CN1239289A - 光记录介质及其重放方法与装置 - Google Patents

Abstract

一种具有以高密度记录的信息的光记录介质，和用来重放该光记录介质的光重放方法和装置。光记录介质有信息记录面，信息记录面具有作为凹坑列记录的信息并由具有同心圆周和螺旋形态二者之一的形式的光道组成，而且至少两个凹坑列被相邻设置以使其由单个光束重放。以双或三重凹坑列形态存储信息，所以记录密度可被提高至少两倍以上。当双凹坑的总长作为单个凹坑长记录时，其具有随现有光记录介质如CD和DVD等而变化的可变性。

Description

光记录介质及其重放方法与装置

本发明涉及一种用来光学记录和重放各种信息信号如图象信息等的光记录介质，尤其涉及一种在其上以高密度来记录信息的光记录介质。而且，本发明还涉及重放记录在高密度记录介质上的信息的方法和装置。

最近，光记录介质和电磁记录介质等作为记录各种信息如音频和视频信息等的信息记录介质在商业上已经被广泛应用。在光记录介质中，已推广或发展了只读型盘如CD-ROM和包括现有的CD(致密盘)的DVD-ROM、WORM型盘(可写入一次读出多次)如CD-R(可记录的)和DVD-R等，以及可重写盘如CD-RW(可重写的)和DVD-RAM等。

在这种光记录介质中，只读型盘的结构组成包括通常由聚碳酸脂等构成的在其一面上记录信息的透明衬底，淀积在透明衬底的信息记录面上由高反射率的铝材料构成的反射膜，和形成于反射膜上由塑性材料等构成的保护层。在透明衬底的信息记录面上，信息以记录标记的形式被记录，例如凹形和凸形的凹坑列。换言之，如图1所示，光记录介质10以凹坑列形态12存储信息，其使得光道以螺旋或同心圆周的形态从内圆周侧向外圆周侧延伸。

以这种方式记录在光记录介质上的信息由光拾取器将光束透过透明衬底照射到要被重放的光道上并检测反射光的数量来被重放。在这种情况下，从凹坑12A之间的镜面12B反射来的反射光被检测为“亮”，而从凹坑12A反射来的反射光被检测为“暗”。这是由照射到镜面12B上的光束穿透镜面12B并被反射膜完全反射而照射到凹坑12A上的光束被凹坑12A漫反射减小反射率的事实所引起的。检测为“亮”或“暗”的反射光束通过光电检测器被转换为电信号形态，然后被信号处理使得其被重放为信道位流形态的信息。这种重放机制已经被类似地应用在根据凹坑列12的记录方法之外的相位改变光磁记录系统中。

参考图2，其示出了传统光记录介质所用的记录和重放方法的过程。当信息在步骤1被记录在记录介质上时，要被记录的用户数据被加上用于预定区段单元的纠错码(ECC)并被分为扇区单元，从而其被转换为数据信道的形态。在步骤2，数据信道被调制并被加上帧单元中的同步信号而被转换为信道位流(CBS)形态。然后，在步骤3，信道位流被光调制并应用于光拾取器的光源。在步骤4，根据经光调制和输入的记录数据，光源发射记录光束从而以凹坑列12的形态记录信息，如图3所示。上面提到的记录过程被类似应用于可记录光记录介质和只读型光记录介质(如ROM型盘)中使用曝光装置的盘制造过程。

另一方面，当记录在如图3所示的光记录介质上的信息被重放时，在步骤5，从光源发出重放光束来跟踪由光记录介质10的凹坑列所限定的光道。如图3所示，检测光记录介质10反射的光数量并将其转换为电信号，从而检测到重放信号，即，射频(RF)信号。在这种情况下，射频信号RF在凹坑12A具有低电平而在镜面12B具有高电平。在步骤6，这种射频信号被均衡和限幅使得其被转换为如图3所示的信道位流CBS形态。信道位流CBS在步骤7被解调为数据信道形态并在步骤8处理包括在数据信道中的纠错码，从而重放记录在光记录介质上的用户数据。

在具有这种记录和重放机制的光记录介质中，考虑到记录高容量信息如动画等的需求趋势越来越强烈，已经尝试了各种增加记录密度的方案。尤其在CD和DVD中已经尝试了一种减少记录标记或凹坑尺寸或减少光道道间距来增加记录密度的方案。为此发展了利用短波长光源来扩大物镜的孔径值并减少光束的光斑尺寸的技术。但是，由于减少光束的光斑尺寸最终是有限的，减少凹坑尺寸和光道道间距必须被限制。

例如，只读型光记录介质是这样制造的，使用曝光装置准备由所需的凹坑来限定的盘的圆形盘片，进行形成于圆形盘片的凹坑的反向转录来制备压模，而后复制盘片，即用压模来模压盘片衬底。最近，相应于氩(Ar)激光器等的发展可能形成很小的凹坑。但是在重放装置中，还没有相应于小凹坑的光源。因此，由于凹坑的尺寸和光道道间距应被限制在能被重放装置读出的范围内，其限制了只读型光记录介质的容量扩大。

相应地，本发明的一个目的是提供一种能够扩大记录密度的光记录介质。

本发明的另一个目的是提供一种能够增加记录密度并能随现有记录介质如CD、DVD等变化而变化的光记录介质。

本发明还有一个目的是提供一种用来重放记录在上述光记录介质上的信息的光重放方法和装置。

本发明还有一个目的是提供一种能应用具有相对较长波长的光源重放以高密度记录的信息的光重放方法和装置。

本发明还有一个目的是提供一种在光道已与短波长光源一致形成时能重放由长波长光源记录在光道上的信息的光重放方法和装置。

为了实现本发明的这些和其他目的，根据本发明的一方面的光记录介质包括衬底，和具有作为凹坑列被记录的信息并由同心圆周和螺旋形态中任一种形态的光道组成的信息记录面，其中至少两个凹坑列被相邻安置使得其被单个光束重放。

根据本发明的另一方面的光重放方法包括以下步骤：对于具有其中作为凹坑列来记录信息的光道的光记录介质将单个光束照射到至少两个光道；应用被分为多个的光电检测器检测来自光记录介质的反射光并对其进行转换，并复合被转换的光检测信号从而检测多个射频信号；处理该多个射频信号来检测相应于所述至少两个光道中每一个的信息。

根据本发明的另一方面的光重放装置包括：对于具有其中作为凹坑列来记录信息的光道的光记录介质，用来将单个光束照射到至少两个光道的光束产生装置；用来把从光记录介质反射来的光分为多个并对其进行检测和转换，以及复合被转换的光检测信号从而检测多个射频信号的信号检测装置；用来处理所述多个射频信号来检测相应于所述至少两个光道的每一个的信息的装置。

