CN1223773A - 电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置 - Google Patents

Abstract

一种用于电子显示器件(12)的测试和对准系统(10),包括一个连接到电子显示器件的测试图案发生器(6),用于产生由电子显示器件显示的视频测试图案的图像。一个测试定位装置(14)放置在待测试和对准的电子显示器件前面。该测试定位装置包括一个支撑多个特写光传感器(54)和位于特写光传感器后面的多个广角光传感器(58)的框架(50),多个特写光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号,广角光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的大面积图像对应的图像信号。计算机(20)控制测试图案发生器并处理和分析特写和广交光传感器产生的图像信号以便对电子显示器件进行一系列测试。显示器(24)对计算机进行的系列测试的结果提供可视指示。

Description

电子显示器件的测试和对准系统以及 用于该系统的测试定位装置

本发明涉及测试系统，特别是电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置。

在象例如用于计算机监视器和电视机的阴极射线管(CRT)组件这样的电子显示器件的制造和组装过程中，需要进行准确的机械、光学和电子调节，以确保电子显示器件提供最佳的重现图像质量。这些调节包括但不限于：聚焦、彩色纯度、电子束会聚、彩色均匀性、几何图形、和亮度。这些调节内容中的每一项通常是由训练有素的技术人员借助测试和对准系统相互独立进行的。遗憾的是，由于许多测试和对准系统不能进行准确对准CRT组件所需的所有测试，测试很慢并且不能为工作人员的调节提供实时反馈，测试不够准确并且不能以最佳顺序合为一体地执行每项测试，然后根据需要重新检验和重新调节测量结果，因此这些测试和对准系统是有缺陷的。

为了解决上述问题，已经开发了用于电子显示器件的改进测试和对准系统。例如，1995年12月21日公开并授权给本发明受让人的图像处理系统公司(Image ProcessingSystem Inc.)的PCT申请序列No.PCT/CA95/00352公开了一种用于电子显示器件的测试和对准系统。该系统包括安装在一个框架上并排列成一个阵列的多个彩色CCD摄像机。可垂直调节阵列中CCD摄像机的行，并可横向调节每行中的CCD摄像机，以使该系统测试和对准不同尺寸的电子显示器件。CCD摄像机的图像输出传送到一台计算机进行处理。计算机控制连接到正在测试的电子显示器件的测试图案发生器，以使电子显示器件显示由CCD摄像机捕获的图像的适当测试图案。一个摆频信号发生器(wobulator)安装在框架上并可在与电子显示器件相邻的可操作位置和CCD摄像机视野之外的收回位置之间移动。可激励摆频信号发生器以便在可操作位置时偏转电子显示器件内的电子束。同样安装在框架上的光电二极管随着摆频信号发生器偏转其中的电子束来测量电子显示器件的亮度并向用于处理的计算机提供输入。

在显示测试图案时，计算机根据CCD摄像机的图像输出和光电二极管的输出对电子显示器件进行一系列综合的测试和对准功能。该测试和对准功能包括彩色纯度、聚焦、静态和动态会聚、偏转线圈转动、正交性、视频图案尺寸和定中心、光栅尺寸和定中心、线性、几何图形和亮度测量结果，这些测试和对准全部在一个单独的操作台中进行，在这一系列的测试和对准功能过程中，计算机显示工作人员使用的图形指示器，以确定该电子显示器件是测试合格还是测试不合格。

1992年11月11日公开并授权给三星电子公司的英国专利申请No.2,255,700公开了一种用于测量阴极射线管(CRT)特性的系统。该系统包括一个摄像机、一个选择器、一个视频处理器、一个监视器、一个磁场控制器、一个CPU和一个输出单元。摄像机包括一个CCD摄像机阵列以及多个磁场线圈，磁场控制器在CPU的控制下激励磁场线圈以便移动CRT中的电子束。CCD摄像机的图像输出传送到CPU进行处理。在一个实施例中，CCD摄像机可移动地安装在一个支架上，以便在检验中可相对CRT调节CCD摄像机的位置。

