CN1288643C - 光盘及其信息再现设备 - Google Patents

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Abstract

一种光盘，包括以具有预定轨道间距的凹坑序列来记录信息的一个信息记录层、和形成在信息记录层之上的一个透光层，以便通过由经过物镜、并穿过透光层射向信息记录层的光束使信息被再现。该光盘的特征在于满足关系式0.194(λ/NA)2≤TP×Tmin≤0.264(λ/NA)2，假设轨道间距为TP，凹坑最短长度为Tmin，光束波长为λ，物镜的数值孔径为NA。该光盘的特征在于在轨道间距0.280到0.325μm的范围内、凹坑宽度为120nm或更小。

Description

光盘及其信息再现设备
技术领域
本发明涉及一种以凹坑序列的形式记录信息的光盘，以及用于安装这种光盘并使用光束来再现其上的信息的信息再现设备。
背景技术
传统上，DVD(数字通用光盘)是作为一种密集信息记录的光盘而被研制的。DVD可以通过数值孔径NA为0.6的光学系统用波长为650nm的光束照射光盘，从在一张光盘的一个表面上记录2.6MB的数据。DVD还能够在其一个表面上记录将近一个小时的视频信号。
同时，家用磁带录像机的基本记录时间为接近两个小时。为了保证磁带录像机对光盘和播放器或信息再现设备的操作，就需要对光盘记录更多的数据。同时，为了实现通过充分利用光盘的随机存取功能而进行的编辑之类的处理，就需要记录将近三个小时的视频信号。
并且，市场上需要一种用于高密度再现的专门的光盘。BS(广播卫星)的数字电视广播所能提供的数字HDTV(数字高清晰度电视)的传送率预计为20至24mbps。记录一个电影那么多的数字HDTV视频信号，即大约两个半小时或150分钟，需要22.5至27GB＝(20-25Mbps)/(8(bits)/1000×150(min.)×60(sec.)。基本上，信息再现设备的再现能力是通过一个物镜NA和一个波长为λ的读出光束而得到的NA/λ决定的。从而有可能通过增加NA和减小λ来提高光盘的记录/再现密度。目前的DVD所使用的光盘系统，一般λ＝650nm和NA＝0.6，光盘信息记录层的最外层表面和反射记录表面之间的透光层厚度为0.6mm。
例如，日本专利号为2,704,107的专利中公开了一种光盘，其轨道间距为(0.72-0.8)×λ/NA/1.14μm，凹坑宽度或其上部宽度为(0.3-0.45)×λ/NA/1.14μm，凹坑底部宽度或下部宽度为(0.2-0.25)×λ/NA/1.14μm，假设再现光束的波长为λ[μm]，物镜的数值孔径为NA。在这种光盘系统中，通过在上述轨道间距的范围中选择适当的凹坑形式，可以将相邻轨道间的串扰抑制在一定的值以内。
采用这种相关技术，当确定轨道间距和凹坑宽度时，如图1所示，单个频率的凹坑序列被假定来估计(作为串扰)一个光电检测器输出信号中基本频率成分的信号幅度，该输出信号是当再现光点扫描从轨道中心偏离一个定量的点时所获得的。
为了以更大的密度来记录数据，例如可假定，λ＝405nm且NA＝0.85，则使用这种技术的光盘可提供特定形式的凹坑，其轨道间距TP为0.301至0.334μm，凹坑上部宽度Wm为125至188nm，凹坑底部宽度Wi为80至100nm。但使用这种技术的光盘在再现时，其轨道间距和凹坑宽度的关系会偏离最佳值。其结果是，在RF信号性能中表示串扰信号幅度和主信号幅度的信噪比超过了-9dB，从而不可能保证足够的系统冗余度。
发明内容
因此，考虑到上述的问题而提出本发明。本发明的目的是提供一种新一代的光盘和信息再现设备，通过使用更短波长的再现光束和更大数值孔径的光学系统，与传统的DVD相比能够实现以更高的密度来记录数据。
