CN118209846B - 一种电路板芯片引脚功能性检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电路板芯片引脚功能性检测装置，属于芯片检测技术领域，包括检测台，检测台上方固定设置有检测转盘，检测台顶部设置有间歇驱动电机，间歇驱动电机输出端通过传动组件连接有主动转盘，主动转盘底部均匀设置有多个随动检测件，检测转盘上转动设置有从动转盘，从动转盘上设置有多个与随动检测件位置相适配的限位组件。本发明通过在液压缸输出端上依次进行设置定位调整模板、引脚完整性检测模板和引脚信号检测模板，通过最底部的定位调整模板对芯片的第一引脚进行识别，并通过微调电机的控制实现将第一引脚与引脚信号检测模板上的第一引脚对应触点进行定位，保证芯片信号检测的正常进行。

Description

一种电路板芯片引脚功能性检测装置

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种电路板芯片引脚功能性检测装置。

背景技术

电路板是由集成电路、石英振子、微调电容和印刷电路板所组成，其中集成电路以芯片的形式安装在电路板上，芯片根据功能的不同，其内部往往集成大量的电路，不同的电路对应不同的引脚，其对应的引脚所传输的信号数据也不同，故而芯片在进行性能检测时，需要确保与引脚对应的检测触点之间的精准对应，确保对芯片检测的准确性，为了便于第一引脚的快速定位，芯片在制造时会在四角处第一引脚逆时针转动的位置上，设置有定位凹陷或圆形凸起，以方便后续进行检修和安装时，及时对芯片进行定位，芯片在制造后需要对其进行检测，以确保生产的质量，为了确保设备对芯片的检测，需要将芯片进行快速定位，目前的定位方式还需要通过定位调整工序进行调整和定位后才能进行检测，并且检测前不能及时发现引脚是否存在缺陷，无法及时对不合格的芯片进行剔除，会造成芯片数据检测中的无效检测，造成资源的浪费，基于此，现提出一种电路板芯片引脚功能性检测装置。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的问题，而提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种电路板芯片引脚功能性检测装置，包括检测台，所述检测台上方固定设置有检测转盘，所述检测台顶部设置有间歇驱动电机，所述间歇驱动电机输出端通过传动组件连接有主动转盘，所述主动转盘底部均匀设置有多个随动检测件，所述检测转盘上转动设置有从动转盘，所述从动转盘上设置有多个与随动检测件位置相适配的限位组件；

所述随动检测件包括设置在主动转盘上的液压缸，所述液压缸输出端通过驱动外套体连接有引脚信号检测模板，所述引脚信号检测模板通过一级弹性连接件连接有引脚完整性检测模板，所述引脚完整性检测模板通过二级弹性连接件连接有定位调整模板，所述定位调整模板上设置有定位组件。

优选地，所述传动组件包括固定连接在间歇驱动电机输出端的驱动齿轮，所述主动转盘通过轴承与检测台转动连接，所述主动转盘外侧壁固定连接有与驱动齿轮啮合连接的转动齿环。

优选地，所述限位组件包括开设在检测转盘上的回型伸缩口，所述回型伸缩口底部通过抵触弹簧连接有与芯片相适配的限位框体。

优选地，所述定位组件包括均匀设置在定位调整模板上的定位卡条，所述定位卡条均匀设置在定位调整模板的四周，且与芯片四周的引脚间隙相适配；

所述定位调整模板上设置有“U”型固定条，所述引脚完整性检测模板上开设有供“U”型固定条的装配口，所述“U”型固定条底部设置有距离传感器，所述距离传感器底部固定连接有贯穿定位调整模板的检测定位柱。

优选地，所述二级弹性连接件包括固定连接在定位调整模板上的转动电磁盘，所述检测转盘上通过连接柱连接有与转动电磁盘磁性相吸的支撑磁盘；

所述转动电磁盘上方固定连接有内轴柱，所述定位调整模板通过套设在内轴柱上的二级弹簧与引脚完整性检测模板连接，所述内轴柱上方设置有微调电机，所述微调电机输出端贯穿内轴柱和转动电磁盘向下延伸，并与定位调整模板固定连接。

优选地，所述引脚完整性检测模板四角处设置有L型支撑件，所述L型支撑件两侧分别设置有光线发射端和检测端；

所述引脚完整性检测模板四周均设置有弹性检测件，所述弹性检测件包括贯穿引脚完整性检测模板侧壁的金属导柱，所述金属导柱外侧壁开设有光线贯穿口，所述金属导柱顶部固定设置有限位盘，所述限位盘通过套设在金属导柱外侧壁上的连接弹簧与引脚完整性检测模板连接。