本发明的这些和其他目的通过下面参考附图对本发明实施例的详细描述变得更加明显，其中：

图1表示在传统光记录介质上限定的凹坑列；

图2是解释用于传统光记录介质的记录和重放方法的流程图；

图3是表示从传统光记录介质上限定的凹坑列被重放的信号的波形图；

图4表示根据本发明的实施例的光记录介质上限定的双凹坑列；

图5是表示光重放装置的构造的方块图；

图6是图5中的信号检测器的详细电路图；

图7是图5中的信号处理器的详细电路图；

图8是代表从图6所示的信号检测器和图7所示的信号处理器的每个结构件输出的信号的波形图；

图9是图7所示的逻辑算术单元的第二实施例的电路图；

图10是图5所示的信号处理器的第二实施例的电路图；

图11是表示图10所示的信号处理器中包括的每个结构件的输入和输出信号的波形图；

图12是图5所示的信号处理器的第三实施例的电路图；

图13是表示图12所示的信号处理器中包括的每个结构件的输入和输出信号的波形图；

图14是图5所示的寻道误差检测器的第一实施例的电路图；

图15是图5所示的寻道误差检测器的第二实施例的电路图；

图16是图5所示的寻道误差检测器的第三实施例的电路图；

图17是图5所示的寻道误差检测器的第四实施例的电路图；

图18A和18B是用于解释图4所示凹坑的宽度的情况的视图；

图19是代表当凹坑宽度满足图18所示状态时从图5所示的信号检测器输出的信号的波形图；

图20表示根据本发明又一实施例的光记录介质上限定的三重凹坑列的结构；

图21表示图5所示的信号处理器的第四实施例的电路图；

图22是表示图21所示的信号处理器中包括的每个结构件的输入和输出信号的波形图；

图23表示重放光束与只读型高密度光记录介质的光道结构的关系；

图24表示当图23的光记录介质被图5的光重放装置重放时信号处理器的又一实施例；

图25表示重放光束与可记录高密度光记录介质以及重放光束检测的信号波形之间的关系。

参考图4，表示记录在根据本发明一个实施例的光记录介质20上的凹坑列的形态。光记录介质20包括相邻设置在沿光道基准线的上下位置处的双凹坑列。

在图4所示的光记录介质中，双凹坑列22构成螺旋或同心圆周状光道。双凹坑列22包括沿光道中心线相邻设置的第一和第二凹坑列P1和P2。第一和第二凹坑列P1和P2由单个光束访问。换言之，第一和第二凹坑列P1和P2相邻设置使得它们可被单个光束访问。这种情况下，第一和第二凹坑列P1和P2的图形可应用于如图4所示的彼此互相接触的情况，也适于可被单个光束访问的被某间距分隔开的情况。这种第一和第二凹坑列P1和P2可与不同信道的信息或与同一信道的信息一致地被记录。

首先，当第一和第二凹坑列P1和P2与不同信道的信息一致地被记录时，假设第一和第二凹坑列P1和P2分别对应于第一和第二信道CH1和CH2。在这种情况下，两个信道CH1和CH2的信息可同时被单个光束检测到，可经适当的信号处理过程进行分离以同时被重放。而且当其倾向于仅使用第一信道CH1或第二信道CH2时，仅仅所需信道的信息被重放。其次，当第一和第二凹坑列P1和P2与同一信道的信息一致地被记录时，假设第一和第二凹坑列P1和P2通过将单个信道的信息进行分时并在第一和第二凹坑列P1和P2之间交替使用来被记录。在这种情况下，相应于第一和第二凹坑列P1和P2的第一和第二信道CH1和CH2的信息同时被重放。随后，以象初始信息一样的时间顺序设置的单个信道的信息可通过在每特定周期交替选择第一和第二信道CH1和CH2的重放信息而被重放。如上所述，由于根据本发明的光记录介质以双凹坑列的形态存储信息并重放存储的信息，其可提高记录密度达两倍之多。

而且，根据本发明的光记录介质能以这种方式记录信息使得一个双凹坑22A对应于现有的单个凹坑，从而随记录介质如现有的CD和DVD等变化而变化。换言之，有可能通过使一个双凹坑22A的总长对应于传统的凹坑长来记录信息。这种情况下，其优点在于，因为根据本发明存储在光记录介质中的信息可由现有光记录介质(如CD、DVD等)所用的驱动装置来重放，根据本发明的光记录介质可随现有光记录介质而改变。

因此，根据本发明的光记录介质以双凹坑列形态来存储信息以增加记录密度达至少两倍，并且当双凹坑的总长度作为单个凹坑长度来记录时，其具有随现有光记录介质如CD和DVD等而改变的特性。而且根据本发明的光记录介质可以相似方式用于以上面提到的凹坑形态记录的只读型介质，也可用于可记录介质，即，相位改变记录介质和光磁记录介质。例如，在相位改变或光磁记录介质情况下，记录信息(或数据)以图4所示的双凹坑形态构成了相位改变或光磁记录标记。而且，在凸区/凹槽记录系统情况下，标记(或凹坑)如图4所示被限定，其中第一凹坑列P1和第二凹坑列P2可分别记录在凸区和凹槽。以下，凹坑和标记等将被称作“凹坑”。以这种方式记录的凹坑列可由随后描述的方法来重放。

现在参考图5，表示用于从图4所示光记录介质重放信息的光重放装置。该光重放装置包括：光拾取器26，用来把光束照射到经主轴马达24旋转的光记录介质20上并检测反射光束和对其进行光电转换；信号检测器28，用于从光拾取器26输出的信号中检测两个射频信号；信号处理器30，用于处理来自信号检测器28的射频信号并输出信道位流CBS；寻道误差检测器32，用于从射频信号检测寻道误差信号Te；和寻道伺服34，响应于从寻道误差检测器32输出的寻道误差信号Te来执行寻道补偿。

在图5所示的光重放装置中，光记录介质20存储以图4所示的双凹坑列22形态记录的信息。光拾取器26把从光源输出的光束以一种方式照射到经主轴马达24旋转的光记录介质20的信息记录面上从而跟踪光道的中心。通常被分为多个光电检测单元的光电检测器检测反射光束的数量并将其转换为多个电信号。信号检测器28从由光拾取器26输出的多个电信号检测射频信号RF和差分射频信号DRF。信号处理器30把从信号检测器28输出的射频信号RF和差分射频信号DRF进行电平限幅(level-slice)以将其转换为矩形波，并且此后进行逻辑运算，从而产生信道位流CBS。寻道误差检测器32应用从信号检测器28输出的参考信号RF和差分射频信号DRF。寻道伺服34响应于寻道误差检测器32输出的寻道误差信号Te来产生寻道补偿信号，从而控制施加给光拾取器26的致动器的电流信号或电压信号。相应地，光拾取器26向上或向下移动物镜，即根据寻道伺服34输出的寻道补偿信号朝向内圆周侧或外圆周侧移动从而允许光束跟踪双凹坑列22的中心线。

