JP2006239427A - X線検出器の孔マスク、孔マスクを有するコンピュータ断層撮影装置および孔マスクの調整方法 - Google Patents
X線検出器の孔マスク、孔マスクを有するコンピュータ断層撮影装置および孔マスクの調整方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006239427A JP2006239427A JP2006055027A JP2006055027A JP2006239427A JP 2006239427 A JP2006239427 A JP 2006239427A JP 2006055027 A JP2006055027 A JP 2006055027A JP 2006055027 A JP2006055027 A JP 2006055027A JP 2006239427 A JP2006239427 A JP 2006239427A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- hole mask
- hole
- ray
- mask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 62
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 4
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2921—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
- G01T1/295—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using coded aperture devices, e.g. Fresnel zone plates
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
【課題】孔マスクとX線検出器との相互の調整を簡単化する。
【解決手段】本発明は、とりわけコンピュータ断層撮影装置(1)のために設けられている検出器要素(6,6.1〜6.19)を含むX線検出器(5)の孔マスクに関する。孔マスクは、検出器要素(6)にそれぞれ付設されている複数の孔(19)を備えたマスク板(18)を有する。マスク板(18)の少なくとも1つの調整孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)は、少なくとも2つの検出器要素(6.1〜6.19)の寸法に合わされているように拡大された寸法を有する。調整孔はX線検出器(5)上での孔マスクの調整に用いられる。X線を使用して少なくとも1つの調整孔に対応している検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号が求められる。検出器要素の測定信号の比較に基づいて孔マスクとX線検出器(5)とが相互に相対的に調整される。
【選択図】図4
【解決手段】本発明は、とりわけコンピュータ断層撮影装置(1)のために設けられている検出器要素(6,6.1〜6.19)を含むX線検出器(5)の孔マスクに関する。孔マスクは、検出器要素(6)にそれぞれ付設されている複数の孔(19)を備えたマスク板(18)を有する。マスク板(18)の少なくとも1つの調整孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)は、少なくとも2つの検出器要素(6.1〜6.19)の寸法に合わされているように拡大された寸法を有する。調整孔はX線検出器(5)上での孔マスクの調整に用いられる。X線を使用して少なくとも1つの調整孔に対応している検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号が求められる。検出器要素の測定信号の比較に基づいて孔マスクとX線検出器(5)とが相互に相対的に調整される。
【選択図】図4
Description
本発明は、検出器要素を含むX線検出器の孔マスクならびにこの種の孔マスクを有するコンピュータ断層撮影装置に関する。更に、本発明はX線装置において検出器要素を有するX線検出器上でこの種の孔マスクを調整する方法に関する。
画像撮影法、特に、医用画像化法、例えばコンピュータ断層撮影法においても使用されているようなディジタル撮影法においては、作成された画像の分解能を高める努力がなされている。これは、例えば検出器のピクセル面を縮小することによって、X線装置の場合にはX線検出器の検出器面を縮小することによって達成することができる。このために、ピクセル面を少なくとも部分的に、穿孔された薄板で、あるいは光学的検出器の場合には孔マスクで覆うことは知られている。
X線源とX線検出器との間に孔マスクが配置されているX線コンピュータ断層撮影装置は知られている(例えば、特許文献1参照)。孔マスクは多数の孔を有するので、X線投影の投影面は、X線検出器の側で使用可能な検出器面よりも小さい。この孔マスクにより、既に述べたように、X線コンピュータ断層撮影装置により求められた画像の分解能が高められる。
孔マスクは、一般に、画像撮影装置における全ての測定経過に必要というわけではないので、孔マスクは必要に応じて使用される。しかしながら、必要なときに、使用された検出器のピクセルマトリックス上で孔マスクを正確に調整することが問題であることが分かった。
特開2004−283343号明細書
従って、本発明の課題は、孔マスクとX線検出器との相互の相対的な調整が簡単化される、特にコンピュータ断層撮影装置用の孔マスクを提供することにある。本発明の他の課題は、孔マスクとX線検出器との相互の相対的な調整方法を提示することにある。
