CN112240973A - 一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及智能卡技术领域，尤其涉及一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置。本发明的技术问题是检测效率低且容易出现漏测现象。其包括主体箱，所述主体箱的顶部一侧固定安装有支撑板，所述支撑板的一侧固定连接有固定板，所述固定板的一侧滑动连接有双面齿条板，所述支撑板上设置有驱动双面齿条板上下滑动的动力组件，所述双面齿条板的底部固定连接有安装板，所述安装板的一侧和支撑板的一侧滑动连接，所述安装板的底部一侧和顶部分别固定安装有检测探头和报警器，本发明操作简单，通过转动对芯片进行功能测试，可以对不同尺寸的智能卡芯片进行测试，且不需要人工下料，提高了检测效率，降低了工人的劳动强度。

Description

一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置及方法

技术领域

本发明涉及智能卡技术领域，尤其涉及一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置及方法。

背景技术

智能卡是内嵌有微芯片的塑料卡的通称。一些智能卡包含一个微电子芯片，智能卡需要通过读写器进行数据交互。智能卡配备有CPU、RAM和I/O，可自行处理数量较多的数据而不会干扰到主机CPU的工作。智能卡还可过滤错误的数据，以减轻主机CPU的负担。适应于端口数目较多且通信速度需求较快的场合。卡内的集成电路包括中央处理器CPU、可编程只读存储器EEPROM、随机存储器RAM和固化在只读存储器ROM中的卡内操作系统。智能卡芯片在生产出来后需要对其进行功能测试，才可流入到市场中去。

现有的智能卡芯片功能测试装置功能单一，不能对不同尺寸的智能卡芯片进行测试，具有一定的局限性，且需要人工下料，效率比较低下，降低了检测效率，且还增加了工人的劳动强度。

发明内容

为了克服目前的的缺点，因此，本发明提出了一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置。

本发明的技术实施方案为：一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，包括主体箱，所述主体箱的顶部一侧固定安装有支撑板，所述支撑板的一侧固定连接有固定板，所述固定板的一侧滑动连接有双面齿条板，所述支撑板上设置有驱动双面齿条板上下滑动的动力组件，所述双面齿条板的底部固定连接有安装板，所述安装板的一侧和支撑板的一侧滑动连接，所述安装板的底部一侧和顶部分别固定安装有检测探头和报警器，所述报警器和检测探头电性连接，所述主体箱的顶部和底部内壁转动连接有同一个转动辊，所述主体箱内设置有驱动转动辊转动的驱动组件，所述转动辊的顶部贯穿主体箱的顶部内壁并固定连接有检测放置盘，所述检测放置盘的顶部固定设置有多个固定块，多个所述固定块内均固定开设有第二通孔，所述检测放置盘上开设有多个和第二通孔相对应的第一通孔，所述第二通孔和第一通孔相连通，所述第二通孔内设置有放置智能卡芯片的放置组件。

优选的，所述动力组件包括支撑板的一侧对称转动连接的第一转动轴和第二转动轴，所述第一转动轴的外壁固定套设有第一齿轮和第一扇形齿轮，所述第二转动轴的外壁固定套设有第二扇形齿轮和第三齿轮，所述支撑板的一侧转动连接有第三转动轴，所述第三转动轴的外壁固定套设有第二齿轮，所述第二齿轮同时和第一齿轮、第三齿轮相啮合，所述支撑板的一侧固定安装有电动机固定箱，所述电动机固定箱内固定设置有第二电动机，所述第三转动轴的一端贯穿支撑板并延伸到电动机固定箱内，所述第三转动轴的一端和第二电动机的输出轴固定连接。

优选的，所述驱动组件包括主体箱底部内壁固定设置的第一电动机，所述第一电动机的输出轴固定套设有转动盘，所述转动盘的外壁对称固定连接有弧形齿条板，所述转动辊的外壁固定套设有第四齿轮，所述第四齿轮和弧形齿条板相啮合。

优选的，所述放置组件包括第二通孔一侧内壁开设有第一凹槽，所述第一凹槽的底部内壁滑动连接有第一放置块，第一凹槽一侧内壁转动连接有螺纹管，所述螺纹管的内壁螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的一端和第一放置块的一侧固定连接，所述螺纹管一端固定连接有手轮，所述第二通孔的另一侧内壁开设有第二凹槽，所述第二凹槽的底部内壁滑动连接有第二放置块，所述第二凹槽的一侧内壁固定连接有弹簧，所述弹簧的另一端和第二放置块一侧固定连接，所述安装板上设置有驱动第二放置块滑动的传动组件。

