CN1199156C - 信息记录/重放设备和方法 - Google Patents

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Abstract

一种把激光束发射到信息记录介质以记录和/或重放信息的信息记录/重放设备包括：激光束发生装置，产生将信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息的激光束；时间控制装置，控制信息记录时间，使信息记录介质轨迹上的记录区域跟随以局部重迭方式记录的另外记录区域；激光束强度控制装置，控制所产生激光束的强度，使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和无记录信息也无擦除信息的第三区域形成在记录区域中。

Description

信息记录/重放 设备和方法
技术领域
本发明一般地涉及到信息记录/重放设备、信息记录/重放方法和传送介质。特别是，本发明涉及到当以重迭方式记录信息部分时，通过记录预选的图形能使对信息记录介质的损伤最小的信息记录/重放设备、信息记录/重放方法和信息传送介质。
背景技术
通常，有两种类型的光盘被广泛利用；ROM盘专用于只能从其中读取信息以及RAM盘允许记录(或写入)数据和从盘重放数据。在ROM盘中，连续而不中断地记录数据。因此，ROM盘允许由使用沿形成在盘上每个标记的长度边缘的DPD(相差检测)来控制跟踪(应注意，标记包含由物理凹面形成的凹坑)。
对于RAM盘，当其上没有记录数据时，形成在其中没有标记形成在数据轨迹上的状态(即，沿凹坑的长度不存在边缘)的区域。把数据记录到RAM盘和重放记录在RAM盘上的数据的光盘装置通常使用形成在RAM盘上的沟槽，这样在没有记录数据的状态中，也能进行跟踪。使用该沟槽的侧壁(sidewall)(或数据轨迹侧壁)执行跟踪。由于ROM盘没有形成沟槽，所以沿每个标记宽度的边缘就作为沟槽的侧壁。因此，为RAM盘设计能装在光盘器件上的ROM盘，以便执行数据重放的跟踪控制。
然而，把具有至少一个没有记录数据部分的RAM盘装入专用于ROM盘的光盘装置，并用DPD执行跟踪，这使得很难正确驱动该RAM盘，原因是该装置不能在没有记录数据的部分执行跟踪控制。为使专用于ROM盘的光盘装置也正确地驱动RAM盘，就必须在RAM盘上形成没有不记录数据的部分。
在RAM盘中，以ECC块为基础记录数据。当一个ECC块后面跟随另一个ECC块时，先前的ECC块和随后的ECC块以局部重迭方式记录。这样就防止在这些ECC块之间由于抖动等使其中没有数据被记录的部分形成。
也就是说，在通常的RAM盘中，具有4T长度的记录标记和具有4T长度的擦除标记交替地记录在以图13中所示的重迭方式记录数据的部分。
如所述的，RAM盘是以局部重迭方式记录数据。因此，重复地重写数据就使得将数据重写在重迭部分的次数是将数据重写在其它部分的次数的2倍。这样就降低了将数据重写在该部分的可靠性。
在数据以重迭方式记录的部分中通常提供APC(自动功率控制)区域。记录数据的激光功率根据数据被写入所述部分的状态来调节。因此，如果该部分受到损伤，则正确地设定激光功率就变得很困难。
此外，OPC(选择率控制)区域形成在光盘的最内圆周上。APC区域还形成在该OPC区域内。在光盘装置的使用环境已经改变的时刻，光强度根据在APC区域中数据记录的状态来调节。因此，如果APC区域受到损伤，就使得在光盘装置的使用环境已经改变的时刻光强度的调节变为困难。
发明内容
本发明的目的在于提供信息记录/重放设备和方法，由此使以重迭方式记录数据的区域的损伤最小。
为完成本发明以及根据本发明的一个方面，提供了一种信息记录/重放设备，其包括：激光束发生器，用于产生激光束，以便把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息；时间控制器，用于控制记录时间的信息，以便在信息记录介质的轨迹上的记录区域后面跟随以局部重迭方式记录的其它记录区域；和激光束强度控制器，用于控制由激光束发生器产生的激光束的强度，以便使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和既没有记录信息也没有擦除信息的第三区域形成在至少以重迭方式记录信息的记录区域中。
根据本发明的另一个方面，提供了一种将激光束发射到信息记录介质以记录和/或重放信息的信息记录/重放设备，包括：激光二极管，用于产生所述激光束，以便把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息；变换装置，用于把由所述激光二极管产生的所述激光束变换朝向所述信息记录介质；光电检测器，用于接收从所述信息记录介质反射的激光束；主轴电机，用于旋转驱动所述信息记录介质；伺服电路，用于控制信息记录时间，以使在所述信息记录介质的轨迹上的记录区域跟随有以局部重迭方式记录的另外的记录区域；和激光束强度控制装置，用于控制由所述激光束二极管产生的所述激光束的强度，以使所述激光束发射到记录区域，其中信息至少是由记录信息的第一激光功率、擦除信息的第二激光功率和低于所述第一激光功率和所述第二激光功率的第三激光功率以重迭方式记录的。