孔マスクに関する課題は、検出器要素を含むX線検出器の孔マスクであって、複数の孔を備えX線吸収材料からなるマスク板を有する孔マスクにおいて、各孔は、寸法に関して、孔が付設されている検出器要素の寸法にほぼ合わされ、マスク板の少なくとも1つの孔は、少なくとも2つの検出器要素の寸法に合わされているように拡大された寸法を有することによって解決される。従って、本発明による孔マスクは拡大された寸法を有する少なくとも1つの孔を備えているので、孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせを行なう際に、X線を使用して、マスク板の拡大された寸法を有する孔に対応している両検出器要素の測定信号を比較することができる。特に、検出器要素の測定信号の比または差から、孔マスクがX線検出器の検出器要素上に正確に位置合わせされているか否かを導き出すことができる。同じ寸法の検出器要素すなわち同じ面積の検出器面を前提とすると、孔マスクがX線検出器上に正確に位置合わせされていれば、マスク板の拡大された寸法の孔に対応している両検出器要素の測定信号の比は少なくともほぼ1に等しいか、もしくは測定信号の差はほぼ0に等しい。比が1に等しくないか、もしくは差が0に等しくない場合、孔マスクおよびX線検出器は1:1の比が生じるか、もしくは0の差が生じるまで相互に相対的に移動調整される。
上記において孔マスクの孔の寸法を検出器要素の寸法に合わせることを問題にする場合に、これは、孔と、X線検出器においてこれらの孔に対応している検出器要素とが同じ寸法を有することを意味しない。むしろ、孔マスクの各孔は、それぞれの孔が付設されている検出器要素の検出器面よりも小さい寸法を有する。孔は、それらの寸法に関して、X線検出器においてそれらの孔に対応している検出器要素に、次のように、すなわち、同じ寸法の検出器要素を有するX線検出器の場合に、X線検出器上に孔マスクを正確に位置決めする際に、ほぼ常に、X線検出器の1つの検出器要素の同じ大きさの面積部分がX線を照射されるように合わされている。
マスク板の拡大された寸法を有する孔は、孔マスクとX線検出器との相互の相対的な正確な位置合わせを行う際に、拡大された寸法の孔に対応している各検出器要素のX線照射面がほぼ等しくなるように構成されている。従って、拡大された寸法の孔に対応している検出器要素の測定信号の比較によって簡単に孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせを行なうことができる。
本発明の実施態様によれば、異なる個所において求められた測定信号に基づいて孔マスクとX線検出器との相互の相対的なできるだけ正確な位置合わせを達成できるようにするために、孔マスクは、一般に、拡大された寸法を有する複数の孔を有する。本発明の実施態様によれば、拡大された寸法を有する孔は、定められた方向にある少なくとも2つの検出器要素にまたがっている。このようにして、この定められた方向について検出器要素の測定信号に基づいて孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせをチェックすることができる。異なる方向にある拡大された寸法の複数の孔を選ぶならば、それぞれの方向について孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせは測定信号によりチェックして行なうことができる。
本発明の他の実施態様によれば、拡大された寸法を有する孔が少なくとも3つの検出器要素にまたがり、それらのうち2つの検出器要素が異なる方向にある。孔が、例えばL字形に形成されるならば、孔マスクとX線検出器とを相互に相対的に位置合わせするために、2つの方向についてそれぞれ2つの検出器要素の測定信号の比較に基づいて孔マスクとX線検出器との相互の相対的な移動調整距離を求めることができる。拡大された寸法の孔が例えば正方形であり、4つの検出器要素にまたがっている場合に、あるいは孔が長方形であり、4つの又は5つ以上の検出器要素にまたがっている場合に、同じことに成功する。この場合に、移動調整方向および場合によっては移動距離を算出するために、方向に応じて検出器要素の測定信号を加算し、測定信号の和の比較を行なうことができる。
本発明の実施態様に従って、拡大された寸法を有する孔は孔マスクの縁範囲に配置されているとよい。このようにして拡大された寸法の孔は画像化に不都合に作用することなく、又はほんの僅かしか影響しない。
X線検出器に関連して、本発明の実施態様に基づいて、X線検出器が同じ寸法を有する検出器要素しか待たない場合、孔マスクは、拡大された寸法の孔を除いて、ほぼ同じ寸法を有する孔を含む。これに対して、X線検出器が種々のグループの検出器要素を有し、検出器要素が同じグループ内では同じ寸法を有するが、グループ間では異なる寸法を有する場合、孔マスクは、同様にX線検出器に合わせて次のように、すなわち、孔マスクが種々のグループの孔を含み、これらの孔がグループ内ではほぼ同じ寸法を有するが、グループ間では異なる寸法を有するように構成されている。
本発明の実施態様によれば、孔マスクは、使用目的に応じて、円形、楕円形、多角形(例えば三角形、五角形、長方形、正方形)および/または細長い孔を有する。
孔マスクが湾曲している面に配置されているX線検出器のために設けられている場合、孔マスクも同様に湾曲して実施され、孔マスクはX線検出器の曲率に合わされている。
本発明の実施態様では、孔マスクは金属または金属合金から作られている。
とりわけ、孔マスクはX線コンピュータ断層撮影装置に設けられている。本発明の実施態様に従って、孔マスクは選択的に、X線源から出射するX線のX線経路内において、X線検出器の前に配置可能である。孔マスクは、例えば第3世代のX線コンピュータ断層撮影装置において、ガントリの移動可能な部分に配置され、好ましくはステップモータによりX線経路内に搬入可能であるか、もしくはX線経路外へ搬出可能である。
