CN1890728A - 对于缺陷具有高鲁棒性的光盘伺服 - Google Patents

Abstract

一种方法，特征在于识别在光盘驱动器装置(1)中盘缺陷的不同类型，该盘驱动装置类型包括：扫描装置(30)，用于扫描光盘(2)的记录轨道并且用于产生读取信号(SR)，扫描装置(30)包括至少一个可移动的读/写元件(34)；致动器装置(50)，用于控制所述读/写元件的定位；控制电路(90)，用于根据所述读取信号的至少一个信号分量(REN、FEN)产生至少一个驱动器控制信号(S_CR、S_CF、S_CT)，控制电路具有多个预定控制器设定；该方法包括步骤：从所述读取信号获得至少一个信号分量(MIRN)；执行所述信号分量的频率分析；根据所述频率分析的结果，有选择地设置所述多个预定控制器设定。

Description

对于缺陷具有高鲁棒性的光盘伺服

发明领域

本发明通常涉及一种光盘驱动装置，用于对光学存储盘读取/写入信息。

发明背景技术

众所周知，一种光学存储盘包括存储空间的至少一个轨道，此轨道或者以连续螺旋形式或者以多个同心圆形式，其中在存储空间中，信息以数据模式存储。光盘可以是只读类型，在制造期间记录信息在光盘中，其中信息只能由用户读取。光学存储盘还可以是可写入类型，由用户将信息存储其中。为了在光学存储盘的存储空间中写入信息，或者为了从盘中读取信息，一方面，光盘驱动器包括旋转装置，用于接收和旋转光盘，另一方面包括光学装置，用于产生光束特别是激光光束以及用于使用所述激光光束扫描存储轨道。由于通用光盘技术，以其中信息可以被存储在光盘中的方式，和其中光学数据可以从光盘中读取的方式被众所周知，所以在此没有必要更详细地描述此技术。

为了旋转光盘，光盘驱动器典型地包括马达，它驱动连接光盘中心部分的集线器。通常，马达作为主轴电动机来实施，并且电动集线器可以直接布置在马达的主轴轮轴上。

为了光学扫描旋转的光盘，光盘驱动器包括光束发生器装置(典型地是激光二极管)，物镜，用于把光束聚焦为光盘上的焦点，和光检测器，用于接收从光盘反射的反射光并且用于产生电检测器输出信号。光检测器包括多重探测器节段，每一个节段提供单独的节段输出信号。

在操作期间，光束需要保持聚焦在盘上。为此，可替换地轴向布置物镜，并且光盘驱动器包括聚焦驱动器装置，用于控制物镜的轴向位置。此外，焦点可以保持与轨道联合，或者根据新的轨道可以进行定位。为此，至少物镜可替换地径向安装，并且光盘驱动器包括径向装置，用于控制物镜的径向位置。

在许多盘驱动器中，物镜可倾斜地放置，并且此光盘驱动器包括倾斜驱动器装置，用于控制物镜的倾角。

为了控制这些驱动器，光盘驱动器包括控制器，它接收来自光检测器的输出信号。控制器从该信号(在下文中还被称作读出信号)中导出一个或者多个误差信号，例如聚焦误差信号、径向误差信号，并且根据这些误差信号，控制器产生驱动器控制信号，用于控制驱动器以减少或消除位置误差。

在产生驱动器控制信号的过程中，控制器显示某一控制特性。此控制特性是控制器的特性，它可以描述为其中控制器反应于检测位置误差的方式。

盘可能含有盘缺陷，它将干扰盘的读取，因为这些缺陷引起不正确的误差信号。盘缺陷的两个最主要类别是：

1)短的缺陷，类似灰尘和刮痕，

2)长的缺陷，类似指纹印。

解决这些问题的现有技术涉及缺陷检测器，它检测标准化的镜象信号(MIRN)，并且如果它检测到误差位置那么该缺陷检测器切断误差信号，以使得控制器输出信号保持在恒定水平。一旦缺陷检测器检测到缺陷已经通过，缺陷检测器就再次接通误差信号。如同，光学拾取器″盲目飞行(flies blind)″在缺陷之上。

这种解决方案效果相当好，直到涉及检测轻微错误开始。然而，这种解决方案也存在若干问题。

第一个问题是缺陷的结束并不总是能被可靠地检测。结果，当误差信号仍然包含误差时，误差信号可能返回接通过迟，以致大的位置误差可能得到发展，或者误差信号可能返回接通过早。