参考图6，详细表示了连接于图5中的光拾取器26中包括的光电检测器的信号检测器28。示于图6的光电检测器PD包括4个沿切向被分开的光电检测单元PDa、PDb、PDc、PDd，即，沿光道方向和径向，从而照射到光道的光束的分布状态可被准确检测到。四个分立的在光道方向的基底上顺时针方向顺序设置的光电检测单元Pda、PDb、PDc、PDd的每一个将反射光数量转换为电信号以产生正比于反射光数量的电信号a、b、c、d。信号检测器28处理从分为四部分的光电检测器PD输出的信号a、b、c、d以产生射频信号RF和差分射频信号DRF。为此，信号检测器28包括加法放大器28A和差分放大器28B。在信号检测器28中，加法放大器28A把来自光电检测器PD的4个光电检测单元PDa、PDb、PDc、PDd的输出信号相加以产生射频信号RF。在这种情况下，从加法放大器28A输出的射频信号RF呈现具有三态电平的电压波形，如图8所示。具体地说，在所有第一和第二凹坑列P1和P2均为镜面时产生高电平电压；当仅有第一和第二凹坑列P1和P2中任何一个为凹坑时产生中间电平电压；在所有第一和第二凹坑列P1和P2均为凹坑时产生低电平电压。差分放大器28B对从位于左侧的两个光电检测单元PDa和PDd产生的两个电信号a和d的和对位于右侧的两个光电检测单元PDb和PDc产生的两个电信号b和c的和进行差分放大从而产生差分射频信号DRF。从差分放大器28B输出的差分射频信号DRF也以三态电平的电压波形出现，如图8所示。具体地说，在所有第一和第二凹坑列P1和P2为镜面和凹坑时产生中间电平电压；当仅有内圆周侧的第一凹坑列P1为凹坑时产生低电平电压；仅在外圆周侧的第二凹坑列P2为凹坑时产生高电平电压。

同时，当光电检测器PD由如图6A所示的在光道方向上分隔成的两个光电检测单元PDx和PDy组成时，信号检测器28把从每个光电检测单元PDx和PDy输出的信号x和y相加并放大来检测射频信号RF，并差分放大输出信号x和y来检测差分射频信号DRF。

现参考图7，表示了图5中的信号处理器30的第一实施例的具体电路。信号处理器30包括：比较器36，用来对射频信号RF和差分射频信号DRF进行电平限幅来产生矩形检测信号D1、D2、D3和D4；和逻辑算术单元38，用来对比较器36输出的检测信号D1、D2、D3和D4进行逻辑运算来产生分别相应于第一和第二凹坑列P1和P2的第一和第二信道位流CBS1和CBS2。

在图7所示的信号处理器30中，比较器36包括用来把射频信号RF电平限幅为不同参考电压的第一和第二比较器36A和36B，和用来把差分射频信号DRF电平限幅为不同参考信号的第三和第四比较器36C和36D。在比较器36中，第一比较器36A检测第一和第二凹坑列P1和P2均为镜面的部分。为此，第一比较器36A把射频信号RF与第一参考电压Vref1进行比较以产生图8所示的射频信号RF为高电平时的具有高电平状态的第一检测信号D1。第一参考电压Vref1被设置为高电平和中间电平之间的一个电压值。第二比较器36B检测第一和第二凹坑列P1和P2均为凹坑的部分。为此，第二比较器36B把射频信号RF与第二参考电压Vref2进行比较以产生图8所示的仅在射频信号RF的低电平时的具有低电平状态的第二检测信号D2。第二参考电压Vref2被设置为高频信号RF的中间电平和低电平之间的一个电压值。第三比较器36C检测仅外圆周侧的第二凹坑列P2为凹坑的部分。为此，第三比较器36C把差分射频信号DRF与第三参考电压Vref3进行比较以产生图8所示的仅在差分射频信号DRF的高电平中的具有高电平状态的第三检测信号D3。第三参考电压Vref3被设置为差分射频信号DRF的高电平和中间电平之间的一个电压值。第四比较器36D检测仅内圆周侧的第一凹坑列P1为凹坑的部分。为此，第四比较器36D把差分射频信号DRF与第四参考电压Vref4进行比较以产生图8所示的仅在差分射频信号DRF的低电平中具有低电平状态的第四检测信号D4。第四参考电压Vref4被设置为差分射频信号DRF的中间电平和低电平之间的一个电压值。

如图7所示的逻辑算术单元38应用比较器36检测到的第一到第四检测信号D1、D2、D3和D4并对其进行下面布尔代数表达式所给出的逻辑运算，从而同时检测相应于第一凹坑列P1的第一信道位流CBS1和相应于第二凹坑列P2的第二信道位流CBS2。

CBS1＝D1＋D3＝D2D4

CBS2＝D2 D3＝D1＋ D4    ……….(1)

具体地说，逻辑算术单元38对第一检测信号D1和第三检测信号D3进行逻辑和运算或对第二检测信号D2和第四检测信号D4进行逻辑乘运算，从而检测第一信道位流CBS1。而且，逻辑算术单元38对第二检测信号D2和第三检测信号的反相 D3进行逻辑乘运算或对第一检测信号D1和第四检测信号的反相 D4进行逻辑和运算，从而检测第二信道位流CBS2。因此，逻辑算术单元30的结构结合了检测第一信道位流CBS1的两种情况和检测第二信道位流CBS2的两种情况而有四种情况。第一到第四检测信号D1到D4的任何一个都可能未用于具有这四种情况的逻辑算术单元30的每个结构。

例如，图7所示，逻辑算术单元38包括用来对第一和第三检测信号D1和D3进行逻辑和运算的OR门OR，用来对第三检测信号D3进行反相的反相器INV，和用来对反相的第三检测信号 D3和第二检测信号D2进行逻辑乘运算的AND门AND。OR门OR对第一和第三检测信号D1和D3进行逻辑和运算产生如图8所示的第一信道位流CBS1。AND门AND对反相的第三信号 D3和第二检测信号D2进行逻辑乘运算产生如图8所示的第二信道位流CBS2。在这种情况下，应注意在逻辑运算中未使用第四检测信号D4。