方法に関する課題は、X線装置において検出器要素を有するX線検出器上で上述の孔マスクを調整する方法において、孔マスクは、まずX線検出器上に、孔マスクが粗くX線検出器上に位置合わせされているように配置されることによって解決される。X線を使用して、孔マスクの拡大された寸法を有する少なくとも1つの孔に対応している検出器要素の測定信号が検出される。最後に、孔マスクおよびX線検出器が、測定信号の比較に基づいて、相互に相対的に移動調整される。本発明方法の実施態様によれば、孔マスクおよびX線検出器は、測定信号の比較から少なくともほぼ予め与え得る結果が生じるまで、相互に相対的に移動調整される。
同じ寸法の検出器要素を備えた線検出器を前提として、簡単化のためにまず、X線検出器の2つの検出器要素に付設されている拡大された寸法の1つのみの孔を考察するに、孔マスクおよびX線検出器は、両検出器要素の測定信号が1:1の比もしくは0の差を有する場合に、正確に相互に相対的に位置合わせされている。孔マスクとX線検出器とを正確に相互に相対的に位置合わせするために、本発明方法の実施態様によれば、拡大された寸法の複数の孔が用いられ、それぞれ1つのこの種の孔につまり対応した検出器要素の測定信号が互いに比較される。比較に基づいて、最後に、孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせが行なわれ、検出器要素の相互の相対的な位置に依存して検出器要素の求められた測定信号から孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置調整のための移動調整距離が求められる。
本発明の実施態様によれば、4つの又は5つ以上の検出器要素にまたがるように拡大された寸法を有する1つの孔を用いる場合に、比較のために測定信号の和が形成される。
測定信号に基づいて移動調整方向もしくは移動調整距離を求める際に、本発明の実施態様によれば、複数の検出器要素にまたがっている孔を使用する場合には、測定信号の必要な統合に応じて、複数の検出器要素の測定信号について平均化が行なわれる。
本発明の実施例が添付された概略図面に示されている。
図1は部分的にブロック図を含む概略図にて本発明によるコンピュータ断層撮影装置を示し、
図2乃至図7は平面図で種々の孔マスクとX線検出器との組み合わせを示す。
図1は部分的にブロック図を含む概略図にて本発明によるコンピュータ断層撮影装置を示し、
図2乃至図7は平面図で種々の孔マスクとX線検出器との組み合わせを示す。
図1に示されたX線コンピュータ断層撮影装置1はX線管2の形のX線源を有し、これの焦点FからX線が出射し、X線は絞り3により開き角度αを有するファン状またはピラミッド状のX線ビーム4に整形される。X線管2に対向してX線検出器5が配置されており、X線検出器5は本実施例では多数の検出器モジュール16を有し、これらの検出器モジュールはこのケースではほぼφ方向およびZ方向に並べて配置されている。しかし、検出器モジュール16はほぼφ方向にのみ相前後して配置されていてもよい。各検出器モジュール16は、公知のように、コンピュータ断層撮影装置のシステム軸線Zの方向に相前後して配置された多数の検出器要素6の列を含む。X線管2およびX線検出器5は、コンピュータ断層撮影装置1のガントリの回転部分である回転枠7に配置されている。回転枠7は図1に概略的に示されているように電動機15によって駆動される。更に、コンピュータ断層撮影装置1は、本実施例の場合には検査される患者Pが横たわる患者用寝台8を有する。患者用寝台8は、公知のように、コンピュータ断層撮影装置1のシステム軸線Zの方向に移動可能である。患者用寝台8は、コンピュータ断層撮影装置1の回転枠7の患者用開口9を通して移動される。回転枠7は、コンピュータ断層撮影装置1のシステム軸線Zの周りを回転することができるように支持され、患者PにX線を照射するためにシステム軸線Zの周りのφ方向に回転させられ、異なる投影方向から患者Pの身体範囲のX線投影が撮影される。X線ビーム4は円形横断面の撮像視野10を検出する。患者Pの検査中には患者Pの透過後に減弱されたX線がX線検出器5の検出器モジュール16の検出器要素6に入射する。X線投影ごとに、入射するX線によってX線検出器5の検出器要素6から測定信号が発生され、測定信号はコンピュータ装置11に導かれる。コンピュータ装置11により、公知のように、検出器要素6の測定信号から、患者Pの撮影された身体範囲のスライス画像もしくはボリューム画像が再構成され、このスライス画像もしくはボリューム画像は表示装置12に表示可能である。
コンピュータ断層撮影装置1は、本実施例の場合には更に、X線検出器5の前に置かれ且つX線管2から出射するX線の経路内に配置されている孔マスク20を含む。孔マスク20はX線検出器5とほぼ同じ曲率を有する。孔マスク20は、コンピュータ断層撮影装置1により作成された患者Pの画像の分解能を高めるために用いられる。孔マスク20は全ての測定方法もしくは検査方法に必要というわけではないので、孔マスク20は1つまたは複数のステップモータ21によりX線経路内に搬入され、そして再びX線経路から搬出することができる。ステップモータ21は、本実施例の場合、孔マスク20自体と同様に、コンピュータ断層撮影装置1の回転枠7上に配置されている。ステップモータ21は、孔マスク20を、とりわけZ軸方向に且つX線検出器5に沿って移動させることができ、従って孔マスク20をX線経路内へ搬入し、もしくはX線経路から搬出することができる。
特に、コンピュータ断層撮影において使用されるようなディジタル撮影法において、コンピュータ断層撮影装置1により作成された画像の分解能を孔マスク20により高めることができるようにするためには、孔マスク20をできるだけ正確にX線検出器5上に配置することが必要である。図2乃至図7においては、例として、それぞれX線検出器5の検出器モジュール16に基づいて、孔マスクとX線検出器との種々の組み合わせが具体的に示され、これらに基づいて孔マスクとX線検出器5との相互の正確な位置合わせつまり調整が説明されている。図2乃至図7に示されている図は平面図である。
