CN1297544A - 电子装置、电子装置的外部调整装置、电子装置的调整方法 - Google Patents

电子装置、电子装置的外部调整装置、电子装置的调整方法 Download PDF

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Abstract

如果频率测定单元检测出从电子装置经与电机线圈进行了电磁耦合的线圈送来的感温振荡测试信号和驱动脉冲信号的频率,则温度校正数据作成单元根据感温振荡测试信号和驱动脉冲信号的频率生成温度校正数据。将该温度校正数据经线圈发送到模拟电子表。即,以非接触方式测定模拟电子表的状态,同时送出根据测定结果得到的温度校正数据,在已组装到外壳内的状态下,调整模拟电子表。

Description

电子装置、电子装置的外部调整装置、 电子装置的调整方法
技术领域
本发明涉及电子装置、电子装置的外部调整装置、电子装置的调整方法,特别是涉及模拟表、数字表等的计时装置或内置了各种传感器的电子装置、进行这些电子装置的调整用的外部调整装置和电子装置的调整方法。
背景技术
在现有的模拟电子表中,一般是用分频器对石英振荡器的振荡信号进行分频,根据被分频了的振荡信号,驱动驱动电机,使指针动作。再者,开发了具备温度校正功能的模拟电子表,以便即使使用时的环境温度发生变化、也能进行准确的计时。这样的模拟电子表具备振荡频率随温度变化的感温振荡器,根据该振荡频率设定了分频器的分频比。
但是,石英振荡器的振荡频率因各个石英振子的特性或构成石英振荡器的电路元件等而有离散性,此外,感温振荡器的振荡频率对温度的特性也不一样。
因此,在具有温度校正功能的模拟电子表中,在电路块或机件的状态下,测量石英振荡器的振荡频率和感温振荡器的振荡频率,根据检查结果,将校正数据写入非易失性存储器中,根据该校正数据调整分频器的分频比。此时,通过将测定用探针压到规定的测试端子上来进行振荡频率的测定。但是,在振荡频率的测定中,由于使用测定用探针,故必须在将电路决或机件组装到外壳中之前进行上述的调整。
但是,由于在将电路块组装到机件中、或将机件组装到外壳中的情况下,由于杂散电容或应力发生变化,故石英振荡器和感温振荡器的振荡频率特性在组装前后发生偏移。因此,存在调整变得不准确、同时制品的成品率变坏的问题。
本发明是鉴于上述的情况而进行的,其目的在于提供即使在将机件等组装到外壳中时也能确保调整精度、可谋求调整的自由度和调整速度的提高的电子装置及其外部调整装置以及该电子装置的调整方法。
发明的公开
本发明的第1形态的特征在于,具备:基准信号生成部,生成基准信号;温度测量部,测量装置的内部温度并生成温度信号;驱动部,生成驱动信号并对被驱动单元的电机线圈输出驱动信号;接收部,经电机线圈接收从外部发送的信号;检测部,检测用接收部接收了的信号的种类;以及检查部,根据检测部的检测结果,将温度信号或通过变换该温度信号而得到的温度数字数据经电机线圈输出到外部。
此外,本发明的第2形态的特征在于,在本发明的第1形态中,具备:存储部,存储为了根据温度来校正基准信号的频率而被使用的校正数据;以及校正部,根据温度信号和校正数据,按照内部温度来校正基准信号的频率。
本发明的第3形态的特征在于,在本发明的第2形态中,从外部发送的信号包含与校正数据对应的校正信号。
本发明的第4形态的特征在于,在本发明的第1形态中,驱动部根据校正部的输出信号,生成驱动信号。
本发明的第5形态的特征在于,在本发明的第1形态中,检查部在经电机线圈将温度信号或温度数字数据输出到外部的期间中,将驱动部控制成停止电机线圈的驱动。
本发明的第6形态的特征在于,在本发明的第1形态中,检查部根据检测部的检测结果,经电机线圈有选择地将与基准信号的频率对应的信号和温度信号输出到外部。
本发明的第7形态的特征在于,在本发明的第6形态中,检查部通过禁止校正部的校正工作,将与基准信号的频率对应的信号作为驱动信号从电机线圈输出。
本发明的第8形态的特征在于,在本发明的第1形态中,温度测量部将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为温度信号输出。
本发明的第9形态的特征在于,在本发明的第1形态中,基准信号生成部具备使用了石英振子的振荡电路,被驱动单元是用模拟指针进行计时工作的模拟计时单元。
本发明的第10形态是调整具有电机线圈的外部的电子装置的外部调整装置,其特征在于,具备:线圈,与电机线圈进行电磁耦合;接收部,经线圈接收作为来自电子装置的信号的温度信号或温度数字数据;发送部,经线圈向电子装置发送信号;以及校正信号生成部,根据由接收部接收的温度信号或温度数字数据和由接收部接收的电机线圈的驱动信号,生成校正信号,将该校正信号输出给发送部。
本发明的第11形态的特征在于,在本发明的第10形态中,具备:信号生成部,生成指示温度信号或温度数字数据的输出的第1信号和指示校正工作的禁止的第2信号,输出给发送部。
本发明的第12形态是调整外部的电子装置的外部调整装置,该外部的电子装置具有电机线圈和校正部,电机线圈用来将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为温度信号或通过对感温振荡信号进行变换而得到的温度数字数据而输出,校正部根据温度信号或温度数字数据的某一方和校正数据并按照内部温度来校正基准信号的频率,其特征在于,具备:线圈,与电机线圈进行电磁耦合;接收部,经线圈接收作为来自电子装置的信号的温度信号或温度数字数据;发送部,经线圈向电子装置发送信号;以及校正信号生成部,根据由接收部接收的温度信号或温度数字数据和由接收部接收的电机线圈的驱动信号,生成校正信号,将该校正信号输出给发送部。
本发明的第13形态的特征在于,在本发明的第12形态中,校正信号生成部在禁止了校正部的校正工作的期间中,根据由接收部接收的驱动信号,生成校正信号。
本发明的第14形态是调整外部的电子装置的外部调整装置,该外部的电子装置具有电机线圈和校正部,电机线圈用来将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为温度信号或通过对感温振荡信号进行变换而得到的温度数字数据而输出,校正部根据温度信号或温度数字数据的某一方和校正数据并按照内部温度来校正基准信号的频率,其特征在于,具备:线圈,与电机线圈进行电磁耦合;接收部,经线圈接收来自电子装置的信号;发送部,经线圈向电子装置发送信号;频率测量部,分别测量由接收部接收的温度信号和在禁止了校正部的校正工作的期间中由接收部接收的驱动信号的频率;以及校正信号生成部,根据频率测量部的测量结果,生成校正信号,将该校正信号输出给发送部。