根据本发明的光盘，包括一个信息记录层和一个透光层，该信息记录层以具有预定轨道间距的凹坑序列来记录信息，该透光层形成在所述信息记录层之上，使得利用经过物镜、并穿过所述透光层射向所述信息记录层的光束来再现所述信息，其特征在于，满足关系式0.194(λ/NA)2≤TP×Tmin≤0.264(λ/NA)2，其中TP为轨道间距，Tmin为凹坑最短长度，λ为光束波长，NA为所述物镜的数值孔径，以及在轨道间距为0.280到0.325μm的范围内、上部凹坑宽度为120nm或更小。
根据本发明的记录介质的一个方面，凹坑的底部宽度为40nm或更大。
根据本发明的记录介质的另一个方面，光束的波长λ为400到415nm，物镜的数值孔径NA为0.78到0.86。
根据本发明的光盘信息再现设备是一种信息再现设备，包括：用于可旋转地支撑一个光盘的装置，该光盘具有以预定轨道间距的凹坑序列来记录信息的信息记录层、和形成在所述信息记录层之上的一个透光层；用于发射光束的光源；一个物镜，用于使该光束穿过所述光盘的所述透光层聚焦到所述信息记录层上；一个照明光学系统，用于引导该光束射向所述物镜；以及一个检测光学系统，该检测光学系统包括光检测装置，用于引导来自所述信息记录层的反射光穿过所述物镜射向所述光检测装置；用于根据所述光检测装置的输出来再现记录在所述光盘上的信息的装置；其特征在于，所述光源是一个蓝色半导体激光器，其波长λ为400到415nm，所述物镜的数值孔径NA为0.78到0.86；所述光盘满足关系式0.194(λ/NA)2≤TP×Tmin≤0.264(λ/NA)2，其中TP为轨道间距，Tmin为凹坑最短长度，以及在轨道间距为0.280到0.325μm的范围内、上部凹坑宽度为120nm或更小。
在根据本发明的信息再现设备的一个方面中，凹坑的底部宽度为40nm或更大。
为了解决前述的问题，本发明人已经设计出一种适当的估计方法作为在λ＝405nm且NA＝0.85邻近的系统，并发现，通过使用与一光盘系统相同的轨道间距和凹坑宽度的范围使其进一步稳定。其结果是，发现轨道间距的范围应当设置在0.280到0.325μm之间，凹坑宽度应当为120nm或更小。这样一种光盘在再现时提供串扰信号幅度/主信号幅度之值(它表示RF信号特性中的优/劣)为-9dB或更低，这是没有实际问题的，从而实现一种稳定的系统。
附图说明
图1示出了在现有技术中一个光盘上的凹坑排列的示意图，用于估计相邻轨道之间的串扰；
图2是由于光盘倾斜而引起的慧星像差系数(comma aberrationcoefficient)之变化的曲线图；
图3是根据光盘中的散焦量的波前像差系数的变化的曲线图；
图4是根据本发明的凹坑排列的典型示意图，具有最短凹坑长度的凹坑以单周期排列在光盘的轨道上，用于以串扰信号幅度/主信号幅度的估计量计算主信号和串扰信号；
图5是根据本发明的凹坑排列的典型示意图，具有最长凹坑长度的凹坑以单周期排列在光盘的轨道上，用于以串扰信号幅度/主信号幅度的估计量计算主信号和串扰信号；
图6是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.044μm2之情况下的三维曲线图，示出了当轨道间距和凹坑宽度改变时、串扰信号幅度/主信号幅度的值的变化；
图7是对应于图6的二维曲线图；
图8是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.050μm2之情况下的三维曲线图，示出了当轨道间距和凹坑宽度改变时、串扰信号幅度/主信号幅度的值的变化；