根据本发明的另一个方面，提供了一种信息记录/重放方法包括步骤：产生用于把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息的光；控制信息记录时间，以便在所述信息记录介质的轨迹上的记录区域跟随有以局部重迭方式记录的另外的记录区域；和控制光的强度，以使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和既无记录信息也无擦除信息的第三区域形成在记录区域中，其中信息至少是以重迭方式记录的。
附图说明
本发明的这些和另外的目的，通过参见参照附图的说明将更明显，其中：
图1是说明与本发明相关的信息记录/重放设备应用的光盘装置的结构方块图；
图2是说明图1中所示盘的格式图；
图3是说明ECC块的数据重迭记录区域的图；
图4是说明在OPC区域中处理的流程图；
图5A至5E是说明图形(pattern)1的格式图；
图6A至6E是说明图形2的格式图；
图7A至7H是说明写入两个连续的ECC块操作的时间图；
图8是说明最好的变化率的图；
图9是描述将数据写到数据区域的处理流程图；
图10是描述从数据区域读出数据的操作流程图；
图11是说明APC电路的构成的电路图；
图12是说明APC电路的另一个构成的电路图；和
图13是说明将数据记录在通常的APC区域中的状态图。
具体实施方式
通过参考附图的例子将进一步详细描述本发明。为弄清在权利要求范围内描述的发明装置和跟随的最佳实施例之间的关系，每个装置跟随有括弧中相应的描述本发明的特征的实施例(例子)。然而，应注意的是，这种描述不限于所描述的装置。
与本发明相关的信息记录/重放设备包括：光发生装置(例如，图1的激光二极管11)，用于产生把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息的光；时间控制装置(例如，图1的伺服电路5)用于控制信息记录时间，以便在信息记录介质的轨迹上的记录区域形成，并跟随有以局部重迭方式记录的其它记录区域；和强度控制装置(例如，图1的伺服电路5)用于控制光的强度，以便使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和既没有记录信息也没有擦除信息的第三区域形成在至少以重迭方式记录信息的记录区域中。
现在，参考图1，该图示出了与本发明相关的信息记录/重放设备应用的光盘装置的结构的例子。在图1中，盘1是能使在其上多次重写数据的相变光盘，盘1由主轴电机2以预定的速度旋转。光学头3具有由激光二极管驱动器(LDD)21驱动的激光二极管(LD)11。从激光二极管LD11发射的激光束由准直透镜12变换为平行光束，该光束经光束分离器13通过物镜14，由物镜14聚焦照射到盘1。从盘1反射的光束经过物镜14进入光束分离器13以被反射。由透镜18聚焦的反射光束进入光敏二极管(PD)19。从光敏二极管PD19输出的电流被电流-电压(I/V)变换器20变换成电压信号，该信号进入信号重放/解码电路4和伺服电路5。
从LD11发射的和从准直透镜12进入光束分离器13的激光束的一部分被光束分离器13反射并被透镜15聚焦，该聚焦光束进入光敏二极管(PD)16。PD16输出对应于从LD11发射激光速强度的电流信息。该电流信号被电流-电压(I/V)变换器17变换，输入到伺服电路5。
信号重放/解码电路4解码从盘1重放的信号，该信号从电流-电压变换器20输入，并把解码数据提供到控制器7。控制器7恰当地处理输入的数据，并把结果按要求输出到主计算机(未示出)。
伺服电路5从由电流-电压变换器20提供的信号产生聚焦伺服控制信号和跟踪伺服控制信号，并把产生的信号输出到光学头3。此外，伺服电路5产生主轴伺服信号，并把产生的主轴伺服信号输出到主轴电机2。
伺服电路5有多个寄存器6(为简化起见，图1仅表示它们其中一个)。寄存器6保持从电流-电压变换器17输出的值或控制器7或主计算机提供给LD11驱动电流的值。
信号编码电路8编码从控制器7提供的记录数据，以产写信号，该信号输出到LDD21。LDD21根据该写信号驱动LD11。
图2表示在盘1上的各个区域的格式。如所示的，在盘1的最内圆周的预定范围内的区域是OPC区域，而环绕OPC区域的区域是数据区域。在每个这些区域中，以ECC块为基础记录和重放。一个ECC块(32KB)由16个扇区组成，一个扇区由26个帧组成。一帧由91字节组成。每个ECC块在其前部有大约7帧组成的连接部分，其前面的2帧左右提供为APC区域。每个ECC块在其后部也有大约2帧的连接部分。在每个OPC区域和数据区域中，参考图5和图6描述的图形1或图形2的数据记录在APC区域中。对ECC区域，最小的转换间隔(在这种情况是3T)的数据和最大的转换间隔(在这种情况是11T)的数据交替地记录在OPC区域中，在数据区域中的ECC块中，记录最初的数据。