本发明的第15形态是调整具有电机线圈的外部的电子装置的调整方法,其特征在于,具备:第1工序,经电机线圈将指示输出在电子装置中与被测量的温度对应的温度信号或通过对该温度信号进行变换而得到的温度数字信号的情况的信号发送给电子装置;第2工序,接收由电机线圈发送的温度信号或温度数字信号并检测在电子装置中被测量的温度;第3工序,经电机线圈将指示校正工作的禁止开始的信号发送给电子装置;第4工序,接收由电机线圈发送的驱动信号并测量该驱动信号的频率;第5工序,多次重复第1工序至第4工序,根据已检测的温度和频率,生成校正信号;以及第6工序,经电机线圈将校正信号发送给电子装置。
本发明的第16形态是调整具有电机线圈的外部的电子装置的调整方法,其特征在于,具备:第1工序,经电机线圈将指示校正工作的禁止开始的信号发送给电子装置;第2工序,接收由电机线圈发送的驱动信号并测量该驱动信号的频率;第3工序,经电机线圈将指示输出在电子装置中与被测量的温度对应的温度信号或通过对该温度信号进行变换而得到的温度数字信号的情况的信号发送给电子装置;第4工序,接收由电机线圈发送的温度信号或温度数字信号并检测由温度测量部测量的温度;第5工序,多次重复第1工序至第4工序,根据已检测的温度和频率,生成校正信号;以及第6工序,经电机线圈将校正信号发送给电子装置。
附图的简单说明
图1是第1实施形态的模拟电子表的概要结构框图。
图2是说明对于温度的差率的特性的校正用的图。
图3是第1实施形态的外部调整装置的概要结构框图。
图4是第1实施形态的工作时序图。
图5是第1实施形态的工作处理流程图。
图6是第2实施形态的模拟电子表的概要结构框图。
图7是第2实施形态的外部调整装置的概要结构框图。
图8是第2实施形态的工作处理流程图。
图9是第2实施形态的工作时序图(其1)。
图10是第2实施形态的工作时序图(其2)。
用于实施发明的最佳形态
其次,参照附图说明本发明的实施形态。
[1]第1实施形态
首先,说明第1实施形态。
在本第1实施形态中,将作为电子装置的模拟电子表和调整该电子表用的外部调整装置作为一例来说明,但本发明不限于此,只要是具有驱动被驱动单元用的驱动用电机线圈(与模拟电子表中的运针用驱动电机线圈相当)的电子装置和经驱动用电机线圈进行通信、进行调整的外部调整装置,都可应用本发明。
[1.1]模拟电子表的结构
首先,说明模拟电子表的结构。在图1中示出模拟电子表的概要结构框图。模拟电子表10作为驱动指针用的基本的结构,具备:振荡单元11;分频单元12;驱动脉冲发生单元13;电机线圈14以及电机驱动器15。再有,电机线圈14是被组装到利用模拟指针进行计时工作的模拟计时单元中的驱动电机的线圈。
振荡单元11由石英振子和振荡电路等构成,生成基准振荡信号。一般来说,由于石英振子的共振频率对于温度的特性可用二次曲线来近似,故振荡单元11的振荡频率对于温度的特性由二次式给出。分频单元12由能设定分频比的分频计数器等构成,对基准振荡信号进行分频,输出分频振荡信号。
在驱动脉冲发生单元13中,由第2控制信号C2来控制工作,在其逻辑电平为低电平的情况下,根据分频振荡信号(基准信号)来生成驱动脉冲信号,另一方面,在逻辑电平为高电平的情况下,停止驱动脉冲信号的生成。因而,通过适当地设定第2控制信号C2的逻辑电平,可禁止驱动脉冲信号的生成,或解除该禁止。
电机驱动器15根据驱动脉冲信号驱动指针驱动用的电机线圈14。再有,电机线圈14除了驱动指针外,还起到接收发送各种数据用的天线的作用。
按照这样的结构,由于根据基准振荡信号来生成驱动脉冲信号,故基准振荡信号的频率与驱动脉冲信号的频率成比例。因而,如果根据驱动脉冲信号的脉冲间隔来测量其频率,则可根据测量结果来测量基准振荡信号的频率。此外,通过利用分频单元12适当地设定分频比,可调整差率(表的时间与标准时间相差的量;秒/日)。
再者,模拟电子表10作为调整差率对于温度的特性用的结构,具备:接收单元20;数据控制单元21;存储单元22;感温振荡单元23;温度校正单元24;感温振荡测试单元25;表把开关(复位开关)26以及复位单元27。
首先,接收单元20由比较器、移位寄存器等构成,同时,与电机线圈14连接,接收通过外部的线圈与电机线圈14进行电磁耦合而输入的各种数据,对其进行波形整形,作为接收数据而输出。
其次,数据控制单元21由计数器及门电路类构成,被设置在接收单元20的后级,根据接收数据进行各种控制。更具体地说,识别接收数据的脉冲图形,根据识别结果,生成在高电平下成为激活的第1控制信号C1和第2控制信号C2,同时,对存储单元22输出作为接收数据的一部分的温度校正数据。
此外,存储单元22由存储温度校正数据用的EEPROM等构成。
其次,感温振荡单元23由驱动电流随温度变化的环形振荡器等构成,具有振荡频率对于温度由一次式给出的频率特性,生成感温振荡信号。
其次,温度校正单元24由计数器及门电路类构成,根据在存储单元22中存储的校正数据和感温振荡信号的振荡频率来控制分频单元12。由此,调整差率对于温度的特性。
其次,感温振荡测试单元25由振荡频率随温度变化的环形振荡器等构成,构成为在第1控制信号C1为有效的期间中输出表示感温振荡信号的振荡频率的感温振荡测试信号。感温振荡测试单元25例如由下述部分构成:用固定的分频比对感温振荡信号进行分频的分频器;延迟分频器的输出信号的延迟电路;生成分频器的输出信号与延迟电路的输出信号的“异或”值的“异或”电路;以及“与”电路,在一个输入端子上被供给“异或”电路的输出信号的同时,在另一个输入端子上被供给第1控制信号C1。按照该结构,在第1控制信号C1为高电平的期间内,可从“与”电路的输出端子取出与感温振荡信号的振荡频率对应的数目的脉冲作为感温振荡测试信号。对电机驱动器15供给该感温振荡测试信号,但将其脉宽与电机驱动信号的脉宽相比设定得足够短,以免对电机驱动产生影响。
其次,复位单元27检测出用户操作表把开关26的情况,进行分频单元12的复位处理。
在此,说明差率对于温度的特性的校正。图2(a)作为差率对于温度的特性示出了振荡单元11的振荡频率特性,该图2(b)示出了感温振荡单元23的振荡频率对于温度的特性。
如图2(a)中所示,振荡单元11的振荡频率特性由凸型的2次曲线来表示。一般来说,由以下示出的式(1)来给出。
y=-β(θ-θt)2+y0    ……(1)
其中,y是使用温度中的差率,β为斜率,θ为使用温度,θt为顶点的温度,y0为顶点的差率。因而,如果预先测定并知道该特性,则可由使用时的温度和已知的特性来求出基准振荡信号的差率y,据此可进行校正,使得差率y为「0」。
在上述的模拟电子表10中,使用感温振荡单元23测量了装置的内部温度。感温振荡信号的频率,如图2(b)中所示,以温度为变数。由以下示出的式(2)来给出。
f=a·θ+f0    ……(2)
其中,f为使用温度下的频率,a为斜率,θ为使用温度,f0是切片的频率。
由式(1)和式(2),可导出以下示出的式(3)。
y=-β’(f-ft)2+y0    ……(3)
其中,β’=β·a2,ft为与顶点的温度对应的感温振荡信号的频率。在式(3)中,可在使用模拟电子表中知道感温振荡信号的频率。因而,为了在使用中计算出差率y,必须预先计算出β’、ft、y0。
