CN1233542C - 集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法 - Google Patents

Abstract

一种集成电路测试机台的成品收集装置，利用一纵长管子承接并容装由各测试机台的成品出料口送出的完测集成电路，其包含有一管子换装机构，用以换装与成品出料口相接的管子，且管子换装机构具有一将管子夹持成纵向倾斜状的管子夹载台，以及一管子推离机构，此管子推离机构具有将管子推离管子夹载台的承座，其中此承座具有推动管子的底面，与引导管子依一预定路径而重力滑离底面的侧壁面。

Description

集成电路测试机台的成品 收集装置以及成品收集方法

技术领域

本发明是有关于一种集成电路测试机台(IC handler)，并且特别是关于一种集成电路测试机台的成品收集装置(unloader apparatus)。

背景技术

在集成电路的工艺中，凡是机械设备、工艺参数、制作过程环境以及其它未举出种种的因素，都有可能对集成电路工艺产生不良的影响，而产生制造缺陷的问题。然而对于供给消费者的产品而言，此种制造缺陷的问题可以经由预先的质量管制而予以最小化。因此，在集成电路使用于电路板或其它元件前，必须先对集成电路作测试，以辨别以及过滤有缺陷的集成电路。

为了保护集成电路不受到外界的伤害，因此必须将集成电路包装起来。在现今的包装方式中，其中一种广为使用的包装方式为管式包装法(tube package)，此方法是将复数的集成电路依序装填入与集成电路外径略相等的透明管子中，而能够达到由管子保护以及移送集成电路的目的。而且，上述的管式包装能够使用一种称为集成电路测试分类机的测试装置，以达成测试与分辨出良好与有缺陷集成电路的目的。

请参照图1A，图1A为一种集成电路测试分类机的示意图。首先将待测试的集成电路装填入管子内，并将管子堆栈于进料区12中。接着由机械手臂14将集成电路一颗一颗地倒入集成电路测试分类机10中以进行测试，再将经过测试的集成电路分类，送至自动下料收集装置16，以将集成电路再装填入管子中。

在上述图1A中的集成电路测试分类机10上，其所安装的自动下料收集装置16，是采用堆栈式的自动下料装置。请参照图1B，图1B为图1A中的自动下料收集装置16(圈示部位A)的放大立体图，其方法为将装填满集成电路的管子18，以自动管子收集装置(auto tubeunloader)的推杆(push bar)20向上顶，以将管子18导入自动下料收集装置16的堆栈导轨22中，而进行管子的堆放。

然而，此种采堆栈方式的自动下料装置具有如下所述的缺点：

此种堆栈管子用的堆栈导轨具有高度的限制，因此操作人员必须重复且频繁的由堆栈导轨中取出装满集成电路的管子，以便于使后续的管子能够继续的堆放上来，然后再将管子放置于静电箱(未图标)，此种方法较为耗费人力，并且明显的无法达到高自动化的要求。

另外，在管子进行由下往上的堆栈动作时，有可能发生卡管的现象，必须停机处理延误工时，甚至造成管子受挤压变形，甚至可能使得装填于管子中的集成电路受损。

更有甚者，操作人员为了降低因卡管导致故障的机率，往往在管子未堆栈满时即将管子取出，使得操作人员额外浪费了许多时间在拿取管子的操作上。

发明内容

本发明的目的在提供一种集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以重力使管子下滑的方式，将装满集成电路的管子自动装入静电箱中，因此能够节省操作人员将管子由堆栈导轨取出管子再置入静电箱的时间，达成高度自动化的目的。

本发明的另一目的在提供一种集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以重力使管子下滑的方式收集管子，因此不须采用堆栈的方式，而能够避免堆栈动作造成的卡管所导致的集成电路损伤。

根据本发明的上述目的，提供一种集成电路测试机台的成品收集装置，用以利用一纵长管子承接并容装由测试机台的成品出料口送出的测试完成的集成电路，其包含有一管子换装机构，用以换装与成品出料口相接的集成电路容接管子，且管子换装机构具有一将管子夹持成纵向倾斜状的管子夹载台，以及一管子推离机构，此管子推离机构具有将管子推离管子夹载台的承座，其中此承座具有推动管子的底面，与引导管子依一预定路径而重力滑离底面的侧壁面。

本发明提供一种集成电路测试机台的成品收集方法，此方法是使用一管子换装机构，将未装入集成电路的纵长管子接驳于测试机台的其中一个成品出料口，接着，使用纵长管子承接并容装由测试机台的成品出料口送出的测试完成的集成电路，然后，使用管子推离机构，在纵长管子所容接的集成电路达一定量时，将管子推离管子换装机构，使得纵长管子离开管子换装机构时，利用一导引机构，以使纵长管子沿一预定路径重力滑离管子换装机构，并落入一管子收容处内。