盘1通过伺服电路5控制其时间，使ECC块记录有与跟随ECC块的引导(leading)连接部分局部重迭的ECC块的尾随(trailing)连接部分。图3表示这种关系。如所示的，具有8帧标准长度的连接部分形成在ECC块之间。在这些8帧中，大约2帧连接到每个ECC块的尾端，大约7帧连接到每个ECC块的开始。
换句话说，当记录一个ECC块时，记录大约7帧的连接部分，跟随着一个ECC块的数据，后面跟随大约2帧的连接部分。当连续记录2个ECC块时，构成这些ECC块之间的连接部分的帧数正好是8帧。即，在这种情况下，前面的连接部分不与后面的连接部分重迭。
相反，当已经记录ECC块之后记录新的ECC块时，前面ECC块的连接部分的最后帧与后面ECC块连接部分第一帧局部重迭。
每个ECC块的末端记录有后面有一帧伪(dummy)数据的同步SY1，跟随着同步SY7，后面跟随有53字节±×1长度的伪数据。±×1的值是在-32至+32范围内的预定值，该值适当地设定为随机的数字。因此，最后连接部分的长度是最小为21(＝53-32)字节和最大为85(＝53+32)字节。
当记录的ECC块N后面有新的ECC块N+1时，从连接部分的开始到第一个同步SY2的长度是46±×2字节。该×2的值也恰当地设定为随机的数字。应注意，×2的极性和×1的极性互相相反。
跟随ECC块的连接块的开始为在从前面(记录的)ECC块的连接部分的同步SY7开始的53±×1-8字节的位置。因此，在前面连接部分的末端的前头的8字节长度提供一个其中数据是以重迭方式写入的区域。然而，在从数据写入连接部分的位置允许±4字节的抖动，所以该重迭包记录区域的长度是最小4(＝8-4)字节和最大12(＝8+4)节字。前面ECC块的连接部分的同步SY7和后面ECC块的连接部分的同步SY2之间帧的长度是91(＝53-8+46)-×1+×2。当包含抖动时，该长度产生±4字节的误差。
每个ECC块的开始连接部分的第一个同步SY2之后按顺序有同步SY7、同步SY3、同步SY7、同步SY4、同步SY7和同步SY0。在同步SY0之后，安排ECC块。
APC区域是在每个ECC块的开始连接部分起始到第一个同步SY7之间的区域，该APC区域的第一个12字节(最大长度的重迭记录区域)写入有以后描述的图5中所示的图形1的数据，而剩余区域写有图形2的数据。
4T长的记录标记和4T长的擦除标记交替地记录在连接部分的其它区域；即，大约2帧的连接部分连接到ECC块的末端，以及在连接部分中第一同步SY7之间的5帧区域连接到ECC块的开始和ECC块的第一同步SY0。
随后描述图1中所示的最佳实施例的工作。当盘1装在光盘装置上时，控制器7执行图4流程图所表示的处理(在盘1最内圆周中OPC区域上的记录测试数据并重放该记录的数据的处理)。
也就是，首先，在步骤S1中，控制器7设置到1，变量n表示调节从LD11输出的激光束强度的步骤数字。
接着，在步骤S2中，控制器7对伺服电路5的寄存器6设定对于变数n的参数。即，对寄存器6设定Icool_n，Iwrite_n，和Ierase_n(在此情况，n＝1)。Icool_n表示在冷却期间产生具有强度的激光束的LD11的驱动电流(或驱动电压)的值。在该冷却期间激光束的强度在图5A和6A中以C表示。
参数Iwrite_n表示在下面方程式中：
                 Iwrite_n＝Icool_n+ΔCW_n
参数Iwrite_n表示产生具有使LD11记录数据所需要的强度的激光束的驱动电流(或驱动电压)值(在图5A和6A中以W表示)。在上述方程式中，ΔCW_n是常数并对应于参数Iwrite_n和Icool_n之间的差。通过把常数ΔCW_n加到参数Icool_n获得的值来设定参数Iwrite_n。
当产生使LD11擦除数据所需要强度的激光束(在图5A和6A中以E表示)时，参数Ierase_n表示提供的驱动电流(或驱动电压)的值。该参数表示在下面的方程式中：
Ierase_n＝Icool_n+ΔCE_n
在上述方程式中，ΔCE_n是常数。
通过把该常数加到参数Icool_n获得的值来设定参数Ierase_n。
这些值设定到APC电路41-i的寄存器61，将参考图11在以后予以说明。由于在该情况n＝1，最小值设定到寄存器61。
在步骤S3，控制器7控制伺服电路5，以执行以ECC块为基础的写操作。
即，伺服电路5控制LDD21，这样在冷却期间的激光束的强度C就由设定的值Icool_1来确定，用于数据记录的激光束的强度W就由设定值Iwrite_1来确定，以及用于数据擦除的激光束的强度E就由设定值Ierase_1来确定。