而且，如图9所示，逻辑算术单元38包括用来对第二检测信号D2和第四检测信号D4进行逻辑乘运算的AND门AND2，用来对第四检测信号D4进行反相的反相器INV2，和用来对相位改变的检测信号 D4和第一检测信号D1进行逻辑和运算的OR门OR2。AND门AND2接收第二检测信号D2和第四检测信号D4并对其进行逻辑乘运算产生第一信道位流CBS1。OR门OR2输入相位改变的第四检测信号 D4和第一检测信号D1并对其进行逻辑和运算产生第二信道位流CBS2。在这种情况下，应注意在逻辑运算中未使用第三检测信号D3。

现参考图10，详细表示了图5中的信号处理器30的第二实施例的电路。信号处理器30利用射频信号RF和差分射频信号DRF的和信号来检测相应于第一凹坑列P1的第一信道位流CBS1；而利用射频信号RF和差分射频信号DRF的差分信号来检测相应于第二凹坑列P2的第二信道位流CBS2。为此，信号处理器30包括：用来放大差分射频信号DRF的放大器40，用来产生射频信号RF和放大的差分射频信号DRF的和信号MS的加法器42，用来产生射频信号RF和放大的差分射频信号DRF之间的差分信号SS的减法器44，用来对和信号MS进行零交叉的第一比较器46和第一积分器48，以及用来对差分信号SS进行零交叉的第二比较器50和第二积分器52。放大器40以预定倍数α放大差分射频信号DRF并将其输出。加法器42把射频信号DRF加到放大的差分射频信号DRF上产生如图11所示的和信号MS。减法器44从射频信号RF中减去放大的差分射频信号DRF产生如图11所示的差分信号SS。第一比较器46把从加法器42输出的和信号MS与参考电压作比较，即，与第一积分器48输出的中心电压比较产生第一信道位流CBS1。在这种情况下，第一信道位流CBS1以在和信号MS大于中心电压时具有高电平状态而和信号MS小于中心电压时具有低电平状态的矩形波形态来产生。第一积分器48连接在第一比较器46的输出端子和反相输入端子(-)之间来对第一比较器46的矩形波信号进行积分，从而输出中心电压作为第一比较器46的参考电压。第二比较器50比较从减法器44输出的差分信号SS与第二积分器52输出的中心电压来产生第二信道位流CBS2。第二信道位流CBS2以在差分信号SS大于中心电压时具有高电平状态而差分信号SS小于中心电压时具有低电平状态的矩形波形态来产生。第二积分器52连接在第二比较器50的输出端子和反相输入端子(-)之间来对第二比较器50的输出信号进行积分，从而输出中心电压作为第二比较器50的参考电压。

如上所述，信号处理器30同时检测分别相应于第一和第二凹坑列P1和P2的第一和第二信道位流CBS1和CBS2。在这种情况下，第一和第二信道位流CBS1和CBS2可同时重建或由用户通过选择其中之一来重建。尤其，第一和第二凹坑列P1和P2可对初始信息分时并在第一和第二信道位流CBS1和CBS2已被交替记录时通过多路复用器交替地在每特定周期来选择输出第一和第二信道位流CBS1和CBS2，从而将其重建为初始信息的形态。

参考图12，表示了图5中的信号处理器30的第三实施例的具体电路。尤其是图12中的信号处理器能以一种方式重放信息使得一个双凹坑22A对应于现有的单个凹坑，也能重放以第一和第二凹坑列P1和P2形式记录的信息。

图12示出的信号处理器30包括：用来对射频信号RF进行电平限幅的第一比较器54A，用来对差分射频信号DRF进行电平限幅的第二比较器54B和第三比较器54C，和用于选择性输出第二比较器54B和第三比较器54C的输出信号的多路复用器58。第一比较器54A把射频信号RF与第一参考信号Vref1作比较产生如图13所示的第一检测信号D1。这里，第一参考电压Vref1设置为射频信号RF的高电平和中间电平之间的一个电压值。第一检测信号D1在射频信号RF为高电平时，即，在所有第一和第二凹坑列P1和P2为镜面时为高电压电平。在一个双凹坑22A的总长与一个凹坑长一致地被记录时该检测信号D1对应于第一信道位流CBS1。第二比较器54B把差分射频信号DRF与第二参考电压Vref2进行比较产生如图13所示的第二检测信号D2。这里第二参考电压Vref2被设置为差分射频信号DRF的高电平和中间电平之间的一个电压值。第二检测信号D2在差分射频信号DRF为高电平时，即，在仅仅是双凹坑22A中的第一凹坑列P1为镜面时为高电平。该第二检测信号D2对应于由双凹坑列22中的第一凹坑列P1所记录的信息。第三比较器54C把差分射频信号DRF与上述第三参考电压Vref3进行比较产生如图13所示的第三检测信号D3。这里第三参考电压Vref3被设置为差分射频信号DRF的中间电平和低电平之间的一个电压值。第三检测信号D3在差分射频信号DRF为低电平时，即，在仅仅是双凹坑22A中的第二凹坑列P2为镜面时为低电压电平。该第三检测信号D3对应于由双凹坑列22中的第二凹坑列P2所记录的信息。多路复用器58由经控制总线从外部输入的控制信号选择性输出分别从第二和第三比较器54B和54C输入的第二和第三检测信号D2和D3。这里当第一和第二凹坑列P1和P2对应于时间分隔的同一信道的信息时，多路复用器56在分时周期内交替输出第二和第三检测信号D2和D3。相应地，多路复用器56输出如图13所示的时间上连续的第二信道位流CBS2。另一方面，当不同信道的信息被记录到第一凹坑列P1和第二凹坑列P2中的每一个时，多路复用器56由经控制总线53的控制信号选择性输出第二和第三检测信号D2和D3中的任何一个。相应地，多路复用器56可输出相应于第一凹坑列P1的信道位流CBS或相应于第二凹坑列P2的信道位流CBS。

现参考图14，详细表示了图5中的寻道误差检测器32的第一实施例的电路。寻道误差检测器32包括：用来对从信号检测器28输出的差分射频信号DRF进行电平限幅的第一和第二比较器58A和58B，用来对第一和第二比较器58A和58B的每个输出信号进行所需时间间隔的延迟的第一和第二延迟60和62，用来对第一延迟60的每个输出信号进行逻辑乘运算的第一AND门64，用来对第二延迟62的每个输出信号进行逻辑乘运算的第二AND门66，用来响应于第一和第二AND门64和66的每一个输出信号来采样和保持差分射频信号DRF的第一和第二开关68和70，以及连接于第一和第二开关68和70的输出端子的加法器72。