第二个问题是对指纹印的检测效果并不理想。结果是，缺陷检测并不理想，以致位置误差可能得到发展。此外，在指纹印通过期间，误差信号可能被接通和切断许多次，这使得在控制器输入信号中引起许多不连续点，因此引起较差的循迹特性和较差的聚焦特性。

关于指纹印的另外问题是在指纹印的整个通过期间，不可能切断误差信号，从那以后光学拾取器将渐渐地偏离它的最佳位置，并且可能发展成大的位置误差。

在这方面的一个基本的问题是比起充分处理大的缺陷来说，充分处理小的缺陷实际需要不同的控制特性。通常，磁盘驱动器的控制器具有固定的控制特性，这将特别适合于充分地处理小的缺陷(在这样情况下就大的缺陷来说，错误控制不是最佳的)或者特别适合于充分地处理大的缺陷(在这样情况下就小的缺陷来说，错误控制不是最佳的)，或者控制特性是折中的(在这样情况下就大的缺陷以及小的缺陷来说，错误控制不是最佳的)。

在现有技术状态下，取决于干扰实践的种类，已经提出改变控制器的增益。例如，涉及美国专利US4.722.079。

为了能够实施具有可变增益的控制器，必须确定即将到来的缺陷是什么等级的缺陷。所述美国专利US4.722.079描述了一种系统，其中处理光学读取信号，以便确定干扰等级，但是该系统需要一个三光束光学系统。

美国专利US5.867.461也描述了一种系统，其中通过处理光学读出信号来确定干扰等级。在该已知的系统中，高频信号频谱的包络是确定的。该方法的一个缺陷是依赖于写入盘的数据；在空盘的情况下，它是不适用的。另一个缺陷是该方法需要复杂的电路，特别是用于检测上部峰值和下部峰值，用于为了检测上部包络和下部包络的滤波，用于分析这些包络，和用于在存储器中存储信号。

一个普通的问题涉及调节在盘驱动器中的控制特性，其中该磁盘驱动器能够适应小的磁盘缺陷以及大的磁盘缺陷。改变控制特性以致一种盘的缺陷被处理的好就可能严重地影响控制器处理另一类型盘缺陷的能力。

本发明的一般目的是提供一种方法，用于更可靠地确定某一情况是否对应于小缺陷或者大的盘缺陷的出现率。

另外，本发明的一个目的是提供一种方法，用于根据上述确定的结果来改变控制器的控制特性。

另外，本发明的一个目的是提供一种盘驱动装置，在遇到盘缺陷的情况下，该盘驱动装置具有经改善鲁棒性的伺服系统。

发明概要

根据本发明的第一重要方面，缺陷检测器用于根据被监测信号的时间-频率分析来进行操作。确定和分析输入信号的小的时间间隔的频谱；根据这些频谱来确定缺陷是否发生，并且确定缺陷是小的或者大的缺陷。在一个最佳实施方式中，使用离散小波分析。

根据本发明的第二个重要方面，控制电路包括多个控制器，每一个具有用于缺陷的特殊级别所特别选择的自己的设定。根据由缺陷检测器所作出的确定，一个控制器有选择地被接通，而所有其它的控制器被关闭。换句话说，使用一个具有可选择设定的控制器。

附图简介

通过参考附图所进行的以下描述将进一步解释本发明的这些和其它方面、特征和优点，其中相同的参考数字表示相同或者类似的部件，并且其中：

图1A示意性地表示光盘驱动器装置的相应部件；

图1B示意性地表示更详细的光检测器的具体实施方式；

图2是一个方框图，示意性地表示根据本发明第一个具体实施方式的控制电路；

图3是一个方框图，示意性地表示根据本发明第二个具体实施方式的控制电路；

图4是一个方框图，示意性地表示离散小波分析；

图5-7是示意性地表示离散小波分析结果的曲线图。

发明详述

图1A示意性地表示光盘驱动器装置1，适用于在光盘2上或者从光盘2上存储或读取信息，该光盘2典型地是DVD或CD。

为了旋转盘2，盘驱动装置1包括固定于框架上的马达4(为了简明起见没有示出)，定义旋转轴5。

盘驱动装置1进一步包括光学系统30，用于通过光束扫描盘2的轨迹。更具体地说，在图A所示的示范性配置中，光学系统30光束产生装置31，典型地是激光器比如激光二极管，被用于产生光束32。在下文中，光束32的不同部分沿着光程39将由字符a、b、c等加上参考数字32来指示。