因此,在本实施形态中,在温度T1、T2、T3这3点将模拟电子表10保持为恒温状态,在各温度下测定差率y1、y2、y3。在此,如果将各温度的感温振荡信号的频率定为f1、f2、f3,则给出以下示出的式(4)~(6)。
y1=-β’(f1-ft)2+y0     ……(4)
y2 =-β’(f2-ft)2+y0    ……(5)
y3=-β’(f3-ft)2+y0     ……(6)
在本实施形态中,在后述的外部调整装置30中,求出满足式(4)~(6)的β’、ft、y0,将其作为温度校正数据发送给模拟电子表10。然后,模拟电子表10在存储单元22中预先存储温度校正数据,温度校正单元24根据使用温度下的感温振荡信号的频率f和温度校正数据(β’、ft、y0),进行式(3)的运算,计算出使用时的差率y,校正分频单元12的分频比使y为「0」。
由此,即使环境温度变化,模拟电子表10也可进行精度极高的计时。
[1.2]外部调整装置的结构
其次,说明外部调整装置的结构。图3示出外部调整装置的概要结构框图。
外部调整装置30具备:线圈31,与模拟电子表10的电机线圈14进行电磁耦合;发送单元40,由移位寄存器、输出缓冲晶体管等构成,经线圈31在与模拟电子表10之间进行数据的接收发送;接收单元32,由比较器、移位寄存器等构成,经线圈31进行接收工作;频率测定单元33,由计数器等构成,进行频率测定;温度校正数据作成单元34,由计数器及门电路类等构成,作成温度校正数据;控制单元35,由计数器及门电路类等构成,进行外部调整装置30的整体的控制;测试信号作成单元36,由计数器及门电路类等构成,作成测试信号;以及校正数据信号作成单元37,由计数器及门电路类等构成,作成校正数据信号。
频率测定单元33测定感温振荡测试信号及驱动脉冲信号的频率,将其输出给温度校正数据作成单元34。
温度校正数据作成单元34根据感温振荡测试信号的频率,计算出感温振荡信号的频率f,根据驱动脉冲信号的频率,计算出差率y。对于3点的各温度,进行该工作,求出式(4)~(6)中示出的(y1,f1)、(y2,f2)、(y3,f3),据此计算出温度校正数据(β’、ft、y0)。校正数据信号作成单元38根据已作成的温度校正数据,作成发送中使用的温度校正数据信号。
此外,控制单元35控制外部调整装置30的整体。测试信号作成单元36在控制单元35的控制下,以规定的时序作成第1~第4测试信号TS1~TS4。第1~第4测试信号TS1~TS4是对于模拟电子表10指示工作模式的切换的信号,这些脉冲图形在上述的数据控制单元21中是已知的。
[1.3]第1实施形态的工作
其次,参照图4和图5,说明第1实施形态的工作。在图4中示出工作时序图,在图5中示出工作处理时序图。以下,分成使模拟电子表10以通常方式工作的通常模式、使用外部调整装置30在温度T1、T2和T3下测定模拟电子表10的诸特性的测定模式和根据3点的测定结果计算出温度校正数据并将其写入到模拟电子表10中的写入模式来说明。
[1.3.1]通常模式的工作
首先,在通常模式下,模拟电子表10的温度校正单元24根据感温振荡单元23的振荡频率和在存储单元22中已存储的感温校正数据,对构成分频单元12的分频计数器的一部分进行置位或复位。由此,由于调整分频比,故可校正振荡单元11的温度特性(步骤S1)。利用图4(e)中示出的脉冲时序来进行此时的校正工作。再有,在该例中,以2秒1次的比例来进行校正工作,但也可以10秒~320秒1次的比例来进行校正工作。
[1.3.2]测定模式的工作
其后,使两者接近地配置,以便在模拟电子表10与外部调整装置30之间进行数据通信,然后,将环境温度保持为T1,开始第1次的测定工作。
在外部调整装置30中,如果在控制单元35的控制下由测试信号作成单元36在时刻t1处生成第1测试信号TS1,则第1测试信号TS1以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10(参照图4(b))。再有,由于控制单元35管理测定次数,故在初始状态下将寄存器的存储值预先置位于「1」(步骤S2)。
然后,数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,判定是否接收了第1测试信号TS1(步骤S3),重复进行判定,直到接收第1测试信号TS1为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第1测试信号TS1的接收,则数据控制单元21在时刻t1处将第1控制信号C1的逻辑电平设定为高电平(参照图4(c))。
如果将高电平的第1控制信号C1供给驱动脉冲发生单元13,则驱动脉冲发生单元13中止驱动脉冲信号的生成(步骤S4)。此外,如果将高电平的第1控制信号C1供给感温振荡测试单元25,则感温振荡测试单元25对感温振荡信号进行分频,将对其进行微分而得到的感温振荡测试信号输出给电机驱动器15。于是,感温振荡测试信号(参照图(a)、(d))以电机驱动器15→电机线圈14→线圈31→接收单元32的路径被发送(步骤S5)。
这样,在发送感温振荡测试信号的期间内,之所以禁止驱动脉冲信号的生成,是因为如果驱动脉冲信号的脉冲与感温振荡测试信号的脉冲重叠,则在外部调整装置30中不能区别这两者。在该例中,由于以排他的方式发送驱动脉冲信号和感温振荡测试信号,故外部调整装置30能可靠地测量感温振荡测试信号。
其后,频率测定单元21在控制单元35的控制下,通过测定已接收的感温振荡测试信号的脉冲间隔,检测出感温振荡测试信号的频率。此时,控制单元35将频率测定单元21控制成对在生成第1测试信号TS1之后到生成第2测试信号TS2为止的期间(从时刻t1到时刻t2)内接收的脉冲数进行计数。该期间为预先确定的时间。因此,频率测定单元21能根据该测定值检测出感温振荡信号的频率。
其次,在控制单元35的控制下,测试信号作成单元36在时刻t2处生成第2测试信号TS2(参照图4(b))。第2测试信号TS2以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第1测试信号TS1,则为了准备第2测试信号TS2的接收,开始是否接收到第2测试信号TS2的判定(步骤S6)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第2测试信号TS2为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21在时刻t2处检测出第2测试信号TS2的接收,则数据控制单元21将第1控制信号C1的逻辑电平设定为低电平。如果将低电平的第1控制信号C1供给驱动脉冲发生单元13,则驱动脉冲发生单元13从时刻t2开始再次开始驱动脉冲信号的生成(步骤S7)。
此外,如果数据控制单元21检测出第2测试信号TS2的接收,则将第2控制信号C2的逻辑电平设定为高电平(参照图4(f))。如果将高电平的第2控制信号C2供给温度校正单元24,则温度校正单元24停止分频比的调整,将分频单元12控制成以预先确定的分频比使分频单元12工作。由此,禁止温度校正工作(步骤S8)。再有,该分频比在外部调整装置30的温度校正数据作成单元34中是已知的。