优选的，所述传动组件包括安装板底部固定连接的连接杆，所述连接杆的底部转动连接有滚轮，所述滚轮位于第二放置块上方。

优选的，所述主体箱的顶部外壁固定连接有环形滑轨，所述环形滑轨的顶部滑动连接有多个弧形滑块，多个所述弧形滑块的顶部和检测放置盘的底部固定连接。

优选的，所述主体箱的底部内壁放置有收集箱，所述收集箱的底部内壁放置有海绵垫，所述主体箱的一侧内壁开设有取料口，所述主体箱的顶部开设有漏口，所述漏口位于第一通孔的正下方。

优选的，所述主体箱的一侧外壁固定安装有控制器，所述控制器和检测探头、第一电动机、第二电动机电性连接。

一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置的使用方法，包括如下步骤：

S1、首先根据卡片的大小调节第一放置块和第二放置块的距离:手动转动手轮，手轮的转动带动螺纹管的转动，螺纹管的转动带动螺纹杆移动，螺纹杆的移动带动第一放置块的滑动，第一放置块的滑动可以调节第一放置块和第二放置块的距离；

S2、通过控制器开启第一电动机的转动，第一电动机的转动带动转动盘转动，转动盘的转动带动弧形齿条板转动，弧形齿条板的转动带动第四齿轮间歇转动，第四齿轮的间隙转动带动转动辊间歇转动，转动辊的间歇转动带动检测放置盘间歇转动，检测放置盘的间歇转动带动固定块间歇转动，在固定块的间歇转动的同时将待检测芯片放置到第一放置块和第二放置块上；

S3、再开启第一电动机的转动的同时通过控制器开启第二电动机的转动，第二电动机的转动带动第三转动轴转动，第三转动轴的转动带动第二齿轮转动，第二齿轮的转动同时带动第一齿轮和第三齿轮相反转动，第一齿轮的转动带动第一转动轴转动，第一转动轴的转动带动第一扇形齿轮的转动，第一扇形齿轮转动带动双面齿条板的向上滑动，第三齿轮的转动带动第二转动轴的转动，第二转动轴的转动带动第二扇形齿轮的转动，第二扇形齿轮的转动带动双面齿条板的向下滑动，双面齿条板的滑动带动安装板的滑动，安装板的滑动带动检测探头移动，当检测探头移动到和智能卡芯片相接触时对芯片功能进行测试；

S4、当测试到功能缺失的芯片时，检测探头将信号传输给报警器，报警器接收到信号后报警，工作人员拿出不合格的芯片放置到一边；

S5、当检测好的芯片转动到连接杆的正下方时，安装板的滑动带动连接杆移动，连接杆的移动带动滚轮移动，滚轮的移动带动第二放置块的滑动，第二放置块的滑动压缩弹簧，使弹簧产生弹力，第二放置块的滑动使得第一放置块和第二放置块间的间距变大，芯片将落入到收集箱中；

S6、循环往复上面的动作，当全部测试完以后，关闭所有电器的工作，从取料口取出收集箱即可。

本发明的有益效果是：1、本发明中，首先根据卡片的大小调节第一放置块和第二放置块的距离:手动转动手轮，手轮的转动使得第一放置块的滑动，通过第一放置块的滑动可以调节第一放置块和第二放置块的距离；

2、本发明中，通过控制器开启第一电动机的转动，第一电动机的转动带动固定块间歇转动，在固定块的间歇转动的同时将待检测芯片放置到第一放置块和第二放置块上；

3、本发明中，再开启第一电动机的转动的同时通过控制器开启第二电动机的转动，第二电动机的转动带动双面齿条板的滑动，双面齿条板的滑动带动安装板的滑动，安装板的滑动带动检测探头移动，当检测探头移动到和智能卡芯片相接触时对芯片功能进行测试；

4、本发明中，当测试到功能缺失的芯片时，检测探头将信号传输给报警器，报警器接收到信号后报警，工作人员拿出不合格的芯片放置到一边；

5、本发明中，当检测好的芯片转动到连接杆的正下方时，滚轮的移动带动第二放置块的滑动，第二放置块的滑动压缩弹簧，使弹簧产生弹力，第二放置块的滑动使得第一放置块和第二放置块间的间距变大，芯片将落入到收集箱中，循环往复上面的动作，当全部测试完以后，关闭所有电器的工作，从取料口取出收集箱即可；