在图14的寻道误差检测器24中，第一比较器58A对差分射频信号DRF与第三参考电压Vref3作类似于图7中的第三比较器36C中的比较以产生第三检测信号D3。第三检测信号D3仅在双凹坑22A中的第一凹坑列P1为镜面的部分具有高电压电平。第二比较器58B对差分射频信号DRF作类似于图7中的第四比较器36D中的比较以产生第四检测信号D4。第四检测信号D4仅在双凹坑22A中的第二凹坑列P2为镜面的部分具有低电压电平。第四检测信号D4被连接于第二比较器58B的输出端子的反相器INV反相。多个线性连接到第一比较器58A的输出端子的第一延迟60根据其时间常数τ把第一比较器58A输出的第三检测信号D3延迟特定时间间隔T而使D3移位。相应地，若第三检测信号D3被移位到最后的延迟60，那么每个第一延迟60的输出信号被同时输入到第一AND门64。换言之，当包括6个第一延迟60时，在在T单元中6T间隔中采样的第三检测信号D3被同时输入到第一AND门64。这样作的目的是为了提高通过检测在多于6T的间隔期间被维持的凹坑状态而改进随后被检测到的寻道误差信号Te的响应性。第一AND门64在所有由各个第一延迟60采样的第三检测信号D3均保持高电平状态时，即，在6T间隔中第三检测信号D3被保持为高电平状态时，产生高电平状态输出信号。以相似方式，第二延迟62也在6T期间的T单元中对反相的第四检测信号 D4进行采样并将其同时输出到第二AND门70。第二AND门70在6T间隔期间相位改变的第四检测信号D4保持高电平状态时产生高电平输出信号。从信号检测器28产生的差分射频信号DRF被串联连接的第一电容器C1除去直流(DC)成分，以状态(DRF′)施加到第一节点N1。第一开关68响应于第一AND门64的输出信号以采样并保持经第一节点N1被输入的差分射频信号DRF′。具体地说，第一开关68在第一AND门64的输出信号为高电平状态时采样并输出经第一节点N1输入的差分射频信号DRF′。另一方面，第一开关68在第一AND门64的输出信号为低电平状态时保持并输出差分射频信号DRF′。相似地，第二开关70响应于第二AND门66的输出信号以采样并保持经第一节点N1输入的差分射频信号DRF′。具体地说，第二开关70在第二AND门66的输出信号为高电平状态时采样并输出经第一节点N1输入的差分射频信号DRF′。另一方面，第二开关70在第二AND门66的输出信号为低电平状态时保持并输出差分射频信号DRF′。连接在第一和第二开关68和70的输出端子与地之间的第二和第三电容器C2和C3的每一个负责移去来自第一和第二开关68和70中输出信号的高频噪声。相应地，加法器72仅输入和相加第一和第二开关68和70的输出信号中的DC成分来产生寻道误差信号Te。

参考图15，表示了图7中的寻道误差检测器32的第二实施例的具体电路。寻道误差检测器32包括用来对从信号检测器28输出的差分射频信号DRF进行积分的低通滤波器(LPF)74。该低通滤波器74对从信号检测器28输出的差分射频信号DRF进行积分从而产生差分射频信号DRF的平均电压值作为寻道误差信号Te。

现参考图16，表示了图7中的寻道误差检测器32的第三实施例的具体电路。寻道误差检测器32包括用来对从信号检测器28产生的差分射频信号DRF进行半波整流的第一和第二二极管DO1和DO2，用来对第一和第二二极管DO1和DO2的每个输出信号进行积分的第一和第二低通滤波器76和78，和用来对第一和第二低通滤波器76和78的输出信号作比较来产生寻道误差信号Te的比较器80。

在寻道误差检测器32中，第一二极管DO1半波整流并输出从信号检测器28产生的差分射频信号DRF。第二二极管DO2也半波整流并输出差分射频信号DRF。第一低通滤波器76对由第一二极管DO1在正向上半波整流过的差分射频信号DRF进行积分并将其输出到比较器80。在这种情况下，第一低通滤波器76由第一电容器C1和并联连接于第一二极管DO1的输出端子与地之间的第一电阻器R1组成。相似地，第二低通滤波器78对由第二二极管DO2在负向上半波整流过的差分射频信号DRF进行积分并将其输出到比较器80。在这种情况下，第二低通滤波器78由第二电容器C2和并联连接于第一二极管DO1的输出端子与地之间的第二电阻器R2组成。

参考图17，表示了图7中的寻道误差检测器32的第四实施例的具体电路。寻道误差检测器32包括：用来对从信号检测器28产生的差分射频信号DRF进行电平限幅的第一和第二比较器82A和82B，用来响应于第一和第二比较器82A和82B的每个输出信号来采样和保持从信号检测器28产生的射频信号RF的第一和第二开关84和86，用来对第一和第二开关84和86的输出信号进行积分的第一和第二低通滤波器88和90，和连接于第一和第二低通滤波器88和90的输出端子的第三比较器92。

在图17的寻道误差检测器32中，第一比较器82A对从信号检测器28产生的差分射频信号DRF与第三参考电压Vref3作与图7中的第三比较器36C相似的比较来产生第三检测信号D3。第三检测信号D3仅在双凹坑22A中的第一凹坑列P1为镜面的部分具有高电压电平。第二比较器82B对差分射频信号DRF与第四参考电压Vref4作与图7中的第四比较器36D相似的比较来产生第四检测信号D4。第四检测信号D4仅在双凹坑22A中的第二凹坑列P2为镜面的部分具有低电压电平。第四检测信号D4被连接于第二比较器82B的输出端子的反相器INV反相。从信号检测器28产生的射频信号RF被串联连接的第一电容器C1除去DC成分，以状态(RF′)施加到第一节点N1。第一开关84响应于从第一比较器82A输入的第三检测信号D3以采样并保持经第一节点N1输入的射频信号RF′。具体地说，第一开关84在第三检测信号D3为高电平状态时采样经第一节点N1输入的射频信号RF′并将其输出到第一低通滤波器88。另一方面，第一开关84在第三检测信号D3为低电平状态时保持并输出射频信号RF′。由第一电阻器R1和第二电容器C2组成的第一低通滤波器88对第一开关84的输出信号进行积分并将其输出到第三比较器92。相似地，第二开关86响应于从第二比较器82B输入的并经反相的第四检测信号 D4以采样并保持经第一节点N1输入的射频信号RF′。具体地说，第二开关86在反相的第四检测信号 D4为高电平状态时采样经第一节点N1输入的射频信号RF′并将其输出到第二低通滤波器90。另一方面，第二开关86在反相的第四检测信号 D4为低电平状态时保持并输出射频信号RF′。由第二电阻器R2和第二电容器C2组成的第二低通滤波器90对第二开关86的输出信号进行积分并将其输出到第三比较器92。第三比较器92比较第一低通滤波器88和第二低通滤波器90的输出信号以产生寻道误差信号Te。