之所以以这种方式禁止校正工作,是因为由于在外部调整装置30中不能知道校正工作中的分频单元12的分频比,故即使用外部调整装置30接收到驱动脉冲信号,也不能计算出基准振荡信号的频率。与此不同,在该例中,由于禁止了校正工作、以预先确定的分频比对基准振荡信号进行分频来生成驱动脉冲信号,故通过用外部调整装置30测定驱动脉冲信号的频率,可测出基准振荡信号的频率。
其后,如果将驱动脉冲信号供给电机驱动器15,则在驱动驱动电机的同时,驱动信号以「电机驱动器15→电机线圈14→线圈31→接收单元32」的路径被发送。于是,频率测定单元33检测出驱动脉冲信号的频率。如上所述,由于根据以预先确定的分频比对基准振荡信号进行了分频的分频振荡信号生成驱动脉冲信号,故由驱动脉冲信号的频率可知道温度T1的基准振荡信号的频率。
其次,在控制单元35的控制下,测试信号作成单元36在时刻t3处生成第3测试信号TS3(参照图4(b))。第3测试信号TS3以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第2测试信号TS2,则为了准备第3测试信号TS3的接收,开始是否接收到第3测试信号TS3的判定(步骤S9)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第3测试信号TS3为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第3测试信号TS3的接收,则数据控制单元21将第2控制信号C2的逻辑电平设定为低电平。如果将低电平的第2控制信号C2供给温度校正单元24,则温度校正单元24再次开始分频比的调整,根据温度校正数据控制分频单元12。由此,解除温度校正工作的禁止(步骤S10)。
其后,进到步骤S11,控制单元35判定寄存器的存储值是否为「3」(步骤S11),如果存储值为「3」,则转移到后述的写入模式。另一方面,在存储值不为「3」的情况下,将寄存器的存储值步进「1」(步骤S12),重复从步骤S3步骤S12的处理,直到存储值达到「3」。具体地说,如果第1次的测定工作结束,则使环境温度从T1变化到T2,在成为恒温状态的时刻,进行第2次的测定。如果第2次的测定工作结束,则使环境温度从T2变化到T3,在成为恒温状态的时刻,进行第3次的测定。
这样,在3次的测定结束了的时刻,温度校正数据作成单元34测出温度11的基准振荡信号的频率F1和感温振荡信号的频率f1、温度T2的基准振荡信号的频率F2和感温振荡信号的频率f2、温度T3的基准振荡信号的频率F3和感温振荡信号的频率f3。
[1.3.3]写入模式的工作
其次,如果转移到写入模式,则温度校正数据作成单元53根据(f1,F1)、(f2,F2)、(f3,F3),生成温度校正数据。温度校正数据作成单元34首先计算出分别与F1、F2、F3对应的差率y1、y2、y3。
其次,计算出满足全部上述式(4)~(6)的系数β’、基准频率ft、基准差率y0,将其作为温度校正数据来生成。
这样,如果生成温度校正数据,则测试信号作成单元36在控制单元35的控制下,生成第4测试信号TS4。此外,如果输出第4测试信号TS14,则接着该信号,由校正数据信号作成单元38输出发送用的温度校正数据。
第4测试信号TS4和温度校正数据以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第3测试信号TS3,则为了准备第4测试信号TS4的接收,开始是否接收到第4测试信号TS4的判定(步骤S12)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第4测试信号TS4为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第4测试信号TS4的接收,则数据控制单元21检测其次送来的数据是温度校正数据的情况并待机。
其后,如果接收温度校正数据(步骤S13),则数据控制单元21将温度校正数据写入存储单元22中(步骤S14)。如果该写入结束,则数据控制单元21从写入模式转移到通常模式,结束处理。
[1.4]第1实施形态的效果
如以上的说明那样,按照本实施形态,起到以下叙述的效果。
(1)按照该模拟电子表10,可在组装到外壳内的状态下进行温度校正。因此,可从根本上解决因将电路块组装到机件中时、或将机件组装到外壳中时发生的杂散电容使基准振荡信号的频率特性偏移的问题。其结果,可生产精度极高的模拟电子表10。
(2)此外,在现有的模拟电子表中,在电路块或机件的状态下调整温度特性,再在组装到外壳内的状态下进行最终的检查,关于检查中成为不合格的制品,从外壳取出机件,再次进行调整,重复进行上述过程,直到检查为合格。与此不同,在上述的模拟电子表10中,由于可在组装到外壳内的状态下进行温度特性的调整,故可使制品的成品率飞跃地提高。
(3)此外,由于能以非接触的方式来测定振荡单元11和感温振荡单元23的振荡频率特性对于温度的特性,由于不需要进行高精度的测定用探针和测试端子与测定用探针的定位用的定位装置那样的设备,故可使制造成本下降。再者,因为不需要高精度的定位,故可大幅度地缩短调整时间。
[2]第2实施形态
其次,参照附图,说明本发明的第2实施形态。
[2.1]模拟电子表的结构
图6中示出第2实施形态的模拟电子表的概要结构框图。
在图6中,对于与图1的模拟电子表10相同的部分,附以相同的符号,省略其详细的说明。
本第2实施形态的模拟电子表10A与模拟电子表10的不同点是具备:频率测定单元28,测定感温发送单元23输出的感温振荡信号的频率,输出具有与感温振荡信号的频率相当的值的数字振荡频率数据;“或”电路29,输入来自数据控制单元21的第1频率控制信号SCF1和来自温度校正单元24的第2频率控制信号SCF2,区两输入信号的逻辑和,输出开关电容器控制信号SSW1;开关电容器CSW,用于对振荡单元11A的振荡频率进行微调整;以及开关SW1,用于根据开关电容器控制信号SSW1将开关电容器CSW连接到振荡单元11A上。
[2.2]外部调整装置的结构
其次,说明第2实施形态的外部调整装置的结构。
在图7中示出外部调整装置的概要结构框图。
外部调整装置30A与图3的外部调整装置30的不同点是具备:译码单元39,对经接收单元32输入的数字振荡频率数据进行译码;以及模式控制信号作成装置38,生成用于控制模拟电子表10A的工作模式的模式控制信号。
[2.3]第2实施形态的工作
其次,说明本第2实施形态的工作,但由于关于通常模式的工作和写入模式的工作与第1实施形态相同,故省略其详细的说明,参照图8至图10,说明测定模式的工作。
[1.3]测定模式的工作
在本第2实施形态的测定模式中,为了在模拟电子表10A与外部调整装置30A之间能够进行数据通信,使两者接近地配置。然后,将环境温度保持为T1,开始第1次的测定工作。