本发明操作简单，通过转动对芯片进行功能测试，可以对不同尺寸的智能卡芯片进行测试，且不需要人工下料，提高了检测效率，降低了工人的劳动强度。

附图说明

图1为本发明的主视剖视结构示意图。

图2为本发明的侧视剖视结构示意图。

图3为本发明的图1中A部分放大结构示意图。

图4为本发明的检测放置盘的俯视结构示意图。

图5为本发明的第二放置块的三维示意图。

图6为本发明的转动盘的俯视结构示意图。

图7为本发明的螺纹管的主视剖视结构示意图。

图8为本发明的图1中B部分放大结构示意图。

图中：1、主体箱；2、海绵垫；3、收集箱；4、取料口；5、报警器；6、漏口；7、安装板；8、支撑板；9、检测放置盘；10、固定板；11、第一扇形齿轮；12、第一转动轴；13、第一齿轮；14、第二齿轮；15、双面齿条板；16、第二转动轴；17、第二扇形齿轮；18、第三齿轮；19、检测探头；20、连接杆；21、固定块；22、第一通孔；23、弧形滑块；24、环形滑轨；25、控制器；26、转动辊；27、转动盘；28、弧形齿条板；29、第一电动机；30、第四齿轮；31、第三转动轴；32、第二电动机；33、电动机固定箱；34、第二通孔；35、第一凹槽；36、第一放置块；37、螺纹杆；38、螺纹管；39、手轮；40、第二凹槽；41、弹簧；42、第二放置块；43、滚轮。

具体实施方式

以下参照附图对本发明的实施方式进行说明。

实施例

如图1-8所示，一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，包括主体箱1，主体箱1的顶部一侧固定安装有支撑板8，支撑板8的一侧固定连接有固定板10，固定板10的一侧滑动连接有双面齿条板15，支撑板8上设置有驱动双面齿条板15上下滑动的动力组件，双面齿条板15的底部固定连接有安装板7，安装板7的一侧和支撑板8的一侧滑动连接，安装板7的底部一侧和顶部分别固定安装有检测探头19和报警器5，报警器5和检测探头19电性连接，主体箱1的顶部和底部内壁转动连接有同一个转动辊26，主体箱1内设置有驱动转动辊26转动的驱动组件，转动辊26的顶部贯穿主体箱1的顶部内壁并固定连接有检测放置盘9，检测放置盘9的顶部固定设置有多个固定块21，多个固定块21内均固定开设有第二通孔34，检测放置盘9上开设有多个和第二通孔34相对应的第一通孔22，第二通孔34和第一通孔22相连通，第二通孔34内设置有放置智能卡芯片的放置组件。

本实施例中，动力组件包括支撑板8的一侧对称转动连接的第一转动轴12和第二转动轴16，第一转动轴12的外壁固定套设有第一齿轮13和第一扇形齿轮11，第二转动轴16的外壁固定套设有第二扇形齿轮17和第三齿轮18，支撑板8的一侧转动连接有第三转动轴31，第三转动轴31的外壁固定套设有第二齿轮14，第二齿轮14同时和第一齿轮13、第三齿轮18相啮合，支撑板8的一侧固定安装有电动机固定箱33，电动机固定箱33内固定设置有第二电动机32，第三转动轴31的一端贯穿支撑板8并延伸到电动机固定箱33内，第三转动轴31的一端和第二电动机32的输出轴固定连接。

本实施例中，驱动组件包括主体箱1底部内壁固定设置的第一电动机29，第一电动机29的输出轴固定套设有转动盘27，转动盘27的外壁对称固定连接有弧形齿条板28，转动辊26的外壁固定套设有第四齿轮30，第四齿轮30和弧形齿条板28相啮合。

本实施例中，放置组件包括第二通孔34一侧内壁开设有第一凹槽35，第一凹槽35的底部内壁滑动连接有第一放置块36，第一凹槽35一侧内壁转动连接有螺纹管38，螺纹管38的内壁螺纹连接有螺纹杆37，螺纹杆37的一端和第一放置块36的一侧固定连接，螺纹管38一端固定连接有手轮39，第二通孔34的另一侧内壁开设有第二凹槽40，第二凹槽40的底部内壁滑动连接有第二放置块42，第二凹槽40的一侧内壁固定连接有弹簧41，弹簧41的另一端和第二放置块42一侧固定连接，安装板7上设置有驱动第二放置块42滑动的传动组件。

