CN1849654A - 盘驱动设备 - Google Patents

Abstract

一种用于检测一种类型的盘驱动设备(1)中的机械冲击的方法，所说盘驱动设备(1)包括：扫描装置(30)，用于扫描盘(2)上的记录轨道并且用于产生读出信号(SR)；执行机构装置(50)，用于控制所说扫描装置(30)的至少一个读出/写入元件(34)的位置；控制电路(90)，用于接收所说读出信号(SR)、从所说读出信号(SR)导出至少一个误差信号(RE)、并且根据所说误差信号产生至少一个执行机构控制信号(S_CR)。所说的方法包括如下步骤：确定冲击灵敏度函数(S_SHOCK)，冲击灵敏度函数(S_SHOCK)描述冲击(xO_EXT)和所说误差信号之间的关系；确定或至少逼近反冲击灵敏度函数(S^－1 _SHOCK)，它是所说冲击灵敏度函数(S_SHOCK)的反函数；将所说反冲击灵敏度函数(S^－1 _SHOCK)加到所说误差信号上。

Description

盘驱动设备

技术领域

本发明一般涉及在存储盘上写入或读出信息的盘驱动设备。虽然本发明的主题还可以应用到磁盘上，但本发明具体来说应用到光盘上，出于这个理由，下面将针对光盘描述本发明，而相应的盘驱动设备还将表示为“光盘驱动器”。

背景技术

众所周知的是，光存储盘包括至少一个轨道，这个轨道或者是存储空间的一个连续螺旋线形式，或者存储空间的多个同心圆的形式，在这里以数据图形的形式存储信息。光盘可以是只读类型的，其中的信息是在制造期间记录的，这个信息只能由用户读出。光存储盘还可以是可写入类型的，用户在这里可以存储信息。为了在光存储盘的存储空间写入信息，或者为了从所说的盘读出信息，光盘驱动器一方面要包括转动装置，用于接纳和转动一个光盘，另一方面还包括光学装置，用于产生一个光束，通常是激光光束，并且利用所说激光光束扫描所说存储盘。由于光盘的通用技术、在光盘内存储信息的方式、以及从光盘上读出光学数据的方式通常都是公知的，在这里没有必要更加详细地描述这种技术。

为了转动光盘，光盘驱动器通常包括一个电机，电机驱动与光盘中央部分啮合的一个轴(hub)。通常，电机实施为一个主轴电机，由电机驱动的轴直接安排在电机的主轴上。

为了对于转动的盘进行光学扫描，光盘驱动器要包括一个光束发生器设备(通常是激光二极管)、用于将光束聚焦在盘上的一个焦点的物镜、和用于接收从盘上反射的反射光束并且产生电检测器输出信号的光学检测器。

在操作期间，光束应该保持在盘上聚焦。为此，物镜安排成可以在轴向移置，光盘驱动器包括聚焦执行机构装置，用于控制物镜的轴向位置。进而，焦点应该保持与轨道对齐，或者能够相对于新的轨道定位。为此，将物镜安装成可以径向移置，光盘驱动器包括径向执行机构装置，用于控制物镜的径向位置。

在许多盘驱动器中，将物镜安排成可以倾斜，这样的光盘驱动器包括倾斜执行机构装置，用于控制物镜的倾角。

为了控制这些执行机构，光盘驱动器包括一个控制器，用于接收来自光学检测器的输出信号。由这个信号(下面还称之为读出信号)，控制器可以导出一个或多个误差信号，例如焦点误差信号、径向误差信号，控制器根据这些误差信号产生执行机构控制信号，用于控制执行机构以便减小或消除位置误差。

在产生执行机构控制信号的过程中，控制器表现出一定的控制特性。这样的控制特性是这个控制器的特征，可以将所说控制器的特征描述为控制器在检测位置误差时发生的反应方式。

位置误差在实践中可能是由不同类型的扰动引起的。两种最重要扰动原因是：

1)盘缺陷；

2)外部冲击和(周期性的)振动。

第一类包括内部盘缺陷(如黑点)、污染(如指印)、损坏(如划痕)、等。第二类包括由碰到盘驱动器上的物体引起的冲击，但这些冲击主要是在便携式盘驱动器和汽车应用中有可能碰到的。如果抛开扰动起源的差别不提，在一方面的盘缺陷和另一方面的冲击和振动这两个方面之间的重要区别就是信号扰动的频率范围：由盘缺陷引起的信号扰动通常在高频，而冲击和振动通常是低频。