光束32穿过光束分离器33、准直透镜37和物镜34以到达(光束32b)盘2。物镜34被用来聚焦光束32b到盘的记录层(为了简明起见没有示出)上的焦点F。光束32b从盘2反射(反射光束32c)，并且穿过物镜34、准直透镜37和光束分离器以到达(光束32d)光检测器35。在所图示的情况下，光学元件38例如棱镜被插入在光束分离器33和光检测器35之间。

盘驱动装置1进一步包括致动器系统50，它包括径向致动器51，用于根据盘2径向地移动物镜34。由于径向致动器本来就是已知的，同时本发明没有涉及该径向致动器的设计和功能，所以在此没有必要非常详细地论述径向致动器的设计和功能。

为了实现和维持准确地在盘2的预定位置上的正确聚焦，所述物镜34被可移动的轴向安装，此外致动器系统50还包括聚焦致动器52，它根据盘2，移动物镜34的轴向布置。由于聚焦致动器本来就是已知的，同时该聚焦致动器的另外的设计和操作不是本发明的主题，所以在此没有必要非常详细地论述该聚焦致动器的设计与操作。

为了实现和维持物镜34正确的倾斜位置，物镜34可以轴向可转动地安装；在此情况下，如同所示，致动器系统50还包括倾斜致动器53，它根据盘2布置成用于旋转物镜34。由于倾斜致动器本来就是已知的，同时该倾斜致动器的另外的设计和操作不是本发明的主题，所以在此没有必要非常详细地论述该倾斜致动器的设计与操作。

另外值得注意的是，用于根据装置框架支承物镜的装置，和用于轴向地和径向移动物镜的装置，以及用于旋转物镜的装置本来就是已知的。由于该支承和移动装置的设计和操作不是本发明的主题，所以在此没有必要非常详细地论述它们的设计与操作。

另外应该注意，径向致动器51、聚焦致动器52和倾斜致动器53可以作为一个集成致动器来执行。

盘驱动装置1进一步包括控制电路90，它具有连接到马达4的控制输入的第一输出端92，具有耦合到径向致动器51的控制输入的第二输出端93，具有耦合到聚焦致动器52的控制输入的第三输出端94，和具有耦合到倾斜致动器53的控制输入的第四输出端95。控制电路90被设计用于在其第一输出端92处产生用于控制马达4的控制信号S_CM，在其第二控制输出端93处产生用于控制径向致动器51的控制信号S_CR，在其第三输出端94处产生用于控制聚焦致动器52的控制信号S_CF，和在其第四输出端95处产生用于控制倾斜致动器53的控制信号S_CT。

控制电路90另外还具有读取信号输入端91，用于接收来自光检测器35的读取信号S_R。

图1B图示光检测器35可以包含多个检测器片断。在图1B图示的情况下，光检测器35包括六个检测器片断35a、35b、35c、35d、35e、35f，能够提供单独的检测器信号A、B、C、D、S1、S2，它们分别表示在六个检测器片断的每一个中入射的光线数量。还指示为中央孔径检测器片断的四个检测器片断35a、35b、35c、35d被分布为四象限结构。从第二和第三片断35b和35c中分隔第一和第四部分35a和35d的中线36具有对应于轨道方向的方向。两个检测器片断35e、35f除了中央检测器象限之外对称性分布在所述中线36的两侧，其中该两个检测器片断还指示为附属检测器片断，并且它们可以被再分成子片断。由于该六个片断检测器本来就是已知的，所以在此没有必要对它们的设计和功能给出更加详细的说明。