本实施例中，传动组件包括安装板7底部固定连接的连接杆20，连接杆20的底部转动连接有滚轮43，滚轮43位于第二放置块42上方，使得第二放置块42移动。

本实施例中，主体箱1的顶部外壁固定连接有环形滑轨24，环形滑轨24的顶部滑动连接有多个弧形滑块23，多个弧形滑块23的顶部和检测放置盘9的底部固定连接，提高稳固性。

本实施例中，主体箱1的底部内壁放置有收集箱3，收集箱3的底部内壁放置有海绵垫2，主体箱1的一侧内壁开设有取料口4，主体箱1的顶部开设有漏口6，漏口6位于第一通孔22的正下方，方便收集。

本实施例中，主体箱1的一侧外壁固定安装有控制器25，控制器25和检测探头19、第一电动机29、第二电动机32电性连接，方便控制设备的运行。

一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置方法，包括如下步骤：

S1、首先根据卡片的大小调节第一放置块36和第二放置块42的距离:手动转动手轮39，手轮39的转动带动螺纹管38的转动，螺纹管38的转动带动螺纹杆37移动，螺纹杆37的移动带动第一放置块36的滑动，第一放置块36的滑动可以调节第一放置块36和第二放置块42的距离；

S2、通过控制器25开启第一电动机29的转动，第一电动机29的转动带动转动盘27转动，转动盘27的转动带动弧形齿条板28转动，弧形齿条板28的转动带动第四齿轮30间歇转动，第四齿轮30的间隙转动带动转动辊26间歇转动，转动辊26的间歇转动带动检测放置盘9间歇转动，检测放置盘9的间歇转动带动固定块21间歇转动，在固定块21的间歇转动的同时将待检测芯片放置到第一放置块36和第二放置块42上；

S3、再开启第一电动机29的转动的同时通过控制器25开启第二电动机32的转动，第二电动机32的转动带动第三转动轴31转动，第三转动轴31的转动带动第二齿轮14转动，第二齿轮14的转动同时带动第一齿轮13和第三齿轮18相反转动，第一齿轮13的转动带动第一转动轴12转动，第一转动轴12的转动带动第一扇形齿轮11的转动，第一扇形齿轮11转动带动双面齿条板15的向上滑动，第三齿轮18的转动带动第二转动轴16的转动，第二转动轴16的转动带动第二扇形齿轮17的转动，第二扇形齿轮17的转动带动双面齿条板15的向下滑动，双面齿条板15的滑动带动安装板7的滑动，安装板7的滑动带动检测探头19移动，当检测探头19移动到和智能卡芯片相接触时对芯片功能进行测试；

S4、当测试到功能缺失的芯片时，检测探头19将信号传输给报警器5，报警器5接收到信号后报警，工作人员拿出不合格的芯片放置到一边；

S5、当检测好的芯片转动到连接杆20的正下方时，安装板7的滑动带动连接杆20移动，连接杆20的移动带动滚轮43移动，滚轮43的移动带动第二放置块42的滑动，第二放置块42的滑动压缩弹簧41，使弹簧41产生弹力，第二放置块42的滑动使得第一放置块36和第二放置块42间的间距变大，芯片将落入到收集箱3中；