图9是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.060μm2之情况下的三维曲线图，示出了当轨道间距和凹坑宽度改变时、串扰信号幅度/主信号幅度的值的变化；
图10是对应于图8的二维曲线图；
图11是对应于图9的二维曲线图；
图12是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.194(λ/NA)2之情况下，当数值孔径分别被给定为0.78时、串扰信号幅度/主信号幅度的比值的变化的三维曲线图；
图13是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.194(λ/NA)2之情况下，当数值孔径被分别给定为0.86时、串扰信号幅度/主信号幅度的比值的变化的三维曲线图；
图14是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.194(λ/NA)2之情况下，当光束波长被分别给定为415nm时、串扰信号幅度/主信号幅度的值的变化的三维曲线图；
图15是在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为0.194(λ/NA)2之情况下，当光束波长被分别给定为400nm时、串扰信号幅度/主信号幅度的值的变化的三维曲线图；
图16到图19是分别对应于图12到图15的二维曲线图；
图20是本发明一个实施例的光盘上的凹坑形式的典型示意图；
图21示出了本发明一个实施例的光盘中、主信号幅度Main(Tmin)、串扰信号幅度Cross Talk(Tmax)和串扰信号幅度/主信号幅度(CrossTalk/Main)的变化的曲线图，其中凹坑上部宽度固定为100nm，凹坑下部宽度从0变换至100nm；
图22至24分别示出了本发明实施例的光盘的主盘的典型截面示意图；
图25是光盘信息再现设备的再现光学系统的一种模型的典型示意图，图中示出具有光学读取装置的信息记录/再现设备的结构，作为一个实施例的示例。
具体实施方式
首先说明的是本发明所考虑的基本思路。本发明人通过采用电子束记录器(以下简称为EBR)来生产光盘，以便制作出宽度很窄的凹坑(Y.kojima，H.Kitahara，O.Kasono，M.Katsumura和Y.Wada：“高密度电子束”，Jpn.J.Appl.Phys.37(1998)p2137-2143)。同样，本发明的光盘系统的最佳轨道间距和凹坑宽度是通过光学仿真来确定的。
光盘倾斜时出现的慧星像差W31是由以下公式得到的：
W 31 = ( n 2 - 1 ) · Dth · ( NA ) 3 2 n 3 λ · Dti
这里，n是光盘基片的折射率，Dth是光盘基片的厚度，NA是数值孔径，Dti是光盘倾斜角度，λ是光束的波长。
在传统的DVD中，再现光束发送中所穿过的基片厚度为0.6mm。相应地，系统再现容限已由光盘相对于光束轴的倾斜度来决定，特别是由径向的倾斜而引起的慧星像差。对于一个系统，径向倾斜特性中最严格的是，轨道间距和凹坑宽度必须被充分优化以减少串扰。
在本发明的光盘系统中，若慧星像差被认为是由于光盘倾斜引起的，则当采用透光层的厚度如图2所示为0.1mm时，对本例中的光盘(NA，λ)＝(0.85，405nm)和传统的DVD(NA，λ)＝(0.60，650nm)之间进行比较，由于光盘倾斜而引起的慧星像差W31减小了。
另一方面，在散焦中的波前像差是由以下公式得到的：
W 20 = 1 - 1 - ( NA ) 2 λ · Ddef