在该情况下,由于控制单元35管理测定次数,故在初始状态下,预先将寄存器的存储值置位于n=1(步骤S21)。
然后,在外部调整装置30A中,如果在控制单元35的控制下由模式控制信号作成装置38生成第1测试信号TS11,则第1测试信号TS11以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10A(参照图9(b))。
然后,数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,判定是否接收了第1测试信号TS11(图中,用测试信号1表示)(步骤S22),重复进行判定,直到接收第1测试信号TS11为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21在时刻t11处检测出第1测试信号TS11的接收,则数据控制单元21在时刻t11处将第1控制信号C11的逻辑电平设定为高电平(参照图9(c))。
如果将高电平的第1控制信号C11供给温度校正单元24,则温度校正单元24停止分频比的调整,将分频单元12控制成以预先确定的分频比使分频单元12工作。由此,禁止温度校正工作(步骤S23)。再有,该分频比在外部调整装置30的温度校正数据作成单元34中是已知的。
之所以以这种方式禁止校正工作,是因为由于在外部调整装置30中不能知道校正工作中的分频单元12的分频比,故数字振荡频率数据的基准时钟大幅度地偏移,在外部调整装置30A接收数字振荡频率数据并进行译码的情况下,不能准确地译码,不能测出基准振荡信号的频率。
此外,如果对驱动脉冲发生单元13供给高电平的第1控制信号C1,则驱动脉冲发生单元13中止驱动脉冲信号的生成(步骤S24)。
此外,如果对感温振荡测试单元25供给高电平的第1控制信号C1,则感温振荡测试单元25控制频率测定单元28,频率测定单元28进行感温振荡器的振荡频率的测定(步骤S25)。
其后,频率测定单元28在控制单元35的控制下,通过测定已接收的感温振荡测试信号的脉冲间隔,检测出感温振荡测试信号的频率。此时,控制单元35将频率测定单元28控制成为在生成第1测试信号TS11之后到生成第2测试信号TS12为止的期间(从时刻t11到时刻t12)内,测定感温振荡器23的频率。
其次,在控制单元35的控制下,模式控制信号作成装置38在时刻t12处生成第2测试信号TS12(参照图9(b))。
第2测试信号TS12以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10。
另一方面,如果模拟电子表10A的数据控制单元21检测出第1测试信号TS11,则为了准备第2测试信号TS12的接收,开始是否接收到第2测试信号TS12(图中,用测试信号2表示)的判定(步骤S26)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第2测试信号TS12为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21在时刻t12处检测出第2测试信号TS12的接收,则数据控制单元21将第1控制信号C11的逻辑电平设定为低电平。
此外,如果数据控制单元21检测出第2测试信号TS12的接收,则将第2控制信号C12的逻辑电平设定为高电平(参照图9(f))。
由此,频率测定单元28经感温振荡测试单元25、电机驱动器15和电机线圈14将数字振荡频率数据作为测定结果来发送(步骤S27)。
另一方面,外部调整装置30A经线圈31、接收单元32在译码单元41中进行数字振荡频率数据的译码,校正数据作成单元34可知道温度T1的基准振荡信号的频率。
其次,在控制单元35的控制下,测试信号作成单元36在时刻t13处生成第3测试信号TS13(参照图9(b))。第3测试信号TS13以发送单元40→线圈31→电机线圈14→接收单元20的路径被传送到模拟电子表10。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第2测试信号TS12,则为了准备第3测试信号TS13的接收,开始是否接收到第3测试信号TS13的判定(步骤S28)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第3测试信号TS13为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第3测试信号TS13的接收,则数据控制单元21将第2控制信号C12的逻辑电平设定为低电平。
此外,如果数据控制单元21检测出第3测试信号TS13的接收,则将第3控制信号C13的逻辑电平设定为高电平(参照图9(g))。
与此相随,数据控制单元21将第1频率控制信号SCF1定为高电平,将作为“或”电路29的输出的开关电容器控制信号SSW1定为高电平。
其结果,开关SW1成为导通状态,开关电容器CSW与振荡单元11A连接(步骤S29)。振荡单元11A的振荡频率按照开关电容器CSW的电容而减少。
此外,如果将高电平的第3控制信号C13供给驱动脉冲发生单元13,则解除驱动脉冲信号的生成禁止,驱动脉冲发生单元13再次开始驱动脉冲信号的生成(步骤S30)。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第3测试信号TS13,则为了准备第4测试信号TS14的接收,开始是否接收到第4测试信号TS14的判定(步骤S31)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第4测试信号TS14为止。
其次,如果判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第4测试信号TS14的接收,则将第4控制信号C14的逻辑电平设定为高电平(参照图10(h))。
与此相随,数据控制单元21将第1频率控制信号SCF1定为低电平,将作为“或”电路29的输出的开关电容器控制信号SSW1定为低电平。
其结果,开关SW1成为断开状态,开关电容器CSW与振荡单元11A为非连接状态(步骤S32)、振荡单元11A的振荡频率增加(回到原处)。
另一方面,如果模拟电子表10的数据控制单元21检测出第4测试信号TS14,则为了准备第4测试信号TS14的接收,开始是否接收到第4测试信号TS14的判定(步骤S33)。数据控制单元21识别接收数据的脉冲图形,重复进行判定,直到接收第4测试信号TS14为止。
其次,如果步骤S33的判定结果为「是」、数据控制单元21检测出第4测试信号TS14的接收,则将第5控制信号C15的逻辑电平设定为低电平(参照图10(h))。
由此,温度校正单元24再次开始分频比的调整,根据温度校正数据来控制分频单元12。由此,解除温度校正工作的禁止(步骤S34)。
其次,控制单元35判定寄存器的存储值n是否=3(步骤S35),如果存储值n=3,则转移到在第1实施形态中已说明的写入模式。
