轴上设有多个凸轮2125。该凸轮2125并与前述突块2124相接触。当作动轮2122转动时，利用凸轮2125与突块2124的关系，即能带动压板2121上升或下降。如图5所示，该施压单元211则包括有一缓冲顶柱2111、一弹簧2112以及一调整螺丝2113，该缓冲顶柱2111是由下而上插置于该压板2121处，该缓冲顶柱2111底部则包覆着橡胶，该缓冲顶柱2111上半部则突出于压板2121之上。该调整螺丝2113结合于缓冲顶柱2111的上半部，该弹簧2112则套置于缓冲顶柱2111的下半部外围。如此结构使得缓冲顶柱2111保有向上移动的弹性。故当该施压单元211施压于待测存储卡顶部时，不会破坏到待测存储卡，且能更确定测试探针与存储卡的密合接触。

该第二压板机构22的结构与第一压板机构21相似，仍是由多个施压单元221及一升降单元222所构成。由该升降单元222带动多个施压单元221同步下降。该第二压板机构22是为了在测试作业完成后，前排的存储卡滑出时，后排的待测存储卡由第二压板机构22暂时固定着，待闸门模块3关闭后，该施压单元221才上升，使待测存储卡进入待测区处。该施压单元221结构与施压单元211相同，故不再描述。而升降单元222主体结构仍与升降单元212相同，仍包括有一压板2221、一作动轮2222。但本实施例中，该固定模块2主要的动力来源马达2224是设置于第二压板机构22处，并利用一时规皮带2225使得两作动轮2222及2122同步转动，由于两者的凸轮设计略为不同，故施压单元211及施压单元221的升降时序并不相同。

如图1、图6所示，该闸门模块3，设置于前述模板单元11的上表面，邻紧着前述固定模块2处。该闸门模块3包括一闸门单元31及一动力单元32。该闸门单元31具有间隔设置的多个门板311及多个缺口312，并采用横向设置于模板单元11上表面。动力单元32则能适时带动闸门单元31横向移动，利用门板311阻挡或离开滑道13，而达开启或关闭的目的。

如图2、图5、图7所示，该探针模块4是设置于前述模板单元11的下方位置，并对应着前述固定模块2的第一压板机构21处。该探针模块4主要包括多组探针单元41及一探针升降单元42。该探针单元41是由多根弹簧探针411所构成，该弹簧探针411的数目及分布位置则依待测的存储卡规格而定。该探针单元41底部则能与测试机台的连接器连接。该探针升降单元42能适时带动多组探针单元41上升或下降，主要包括一平板421、一作动轮422、一机座423、及一马达424。该机座423处设有滑轨使得该平板421能平稳地上升或下降，该马达424则带动作动轮422转动，该作动轮422上具有多个凸轮来控制平板421的升降时序。而该多组探针单元41则设置于平板421处。另外于每一滑道13内的相对位置并具有一探针开口133，该探针开口133的位置是对应着前述探针单元41的所在之处。

接着就本实用新型的作动流程作一说明：待测存储卡呈堆栈方式放置于堆栈料管后，该堆栈料管再插入料管机构15内。当待测存储卡进入滑道13内时，利用滑道13的斜面及第一送片机构16使待测存储卡由料管机构15底部之间隙依序向下滑行，此时该闸门模块3为关闭状态，使待测存储卡依序排列分布于滑道13内。欲进行测试时，该固定模块2的第一压板机构21及第二压板机构22作动，施压邻近闸门模块3的第一排待测存储卡及第二排的待测存储卡。之后，该探针模块4作动，使得探针单元41上升与第一排的待测存储卡接触，并进行相关的测试工作。完成测试后，根据测试结果通知位于滑板单元11后段的电磁阻挡阀18作动。之后探针单元41下降，第一压板机构21上升。该阀门模块3呈开启状态，第一排的测试完成的存储卡滑过闸门单元31进入滑道13的出口区域。此时将依预先设定状态，该电磁阻挡阀18使不良品暂时无法滑出，良品则先行滑出而被收集，之后再由另一组收集装置移动至与滑道13的出口区域，而该电磁阻挡阀18则下降使得不良品滑出而被收集。之后闸门模块3再度关闭，第二压板机构22上升使第二排的待测存储卡移动至第一排位置。如此不断循环进行，即能以自动化方式进行存储卡的测试作业。

但是，以上所述，仅为本实用新型的列举实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围。即凡是依本实用新型权利要求书范围所作的均等变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。

Claims (10)

1.一种具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，包括：

一滑道模块，包括一模板单元以及一机架，该模板单元呈一倾斜角度设置于机架处，该模板单元的上表面具有多个滑道，该滑道供待测存储卡滑动；

一固定模块，设置于前述模板单元之上，具有第一压板机构及第二压板机构，该第一、第二压板机构采用紧邻方式横向跨设于前述模板单元处，能适时将不同位置的待测存储卡暂时固定于滑道内；

一闸门模块，设置于前述模板单元之上，邻紧着前述固定模块，该闸门模块具有一闸门单元，该闸门单元能适当产生横向的位移，使得模板单元的多个滑道被关闭或开启；

一探针模块，设置于前述模板单元之下，具有多组探针单元，该探针单元能适时上升与待测存储卡相接触。

2.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该模板单元的多个滑道的进料区段具有一料管机构。

3.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该模板单元的多个滑道的进料区段具有一第一送片机构。

4.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中第一送片机构包括有一马达、一主动轮轴、一从动轮轴，该主动轮轴具有多个滚轮，该模板单元的每一滑道的进料区段内具有一导引孔，该主动轮轴与从动轮轴采用分别设置于模板单元的上方及下方，该主动轮轴的滚轮位于该滑道的导引孔内。

5.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该模板单元的多个滑道的中段区域具有一第二送片机构。

6.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该模板单元的多个滑道的后段区域具有多个阻挡电磁阀，让阻挡电磁阀设置于模板单元底面，每一个阻挡电磁阀对应着一滑道，该阻挡电磁阀具有一伸缩顶针，当阻挡电磁阀作动时该伸缩顶针会缩回至滑道下方。

7.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该第一压板机构包括多个施压单元及一升降单元，该升降单元能适时该多个施压单元产生同步的上升或下降动作。

8.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该第二压板机构包括多个施压单元及一升降单元，该升降单元能适时让多个施压单元产生同步的上升或下降动作。

9.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该探针模块包括一探针升降单元及多组探针单元，该探针单元是由多根弹簧探针所构成，该弹簧探针的数目及分布位置则依所待测的存储卡规格而定，另外于每一滑道内具有一探针开口，该探针开口的位置是对应着前述探针单元的所在之处，该探针升降单元能适时带动多组探针单元产生同步的升降动作。

10.如权利要求1所述的具有角度的滑道式存储卡测试装置，其特征在于，其中该滑道模块的模板单元为可调整角度方式，该滑道模块包括一机架、一模板单元及至少一可调式支撑杆组，该模板单元的一侧边是枢接于机架处，该模板单元相对于枢接处的另一侧边则以该可调整式支撑杆结合机架的另一侧边，使该模板单元倾斜一角度，欲调整角度时，转动该可调整式支撑杆使其伸长或缩短，即可改变模板单元的倾斜角度。

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