应该注意，用于光检测器35的不同设计也是可能的。例如，附属片断可以被省略，这本来就是已知的。

图1B还图示控制电路90的读取信号输入端91实际上包括多个输入端，用于接收所有的单独检测器信号。因此，在所图示的六象限检测器的情况下，控制电路90的读取信号输入端91实际上包括六个输入端91a、91b、91c、91d、91e、91f，用于分别接收所述单独检测器信号A、B、C、D、S1、S2。为了导出数据信号和一个或多个误差信号，控制电路90用来处理所述单独检测器信号A、B、C、D、S1、S2，这对于所属技术领域的专业人员来说将是清楚的。在下文中简单地指定为RE的径向误差信号指示轨道和焦点F之间的径向距离。在下文中简单地指定为FE的聚焦误差信号指示存储层和焦点F之间的轴向距离。应该注意，取决于光检测器的设计，可以使用用于误差信号计算的不同公式。一般而言，该误差信号的每一个都是用于在检测器35上的中央光学斑点的某一种不对称的量度，因此根据盘，对于光学扫描斑点的位移是灵敏的。

专用信号是镜象信号MIRN，它可以通过处理所述单独检测器信号而获取，该镜象信号MIRN根据公式(1)通过所有单独检测器信号A、B、C、D、S1、S2的加权总和来获得：

MIRN＝A+B+C+D+W(S1+S2)                             (1)

其中W表示加权系数，典型地是大约15的级数。信号是用于盘的反射率的度量。

同时，可以获得普通的误差信号比如REN，这对于所属技术领域的专业人员来说将是已知的。举例来说，径向误差信号REN可以根据公式(2)来定义：

$\mathrm{REN}=\frac{(A+B)-(B-C)-W(S1-S2)}{A+B+C+D+S1+S2}---\left(2\right)$

W是加权系数。

控制电路90用于产生作为误差信号功能的控制信号，以便减小对应的误差，这对于所属技术领域的专业人员来说将是清楚的。例如，控制电路90可以根据径向误差信号REN产生其径向控制信号S_CR。在下文中，本发明将特别地对径向控制进行解释，而这并不用于限制本发明。

图2是示意性地更详细地表示示范性的控制电路90的一部分的方框图。为了论述，控制电路90的该部分可以涉及径向致动器51的控制。

控制电路90包括信号处理器71，为了处理读取信号S_R，并且为了获得标准化的镜象信号MIRN以及误差信号REN，该信号处理器具有其耦合到控制电路90的第一输入端91的输入端。

控制电路90另外包括多个控制器81、82、83，它们每一个具有接收误差信号REN的输入。每个控制器分别用于产生驱动器控制信号S_CR1、S_CR2、S_CR3，它们适合于被提供给径向控制器51。

在示例性的实例中，控制电路90包括三个控制器81、82、83，为了在特定环境中使用，它们具有最佳化设定。第一控制器81特别地在常态中使用，而盘不会影响发生。第二控制器82特别地在短的盘缺陷类似灰尘和刮痕的情况下使用。第三控制器83特别地用于在长的盘缺陷类似指纹印的情况下使用。然而，应该清楚控制电路90可以包含四个或者更多的专门控制器，或者仅有两个。

控制电路90另外包括可控制开关73，它具有分别耦合到控制器输出端81、82、83的三个输入端73a、73b、73c，并且具有耦合到控制电路90的输出端93的输出端73d。开关73具有三个操作状态：在第一操作状态下，输出端73d被耦合到第一输入端73a；在第二操作状态下，输出端73d被耦合到第二输入端73b；在第三操作状态下，输出端73d被耦合到第三输入端73c。

控制电路90另外包括信号分析器72，它具有接收来自信号处理器71的信号MIRN的输入端，和具有用于产生控制可控制开关73的控制信号S_CS的输出端。因此，取决于来自分析器72的控制信号S_CS，致动器51通过由专门控制器81、82、83中的一个所产生的控制信号来控制。

图3是示意性地表示控制电路90的另一个具体实施方式的方框图。代替三个控制器，控制电路的该具体实施方式仅仅包括一个控制器80，它具有接收径向误差信号REN的输入端，和具有耦合到控制电路90的输入端93的输出端。控制器80具有可选择的设定，它是根据来自分析器72的输出信号S_CS的设定。有可能控制器80本身通过来自分析器72的输出信号S_CS而直接控制。在图示的具体实施方式中，控制器80的设定通过外部设定单元86、87、88来确定，它们每一个单元分别提供特别用于常态、短的盘缺陷和长的盘缺陷的设定。可控制开关73具有被耦合到控制器80的控制输入端的输出端73d，并且具有分别耦合到设定单元86、87、88的输出端的三个输入端7a、73b、73c。因此，控制器80的设定通过来自分析器72的控制信号Scs来确定。