虽然上述参考文献给出包括在检验中可相对电子显示器件移动的多个CCD摄像机并允许测量电子显示器件的至少一个特性的用于电子显示器件的测试和对准系统，仍在继续寻找用于测试和对准电子显示器件的改进系统。

因此，本发明的一个目的是提供一种用于电子显示器件的新的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置。

根据本发明的一个方面，提供一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

安装在所述框架上的多个特写光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号；和

安装在所述框架上位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器，所述广角光传感器用于感测和产生与所述电子显示器件上显示的所述大面积图像对应的图像信号。

广角光传感器最好具有包括小面积显示图像并重叠的视野，以便广角光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。同样，特写光传感器最好放置在框架上面，以便在广角光传感器的重叠视野之外。

在一个实施例中，特写光传感器排成阵列，阵列中特写光传感器的行安装在可垂直调节的倾斜轨道上。每行中的光传感器也可沿轨道横向移动，以便允许调节光传感器的位置容纳不同尺寸的电子显示器件。该阵列最好包括安装在从框架伸出的悬臂上、位于中央的可垂直调节的特写光传感器。

同样，测试定位装置最好包括至少一个安装在框架上的摆频信号发生器，以产生偏转电子显示器件内电子束的磁场。在一个实施例中，摆频信号发生器包括至少一对安装在框架上的隔开的线圈，可激励该对线圈以产生一般足以包围整个电子显示器件的交变磁场。然而，该摆频信号发生器最好包括一对垂直隔开的、大致水平的线圈和一对横向隔开的、大致垂直的线圈，可激励两对线圈中的每一对线圈，以产生交变磁场并固定到框架上特写和广角光传感器视野之外的位置。

根据本发明的另一个方面，提供一种用于电子显示器件的测试和对准系统，包括：

一个连接到一个电子显示器件的测试图案发生器，用于使所述电子显示器件产生视频测试图案的图像；

一个包括支撑多个特写光传感器和位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器的框架的测试定位装置，多个特写光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号，广角光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的大面积图像对应的图像信号；

一台控制所述测试图案发生器并处理所述图像信号以便对所述电子显示器件进行一系列测试的计算机；和

一个对所述系列测试的结果提供可视指示的显示器。

根据本发明的再一个方面，提供一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

至少一个安装在所述框架上的光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的图像对应的图像信号；和

至少一个安装在所述框架上的摆频信号发生器，摆频信号发生器包括至少一对隔开的线圈，可激励该对线圈以产生偏转所述电子显示器件内电子束的交变磁场，所述线圈固定到所述框架，在所述至少一个光传感器视野之外。

本发明提供的优点在于：安装在框架上的特写光传感器与广角光传感器组合，允许同时捕获电子显示器件上显示的小面积和大面积图像，而不需要移动特写光传感器。这样允许对电子显示器件迅速进行一系列综合测试和对准功能。另外，摆频信号发生器设计允许线圈永久安装在特写和广角光传感器视野之外的框架上，同时允许其产生所希望的交变磁场，以偏转电子显示器件内的电子束。该特性加快了测试和对准过程。

现在参考附图更全面地描述本发明的一个实施例，其中：

图1是根据本发明用于电子显示器件的测试和对准系统的方框图；

图2a是图1中所示的测试和对准系统的测试定位装置构成部件的透视图；

图2b是图2a中所示的测试定位装置的顶部截面图；

图2c是图2a中所示的测试定位装置的侧截面图；

图3是图2a中所示的测试定位装置一部分的放大截面图；

图4是图2a中所示的测试定位装置另一部分的放大截面图；

图5至10是说明在图1中所示的测试和对准系统的操作期间为工作人员显示的图形面板的示意图；和

图11是用于对准图1中所示的测试和对准系统的广角摄像机构成部件的校准栅极的正视图。

参考图1，该图示出用于包括CRT组件和电视机或计算机监视器的电子显示器件12的测试和对准系统的图示说明，并用参考标号10概括表示。系统10包括一个测试定位装置14，测试定位装置上安装多个光传感器16，以捕获电子显示器件12上显示的测试图案的图像并产生与捕获图像对应的视频图像信号。摆频信号发生器18也安装在定位装置14上，以便偏转电子显示器件12内的电子束，如下面所描述的。