図2においては、破線で、検出器要素6を有するX線検出器5の検出器モジュール16が示されている。例えば、検出器要素6は、直接変換型検出器要素またはX線シンチレータおよびフォトダイオードを有する検出器要素である。
図2から認識できるように、検出器モジュール16は、z方向に相前後して配置された9個の検出器列を有し、各検出器列は11個の検出器要素6を有する。本実施例の場合には、全ての検出器要素6はほぼ同じ寸法すなわち同じ面積の検出器面を有する。検出器モジュール16の上側には、とりわけ定められた間隔で、図示の検出器モジュール16に付設された図1の孔マスク20の部分が示されている。孔マスク20は、本実施例の場合には、金属材料、例えばタンタル、タングステンまたはこれらの金属材料の合金から構成されているマスク板18を有する。孔マスク20のマスク板18は、調整孔22〜25を除けば、全てがほぼ同じ寸法を有し且つ互いに等間隔で配置されている正方形の孔19を含む。孔19はX線検出器5の検出器モジュール16の検出器要素6の寸法に合わせられている。これは、孔19が検出器要素と同じ寸法を有するのではなく、縮小された寸法を有し、それによりX線管2から出射するX線が、X線検出器5上での孔マスク20の正確な位置合わせ時に、それぞれ検出器要素6の検出器面の一部のみに入射することを意味する。従って、孔マスク20はX線検出器5の側で使用可能な検出器面の縮小を生じさせる。
図2から分かるように、孔マスク20の部分はX線検出器5の検出器モジュール16上にまだ正確には位置合わせさせられていない。これを成就するために、孔マスク20の部分のコーナには、既述の拡大された調整孔22〜25がある。調整孔22〜25は次のような寸法、すなわち、4つの各調整孔22〜25が、X線検出器5の検出器モジュール16上で孔マスク20の部分を正確に位置合わせすると、検出器モジュール16の2つの検出器要素6上にまたがるような寸法を有する。調整孔22〜25の寸法は、検出器モジュール16上で孔マスク20の部分を正確に位置合わせすると、孔22〜25の1つを通過するX線が2つの該当する検出器要素の等しい大きさの検出器面にほぼ入射するように選ばれている。例えば、図2および図3において、例として検出器要素6.1,6.2を考察するに、検出器モジュール16上で孔マスク20の部分の位置合わせが正確に行なわれると、図3において認識できるように、孔22が検出器要素6.1,6.2に対して相対的に位置合わせされて、両検出器要素6.1,6.2の等しい面積部分がそれぞれX線を照射される。
方法技術的には、X線検出器5上での孔マスク20の位置合わせは、まず、孔マスク20が例えば孔マスク20のコーナとX線検出器5のコーナとで方向付けされてX線検出器5上で粗く位置合わせされるように行なわれる。実際上、粗調整はステップモータ21によりプログラム制御で行なわれる。このような事例が図2に検出器モジュールに基づいて示されている。引続いて、患者Pの存在なしに、X線管2から好ましくはパルス化されたX線が孔マスク20つまりX線検出器5の方向に送出され、検出器要素6.1,6.2の測定信号ならびに孔マスク20とX線検出器5との相互の位置合わせに使用された他の検出器要素対(6.3,6.4),(6.5,6.6),(6.7,6.8)の測定信号がコンピュータ装置11により求められる。各検出器要素対(6.1,6.2)〜(6.7,6.8)について、例えば測定信号比が形成され、この比が予め定められた測定信号比と比較される。検出器要素6は、本実施例の場合、ほぼ同じ寸法を有し、調整孔22〜25の寸法は、X線検出器5に対する孔マスク20の正確な位置合わせ時に、実質的に検出器要素6.1〜6.8の同じ面積の検出器面が照射されるように選ばれているので、孔マスク20がX線検出器5上に正確に位置合わせされていれば、検出器要素対(6.1,6.2)〜(6.7,6.8)について比1:1が生じなければならない。孔マスク20の位置合わせつまり調整の際に、検出器要素対の測定信号の決定された比に依存して、孔マスク20は、ステップモータ21によって、検出器要素対(6.1,6.2)〜(6.7,6.8)についてほぼ比1:1の測定信号比が生じるまで移動調整される。この場合に、図3に部分的に示されているように、孔マスク20は、X線検出器5の検出器モジュール16上に正確に位置合わせされている。
図2および図3に基づいて、図2に書き込まれた直交座標系のy方向へのX線検出器5に対して相対的な孔マスク20の位置合わせを説明した。X線検出器5に対して相対的にz方向にも孔マスク20を位置合わせさせることが必要である場合、例として部分的に図4〜図6に示されているように、変更された孔マスクが使用されなければならない。X線検出器5上で孔マスクをz方向にも正確に配置することができるようにするために、図4に示された孔マスク30の部分は、y方向に位置合わせされ2つの検出器要素にまたがっている調整孔22〜25に加えて、z方向に位置合わせされ2つの検出器要素にまたがっている他の4つの調整孔26〜29を有する。調整孔26〜29の寸法は調整孔22〜25の寸法と同じようにして選ばれている。従って、X線の使用および検出器要素対(6.9,6.10)〜(6.15,6.16)の測定信号比の形成のもとに、X線検出器5上でz方向への孔マスク30の位置合わせも制御可能であり、正確な位置合わせがもたらされる。本実施例について図4に示されているように、全ての検出器要素対(6.9,6.10)〜(6.15,6.16)について、少なくともほぼ1:1の測定信号比が生じなければならない。既に述べたように検出器要素対(6.1,6.2)〜(6.7,6.8)の測定信号比も1:1であるならば、孔マスク30はX線検出器5上に正確に位置合わせさせられている。