优选地，所述引脚信号检测模板四周均匀设置有检测触柱，所述金属导柱顶部开设有与检测触柱相适配的导通对应口。

优选地，所述一级弹性连接件包括固定连接在引脚完整性检测模板上的连接套筒，所述连接套筒套设在驱动外套体内部，所述内轴柱套设在连接套筒内部，所述引脚完整性检测模板通过套设在连接套筒外侧壁上的一级弹簧与引脚信号检测模板连接。

优选地，所述连接套筒内侧壁设置有限制棱，所述内轴柱上开设有与限制棱相适配的棱槽。

相比现有技术，本发明的有益效果为：

1、本发明通过在液压缸输出端上依次进行设置定位调整模板、引脚完整性检测模板和引脚信号检测模板，通过最底部的定位调整模板对芯片的第一引脚进行识别，并通过微调电机的控制实现将第一引脚与引脚信号检测模板上的第一引脚对应触点进行定位，保证芯片信号检测的正常进行。

2、本发明通过设置在定位调整模板上的引脚完整性检测模板实现对芯片引脚的缺失和不合格进行检测，及时剔除不合格的芯片，显著提高检测的效率，并且通过引脚信号检测模板上的检测触柱27与引脚完整性检测模板上的金属导柱的设置，实现芯片的引脚的准确定位和快速检测的效果。

附图说明

图1为本发明提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置的立体结构示意图；

图2为本发明提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置中随动检测件的装配结构示意图；

图3为本发明提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置随动检测件的立体结构示意图；

图4为本发明提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置中弹性检测件的结构示意图；

图5为本发明提出的一种电路板芯片引脚功能性检测装置的主体截面结构示意图；

图6为图5中A处的放大结构示意图。

图中：1、检测台；2、检测转盘；3、间歇驱动电机；4、主动转盘；5、从动转盘；6、液压缸；7、驱动外套体；8、引脚信号检测模板；9、引脚完整性检测模板；10、定位调整模板；11、驱动齿轮；12、转动齿环；13、限位框体；14、定位卡条；15、“U”型固定条；16、距离传感器；17、检测定位柱；18、转动电磁盘；19、连接柱；20、支撑磁盘；21、内轴柱；22、微调电机；23、L型支撑件；24、金属导柱；25、限位盘；26、光线贯穿口；27、检测触柱；28、连接套筒；29、限制棱。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例，参照图1-6，一种电路板芯片引脚功能性检测装置，包括检测台1，检测台1上方固定设置有检测转盘2，检测台1顶部设置有间歇驱动电机3，间歇驱动电机3为现有技术，在此不做详细赘述，间歇驱动电机3输出端通过传动组件连接有主动转盘4；

进一步地，传动组件包括固定连接在间歇驱动电机3输出端的驱动齿轮11，主动转盘4通过轴承与检测台1转动连接，主动转盘4外侧壁固定连接有与驱动齿轮11啮合连接的转动齿环12。

需要说明的是，驱动齿轮11带动转动齿环12进行旋转，从而带动主动转盘4进行转动，在主动转盘4进行转动时，通过随动检测件带动从动转盘5进行转动，从而实现同步转动的效果，主动转盘4与从动转盘5之间相对静止，不会影响随动检测件的检测效果；

主动转盘4底部均匀设置有多个随动检测件，随动检测件包括设置在主动转盘4上的液压缸6，液压缸6为现有技术，在此不做详细赘述，液压缸6输出端通过驱动外套体7连接有引脚信号检测模板8，引脚信号检测模板8四周均匀设置有检测触柱27，金属导柱24顶部开设有与检测触柱27相适配的导通对应口。

需要说明的是，驱动外套体7与引脚信号检测模板8进行固定连接，引脚信号检测模板8上设置的各个检测触柱27分别与芯片检测的电脑端进行连接，实现对芯片检测数据的传输；

引脚信号检测模板8通过一级弹性连接件连接有引脚完整性检测模板9，进一步地，引脚完整性检测模板9四角处设置有L型支撑件23，L型支撑件23两侧分别设置有光线发射端和检测端；

其中检测端在使用时，对光线发射端产生的激光进行接收，在进行检测时，当受测的芯片其引脚过短或缺失时，其芯片引脚不会与金属导柱24进行接触，故而在金属导柱24上的连接弹簧会在压力的作用下使得缺少引脚处的该金属导柱24与其余合格引脚处的高度不一致，使得光线发射端产生的激光无法进行传输到检测端处，通过检测端的信号可得出电路板芯片引脚的合格率，从而在芯片不合格时，及时性的剔除不合格产品，降低信号检测数量，显著提高检测效率。

进一步地，一级弹性连接件包括固定连接在引脚完整性检测模板9上的连接套筒28，连接套筒28套设在驱动外套体7内部，内轴柱21套设在连接套筒28内部，引脚完整性检测模板9通过套设在连接套筒28外侧壁上的一级弹簧与引脚信号检测模板8连接，连接套筒28内侧壁设置有限制棱29，内轴柱21上开设有与限制棱29相适配的棱槽。