由上述公式可看出，通过在此时光盘为(NA，λ)＝(0.85，405nm)的情况下，由于相同的散焦量Ddef而引起的波前像差量W20被增加到传统的DVD(NA，λ)＝(0.60，650nm)(参见图3)的约3.8倍。即在本发明的光盘系统中，散焦特性决定了系统再现容限。在散焦时，串扰信号增加了，符间干扰(被解释为相切的串扰)也增加了。从而，对于散焦特性严格的光盘系统，需要对轨道间距和凹坑宽度最优化，以充分减少串扰，同时减少符间干扰。
通常，符间干扰(inter-symbol interference)可通过增加主信号的幅度而被抑制。
因此，本发明建立了一种计算模型，用于确定轨道间距和凹坑宽度，如下：
(1)增加在轨道间距TP和最短凹坑长度Tmin的乘积为恒定(即记录密度是恒定的)(以下简写为TP×Tmin)的情况；
(2)估计值给定的，它不作为由再现光点从轨道中心偏离至轨道间的点而得到的信号幅度，而是作为串扰信号幅度/主信号幅度；
(3)为计算主信号，所采用的准则是，凹坑长度最短的凹坑以单周期被排列在轨道上，如图4所示。这是因为，在此条件下不容易出现符间干扰。同时，为计算一个串扰信号，就需要使凹坑长度最长的凹坑以单周期被排列在轨道上，如图5所示。这是因为，在此条件下不容易出现串扰。当再现光束扫描一个距离轨道上的点正好是一个轨道间距的点时，串扰信号幅度作为一个信号幅度被给出。此外，凹坑的截面形式是倾斜的表面，其一侧表面的宽度为0，即从顶表面至底表面的倾斜角度为90度。凹坑截面中具有倾斜表面角的情况将在以下说明。
使用此计算模型，在(NA，λ)＝(0.85，405nm)且TP×Tmin＝0.044μm2的情况下，改变轨道间距(μm)和凹坑宽度(nm)，对串扰信号幅度/主信号幅度(dB)的变化进行仿真，然后估计所确定的轨道间距和凹坑宽度的范围。TP×Tmin＝0.044μm2的值会被记录下来，该数据约为27GB，在调制(1，7)RLL下，以12cm直径的光盘来记录。这种密度足够记录2小时30分钟之量的HDTV视频图像，如上所述。
图6示出了仿真结果的三维曲线图。从图中可看出，在轨道间距0.24到0.36μm、凹坑宽度10到190nm的范围中，可确定表示底部值的分布是在轨道间距为0.3μm且凹坑宽度为10到40nm附近。
类似的，图7示出了该仿真结果的等值线图。可以认为，在串扰信号幅度/主信号幅度为-8到-9dB或更低(串扰信号为主信号的三分之一或更小)的情况下，几乎没有实际的问题。凹坑宽度如果更大一般会有利于S/N的抑制，因为获取主信号之绝对幅度的能力会变大。轨道间距如果更宽将有利于寻迹伺服系统。即，在图7中，期望的是，提供的串扰信号幅度/主信号幅度为-9dB或更低，并且是在尽可能靠右上方的区域中。
由上述讨论可看出，若不考虑实际问题而选择轨道间距和凹坑宽度，则得到图7中粗线标出的矩形区域A，即轨道间距为0.27到0.325μm且凹坑宽度为120nm或更小的范围内。
然后，在增加TP×Tmin的值(即减少记录容量)的情况下进行验证计算。
图8和图9的三维曲线图分别示出仿真结果，其中TP×Tmin的值分别为0.050μm2和0.060μm2。从这些三维曲线图可看出，分布范围是在串扰信号幅度/主信号幅度的值较低的情况下轨道间距和凹坑宽度的范围中的分布。类似的，图10和11分别为对应于图8和9的等值线图，从中可看出，即使TP×Tmin的值增加，串扰信号幅度/主信号幅度的值仍然能够保持很小，位于图10和11中的粗线区域A中，即在轨道间距为0.27到0.325μm且凹坑宽度为120nm或更小的范围以内。也就是说，应该理解的是，当TP×Tmin＝0.044μm2(对应于27GB的记录容量)时，如果限于选择范围，增加TP×Tmin(即减少记录容量)是完全没有问题的。