图18A到19表示当双凹坑列的宽度被限定为特定值时，可以按照与传统CD相同方式获得射频信号。当特定波长的光束SP照射到双凹坑列22时，如图18A所示，凹坑宽与光束反射率间的关系由光检测器PD来检测。在图18B中，由于没有形成凹坑时光束被完全反射，光束的反射率呈现最高值。另一方面，当凹坑形成时入射光束SP在有凹坑的部分被漫反射，从而反射率下降。应注意当双凹坑列22的凹坑宽从Δ提高到2Δ时，光束的反射率逐渐下降并随后又逐渐升高。这里Δ代表双凹坑列22中的一个凹坑列宽，而2Δ代表双凹坑列22的宽度。因此，当双凹坑列22的凹坑宽(2Δ)被设置为与形成一个凹坑宽(Δ)的情况具有相同的反射率时，信号检测器28检测到的射频RF表现为如图19所示的与现有CD等相似的具有两态电压值的形态。相应地，当双凹坑22A的总长形成为相当于现有单个凹坑长时，射频信号RF被电平限幅来检测信道位流CBS。在这种情况下，根据本发明的光记录介质能用重放现有CD等的驱动器来重放信息。另一方面，当信息被记录为第一和第二凹坑列P1和P2的形态时，图7所示的信号处理器30被用来检测第一和第二信道位流CBS1和CBS2。具体地说，在图7所示的信号处理器30中，比较器36包括用来对射频信号RF进行电平限幅的第一比较器36A，和用来对差分射频信号DRF进行电平限幅的第三和第四比较器36C和36D，从而检测第一检测信号D1、第三检测信号D3和第四检测信号D4。随后，逻辑算术单元38对从比较器36检测的第一检测信号D1和第三第四检测信号D3和D4作逻辑运算，从而检测分别相应于第一和第二凹坑列P1和P2的第一和第二信道位流CBS1和CBS2。

图20表示根据本发明的又一实施例的光记录介质所限定的凹坑列的结构。图20的光记录介质94包括沿光道方向在上下位置相邻设置的三重结构的凹坑列96。

在光记录介质94中，三重凹坑列96以一种方式存储信息来得到螺旋形或同心圆周形光道。沿光道方向在上下侧相邻设置的三重凹坑列96的宽度设置为可被单个光束访问。在三重凹坑列96中的每个凹坑列不仅可互相独立地相应于信息源而被记录，也可相应于单个信息源被记录。这种光记录介质能被图5所示的光重放装置来访问。

具体地说，在图5中的光重放装置中，光拾取器26把重放光束照射到光记录介质并检测放射光束的数量从而将其转换为多个电信号。在这种情况下，在光记录介质94的信息记录面上所限定的三重凹坑列96被单个光束访问。信号检测器28如上所述处理来自光拾取器26的多个电信号以检测如图20所示具有4态电压电平的射频信号RF和差分射频信号DRF。信号处理器30对射频信号RF和差分射频信号DRF进行电平限幅以将其转换为矩形波形，而且此后对其进行逻辑运算产生信道位流CBS。为此，信号处理器30具有如图21所示的具体结构。

图21的信号处理器30包括用来对射频信号RF和差分射频信号DRF进行电平限幅以产生矩形波信号的比较器98，和用来利用从比较器98输入的矩形波信号的逻辑运算来产生第一到第三信道位流CBS1、CBS2和CBS3的的逻辑算术单元100。

在图21中，比较器98包括用来把射频信号RF电平限幅为不同参考电压的第一到第三比较器98A、98B和98C，以及用来把差分射频信号DRF电平限幅为参考电压的第四和第五比较器98D和98E。在比较器98中，第一比较器98A比较射频信号RF与第一参考电压Vref1以产生第一检测信号D1。第一检测信号D1在所有三重结构凹坑列96均为镜面时具有高电压电平。第二比较器98B比较射频信号RF与图22示出的第二参考电压Vref2以产生第二检测信号D2。第二检测信号D2在三重结构凹坑列96至少有两列为凹坑时具有低电压电平。第三比较器98C比较射频信号RF与图22示出的第三参考电压Vref3以产生第三检测信号D3。第三检测信号D3在所有三重结构凹坑列96均为凹坑时具有低电压电平。第四比较器98D比较差分射频信号DRF与第四参考电压Vref4以产生第四检测信号D4。第四检测信号D4在三重结构凹坑列96中的内圆周侧处的凹坑列为镜面而在外圆周侧处的凹坑列为凹坑时具有高电压电平。第五比较器98E比较差分射频信号DRF与图22所示的第五参考电压Vref5以产生第五检测信号D5。第五检测信号D5在三重结构凹坑列96中的内圆周侧处的凹坑列为凹坑而在外圆周侧处的凹坑列为镜面时具有低电压电平。

在图21，逻辑算术单元100对从比较器98输入的第一到第五检测信号D1到D5作如下布尔代数表达式所给出的逻辑运算并产生相应于三重凹坑列96的每个凹坑列的第一到第三信道位流CBS1、CBS2和CBS3。

CBS1＝D1＋D2D5＋D3D4

CBS2＝D1＋D2(D4＋ D5)＋D3 D4D5

CBS3＝D1＋D2 D4＋D3 D5    …………..(2)