光传感器16的视频图像信号输出通过由参考标号22概括表示的一个多路复用器和高速视频输入信道处理器传送到计算机20。计算机20连接到一个工作人员显示器24、一个测试图案发生器26和摆频信号发生器18。测试图案发生器26将测试图案送到电子显示器件12，在计算机20的控制下显示。计算机20还可连接到一个可编程逻辑控制器(PLC)28，用于控制常规传送带30的输送，传送带上承载电子显示器件，把待测试的每个电子显示器件放置在测试定位装置14前面。图中还示出包括操作电子显示器件12所需的偏转放大器和视频放大器、加热器和高压电源的电源用于参考，这些部件统称为扫描单元32。

在多路复用器和视频输入信道处理器22对光传感器16的视频图像信号输出进行处理之后，由计算机20对该视频图像信号输出进行分析，并进行一系列综合测试和校准功能，以确定电子显示器件12的状况。由计算机20进行的测试和对准功能包括彩色纯度、聚焦、静态和动态会聚、偏转线圈转动、垂直性或正交性、视频图案尺寸和定中心、光栅尺寸和定中心、线性、几何图形和包括亮度遮光的亮度测量结果。测试过程中，计算机20产生图形指示器，显示在工作人员的显示器24上，以使工作人员便于确定电子显示器件12在每项测试中是合格还是不合格。

现在参考图2a至2c，更好地说明测试定位装置14。如可看到的，测试定位装置14包括一个容纳光传感器16的盒形框架50。光传感器16排成两组，并且包括一个特写数字彩色CCD摄像机54的阵列52和一个广角数字彩色CCD摄像机58的阵列56。在所示的该特定实例中，阵列52包括三排，每排有三个CCD摄像机54，阵列56包括两排，每排有两个CCD摄像机58。然而，本领域技术人员应该理解，所示的CCD摄像机的数量仅作为说明目的，测试定位装置14可以包括排成大阵列52和56的足够大数量的CCD摄像机54和58。

安装在大致为水平轨道62上的支架60支撑阵列52的上排和下排中的CCD摄像机54。轨道62在固定到框架50的一对大致垂直的轨道64之间延伸。由呈伺服电机形式的传动装置66接受轨道62的端部。传动装置66可响应来自由计算机20操作的电机控制器68(见图1)的输入沿垂直轨道64移动，以调节上排和下排CCD摄像机54的垂直位置。上轨道62的上表面62a向下倾斜，下轨道的上表面62a向上倾斜，以使由轨道支撑的CCD摄像机54向电子显示器件12倾斜。

由安装在短棒70上的支架60支撑阵列52中排外边的CCD摄像机54，传动装置66夹持每个短棒70，使每个短棒70可响应电机控制器68沿相应轨道64移动，以调节这些CCD摄像机54的垂直位置。短棒70从传动装置66向内和向后延伸，以使由短棒支撑的CCD摄像机54也向电子显示器件12倾斜。由通过铰链75安装到悬臂74上的支架72支撑阵列52中排中央的CCD摄像机54。悬臂74从固定在框架50后部的面板76延伸。

每个支架60容纳一个传动装置78，传动装置78响应电机控制器68沿轨道62或短棒70移动支架60，并因此调节由该支架支撑的CCD摄像机54的横向位置。如可在图3中看到，每个传动装置78包括一个电机80，用于通过一个变速箱85旋转伸入轨道62或短棒70中的凹槽84中的轴82。一个齿轮86安装在轴82上并放置在凹槽84内。齿轮啮合轨道62或短棒70的一个壁上形成的齿条88。由轨道62和短棒70中形成的互补槽94和96容纳从支架60伸出的导向柱90和92，以便在支架60沿轨道和短棒横向移动时引导支架60。