这里，TP×Tmin的值用(λ/NA)2来表示，从0.44μm2到0.060μm2的TP×Tmin的取值范围被给定为从0.194(λ/NA)2到0.264(λ/NA)2的范围。
由上述讨论可看出，对于从0.194(λ/NA)2到0.264(λ/NA)2的TP×Tmin的值，串扰和符间干扰可被抑制到很小的程度，从而使得轨道间距范围为0.270到0.325μm且凹坑宽度范围为120nm或更小不会存在实际问题。若使用(1，7)RLL调制，上述范围对应于在直径12cm的光盘中约27.1到19.9GB的数据记录。
然后，考虑改变数值孔径NA和光束波长λ的影响。这种情况下，TP×Tmin给定为0.194(λ/NA)2，作为在上述考虑中最严格的条件。
图12和图13示出了对于数值孔径NA为0.78和0.86，即(NA，λ)＝(0.78，405nm)和(NA，λ)＝(0.86，405nm)的仿真结果的三维曲线图。同时，图14和图15示出了对于光束波长λ为415nm和400nm，即(NA，λ)＝(0.85，415nm)和(NA，λ)＝(0.85，400nm)的仿真结果的三维曲线图。由这些三维曲线图可看出，即使数值孔径NA和光束波长λ改变，在串扰信号幅度/主信号幅度的值很小的情况下轨道间距和凹坑宽度的范围中的分布是基本合乎要求的。类似的，图16到19分别为对应于图12到15的等值线图，从这些图中可看出，尤其是当给定NA＝0.78时，如图16所示，需要将轨道间距的下限从0.27μm缩减为0.28μm。除此之外，可以看出，轨道间距和凹坑宽度的范围是没有问题的。
通过总结上述结果，应该理解以下内容。
在一个光盘系统中，利用TP×Tmin为0.194(λ/NA)2到0.264(λ/NA)2的范围内、NA选自0.78到0.86且波长λ选自400到415nm的条件，通过设置轨道间距范围为0.280到0.325μm且凹坑宽度范围为120nm或更小，串扰和符间干扰可被抑制到很小的程度，从而使得不会有实际的问题。
另一方面，在制造专门的再现光盘时，激光束记录器(以下简称为LBR)已经被用于形成凹坑。然而，对于LBR，仅限于形成凹坑宽度＝200nm左右的凹坑。
然而EBR的使用使得实现上述凹坑宽度成为可能。与采用LBR形成的凹坑相比，使用EBR形成的凹坑在凹坑倾斜部分中要窄小得多。然而不可能的是，使凹坑的上部宽度和下部宽度(底部宽度)符合上述考虑中所采用的模型。
因此，当凹坑上部宽度固定时，已经考虑到对缩小凹坑下部宽度的影响。图20是说明本发明光盘中的凹坑形式的示意图。在此情况下，凹坑10的外围边缘的倾斜是梯度递减的，其底部基本是平坦的。标号11是凹坑10在光盘径向(轨道宽度方向)中的截面图，12是在光盘圆周方向(轨道方向)上的截面图，Wm是凹坑10的上部开口在轨道宽度方向上的长度(上部宽度)，Wi是凹坑10的底部在轨道宽度方向上的长度(下部宽度)。假定(NA，λ)＝(0.85，405nm)且TP×Tmin＝0.194(λ/NA)2，通过使凹坑的上部宽度Wm固定为100μm，凹坑的下部宽度Wi从大于0变为100nm，如图20所示。对于这种光盘，一种具有轨道间距＝0.30μm、最短凹坑长度＝0.147μm的光盘与之对应。
图21示出这种仿真结果的曲线图。由图可看出，若凹坑上部宽度固定，则主信号幅度Main(Tmin)和串扰信号幅度Cross Talk(Tmax)的变化是相似的。因此，可以理解的是，即使凹坑下部宽度变窄了，串扰信号幅度/主信号幅度(Cross-Talk/Main)的值几乎没有变化。
也就是说，应该理解的是，上述轨道间距和凹坑宽度的范围是有效的，不依赖于凹坑下部宽度的取值。