因此，在两者具体实施方式中，致动器51通过控制器来控制，其中该控制器具有特别适合于实际操作状态“常态”、“短的盘缺陷”、“长的盘缺陷”设定。

对于所属技术领域的专业人员应该清楚，示例性的实例具有三个可选择设定，但是在本发明的范围内，专门设定的数目可以是两个或者四个或更多。

分析器72适合于分析标准化的镜象信号MIRN，以便确定输出哪个控制信号，例如确定信号MIRN是否指示常态情况，或者长的或短的缺陷的出现率。特别地，分析器72适合于评定MIRN信号的频谱。更具体地说，分析器72适合于把信号分割成多重频率范围，并且根据在不同频率范围中的信息内容来作出决定。根据本发明的优选方面，分析器72执行MIRN信号的时间-频率分析。

信号的时间-频率分析是众所周知的技术。在预定的小的时间间隔期间，它涉及确定信号在调查研究中的信号的频谱。时间-频率分析的一个实例是离散小波分析，在下文中将简要地解释一种方法。对于更详细的信息，参考例如美国专利US5.815.198。应该注意，时间-频率分析可以以不同的方式执行；例如快速傅里叶变换(STFT)也是一种可能。然而，小波分析是优选，因为该方法具有更好的时间分辨率特性。

图4是一个方框图，示意性地表示采样信号S的离散小波分析。在第一阶段110中，信号S被反馈给第一数字高通滤波器111和第一数字低通滤波器112。结果的采样频率被除以2↓，这由操作21表示，以便去掉冗余信息。来自第一数字高通滤波器111的结果采样被称作“在比例1之下的详细系数”，并且被表示为cD1。来自数字低通滤波器112的结果采样被称作“在比例1之下的近似值系数”，并且被表示为cA1。在比例1之下的详细系数(cD1)表示信号S中的最高频率。

在第二阶段120，在比例1之下的近似值系数(cA1)被反馈给第二数字高通滤波器121和第二数字低通滤波器122。此外，结果的采样频率除以2(2↓)。来自第二数字高通滤波器121的结果采样被称作“在比例2之下的详细系数”，并且被表示为cD2。来自第二数字低通滤波器122的结果采样被称作″在比例2之下的近似值系数″，并且被表示为cA2。由于下采样，在比例2之下的详细系数(cD2)表示比在比例1之下的详细系数(cD1)更低的频率间隔。

在类似方式中，分析器100包括一系列阶段，每一第n阶段包括第n数字高通滤波器和第n数字低通滤波器，它们接收在比率(n-1)之下的近似值系数，并且分别提供在比率n之下的详细系数和在比率n之下的近似值系数。

图5-7表示不离散小波分析的结果，它被应用于来自光盘驱动器的测定信号。准备一光盘，包含黑点和指纹印。运行光盘，并且测量指示反射光数量的结果MIRN信号。图5是表示这些测量结果的图表。横轴代表时间，而垂直轴代表信号强度。曲线61表示用于黑点情况的MIRN信号，同时下曲线62表示用于指纹印情况的MIRN信号。曲线61和62表示，对应的两者盘缺陷引起反射光数量的下降，并且信号61和62的特性是明显不相同的。在小波分解的结果中也可以清楚的观察到信号特性的不同，这在图6和7中表示。

图6是图表的集合，表示对于黑点情况下，被分析的MIRN信号(底部图表)，和在比例1至10之下的详细系数。在信号中的急剧峰值(参见在图5中的曲线61)引起在所有比例之下的效果，但是在比例2或3之下获得缺陷的最佳(快速)检测(分别是cD2或cD3)。应该注意刮痕给予可比较的结果。

图7是对于指纹印情况，图表的可比较集合。很明显在比例2或3之下，黑点可以被很好地检测，并且指纹印没有频谱。然而，指纹印的效果在比例6、7和8之下是很明显的。

因此，使用离散小波分析，分析器72能够分类不同的缺陷，并且根据分析以便产生适当的控制信号Scs，以致用于致动器51的控制器(81、82、83；80)具有适当的设定。

