CN1828334A - X射线检测器的障板、计算机断层造影设备及调节障板的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于包括检测器元件(6，6.1至6.19)的X射线检测器(5)的障板(20，30，40，50，70)，优选用于计算机断层造影设备(1)。其具有带分别对应于每个检测器元件(6)的多个孔(19)的掩模板(18)，其中，该掩模板(18)的至少一个调节孔(22至29，41至44，51至54，81至86)具有与至少两个检测器元件(6.1至6.19)的大小相匹配的放大尺寸。调节孔用于在X射线检测器(5)之上调节障板。在采用X射线放射的情况下确定至少对应于一个调节孔的检测器元件(6.1至6.19)的测量信号。基于对检测器测量信号的比较来相对地调节障板和X射线检测器。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于具有检测器元件的X射线检测器的障板以及具有这样的障板的计算机断层造影设备。本发明还涉及一种在X射线装置的具有检测器元件的检测器上调节这样的障板的方法。
背景技术
在图像拍摄方法、尤其是如在医疗成像、如计算机断层造影中使用的数字拍摄方法中，人们努力提高所产生的图像的分辨率。这例如可以通过缩小检测器的像素面积来实现，在X射线装置的情况下通过缩小被X射线辐射的检测器的检测面积来实现。为此公知的有利用带孔的薄板或在光学检测器的情况下利用障板部分地遮盖像素面积。
在JP 2004-283343-A中例如公开了一种X射线计算机断层造影设备，其中，在X射线源和X射线检测器之间设置了障板(Lochmaske)。该障板具有多个孔，从而使X射线投影的投影面积小于在X射线检测器一侧可用的检测器面积。在此利用障板如已所述地提高由X射线计算机断层造影设备确定的图像的分辨率。
由于通常不是对图像拍摄设备中的所有测量过程都需要障板，因此障板是根据需要使用的。但在此的问题是，要根据需要精确地在所使用的检测器的像素矩阵上调节障板。
发明内容
因此本发明要解决的技术问题是，提供一种尤其用于计算机断层造影设备的障板，利用其可以简化对障板和X射线检测器的相对调节。此外，本发明要解决的技术问题还在于提供一种适于相对调节障板和X射线检测器的方法。
本发明的关于障板的技术问题是通过一种用于包括检测器元件的X射线检测器的障板解决的。该障板具有由吸收X射线的物质制成的掩模板，该掩模板具有多个孔，其中，每个孔就其大小来说基本上与对应于该孔的检测器元件的大小相匹配，其中，该掩模板的至少一个孔具有放大的尺寸，使该孔与至少两个检测器元件的大小相匹配。因此按照本发明的障板具有至少一个具有放大尺寸的孔，从而在将障板和X射线检测器相对设置时在采用X射线放射的情况下可以比较对应于具有放大尺寸的孔的两个检测器元件的测量信号。尤其是由检测器元件的测量信号的比值或差可以导出障板是否被精确地设置在X射线检测器的检测器元件上。例如如果检测器元件具有相等大小、即检测面积相等，则当障板精确地设置在X射线检测器之上时，则对应于掩模板的具有放大尺寸的孔的两个检测器元件的测量信号的比值至少基本等于1，或测量信号的差至少基本上等于0。如果比值不等于1或差值不等于0，则优选相对地调节障板和X射线检测器，直至比值为1∶1或差值为0。
当如上所述障板孔的大小与检测器元件的大小相匹配时，并不意味着这些孔和与其相对应的X射线检测器的检测器元件具有相同的大小，而是每个障板孔的大小都比分别与其对应的检测器元件的检测面积小。这些孔就其大小来说这样与与其对应的X射线检测器的检测器元件相匹配，使得对于具有相同大小的检测器元件的X射线检测器来说，在将障板精确定位在X射线检测器之上时，被X射线照射的X射线检测器的检测器元件的面积部分的大小基本上始终相同。
这样实施具有放大尺寸的掩模板的孔，使得在精确地相对设置障板和X射线检测器时，与每个具有放大尺寸的孔对应的检测器元件的被X射线照射的面积基本相同。由此可见，通过比较对应于具有放大尺寸的孔的检测器元件的测量信号可以简单的方式来相对地设置障板和X射线检测器。
