CN1942948A - 光拾取器以及光盘装置 - Google Patents

Abstract

一种光拾取器，包括：用于以光照射光盘(4)的光源(1d)；将光会聚在光盘(4)上的透镜(3)；光检测器(1c)，检测从光盘(4)的信号面反射的光，将其变换为电信号并具有多个检测区域(1cf、1ct)；全息元件(1a)，其具有将反射光导入到光检测器(1c)的全息区域(1b)；和遮光板(2)，其将透过全息元件(1a)中全息区域(1b)以外的区域的光的至少一部分遮断。遮光板(2)具有遮断光的遮光部(2b)、和可以透过光的开口部分(2a)。开口部分(2b)存在于全息元件(1a)的上表面中包括全息区域(1b)的区域上，开口部分(2b)的中心位置偏离全息区域(1b)的中心位置。

Description

光拾取器以及光盘装置

技术领域

本发明涉及光拾取器以及具备该光拾取器的光盘装置。

背景技术

在光盘的记录再生装置中，为了从光盘读出数据，或者将数据写入光盘，而需要通过光拾取器访问光盘的所希望的位置。光盘具有发射光束的光源、将该光束会聚在光盘上的物镜、基于由光盘反射的光束来输出电信号的光检测器。

使用半导体激光器作为光拾取器内的光源。半导体激光器可以通过从激光器驱动电路供给的驱动电流进行工作，并能够发射出与驱动电流对应的强度的激光。

记录于光盘的数据，通过将比较弱的一定光量的光束照射在旋转的光盘上，检测通过被光盘调制后的反射光来进行再生。

在光盘的制造阶段，凹坑(pit)中的信息以螺旋状预先被记录于再生专用的光盘中。与此相对，在可改写的光盘中，在具有螺旋状的凸起或凹槽且形成有信息道(track)的基材表面，通过蒸镀等的方法堆积可光学地进行数据的记录/再生的记录材料膜。在将数据记录于可改写的光盘时，根据应记录的数据将调制了光量的光束照射在光盘上，由此通过使记录材料膜的特性局部地变化来进行数据的写入。

另外，凹坑的深度、凹槽的深度以及记录材料膜的厚度，比光盘基材的厚度小。因此，光盘记录有数据的部分构成了二维的面，有时将其称为“信号面”或“信息面”。由于这样的信号面(信息面)在深度方向也具有物理的大小，所以有时应将其称作“信息层”。在本申请的说明书中，为了简单，将其称作“信号面(信息面)”。光盘至少具有1个这样的信号面。另外，1个信号面实际上也可以包括相变化材料层和反射层等的多个层。

当再生记录于光盘的数据时，或者，当将数据记录于可记录的光盘时，光束需要在信号面的目标信息道上一直为规定的会聚状态。为此，需要“焦点控制”以及“跟踪控制”。“焦点控制”按照光束的焦点(会聚点)的位置始终位于信息层上的方式，将物镜的位置控制在信号面的法线方向上(以下，有时称作“基板的深度方向”)。另一方面，所谓跟踪控制是指，按照光束的束点位于规定的信息道上的方式，将物镜的位置控制在光盘的半径方向(以下，称作“盘径方向”)。

为了进行焦点控制和跟踪控制，需要基于从光盘的信号面反射的光，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号。这些信号基于在光拾取器内配置的光检测器所输出的电信号来生成。

从光盘反射的光(以下称作“反射光”)中各种信号的形成所需的部分以外的无用的光，有入射到光检测器的情况。若在光盘的表面存在伤痕或灰尘，则在从光盘照射的光束的会聚点横穿伤痕或灰尘时，光向假想的外方向散射或反射。这样产生的无用的光若成为不通过规定路径的杂光并入射到光检测器，则会给光检测器的输出信号带来噪声成分。

为了遮断这样的杂光，在专利文献1和专利文献2中公开了具有光遮蔽器的光拾取器。

图7是表示专利文献1中记载的以往的光拾取器的主要部分构成图。

图中所示的光拾取器包括：受发光一体元件101；将从受发光一体元件101发射出的光会聚在光盘104的信号面的物镜103；和固定受发光一体元件101等的光学衬底(base)107。

