CN1392831A - 一种制造片材的方法 - Google Patents

Abstract

一种通过采用各具有一个厚度调节装置的多个挤压口来挤压和成型聚合物以制造片材的方法，其包括步骤：改变根据特定时序图而施加给厚度调节装置的操作量；测量沿片材横向方向上的厚度分布；根据由此得到的片材厚度偏差分布中的偏差或片材厚度分布中偏差的标准时序图与厚度分布的测量值的时序图之间的比较结果，快速准确地确定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系。

Description

一种制造片材的方法

技术领域

本发明涉及一种制造片材例如薄膜的方法。

背景技术

实践中经常使用片材生产方法。在此方法中，从具有多个厚度调节装置的模具中挤压聚合物，并将其模制成片材。然后片材经片材成型工艺如拉伸工艺连续地进给，其中，所得片材在片材横向方向上的厚度分布由厚度测量装置来测量，并通过控制器来控制厚度调节装置，以保证所测的厚度值接近于预定的所需值。

在这种片材生产方法中，重要的是应准确地确定各个厚度调节装置和片材厚度测量位置之间的对应关系。如果无法准确地确定此对应关系，就会对与要调节的位置不同的位置处的片材厚度进行调节，而且，由于无法准确地控制片材厚度，片材的质量下降。

如果片材在横向方向上的不同部分处均匀地拉伸，可以从模制位置处的片材宽度和测量位置处的片材宽度之间的相似性关系中确定与各个厚度调节装置相对应的测量位置。然而，实际上会发生颈缩现象，在横向方向上不同位置处的拉伸情况也不同。因此，无法用上述的相似性关系简单地确定对应关系，必须在与厚度调节装置相对应的各个测量位置处测量厚度值。

作为确定厚度调节装置和测量位置之间的对应关系的方法，例如可以在片材从模具中释放出来之后立即在片材上与厚度调节装置相对应的位置处涂上墨，从而沿运行方向标上标记线，并且检测标记位置以确定与厚度调节装置相对应的测量位置。这种方法较简单，但存在着涂墨会弄脏用于传送片材的辊子的问题。因此，片材自身也会被弄脏。

作为解决此问题的已知的方法，以预定值操作特定的厚度调节装置，在由于此操作而引起的片材的厚度偏差达到稳定状态的位置处检测片材厚度偏差的峰点位置，这样，最接近峰点位置的测量位置被确定为与特定厚度调节装置相对应的位置(JP-09323351-A)。

然而，由于要等待较长时间厚度偏差才能达到稳定状态，因此需要等待较长时间才能检测到片材厚度偏差的峰点位置，从而不利地增加了材料的损耗。

发明内容

为解决此问题完成了本发明。本发明的目的是提供一种制造片材的方法，其可响应于模具和薄膜成型条件的不同而快速准确地确定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系，从而保证准确地控制厚度。

为解决上述问题，本发明的制造片材的方法为片材生产方法，其中，采用具有多个厚度调节装置的模具挤压聚合物并将其模制成片材；测量片材横向方向上的厚度分布；根据测量值以及特定厚度调节装置之间的对应关系来得到施加给厚度调节装置的操纵量；以及将操纵量传送给厚度调节装置以控制片材的厚度，其特征在于，对于厚度调节装置中的特定厚度调节装置，将依照从0变化到预定峰值且之后朝向小于峰值的绝对值的预定偏离值变化的时序图的操纵量变化累加到刚刚在此之前起作用的操纵量中，计算出各个操纵量；将计算出的操纵量传送给特定厚度调节装置，得到片材的厚度偏差；根据所得的片材的厚度偏差，确定特定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系。

本发明的一个优选形式是在确定对应关系时，分别与各个所述特定厚度调节装置相邻的多个厚度调节装置的操纵量也发生变化。

本发明的一个优选形式是，根据厚度调节模拟的结果来确定分别表示了操纵量变化的时序图，在厚度调节模拟中采用了表示了厚度调节装置的操纵量和用操纵量所得到的片材厚度值之间的关系的公式。

本发明的一个优选形式是，特定厚度调节装置以及位于各特定厚度调节装置两侧的各两个厚度调节装置的操纵量均依照分别表示了操纵量变化的时序图发生变化，操纵量变化根据模拟厚度调节的结果来确定。