具体地说，在逻辑算术单元100中，第一AND门AND1对第二检测信号D2和第五检测信号D5进行逻辑乘运算并输出结果。第二AND门AND2对第三检测信号D3和第四检测信号D4进行逻辑乘运算并输出结果。第一OR门OR1对第一检测信号D1、第一AND门AND1的逻辑乘信号和第二AND门AND2的逻辑乘信号作逻辑和运算。结果第一OR门OR1产生相应于图22所示的三重凹坑列96中的内圆周侧的凹坑列的第一信道位流CBS1。第二OR门OR2对第四检测信号D4和经第一反相器INV1反相的第五检测信号 D5进行逻辑和操作并输出结果。第三AND门AND3对第二检测信号D2和第二OR门OR2的逻辑和信号作逻辑乘运算并输出结果。第四AND门AND4对经第二反相器INV2反相的第四检测信号D4、第三检测信号D3和第五检测信号D5进行逻辑乘运算并输出结果。第三OR门OR3对第一检测信号D1、第三AND门AND3的逻辑乘信号和第四AND门AND4的逻辑乘信号作逻辑和运算并输出结果。因此第三OR门OR3产生相应于图22示出的三重凹坑列96的中心处的凹坑列的第二信道位流CBS2。第五AND门AND5对第二检测信号D2和相位反相的第四检测信号 D4进行逻辑乘运算并输出结果。第六AND门AND6对第三检测信号D3和相位反相的第五检测信号D5进行逻辑乘运算并输出结果。第四OR门OR4对第一检测信号D1、第五AND门AND5的逻辑乘信号和第六AND门AND6的逻辑乘信号作逻辑和运算并输出结果。结果第四OR门OR4产生相应于图22所示的三重凹坑列96中的外圆周侧的凹坑列的第三信道位流CBS3。如上所述，信号处理器30同时检测相应于三重凹坑列98的每个凹坑列的第一到第三信道位流CSB1、CSB2和CSB3。

同时，通过把单个光束照射到如上所述的至少两个相邻光道上来重放信息的方法可适用于利用相对较长波长的光源重放高密度信息的方法。应用上述光重放方法与较短波长光源(如蓝激光)一致以较窄光道道间距记录的信息可利用较长波长的光源(如红激光)来重放。

现参考图23，其表示应用于传统只读型CD、DVD等的高密度的光道结构。应注意在图23示出的光记录介质104中，某两个相邻的光道102n和102n＋1已经被设置为具有很小的光道道间距Tp使得其能同时被单个重放光束SP1来访问。例如，当长波长的光源照射其上时，通过重放光束来设置为相应于较短波长光源的较窄光道道间距，可得到如上所述光斑与光道的关系。相应地，在两个相邻光道102n和102n＋1的每一个所限定的凹坑列同时被单个光束SP1来访问。在这种情况下，作为重放记录在两个相邻光道102n和102n＋1的每一个上的凹坑列信息的方法，仅使用相应于每个光道102n和102n＋1的第一信道或第二信道的方法，以及使用全部第一信道和第二信道的方法都可考虑。

首先，当仅第一信道或第二信道被用于第一和第二信道的信息重放时，将重放光束照射到螺旋光道上使得其跟踪相邻光道之间的分界面。在这种情况下，重放光束以第一、第二和第三重放光束SP1、SP2和SP3的顺序不跨跃光道地从内圆周侧光道向外圆周侧光道前进，如图23所示。在被这种重放光束SP1、SP2和SP3重放的信息中仅有第一信道或第二信道的信息被检测到，所以第一和第二信道的信息可在时间上连续地被重放。另一方面，当两个信道的所有信息被用于第一和第二信道的重放时，重放光束以第一和第三重放光束SP1和SP3的顺序进行，如图23所示。在这种情况下，重放光束SP1或SP3以一种方式照射使得该光束在光道每旋转一周时能从光道跳跃线TJP跳过一个光道并跟踪相邻光道之间的界面。同时在被这种重放光束SP1或SP3拾取的第一和第二信道的信息中的单个信道信息以一个光道旋转单元被存储到存储器，并且此后被多路复用，从而以时间顺序被设置的第一和第二信道的信息可以两倍的速度被重放。

而且，由于如图23所示的在光道方向(即切向)上有超高分辨率的光斑SP用作重放光束时分辨率被提高，尽管使用了长波长的光源，相对较小的凹坑仍可被读出。这种超高分辨率光斑可由在美国专利NO.5,600,620中公开的已知技术来实现。

具有这种高密度光道结构的光记录介质可被图5示出的光重放装置访问。在图5中，光拾取器26发射重放光束到光记录介质104的信息记录面上并且检测放射光束数量以将其转换为多个电信号。在这种情况下，在两相邻光道所限定的第一和第二凹坑列被单个光束访问。信号检测器28处理从上述光拾取器26输入的多个电信号来检测具有4态电压电平的射频信号RF和差分射频信号DRF。信号处理器30对从信号检测器28输出的射频信号RF和差分射频信号DRF的每一个进行电平限幅以将其转换为矩形波形，并且此后对其作逻辑运算，从而产生信道位流CBS。为此，信号处理器30具有图7所示的结构。对这种结构的解释被省略。当仅有第一信道或第二信道的信息被用于第一和第二信道的信息重放时，仅有第一和第二信道位流CBS1和CBS2中之一被从图7的信号处理器30输出并被重建。另一方面，当所有第一和第二信道信息均用于第一和第二信道的信息重放时，信号处理器30还包括存储器106和多路复用器108，如图24所示。在图24中，存储器106以某单元(即一个光道旋转单元)存储逻辑算术单元38的第二信道位流CBS2。多路复用器108在每一所需周期(即一个光道旋转单元)选择性地交替输出逻辑算术单元38的第一信道位流CBS1和存储器106的第二信道位流CBS2。相应地，使第一和第二信道位流CBS1和CBS2以时间顺序设置的信道位流CBS可被输出和重建。

参考图25，表示应用于传统可记录光记录介质的高密度光道结构和由重放光束检测到的信号波形。应注意在图25示出的光记录介质110中相邻凸区和凹槽光道112和114被设置为具有很小光道道间距从而它们能同时被单个重放光束SP访问。相应地，在相邻凸区和凹槽光道112和114所限定的凹坑列可同时被单个重放光束SP访问。在这种情况下，可考虑两种方法，即，只用记录在相邻凸区和凹槽光道112和114上的第一信道或第二信道的信息的方法和使用第一和第二信道的所有信息的方法。当仅使用第一和第二信道信息中任一个时，重放光束SP在没有光道跳跃情况下跟踪凸区和凹槽光道的间界以凸区和凹槽之间界面、凹槽和凸区之间界面、凸区和凹槽之间界面等的顺序被移动。在被这种重放光重放的信息中仅有第一信道或第二信道的信息被检测到，所以以凸区和凹槽光道112和114的顺序被记录的第一和第二信道的信息可在时间上连续地被重放。另一方面，当第一和第二信道的所有信息被应用时，重放光束SP在光道每旋转一周时能跳过一个光道并以一种方式被照射来跟踪凸区与凹槽之间的界面。同时在被这种重放光束拾取的第一和第二信道的信息中的一个信道信息以某个单元(即一个光道旋转单元)被存储到存储器中，并且此后被多路复用，从而以时间顺序被设置的第一和第二信道的信息可以被重放。在这种情况下，其具有可进行两倍的速度重放的优点。