与支架60不同，支架72不能横向调节。然而，支架72支撑传动装置100，响应电机控制器68，通过铰链75以悬臂74为枢轴旋转并调节其位置，并由此来调节中央CCD摄像机54的位置。图4极好地示出了传动装置100，传动装置100包括一个电机92和一个变速箱93，用于与安装在悬臂74上的固定螺母相配合旋转螺杆102。

回来参考图3，更详细地说明一个CCD摄像机54。如可看到的，CCD摄像机装配一个透镜110，例如由日本的Tamron公司以型号402026销售的Tamron50MM透镜。在透镜110后面希望的距离设置一个CCD芯片112，以使电子显示器件12上显示的整个图像的某个小细节在其照射CCD芯片时在焦点上。CCD芯片112安装在一个滑动组件114上，滑动组件114可在与穿过透镜110的光轴116平行的直线方向往复运动。滑动组件114贴靠着直线滑动元件118并由直线滑动元件118引导，并由电机120借助螺杆组件122驱动。电机120响应电机控制器68，相对于透镜110定位CCD芯片112，以使电子显示器件12上显示的并由透镜110投射到CCD芯片112上的图像清晰并在焦点上。

再次参考图2a至2c，广角CCD摄像机58的阵列56安装在面板76上并围绕悬臂74。广角CCD摄像机58有重叠视野，以使广角CCD摄像机58的视频图像信号输出基本上表示电子显示器件12上显示的整个显示图像。

阵列52上和下排中的CCD摄像机54的倾斜定向以及短棒70和悬臂74上支撑的CCD摄像机54的位置导致CCD摄像机54在广角CCD摄像机58的视野之外。因此，即使广角CCD摄像机58安装在框架50上并在特写CCD摄像机54之后，广角CCD摄像机58具有无障碍视野。这样，可由两个CCD摄像机阵列同时捕获图像。此外，由于大多数电子显示器件的凸面特性，与一字线定向的CCD摄像机相比，已发现CCD摄像机54的倾斜定向改善了分辨率。

摆频信号发生器18安装在框架50上，与电子显示器件12相邻。摆频信号发生器18包括一对横向隔开大致垂直的线圈，如图2a所示。在摆频信号发生器18中也可利用一对垂直隔开大致水平的线圈，但未说明。线圈固定到框架50并定位，以使其在CCD摄像机54和58的视野之外。缠绕线圈并定出线圈的尺寸以便在激励时产生对称的交变磁场，在测试状态下，该磁场足以大致上包围电子显示器件12并偏转电子显示器件内的电子束。

计算机20包括多个在测试和对准系统10的操作期间执行的软件程序。特别是，计算机20包括一个建立程序，该建立程序包括CCD摄像机54相对于将由测试和对准系统10测试的各种尺寸电子显示器件的位置信息。在计算机20执行建立程序时，计算机向电机控制器68提供输出，电机控制器68又向传动装置66和78提供输入以移动轨道62、短棒70和/或支架60和72，以使CCD摄像机54定位在适当的希望位置。计算机20还包括常规图像分析软件，以确定CCD摄像机54和58是否在焦点。如果CCD摄像机不在焦点，计算机20向电机控制器68提供输出，电机控制器68操纵电机120，以便通过螺杆组件114调节CCD芯片112的位置。计算机还包括测试和对准程序，计算机20执行该程序时，允许处理由计算机接收的CCD摄像机54和58的视频图像信号输出并对电子显示器件进行一系列测试。测试和对准系统10执行的该系列测试与1995年6月13选定美国提交的PCT申请序号No.PCT/CA95/00352中公开的系列测试相似，在此引入该申请的内容作为参考。广角摄像机的对准