S6、循环往复上面的动作，当全部测试完以后，关闭所有电器的工作，从取料口4取出收集箱3即可。

工作原理：首先根据卡片的大小调节第一放置块36和第二放置块42的距离:手动转动手轮39，手轮39的转动带动螺纹管38的转动，螺纹管38的转动带动螺纹杆37移动，螺纹杆37的移动带动第一放置块36的滑动，第一放置块36的滑动可以调节第一放置块36和第二放置块42的距离，通过控制器25开启第一电动机29的转动，第一电动机29的转动带动转动盘27转动，转动盘27的转动带动弧形齿条板28转动，弧形齿条板28的转动带动第四齿轮30间歇转动，第四齿轮30的间隙转动带动转动辊26间歇转动，转动辊26的间歇转动带动检测放置盘9间歇转动，检测放置盘9的间歇转动带动固定块21间歇转动，在固定块21的间歇转动的同时将待检测芯片放置到第一放置块36和第二放置块42上，再开启第一电动机29的转动的同时通过控制器25开启第二电动机32的转动，第二电动机32的转动带动第三转动轴31转动，第三转动轴31的转动带动第二齿轮14转动，第二齿轮14的转动同时带动第一齿轮13和第三齿轮18相反转动，第一齿轮13的转动带动第一转动轴12转动，第一转动轴12的转动带动第一扇形齿轮11的转动，第一扇形齿轮11转动带动双面齿条板15的向上滑动，第三齿轮18的转动带动第二转动轴16的转动，第二转动轴16的转动带动第二扇形齿轮17的转动，第二扇形齿轮17的转动带动双面齿条板15的向下滑动，双面齿条板15的滑动带动安装板7的滑动，安装板7的滑动带动检测探头19移动，当检测探头19移动到和智能卡芯片相接触时对芯片功能进行测试，当测试到功能缺失的芯片时，检测探头19将信号传输给报警器5，报警器5接收到信号后报警，工作人员拿出不合格的芯片放置到一边，当检测好的芯片转动到连接杆20的正下方时，安装板7的滑动带动连接杆20移动，连接杆20的移动带动滚轮43移动，滚轮43的移动带动第二放置块42的滑动，第二放置块42的滑动压缩弹簧41，使弹簧41产生弹力，第二放置块42的滑动使得第一放置块36和第二放置块42间的间距变大，芯片将落入到收集箱3中，循环往复上面的动作，当全部测试完以后，关闭所有电器的工作，从取料口4取出收集箱3即可。

最后应说明的是：以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，包括主体箱(1)，其特征在于，所述主体箱(1)的顶部一侧固定安装有支撑板(8)，所述支撑板(8)的一侧固定连接有固定板(10)，所述固定板(10)的一侧滑动连接有双面齿条板(15)，所述支撑板(8)上设置有驱动双面齿条板(15)上下滑动的动力组件，所述双面齿条板(15)的底部固定连接有安装板(7)，所述安装板(7)的一侧和支撑板(8)的一侧滑动连接，所述安装板(7)的底部一侧和顶部分别固定安装有检测探头(19)和报警器(5)，所述报警器(5)和检测探头(19)电性连接，所述主体箱(1)的顶部和底部内壁转动连接有同一个转动辊(26)，所述主体箱(1)内设置有驱动转动辊(26)转动的驱动组件，所述转动辊(26)的顶部贯穿主体箱(1)的顶部内壁并固定连接有检测放置盘(9)，所述检测放置盘(9)的顶部固定设置有多个固定块(21)，多个所述固定块(21)内均固定开设有第二通孔(34)，所述检测放置盘(9)上开设有多个和第二通孔(34)相对应的第一通孔(22)，第二通孔(34)和第一通孔(22)相连通，所述第二通孔(34)内设置有放置智能卡芯片的放置组件。

2.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述动力组件包括支撑板(8)的一侧对称转动连接的第一转动轴(12)和第二转动轴(16)，所述第一转动轴(12)的外壁固定套设有第一齿轮(13)和第一扇形齿轮(11)，所述第二转动轴(16)的外壁固定套设有第二扇形齿轮(17)和第三齿轮(18)，所述支撑板(8)的一侧转动连接有第三转动轴(31)，所述第三转动轴(31)的外壁固定套设有第二齿轮(14)，所述第二齿轮(14)同时和第一齿轮(13)、第三齿轮(18)相啮合，所述支撑板(8)的一侧固定安装有电动机固定箱(33)，所述电动机固定箱(33)内固定设置有第二电动机(32)，所述第三转动轴(31)的一端贯穿支撑板(8)并延伸到电动机固定箱(33)内，所述第三转动轴(31)的一端和第二电动机(32)的输出轴固定连接。

3.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述驱动组件包括主体箱(1)底部内壁固定设置的第一电动机(29)，所述第一电动机(29)的输出轴固定套设有转动盘(27)，所述转动盘(27)的外壁对称固定连接有弧形齿条板(28)，所述转动辊(26)的外壁固定套设有第四齿轮(30)，所述第四齿轮(30)和弧形齿条板(28)相啮合。