受发光一体元件101是将光源101d、光检测器101c、和全息元件101a一体化了的元件，所述光源101d发射用于照射光盘104的光，所述光检测器101c检测从光盘104的信号面反射来的光，将其变换为电信号，所述全息元件101a具有将反射光导入到光检测器101c的全息区域101b。

该光拾取器具有在中央设有开口部分108a的遮光掩模108。

从光源101d出射的光通过遮光掩模108的开口部分108a之后，通过物镜103会聚在记录介质104的信号面。有光盘104的信号面反射的光，再次通过物镜103以及遮光掩模108的开口部分108a，通过全息元件101a的全息区域101b发生衍射，并聚焦在光检测器101c。光检测器101c输出光盘104的再生信号以及用于控制物镜103的位置的聚焦误差信号或跟踪误差信号。

遮光掩模108具有遮断生成上述各种信号所需的光束105以外的光，并使之不入射到光检测器101c的功能。来自光学衬底107或物镜103的反射光以及光盘104的再生信息以外的无用的光若返回到光检测器101c，则会导致上述的各种信号的噪声成分增大。为了尽可能地降低成为这种噪声产生的原因的无用光，尽可能小地设置遮光掩模108的开口部分108a。

图8是表示专利文献2记载的以往的光拾取器的要部构成图。图8的光拾取器具有受发光一体元件201、将从受发光一体元件201发射出来的光会聚在光盘204的信号面的物镜203。

受发光一体元件201是将光源201d、光检测器201c、和全息元件201a一体化了的元件，所述光源201d发射用于照射光盘204的光，所述光检测器201c检测从光盘204的信号面反射来的光，将其变换为电信号，所述全息元件201a将反射光导入到光检测器201c。

该光拾取器包括在中央设有开口部分209a的遮光掩模209。

遮光掩模209覆盖全息元件201a的5个面，能够遮断可入射到光检测器201c的大部分的无用光。另外，遮光掩模209直接安装在全息元件201a。因此，开口部分209a对全息区域201的对位精度高，在不遮断记录介质204的照射所需的光的情况下，可以减小开口部分209a。

专利文献1：日本国特开平11-25496号公报

专利文献2：日本国特开平2001-110085号公报

在图7的光拾取器中，通过遮光掩模108，可以阻止由光学衬底107或光盘107反射的光的无用部分返回到光检测器101c。但是，遮光掩模108的开口部分108a按照仅使从光源101d出射的光中光盘的记录再生所需的光束部分通过的方式而形成为规定的大小。由此，从光源101d出射的光的一部分入射到遮光掩模108的开口部分108a以外的区域，导致由遮光掩模108反射。这样的反射光一旦返回到光检测器101c，则失去了设置遮光掩模108的意义。为了防止由遮光掩模108的背面带来的反射，需要在遮光掩模108的背面进行防止反射涂布，从而具有遮光掩模108的制造成本上升的缺点。

另一方面，在图8的光拾取器中，遮光掩模209安装于全息元件201a上，所以遮光掩模209和光检测器201c的间隔缩小了。其结果，由遮光掩模209的背面反射，并返回到光检测器201c的无用的光210有可能相对变强。由此，即使是图8的光拾取器，也需要在遮光掩模209的背面实施昂贵的防止反射涂布。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而做出的发明，其目的在于提供可以廉价地构成抑制杂光影响的光拾取器和具有该光拾取器的光盘装置。

本发明的光盘装置，包括：用于通过光照射光盘的光源；将所述光会聚在所述光盘上的透镜；光检测器，其检测从所述光盘的信号面反射的光，将其变换为电信号，并具有多个检测区域；全息元件，其具有将所述反射光导入到所述光检测器的全息区域；光遮蔽器，其将透过所述全息元件中所述全息区域以外的区域的光的至少一部分遮断，其中所述光遮蔽器具有遮断所述光的遮光部、和可以透过所述光的开口部分，所述光遮蔽器的开口部分，存在于所述全息元件的上表面包括所述全息区域的区域上，所述开口部分的中心位置从所述全息区域的中心位置移开。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的直线中的至少1个。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的直线中的至少1个；所述光遮蔽器的开口部分横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的直线中的至少1个。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器接触或靠近所述全息元件的上表面。