在这一方面的一个问题是，充分处理第一类扰动要求具有与充分处理第二类扰动不同的控制特性。按照常规，盘驱动器的控制器具有一个固定的控制特性，这种控制特性或者专门适用于充分处理第一类扰动(在这种情况下，误差控制对于第二类扰动来说不是优化的)，或者专门适用于充分处理第二类扰动(在这种情况下，误差控制对于第一类扰动来说不是优化的)，或者控制特性是折衷的(在这种情况下，误差控制对于第一类扰动来说以及对于第二类扰动来说都不是优化的)。只要控制器应用线性控制技术，则在低频扰动排斥和测量噪声的高频灵敏度之间总是存在一个折衷方案。

在本领域中，已经提出一种方案：根据经受扰动的类型改变控制器的增益。例如参见美国专利4722079。

为了能够实现具有可变增益的控制器，必须确定所探讨的扰动是哪一种类型。为此，公知的作法是使用单独的冲击传感器，测量加速度。所说的美国专利4722079描述了一种系统，在这里处理光读出信号以确定扰动类型，但这个系统要求是一个3光束的光学系统。

本发明的总的目的是提供一种方法，用于可靠地检测位置误差是否是由机械冲击引起的，这种方法还可以确定冲击的强度和形状。

此外，本发明的一个目的是提供一种方法，用于可靠地检测位置误差是否是由机械冲击引起的，这种方法对于盘缺陷几乎是不灵敏的。

发明内容

按照本发明的第一个重要方面，确定或者至少逼近(approximated)一个数学模型，这个模型是机械冲击和最终的光学误差信号(如径向误差信号，焦点误差信号等)之间的相互关系的频率域描述。这种模型被认为是一个传递函数(transfer function)，其中冲击是一个输入变量，并且其中最终的光误差信号是一个输出变量。

按照本发明的第二个重要方面，计算一个反传递函数，它是所说的传递函数的反函数。这个反传递函数具有光学误差信号，以此作为输入变量，并且具有冲击，以此作为输出变量。

要说明的是，通过分别考虑焦点误差信号或径向误差信号，可以在垂直方向(即平行于盘的转动轴)的冲击和水平方向(垂直于转动轴)的冲击之间进行区别。

附图说明

通过下面参照附图的描述，将要进一步说明本发明的这些和其它方面、特征、和优点，附图中相同的参考数字表示相同或相似的部件，其中：

图1A示意地表示一个光盘驱动设备的相关部件；

图1B示意地并且较详细地表示一个光学检测器的一个实施例；

图2A示意地表示作为质量弹簧系统的光盘驱动设备；

图2B示意地表示用于导出一个模型的这个质量弹簧系统的特性；

图3表示外部冲击/振动的径向传递函数相对于径向误差信号的幅度和相位随频率变化的曲线图；

图4是一个方块图，示意地表示按照本发明的一个冲击检测器电路；

图5是一个方块图，示意地表示按照本发明的一个冲击检测器电路的一个实施例；

图6表示根据本发明的冲击检测器电路的模拟测试结果的曲线图。

具体实施方式

图1A示意地表示一个光盘驱动设备1，它适合于在光盘2上存储信息或读出信息，所说的光盘通常是DVD或CD。为了转动盘2，光盘驱动设备1包括一个电机4，电机4固定到一个框架(为简洁起见，未示出)上，电机4确定一个转动轴5。

光盘驱动设备1进一步还包括一个光学系统30，用于通过一个光束来扫描盘2的轨道(未示出)。更加具体地说，在如图1A所示的典型设备中，光学系统30包括一个光束产生装置31，通常是一个激光器，例如激光二极管，用于产生光束32。下面，通过加到参考数字32上的字符a、b、c、等表示遵循光学路径39的光束32的各个不同部分。

光束32通过分束器33、准直透镜37、和物镜34，到达(束32b)盘2。光束32b从盘2反射(反射光束32c)，并且通过物镜34、准直透镜37、和分束器33(光束32d)，到达光学检测器35。将物镜34设计成可将光束32b聚焦到盘2的记录层(为简洁起见未示出)上的焦点F。