本发明的一个优选形式是，在将作为根据时序图的操纵量变化与刚刚在此之前起作用的操纵量之和的操纵量传送给所述特定厚度调节装置之后，将累加了所述操纵量变化的操纵量和根据与所述图相同但符号相反的时序图的操纵量变化之和被传送给所述特定厚度调节装置。

为解决上述问题，本发明的制造片材的方法为片材生产方法，本发明的片材生产方法也是薄片生产方法，其中采用具有多个厚度调节装置的模具挤压聚合物并将其模制成片材；测量片材在横向方向上的厚度分布；根据测量值以及特定厚度调节装置之间的对应关系得到施加给所述各个厚度调节装置的操纵量；以及用操纵量来操作厚度调节装置，其特征在于，预先制作表示了片材厚度分布偏差的标准时序图，所述标准时序图的中心处于与接收预定操纵量的任一厚度调节装置相对应的测量位置，将所述标准时序图与在将所述预定操纵量实际地施加给特定厚度调节装置时所得的测量厚度分布值的时序图相比较；根据比较的结果，确定所述特定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系；以及根据对应关系来操作所述各个厚度调节装置。

本发明的一个优选形式是，计算片材厚度分布偏差的标准时序图和所测得的片材厚度分布值的时序数据之间的平方和误差，所述时序数据的中心处于任一测量位置；将平方和误差最小处的测量位置确定为与接收所述操纵量的厚度调节装置相对应的测量位置。

本发明的一个优选形式是，根据在用预定值操作厚度调节装置时受到影响的测量厚度值，或者根据表示了厚度调节装置的操纵量和用所述操纵量所得到的片材厚度值之间的关系的动态数值公式，来制作表示了厚度分布偏差的标准时序图。

附图说明

图1是显示了作为本发明的一个示例的薄膜成型工艺的示意图。

图2是显示了图1所示模具的重要部分的分解透视图。

图3是显示了本发明的一个示例中表示操纵量变化的时序图的图；

图4是显示了在本发明的一个示例中操纵量变化的图，其中操纵量的变化是通过将表示了操纵量变化的时序图施加给特定厚度调节装置，并在此之后立即施加与之符号相反的时序图而得到的；

图5是显示了在本发明的一个示例中在任一厚度调节装置的操纵量变化时所得的实际厚度变化的图；

图6是在本发明一个示例中用于执行控制模拟以确定分别表示了操纵量变化的时序图的框图；

图7是显示了在本发明的一个示例中表示了操纵量变化的时序图的图；

图8是显示了在本发明的一个示例中厚度调节装置位置和片材厚度测量位置之间的对应关系以确定对应位置的图；

图9是显示了在本发明的一个示例中所有厚度调节装置和片材厚度测量位置之间的对应关系的图；

图10是显示了在本发明的一个示例中在操作了厚度调节装置之后的片材厚度值的图；

图11是显示了在本发明的一个示例中所有厚度调节装置和片材厚度测量位置之间的对应关系的图；

图12是用于比较本发明和传统方法中在对应位置处随时间变化的片材厚度变化的图；

图13是显示了在本发明的一个示例中表示了片材厚度变化的标准时序图的图；

图14是显示了在本发明的一个示例中表示了实际的片材厚度变化的时序图的图；

图15是显示了在图14中的最后测量时间时所测量的片材厚度分布的图。

在图中各标号的含义如下：

1：片材；2：拉伸机；3：挤压机；4：模具；5：冷却辊；6：卷绕机；7：导辊；8：厚度测量装置；9：控制装置；10：厚度调节装置；11：狭缝；21：厚度调节装置的位置；21a-21d：厚度调节装置的位置，通过此位置可以根据操纵量变化来确定相应片材厚度测量位置；22：片材厚度测量位置；22a-22d：与位置21a-21d相对应的片材厚度测量位置；31：在操作前的厚度曲线；32：在操作后的厚度曲线。

具体实施方式

下面将根据将本发明应用于塑料薄膜生产的实施例并结合附图来介绍本发明。

图1显示了用于本发明中的片材生产设备。图2是显示了图1所示的模具的重要部分的分解透视图。

片材生产设备包括用于挤压聚合物的挤压机3，用于将受挤压的聚合物模制成片材的模具4，用于冷却模制成片材(下文中称为片材1)的聚合物的冷却辊5，用于沿机器方向和横向方向拉伸片材1的拉伸机2，以及用于缠绕拉伸片材1的卷绕机6。模具4具有多个设置在片材1的横向方向(正交于图纸平面的方向)上的厚度调节装置10和用于释放聚合物的狭缝11。此外，片材生产设备具有用于测量片材横向7方向上的厚度分布的厚度测量装置8和用于根据厚度分布来控制厚度调节装置的控制装置。