必须对准阵列56的广角彩色CCD摄像机58的视野，以识别和存储摄像机像素位置与其相应视野中对应点的关系供参考，并进一步确保其视野重叠和包围感兴趣的希望区域。现在描述实现上述目的的优选方法。

现在参考图11，为便于说明以负栅极形式示出校准栅极130。栅极130呈片状，具有多个几何形状对称的行，例如矩形，或最好形式为圆形，在整个栅极的每个轴上等距的孔131。孔131准确地形成在片上，以使相邻孔中心之间的距离为所知的高精度。采用计算机辅助设计(CAD)方法并通过在高稳定性的胶片上光绘制该设计作为产生栅极130的优选方法。对于对准处理，应用适当的背后照明。虽然以负栅极形式说明了栅极130，本领域技术人员应该理解，实际上，孔131是透明的，而栅极130周围的区域不透明。

在片上与阵列56中的广角CCD摄像机58的间隔对应的隔开位置，可辨别出孔132与栅极130中所有其它孔不同。例如，这些特殊的孔可以有不同形状和尺寸。在该优选实施例中，实际上用到极值的尺寸，通过将它们完全略去来区分这些孔。这样导致在栅极130上提供大的、大致为矩形的不透明区132。

在校准栅极的计算机图像分析处理期间，通过内插相邻孔133的坐标计算略去的孔132的位置。可认为这些略去的孔132的位置是每个广角CCD摄像机58的感兴趣区域134的中点。由于每行中相邻孔之间的距离是已知的，通过对沿从视野中心延伸的四个正交方向的视野内的栅极130上的孔131的数量计数来确定每个CCD摄像机58的视野。沿相邻CCD摄像机58的视野的每个相邻边缘位于两个相邻CCD摄像机感兴趣区域内的孔131的一行135或一列136。因此，其感兴趣的区域134重叠。该排列便于阵列56分开的广角彩色CCD摄像机58所看到区域的准确空间连接，以便它们包围整个感兴趣的希望区域。

在系统10的应用期间，电子显示器件12位于大致与测试定位装置14有关的希望位置，使用栅极130进行校准。施加到电子显示器件12以便评估或对准其上显示的图像的几何图形的测试图案大致构成为矩形形状的点，以使某些点落入相邻CCD摄像机58的重叠区内。通过使相邻CCD摄像机看到的点的位置相关，和进一步应用本领域技术人员已知的三角计算，可全部以三维尺寸识别电子显示器件12显示的点的准确位置。此外，通过包括与电子显示器件12有关的、诸如所使用玻璃的曲率半径和厚度以及折射常数之类的几何常数，可通过计算机计算对所有主要误差源做出校正。实际上，阵列56的CCD摄像机58可分析显示的图像，好象从无穷远距离看到图像，有助于确定几何误差。测试和对准系统的操作

现在描述测试和对准系统的操作。首先，计算机20执行建立程序，在适当位置定位CCD摄像机54，以使CCD摄像机的视野朝向将要测试和对准的电子显示器件12。此后，计算机20调整测试图案发生器26，以便将测试图案送到电子显示器件。电子显示器件12显示该测试图案。保持在焦点上的CCD摄像机54和58捕获显示的测试图案的图像。特写CCD摄像机54聚焦在显示图像的小细节上，并因此捕获电子显示器件12上显示的整个测试图案的小区域。另一方面，具有重叠视野的广角CCD摄像机58共同捕获电子显示器件上显示的整个测试图案的图像。

由多路复用器和高速视频输入信道处理器22多路复用和处理CCD摄像机54和58输出的视频图像信号。高速视频输入信道处理器22对视频图像信号进行各种基本图像处理操作，包括在多路复用之后的数字化、积分、阈值处理、内插、直方图分析以及水平和垂直投影。视频输入信道处理器还将视频图像信号从亮度和色度值转换成红、绿和蓝值以便计算机20处理。