光盘驱动设备1进一步还包括一个执行机构系统50，执行机构系统50包括一个径向执行机构51，用于相对于盘2径向移置物镜34。由于径向执行机构本身是公知的，而本发明不涉及这种径向执行机构的设计和功能，因此在这里不必详细讨论径向执行机构的设计和功能。

为了实现并保持正确的聚焦，所说物镜34要精确地安装在盘2的期望位置上并且可沿轴向移置，同时执行机构系统50还要包括一个聚焦执行机构52，将所说的聚焦执行机构52安排成相对于盘2可沿轴向移置物镜34。由于聚焦执行机构本身是公知的，而且，这样的聚焦执行机构的设计和功能不是本发明的主题，因此在这里不必详细讨论聚焦执行机构的设计和功能。

为了实现并保持物镜34的正确倾斜位置，可枢轴转动地安装所说的物镜34；在这种情况下，如图所示，执行机构系统50还包括一个倾斜执行机构53，将其安排成可以相对于盘2枢轴转动所说的物镜34。由于倾斜执行机构本身是公知的，而且，这样的倾斜执行机构的设计和功能不是本发明的主题，因此在这里不必详细讨论倾斜执行机构的设计和功能。

还要说明的是，用于相对于设备框架支撑物镜的装置、用于沿轴向和径向移动所说物镜的装置、以及用于枢轴转动所说物镜的装置本身都是公知的。由于这样的支撑和移动装置的设计和操作不是本发明的主题，因此在这里不必详细讨论它们的设计和功能。

还要说明的是，径向执行机构51、聚焦执行机构52、和倾斜执行机构53可以实施为一个整体式的执行机构。

光盘驱动设备1进一步还包括一个控制电路90，控制电路90的第一输出端92连接到电机4的控制输入端、控制电路90的第二输出端93耦合到径向执行机构51的控制输入端、控制电路90的第三输出端94耦合到聚焦执行机构52的控制输入端、控制电路90的第四输出端95耦合到倾斜执行机构53的控制输入端。对于控制电路90进行设计，以便在它的第一输出端92产生用于控制电机4的控制信号S_CM、在它的第二控制输出端93产生用于控制径向执行机构51的控制信号S_CR、在它的第三输出端94产生用于控制聚焦执行机构52的控制信号S_CF、在它的第四输出端95产生用于控制倾斜执行机构53的控制信号S_CT。

控制电路90进一步还具有一个读出信号输入端91，用于从光学检测器35接收读出信号S_R。

图1B说明：光学检测器35可以包括多个检测器分段。在图1B所示的情况下，光学检测器35包括4个检测器分段35a、35b、35c、35d，它们能够分别供单个检测器信号A、B、C、D，用于表示分别入射到4个检测器象限中的每一个上的光的数量。用于分开第一和第四分段35a、35d与第二和第三分段35b、35c的中心线36的方向与轨道方向相对应。图1B还说明：对于4个象限检测器的情况下，控制电路90的读出信号输入端91实际上包括4个输入端91a、91b、91c、91d，分别用于接收所说单个检测器信号A、B、C、D。由于这样的四象限检测器本身的公知的，所以在这里没有必要对它的设计和功能给出更加详细的说明。

要说明的是，对于光学检测器35的不同设计也是可能的。例如，光学检测器可以包括辅助分段(satellite segments)，它们本身也是公知的。

在任何情况下，正如本领域的普通技术人员所知，可以对控制电路90进行设计，使其可以处理来自各检测器分段的各个检测器信号，从而可以导出一个或多个误差信号。径向误差信号(以下简称为RE)表示轨道和焦点F之间的径向距离。焦点误差信号(以下简称为FE)表示存储层和焦点F之间的轴向距离。要说明的是，按照光学检测器的设计，可以使用误差信号计算的不同公式。

对于控制电路90进行设计，以便产生随着误差信号的变化而变化的控制信号，减小相应的误差，这对于本领域的普通技术人员来说是十分清楚的。在这种情况下，控制电路90具有一个取决于误差类型的可变的控制特性。对于由于盘的缺陷引起的误差，控制电路90具有特别适合于充分处理盘的缺陷的第一控制特性。对于由于外部冲击引起的误差，控制电路90具有特别适合于充分处理外部冲击的第二控制特性，第二控制特性与第一控制特性是不同的。由于这些控制特性的准确性质不是本发明的主题，而且具有可变增益的控制电路的本身是公知的，同时在控制电路具有可变增益的情况下能实施本发明，因此在这里没有必要更加详细地描述控制特性。为了能够选择第一或第二控制特性，控制电路90需要知道误差的类型。为此，控制电路90要设有一个冲击识别部分100，用于接收来自控制电路90的至少一个误差信号(在如图所示的典型实施例中是径向误差信号RE)，冲击识别部分100使用所述至少一个误差信号以产生用于控制电路90的冲击识别信号SRS。冲击识别信号SRS可以简单地表示冲击是否存在；优选地，冲击识别信号SRS还包含有关可能的冲击的强度和形状方面的信息。