厚度测量装置8可以是采用β射线、X射线紫外线或光干涉的任何所希望的厚度量器，其用于测量横向方向上的片材厚度分布。

控制装置9根据片材1的所测量的厚度值和所希望的厚度值之间的差异计算操纵量，并将所得的操纵量传送给厚度调节装置10。

操纵量是可控制的变量，例如供应给调节装置的功率比。

在模具4内沿片材1的横向方向以相等间距设置了多个厚度调节装置10。作为调节片材厚度的装置，例如可以使用热螺栓方法。根据这种方法，采用热螺栓作为厚度调节装置10，改变这些螺栓的温度，使螺栓热膨胀或收缩，从而调节模具4的狭缝11。也可以采用模唇加热器方法。根据模唇加热器方法，采用模唇加热器作为厚度调节装置10，改变聚合物的温度以改变聚合物的粘性，从而改变通过狭缝特定区域的聚合物流量，这样就可以调节片材1的厚度。

控制装置9最好能处理偏差数据以进行转换例如过滤，偏差数据是所测量的厚度值和所希望的厚度值之间的差异。过滤处理还可以通过沿片材横向方向的移动平均数处理来进行，或者通过对在当前时间之前所得的偏差数据进行加权平均数处理来进行。

此外，控制装置9根据多个厚度调节装置的经过滤处理的偏差数据来计算操纵量，从而控制厚度调节装置10。所用的控制方法可以是比例积分微分(PID)控制或现代控制方法。

在片材生产设备中，可以大约知道各个厚度调节装置和各个厚度测量位置之间的对应关系，然而为了准确地控制片材厚度，必须准确地确定此对应关系。此外，为减小原始片材的损耗，用于确定此对应关系所需的时间必须较短。下面将介绍在此实施例中用于确定各个厚度调节装置和各个片材厚度测量位置之间的对应关系的方法。

首先，选择几个用于确定对应厚度测量位置的厚度调节装置。考虑到确定对应位置的精度，最好应使所选择的厚度调节装置相互隔开，使得用各个操纵量变化所得到的厚度偏差分布不会相互干涉。

下面将介绍如何改变所选择的各个厚度调节装置的操纵量。表示了将施加给各个厚度调节装置的操纵量变化的时序图从0变化到预定的峰值，之后再变化到小于所述峰值的绝对值的预定偏离值。

此外，最好不仅操作各个所选择的厚度调节装置，而且还操作与各个所选择的厚度调节装置相邻的厚度调节装置。考虑到横向方向上的厚度偏差的形式，最好至多操作各个所选厚度调节装置两侧的各两个相邻的厚度调节装置。图3显示了表示操纵量变化的时序图的示例。在中心位置处的改变最大，而在两个端部的改变较小。与只操作中心位置处的厚度调节装置的情况相比，在这种情况中，用于确定对应位置的凸起的厚度分布更早出现，可以在较短时间内确定对应位置。

而且，由于可以更快地形成凸起的厚度分布，因此最好根据厚度控制模拟的结果来确定分别表示了操纵量变化的时序图。在这种情况中，如下所述地制作分别表示了操纵量变化的时序图。首先，制作表示了将传送给厚度调节装置的操纵量和用此操纵量得到的片材厚度值之间的关系的公式。厚度调节装置的操纵量变化对片材横向方向上的厚度分布的影响呈现出接近高斯函数的分布形式，在邻近于与所述厚度调节装置对应的测量位置的各个测量位置处，随时间变化的片材厚度变化可由一阶滞后系统来近似估算。因此，如果将片材横向方向上的厚度分布与在各个厚度测量位置处随时间变化的厚度变化相结合，可以得到显示了操纵量和片材厚度值之间的关系的公式。