在优选的实施方式中，所述光源以及所述光检测器被支撑于同一基板上并构成1个单元；所述全息元件被固定在所述单元上。

在优选的实施方式中，所述光检测器的多个检测区域包括跟踪误差信号用检测区域以及聚焦误差信号用检测区域；所述全息元件具有在下面形成的光栅区域，所述光栅区域使从所述光源发射出来的光衍射，生成跟踪误差信号用的2个副光束，并且通过透过的光生成主光束；所述全息区域将由所述光盘反射的所述副光束导入到所述跟踪误差信号用检测区域，将由所述光盘反射的所述主光束导入到所述聚焦误差信号用检测区域。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器的遮光部，横切从所述光的会聚点延伸至各跟踪误差信号用检测区域的中心部为止的直线，横切从所述光的会聚点延伸至各聚焦误差信号用检测区域的中心部为止的直线中的至少1个。

在优选的实施方式中，所述全息元件包括限制所述光遮蔽器的移动的肋条。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器具有把手。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器由树脂或金属形成。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器具有薄片形状。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器是印刷在所述全息元件的上表面的部件。

在优选的实施方式中，所述光遮蔽器由涂布在所述全息元件的上表面的墨水形成。

本发明的光盘装置，包括驱动光盘旋转的电动机、和用于将记录于所述光盘的信息光学地读出的光拾取器，所述光拾取器包括：用于通过光照射光盘的光源；将所述光会聚在所述光盘上的透镜；光检测器，其具有多个检测区域，所述检测区域检测从所述光盘的信号面反射的光，并将其变换为电信号；全息元件，其具有将所述反射光导入到所述光检测器的全息区域；其中，光遮蔽器，其将透过所述全息元件中所述全息区域以外的区域的光的至少一部分遮断，所述光遮蔽器具有遮断所述光的遮光部、和可以透过所述光的开口部分，所述光遮蔽器的开口部分存在于所述全息元件的上表面中包括所述全息区域的区域上，所述开口部分的中心位置偏离所述全息区域的中心位置。

(发明效果)

根据本发明的光拾取器，可以抑制由光遮蔽器自身的反射带来的无用的光返回到光检测器，同时可以有效地防止为了再生光盘而需要的光以往的无用的光返回到光检测器。

附图说明

图1是表示本发明的光拾取器的实施方式的结构的概略图。

图2是图1的光拾取器中所使用的遮光板2以及受发光一体元件1的分解立体图。

图3是表示图1的光拾取器所使用的遮光板2被安装在受发光一体元件1的状态的立体图。

图4(a)是表示本发明的实施方式中的光检测器1c的配置的俯视图，(b)是表示遮光板2中的开口部分2a以及遮光部2b的配置的俯视图。

图5(a)是表示本发明的实施方式中具有与光检测器1c同样的结构的光检测器的配置的俯视图，(b)是表示以往的遮光掩模中的开口部分2a以及遮光部2b的配置的俯视图。

图6(a)是表示本发明的实施方式中的光检测器1c的配置的俯视图，(b)是表示遮光板2中的开口部分2a以及遮光部2b的配置的俯视图。

图7是表示光拾取器的以往例的结构概略图。

图8是表示光拾取器的其他以往例的结构的概略图。

图中：1-受发光一体元件；1a-全息元件；1b-全息区域；1c-光检测器；1cf-聚焦误差信号用检测区域；1ct-跟踪误差信号用检测区域；1d-光源；1e-光栅区域；1f-定位用肋条；2-遮光板；2a-开口部分；2b-遮光部；2c-把手；3-物镜；4-光盘；4a-光盘的表面的伤痕；5-光束。