按照本发明的一个重要的方面，将冲击识别部分100设计成可以根据反冲击传递模型(inverse shock transfer model)计算冲击识别信号SRS，下面对此再进行说明。

为了说明径向误差情况下的冲击传递模型(shock transfermodel)，现在参照附图2A和2B。

图2A示意地表示光盘驱动设备1的一个主设备框架3A，它相对于固定物(world)W可以移动。主轴电机4耦合到主设备框架3A上。盘2耦合到主轴电机4上。盘驱动器1在这种情况下包括倾斜框架3B，倾斜框架3B耦合到主设备框架3A上。光学拾取单元3C耦合到倾斜框架3B。物镜34耦合到光学拾取单元3C。光盘2的轨道示意地表示为T。径向误差和聚焦误差分别示意地表示为RE和FE。

此外，光盘驱动设备1可以包括一个三维执行机构以代替倾斜框架，或者所说光盘驱动设备1可以没有倾斜设施。

现在参照附图2B，图2B表示光盘驱动设备1的一个一维模型，倾斜框架3B的等效质量定义为MI，光学拾取单元3C的等效质量定义为M2。物镜34的等效质量定义为M3，盘2的等效质量定义为M4，主轴电机4的等效质量定义为M5。

在倾斜框架3B和主设备框架3A之间的耦合通过等效刚度(equivalent stiffness)k1和等效阻尼(equivalent damping)d1表示。在光学拾取单元3C和倾斜框架3B之间的耦合通过等效刚度k2和等效阻尼d2表示。

在物镜34和光学拾取单元3C之间的耦合通过等效刚度k3和等效阻尼d3表示。

在光盘2和主轴电机4之间的耦合通过等效刚度k4和等效阻尼d4表示。

在主轴电机4和主设备框架3A之间的耦合通过等效刚度k5和等效阻尼d5表示。

将主设备框架3A的X位置表示为x0。

将MI的X位置表示为x1。

将M2的X位置表示为x2。

将M3的X位置表示为x3。

将M4的X位置表示为x4。

将M5的X位置表示为x5。

响应对于径向误差信号RE的检测，控制电路90控制径向执行机构51，从而产生作用力F，作用力F作用在透镜34和光学拾取单元3C之间。将控制电路90的特性表示为控制传递函数CTF，将径向执行机构51的特性表示为执行机构传递函数ATF。

沿径向方向作用在主设备框架3A上的外部冲击表示为

它表示主设备框架3A的加速度。要说明的是，冲击

是时间t的函数。冲击

导致主设备框架3A的位移Δx0，这个位移也是时间的函数。通过从主设备框架3A开始经过倾斜框架3B和光学拾取单元3C的机械路径，产生物镜34的位移Δx3，位移Δx3可以表示为：

               Δx3(s)＝H_LENS(s)·Δx0(s)，

其中利用了公式(1)：

$H_{\mathrm{LENS}}\left(s\right)=\frac{d_{1}s+k_1}{m_1{s}^2+d_{1}s+k_1}\·\frac{d_{2}s+k_2}{m_2{s}^2+d_{2}s+k_2}\·\frac{d_{3}s+k_3}{m_3{s}^2+d_{3}s+k_3}---\left(1\right)$

类似地，通过从主设备框架3A开始经过主轴电机4的机械路径，产生光盘2的位移Δx4，位移Δx4可以表示为：

                 Δx4(s)＝H_DISC(s)·Δx0(s)，

其中利用了公式(2)：

$H_{\mathrm{DISC}}\left(s\right)=\frac{d_{4}s+k_4}{m_4{s}^2+d_{4}s+k_4}\·\frac{d_{5}s+k_5}{m_5{s}^2+d_{5}s+k_5}---\left(5\right)$