另一方面,在n不=3的情况下,使寄存器的存储值n=n+1(步骤S36),重复步骤S22到步骤S35的处理直到存储值n=3。
具体地说,如果第1次的测定工作结束,则使环境温度从T1变化为T2,在成为恒温状态的时刻,进行第2次的测定。如果第2次的测定结束,则使环境温度从T2变化到T3,在成为恒温状态的时刻,进行第3次的测定。
这样,在3次的测定结束了的时刻,外部调整装置30A的温度校正数据作成单元34测出温度T1的基准振荡信号的频率F1和感温振荡信号的频率f1、温度T2的基准振荡信号的频率F2和感温振荡信号的频率f2、温度T3的基准振荡信号的频率F3和感温振荡信号的频率f3,在校正数据信号作成单元39中生成对应的校正数据信号,经发送单元40和线圈31,发送到模拟电子表10。
由此,模拟电子表10A成为写入模式,数据控制部经电机线圈14和接收单元20接收温度校正数据(步骤S37),把温度校正数据写入到存储单元中(步骤S38)。
[2.4]第2实施形态的效果
如以上说明的那样,按照本第2实施形态,除了第1实施形态的效果外,由于能将感温振荡器的振荡频率作为数字数据来输出,故可进行抗噪声性能更强的通信。此外,由于在模拟电子表内部进行了振荡频率测定,故可更加提高与石英振荡器的振荡频率的匹配性,可使测定精度提高。
此外,由于利用来自外部调整装置的信号(第1测试信号)来开始测定,故能在任意的瞬时进行感温振荡器的频率测定,由于能在发送测定数据之前进行测定,故可减少温度变化的影响,可进行更高精度的测定。
此外,作为石英振荡器,即使在使用了利用开关电容器可使振荡频率有微小变化的类型的情况下,也能进行测定。
[3]实施形态的变形例
[3.1]第1变形例
在上述实施形态中,作为电子装置,以模拟电子表为例进行了说明,但不限于此,例如也可应用于电动牙刷、电动剃须刀、无绳电话、携带电话、个人手持电话、可移动个人计算机、PDA(个人信息终端)等的各种电子装置的调整及内置传感器的调整。
[3.2]第2变形例
在上述实施形态中,用感温振荡单元23来测定装置的内部温度,将内部温度信息作为感温振荡测试信号的频率或其数字数据来输出,但本发明不限于此,只要是检测出装置的内部温度且输出温度信号,则不管其信号形态如何。
[3.3]第3变形例
在上述实施形态中,由于校正差率,故调整了分频单元12的分频比,但也可通过变更振荡单元11的元件常数来校正差率。此外,也可组合这些方法来校正差率。总之,只要是根据被检测出的温度和预先被存储的温度校正数据来校正驱动脉冲信号的频率,则可采用任何校正方法。
[3.4]第4变形例
在上述实施形态中,通过在测试信号作成单元36中发生第1~第4测试信号TS1~TS4,将其发送到模拟电子表10,从外部来控制模拟电子表10的工作模式,但本发明不限于此,如果从外部调整装置30将第1测试信号TS1传送到模拟电子表10,则也可利用数据控制单元21检测出第1测试信号TS1,以后按照预先确定的顺序,进行感温振荡测试信号的输出和校正工作的禁止。
[3.5]第5变形例
在上述实施形态中,在中止驱动脉冲信号的生成(步骤S4)、发送了感温振荡测试信号(步骤S5)后,再次开始驱动脉冲信号的生成(步骤S7)、禁止了温度校正工作(步骤S8),但本发明不限于此,当然也可先禁止温度校正工作、测定驱动脉冲信号的频率,其后,中止驱动脉冲信号的生成,生成感温振荡测试信号,测定其频率。
[3.6]第6变形例
在上述实施形态中,利用中央运算处理装置(CPU)构成模拟电子表10的数据控制单元21,当然也可利用软件进行上述的各种处理。此外,电机线圈14不限于驱动指针用的电机线圈14,也可以是发电用的电机中的电机线圈。
[3.7]第7变形例
在上述实施形态中,在禁止了温度校正工作的状态下经电机线圈14将驱动脉冲信号输出到外部,由此可用外部调整装置30检测出基准振荡信号的频率,总之,因如能在外部调整装置30中检测出基准振荡信号的频率即可,故本发明不限于此,只要是经电机线圈14将与基准振荡信号的频率对应的信号输出到外部,则当然可以是任何结构。再有,为了区别该信号与感温振荡测试信号,希望有选择地输出这两者。
[4]实施形态的效果
按照上述实施形态,可在使电子装置更接近于制品的状态下调整温度特性,可使调整精度提高。此外,可缩短调整时间,再者,可降低电子装置的制造成本。

Claims (16)

1.一种电子装置,其特征在于,具备:
基准信号生成部,生成基准信号;
温度测量部,测量装置的内部温度并生成温度信号;
驱动部,生成驱动信号并对被驱动单元的电机线圈输出上述驱动信号;
接收部,经上述电机线圈接收从外部发送来的信号;
检测部,检测由上述接收部接收了的信号的种类;以及
检查部,根据上述检测部的检测结果,将上述温度信号或通过变换该温度信号而得到的温度数字数据经上述电机线圈输出到外部。
2.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于,具备:
存储部,存储为了根据温度来校正上述基准信号的频率而被使用的校正数据;以及
校正部,根据上述温度信号和上述校正数据,按照上述内部温度来校正上述基准信号的频率。
3.如权利要求2中所述的电子装置,其特征在于:
从上述外部发送来的信号包含与上述校正数据对应的基准信号。
4.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于:
上述驱动部根据上述校正部的输出信号,生成上述驱动信号。
5.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于:
上述检查部在经上述电机线圈将上述温度信号或上述温度数字数据输出到外部的期间中,将上述驱动部控制成停止上述电机线圈的驱动。
6.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于:
上述检查部根据上述检测部的检测结果,经上述电机线圈有选择地将与上述基准信号的频率对应的信号和上述驱动信号输出到外部。
7.如权利要求6中所述的电子装置,其特征在于:
上述检查部通过禁止上述校正部的禁止工作,将与上述基准信号的频率对应的信号作为上述驱动信号从上述电机线圈输出。
8.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于:
上述温度测量部将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为上述温度信号输出。
9.如权利要求1中所述的电子装置,其特征在于:
上述基准信号生成部具备使用了石英振荡器的振荡电路,
上述被驱动单元是用模拟指针进行计时工作的模拟计时单元。
10.一种外部调整装置,该外部调整装置是调整具有电机线圈的外部的电子装置的外部调整装置,其特征在于,具备:
线圈,与上述电机线圈进行电磁耦合;
接收部,经上述线圈接收作为来自上述电子装置的信号的温度信号或上述温度数字数据;