如前所述，计算机20分析CCD摄像机54和58的视频图像信号输出，以便在执行测试和对准程序时对电子显示器件进行一系列综合测试。测试和对准程序的模块特性允许工作人员调整计算机20以便实际上以任何顺序进行测试，并且如果希望可重新进行一项或多项测试。现在参考图5至10描述计算机20可进行的各种测试。聚焦

为测量聚焦，计算机20分析特写CCD摄像机54输出的视频图像信号。所使用的软件技术包括首先测量光点尺寸的行宽，然后测量作为调制传递函数(MTF)的对比度深度。可根据对电子显示器件12上显示的小特写的像素密度直方图或轮廓尺寸的分析应用其它聚焦确定方法，通过确定质量(mass)中心和在对比度的深度中心测量光点尺寸，使该点与人眼良好聚焦的感觉很好地连系。测试过程中，计算机20产生一个图形面板，与“合格”或“不合格”读出信息一起显示在工作人员的显示器24上，如图5所示。可通过扫描单元32调节施加到电子显示器件12的聚焦电压，以改善电子显示器件的聚焦。当红“球”位于虚线的矩形内时，认为测试中的电子显示器件被聚焦在规定限度内。红“球”越靠近叉丝的中心，电子显示器件12的聚焦越好。彩色纯度/垂直光栅偏移/偏转线圈转动

在“彩色纯度/垂直光栅偏移/偏转线圈转动”测试过程中，计算机20产生图6所示的图形面板，显示在工作人员的显示器24上。图形面板包括指示对偏转线圈和电子显示器件的两个色纯度环调节的几个视频仪表。随着工作人员向后和向前移动偏转线圈，在上排外侧的两个方盒仪表中的“球”从外侧反向向屏幕中心移动，下排中间的仪表指针上下移动。偏转线圈的转动在下排外侧的两个“上下移动”的仪表中显示。两个色纯度环的移动显示在上排全部三个仪表中。同样，上排中间的仪表将指示与指示器“球”的顶部到底部位置有关的垂直光栅移动。工作人员的显示器24还依据是否满足调节规定来显示“合格”或“不合格”读出信息。

在彩色纯度和亮度测量过程中，在CCD摄像机54和58捕获图像时，激励摆频信号发生器18以偏转电子显示器件12中的电子束。具体地说，用交变极性电流同时激励摆频信号发生器18的垂直线圈。该线圈产生包围电子显示器件并水平偏转的垂直对称交变磁场，电子束射到电子显示器件中的荧光体上。当摆频信号发生器18不产生磁场时，只要电子束与荧光点或条的中心对准，与电子显示器件中的荧光点或荧光条有关的电子束的交变对称偏转导致发光强度同等降低。光强中的任何差异是电子束着靶中偏差的指示。

此后，同时激励摆频信号发生器18的水平线圈(如果包括)以产生包围电子显示器件并垂直偏转的对称交变水平磁场，电子束射到电子显示器件中的荧光点和条上。

在激励摆频信号发生器线圈的同时，由计算机20分析并处理特写CCD摄像机54产生的视频图像信号，以确定电子束着靶偏差。如果希望，可由计算机20分析和处理广角CCD摄像机58产生的视频图像信号，或对其感兴趣的选择区域，以确定电子束着靶偏差。静态会聚

静态会聚测试过程中，计算机20产生如图7所示的图形面板，显示在工作人员的显示器24上。该图形面板反映了对电子显示器件的磁校正装置的调节结果，按常规，两对轭环被称为四极环形磁铁和六极环形磁铁。工作人员调节两对轭环，以使红和蓝十字尽可能靠近叉丝中心。该项测试过程中，中央的CCD摄像机54位于电子显示器件中心，并由计算机20分析和处理CCD摄像机54产生的视频图像信号。作为一个实例，当调节红和蓝十字以使它们位于虚线矩形内并且不相隔虚线矩形宽度的一半时，可接受测试中的电子显示器件的静态会聚。动态会聚