根据本发明的一种变形，障板具有多个具有放大尺寸的孔，以便基于在不同位置确定的测量信号来尽可能精确地相对设置障板和X射线检测器。按照本发明的一种变形，具有放大的尺寸的孔至少遮盖两个位于特定方向上的检测器元件。以这种方式可以借助检测器元件的测量信号来检验在该特定方向上障板和X射线检测器的相对设置。如果选择多个位于不同方向上的具有放大尺寸的孔，则可以借助测量信号来检验在各个方向上障板和X射线检测器的相对设置并进行设置。
根据本发明的另一变形，具有放大尺寸的孔至少遮盖三个检测器元件，其中有两个检测器元件位于不同的方向上。如果孔的构成例如是L形的，则可以借助比较分别在两个方向上的检测器元件的测量信号来确定用于相对调节障板和X射线检测器的调节路径，以相对设置障板和X射线检测器。同样，当具有放大尺寸的孔例如为正方形且遮盖四个检测器元件、或当孔为矩形且遮盖四个或更多检测器元件时也可以达到相同的效果。在这种情况下可以根据方向对检测器元件的测量信号求和并比较测量信号的和以确定调节方向以及必要时确定移动路径。
根据本发明的实施方式，优选将具有放大尺寸的孔设置在障板的边缘区域。以这种方式具有放大尺寸的孔就不会对成像带来负面影响或仅有不大的影响。
根据本发明的一种变形，根据X射线检测器的不同，当X射线检测器仅具有相同尺寸的检测器元件时，障板除了具有放大尺寸的孔外也具有基本上大小相同的孔。而如果X射线检测器具有不同的检测器元件组，在组中的检测器元件大小相同，而在不同的组之间则具有不同的大小，则障板也与X射线检测器匹配地这样构成，即其包括不同组的孔，在组内孔的大小基本相同，而在组之间孔的大小不同。
根据本发明的变形，障板分别按照其应用目的而具有圆形、椭圆形、有角的、矩形、正方形和/或缝隙形的孔。
如果障板是为设置在弯曲面上的X射线检测器而设置的，则障板也同样是弯曲的，在此，障板与X射线检测器的弯曲相匹配。
按照本发明的一种实施方式，障板由金属或金属合金制成。
优选障板用于X射线-计算机断层造影设备，其中根据本发明的变形障板可选地设置在由X射线源发出的X射线的射线路径中并在X射线检测器之前。例如在第三代X射线-计算机断层造影设备中障板可以设置在支架的运动部分上，并可优选利用步进电机置于X射线的射线路径中或从射线路径中去掉。
本发明关于方法的技术问题通过一种用于在X射线装置的具有检测器元件的X射线检测器上调节上述类型的障板的方法解决。其中，首先将障板这样设置在X射线检测器之上，使该障板大致遮盖住X射线检测器。在采用X射线放射的情况下确定对应于障板的至少一个具有放大尺寸的孔的检测器元件的测量信号。然后，基于对测量信号的比较来相对地调节障板和X射线检测器。根据本发明的变形，要一直相对地调节障板和X射线检测器，直到从该测量信号的比较中产生至少基本上可预定的结果。
如果再次基于具有相同大小的检测器元件的X射线检测器，并为了简单起见首先仅观察一个具有放大尺寸、对应于两个X射线检测器的检测器元件的孔，则当两个检测器元件的测量信号的比为1∶1或差为0时，障板和X射线检测器精确地相对对准。为了精确地将障板和X射线检测器相互相对地对准，根据本发明的变形，采用多个具有放大尺寸的孔，在此，将分别对应于这样的孔的检测器元件的测量信号互相进行比较。最后，借助该比较可将障板和X射线检测器相对地互相对准，其中，根据检测器元件相互间的相对位置、由所确定的检测器元件的测量信号来确定用于相对调节障板和X射线检测器的调节路径。
根据本发明的实施方式，在采用遮盖四个或更多检测器元件的具有放大的尺寸的孔的情况下，形成测量信号的和来进行比较。
为了在借助测量信号确定调节方向或调节路径时降低测量数据噪声的影响，根据本发明的一种变形，在采用遮盖多个检测器元件的孔时，根据所要求的对测量信号的综合来对各个检测器元件的测量信号求平均。
附图说明
以下借助附图所示实施例对本发明进行详述。图中示出：
图1示出按照本发明的计算机断层造影设备的部分框图的示意图；以及
图2-7示出各种障板-X射线检测器组合的俯视图。
具体实施方式