引脚完整性检测模板9四周均设置有弹性检测件，弹性检测件包括贯穿引脚完整性检测模板9侧壁的金属导柱24，金属导柱24外侧壁开设有光线贯穿口26，金属导柱24顶部固定设置有限位盘25，限位盘25通过套设在金属导柱24外侧壁上的连接弹簧与引脚完整性检测模板9连接。

引脚完整性检测模板9通过二级弹性连接件连接有定位调整模板10；

进一步地，二级弹性连接件包括固定连接在定位调整模板10上的转动电磁盘18，检测转盘2上通过连接柱19连接有与转动电磁盘18磁性相吸的支撑磁盘20，在转动电磁盘18通电带磁时，会使得支撑磁盘20被吸附，从而实现对处在中间的芯片的夹持效果，确保在进行调整转动时，芯片能根据转动；

需要进行说明的是，一级弹性连接件内部的弹簧其伸缩强度远大于二级弹性连接件的弹簧伸缩强度，故而在进行下移时，二级弹性连接件被压缩到预定长度时，才会继续压缩一级弹性连接件，在本方案中，即定位调整模板10在与引脚完整性检测模板9接触后才会与引脚信号检测模板8进行接触，从而实现先对引脚完整性进行检测后，再对电路板引脚的信号进行检测。

转动电磁盘18上方固定连接有内轴柱21，定位调整模板10通过套设在内轴柱21上的二级弹簧与引脚完整性检测模板9连接，内轴柱21上方设置有微调电机22，微调电机22输出端贯穿内轴柱21和转动电磁盘18向下延伸，并与定位调整模板10固定连接。

定位调整模板10上设置有“U”型固定条15，引脚完整性检测模板9上开设有供“U”型固定条15的装配口，“U”型固定条15底部设置有距离传感器16，距离传感器16底部固定连接有贯穿定位调整模板10的检测定位柱17；

其中，微调电机22通过控制器进行控制，其收到距离传感器16的检测信号进行控制开启，从而能通过距离传感器16检测到第一引脚的位置后，控制微调电机22将定位调整模板10进行转动，进而将芯片的第一引脚位置调整到引脚信号检测模板8上的第一引脚触点的位置，实现对芯片的定位的效果；

定位调整模板10上设置有定位组件，进一步地，定位组件包括均匀设置在定位调整模板10上的定位卡条14，定位卡条14均匀设置在定位调整模板10的四周，且与芯片四周的引脚间隙相适配；

在定位调整模板10向下移动的过程中，会使得定位卡条14对应各个引脚之间的间隙处插入到其中，实现对芯片进行定位的效果；

检测转盘2上转动设置有从动转盘5，从动转盘5上设置有多个与随动检测件位置相适配的限位组件，限位组件包括开设在检测转盘2上的回型伸缩口，回型伸缩口底部通过抵触弹簧连接有与芯片相适配的限位框体13。

需要说明的是，限位框体13与芯片相适配，在使用时，定位卡条14其处在芯片引脚的间隙处，其外侧壁与限位框体13的内壁接触，从动转盘5的转动，是通过整个随动检测件和限位框体13之间的配合进行驱动实现共同转动的。

本发明在对芯片进行检测时，将芯片放置在限位框体13内部，控制处在芯片上方的液压缸6进行启动，通过液压缸6带动其上的随动检测件向下移动，设置在液压缸6底部的引脚信号检测模板8、引脚完整性检测模板9和定位调整模板10会同步向下进行移动，设置在最底部的定位调整模板10会在向下移动的过程中，设置在定位调整模板10底部的定位卡条14会向下移动，并卡在芯片的引脚之间的间隙位置处，并且设置在定位调整模板10上的四个检测定位柱17会与设置在芯片四角处的定位标记位置进行接触，设置有定位凹陷或圆形凸起的位置会与其他三处的位置高度位置不一，故而通过对四个检测定位柱17上定位高度差的变化，能精准的得出，芯片的第一引脚的位置，此时，控制微调电机22将定位调整模板10进行转动，进而将芯片的第一引脚位置调整到引脚信号检测模板8上的第一引脚触点的位置，实现对芯片的定位的效果；

完成定位后，持续控制液压缸6向下移动，在压力的作用下，会使得引脚完整性检测模板9被带动进行下移，设置在引脚完整性检测模板9上的金属导柱24会向下移动，并与芯片的引脚直接进行接触，此时芯片缺少引脚的部位，其不会对金属导柱24产生阻挡，具有引脚的部位均会对金属导柱24产生阻挡，通过设置在L型支撑件23上的光线发射端产生的激光在芯片缺少引脚时，无法进行传输到检测端处，故而能及时性的对引脚不合格和缺失的芯片进行淘汰，及时提出不合格产品；

