CN1813196A - 电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置 - Google Patents

电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置 Download PDF

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Abstract

为了提供用于电子元件中基准电压的自测试的方法，利用该方法，对于可以实施为单片测试形式的基准电压自测试，定义电路装置，即，对此，不需要外部基准电压源，规定基准电压(Uref)为函数f(Uref)的变量，其在基准电压(Uref)的选择标称值(Uref.test)所在的点上具有极值，并且在自测试中，对于基准电压(Uref)和对于两个另外的分别与基准电压(Uref)只相差小的正与负值(+ΔUref；－ΔUref)的测试电压(Uref+ΔUref；Uref－ΔUref)，连续地确定该函数的值，以及对于这些值，相互进行比较，如果测试电压(Uref+ΔUref；Uref－ΔUref)的函数值在同一方向与基准电压(Uref)的函数值是不同的话，则将生成通过信号，或者如果否的话，将生成失败信号。

Description

电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置
技术领域
本发明涉及用于电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置。
背景技术
在生产过程期间，并且在现场操作时，集成电路需要进行测试，以确保它们正确操作。因为使用外部测试设备具有许多缺点，假定必须分别与每一芯片进行接触，并且在操作条件下进行芯片的后续测试不再是可能的，内置于芯片本身中的测试电路已变成既定的实践。这种测试方法被称为BIST(内装自测试Built-In Self-Test)。BIST给予芯片用于识别故障的闭环程序。
这些电路通常装配有内部调节的电压源，这些电压源用作基准电压的源，用于与属于这些电路的集成电路内的电压或电流进行比较。这些基准电压源对于温度的影响和对于电压由此而波动的外部电源装置预定为尽可能不敏感的。为了能够进行测试以检查是否满足这些条件，公知对于这种类型的源的基准电压要与外部基准电压进行比较。这对于BIST具有上文已经描述的缺点，即，当该芯片在现场操作时，必须从外部与它进行接触，这牵涉异常数量的电路和费用。
发明内容
本发明的目的是规定用于能够实施为单片测试的基准电压自测试的电路装置，例如，对此并不要求外部基准电压源。
依照本发明，利用权利要求1和2的特征来实现这个目的。
根据这些，基准电压是一函数的变量，其在选择的基准电压的选择标称值所在的点上具有极值。在自测试中，对于基准电压和对于两个其他的测试电压，连续地确定此函数的值，其中这两个其他的测试电压与基准电压分别只相差小的正值和负值，并且此函数的这些值相互进行比较。如果在同一方向中对于测试电压的函数值不同于对于基准电压的函数值，则生成通过信号，或如果否的话，则生成失败信号。
相关的电路装置包括函数发生器，该函数发生器具有的函数在基准电压的选择标称值所在的点上具有极值。至函数发生器的输入信号是基准电压和两个其他的测试电压，这两个其他的测试电压与基准电压分别只相差小的负值和正值。来自函数发生器的输出信号被馈送到取样与保持电路，其内容在两个比较电路中进行比较，以便比较基准电压的函数值与相应的测试电压的函数值。
本发明的这些和其它方面从下面描述的实施例中是显而易见的，并将结合这些实施例进行阐述。
附图说明
在附图中：
该单个图是相应的测试设备的方框电路图。
具体实施方式
所采用的基础是满足以下要求的数学函数：
df ( x ) dx = 0 其中x＝Uref.test
其中Uref.test＝标称基准电压。
这意味着：取决于将要被测试的基准电压Uref的函数f在标称电压Uref.test所在的点上具有一极值。如果无论是什么选择的两个其他的测试电压与基准电压Uref只相差小的数量ΔUref，则能够被预期的此函数的值在标称电压Uref.test所在的点上具有最大值时小于用于测试的电压Uref的值，或在所述点上具有最小值时大于电压Uref的值。
例如，函数f＝(Uref)3-Uref.test在点Uref.test上具有明显的最小值。
该附图是在依照本发明的基础上操作的基准电压测试的方框电路图。在这种情况下，三个值连续地应用于代表上述函数的同一方框(测试)。输出值被存储在相应的取样与保持电路中。一旦确定了该函数的所有值，则分析利用基准电压Uref给出的结果和利用电压ΔUref的最小移位给出的结果之间的关系，例如，在比较器V中将它们进行相互比较。如果这两个值不同于在同一方向中(在本例中，在正方向中)基准电压Uref的函数值，这意味着：基准电压Uref的值是在方框测试中采用的函数f(x)的极值上，并因此基准电压Uref在其标称值Uref.test上。然后，有关基准电压Uref的测试结果通过AND(与)电路作为通过信号进行传送。否则，发出失败信号。这发生在对于测试电压Uref+ΔUref或Uref-ΔUref的此函数的值的比较表明它将大于基准电压Uref的函数值，并且另一值则将小于基准电压Uref的函数值的时候。比较电路可以具有任何希望的形式，并且具有通过或失败信号作为输出。
因为生产过程中的制造公差，所以对于每一芯片需要方框测试中f(x)函数的唯一一次(once-only)校准。
标号的列表：
V        比较器
Uref    基准电压
ΔUref  与基准电压的差值
S&H      取样与保持电路
pass     通过信号
fail     失败信号

Claims (2)

1.一种用于电子元件中基准电压的自测试的方法，其特征在于，该基准电压(Uref)是函数f(Uref)的变量，其在基准电压(Uref)的选择标称值(Uref.test)所在的点上具有极值，并且在自测试中，对于基准电压(Uref)和对于两个其他的分别与基准电压(Uref)只相差小的正值与负值(+ΔUref；-ΔUref)的测试电压(Uref+ΔUref；Uref-ΔUref)连续地确定该函数的值，并且将这些值相互进行比较，如果对于测试电压(Uref+ΔUref；Uref-ΔUref)的函数值在同一方向不同于对于基准电压(Uref)的函数值，则生成通过信号，或者如果否的话，则生成失败信号。
2.一种电路装置，用于电子元件中基准电压(Uref)的自测试，其特征在于，它包括具有函数f(Uref)的函数发生器，该函数在基准电压(Uref)的选择标称值(Uref.test)所在的点上具有极值，并且至该函数发生器的输入信号是基准电压(Uref)和两个其他的测试电压(Uref+ΔUref；Uref-ΔUref)，其中这两个其他的测试电压分别与基准电压(Uref)只相差小的正与负值，而且函数发生器的输出信号被馈送到取样与保持电路，并且该电路装置包括两个比较器电路，用于比较基准电压(Uref)的函数值以及相应的测试电压(Uref+ΔUref；Uref-ΔUref)的函数值，如果比较器电路上信号的符号是相同的，则比较器电路的输出生成通过信号，而如果否的话，则生成失败信号。
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