图1示出X射线-计算机断层造影设备1，其具有X射线管2形式的X射线源，X射线从其焦点F发出，并通过光阑3形成为具有开口角α的扇形或锥形的X射线束4。X射线检测器5与X射线管2相对设置，其在本实施例的情况下具有多个检测器模块16，它们在此基本上彼此相邻地设置在方向和Z方向。检测器模块16还可以基本上只先后设置在方向上。每个检测器模块16以本身公知的方式包括多个在计算机断层造影设备1的系统轴Z方向上相互衔接排列的检测器元件6的行。X射线管2和X射线检测器5设置在计算机断层造影设备1支架的旋转部分、即旋转框7上。图1中示意地示出旋转框7由电机15驱动。此外，计算机断层造影设备1还具有患者卧榻8，在本实施例的情况下待检查的患者P躺在患者卧榻8上。患者卧榻8可以公知的方式在计算机断层造影设备1的系统轴Z方向上移动，在此，其穿过计算机断层造影设备1的旋转框7的患者开口9。旋转框7可绕计算机断层造影设备1的系统轴Z旋转，并为了用X射线对患者P进行透视而在方向上绕系统轴Z旋转，在此，从不同的投影方向拍摄患者P身体区域的X射线投影。在此，X射线束4采集圆形截面的测量场10。在对患者P进行检查期间，穿过患者P后衰减了的X射线出现在X射线检测器5的检测器模块16的检测器元件6上。在此，对每次X射线投影而言都由于所出现的X射线而由X射线检测器5的检测器元件6产生测量信号，该测量信号被输入计算装置11。借助于计算装置11以公知的方式根据检测器元件6的测量信号再现出患者P被拍摄身体部位的断层图像或立体表示，它们可被显示在显示装置12上。
此外，在本实施例的情况下计算机断层造影设备1还包括设置在X射线检测器5之前、在由X射线源2发出的X射线的射线路径中的障板20，其具有基本上与X射线检测器5相同的弯曲。障板20用于提高由计算机断层造影设备1产生的患者P的图像的分辨率。由于不是所有测量或检查方法都需要障板20，可以借助一个或多个步进电机21将障板20置于X射线的射线路径中并再次从X射线的射线路径中去除。步进电机21在本实施例的情况下如障板20本身一样设置在计算机断层造影设备1的旋转框7上。步进电机21可使障板20在Z轴方向并沿X射线检测器5运动并由此将障板20置于X射线的射线路径中以及从X射线的射线路径中去除。
为了尤其是在如计算机断层造影中使用的数字拍摄方法中能够借助障板20提高利用计算机断层造影设备1产生的图像的分辨率，需要将障板尽可能精确地设置在X射线检测器5之上。在图2-7中，分别举例示出根据X射线检测器5的检测器模块16的不同障板-X射线检测器组合，利用这些组合可以精确地相对设置或调节障板和X射线检测器。图2-7中所示为俯视图。
图2以虚线示出了具有检测器元件6的X射线检测器5的检测器模块16。检测器元件例如是直接转换的检测器元件，或具有X射线闪烁体或光电二极管的检测器元件。
如图2所示，检测器模块16包括9个在z方向顺序排列的检测器行，每个检测器行具有11个检测器元件6。在本实施例的情况下，所有检测器元件6基本上具有相同的大小、即相同的检测器面积。在检测器模块16的上部以优选定义的距离示出了对应于所示的检测器模块16的障板20的一部分。障板20具有掩模板18，其在本实施例的情况下是由金属物质制成的，如钽、钨或由这些物质的合金制成。障板20的掩模板18除了具有调节孔22至25外还具有正方形孔19。所有正方形孔19的大小都基本相同，并且彼此间等距设置。在此孔19与X射线检测器5的检测器模块16的检测器元件6的大小相匹配，这意味着孔19不是具有与检测器元件6相同的大小，而是具有这样缩小了的尺寸，使得在障板20精确对准在X射线检测器5上时，从X射线管2发出的X射线只对各检测器元件6的检测器面积的一部分照射。因此障板20的作用是缩小X射线检测器5的可用检测器面积。
如从图2可见，障板20的片段尚未精确地对准在X射线检测器5的检测器模块16之上。为了将其对准，在障板20片段的各个角设置了已述的放大的调节孔22至25，其大小为，当障板20的片段精确对准在X射线检测器5的检测器模块16之上时，四个调节孔22至25中的每个都遮盖检测器模块16的两个检测器元件6。这样选择调节孔22至25的大小，当障板20的片段精确对准在检测器模块16之上时，穿过调节孔22至25之一的X射线基本上触及所涉及的两个检测器元件的相同大小的检测器面积。例如在图2和图3中可以看到检测器元件6.1、6.2，因此当如图3所示孔22相对于检测器元件6.1、6.2对准使得两个检测器元件6.1、6.2的相同的面积部分被X射线照射时，障板20的片段就精确地对准在检测器模块16之上。