发送部,经上述线圈向上述电子装置发送信号;以及
校正信号生成部,根据由上述接收部接收的上述温度信号或上述温度数字数据和由上述接收部接收的上述电机线圈的驱动信号,生成校正信号,将该校正信号输出给上述发送部。
11.如权利要求10中所述的外部调整装置,其特征在于,具备:
信号生成部,生成指示上述温度信号或上述温度数字数据的输出的第1信号和指示校正工作的禁止的第2信号,输出给上述发送部。
12.一种外部调整装置,该外部调整装置是调整具有电机线圈和校正部的外部的电子装置的外部调整装置,上述电机线圈用来将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为通过变换温度信号或上述外部调整装置得到的温度数字数据而输出,上述校正部根据上述温度信号或上述温度数字数据的某一方和校正数据并按照上述内部温度来校正基准信号的频率,其特征在于,具备:
线圈,与上述电机线圈进行电磁耦合;
接收部,经上述线圈接收作为来自上述电子装置的信号的温度信号或上述温度数字数据;
发送部,经上述线圈向上述电子装置发送信号;以及
校正信号生成部,根据由上述接收部接收的上述温度信号或上述温度数字数据和由上述接收部接收的上述电机线圈的驱动信号,生成校正信号,将该校正信号输出给上述发送部。
13.如权利要求12中所述的外部调整装置,其特征在于,具备:
上述校正信号生成部在禁止了上述校正部的校正工作的期间中,根据由上述接收部接收的上述驱动信号,生成上述校正信号。
14.一种外部调整装置,该外部调整装置是调整具有电机线圈和校正部的外部的电子装置的外部调整装置,上述电机线圈用来将频率随装置的内部温度而变化的感温振荡信号作为通过变换温度信号或上述外部调整装置得到的温度数字数据而输出,上述校正部根据上述温度信号或上述温度数字数据的某一方和校正数据并按照上述内部温度来校正基准信号的频率,其特征在于,具备:
线圈,与上述电机线圈进行电磁耦合;
接收部,经上述线圈接收来自上述电子装置的信号;
发送部,经上述线圈向上述电子装置发送信号;
频率测量部,分别测量由上述接收部接收的上述温度信号和在禁止了上述校正部的校正工作的期间中由上述接收部接收的上述驱动信号的频率;以及
校正信号生成部,根据上述频率测量部的测量结果,生成校正信号,将该校正信号输出给上述发送部。
15.一种电子装置的调整方法,该方法是调整具有电机线圈的外部的电子装置的调整方法,其特征在于,具备:
第1工序,经上述电机线圈将指示输出在上述电子装置中与被测量的温度对应的温度信号或通过变换该温度信号而给出的温度数字信号的情况发送给上述电子装置;
第2工序,接收由上述电机线圈发送的上述温度信号或上述温度数字信号并检测在上述电子装置中被测量的温度;
第3工序,经上述电机线圈将指示校正工作的禁止开始的信号发送给上述电子装置;
第4工序,接收由上述电机线圈发送的驱动信号并测量该驱动信号的频率;
第5工序,多次重复上述第1工序至上述第4工序,根据已检测的温度和频率,生成校正信号;以及
第6工序,经上述电机线圈将上述校正信号发送给上述电子装置。
16.一种电子装置的调整方法,该方法是调整具有电机线圈的外部的电子装置的调整方法,其特征在于,具备:
第1工序,经上述电机线圈将指示校正工作的禁止开始的信号发送给上述电子装置;
第2工序,接收由上述电机线圈发送的驱动信号并检测该驱动信号的频率;
第3工序,经上述电机线圈将指示输出在上述电子装置中与被测量的温度对应的温度信号或通过变换该温度信号而给出的温度数字信号的情况发送给上述电子装置;
第4工序,接收由上述电机线圈发送的上述温度信号或上述温度数字信号并检测由该温度测量部测量的温度;
第5工序,多次重复上述第1工序至上述第4工序,根据已检测的温度和频率,生成校正信号;以及
第6工序,经上述电机线圈将上述校正信号发送给上述电子装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101128780B (zh) * 2005-02-24 2010-12-08 精工爱普生株式会社 时钟信号输出装置及其控制方法、电子设备及其控制方法
CN103499918A (zh) * 2013-09-22 2014-01-08 天津市太阳精仪科技有限公司 一种智能型指针式时间累加计时器
CN103608734A (zh) * 2011-05-14 2014-02-26 约翰逊控制器汽车电子有限责任公司 计时器设备及其操作方法
CN104412177B (zh) * 2012-07-13 2017-02-01 锡克拜控股有限公司 用于鉴定计时器的方法
CN107015471A (zh) * 2015-11-13 2017-08-04 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 石英手表的日差率的测试方法
CN109001970A (zh) * 2017-06-07 2018-12-14 精工爱普生株式会社 计时装置、电子设备以及移动体
CN109691828A (zh) * 2017-10-23 2019-04-30 哈里·温斯顿公司 用于电子机械表的展示盒和包括该展示盒的组件
CN110941174A (zh) * 2018-09-20 2020-03-31 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 用于调节包含在电子手表中的时基的平均频率的方法
CN111669155A (zh) * 2015-10-14 2020-09-15 慧荣科技股份有限公司 时钟校正方法与校正电路和参考时钟产生方法与产生电路
CN112051723A (zh) * 2019-06-06 2020-12-08 斯沃奇集团研究及开发有限公司 在其模拟时间显示装置中包括连续旋转机电换能器的时计的精度的测量

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100498839B1 (ko) * 2002-11-26 2005-07-04 삼성전자주식회사 아날로그 시계 내장형 단말기의 아날로그 시계 시각 조정방법 및 장치
WO2011118820A1 (ja) * 2010-03-26 2011-09-29 シチズンホールディングス株式会社 電波時計
JP5751280B2 (ja) * 2013-05-28 2015-07-22 カシオ計算機株式会社 電波時計
JP2016226153A (ja) * 2015-05-29 2016-12-28 株式会社東芝 モータ駆動回路
CH713822A2 (fr) * 2017-05-29 2018-11-30 Swatch Group Res & Dev Ltd Dispositif et procédé d'ajustement de marche et correction d'état d'une montre.