如图3中所示，控制器7在APC区域的第一个8字节部分产生图5中所示的图形1的数据和在APC区域的剩余部分产生图6中所示的图形2的数据，并把产生的数据提供到信号编码电路8。信号编码电路8把输入的数据变换成相应的写信号；并把它们提供到LDD21。如图5中所示，在图形1中，具有最小转换间隔(3T)长度的标记(记录标记)、具有最小转换间隔长度的标记(擦除标记)和具有最大转换间隔(11T)的无信号部分依次重复。如图6中所示，在图形2中，具有最小转换间隔的标记(记录标记)和具有最大转换间隔的标记(擦除标记)依次重复。
当从LD11发射具有预定强度的激光时，该激光被准直透镜12变换成平行光束，该光束经过光束分离器13进入物镜14被聚焦。聚焦的光束辐射到盘1。因此，图形2、图形1的标记形成在盘1上的OPC区域中的APC区域中。
为在记录3T周期的标记(记录标记)之后记录3T周期的标记(擦除标记)，原则上在3T期间，产生具有0.5T周期的强度W和其余0.5T周期的强度C的三个光脉冲。通过输出具有3T擦除周期的强度E的激光束，就能形成3T周期的擦除标记。然而，具有强度W激光束的照射使盘1加热并花时间使盘1冷却下来。因此，如图5A所示，实际上激光束依次具有0.5T周期的强度W、3.5T周期的强度C、0.5T周期的强度W、1T周期的强度C和0.5T周期的强度E。因此，如图5E中所示，3T的记录标记和3T的擦除标记就能以相位变化被记录。
下一个11T周期，激光束具有强度C。该强度C大于数据读取所必需的强度R，但不是大到足以在盘1上记录标记和擦除已记录标记。因此，在该11T周期是无记录区域，其中既没有记录记录标记也没有记录擦除标记。
从LD11发射的激光束是从光束分离器13反射的，经过透镜15进入PD16。因此，PD16输出实际上对应于从LD11输出的激光束强度的信号。该信号被电流-电压变换器17变换成电压信号，被供给到伺服电路5。如图5B中所示，伺服电路5应用APC伺服，因此从LD11发射的激光束的强度(从PD16输出的值Ipcool)与在步骤S2中设定的设定值Icool_1一致，直到在从11T长的冷却周期开始经过的1T周期之后冷却周期结束为止。
如图5C中所示，伺服电路5还应用APC伺服，以使从LD11发射的激光束的强度(从PD16输出的值Iperase_1)与基准寄存器61设定的值Ierase_1一致，直到在从设定强度E经过1T的周期之后，强度E的擦除周期结束为止。
此外，如图5D中所示，伺服电路5应用APC伺服，以使从LD11发射的激光束强度(从PD16输出的值Ipwrite_1)，在产生强度W的激光束通过1T周期(在产生强度W的第二激光束的时刻)之后，与在步骤S2设定的1T周期值Iwrite_1一致。
如图5E中所示，在其中ECC块可能以重迭方式跟随有其它的ECC块的部分中，形成无记录区域。在该无记录区域中，数据不以重迭方式写入。无记录区域有11T长，等于24帧的数据记录区域中最大转换间隔。这是作为允许数据存在的标准的最大长度。因此，这种安排，减少了将数据写入盘1的数据以重迭方式写入的区域的次数。
另一方面，如图6E中所示，在APC区域的其余部分中，3T部分的记录标记和11T部分的擦除标记交替地记录。原则上，对于这种记录，3T的记录标记是通过产生具有0.5T周期的强度W和下一个0.5T周期的强度C的三个光脉冲而形成的，擦除标记是通过产具有11T周期的强度E的激光束而形成的。然而，实际上如上所述，必须考虑光盘1的热积累效应。这种情况，如图6A中所示，通过控制，以便产生具有0.5T周期的强度E和下一个0.5T周期的强度C的2个脉冲，然后强度变为12T周期的强度E。如图6E中所示，允许记录其每一个都具有3T长度的记录标记和其每一个都具有11T长度的擦除标记。
如图6C中所示，在其中记录图形2的部分中，应用APC伺服，以使从LD11输出的激光束强度(PD16的输出值Iperase_1)变为等于在步骤S2中设定的设定值Ierase_1，同时在具有强度E的激光束的产生开始后的1T周期通过之后，连续产生具有强度E的激光束(直到强度E变成强度W为止)。而且，如图6D中所示，应用APC伺服，以便在具有强度W的第二个激光束的产生开始之后的1T周期期间，从LD11输出的激光束强度(PD16的输出Ipwrite_1)等于在步骤S2中设定的设定值Iwrite_1。
如图6B中所示，在冷却期间不进行APC操作。对在冷却周期期间，在图形1的部分中，用于具有强度C的激光束的APC伺服的结果保持不变。
应注意的是，如图5和6中所示，开始APC操作的时间延迟1T，以在操作稳定之后开始APC操作。
在跟随APC区域的24帧的数据记录区域中，3T的记录标记和11T的擦除标记作为测试数据交替地记录。应注意的是，在该24帧的数据记录区域中，不执行APC控制，在最后冷却周期中的强度、写周期、或APC区域的擦除周期保持没有变化(然而，如果需要，在写周期和擦除周期中执行APC操作)。