径向误差RE基本上可以表示为RE＝Δx3-Δx4。于是，系统的冲击灵敏度S_SHOCK可以写为公式(3)：

$S_{\mathrm{SHOCK}}\left(s\right)=\frac{\mathrm{RE}}{\stackrel{\·\·}{x}{0}_{\mathrm{EXT}}}=\frac{1}{s^2}\·S_{\mathrm{CONTROL}}\left(s\right)\·(H_{\mathrm{LENS}}\left(s\right)-H_{\mathrm{DISC}}\left(s\right))---\left(3\right)$

其中利用了公式(4)

$S_{\mathrm{CONTROL}}\left(s\right)=\frac{1}{1+\mathrm{CTF}\left(s\right)\·\mathrm{ATF}\left(s\right)}---\left(4\right)$

在感兴趣的频率范围，即低于约200赫兹，H_LENS(s)可以近似地写为如下的公式(5)：

$H_{\mathrm{LENS}}\left(s\right)=\frac{d_{3}s+k_3}{m_3{s}^2+d_{3}s+k_3}=(d_{3}s+k_3)\·\mathrm{ATF}\left(s\right)---\left(5\right)$

公式(3)的模型是通过如图3所示的实验证实的，这些实验的曲线表示的是外部冲击/振动的径向传递函数相对于径向误差信号的幅度(上边的曲线)和相位(下边的曲线)随频率的变化而变化的情况，其中的测量值用实线表示，模型预期值用虚线表示。在感兴趣的频率范围(在汽车领域，在约10赫兹和约200赫兹之间)，在模型和测量结果之间符合得相当好。

系统的冲击灵敏度S_SHOCK描述的是在某个频率范围发生冲击和振动的情况下(具体来说，在误差信号RE来源于这种冲击的情况下)这个系统是如何动作的。换言之，S_SHOCK描述误差信号随冲击的变化而变化的情况。一旦确定了这个冲击灵敏度S_SHOCK，才有可能计算反冲击灵敏度S^-1 _SHOCK。它是描述冲击随误差信号的变化而变化的函数。将处理器编程为可以在收到误差信号RE并且以此作为输入信号时能够计算这个反冲击灵敏度S^-1 _SHOCK；处理器产生一个输出信号Q_OUT，输出信号Q_OUT用于重构冲击 这是由本发明提出的如图4所示的冲击检测器的基础，图4的方块图表示的是一个冲击识别电路100，它的输入端101用于接收径向误差信号RE，它的输出端102用于提供输出信号Q_OUT，设计冲击识别电路100是为了在它的输入信号RE上施加反冲击灵敏度S^-1 _SHOCK，例如：

$Q_{\mathrm{OUT}}=S_{\mathrm{SHOCK}}^{-1}\left(\mathrm{RE}\right)$

要说明的是，可以将输出信号Q_OUT用作早些时候曾经提过的冲击识别信号，或者可以用作进一步处理以便导出冲击识别信号SRS的基础，例如利用将Q_OUT与预先确定的阈值电平进行比较来导出冲击识别信号SRS。

在原理上，这个系统的冲击灵敏度S_SHOCK是一个常数，并可由厂家为每台设备单独地确定，或者为特定类型的设备总体确定。这种情况适用于反冲击灵敏度S^-1 _SHOCK。对于冲击识别电路100，可以利用确定反冲击灵敏度S^-1 _SHOCK的信息，例如将所说信息作为公式或查找表的形式存储在一个相关的存储器200内，本领域的普通技术人员对此是清楚明了的。

在研究图3时，可以看出，在感兴趣的频率范围内，尤其是在低于200赫兹时，在幅度特性曲线(上边曲线)中大约+90°的基本恒定的相位上(下边曲线)，径向传递函数具有每十进制大约20分贝的正的斜率。当将这种情况反向时，再加上大约-90°的基本恒定的相位，可以在这个幅度特性曲线上得到每十进制大约-20分贝的负的斜率。这样一种特性与积分运算有关。在这方面，要说明的是，为了不扩大盘的缺陷，并且还为了避开偶然性问题，舍弃了图3的高频部分。

于是，通过一个简单的积分器105，可能后面有一个放大器106，似乎是有可能实施冲击识别电路100，如图5所示。

然而，在优选实施例中，还是如图5所示，相对于扰动，而不是相对于同一频率范围内出现的冲击和振动，减小了冲击识别电路100的灵敏度。这样一种扰动的一个重要来源是盘的离心率，导致频率等于转动频率的扰动。为了抑制这些扰动，冲击识别电路100要包括一个附加的陷波滤波器110，陷波滤波器110在信号路径中从输入端110耦合到积分器105，陷波滤波器110的中心频率等于盘的转动频率。