以这种方式记录在高密度凸区和凹槽光道112和114上的信息如上所述被图5示出的光重放装置来重放。在图5中，光拾取器26沿凸区和凹槽的界面照射重放光束并检测放射光数量从而将其转换为多个电信号。信号检测器28把来自光拾取器26的电信号相加并放大来检测图25所示的射频信号RF。而且，信号检测器28差分放大来自光拾取器26的电信号以产生如图25所示的差分射频信号DRF。在这种情况下，从信号检测器28检测到的射频信号RF和差分射频信号DRF相对于在上述只读型光记录介质中检测到的射频信号RF和差分射频信号DRF有相反的相位。这是由于从凸区和凹槽光道反射的光的数量是彼此相反的。相应地，射频信号RF从图7中的信号处理器30被输入到第三和第四比较器36C和36D，差分射频信号DRF被输入到第一和第二比较器36A和36B。信号处理器30处理上述射频信号RF和差分射频信号DRF来检测第一和第二信道位流CBS1和CBS2。

如上所述，在根据本发明的光记录介质中，至少两个凹坑列被相邻设置在上下位置使得可通过单个光束对其进行重放，从而提高记录密度至少两倍以上。而且，当信息以双凹坑形态被存储时，其具有的优点表现在双凹坑的总长与单个凹坑长一致地形成从而具有随现有光记录介质如CD和DVD等而变化的可变性，从而信息重放可能在同一驱动器上进行。而且，在根据本发明的光记录介质的重放方法和装置中，至少两个以上相邻设置的以凹坑列形态记录的信息可通过照射单个光束被同时重放。而且，根据本发明的光重放装置和方法能从具有与光束的特定波长相比较短的光道道间距设置的光记录介质重放相应的信息。相应地，光记录介质的光道道间距被设置为具有比相应于特定波长激光二极管的传统光道道间距更小的值，所以记录密度可大大被提高。而且，使用长波长激光二极管可能重放具有适合于短波长(如蓝色)的光道道间距的光记录介质。

尽管通过如上所述的附图中示出的实施例对本发明进行了阐释，对本领域的普通技术人员而言应当可以理解发明并非局限于实施例，在不脱离本发明精神的情况下对其所作的各种修改和变化都是可能的。相应地，发明的范围应仅由后附的权利要求及其等价范围所确定。

Claims (20)

1.一种适合于通过把光束照射其上来记录和重放信息的光记录介质，包括：

衬底；和

信息记录面，具有作为凹坑列被记录的信息并由具有同心圆周和螺旋形态二者之一的形式的光道组成，

其中至少两个凹坑列被相邻设置来使其由单个光束重放。

2.如权利要求1所述的光记录介质，其中所述至少两个凹坑列由相应于第一信息的第一凹坑列和相应于第二信息的第二凹坑列组成。

3.如权利要求2所述的光记录介质，其中所述至少两个凹坑列由相应于第一信息的第一凹坑列和相应于第二信息的第二凹坑列组成。

4.如权利要求3所述的光记录介质，其中第一信息和第二信息是来自单个信息源的时分信息。

5.如权利要求2所述的光记录介质，其中第一信息和第二信息对应于独立的信息源。

6.如权利要求2所述的光记录介质，其中构成所述第一和第二凹坑列的第一和第二凹坑的总长与作为单个记录标记的第一信息一致地记录。

7.如权利要求1所述的光记录介质，其中信息记录面是能记录用户信息的记录层。

8.一种光重放方法，包括以下步骤：

(A)相对于具有其中以凹坑列来记录信息的光道的光记录介质，把单个光束照射到至少两个光道上；

(B)用被分为多个的光电检测器来检测并转换来自光记录介质的反射光，并复合被转换的光检测信号从而检测多个射频信号；和

(C)处理多个射频信号来检测相应于所述至少两个光道的每一个的信息。

9.如权利要求8所述的光重放方法，其中所述步骤(B)包括：

(B1)相加并放大光检测信号以产生射频信号；和

(B2)差分放大光检测信号中相应于在光记录介质的外圆周侧反射的光数量的光电检测信号和相应于在其内圆周侧反射的光数量的光检测信号以产生差分射频信号。

10.如权利要求9所述光重放方法，进一步包括步骤：

(D)利用射频信号和差分射频信号检测寻道误差信号并执行寻道伺服。

11.如权利要求8所述光重放方法，其中所述光记录介质包括信息记录面，信息记录面具有作为凹坑列被记录的信息并由具有同心圆周和螺旋形态二者之一的形式的光道组成，及

其中至少两个凹坑列被相邻设置以使其由单个光束重放。

12.如权利要求8所述光重放方法，其中所述光记录介质具有与短波长光源一致形成的并被长波长光源重放的光道。

13.如权利要求8所述光重放方法，其中当记录在所述至少两个光道的每一个上的所述凹坑被记录为加和光道处径向上的相邻凹坑的总长时，相应于所述总长的信息被检测到。

14.如权利要求8所述光重放方法，其中仅相应于所述至少两个光道中的任何一个的信息通过沿所述至少两个光道跟踪所述光束被检测到。

15.如权利要求8所述光重放方法，其中相应于所述两个光道中的一个的信息在光道每旋转一周光束跳道的同时通过允许沿至少两个光道跟踪所述光束而被检测到。

16.一种光重放装置，包括：

光束产生装置，相对于具有其中以凹坑列记录信息的光道的光记录介质，用来把单个光束照射到至少两个光道上；

用来把光记录介质反射的光分为多个并对其进行检测和转换，以及复合被转换的光检测信号从而检测多个射频信号的信号检测装置；和

用来处理多个射频信号以检测相应于所述至少两个光道的每一个的信息的装置。

17.如权利要求16的光重放装置，其中所述信号检测装置包括：

用来相加并放大光检测信号以产生射频信号的装置；和

用来差分放大光检测信号中相应于在光记录介质的外圆周侧反射的光数量的光电检测信号和相应于在其内圆周侧反射的光数量的光电检测信号以产生差分射频信号的装置。

18.如权利要求16的光重放装置，进一步包括

利用射频信号和差分射频信号检测寻道误差信号的装置；和

用来响应于寻道误差信号执行寻道伺服的寻道伺服装置。

19.如权利要求16所述光重放装置，其中所述光记录介质包括信息记录面，信息记录面具有作为凹坑列记录的信息并由具有同心圆周和螺旋形态二者之一的形式的光道组成，及

其中至少两个凹坑列被相邻设置以使其由单个光束重放。

20.如权利要求16所述光重放装置，其中所述光记录介质具有与短波长光源一致形成的并被长波长光源重放的光道。

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