在方法技术上将障板20对准在X射线检测器5上是这样实现的，首先将障板20粗略地、在X射线检测器5上例如定向地对准障板20的边沿和X射线检测器5的边沿。实践中粗略定位是由步进电机21程序控制地实现的。这样的情况在图2中借助检测器模块16示出。然后在没有患者P的情况下从X射线管2向障板20和X射线检测器5方向发射脉冲式的X射线，并利用计算装置11确定检测器元件6.1和6.2以及其它为了将障板20和X射线检测器5相对对准而使用的检测器元件对(6.3，6.4)、(6.5，6.6)、(6.7，6.8)的测量信号。对于每个检测器元件对(6.1，6.2)至(6.7，6.8)例如形成其测量信号的比值，并将该比值与预先给定的测量信号的比值进行比较。由于在本实施例的情况下检测器元件6具有基本上相同的大小，并且这样选择调节孔22至25的大小，使得在将障板20与X射线检测器5精确对准时检测器元件6.1至6.8被X射线照射的检测器面积基本相同，因此当将障板20精确对准在X射线检测器5之上时，须对检测器元件对(6.1，6.2)至(6.7，6.8)将比值调节到1∶1。在对准或调节障板20时，根据确定的检测器元件对的测量信号的比值借助步进电机21调节障板20，直至对于检测器元件对(6.1，6.2)至(6.7，6.8)的测量信号比约为1∶1。在这种情况下如在图3中片段地示出的，障板20精确地对准在X射线检测器5的检测器模块16上。
借助图2和图3示出了将障板20相对于X射线检测器5在图2所示的笛卡儿坐标系的y方向上对准。如果还需要将障板20相对于X射线检测器5在z方向上对准，则须采用修改的障板，如在图4至图6片段地举例示出的那样。为了在z方向上也能将障板20精确地设置于X射线检测器5之上，图4所示的障板30的片段除了具有在y方向对准的遮盖两个检测器元件的调节孔22-25外，还具有另外四个在z方向上对准的、遮盖两个检测器元件的调节孔26至29。对调节孔26至29大小的选择以对调节孔22至25大小的选择相应的方式进行。由此可以在采用X射线放射及形成检测器元件对(6.9，6.10)至(6.15，6.16)的测量信号比的情况下也可以控制在z方向上将障板30对准在X射线检测器5之上并精确地对准。这样如在图4中对当前实施例所示出的，必须至少对所有检测器元件对(6.9，6.10)至(6.15，6.16)都将测量信号比调节到基本上为1∶1。如果如上所述检测器元件对(6.1，6.2)至(6.7，6.8)的测量信号比也为1∶1时，则障板30精确地对准在X射线检测器5之上。
图5示出另一障板40的片段，其为了与检测器模块16或X射线检测器5精确对准而在其四个角上分别具有一个具有放大尺寸的调节孔，在此，在这种情况下每个正方形的调节孔41至44遮盖住X射线检测器5的检测器模块16的四个检测器元件。为了在z和y方向上对准障板40，分别对位于调节孔41-44之下的四个检测器元件的测量信号进行分析。以下对例如对对应于孔41的检测器元件6.1、6.2、6.17、6.18的信号分析进行描述。对于在y方向的对准例如构成检测器元件6.1和6.17的测量信号之和以及检测器元件6.2和6.18的测量信号之和，并将这些和设置为比例关系。如果在该过程中对于所有与调节孔41至44对应的检测器元件组的该比值都为1∶1，则障板40在y方向对准。以相似的方式可以进行z方向上的对准，其中，在这种情况下以与孔41对应的检测器元件为例进行说明，形成检测器元件6.1、6.2的测量信号之和以及检测器元件6.17、6.18的测量信号之和，并对这些和的比值进行分析。如果对所有对应于调节孔41至44的检测器元件在该过程中都得到比值1∶1，则障板40也在z方向与X射线检测器5对准。