动态会聚测试过程中，计算机20产生如图8所示的图形面板，显示在工作人员的显示器24上。图形面板说明了通常在电子显示器件上的四个或多个位置测量的会聚。该项测试过程中，由计算机20分析和处理来自许多CCD摄像机54的视频图像信号。该实例中的这四个位置沿电子显示器件的水平和垂直轴分布，靠近发光显示区边缘。中央仪表中显示了综合结果。如果该“球”在虚线矩形内，这四个会聚测量结果在规定限度内。还显示偏转线圈上下移动仪表。如果偏转线圈的上下移动仪表和测量会聚都在规定限度内，则获得一个“合格”结果。

在两种会聚的测量过程中，因两个原因不能由它们自身分析电子显示器件上彩色的各个点。电子显示器件上的彩色点不是完善的圆形，而通常为非常奇特的形状，由于电子束的大截面而造成一组点发光。为补偿电子束形状的不规则性，分析每种颜色的一组点，并数学计算其质量中心的相对位置。通过分析投影，可补偿不规则的电子束形状，以提供更准确的测量结果。正交性

系统10还测试偏转线圈的水平和垂直绕组的正交性，并在工作人员的显示器24上显示图形面板，该图形面板包括“X”和“Y”标尺，以及“合格”或“不合格”读出信息，如图9所示。用于确定绕组正交性的方法对本领域技术人员来说是熟知的。其它几何图形

与正交性相似，可用测试和对准系统10对电子显示器件12进行本领域技术人员熟知的各种其它几何图形测试，例如枕形畸变、鸥翼(gull-wing)失真、线性等。

如前所述，如果希望，在执行测试和对准程序过程中，可随时重新进行上面的一项或多项测试。例如，图10示出重新进行“彩色纯度/垂直光栅偏移/偏转线圈转动”测试期间计算机20输出的图形面板，显示在工作人员的面板24上。

正如本领域技术人员将理解的，该测试和对准系统允许同时捕获电子显示器件上显示的测试图案的特写和广角图像，以便允许在电子显示器件上快速和实时地进行一系列测试。

虽然已描述了本发明的优选实施例，本领域的技术人员应该理解，可在不脱离所附权利要求定义的范围的情况下做出其它变化和改进。

Claims (32)

1．一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

安装在所述框架上的多个特写光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号；和

安装在所述框架上位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器，所述广角光传感器用于感测和产生与所述电子显示器件上显示的所述大面积图像对应的图像信号。

2．根据权利要求1所述的测试定位装置，其中所述广角光传感器具有包括所述小面积的视野。

3．根据权利要求2所述的测试定位装置，其中所述多个广角光传感器具有重叠视野，以感测和产生与所述电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。

4．根据权利要求3所述的测试定位装置，其中所述特写光传感器放置在所述框架上，以便在所述重叠视野之外。

5．根据权利要求4所述的测试定位装置，其中所述特写光传感器包括多排光传感器，所述光传感器在朝向所述电子显示器件的方向倾斜。

6．根据权利要求5所述的测试定位装置，进一步包括至少一行居中的中排光传感器。

7．根据权利要求6所述的测试定位装置，其中所述中排光传感器包括一个可垂直移动的中央光传感器，所述中央光传感器放置在所述框架上，以使其视野包括所述图像的中心。

8．根据权利要求7所述的测试定位装置，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在所述框架上。

9．根据权利要求8所述的测试定位装置，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在一个悬臂上。

10．根据权利要求5所述的测试定位装置，其中所述光传感器行被支撑在安装在所述框架上的倾斜轨道上，可垂直调节所述轨道。

11．根据权利要求10所述的测试定位装置，其中所述行中的光传感器可沿所述的相应倾斜轨道横向移动。

12．根据权利要求11所述的测试定位装置，其中所述行中的光传感器包括传动装置，以便沿所述轨道横向移动所述光传感器。

13．根据权利要求1所述的测试定位装置，进一步包括至少一个安装在所述框架上的摆频信号发生器，用于产生交变磁场以偏转所述电子显示器件中的电子束。

14．根据权利要求13所述的测试定位装置，其中所述至少一个摆频信号发生器包括至少一对安装在框架上的隔开的线圈，可激励该对线圈以产生所述交变磁场，所述交变磁场通常包围整个电子显示器件。