此外，还期望抑制直流分量。为此，冲击识别电路100最好包括一个附加的高通滤波器120，高通滤波器120在所说信号路径中从输入端101耦合到积分器105，高通滤波器120的合适的截止频率范围例如在约1赫兹到约10赫兹。

要说明的是，在盘有缺陷的情况下，要控制所说误差返回到0。任何剩余的误差信号都不包含可靠的位置信息。因此，在这种情况下，最好为积分器切断输入信号。

通过模拟来测试图5的冲击识别电路100的操作。在图6中表示出这种模拟的结果，图6表示冲击(上边曲线)和误差(下边曲线)随时间的变化而变化的曲线。将一个实际的机械(径向)冲击加到盘驱动器上，并且用冲击检测器测量这个冲击的大小，其结果示于曲线61中：所得结果是，这个冲击的大小为0.5g，持续时间为6ms。曲线62和63分别表示来源于这个冲击的测量的径向误差和聚焦误差。径向误差作为输入信号加到图5的模拟冲击识别电路100上，输出信号Q_OUT由曲线64表示。

比较曲线64与曲线61可以看出，本发明提出的冲击检测器电路能够从对于误差信号的适当处理过程中十分准确地检测出冲击的产生。除高频振荡外，所说高频振荡是由模拟过程中所用的滤波器近似的增益差引起的，并且通过提高模型的准确性可以改善所说高频振荡，输出信号Q_OUT十分准确地反映出原始冲击的定时和大小。

进而，图6表明，本发明提出的冲击检测器电路对于盘的缺陷几乎是不灵敏的，或者说根本不灵敏。在模拟中使用的盘设有1.1mm直径的黑点，这个黑点在时间t近似等于3.31秒时(曲线62和63)将要导致很大的径向误差和聚焦误差。尽管如此，输出信号Q_OUT在时间t近似等于3.31秒时也只有一个微小的响应，几乎注意不到这个微小的响应，并且至少能容易地区分这个微小的响应与在时间t近似等于3.26秒时的冲击响应。

本领域的普通技术人员显然可以看出，本发明不限于以上讨论的这些典型实施例，在由所附的权利要求书限定的本发明的保护范围内可以有几种变化和改进。

如以上所述，对于由水平方向(即垂直于盘的转动轴的方向)的冲击引起的径向误差描述了一个模型。对于聚焦误差也可以导出一个类似的模型，聚焦误差实际上是轴向误差，通常是由垂直方向的冲击引起的，这对于本领域的普通技术人员来说是显而易见的。类似地，对于倾斜误差也可以导出类似的模型。所有的这些误差信号都适合于用在本发明中。

在以上的描述中，使用反灵敏度函数来重构已经引起一定的位置误差的加速度分布。从这个重构的分布出发来确定这个分布是对应于冲击或振动还是对应于盘误差。基于这一确定来调节控制电路的控制特性。还可以将这个重构的加速度分布用于不同的目的，例如如果检测到严重的冲击，可用于产生报警信号，或者在发生严重的冲击的情况下停止回放。然而，如果只为了得到信息或者进行测量，仅重构加速度分布就是本发明的实施例。

如以上所述，控制电路90和冲击识别电路100是作为分开的电路描述的。然而，控制电路90和冲击识别电路100还可以集成在一个电路内。

如以上所述，参照用于说明按照本发明的设备的功能方块的方块图描述了本发明。应该理解，一个或多个这样的功能方块还可以用硬件实施，在这里，这样的功能方决的功能是通过单个硬件部件实施的，但是一个或多个这样的功能方块还可以用软件实施，从而使这样的功能方块的功能可以用计数机程序的一个或多个程序行或者用可编程设备(如微处理器、微控制器、等)实施。

Claims (12)

1、一种用于检测盘驱动设备(1)中的机械冲击的方法，所说盘驱动设备(1)包括：

扫描装置(30)，用于扫描盘(2)上的记录轨道并且用于产生读出信号(S_R)：

执行机构装置(50)，用于控制所说扫描装置(30)的至少一个读出或写入元件(34)相对于盘(2)的位置；

控制电路(90)，用于接收所说读出信号(S_R)、从所说读出信号(S_R)导出至少一个误差信号(RE、FE)、并且根据所说误差信号(RE、FE)产生至少一个执行机构控制信号(S_CR、S_CF)；