最好从测量值等中确定高斯函数的偏差和最大值以及一阶滞后系统的时间常数。此公式可以为表示了片材横向方向上的厚度分布的公式，或者是只表示了在各个厚度测量位置处随时间变化的厚度变化的公式。然后，在计算机中运行此公式，进行厚度控制模拟。在这种情况下，所用的控制方法最好是用于实际片材生产的控制方法，例如PID控制或现代控制方法。在控制模拟中，在任一厚度调节装置的控制量变化时所得到的凸起的分布形式被视为所需的厚度分布。通过厚度控制模拟，可以得到分别表示了操纵量变化的时序图。在与此类似得到的时序图中，由于为确定对应位置的凸起的厚度分布出现得更早，从而可在更短时间内确定对应位置，因此最好采用分别表示了用于确定对应位置的特定厚度调节装置处的操纵量变化，以及至多在各个特定厚度调节装置两侧的各两个相邻的厚度调节装置处的操纵量变化的时序图。

分别表示了如上述地确定的操纵量变化的时序图被加到刚刚在此之前起作用的操纵量中，从而计算出操纵量。将所计算出的操纵量施加给用于确定对应位置的厚度调节装置以及与其相邻的厚度调节装置。与只操作用于确定对应位置的厚度调节装置的情况相比，通过这种操作，可以在更短时间内用厚度测量装置检测到横向方向上的厚度分布变化。在横向方向上变化的厚度分布为在与接收控制量变化的位置相对应的位置处具有峰值的形式。如果所得的峰点位置和与特定厚度调节装置相对应的厚度测量位置相同，就可以确定对应关系。

在确定了对应关系后，如果依照与表示了累加操纵量变化的所述时序图相同但符号相反的时序图的操纵量变化被加到偏离操纵量中，则可以快速和准确地回复到平整的厚度分布。如果表示了所累加的操纵量变化的时序图为{a(1)，a(2)，a(3)，…，a(n-1)，a(n)}，则相反的时序图为{-a(1)，-a(2)，-a(3)，…，-a(n-1)，-a(n)}。如果将表示了操纵量变化的时序图施加给特定厚度调节装置，并在此之后立即施加符号相反的表示了操纵量变化的时序图以使操纵量回到初始水平，那么操纵量的变化如图4所示。

如果重复上述操作过程，可以为所有的厚度调节装置确定其各自的对应厚度测量位置。然而在这种情况下，工作时间变得非常长，同时材料损耗也很大。因此，最好用根据上述操作而确定的在几个位置处的对应关系通过插值法来确定还未确定的对应位置。

下面将介绍作为本发明另一实施例的用于确定各个厚度调节装置和片材的各个厚度测量位置之间的对应关系的方法。

首先，制作表达了在预定部分处片材厚度分布偏差的时序图，在预定部分处厚度调节装置由预定值操作，如图13所示。在图13中，k代表在片材横向方向上的任意测量位置，t代表时间。预定部分最好是在操作厚度调节装置时片材厚度变化约为5％的部分。此外，时间范围最好是从片材厚度开始变化时的测量时间到厚度变化变得稳定时的测量时间的范围。然而如果片材厚度在此范围内保持变化的话，时间范围也可比上述范围更短。图13所示的时序图为标准时序图，其中与所操作的厚度调节装置相对应的测量位置为k。

例如可以如下所述地制作图13所示的时序图。首先，在生产厚度分布受到一定控制的薄膜的过程中，当尤其是通过控制装置9(图1)逐步地施加操纵量来操作任一个例如中心的那个厚度调节装置10(图2)时，测量片材厚度由所述操纵量改变的预定部分处的片材厚度分布的时序变化，进行数次这种操作，从而得到多组厚度分布偏差的时序数据以进行平均。作为另一种方法，可以采用在厚度调节装置由预定值操作时所得到的表示了操纵量和片材厚度值之间的关系的数值公式来制作时序图。例如，在厚度分布被控制而处于一定的稳定状态的情况下，如果从控制装置9中逐步地施加操纵量给厚度调节装置10，片材横向方向上的厚度分布则具有接近高斯函数的分布形式，其中心由于干涉的影响而位于与厚度调节装置相对应的测量位置。此外，在接近与厚度调节装置相对应的测量位置的各个测量位置处随时间变化的片材厚度偏差可以通过一阶滞后系统来近似估算。最好可从测量值等中确定高斯函数的偏差和最大值以及一阶滞后系统的时间常数。如果以这种方式将片材横向方向上的厚度分布以及在各个厚度测量位置处随时间变化的厚度变化相结合，就可以得到表示了如图13所示的片材厚度分布的标准时序图。图13显示了从施加给厚度调节装置的操纵量实际上开始在片材厚度中起作用的时刻开始的时序图。