図5には他の孔マスク40の部分が示されている。孔マスク40は、検出器モジュール16上つまりX線検出器5上で正確に位置合わせするために、4つのコーナにそれぞれ拡大された寸法を有する調整孔を有し、この場合には正方形の調整孔41〜44がX線検出器5の検出器モジュール16の4つの検出器要素にまたがっている。z方向およびy方向への孔マスク40の位置合わせのために、調整孔41〜44の下にあるそれぞれ4つの検出器要素の測定信号が評価される。信号評価を例として孔41に対応した検出器要素6.1,6.2,6.17,6.18に関して説明する。y方向への位置合わせについては、例えば検出器要素6.1,6.17の測定信号の和ならびに検出器要素6.2,6.18の測定信号の和が形成され、これらの和が相互の比に変換される。調整孔41〜44に対応した全ての検出器要素グループについてこの種の処置の際に1:1の比が生じるならば、孔マスク40はy方向に位置合わせされている。同じようにしてz方向への位置合わせが行なわれる。この場合に例として孔41に対応した検出器要素6.1,6.2,6.17,6.18に関して説明する。検出器要素6.1,6.2の測定信号の和および検出器要素6.17,6.18の測定信号の和が形成され、これらの和の比が評価される。調整孔41〜44に対応した全ての検出器要素についてこの種の処置の際に1:1の比が生じる場合、孔マスク40はX線検出器5上でz方向にも位置合わせされている。
図6には、コーナ範囲に長方形の調整孔51〜54を有する孔マスク50の部分が示されている。調整孔51〜54は、図6に示された実施例の場合には、それぞれ、X線検出器5の検出器モジュール16の8個の検出器要素にまたがっている。X線検出器5に対して相対的な孔マスク50の位置合わせは、前に説明したように、位置合わせ方向に依存して測定信号の和が形成され、これが対応する和と比較されるようにして行なわれる。X線検出器5上で孔マスク50の測定信号に基づいて位置合わせを行う際に測定データノイズを低減するために、多数の測定信号について平均化してもよい。引続いて平均値を互いに比較するとよい。例として調整孔51〜54について、このことを図6の孔マスク50の調整孔51に関して説明する。z方向への位置合わせのために、例えば検出器要素6.1,6.2,6.9,6.19の測定信号について、ならびに検出器要素6.17,6.18,6.20,6.21の測定信号について平均化が行なわれる。引き続いて、平均値が互いに関連付けられ、得られた比に依存して、平均値の比が1:1になるまで、孔マスク50のz方向への位置調整が行なわれる。調整孔52〜54の場合にも同じようにして処理される。y方向への位置合わせに関しても同様に行なわれる。例えば、調整孔51に関しては、検出器要素6.1,6.2,6.17,6.18の測定信号について、ならびに検出器要素6.9,6.19,6.20,6.21の測定信号について平均化が行なわれる。孔マスク50の位置合わせのために、平均値が互いに関連付けられる。調整孔52〜54に関しても同様に処置される。
図7には付加的に孔マスクとX線検出器との組み合わせが孔マスク80の部分および検出器モジュール70を基に示されている。X線検出器を構成する検出器モジュール70は、異なる寸法を有する複数の検出器要素から成るグループを有する。例えば、検出器要素列71,72の検出器要素は同じ寸法を有する。同様に検出器要素列73,74もしくは75,76についても同様の関係にある。孔マスク80は、孔に関して検出器モジュール70の検出器要素の寸法に合わせられている。X線検出器上で孔マスク80の位置合わせを行うために、孔マスク80は前に説明した孔マスクと同じように拡大された寸法を有する調整孔を備え、これにより孔マスク80は測定信号に基づいてX線検出器上で正確に位置合わせすることができる。例えば、孔81〜84はy方向への孔マスク80の位置合わせに役立ち、孔85,86はz方向への孔マスク80の位置合わせに役立つ。孔マスクとX線検出器との他の組み合わせについて前に説明したように、当該検出器要素の測定信号が評価され、これらが、とりわけ比に変換される。従って、前に説明した孔マスクとX線検出器との相互の相対的な調整方法は、互いに異なる寸法を有する検出器要素を含むX線検出器もしくは孔マスクにも適用可能である。
上述では、測定信号の比較は、測定信号、和信号または平均化信号が相互の比に変換されることによって行なわれた。しかし、測定信号の比較は、違ったふうに、例えば差演算の形で行なうこともできる。
X線検出器の孔マスクは、既に説明したように、異なる種類の調整孔を有してもよい。更に、多角形(例えば三角形、五角形、長方形、正方形)の代わりに円形、楕円形および/または細長い孔を設けてもよく、しかも調整孔としてもそのような孔を設けてもよい。
孔マスクの位置調整を行なうための測定信号の比の算出のほかに、算出された比に基づいてそれぞれの移動調整距離を直接に算出してもよい。調整孔の寸法が既知である場合、孔マスクとX線検出器との間の垂直間隔の関係のもとに、当該検出器要素上における投影面の寸法も既知である。測定信号の比と、X線検出器上で孔マスクを正確に位置合わせすると当該検出器要素の同じ検出器面割合がX線を照射されるという認識とから、最終的に例えば孔マスクのための移動調整距離が算出される。例として図2および図3を参照して、調整孔22に基づいてX線検出器5上でy方向への孔マスク20の位置合わせを行なうことを考察すると、y方向への調整孔22の長さが10mmであり、検出器要素6.1,6.2の測定信号の比が2:1[(10mmの4/6の割合):(10mmの2/6の割合)]である場合に、負のy方向に(1/6)×10mm、すなわち1.67mmの移動調整距離が生じる。同様にして他の調整孔のためのこの算出を、孔マスク20のみならず孔マスク30,40,50,80についても実施することができる。このようにしてそれぞれ移動調整距離が算出可能である。
孔マスクとX線検出器との相互の相対的な位置合わせは、まず第1の方向に、例えばy方向に行なわれ、引続いて第2の方向に、例えばz方向に行なわれると好ましい。この場合に位置合わせのためにはステップモータが使用される。