如上所述，当已经记录一个ECC块的数据时，在完成记录之前，PD16的输出Ipcool_1立刻保存在伺服电路5的寄存器6中。
接着，在步骤S4中，控制器7确定变数n是否是8。因为在这种情况下n＝1，在步骤S5中，变数n增加1，n变为2。
然后，回到步骤S2，控制器7对伺服电路5的基准寄存器61设定对应于n＝2的设定值。Icool_2，Iwrite_2，Ierase_2。这些值稍微大于n＝1的那些值。
在步骤S3中，执行如上所述的相同的写操作。
重复该写操作，直到在步骤S4中已经达到n＝8为止。即，在该例中，已经执行8个不同的数据片的写操作。
图7表示如上所述的，其中ECC块(n)的数据和下一个ECC块(n+1)的数据被写入的状态。
如图7B所示，被设定到基准寄存器的值是在图7A中所示的ECC块(n)中对应于n和在ECC块(n+1)中对应于(n+1)的值。
如图7C中所示，在图形1的部分中，在整个C、E和W的强度上执行APC操作。在图形2的部分中，在强度C上保持APC操作，而仅在强度E和W上执行APC操作。在5帧的连接部分和随后的ECC块中，在整个强度上保持APC操作。
因此，如图7D中所示，LD11的强度C的电平调节到步骤S2中在图形1的部分中设定的电平。
另一方面，如图7E和7F中所示，强度E和W的LD11的电平不能完全调节到图形1部分中的步骤S2中设定的值。这是因为强度E和W的APC部分极大地短于强度C的APC部分。
因此，如图6中所示，在图形2中，强度E和W的APC操作的总时间做得较长。因此，在图形2的部分中，强度E和W的LD11的电平调节到在步骤S2中设定的值。
图7G表示其中在ECC块(n)的图形2的APC操作已经结束的时刻将从PD16输出的值Ipcool_n存入寄存器的处理。图7H表示其中在ECC块(n+1)的图形2的APC操作已结束的时刻将从PD16输出的值Ipcool_n+1存入寄存器的处理。应注意的是，如果需要，常数ΔCW_n和ΔCE_n也可存入寄存器。
在图4中所示的处理例子中，由于n＝8，因此8个ECC块处理的结果被保存在8个寄存器6中。
现在再参见图4，如上所述，当8个ECC块的测试数据已经全部写入时，然后，在步骤S6中，控制器7控制伺服电路5，以将值Iread_default作为值Iread设定给基准寄存器，以设定用于数据重放的激光束强度R。该值Iread_default是在控制器7上事先作为缺陷(daufault)设定的值。伺服电路5监视PD16的输出Ipread，并应用APC伺服，使得从LD11发射的激光束的强度(PD16的输出Ipread)变得等于在伺服电路5中寄存器6的基准寄存器中保持的设定值Iread。
然后，控制器7重放用于在步骤S3中执行写操作的8个ECC块的数据。
从盘1反射的激光束经过物镜14进入光束分离器13，以便反射。反射的激光束被透镜18聚焦输入到PD19。从PD19输出的电流信号被电流-电压变换器20变换成电压信号提供到伺服电路5。使用这种输入，在步骤S7和后面的步骤中，伺服电路5执行评价(evaluation)处理。当从每个ECC块读数据时，伺服电路5还把从PD16输出的信号Ipread作为值Iread_opc存入寄存器6中。
在步骤S7，伺服电路5预置第一变化率(在n＝1)(以后描述)作为最好的变化率；即，变化率是作为m＝1预置的。
接着，在步骤S8，伺服电路5设置n＝2。此外，在步骤S9，伺服电路5确定变化率n(在此情况n＝2)是否好于最好的变化率(n＝1的变化率)。其中变化率表示记录在24帧的数据区域中的具有3T长度的记录标记的信号电平A3与具有11T长度的擦除标记的信号电平A11的比率(即，A3/A11)中的变化。该变化率逐渐地增加，比如如图8中所示，值n顺序地从1增加到8。到达峰值后，该变化率下降。在此，峰值后的变化率检测为最好的变化率。
在步骤S9，如果变化率n(在此情况下，n＝2)被查出是好于最好变化率(在此情况，n＝1)，然后，在步骤S10中，将变化率n以最好变化率替换；即，m＝n(在此情况，m＝2)。如果在步骤S9变化率n查出不是好于最好变化率，则越过步骤S10的处理。
在步骤S11中，伺服电路5确定是否n＝8。如果查出n不是8，然后在步骤S12中，n增加1。然后，重复步骤S9和后面的处理。
如果在步骤S11查出n是8，则在步骤S13中，值Icool_m设定为值Icool_init。而且，值ΔCE_m设定为值ΔCE_init和值ΔCW_m设定为ΔCW_init。
于是，测试数据记录在OPC区域，同时改变LD11的强度，并重放记录的数据，由此得到最佳的LD11强度C(Icool_init)、E(Ierase_init＝Icool_init+ΔCE_init)，和W(Iwrite_init＝Icool_init+ΔCW_init)。