具体实施方式

本发明的光拾取器包括：光源；将从光源发射出的光会聚在光盘上的透镜；全息元件，其具有将由光盘反射的光导入到光检测器的全息区域；和光遮蔽器，其将透过该全息元件中全息区域以外的区域的光的至少一部分遮断。该光遮蔽器具有遮断光的遮光板和可以透过光的开口部分，开口部分存在于全息元件的上表面包括全息区域的区域上，开口部分的中心位置偏离全息区域的中心位置。

本发明的光拾取器所使用的光遮蔽器具有相对于通过所述全息区域的中心的线非对称的结构，从而不遮断再生光盘所需的光以外的几乎全部的光，可以仅对使再生性能劣化的光返回到光检测器的路径进行遮光。另外，可以增大光遮蔽器的开口部分，能够抑制来自光遮蔽器的反射所带来的无用的返回光。

下面，参照附图来说明本发明的光拾取器的实施方式。

首先，参照图1。图1是表示本实施方式的光拾取器的剖面构成的图。

图1所示的光拾取器包括受发光一体元件1、和将从受发光一体元件1发射的光会聚在光盘4的信号面的物镜3。光盘4例如是CD(CompactDisc)，也可以是其他的光盘。在光盘以同心圆或螺旋状形成有信息道。在CD中，在信息道上排列有凹坑，由此来记录数据。光盘4通过播放器等的光盘装置具有的主轴电动机(未图示)进行旋转。物镜3被未图示的执行器支撑。

受发光一体元件1是将光源1d、光检测器1c、和全息元件1a一体化了的元件，所述光源1d发射用于照射光盘4的光，所述光检测器1c检测从光盘4的信号面反射来的光，将其变换为电信号，所述全息元件1a具有将反射光导入到光检测器1c的全息区域1b。在受发光一体元件1的全息元件1a上安装有发挥着作为“光遮蔽器”作用的遮光板2。

下面，参照图2以及图3来详细说明遮光板2以及受发光一体元件1的结构。图2是表示遮光板2以及受发光一体元件1的分解立体图，图3是表示将遮光板2组装到受发光一体元件1后的结构的立体图。

在本实施方式中所使用的遮光板2由具有遮光性的材料形成，并具有开口部分2a以及遮光部2b。遮光板2优选例如由ABS(丙烯腈·丁二烯·苯乙烯共聚物)等的树脂形成，但只要是具有遮光性的材料，也可以由其他的材料例如金属来形成。

遮光板2的大小以及外形能根据全息元件1a的大小以及形状来设计。遮光板2例如由厚度100～500μm的薄片形成，其平面尺寸能具有例如一边的长度为2.5mm～3.0mm左右的大致长方形尺寸。

在本实施方式的遮光板2中最具特征的部分是开口部分2a的配置。从光源1d发射出的光入射到全息元件1a之后，通过开口部分2a朝向物镜3。因此，开口部分2a需要配置成不遮断光盘装置1的再生所需的光束。以下，参照图4(a)以及(b)来说明光检测器1c的配置、和遮光板2中的开口部分2a以及遮光部2b的配置之间的关系。

图4(a)是表示光检测器1c的配置的俯视图，图4(b)是表示遮光板2中的开口部分2a以及遮光部2b的配置。

如图4(a)所示，光检测器1c具有多个检测区域1cf、1ct。这些检测区域1cf、1ct并不限定于图4(a)所示的配置例，能采用各种配置，一般大多是在光检测器1c的受光面以非对称的形式来配置。检测区域1cf、1ct优选是在对作为光源1d的半导体激光器进行支撑的硅基板上形成的光电二极管。在图4(a)所示的例子中，检测区域1cf、1ct被配置成相对于通过光拾取器的中央部(光源1d的位置)的虚线A-A为非对称。虚线A-A平行于光盘4的信息道的切线方向。为了比较，在图5(b)中，表示以往的光遮蔽器(遮光掩模)52的平面布局图。图5(a)表示具有与光检测器2c的结构同样的结构的光检测器51c的检测区域51cf、51ct。如图5(a)所示，检测区域51cf、51ct的配置可以是相对于虚线A-A为非对称。在图5(b)所示的以往的遮光掩模52中，具有开口部分52a具有相对于虚线A-A的对称性，开口部分2a的中心位置设置成与全息区域1b的中心位置一致。