所说的方法包括如下步骤：

确定冲击灵敏度函数(S_SHOCK)，冲击灵敏度函数(S_SHOCK)描述冲击 和所说至少一个误差信号(RE、FE)之间的关系；

确定或至少逼近反冲击灵敏度函数(S^-1 _SHOCK)，它是所说冲击灵敏度函数(S_SHOCK)的反函数；

将所说反冲击灵敏度函数(S^-1 _SHOCK)加到所说至少一个误差信号(RE、FE)上。

2、根据权利要求1所述的方法，其中对于误差信号(RE、FE)积分。

3、根据权利要求1所述的方法，其中对于误差信号(RE、FE)的直流分量进行抑制。

4、根据权利要求1所述的方法，其中对于误差信号(RE、FE)的对应于盘转动频率的频率分量进行抑制。

5、一种相对于盘(2)定位盘驱动设备(1)的读出或写入元件(34)的方法，所说盘驱动设备(1)包括：

扫描装置(30)，用于扫描盘(2)上的记录轨道并且用于产生读出信号(S_R)：

执行机构装置(50)，用于控制所说扫描装置(30)的至少一个读出或写入元件(34)相对于盘(2)的位置；

控制电路(90)，用于接收所说读出信号(S_R)、从所说读出信号(S_R)导出至少一个误差信号(RE、FE)、并且根据所说误差信号(RE、FE)产生至少一个执行机构控制信号(S_CR、S_CF)，控制电路(90)具有可变的控制特性(CTF)；

所说的方法包括如下步骤：

利用适合于盘缺陷情况的第一特性操作所说控制电路(90)；

接收至少一个误差信号(RE、FE)；

通过在所说至少一个误差信号(RE、FE)上施加反冲击灵敏度函数(S^-1 _SHOCK)来检测机械冲击；

响应对于机械冲击的检测，利用适合于机械冲击情况的第二特性来操作控制电路(90)，第二特性不同于第一特性。

6、一种盘驱动设备(1)，包括：

扫描装置(30)，用于扫描盘(2)上的记录轨道并且用于产生读出信号(S_R)；

执行机构装置(50)，用于控制所说扫描装置(30)的至少一个读出/写入元件(34)相对于盘(2)的位置；

控制电路(90)，用于接收所说读出信号(S_R)、从所说读出信号(S_R)导出至少一个误差信号(RE、FE)、并且根据所说误差信号(RE、FE)产生至少一个执行机构控制信号(S_CR、S_CF)，控制电路(90)具有可变的控制特性(CTF)；

与控制电路(90)关联的冲击识别电路(100)，用于接收所说至少一个误差信号(RE、FE)，将冲击识别电路(100)设计成可以通过将所说反冲击灵敏度函数(S^-1 _SHOCK)加到所说至少一个误差信号(RE、FE)上来检测机械冲击。

7、根据权利要求6所述的盘驱动设备，

其中：将冲击识别电路(100)设计成可以产生表示机械冲击是否存在的一个输出信号(Q_OUT；SRS)；

其中：将控制电路(90)耦合到冲击识别电路(100)以便接收所说的输出信号(Q_OUT；SRS)；

并且其中：将控制电路(90)设计成可以根据从冲击识别电路(100)接收的信号(Q_OUT；SRS)来设定它的控制特性。

8、一种冲击识别电路(100)，冲击识别电路(100)的输入端(101)用于接收至少一个误差信号(RE、FE)，冲击识别电路(100)的输入端(102)用于产生表示机械冲击是否存在的输出信号(Q_OUT；SRS)；

将冲击识别电路(100)设计成可以通过将所说反冲击灵敏度函数(S^-1 _SHOCR)加到所说至少一个误差信号(RE、FE)上来检测机械冲击。

9、根据权利要求8所述的冲击识别电路，它包括一个积分器(105)，在它的后面可能还有一个放大器(106)。

10、根据权利要求9所述的冲击识别电路，它进一步还包括一个陷波滤波器(110)。

11、根据权利要求9所述的冲击识别电路，它进一步还包括一个高通滤波器(120)。

12、根据权利要求6所述的盘驱动设备，它包括根据权利要求9所述的冲击识别电路(100)。

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