综上所述，本发明的重要特征在于使用一种集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以倾斜以及重力的方式使管子沿一预定路径下滑，而将装满集成电路的管子自动装入收容箱中，不须依赖操作人员取出，因此能够节省操作人员将管子由堆栈导轨取出再置入收容箱的时间，而能够达成高度自动化的目的。

此外，本发明的集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以重力使管子沿着一预定路径下滑的方式收集管子，因此不须采用以往堆栈的方式，而能够避免堆栈动作造成的卡管所导致的集成电路损伤。

附图说明

图1A为一种集成电路测试分类机的示意图；

图1B为图1A中所圈示部位A的放大立体图；

图2为本发明的集成电路测试机台的成品收集装置，设置于自动下料装置中的示意图；

图3为本发明的集成电路测试机台的成品收集装置的分解示意图；

图4A以及图4B为本发明的集成电路测试机台的成品收集装置的示意图；

图5为图4A以及图4B中的收集装置的承座放大示意图；

图6为在自动下料装置的末端处装设收容箱固定座的示意图；

图7至图10为本发明的集成电路测试机台的成品收集方法的操作流程示意图。

附图标记说明：

10：集成电路测试分类机

12：进料区

14：机械手臂

16：自动下料收集装置

18、40：管子

20：推杆

22：堆栈导轨

30：成品自动出料装置

32、32a、32b：成品出料口

34：空管堆栈导轨

36：凹入空间

100：成品收集装置

102：管子换装机构

104：管子夹载台

105：管子推离机构

106：承座

106a：底面

106b：侧壁面

108：传动机构

110：滑止构件

200：收容箱固定器

210：收容箱

A：圈示部位

具体实施方式

图2为本发明的集成电路测试机台的成品收集装置，设置于自动下料装置中的示意图。

请参照图2，此成品自动出料装置30具有数个成品出料口32，其中的成品出料口32a是用以输出通过测试的集成电路，成品出料口32b则用以输出有缺陷的集成电路。在图2中的成品自动出料装置30的一侧装设有空管堆栈导轨34，并且空管堆栈导轨34与成品出料口32a之间具有一个凹入空间36。本发明的成品收集装置100即以相对地平线一个倾斜角装设于凹入空间36中，并且可以由未图标的驱动装置，比如气压传动系统，在成品自动出料装置30中的凹入空间36中做左右(图2中的x方向)以及上下(图2中的y方向)移动。

接着，请同时参照图3、图4A以及图4B，图3为本发明的成品收集装置的分解示意图，以及图4A以及图4B为成品收集装置的放大示意图，如图3所示，此成品收集装置100包含有管子换装机构102与管子推离机构105，其中管子换装机构102用以换装与成品出料口32a相接的管子，且管子换装机构102具有将管子夹持成纵向倾斜状的管子夹载台104，用以抓取并固定管子。管子推离机构105具有将管子推离管子夹载台104的承座106，其中此承座106具有推动管子的底面106a，与引导管子依一特定预定路径而重力滑离底面106a的侧壁面106b。并且此管子推离机构105可由一传动机构108推动承座106，以将管子推离管子夹载台104。一般时候承座106贴合于管子换装机构102上，因此于图4A中未绘示传动机构108。在进行操作时，如图4B所示，承座106能够由传动机构108的推举而上升离开管子换装机构102，并同时将承载于承座106上的管子举起，以使管子能够依重力而沿特定的一预定路径向下滑落。此外，于管子换装机构102上的远离成品出料口32a的一端，可设置一个滑止构件110，此滑止构件110能够推顶管子的下端，以使管子能够插入成品出料口32a中。

请参照图5，图5为图4A以及图4B中的承座106的放大示意图。由图5中可知，此承座106由底面106a以及一体成形的设置在底面106两侧的侧壁面106b形成，以使承座106的剖面呈“U”型。由于侧壁面106b的保护，因此当此承座106承载管子而上升时，能够避免管子向两侧掉落。而能够确保管子向此承座106倾斜的方向，沿着特定的一预定路径而向下滑落。

此外，请参照图6，在成品自动出料装置30的末端处，即是远离成品出料口32a的端部，可以装设一个收容箱固定座200以放置收容箱210，此收容箱210例如是使用静电箱，以使经由成品收集装置100下滑的管子能滑入收容箱210中。