然而，若凹坑下部宽度过于狭窄，则在制造专门的再现光盘中形成凹坑时会发生变化，从而难以获得有良好再现能力的凹坑形式。也就是说，在制造主盘时，由于保护材料的类型、薄膜厚度的分布和成形条件的改变，凹进侧面的倾斜角度是很难控制的，从而造成凹坑凹进面没有形成底部的情况。
以下将详细说明若凹坑下部宽度变窄、凹坑的形成就很难稳定的原因。
在由EBR的光盘制造中，主盘上被施加一层保护层。它被旋转着，通过向主盘照射电子束进行曝光。然后，保护层被显影，从而在曝光区域形成对应于凹坑的凹进。
图22和23示出了主盘截面的典型示意图，一个凹坑的凹进面通常与深度方向成一定的角度形成。这个角度的改变不仅仅依赖于保护层的类型，还依赖于曝光强度分布、显影处理等等，从而很难做精确控制。某种程度上来说变化是不可避免的。
图22和23分别表示凹进面的斜度改变的情况，假定凹坑深度为64nm，凹坑上部宽度为110nm。
图22表示侧面倾斜角度从75度角的中心已改变±10度的方式。凹坑下部宽度依赖于该斜度而改变，即侧面斜度为75度时，宽度为76nm，65度时为50nm，85度时为99nm。
同时，图23表示侧面的倾斜角度从50度角已改变±10度作为中心的方式。当侧面的倾斜角度为50度时，凹坑下部宽度为2.6nm，几乎提供一个三角形的截面。因此，当倾斜角为60度时，凹坑下部宽度为36nm。然而，在40度的情况下，凹坑不能形成要求的深度64nm(λ/6.25)。由此可看出，在主盘的制造中，若凹坑的下部宽度过于狭窄，则很难稳定地形成具有所要求的深度的凹坑。
随着凹坑宽度变得更窄，使用由主盘制成的盘基(stumper)而进行树脂的注入模压就变得很困难。通过实验得到的极限检测结果是，对于深度60nm(λ/6.66)、倾斜角度约为90度的凹坑，最小宽度为40nm。因此，应该考虑的是，此成形是可能的，其中凹坑下部宽度为40nm或更大且凹坑上部宽度大于此宽度。基于这种设想，假定凹坑下部宽度为40nm，对主盘的截面做出设想。在此情况下为61度。假定由图24所示，倾斜角偏离作为中心的点±10度。这样，当凹坑下部宽度为40nm时，即使由于制造中的变化使倾斜角被减少了10度，凹进的底部也不可能变浅。
根据上述实验之重复的结果，可以发现，光盘的凹坑下部宽度应当大于或等于40nm。
综合上述的所有考虑可发现以下内容。
在一个光盘系统中，利用在TP×Tmin为0.194(λ/NA)2到0.264(λ/NA)2的范围内、NA从0.78到0.86且波长λ为400到415nm的条件，通过设置轨道间距为0.280到0.325μm、凹坑宽度为120nm或更小，以及凹坑下部宽度为40nm或更大，能够稳定地制造专门的再现光盘，这种光盘具有的串扰和符间干扰被抑制在很小的程度，而不会有实际问题。该凹坑宽度是一个凹坑最大宽度。
图25是根据本发明的光盘信息再现设备的再现光学系统的示意图，示出配置有光学读取装置的光学记录/再现设备的示意结构。一个光学读取器具有蓝色半导体激光器LD1，用于发射短波长的蓝光部分，该蓝光部分的波长约为400nm到415nm，最好为405nm左右。
该光学读取器具有一个极化光束分离器13，一个校准透镜14，一个1/4波长板15和两组透镜单元16。通过上述照明光学系统，半导体激光器LD1发出的激光束被校准透镜14转化为一校准光束。该光束然后穿过极化光束分离器13并通过1/4波长板15被传送，并由物镜单元16会聚到置于其焦点周围的光盘5上。因此，在光盘5的信息记录表面的凹坑序列上形成一个光点。