CN109240069B (zh) * 2018-08-14 2020-12-01 福建易美特电子科技有限公司 液晶显示钟表类产品生产自动检测系统

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5759508B2 (zh) 1973-09-21 1982-12-15 Suwa Seikosha Kk
JPS5071362A (zh) * 1973-10-24 1975-06-13
USRE31402E (en) * 1973-10-24 1983-10-04 Citizen Watch Co., Ltd. Electronic timepiece
JPS587190B2 (ja) * 1973-12-05 1983-02-08 セイコーエプソン株式会社 スイシヨウドケイ
JPS5489672A (en) * 1977-12-26 1979-07-16 Seiko Instr & Electronics Ltd Electronic watch
WO1981001888A1 (en) * 1979-12-20 1981-07-09 Ricoh Watch Linearizing circuit and electronic time piece using the same
JPS5770417A (en) * 1980-10-21 1982-04-30 Citizen Watch Co Ltd Temperature detecting device
US4473303A (en) * 1982-02-19 1984-09-25 Citizen Watch Company Limited Electronic timepiece
GB2162974B (en) * 1984-08-09 1988-04-27 Suwa Seikosha Kk Electronic timepiece
US5255247A (en) * 1988-04-06 1993-10-19 Seiko Epson Corporation Electronic timepiece including integrated circuitry
JPH0346408A (ja) 1989-07-14 1991-02-27 Jeco Co Ltd 時計
WO1994016366A1 (en) 1993-01-08 1994-07-21 Citizen Watch Co., Ltd. Data transmission/reception system of electronic timepiece
JPH06207992A (ja) * 1993-01-12 1994-07-26 Citizen Watch Co Ltd 指針式電子時計の歩度調整システム
JPH06235778A (ja) 1993-02-09 1994-08-23 Citizen Watch Co Ltd 指針式電子時計のデータ送受信システム
US5459436A (en) * 1994-08-31 1995-10-17 Motorola, Inc. Temperature compensated crystal oscillator with disable
JP3682590B2 (ja) * 1996-05-24 2005-08-10 ソニー株式会社 移動装置と移動制御方法
JP4083844B2 (ja) * 1997-09-03 2008-04-30 シチズンホールディングス株式会社 電子時計および電子時計の送受信システム
DE60035650T2 (de) * 1999-03-30 2008-05-21 Seiko Epson Corp. Elektronisches uhrwerk und verfahren zur datenuebertragung fuer elektronisches uhrwerk

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101128780B (zh) * 2005-02-24 2010-12-08 精工爱普生株式会社 时钟信号输出装置及其控制方法、电子设备及其控制方法
CN103608734A (zh) * 2011-05-14 2014-02-26 约翰逊控制器汽车电子有限责任公司 计时器设备及其操作方法
CN104412177B (zh) * 2012-07-13 2017-02-01 锡克拜控股有限公司 用于鉴定计时器的方法
CN103499918A (zh) * 2013-09-22 2014-01-08 天津市太阳精仪科技有限公司 一种智能型指针式时间累加计时器
CN111669155B (zh) * 2015-10-14 2023-03-14 慧荣科技股份有限公司 时钟校正方法与校正电路和参考时钟产生方法与产生电路
CN111669155A (zh) * 2015-10-14 2020-09-15 慧荣科技股份有限公司 时钟校正方法与校正电路和参考时钟产生方法与产生电路
CN107015471B (zh) * 2015-11-13 2020-06-30 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 石英手表的日差率的测试方法
TWI698726B (zh) * 2015-11-13 2020-07-11 瑞士商伊塔瑞士鐘錶製造公司 測試石英錶的速率之方法及裝置
CN107015471A (zh) * 2015-11-13 2017-08-04 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 石英手表的日差率的测试方法
CN109001970A (zh) * 2017-06-07 2018-12-14 精工爱普生株式会社 计时装置、电子设备以及移动体
CN109001970B (zh) * 2017-06-07 2021-09-24 精工爱普生株式会社 计时装置、电子设备以及移动体
CN109691828A (zh) * 2017-10-23 2019-04-30 哈里·温斯顿公司 用于电子机械表的展示盒和包括该展示盒的组件
CN109691828B (zh) * 2017-10-23 2021-01-08 哈里·温斯顿公司 用于电子机械表的展示盒和包括该展示盒的组件
CN110941174A (zh) * 2018-09-20 2020-03-31 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 用于调节包含在电子手表中的时基的平均频率的方法
CN110941174B (zh) * 2018-09-20 2021-07-27 Eta瑞士钟表制造股份有限公司 用于调节包含在电子手表中的时基的平均频率的方法
US11537087B2 (en) 2018-09-20 2022-12-27 Eta Sa Manufacture Horlogere Suisse Method for adjusting the mean frequency of a time base incorporated in an electronic watch
CN112051723A (zh) * 2019-06-06 2020-12-08 斯沃奇集团研究及开发有限公司 在其模拟时间显示装置中包括连续旋转机电换能器的时计的精度的测量
CN112051723B (zh) * 2019-06-06 2021-12-17 斯沃奇集团研究及开发有限公司 包括连续旋转机电换能器的时计的精度的测量

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