接着，表示最初数据写入到盘1，执行图9的流程图中所示的处理。首先，在步骤S31，伺服电路5把在图4步骤S13获得的值Icool_init设置到保持在基准寄存器中的设定值Icool，以在冷却期间控制APC的操作。伺服电路5还把通过将在步骤S13中获得值ΔCE_init加到值Icool_init(即，Icool_init+ΔCE_init)所获得的值，设定为基准寄存器的设定值Ierase，用于擦除期间的APC控制。此外，伺服电路5还把通过将在图4的步骤S13中获得的值ΔCW_init加到值Icool_init所获得的值设定为基准寄存器的设定值Iwrite，用于写周期的APC控制。
接着，在步骤S32，控制器7在数据区域中的APC区域的重迭的写区域中产生图形1的数据，并把产生的数据输入到信号编码器8，以便把输入的数据变换成写信号。LDD21根据该写信号控制LD11，使其发射预定强度的激光束。此时，伺服电路5在每个冷却周期、擦除周期和写周期中，执行上述的APC操作。即，应用APC伺服，以便在冷却周期、擦除周期和写周期中，从PD16输出的信号Ipcool、Iperase和Ipwrite变得等于在步骤S31中设置的值Icool、Ierase、Iwrite。
在步骤S33，控制器7在APC区域的其它周期中产生图形2的数据，并把产生的数据供给到信号编码器8，以便把输入的数据变换成写信号。伺服电路5使APC电路保持在冷却周期中的状态，并在擦除或写周期中执行APC操作。
在步骤S34，控制器7产生写到数据记录区域的数据。产生的数据被信号编码器8变换成写信号，提供到LDD21。根据该写信号，LDD21控制LD11，以产生具有对应于记录数据的强度的激光束。此时，伺服电路5使APC电路(参考图11的描述)在每个冷却周期、擦除周期和写周期中为保持状态。另一方面，如果需要，APC操作仅在擦除周期和写周期中执行。
接着，当指示在盘1的数据区中重放记录的数据时，执行在图10流程图所示的处理。首先，在步骤S41，伺服电路5对重放APC电路的基准寄存器61的值Iread设置为预备值Iread_default(参考图11的APC电路41-2的描述)。于是，在步骤S42，执行读操作。即，此时，伺服电路5应用APC伺服，使从PD16输出的值Ipread与在步骤S41设置到基准寄存器的值Iread一致。同时，从PD19输出的重放信号被电流-电压变换器20变换成电压信号，该信号供给到信号重放/解码电路4。信号重放/解码电路4解码输入的信号，并把解码的信号输出到控制器7。控制器7把输入的重放数据输出到主计算机(未示出)。
在步骤S43中，伺服电路5确定在从PD16输出的值Ipread和设置到基准寄存器的值Iread之间的绝对值差是否大于预设的参考值Ref。如果查出该绝对值不大于参考值Ref，则在步骤S44中，伺服电路5等待，直到读操作结束为止，一旦结束，则处理也就结束。
在步骤S43中，如果查出在值Iread和Ipread之间的值差大于参考值Ref，则在步骤S45中，伺服电路5等待，直到读操作结束为止，一旦结束，在步骤S46中伺服电路5停止聚焦伺服。于是，在步骤S47中，在读操作时，伺服电路5设置值Iread_opc为在步骤S41中初始化的值Iread_default，而该值Iread_opc是在图4的步骤S6中重放写入到OPC区域的数据时被设定的。由于该值Iread_opc是在数据实际上在OPC区域中被读出以得到最佳结果情况下的值，则如果由于光盘装置的使用环境发生变化。而使在LD11的驱动电流和光束量之间的关系实际发生变化，那么调节该值就能获得对数据重放适当的光量。
图11作为例子说明包括在伺服电路5中的APC电路的结构。在该例中，APC电路41-1在冷却周期中执行APC操作，APC电路41-2在重放(读取)周期中执行APC操作，和APC电路41-3在擦除周期中执行APC操作，和APC电路41-4在写周期中执行APC操作。从PD16输出的电流信号被电流-电压变换器17变换成电压信号，该信号经缓冲放大器42输入到这些APC电路41-1至41-4。
在APC电路41-1中，从缓冲放大器42供给的信号经过开关51供给到保持电路52。保持电路52由电阻53和电容54组成。保持电路52的输出经过缓冲放大器55和电阻56提供到构成积分器60的运算放大器57的反相输入端。基准寄存器61的输出被D/A变换器62变换成模拟信号，该信号还经混合电阻63输入到积分器60的反相输入端。
运算放大器57的输出经过由电阻58和电容59组成的并联电路输入到其反相输入端。运算放大器57的非反相输入端接地。
运算放大器57的输出端还经过电阻70连接到运算放大器68的非反相输入端。运算放大器68的非反相输入端经电阻71接地。运算放大器68的输出经开关72和电阻73连接到运算放大器57的反相输入端。运算放大器68的输出经电阻69连接到它的反相输入端。