然后，在多个厚度调节装置中，将一定的操纵量施加给二个或多个以预定间距相互隔开的厚度调节装置，此间距最好使得由于厚度调节装置的操作而引起的厚度偏差分布的相互干涉可以被忽略。施加给厚度调节装置的操纵量最好如制作所述时序图一样逐步地变化。测量在片材横向方向上的所述预定部分处与接收操纵量的一个厚度调节装置相对应的片材厚度分布的时序数据。在这种情况中，由于可以近似地知道与接收操纵量的厚度调节装置相对应的厚度测量位置，因此只需测量在接近测量位置的预定部分中的片材厚度分布的时间偏差。然后，将所测量的时序数据与图13所示的预先制作的时序图相比较，根据比较结果来确定与各个厚度调节装置相对应的厚度测量位置。

下面将介绍用于比较片材厚度分布的所测量的时序图和预先制作的片材厚度分布的标准时序图的优选方法。假定在预先制作的片材厚度分布的标准时序图中片材横向方向上的位置k处及时间t时的片材厚度为g_k(t)，而且在片材厚度分布中的测量位置i及时间t时的实际测量值为y_i(t)，那么从下述的平方和误差公式中可以得出在测量位置i处所测量的厚度分布值的时序图和预先制作的片材厚度分布的标准时序图之间的相似性J_i。

(公式1) $J_i=\underset{t=1}{\overset{\mathrm{tm}}{\mathrm{\Σ}}}\underset{j=-\mathrm{\α}}{\overset{\mathrm{\α}}{\mathrm{\Σ}}}{\{y_{i+j}\left(t\right)-g_{k+j}\left(t\right)\}}^2$

其中t＝1，2，...，tm为片材厚度分布的测量次数的值。部分[-α，α]为所述预定部分。此部分最好根据模具和厚度量器的性能来确定。

在上文中，i在一个范围内变化，在这个范围中它可以是与接收所述操纵量的厚度调节装置相对应的测量位置。可将使J_l最小的i确定为与厚度调节装置相对应的测量位置。

对于所有接收操纵量的厚度调节装置均执行上述方法。图8是显示了将操纵量施加给四个厚度调节装置21a到21d的图。在这种情况中，与所述四个厚度调节装置相对应的片材厚度测量位置为22a到22d。此外，图9是显示了作为横坐标的厚度调节装置的位置和作为纵坐标的片材厚度的测量位置的对应关系的曲线。从图9所示曲线中可以得出与未接收任何操纵量的厚度调节装置相对应的测量位置。例如，与图9中厚度调节装置A相对应的测量位置可确定为B。可以通过插值法从图9所示曲线中得出与接收操纵量的厚度调节装置以外的厚度调节装置相对应的测量位置。

示例1

下面将介绍将本发明应用于薄膜生产工艺中的一个示例。

首先通过厚度控制模拟确定分别表示了操纵量变化的时序图。在此示例中，厚度调节装置为热螺栓，各操纵量为传送给各螺栓的电能，其用与最大值的比率来标准化，并以百分率(％)来表示。

根据测量值，对于厚度调节装置的操纵量变化对片材横向方向上的厚度值的影响，在对应位置处此影响为1.0，在紧邻于对应位置的位置处此影响为0.7，在与紧邻于对应位置的位置处的附近的位置处此影响为0.2。

因此，在α₁＝0.7和α₂＝0.2时，干涉矩阵W可表达为

此外，通常来说，操纵量和厚度值之间的时间关系可由停滞时间和一阶滞后系统来近似估算。从测量值中可得，时间常数为3.2次扫描，增益为0.06μm/％，停滞时间为5次扫描，其中扫描为控制周期的单位。在此示例中，1次扫描相当于50秒。从上所述，采用如下述的离散时间传递函数G(z)可以得出表示了操纵量u和片材厚度y之间的关系的公式。 $y\left(z\right)=G\left(z\right)u\left(z\right)=-0.06\×\frac{0.27}{z-0.73}{z}^{-5}\mathrm{Wu}\left(z\right)$

其中z表示z变换。

其次，在计算机中运行此公式，并通过PID控制执行模拟。根据用于薄膜生产的实际值如下所述地最终确定PID控制中的参数。

比例增益：K_P＝6.0，积分时间：K_I＝0.4，微分时间：K_D＝0.2。

模拟为控制模拟，其中通过使任一厚度调节装置的操纵量改变10％，使得在时间0时为平整的厚度分布发生变化，目标厚度应与在这个时间之后的足够长时间处所得的如图5所示的凸起的厚度分布形式一致。图6显示了用于执行模拟的框图。模拟的结果是，在所得的操纵量的时序数据中，用操纵量变化最大的中心厚度调节装置以及在其两侧的各两个厚度调节装置，即总共五个厚度调节装置的时序数据作为确定对应位置的时序图。在图7中显示了所得的表示了操纵量变化的时序图。