X線検出器に対して相対的な孔マスクの移動調整の代わりに、孔マスクに対して相対的にX線検出器を移動調整することもできる。
図2乃至図7においては、簡単化された表示のために、それぞれ、他の部分と共に1つのつながっている孔マスクを構成する複数の孔マスクの部分が示されている。それぞれ1つの検出器モジュール16に付設された1つの孔マスクの部分が調整孔を備えていなければならないわけではないことは明白である。1つの孔マスクの部分のみがその縁部範囲に、X線検出器の縁部に配置された検出器モジュールつまり検出器要素に付設されている1つまたは複数の調整孔を有するとよい。
更に、孔マスクはX線検出器全体にわたって広がっていなければならないことでもない。むしろ孔マスクはX線検出器の特定の範囲、例えば中心部に対してのみ設けられていてもよい。
X線検出器は、必ずしも検出器モジュールから構成されていなくてもよい。
1 コンピュータ断層撮影装置
2 X線管
3 絞り
4 X線ビーム
5 X線検出器
6 検出器要素
7 回転枠
8 患者用寝台
9 患者用開口
10 撮像視野
11 コンピュータ装置
12 表示装置
15 電動機
16 検出器モジュール
18 マスク板
19 孔
20 孔マスク
21 ステップモータ
22〜25 調整孔
26〜29 調整孔
30 孔マスク
40 孔マスク
41〜44 調整孔
50 孔マスク
50〜54 調整孔
70 検出器モジュール
71,72 検出器要素列
73,74 検出器要素列
75,76 検出器要素列
80 孔マスク
81〜84 孔
85,86 孔
P 患者
Z システム軸線
2 X線管
3 絞り
4 X線ビーム
5 X線検出器
6 検出器要素
7 回転枠
8 患者用寝台
9 患者用開口
10 撮像視野
11 コンピュータ装置
12 表示装置
15 電動機
16 検出器モジュール
18 マスク板
19 孔
20 孔マスク
21 ステップモータ
22〜25 調整孔
26〜29 調整孔
30 孔マスク
40 孔マスク
41〜44 調整孔
50 孔マスク
50〜54 調整孔
70 検出器モジュール
71,72 検出器要素列
73,74 検出器要素列
75,76 検出器要素列
80 孔マスク
81〜84 孔
85,86 孔
P 患者
Z システム軸線
Claims (18)
- 検出器要素(6,6.1〜6.19)を含むX線検出器(5)の孔マスクであって、複数の孔(19)を備えX線吸収材料からなるマスク板(18)を有する孔マスクにおいて、各孔(19)は、寸法に関して、孔(19)が付設されている検出器要素(6)の寸法にほぼ合わされ、マスク板(18)の少なくとも1つの孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)は、少なくとも2つの検出器要素(6.1〜6.19)の寸法に合わされているように拡大された寸法を有することを特徴とするX線検出器の孔マスク。
- 拡大された寸法を有する複数の孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)を有することを特徴とする請求項1記載の孔マスク。
- 拡大された寸法を有する孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)は、定められた方向にある少なくとも2つの検出器要素(6.1〜6.19)にまたがっていることを特徴とする請求項1又は2記載の孔マスク。
- 拡大された寸法を有する孔(41〜44,51〜54)は少なくとも3つの検出器要素(6.1〜6.19)にまたがり、それらのうち2つの検出器要素が異なる方向にあることを特徴とする請求項1乃至3の1つに記載の孔マスク。
- 拡大された寸法を有する孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)は孔マスク(20,30,40,50,70)の縁範囲に配置されていることを特徴とする請求項1乃至4の1つに記載の孔マスク。
- ほぼ同じ寸法を有する孔を含むことを特徴とする請求項1乃至5の1つに記載の孔マスク。
- ほぼ同じ寸法を有する孔から成る複数のグループを有することを特徴とする請求項1乃至6の1つに記載の孔マスク。
- 円形、楕円形、多角形および/または細長い孔を有することを特徴とする請求項1乃至7の1つに記載の孔マスク。
- 湾曲していることを特徴とする請求項1乃至8の1つに記載の孔マスク。
- 金属または金属合金からなることを特徴とする請求項1乃至9の1つに記載の孔マスク。
- 請求項1乃至10の1つに記載の孔マスク(20,30,40,50,70)を有するコンピュータ断層撮影装置。
- 孔マスク(20,30,40,50,70)は、X線源(2)から出射するX線(4)のX線経路内において、X線検出器(5)の前に配置可能であり、再びX線経路外へ搬出可能であることを特徴とする請求項11記載のコンピュータ断層撮影装置。
- X線装置(1)において検出器要素(6)を有するX線検出器(5)上で、請求項1乃至10の1つに記載の孔マスク(20,30,40,50,70)を調整する方法において、
孔マスク(20,30,40,50,70)は、X線検出器(5)上に、孔マスク(20,30,40,50,70)が粗くX線検出器(5)上に位置合わせされているように配置され、
X線を使用して、孔マスク(20,30,40,50,70)の拡大された寸法を有する少なくとも1つの孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)に対応している検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号が検出され、
孔マスク(20,30,40,50,70)およびX線検出器(5)が、測定信号の比較に基づいて、相互に相対的に移動調整されることを特徴とする孔マスクの調整方法。 - 孔マスク(20,30,40,50,70)およびX線検出器(5)は、測定信号の比較から少なくともほぼ予め与え得る結果が生じるまで、相互に相対的に移動調整されることを特徴とする請求項13記載の方法。