当通过引脚完整性检测模板9检测合格后，液压缸6持续向下移动，引脚完整性检测模板9在下方的定位调整模板10的阻挡下，无法进行移动，引脚信号检测模板8持续向下移动，与引脚完整性检测模板9接触，在接触时，设置在引脚信号检测模板8上的与电脑信号连接的检测触柱27会向下移动，并与底部的金属导柱24进行接触，通过金属导柱24实现与芯片的引脚进行准确定位，实现信号接通，确保检测的正常进行。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种电路板芯片引脚功能性检测装置，包括检测台（1），其特征在于，所述检测台（1）上方固定设置有检测转盘（2），所述检测台（1）顶部设置有间歇驱动电机（3），所述间歇驱动电机（3）输出端通过传动组件连接有主动转盘（4），所述主动转盘（4）底部均匀设置有多个随动检测件，所述检测转盘（2）上转动设置有从动转盘（5），所述从动转盘（5）上设置有多个与随动检测件位置相适配的限位组件；

所述随动检测件包括设置在主动转盘（4）上的液压缸（6），所述液压缸（6）输出端通过驱动外套体（7）连接有引脚信号检测模板（8），所述引脚信号检测模板（8）通过一级弹性连接件连接有引脚完整性检测模板（9），所述引脚完整性检测模板（9）通过二级弹性连接件连接有定位调整模板（10），所述定位调整模板（10）上设置有定位组件；

所述定位组件包括均匀设置在定位调整模板（10）上的定位卡条（14），所述定位卡条（14）均匀设置在定位调整模板（10）的四周，且与芯片四周的引脚间隙相适配；

所述定位调整模板（10）上设置有“U”型固定条（15），所述引脚完整性检测模板（9）上开设有供“U”型固定条（15）的装配口，所述“U”型固定条（15）底部设置有距离传感器（16），所述距离传感器（16）底部固定连接有贯穿定位调整模板（10）的检测定位柱（17）；

所述二级弹性连接件包括固定连接在定位调整模板（10）上的转动电磁盘（18），所述检测转盘（2）上通过连接柱（19）连接有与转动电磁盘（18）磁性相吸的支撑磁盘（20）；

所述转动电磁盘（18）上方固定连接有内轴柱（21），所述定位调整模板（10）通过套设在内轴柱（21）上的二级弹簧与引脚完整性检测模板（9）连接，所述内轴柱（21）上方设置有微调电机（22），所述微调电机（22）输出端贯穿内轴柱（21）和转动电磁盘（18）向下延伸，并与定位调整模板（10）固定连接；

所述引脚完整性检测模板（9）四角处设置有L型支撑件（23），所述L型支撑件（23）两侧分别设置有光线发射端和检测端；

所述引脚完整性检测模板（9）四周均设置有弹性检测件，所述弹性检测件包括贯穿引脚完整性检测模板（9）侧壁的金属导柱（24），所述金属导柱（24）外侧壁开设有光线贯穿口（26），所述金属导柱（24）顶部固定设置有限位盘（25），所述限位盘（25）通过套设在金属导柱（24）外侧壁上的连接弹簧与引脚完整性检测模板（9）连接。

2.根据权利要求1所述的一种电路板芯片引脚功能性检测装置，其特征在于，所述传动组件包括固定连接在间歇驱动电机（3）输出端的驱动齿轮（11），所述主动转盘（4）通过轴承与检测台（1）转动连接，所述主动转盘（4）外侧壁固定连接有与驱动齿轮（11）啮合连接的转动齿环（12）。

3.根据权利要求1所述的一种电路板芯片引脚功能性检测装置，其特征在于，所述限位组件包括开设在检测转盘（2）上的回型伸缩口，所述回型伸缩口底部通过抵触弹簧连接有与芯片相适配的限位框体（13）。

4.根据权利要求1所述的一种电路板芯片引脚功能性检测装置，其特征在于，所述引脚信号检测模板（8）四周均匀设置有检测触柱（27），所述金属导柱（24）顶部开设有与检测触柱（27）相适配的导通对应口。

5.根据权利要求4所述的一种电路板芯片引脚功能性检测装置，其特征在于，所述一级弹性连接件包括固定连接在引脚完整性检测模板（9）上的连接套筒（28），所述连接套筒（28）套设在驱动外套体（7）内部，所述内轴柱（21）套设在连接套筒（28）内部，所述引脚完整性检测模板（9）通过套设在连接套筒（28）外侧壁上的一级弹簧与引脚信号检测模板（8）连接。

6.根据权利要求5所述的一种电路板芯片引脚功能性检测装置，其特征在于，所述连接套筒（28）内侧壁设置有限制棱（29），所述内轴柱（21）上开设有与限制棱（29）相适配的棱槽。