图6示出障板50的片段，其在其角区域具有矩形的调节孔51至54，调节孔51至54在图6所示实施例的情况下分别遮盖X射线检测器5的检测器模块16的八个检测器元件。在此，将障板50相对于X射线检测器5的对准如上所述这样实现：根据对准方向形成测量信号的和，并将其与相应的和进行比较。在此为了降低在基于测量信号将障板50与X射线检测器5对准时的测量数据噪声，还可以对多个测量信号进行平均，然后将平均值相互比较。对于调节孔51至54以图6中的障板50的调节孔51为例进行说明，其中，例如为了在z方向上对准，对检测器元件6.1、6.2、6.9、6.19的测量信号以及检测器元件6.17、6.18、6.20、6.21的测量信号进行平均。然后将这些平均值设置成比例关系，并根据所得到的比值来在z方向上调节障板50，直至平均值的比值为1∶1。对调节孔52至54可以采取相同的方式。对于在y方向上的对准也同样如此。在此例如可以针对调节孔51对检测器元件6.1、6.2、6.17、6.18的测量信号以及检测器元件6.9、6.19、6.20、6.21的测量信号求平均。然后为了对准障板50将这些平均值设置成比例关系。对于调节孔52至54的过程相似。
图7中还示出障板80的片段和检测器模块70的障板-X射线检测器组合，其中，构成X射线检测器的检测器模块70具有由不同大小的检测器元件组成的组。由此，检测器元件行71、72中的检测器元件具有相同的大小。对于检测器行73、74以及75和76也同样如此。在此障板80的孔的大小与检测器模块70的检测器元件的大小相匹配。为使障板80与X射线检测器对准，障板80以与如上所述的障板类似的方式具有放大尺寸的调节孔，以便能够借助测量信号将障板80精确地对准在X射线检测器上。由此孔81至84用于y方向上的对准，孔85和86用于在z方向上将障板80对准。在此如在上述对于其它障板-X射线检测器组合所描述的，对所涉及的检测器元件的测量信号进行分析，并优选将其置于比例关系中。因此，以上所描述的用于相对调节障板和X射线检测器的方法也可用于其检测器元件具有彼此不同大小的X射线检测器和障板。
以上所述的测量信号的比较这样实行，即将测量信号、和信号或平均信号相互置于比例关系中。但还可以例如以求差运算的方式来实现测量信号的比较。
可以理解，用于X射线检测器的障板可以如上所述具有不同类型的调节孔。此外，除了带角的孔外还可具有圆形、椭圆形和/或缝隙形的孔，并可作为调节孔。
除了确定可用于调节障板的测量信号的比值之外，借助所确定的比值还可以直接计算各个调节路径。如果调节孔的大小已知，则在忽略障板和X射线检测器之间的垂直距离的情况下也可知在所涉及的检测器元件上的投影面积的大小。最后，根据测量信号的比值以及关于在将障板精确对准在X射线检测器上时X射线所照射的相关检测器元件的检测器面积部分大小相同的认知，例如可以为障板计算出调节路径。由图2和3的示例可看到，借助调节孔22将障板20在y方向上与X射线检测器5对准时，在调节孔22在y方向上的长为10mm以及检测器元件6.1、6.2的测量信号比为2∶1[(10mm的4/6)∶(10mm的2/6)]时，调节路径为在负y方向为1/6*10mm，即1.67mm。以相应的方式不仅还可以对障板20的其它调节孔进行计算，而且还可以对障板30、40、50和80进行计算。按照这样的方式可以计算各调节路径。
优选在将障板和X射线检测器相互对准时首先在第一方向(例如y方向)上进行，然后在第二方向(例如z方向)上进行。在此采用步进电机进行对准。
还可以相对于障板调节X射线检测器来取代相对于X射线检测器调节障板。
在图2至7中为简单起见分别示出了障板的片段，其与其它片段一起构成障板。应该理解，不是每个对应于检测器模块16的障板的片段都必须具有调节孔。优选只有在障板边缘区域的障板片段才具有一个或多个调节孔，这些调节孔对应于设置在X射线检测器边缘的检测器模块或检测器元件。
此外，障板不能超出整个X射线检测器延伸。更确切地说一个障板只能为X射线检测器的特定区域、如中部而设。
X射线检测器也不一定要由检测器模块构成。
Claims (18)
1.一种用于包括检测器元件(6，6.1至6.19)的X射线检测器(5)的障板，其具有由吸收X射线的物质制成的掩模板(18)，该掩模板(18)具有多个孔(19)，其中，每个孔(19)就其大小来说基本上与对应于该孔(19)的检测器元件(6)的大小相匹配，其中，该掩模板(18)至少有一个孔(22-29，41-44，51-54，81-86)具有放大的尺寸，使该孔与至少两个检测器元件(6.1至6.19)的大小相匹配。