在上述的集成电路测试机台的成品收集装置100中，可以使用其它样式的顶出装置来取代管子推离机构105。

图7至图10为本发明的集成电路测试机台的成品收集方法的操作示意图。其操作步骤如下所述：

a.由驱动装置的驱动，将此成品收集装置100移至空管堆栈导轨34的位置I，并抓取堆栈于空管堆栈导轨34中的管子40，此处的管子40例如是纵长状的矩形空管(请参照图7)。

b.由驱动装置的驱动，将承载有管子40的成品收集装置100，于凹入空间36中移至图8中的位置II，然后，同样由驱动装置使成品收集装置100于位置II处略向上升，并将管子40接驳于成品出料口32a。

c.以管子40承接经由集成电路测试机台测试过后判断为正常，且由成品出料口32a所输出的集成电路。

d.待管子40装满集成电路后，再将管子40由成品出料口32a处抽出。

e.松开管子夹载台104，且以滑止构件110暂时阻止管子40的下滑。接着，由设置于管子换装机构102中的传动机构108驱动管子推离机构105，以将“U”型的承座106推举升起，当承载于承座106的上的管子40高度超过滑止构件110时(位置III)，则管子40受重力作用开始下滑，并且由于承座106的侧壁面106b的保护与导引，管子40能够不向两侧掉落，且依照重力倾斜并沿着特定的一预定路径向下滑落(请参照图9)。

f.管子40下滑后，即落入固定于收容箱固定座200的上的收容箱210中(请参照图10)。

综上所述，本发明的重要特征在于使用一种集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以倾斜以及重力的方式使管子沿特定的一预定路径下滑，而将装满集成电路的管子自动装入收容箱中，不须依赖操作人员取出，因此能够节省操作人员将管子由堆栈导轨取出再置入收容箱的时间，而能够达成高度自动化的目的。

此外，本发明的集成电路测试机台的成品收集装置以及成品收集方法，能够以重力使管子沿特定的一预定路径下滑的方式收集管子，因此不须采用以往堆栈的方式，而能够避免堆栈动作造成的卡管所导致的集成电路损伤。

虽然本发明已以一实施例说明如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求书为准。

Claims (8)

1.一种集成电路测试机台的成品收集装置，设置于集成电路测试机台的成品自动出料装置上，用以利用一纵长管子承接并容装由测试机台的一成品出料口所送出的测试完成的集成电路，其特征为：该成品收集装置包含有：

一管子换装机构，用以换装与该成品出料口相接的该纵长管子，其中该管子换装机构具有一管子夹载台，用以纵向倾斜状的挟持该纵长管子；以及

一管子推离机构，该管子推离机构具有将该纵长管子推离该管子夹载台的一承座，其中该承座具有：

一底面，用以推动该纵长管子；以及

一侧壁面，用以引导该纵长管子依一预定路径而重力滑离该底面。

2.如权利要求1所述的集成电路测试机台的成品收集装置，其特征为：还包括一收容箱，设置于该纵长管子滑离该底面的该预定路径的下游，用以于该纵长管子滑离该底面落下时，承接该纵长管子。

3.如权利要求2所述的集成电路测试机台的成品收集装置，其特征为：还包括一收容箱固定装置，用以将该收容箱连接并固定于该成品自动出料装置，以使该收容箱相对于该预定路径位置固定。

4.如权利要求1所述的集成电路测试机台的成品收集装置，其特征为：其中该承座的该侧壁面分立于该底面两侧，以使该承座的剖面为“U”型。

5.一种集成电路测试机台的成品收集方法，其特征为：该方法包括下列步骤：

使用一管子换装机构，将未装入集成电路的一纵长管子接驳于测试机台的一成品出料口；

使用该纵长管子承接并容装由测试机台的该成品出料口送出的测试完成的集成电路；以及

使用一管子推离机构，在该纵长管子所容接的集成电路达一定量时，将该纵长管子推离该管子换装机构，其特征在于：

使该纵长管子离开该管子换装机构时，利用一导引机构，以使该纵长管子沿一预定路径重力滑离该管子换装机构，并落入一管子收容处。

6.如权利要求5所述的集成电路测试机台的成品收集方法，其特征为：还包括利用一收容箱，设置于该管子收容处，用以收容滑落的该纵长管子。

7.如权利要求6所述的集成电路测试机台的成品收集方法，其特征为：包括使用一收容箱固定装置，用以固定该收容箱。

8.如权利要求5所述的集成电路测试机台的成品收集方法，其特征为：其中该导引机构包括一承座，且该承座具有：

一底面，用以推动该纵长管子；以及

一侧壁面，用以引导该纵长管子依一预定路径而重力滑离该底面。

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