根据本发明者的研究，由光盘4反射的无用光入射到各检测区域1cf、1ct的情况的影响的大小因各个检测区域1cf、1ct的不同而不同。与用于生成聚焦误差信号的检测区域1cf比较，用于生成跟踪误差信号的检测区域1ct容易受到上述无用光的入射带来的影响。另一方面，即使上述无用光入射到用于生成聚焦误差信号的检测区域1cf，所生成的聚焦误差信号生成的噪声成分相对较小，难以产生对焦点控制造成的紊乱。

进一步根据本申请发明者的研究可知，如图4(a)所示，在配置了检测区域1cf、1ct的受发光一体元件1安装遮光板2的情况，通过在图4(b)所示的位置形成开口部分2a，反而能降低全息内部的杂光。这是因为，从光源1d出来的光由遮光板2b的背面反射并会入射到检测区域1ct，通过设置图4(b)所示的开口部分2a可以进行抑制的缘故。即，在图4(b)中，遮光板2a优选不形成在虚线A-A的右侧。

在如上述检测区域1cf、1et的配置为非对称的情况，通过相应地将开口部分2a以及遮光板2b形成为非对称，从而可以抑制由遮光板2的反射引起的无用光的发生的同时，可以有效地遮断来自光盘4的无用的光。

由于上述原因，在本实施方式的光拾取器中，根据光检测器1c的检测区域1cf、1ct的配置较大地形成遮光板2的开口部分2a，并且将其中心位置从全息区域1b的中心位置仅移开0.3mm。

另外，无需在遮光板2的开口部分2a的正下配置检测区域1cf。如图6(a)以及(b)所示，从设计上的理由出发，也可以仅在遮光板2的设有遮光部2b一侧配置全部的检测区域1cf、1ct。

接着，再次参照图2来说明遮光板2以及受发光一体元件1的结构。

在图2所示的受发光一体元件1的全息元件1a的上表面朝四个方面设有定位用肋条1f(高度：0.2～0.5mm，宽度：0.5mm左右)。在全息元件1a的上表面中被定位用肋条1f包围的区域的中央部，设有全息区域1b。全息区域1b会起到如下的作用，即：使由光盘4反射的光衍射，形成入射到各检测区域1cf、1ct的光束。全息区域1b的直径(有效径)由数据再生所需的光束的大小(有效径)决定。本实施方式中的全息区域1b的直径为0.2～0.8mm左右。另外，实际上形成的全息面的大小也可以比全息区域1b的有效径大。

在全息元件1a的下面形成有光栅区域1e，该光栅区域1e衍射从光源入射的激光，除了主光束以外形成2个副光束。

遮光板2被配置成：插入由定位用肋条1f包围的空间内，遮光板2的下面与全息区域1b靠近或接触。在将遮光板2安装在全息元件1a时，若按照遮光板2的外缘沿着定位用肋条1f的内壁面的方式来插入遮光板2，则可以对全息元件1a以高位置精度配置遮光板2。在遮光板2的一部分设有把手2c，其用于插入时抓住遮光板2。通过抓住该把手2c，可以容易地将遮光板2安装于全息元件1a，提高作业性。也可以取代设置把手2c，而在遮光板2的一部分设置适于抓紧的结构(例如孔)。