在可能的执行中，分析器72按以下方式进行运作。起初，分析器产生其控制信号S_CS，以便选择常态设定用于控制操作(控制器81，或设定86)。监测某一比例的详细输出以及原始输入信号MIRN的信号电平。

如果比例2或3的详细输出或者两者，提供在预定阈值电平之上的大信号，那么原始输入信号MIRN的信号电平被捕获，并存储为参考值，并且分析器72产生其控制信号S_CS，以便选择特别适合于短的盘缺陷的设定(控制器82，或设定87)。如果所述比例2或3的详细输出再次降低到低于所述阈值，并且原始输入信号MIRN上升到高于所捕获的参考值，那么分析器输出信号被切换为常态设定。

如果比例6或7或8的详细输出或者两者，提供在预定阈值电平之上的大信号，同时较低比例的详细输出没有提供大信号，那么原始输入信号MIRN的信号电平被捕获，并存储为参考值，并且分析器72产生其控制信号S_CS，以便选择特别适合于长的盘缺陷的设定(控制器83，或设定88)。如果所述比例6或7或8的详细输出再次降低到低于所述阈值，并且原始输入信号MIRN上升到高于所捕获的参考值，那么分析器输出信号被切换为常态设定。

对于所属技术领域的专业人员应该清楚，本发明并不局限于上述讨论的示范性的具体实施方式，只要不违背在附属的权利要求中所规定的保护范围，可以进行各种变化和修改。

在上述中，参考附图6-7，时间-频率分析已经通过论述标准小波分解来进行解释。换句话说，有可能把来自高通滤波器的输出信号(cDn)反馈给具有用于另外分析的高低通滤波器的阶段。该方法被称作“小波分组分析”。它提供一种细分频带范围的方式。

在上述中，镜象信号MIRN已经作为一个适合于频谱分析的信号的例子来进行论述。作为一个替换，其它信号可以被用于分析，比如误差信号或控制器输出信号。

在上述中，参考具有六片断光检测器的具体实施方式，本发明已经进行了解释。对于所属技术领域的专业人员应该清楚，具有不同设计的检测器也是可能的，在该情况下，用于误差信号的公式可能是不同的。

在上述中，参考方框图，本发明已经进行了解释，它表示根据本发明装置的功能块。应该知道，一个或多个这些功能块可以以硬件方式执行，其中该功能块的功能通过单独的硬件元件来执行，但是也有可能一个或多个这些功能块以软件方式执行，以致该功能块的功能通过计算机程序的一个或多个程序行或可编程装置比如微处理器、微控制器等来执行。

Claims (12)

1.一种光盘驱动器装置(1)，用于读取或者写入光盘(2)，包括：

-光学系统(30)，用于扫描光盘的轨道，光学系统(30)包括至少一个可替换的元件(34)和至少一个检测器(35)，用于接收光束(32d)并产生读取信号(S_R)；

-致动器系统(50)包括至少一个可控制致动器(51、52、53)，用于定位所述可替换的元件(34)；

-控制系统(90)，用于接收和处理来自所述检测器(35)的所述读取信号(S_R)，并且根据所述读取信号(S_R)的至少一个误差信号成分(REN、FEN)，用于产生用于至少一个可控制致动器(51、52、53)的控制信号(S_CR、S_CF、S_CT)；

-控制系统(90)，具有可变的设定；

-控制系统(90)，被用来执行所述读取信号(S_R)的至少一个控制信号成分(MIRN)的频率分析，并且根据所述频率分析的结果来设置其设定。

2.如权利要求1所述的光盘驱动器装置，其中用于频率分析的所述读取信号(S_R)的所述至少一个控制信号成分(MIRN)是标准化的镜象信号(MIRN)。

3.如权利要求1所述的光盘驱动器装置，其中控制系统(90)根据所述频率分析结果来检查和分类盘，并且根据检测缺陷的分类，设置其设定。

4.如权利要求3所述的光盘驱动器装置，其中控制系统(90)被用来设置：

-在常规操作情况下的第一设定；

-如果检测短的盘缺陷比如黑点或刮痕，那么设置不同于所述第一设定的第二设定；

-如果检测长的盘缺陷比如指纹印，那么设置不同于所述第一和第二设定中任何一个的第三设定。

5.如权利要求1所述的光盘驱动器装置，其中通过所述控制系统(90)执行的频率分析是时间-频率分析。

6.如权利要求5所述的光盘驱动器装置，其中通过所述控制系统(90)执行的时间-频率分析是离散小波分析。

7.如权利要求6所述的光盘驱动器装置，其中如果在比例2或3之下的详细系数(cD2或cD3)具有在预定阈值电平之上的信号电平，那么控制系统(90)被用来选择用于短缺陷的设定。