第三，应选择四个相互隔开的厚度调节装置，它们的间距应使得由于操纵量变化引起的厚度偏差分布的相互干涉可被忽略，从而可确定它们的对应位置。处于图8中位置21a到21d的四个厚度调节装置被分别设在12,21,48和57处，施加给各个厚度调节装置的操纵量如图7所示中心位置的图形一样地变化。此外，分别与这些厚度调节装置紧邻的厚度调节装置，以及在分别与这些厚度调节装置紧邻的厚度调节装置的附近的厚度调节装置也同时发生变化，如图7所示。然而，由于位置21a和21c是用于使厚度以减小的方式变化，因此操纵量按与图7所示时序图符号相反的时序图发生变化。图10显示了在改变操纵量之前和之后的厚度分布。厚度分布32是在改变操纵量之前的厚度分布。由于位置21a到21d相互隔开，其间距使得由于操纵量变化引起的厚度偏差分布的相互干涉可被忽略，因此可以得到具有四个顶点的厚度分布31。将峰点位置22a到22d确定为与四个厚度调节装置相对应的厚度测量位置。图11是作为横坐标的厚度调节装置的位置和作为纵坐标的片材厚度测量位置的对应关系的图。

最后，确定对应位置尚未确定的厚度调节装置的对应关系。即，这些位置如同与厚度调节装置A相对应的测量位置B一样地来确定，如图11所示。通过对外面两个装置的对应关系进行外插计算，可以得到与接收操纵量的厚度调节装置以外的厚度调节装置相对应的测量位置。通过这种方式，可以确定所有厚度调节装置的对应位置，而且在生产片材时不会产生任何实际问题。

为进行比较，图12显示了在位置21b处的操纵量逐步改变的情况下，在测量位置22b处随时间变化的厚度变化。为使变化的操纵量达到稳定状态，必须经过由此工艺特有的时间常数所决定的时间，为达到确定对应位置所需的厚度分布形式，需要花费T₁＝13min。在确定了对应位置后，操纵量逐步地回到确定前的作用水平，从而使厚度回到初始水平。因此，从开始确定对应位置的时间到厚度回到初始水平的时间为T₂＝33min。另一方面，根据本发明的方法，到确定对应位置为止所花费的时间为T₃＝6min，从开始确定对应位置的时间到厚度回到初始水平的时间为T₄＝16min。因此，工作时间可减小到不到原来的一半。为了使厚度分布回到平整的分布，施加与确定对应位置中所使用的时序图相同但符号相反的表示了操纵量变化的时序图，使得操纵量和厚度均回到初始水平。

如上所述，在本发明中，当厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系的确定精度保持与传统方法相同的精度时，用于确定对应位置的时间可显著地减少，从而能在较短时间内完成工作。因此，可以显著地节约原始片材的损耗。

示例2

下面将介绍将本发明另一实施例应用于薄膜生产工艺的示例。

对图8所示位置21a处的厚度调节装置施加与用于制作图13所示时序图相同的步进式操纵量。在图14中显示了这种情况下所测量的厚度分布值的时序数据。图14显示了在片材厚度中施加效果开始实际呈现出来后的时序图。

可以用公式1从图13和14所示的各个测量的厚度值中确定相应的测量位置。在此示例中，测量位置i每改变1，测量位置改变15mm。

因此，当测量位置i为21时，J₁变得最小，此位置被确定为对应位置。

为进行比较，图15显示了在图14中最后测量时间(在施加给厚度调节装置的操纵量对薄膜厚度的影响实际显示出来后16分钟)中的厚度分布曲线。其中有两个峰点位置，只采用这些数据很难从峰点位置中确定对应位置。此外，厚度偏差沿片材横向方向上的较宽范围延伸，这种形式并不关于中心对称。因此，根据仅得到重心而将其确定为对应位置的方法，是无法准确地确定对应位置的。