运算放大器57的输出被A/D变换器64变换成数字信号，该信号供给到寄存器65-1。寄存器65-1的输出被D/A变换器66变换成模拟信号，该信号经电阻67连接到运算放大器68的反相输入端。寄存器65-1的输出还连接到寄存器65-2至65-9。寄存器65-2至65-9的每个输出都加到寄存器65-1。
运算放大器57的输出供给到恒流电路31-1，用于LDD21的冷却周期。恒流电路31-1产生对应于运算放大器57的输出的恒定电流，以经过开关32-1驱动LD11。
虽然未示出，APC电路41-2至41-4一般都具有与APC电路41-1相同的结构。APC电路41-2的输出供给到恒流电路31-2，用于重放周期，APC电路41-3的输出供给到恒流电路31-3，用于擦除周期，APC电路41-4的输出供到恒流电路31-4，用于写周期。恒流电路31-2的输出经过在重放周期接通的开关32-2供到LD11，恒流电路31-3的输出经过在擦除周期接通的开关32-3供到LD11，以及恒流电路31-4的输出经过在写周期接通的开关32-4供到LD11。
下面描述APC电路的工作。在OPC区域中记录数据时，上述Icool_1对寄存器61以反相设置。在冷却周期从PD16输出的信号Ipcool_1经过缓冲放大器42供到APC电路41-1。在执行保持操作时开关51断开，而在执行APC操作时接通。当开关51接通时，经过缓冲放大器42输入的信号经过平滑电路52、缓冲放大器55和电阻56供到积分器60。设置到寄存器61的值-Icool_1被D/A变换器62变换成摸拟信号，该信号经电阻63输入到积分器60。此外，积分器60积分Ipcool_1和-Ipcool_1之间的差。积分结果被A/D变换器64变换成数字信号，该信号供到寄存器65-1以保持在其中。然后，该数据传送到寄存器65-2，以保持在其中。
同样，当n是2至8时，值Icool_2至Icool_8存入寄存器61。在每个这些值上被输出的寄存器65-1的输出传送到每个寄存器65-3至65-9，并保持其中。
当取样值已经保持在OPC区域中的寄存器65-2至65-9中时，从寄存器65-2至65-9中的一个将一最好的值传送到寄存器65-1，以被保持在其中。
其次，开关72在例如在数据区域首先执行数据记录时接通。保持在寄存器65-1中的值被D/A变换器66变换成模拟信号，输入到运算放大器68的反相输入端。积分器60的输出供到运算放大器68的非反相输入端。因此，在它们之间的差被运算放大器68计算，经过开关72和电阻73被输入到运算放大器57的非反相输入端。这对积分器60的电容59充电。此时，应用APC伺服，以使积分器60的输出(即，运算放大器57的输出)等于保持在寄存器65-1中的值(被D/A变换器66变换的D/A变换值)。
然后，积分器60的输出设定到预定值，由此，开关72断开。因而其次，在从缓冲放大器42输入的信号和在寄存器61中保持的反极性的基准值之间的差被积分器60积分。积分结果供到恒流电路31-1，从此输出预定值的恒定电流。然后该输出经开关32-1供到LD11。LD11被保持在寄存器65-2至65-9之一的最佳值驱动。
于是，应用APC伺服，使得LD11的冷却周期内的强度C等于设定到寄存器61的值Icool。此时，当执行保持操作时，开关51立即断开以保持在保持在电容54开关断开之前缓冲器42的输出。因此由这些保持值来执行APC伺服。
对APC电路41-2至41-4执行类似的操作。
在图11中所示的例子，在APC电路41-1中的积分器60以模拟方式构成。另外，该积分器可以以数字方式构成。图12是说明以数字方式构成的积分器的方块图的例子。应注意，图12仅表示APC电路41-1的构成；其它的APC电路41-2至41-4具有相同的结构。
在图12的例子中，平滑电路52的输出被AD变换器91变换成数字信号，该信号供到寄存器92以被保持在其中。寄存器92的输出提供到减法器94并同时保持在寄存器93中，以被延迟并供到减法器94。因此，偏移分量被减法器94消去。
减法器94的输出供到寄存器95以被保持于其中。寄存器95的输出供到减法器96，被保存在寄存器61中的基准值相减。减法器96的输出供到寄存器97以保持于其中。此时，寄存器97的输出供到后面的寄存器98，并同时供到位移位器98以被位移位。位移位器99的输出供到寄存器65-1。保存在寄存器98中的数据也被位移位器100位移位，以供到寄存器65-1。
寄存器65-1保持其输出、由位移位器101对该寄存器的输出进行位移位而得到的数据、位移位器100的输出、或位移位器99的输出，并输出保持的数据。数字积分器由上述寄存器97、98、65-1、位移位器99、100、101组成。
寄存器65-1的输出也被D/A变换器102变换成模拟信号，该信号供到恒流电路31-1。
到此为止，对本发明已经用光盘为例子进行了描述。应该明白，本发明也可应用于将信息光学地记录到除光盘设备之外的信息记录介质。