8.如权利要求7所述的光盘驱动器装置，其中在比例2或3之下的所述详细系数的信号电平(cD2或cD3)上升至所述预定阈值电平之上时的时候，控制系统(90)被用于捕获所述读取信号(S_R)的所述至少一个信号分量(MIRN)的信号电平，其中该读取信号被进行时间-频率分析，并且如果在比例2或3之下的所述详细系数的信号电平(cD2或cD3)降低至所述阈值电平之下并且所述读取信号(S_R)的所述至少一个信号分量(MIRN)的信号电平上升至所述被捕获的信号电平之上，那么被用于切换回用于常规操作的设定，其中该读取信号被进行时间-频率分析。

9.如权利要求7所述的光盘驱动器装置，其中如果在比例6或7或8之下的详细系数(cD6或cD7或cD8)具有在预定阈值电平之上的信号电平，同时在较低比例之下的所有详细系数具有低于预定阈值电平的信号电平，那么控制系统(90)被用来选择用于长缺陷的设定。

10.如权利要求1所述的光盘驱动器装置，其中控制系统(90)包括：

-信号处理器(71)，用于处理来自检测器(35)的读取信号(S_R)，并且用于产生所述误差信号成分(REN、FEN)和所述控制信号成分(MIRN)；

-多个控制器(81、82、83)，其中每一个控制器具有接收误差信号成分(REN)的输入端，分别被用来产生驱动器控制信号(S_CR1、S_CR2、S_CR3)，并且每一个控制器具有用于使用在特定状态下的最优化设定；

-可控制开关(73)，具有耦合到所述控制器(81、82、83)的各自输出端的多个输入端(73a、73b、73c)，并且具有耦合到控制电路(90)的输出端(93)的输出端(73d)，该开关根据控制信号(S_CS)被用来有选择地把其输出端(73d)耦合到其输入端(73a、73b、73c)中的一个；和信号分析器(72)，它具有接收来自信号处理器(71)的控制输出信号(MIRN)的输入端，并且具有用于产生用来控制所述可控制开关(73)的所述控制信号(S_CS)的输出端。

11.如权利要求1所述的光盘驱动器装置，其中控制系统(90)包括：

-信号处理器(71)，用于处理来自检测器(35)的读取信号(S_R)，并且用于产生所述误差信号成分(REN、FEN)和所述控制信号成分(MIRN)；

-控制器(80)，具有接收误差信号成分(REN)的输入端和具有耦合到控制电路(90)的输出端(93)的输出端，所述控制器被用来产生驱动器控制信号(S_CR)，所述控制器具有用于使用在特定状态下的多个最优化设定(86、87、88)；

-可控制开关(73)，具有耦合到所述控制器(80)的输出端，用于根据控制信号(Scs)有选择地设置控制器整定值(86、87、88)中的一个；和

-信号分析器(72)，它具有接收来自信号处理器(71)的控制输出信号(MIRN)的输入端，并且具有用于产生用来控制所述可控制开关(73)的所述控制信号(S_CR)的输出端。

12.一种用于在光盘驱动器装置(1)中识别盘缺陷不同类型的方法，盘驱动装置(1)包括：

-扫描装置(30)，用于扫描光盘(2)的纪录轨道并且用于产生读取信号(SR)，扫描装置(30)包括至少一个可移动的读/写元件(34)；

-致动器装置(50)，用于根据盘(2)控制所述至少一个读/写元件(34)的定位；

-控制电路(90)，用于接收所述读取信号(S_R)并且根据所述读取信号(S_R)的一个误差信号成分(REN、FEN)产生至少一个驱动器控制信号(S_CR、S_CF、S_CT)，控制电路(90)具有多个预定控制器设定；

该方法包括步骤：

-从所述读取信号(S_R)获得至少一个控制信号成分(MIRN)；

-执行所述至少一个控制信号成分(MIRN)的频率分析；

-根据所述频率分析的结果，有选择地设置所述多个预定控制器设定。

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