图3表示遮光板2被安装于全息元件1a的状态。遮光板2通过粘接剂被固定在全息元件1a上，该粘接剂例如通过UV照射而固化。

接着，参照图1以及图2来说明本实施方式的光拾取器的工作。

典型地从红外半导体激光器的光源1d发射出来的光(红外激光)入射到图2所示的光栅区域1e后，一部分直接透过，而其他的部分衍射。其结果，除了透过光栅区域1e的光(0次光)，还通过衍射形成+1次光以及—次光。这3个光束中的0次光束作为主光束发挥作用，±1次光作为2根副光束发挥作用。在本实施方式的光拾取器中，进行由3光束法实现的跟踪，为了生成跟踪误差信号而使用2个副光束。另外，在光栅区域1e中，还生成次数高的衍射光，但由于是有效光束外的光，所以可以忽略。

在图2中，示意表示在光栅区域1e的部分3个束点。3个束点透过全息元件1a，形成图1的光束5。光束5通过物镜3会聚在光盘4上。在本实施方式中，遮光板2的开口部分2a比光束5的剖面足够大。

透过了光栅区域1e的光束(主光束)被用于生成聚焦误差信号以及光盘4的再生信号。另一方面，在光栅区域1e发生了衍射的2根光束(副光束)用于生成跟踪误差信号。

由光盘4的信号面反射的光透过图1所示的物镜3之后，经过遮光板2的开口部分2a，入射到全息元件1a的全息区域1b。反射光通过全息区域1b衍射，并分支成多个光束。分支后的光束入射到光检测器1c的多个检测区域。分支后的光束的一部分入射到聚焦误差信号用检测区域1cf，另外的一部分入射到跟踪误差信号用检测区域1ct。

接着，对在光盘4的表面存在伤痕4a的情况所产生的无用光进行说明。

如图1所示，当由物镜3产生的光束5的会聚点横穿光盘4的伤痕4a时，光束5的一部分在光盘4的伤痕4a的作用下发生衍射或散射。被衍射或散射的光一部分作为无用的光朝向并返回到受发光一体元件1的光检测器1c。

在没有本实施方式的遮光板2的情况，返回到光检测器1c的无用的光的大部分，通过全息元件1a的上表面中形成有全息区域1b的区域以外的周围的区域。若这样的光10入射到光检测器1c，则噪声成分重叠于光检测器1c输出的电信号。

若该无用的光10入射到跟踪误差信号用检测区域1ct，对光盘4的再生带来很大的影响，所以按照可靠地覆盖沿着光的行进方向投影到全息元件1a的上表面的部分的方式来形成遮光部2b。换句话说，遮光板2b形成为遮住连接光束5的会聚点和跟踪误差信号用检测区域1ct的直线。

另外，通过从光源1d发射的光入射到图2所示的光栅区域1e并发生衍射而形成跟踪误差信号的生成所使用的2根副光束(±1次的衍射光)。由于在光栅区域1e衍射角度容易变动，所以难以将由光盘4反射的副光束正确地引导至光检测区域1cf。另一方面，聚焦误差信号的形成所使用的主光束(0次光)在光栅区域1e不反射衍射而直接透过，所以将由光盘4反射的主光束引导至聚焦误差信号用检测区域1cf相对容易。尤其在集成激光器单元中，通常以聚焦误差信号用检测区域1cf的配置最佳化的方式进行组装和调整。由此，跟踪误差信号用检测区域1ct形成得比聚焦误差信号用检测区域1cf大，这样，再生所需的光以外无用光容易大量返回。

另外，与信号再生所使用的主光束的光量相比，跟踪误差信号的生成所使用的副光束的光量被设定得较小。因此，跟踪误差信号所使用的检测区域1ct的输出也相对降低，导致无用的光带来的影响变大。

在本实施方式中，遮光板2的遮光部2b横切从跟踪误差信号用检测区域1ct延伸至光束的会聚点的直线，另一方面，遮光板2的遮光部2b横切从至少一部分的聚焦误差信号用检测区域1cf延伸至光束的会聚点的直线，所以不用对遮光板2实施防止反射用的涂布，可以抑制光盘4的再生信号以外的无用的光返回到光检测器1c。

在上述的实施方式中，虽然采用了在1个光拾取器内配置1个光源的结构，但本发明并不限定于具有这样结构的光拾取器。即使对于具有发射不同波长光束的多个光源的光拾取器，也可应用本发明。另外，用于生成跟踪误差信号以及聚焦误差信号的方法并不限定于3光束法，即使在差动推挽法的情况也可应用本发明。