- 拡大された寸法を有する複数の孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)が用いられ、それぞれ1つの孔(22〜29,41〜44,51〜54,81〜86)に対応した検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号が比較されることを特徴とする請求項13又は14記載の方法。
- 検出器要素(6.1〜6.19)の相互の相対的な位置に依存して、検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号の比較から、孔マスク(20,30,40,50,70)とX線検出器(5)との相互の相対的な位置調整のための移動調整距離が求められることを特徴とする請求項13乃至15の1つに記載の方法。
- 4つの又は5つ以上の検出器要素(6.1〜6.19)にまたがるように拡大された寸法を有する1つの孔(41〜44,51〜54)を用いる場合に、比較のために測定信号の和が形成されることを特徴とする請求項13乃至16の1つに記載の方法。
- 複数の検出器要素(6.1〜6.19)の測定信号について平均化が行なわれることを特徴とする請求項17記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005009817A DE102005009817B4 (de) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | Lochmaske für einen Röntgenstrahlendetektor, Computertomographiegerät, aufweisend eine Lochmaske und Verfahren zur Justierung einer Lochmaske |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006239427A true JP2006239427A (ja) | 2006-09-14 |
Family
ID=36914545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006055027A Withdrawn JP2006239427A (ja) | 2005-03-03 | 2006-03-01 | X線検出器の孔マスク、孔マスクを有するコンピュータ断層撮影装置および孔マスクの調整方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7476025B2 (ja) |
JP (1) | JP2006239427A (ja) |
CN (1) | CN1828334A (ja) |
DE (1) | DE102005009817B4 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7564940B2 (en) * | 2003-07-22 | 2009-07-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation mask for two dimensional CT detector |
FI20065063A0 (fi) * | 2006-01-30 | 2006-01-30 | Visicamet Oy | Menetelmä ja mittalaite mitata pinnan siirtymä |
DE102009010290A1 (de) * | 2009-02-24 | 2010-09-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendurchleuchtungssystem mit Detektorelementen unterschiedlicher Größe |
CN102403246B (zh) * | 2010-09-17 | 2013-12-11 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 检测掩模板污染的方法 |
CN102853790A (zh) * | 2011-06-29 | 2013-01-02 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | X射线检测仪校正元件、校正方法及量测方法 |
US11029424B2 (en) * | 2015-10-14 | 2021-06-08 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | X-ray detectors of high spatial resolution |
CN108042151B (zh) * | 2017-12-21 | 2024-04-30 | 上海六晶科技股份有限公司 | 一种医学影像系统用防散射格栅装置的制备方法 |
WO2019198073A1 (en) * | 2018-04-10 | 2019-10-17 | Lensfree Ltd. | Computerized tomography system |
CN110891374A (zh) * | 2018-09-05 | 2020-03-17 | 博世汽车部件(苏州)有限公司 | X射线检测仪校正装置及校正方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4298800A (en) * | 1978-02-27 | 1981-11-03 | Computome Corporation | Tomographic apparatus and method for obtaining three-dimensional information by radiation scanning |