2.根据权利要求1所述的障板，其具有多个具有放大尺寸的孔(22-29，41-44，51-54，81-86)。
3.根据权利要求1或2所述的障板，其中，所述具有放大尺寸的孔(22-29，41-44，51-54，81-86)至少遮盖两个位于特定方向上的检测器元件(6.1-6.19)。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的障板，其中，所述具有放大尺寸的孔(41-44，51-54)至少遮盖三个检测器元件(6.1-6.19)，其中有两个检测器元件位于不同的方向上。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的障板，其中，所述具有放大尺寸的孔(22-29，41-44，51-54，81-86)设置于障板(20，30，40，50，70)的边缘区域。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的障板，其具有基本上大小相同的孔(6)。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的障板，其包括多组具有基本上相同大小的孔。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的障板，其具有圆形、椭圆形、有角的、矩形、正方形和/或缝隙形的孔。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的障板，其是弯曲的。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的障板，其由金属或金属合金制成。
11.一种计算机断层造影设备，其具有根据权利要求1至10中任一项所述的障板(20，30，40，50，70)。
12.根据权利要求11所述的计算机断层造影设备，其中，所述障板(20，30，40，50，70)设置在由X射线源(2)发出的X射线(4)的射线路径中、且在X射线检测器(5)之前，并可又从射线路径中去掉。
13.一种用于在X射线装置(1)的具有检测器元件(6)的X射线检测器(5)上调节根据权利要求1至10中任一项所述的障板(20，30，40，50，70)的方法，其中
-将障板(20，30，40，50，70)这样设置在X射线检测器(5)之上，使该障板(20，30，40，50，70)大致遮盖住X射线检测器(5)；
-在采用X射线放射的情况下确定检测器元件(6.1-6.19)的测量信号，该检测器元件(6.1-6.19)至少对应于障板(20，30，40，50，70)的一个具有放大尺寸的孔(22-29，41-44，51-54，81-86)；以及
-基于对测量信号的比较来相对地调节该障板(20，30，40，50，70)和该X射线检测器(5)。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，相对地调节所述障板(20，30，40，50，70)和X射线检测器(5)，直至根据测量信号的比较至少基本上得出预先给定的结果。
15.根据权利要求13或14所述的方法，其中，采用多个具有放大尺寸的孔(22-29，41-44，51-54，81-86)，并将对应于各孔(22-29，41-44，51-54，81-86)的检测器元件(6.1-6.19)的测量信号进行比较。
16.根据权利要求13至15中任一项所述的方法，其中，根据检测器元件(6.1-6.19)相互间的相对位置、由对检测器元件(6.1至6.19)的测量信号的比较来确定用于相对调节障板(20，30，40，50，70)和X射线检测器(5)的调节路径。
17.根据权利要求13至16中任一项所述的方法，其中，在采用遮盖四个或更多检测器元件(6.1-6.19)的具有放大尺寸的孔(41-44，51-54)的情况下，构成测量信号的和来进行所述比较。
18.根据权利要求17所述的方法，其中，对多个检测器元件(6.1-6.19)的测量信号进行平均。
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