在上述实施方式中，虽然使用遮光板作为光遮蔽器，但也可取代遮光板，而采用在全息元件1a的上表面印刷的光遮蔽器、或由涂布的墨水构成的光遮蔽器。另外，光遮蔽器的开口部分可以具有与“在全息元件的上表面中没有被遮光部覆盖的部分”相当的形状以及大小，且一部分被开发。开口部分没有被闭合曲线包围的情况的“开口部分的中心”可通过“全息元件的上表面中没有没有被遮光板覆盖的部分”的中心(面积中心)来指定而得到。而且，光遮蔽器的开口部分也可以为多个。将全息区域开口的开口部分以外的开口部分的中心从全息区域的中心移开，开口部分的整体配置为非对称。

(工业上的可利用性)

本发明涉及的光拾取器优选应用于从光盘再生数据的光盘装置。

Claims (14)

1.一种光拾取器，包括：

用于以光照射光盘的光源；

将所述光会聚在所述光盘上的透镜；

光检测器，其检测从所述光盘的信号面反射的光，将其变换为电信号，并具有多个检测区域；

全息元件，其具有将所述反射光导入到所述光检测器的全息区域；

光遮蔽器，其将透过所述全息元件中所述全息区域以外的区域的光的至少一部分遮断，

所述光遮蔽器，具有遮断所述光的遮光部和可透过所述光的开口部分，

所述光遮蔽器中的开口部分，存在于所述全息元件的上表面包括所述全息区域的区域上，所述开口部分的中心位置偏离所述全息区域的中心位置。

2.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器的遮光部横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的直线中的至少1个。

3.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器的遮光部横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的直线中的至少1个；

所述光遮蔽器的开口部分横切从所述光的会聚点延伸至所述多个检测区域的各个中心部为止的所述直线中的至少1个。

4.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器接触或接近所述全息元件的上表面。

5.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光源以及所述光检测器被支撑于同一基板上并构成1个单元；

所述全息元件被固定在所述单元上。

6.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光检测器的多个检测区域包括跟踪误差信号用检测区域以及聚焦误差信号用检测区域；

所述全息元件具有形成于下表面的光栅区域，所述光栅区域使从所述光源发射出来的光衍射，生成跟踪误差信号用的2个副光束，并且由透过的光生成主光束；

所述全息区域将由所述光盘反射的所述副光束导入到所述跟踪误差信号用检测区域，将由所述光盘反射的所述主光束导入到所述聚焦误差信号用检测区域。

7.根据权利要求6所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器的遮光部，横切从所述光的会聚点延伸至各跟踪误差信号用检测区域的中心部为止的直线，不横切从所述光的会聚点延伸至各聚焦误差信号用检测区域的中心部为止的直线中的至少1个。

8.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述全息元件包括限制所述光遮蔽器的移动的肋条。

9.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器具有把手。

10.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器由树脂或金属形成。

11.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器具有薄片形状。

12.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器是印刷在所述全息元件的上表面的部件。

13.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于，

所述光遮蔽器由涂布在所述全息元件的上表面的墨水形成。

14.一种光盘装置，包括使光盘旋转的电动机和用于将记录于所述光盘的信息光学地读出的光拾取器，

所述光拾取器包括：

用于以光照射光盘的光源；

将所述光会聚在所述光盘上的透镜；

光检测器，其检测自所述光盘的信号面反射的光，将其变换为电信号，并具有多个检测区域；

全息元件，其具有将所述反射光导入到所述光检测器的全息区域；

光遮蔽器，其将透过所述全息元件中所述全息区域以外的区域的光的至少一部分遮断，

所述光遮蔽器，具有遮断所述光的遮光部和可透过所述光的开口部分，

所述光遮蔽器中的开口部分，存在于所述全息元件的上表面中包括所述全息区域的区域上，所述开口部分的中心位置偏离所述全息区域的中心位置。

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