US5131021A (en) * | 1991-06-21 | 1992-07-14 | General Electric Company | Computed tomography system with control and correction of fan beam position |
US5400379A (en) | 1994-02-25 | 1995-03-21 | General Electric Company | Multi-slice x-ray CT using a detector mask |
JP2002301056A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-10-15 | Toshiba Medical System Co Ltd | X線ct装置およびx線検出器 |
JP2004283343A (ja) * | 2003-03-20 | 2004-10-14 | Toshiba Corp | X線ct装置及びデータ収集方法 |
US7344304B2 (en) * | 2005-06-14 | 2008-03-18 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Self-alignment of radiographic imaging system |
-
2005
- 2005-03-03 DE DE102005009817A patent/DE102005009817B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-01 JP JP2006055027A patent/JP2006239427A/ja not_active Withdrawn
- 2006-03-02 US US11/365,583 patent/US7476025B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-03-03 CN CNA2006100550721A patent/CN1828334A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102005009817B4 (de) | 2008-09-18 |
US20060198493A1 (en) | 2006-09-07 |
US7476025B2 (en) | 2009-01-13 |
CN1828334A (zh) | 2006-09-06 |
DE102005009817A1 (de) | 2006-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006239427A (ja) | X線検出器の孔マスク、孔マスクを有するコンピュータ断層撮影装置および孔マスクの調整方法 | |
US6422750B1 (en) | Digital x-ray imager alignment method | |
CN106340340B (zh) | X射线滤波 | |
JP3380609B2 (ja) | 放射線画像の照射野領域抽出装置 | |
JP2006500097A (ja) | コンピュータ断層撮影用検出器アレイの散乱x線除去グリッドを位置合わせするための方法と装置 | |
JP2006170876A (ja) | Ct装置 | |
JP5433247B2 (ja) | 放射線治療装置校正用ファントム、放射線治療装置、及び放射線治療装置の校正方法 | |
JP4474304B2 (ja) | リングアーチファクト除去方法およびx線ct装置 | |
JP4839190B2 (ja) | X線撮像装置 | |
JP2010187812A (ja) | 医用寝台装置 | |
US11432783B2 (en) | Methods and systems for beam attenuation | |
JP2003061944A (ja) | 断層撮影装置の校正方法 | |
KR20050025914A (ko) | 방사선 단층 촬영 장치 및 그 방사선 단층 촬영 방법 | |
JP2007175154A (ja) | X線ct装置 | |
US20080031419A1 (en) | X-ray source focal spot deflection methods and apparatus | |
JP2003294848A (ja) | 放射線校正装置 | |
JPH11299768A (ja) | X線ct装置 | |
US7101078B1 (en) | Methods and systems for imaging system radiation source alignment | |
JP7233865B2 (ja) | X線ct装置及び補正方法 | |
JPH04307035A (ja) | X線撮影装置 | |
JP4792187B2 (ja) | オブジェクトデータセットからの横断面分布の導出 | |
JP2007130278A (ja) | X線ct装置 | |
CN111067558A (zh) | 图像重建方法、装置、设备及多层螺旋ct系统 | |
US6792067B2 (en) | Method of correcting the extrafocal radiation of an X-ray tube in computed tomography | |
US11911199B2 (en) | Medical imaging apparatus and treatment device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20090512 |