除了上述照明光学系统，光学读取器还包括一个光检测光学系统，例如检测透镜17。在该光检测光学系统中也使用了物镜单元16、1/4波长板15和极化光束分离器13。光盘5上反射的光由物镜单元16进行会聚，并穿过1/4波长板15，然后通过极化光束分离器13使其射向检测聚焦透镜17。由检测透镜17聚集的会聚光通过散光发生元件(未示出)，例如圆柱形透镜或多重透镜，以在光电检测器的光接收表面19的中心或其周围形成光点。
同时，光电检测器的光接收表面19与解调器30和误差检测电路31连接。该误差检测电路31与用于驱动一机构的驱动电路33连接，该机构包括用于物镜单元的寻迹控制和聚焦控制的致动器26。
该光电检测器向解调电路30和误差检测电路31提供一个电信号，该电信号相关于光接收表面19的中心或其周围形成的光点图像。解调电路30基于该电信号产生一个记录信号。误差检测电路31根据该电信号产生聚焦误差信号、寻迹误差信号、和其他伺服信号，并通过相对该致动器的驱动电路33将各驱动信号提供给各致动器。这些致动器根据各驱动信号在伺服控制下驱动物镜单元16等。
下面说明根据本发明的光盘结构。一透光树脂(如聚碳酸酯或丙烯酸树脂)制成的圆形基片在其一个表面上沉积有铝或类似材料的反射膜，该圆形基底具有如上述的模压凹坑，其上形成有一厚度为0.1mm的透光层。读取是在透光层侧进行。同时，通过热固型的粘接层或类似层使两个基片相对并粘接在一起，可以形成双面盘。该光盘的中心开有一个夹持孔，在其周围设有一个夹持区。
工业实用性
如上所述，根据本发明的光盘具有轨道间距和凹坑宽度最优化的凹坑形式，从而将再现的RF信号特性中表示优和劣的串扰信号幅度/主信号幅度降低到-9dB或更低，从而保证了足够的系统容限，与DVD相比，大大增加了信息记录密度。

Claims (5)

1、一种光盘，包括一个信息记录层和一个透光层，该信息记录层以具有预定轨道间距的凹坑序列来记录信息，该透光层形成在所述信息记录层之上，使得利用经过物镜、并穿过所述透光层射向所述信息记录层的光束来再现所述信息，其特征在于，满足关系式0.194(λ/NA)2≤TP×Tmin≤0.264(λ/NA)2，其中TP为轨道间距，Tmin为凹坑最短长度，λ为光束波长，NA为所述物镜的数值孔径，以及在轨道间距为0.280到0.325μm的范围内、上部凹坑宽度为120nm或更小。
2、根据权利要求1所述的光盘，其特征在于：凹坑的底部宽度为40nm或更大。
3、根据权利要求1或2所述的光盘，其特征在于：光束的波长λ为400到415nm，所述物镜的数值孔径NA为0.78到0.86。
4、一种信息再现设备，包括：用于可旋转地支撑一个光盘的装置，该光盘具有以预定轨道间距的凹坑序列来记录信息的信息记录层、和形成在所述信息记录层之上的一个透光层；用于发射光束的光源；一个物镜，用于使该光束穿过所述光盘的所述透光层聚焦到所述信息记录层上；一个照明光学系统，用于引导该光束射向所述物镜；以及一个检测光学系统，该检测光学系统包括光检测装置，用于引导来自所述信息记录层的反射光穿过所述物镜射向所述光检测装置；用于根据所述光检测装置的输出来再现记录在所述光盘上的信息的装置；
其特征在于，所述光源是一个蓝色半导体激光器，其波长λ为400到415nm，所述物镜的数值孔径NA为0.78到0.86；所述光盘满足关系式0.194(λ/NA)2≤TP×Tmin≤0.264(λ/NA)2，其中TP为轨道间距，Tmin为凹坑最短长度，以及在轨道间距为0.280到0.325μm的范围内、上部凹坑宽度为120nm或更小。
5、根据权利要求4所述的信息再现设备，其特征在于：凹坑的底部宽度为40nm或更大。
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