在本发明中，由于与传统方法不同，对应位置不是从一条厚度分布曲线中得出，而是与动态厚度偏差图相比较而得出，因此可以准确地确定对应位置。

工业应用

本发明允许快速准确地确定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系。因此，由于确定对应位置的工作可以在短时间内完成，可以减少原始片材的损耗。当生产片材时，可以准确地调节厚度以提高产量，从而提高生产率。

此外，在本发明中，预先制作在操作至少一个厚度调节装置时所得的在片材横向方向上的预定部分中预定周期内的片材厚度偏差的时序图，当实际操作厚度调节装置时，测量在片材横向方向上的所述预定部分中所述预定周期内的片材厚度值。然后在生产片材时，将片材厚度的时序图与所述测量的厚度值相比较，以确定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系。在这种情况中，由于可以准确地调节厚度，产量和生产率都可提高。

Claims (9)

1.一种制造片材的方法，其中，采用具有多个厚度调节装置的模具挤压聚合物并将其模制成片材；测量所述片材在横向方向上的厚度分布；根据测量值以及特定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系来得到施加给所述厚度调节装置的操纵量；以及将所述操纵量传送给所述厚度调节装置以控制所述片材的厚度，其特征在于，对于所述厚度调节装置中的所述特定厚度调节装置，将依照从0变化到预定峰值且之后朝向小于所述峰值的绝对值的预定偏离值变化的时序图的操纵量变化累加到刚刚在此之前起作用的操纵量中，计算出各个操纵量；将计算出的所述操纵量传送给所述特定厚度调节装置，得到所述片材的厚度偏差；根据所得的所述片材的厚度偏差，确定所述特定厚度调节装置和所述厚度测量位置之间的对应关系。

2.根据权利要求1所述的制造片材的方法，其特征在于，在确定所述对应关系时，所述厚度调节装置中分别与各所述特定厚度调节装置相邻的多个厚度调节装置的操纵量也发生变化。

3.根据权利要求1所述的制造片材的方法，其特征在于，根据厚度调节模拟的结果来确定分别表示了操纵量变化的时序图，在所述厚度调节模拟中采用了表示所述厚度调节装置的操纵量和用所述操纵量所得到的片材厚度值之间的关系的公式。

4.根据权利要求3所述的制造片材的方法，其特征在于，所述特定厚度调节装置以及位于各所述特定厚度调节装置两侧的各两个厚度调节装置的操纵量均依照分别表示了操纵量变化的时序图发生变化，所述操纵量变化根据所述模拟厚度调节的结果来确定。

5.根据权利要求1所述的制造片材的方法，其特征在于，在将作为依照所述时序图的操纵量变化与刚刚在此之前起作用的操纵量之和的操纵量传送给所述特定厚度调节装置之后，再将作为所述偏离操纵量和与所述时序图相同但符号相反的时序图之和的操作量传送给所述特定厚度调节装置。

6.一种制造片材的方法，其中，采用具有多个厚度调节装置的模具挤压聚合物并将其模制成片材；测量所述片材在横向方向上的厚度分布；根据测量值以及特定厚度调节装置和厚度测量位置之间的对应关系得到施加给所述各个厚度调节装置的操纵量；以及用所述操纵量来操作所述厚度调节装置，其特征在于，预先制作所述片材厚度分布偏差的标准时序图，所述标准时序图的中心处于与接收预定操纵量的任一所述厚度调节装置相对应的测量位置，将所述标准时序图与在将所述预定操纵量实际施加给所述特定厚度调节装置时所得的测量厚度分布值的时序图相比较；根据所述比较的结果，确定所述特定厚度调节装置和所述厚度测量位置之间的对应关系；以及根据所述对应关系来操作所述各个厚度调节装置。

7.根据权利要求6所述的制造片材的方法，其特征在于，计算所述片材厚度分布偏差的标准时序图与所测得的片材厚度分布值的时序数据之间的平方和误差，所述时序数据的中心处于任一所述测量位置；将所述平方和误差最小处的测量位置确定为与接收所述操纵量的厚度调节装置相对应的测量位置。

8.根据权利要求6所述的制造片材的方法，其特征在于，根据在用所述预定值操作所述厚度调节装置时受到影响的所测量的厚度值来制作所述厚度偏差分布的标准时序图。

9.根据权利要求6所述的制造片材的方法，其特征在于，根据表示了所述厚度调节装置的操纵量和用所述操纵量而得到的所述片材厚度值之间的关系的动态数值公式来制作所述厚度偏差分布的标准时序图。

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