15．根据权利要求14所述的测试定位装置，其中所述至少一个摆频信号发生器包括一对垂直隔开的、大致水平的线圈和一对横向隔开的、大致垂直的线圈，可激励所述两对线圈中的每一对线圈，以产生所述交变磁场。

16．一种用于电子显示器件的测试和对准系统，包括：

一个连接到一个电子显示器件的测试图案发生器，用于使所述电子显示器件在所述电子显示器件上产生视频测试图案的图像；

一个包括支撑多个特写光传感器和位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器的框架的测试定位装置，多个特写光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号，广角光传感器感测和产生与所述电子显示器件上显示的大面积图像对应的图像信号；

一台控制所述测试图案发生器并处理所述图像信号以便对所述电子显示器件进行一系列测试的计算机；和

一个对所述系列测试的结果提供可视指示的显示器。

17．根据权利要求16所述的测试和对准系统，其中所述广角光传感器具有包括所述小面积的视野。

18．根据权利要求17所述的测试和对准系统，其中所述多个广角光传感器具有重叠视野，以感测和产生与所述电子显示器件上显示的整个图像大致对应的图像信号。

19．根据权利要求18所述的测试和对准系统，其中所述特写光传感器放置在所述框架上，以便在所述重叠视野之外。

20．根据权利要求19所述的测试和对准系统，其中所述特写光传感器包括多排光传感器，所述光传感器在朝向所述电子显示器件的方向倾斜。

21．根据权利要求20所述的测试和对准系统，进一步包括至少一行居中的中排光传感器。

22．根据权利要求21所述的测试和对准系统，其中所述中排光传感器包括一个可垂直移动的中央光传感器，所述中央光传感器放置在所述框架上，以使其视野包括所述图像的中心。

23．根据权利要求22所述的测试和对准系统，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在所述框架上。

24．根据权利要求23所述的测试和对准系统，其中所述中央光传感器作为中枢地安装在一个悬臂上。

25．根据权利要求20所述的测试和对准系统，其中所述光传感器行被支撑在安装在所述框架上的倾斜轨道上，可垂直调节所述轨道。

26．根据权利要求25所述的测试和对准系统，其中所述行中的光传感器可沿所述的相应倾斜轨道横向移动。

27．根据权利要求26所述的测试和对准系统，其中所述行中的光传感器包括传动装置，以便沿所述轨道横向移动所述光传感器。

28．根据权利要求16所述的测试和对准系统，进一步包括至少一个安装在所述框架上的摆频信号发生器，用于产生交变磁场以偏转所述电子显示器件中的电子束。

29．根据权利要求28所述的测试和对准系统，其中所述至少一个摆频信号发生器包括至少一对安装在框架上的隔开的线圈，可激励该对线圈以产生所述交变磁场，所述交变磁场通常包围整个电子显示器件。

30．根据权利要求29所述的测试和对准系统，其中所述至少一个摆频信号发生器包括一对垂直隔开的、大致水平的线圈和一对横向隔开的、大致垂直的线圈，可激励所述两对线圈中的每一对线圈，以产生所述交变磁场。

31．一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置，包括：

一个框架；

至少一个安装在所述框架上的光传感器，用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的图像对应的图像信号；和

至少一个安装在所述框架上的摆频信号发生器，摆频信号发生器包括至少一对隔开的线圈，可激励该对线圈以产生偏转所述电子显示器件内电子束的交变磁场，所述线圈固定到所述框架，在所述至少一个光传感器视野之外。

32．根据权利要求31所述的测试定位装置其中所述至少一个摆频信号发生器包括一对垂直隔开的、通常为水平的线圈和一对横向隔开的、大致垂直的线圈，可激励所述的每对线圈，以产生所述交变磁场。

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