提供给用户的用于执行上述各种处理操作的程序不仅用于例如磁盘和CD-ROM的记录介质，而且还可用于例如网络的传送媒体。在后者情况，传送程序存在例如磁盘或硬件(solid)存储器的记录介质中以备使用。
如所描述的和根据本发明，调节光的强度，使得有记录信息的第一区域、有擦除信息的第二区域和既无记录信息也无擦除信息的第三区域形成于一记录区域；其中信息至少以重迭方式记录。这种新颖的设置降低了区域中的信息记录次数，其中，与其它信息记录区域相比，信息总是以重迭方式记录的，由此，对其中的重迭方式记录信息的区域的损伤最小。
同时对本发明的优选实施例已经用特殊的术语予以说明，这种描述仅仅是为说明目的而已，应当理解的是，对本发明可以作各种改进和变化，而不脱离所附的权利要求的精神和范围。

Claims (11)

1.一种将激光束发射到信息记录介质以记录和/或重放信息的信息记录/重放设备，包括：
激光束发生装置，用于产生把信息记录到所述信息记录介质或从所述信息记录介质重放信息的激光束；
时间控制装置，用于控制信息记录时间，以使在所述信息记录介质的轨迹上的一记录区域跟随有以局部重迭方式记录的另外的记录区域；和
激光束强度控制装置，用于控制由所述激光束发生装置产生激光束的强度，以使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和既无记录信息也无擦除信息的第三区域形成在记录区域中，其中信息至少是以重迭方式记录的。
2.根据权利要求1所述的信息记录/重放设备，其中所述第一区域的长度和所述第二区域的长度的每一个等于所述信息的最小转换间隔，所述第三区域的长度等于所述信息的最大转换间隔。
3.根据权利要求2所述的信息记录/重放设备，其中所述激光束强度控制装置控制激光束强度，以便使其中每一个都具有所述最小转换间隔的所述第一区域和所述第二区域及具有所述最大转换间隔的第三区域的所述记录区域，跟随有其中带有记录信息的最小转换区域的第四区域和带有擦除信息的最大转换间隔的第五区域的记录区域。
4.根据权利要求1所述的信息记录/重放设备，其中所述信息记录介质是相变型光盘，其中所述形成所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域的记录区域是自动功率控制区域。
5.一种将激光束发射到信息记录介质以记录和/或重放信息的信息记录/重放设备，包括：
激光二极管，用于产生所述激光束，以便把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息；
变换装置，用于把由所述激光二极管产生的所述激光束变换朝向所述信息记录介质；
光电检测器，用于接收从所述信息记录介质反射的激光束；
主轴电机，用于旋转驱动所述信息记录介质；
伺服电路，用于控制信息记录时间，以使在所述信息记录介质的轨迹上的记录区域跟随有以局部重达方式记录的另外的记录区域；和
激光束强度控制装置，用于控制由所述激光束二极管产生的所述激光束的强度，以使所述激光束发射到记录区域，其中信息至少是由记录信息的第一激光功率、擦除信息的第二激光功率和低于所述第一激光功率和所述第二激光功率的第三激光功率以重迭方式记录的。
6.根据权利要求5所述的信息记录/重放设备，其中具有所述第一激光功率的激光束发射到的第一区域的长度和具有所述第二激光功率的激光束发射到的第二区域的长度的每一个都等于所述信息的最小转换间隔的长度，具有所述第三激光功率的激光束发射到的第三区域的长度等于所述信息的最大转换间隔的长度。
7.根据权利要求5所述的信息记录/重放设备，其中所述激光束强度控制装置控制激光束的强度，以使其中形成其每一个都具有所述最小转换间隔的所述第一区域和所述第二区域和具有所述最大转换间隔的第三区域的记录区域，跟随有其中形成带有记录信息的最小转换间隔的第四区域和带有擦除信息的最大转换间隔的第五区域的记录区域。
8.根据权利要求5所述的信息记录/重放设备，其中信息记录介质是相变型光盘，其中形成所述信息记录介质的记录层的结晶的状态随着照射到其上的激光束的强度而变化，所述第三激光功率具有不改变形成所述记录层的结晶状态的强度。
9.根据权利要求5所述的信息记录/重放设备，其中所述伺服电路还输出用于控制所述主轴电机转动的主轴伺服信号。
10.根据权利要求5所述的信息记录/重放设备，其中所述伺服电路根据从所述光电检测器提供的检测信号，还输出用于控制由所述聚焦装置聚焦激光束的控制信号。
11.一种信息记录/重放方法包括步骤：
产生用于把信息记录到信息记录介质或从信息记录介质重放信息的光；
控制信息记录时间，以便在所述信息记录介质的轨迹上的记录区域跟随有以局部重迭方式记录的另外的记录区域；和
控制光的强度，以使带有记录信息的第一区域、带有擦除信息的第二区域和既无记录信息也无擦除信息的第三区域形成在记录区域中，其中信息至少是以重迭方式记录的。
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