4.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述放置组件包括第二通孔(34)一侧内壁开设有第一凹槽(35)，所述第一凹槽(35)的底部内壁滑动连接有第一放置块(36)，第一凹槽(35)一侧内壁转动连接有螺纹管(38)，所述螺纹管(38)的内壁螺纹连接有螺纹杆(37)，所述螺纹杆(37)的一端和第一放置块(36)的一侧固定连接，所述螺纹管(38)一端固定连接有手轮(39)，所述第二通孔(34)的另一侧内壁开设有第二凹槽(40)，所述第二凹槽(40)的底部内壁滑动连接有第二放置块(42)，所述第二凹槽(40)的一侧内壁固定连接有弹簧(41)，所述弹簧(41)的另一端和第二放置块(42)一侧固定连接，所述安装板(7)上设置有驱动第二放置块(42)滑动的传动组件。

5.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述传动组件包括安装板(7)底部固定连接的连接杆(20)，所述连接杆(20)的底部转动连接有滚轮(43)，所述滚轮(43)位于第二放置块(42)上方。

6.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述主体箱(1)的顶部外壁固定连接有环形滑轨(24)，所述环形滑轨(24)的顶部滑动连接有多个弧形滑块(23)，多个所述弧形滑块(23)的顶部和检测放置盘(9)的底部固定连接。

7.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述主体箱(1)的底部内壁放置有收集箱(3)，所述收集箱(3)的底部内壁放置有海绵垫(2)，所述主体箱(1)的一侧内壁开设有取料口(4)，所述主体箱(1)的顶部开设有漏口(6)，所述漏口(6)位于第一通孔(22)的正下方。

8.按照权利要求1所述的一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置，其特征在于，所述主体箱(1)的一侧外壁固定安装有控制器(25)，所述控制器(25)和检测探头(19)、第一电动机(29)、第二电动机(32)电性连接。

9.按照权利要求1-8任意一种高定位精度的智能卡芯片功能测试装置的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、首先根据卡片的大小调节第一放置块(36)和第二放置块(42)的距离:手动转动手轮(39)，手轮(39)的转动带动螺纹管(38)的转动，螺纹管(38)的转动带动螺纹杆(37)移动，螺纹杆(37)的移动带动第一放置块(36)的滑动，第一放置块(36)的滑动可以调节第一放置块(36)和第二放置块(42)的距离；

S2、通过控制器(25)开启第一电动机(29)的转动，第一电动机(29)的转动带动转动盘(27)转动，转动盘(27)的转动带动弧形齿条板(28)转动，弧形齿条板(28)的转动带动第四齿轮(30)间歇转动，第四齿轮(30)的间隙转动带动转动辊(26)间歇转动，转动辊(26)的间歇转动带动检测放置盘(9)间歇转动，检测放置盘(9)的间歇转动带动固定块(21)间歇转动，在固定块(21)的间歇转动的同时将待检测芯片放置到第一放置块(36)和第二放置块(42)上；

S3、再开启第一电动机(29)的转动的同时通过控制器(25)开启第二电动机(32)的转动，第二电动机(32)的转动带动第三转动轴(31)转动，第三转动轴(31)的转动带动第二齿轮(14)转动，第二齿轮(14)的转动同时带动第一齿轮(13)和第三齿轮(18)相反转动，第一齿轮(13)的转动带动第一转动轴(12)转动，第一转动轴(12)的转动带动第一扇形齿轮(11)的转动，第一扇形齿轮(11)转动带动双面齿条板(15)的向上滑动，第三齿轮(18)的转动带动第二转动轴(16)的转动，第二转动轴(16)的转动带动第二扇形齿轮(17)的转动，第二扇形齿轮(17)的转动带动双面齿条板(15)的向下滑动，双面齿条板(15)的滑动带动安装板(7)的滑动，安装板(7)的滑动带动检测探头(19)移动，当检测探头(19)移动到和智能卡芯片相接触时对芯片功能进行测试；

S4、当测试到功能缺失的芯片时，检测探头(19)将信号传输给报警器(5)，报警器(5)接收到信号后报警，工作人员拿出不合格的芯片放置到一边；

S5、当检测好的芯片转动到连接杆(20)的正下方时，安装板(7)的滑动带动连接杆(20)移动，连接杆(20)的移动带动滚轮(43)移动，滚轮(43)的移动带动第二放置块(42)的滑动，第二放置块(42)的滑动压缩弹簧(41)，使弹簧(41)产生弹力，第二放置块(42)的滑动使得第一放置块(36)和第二放置块(42)间的间距变大，芯片将落入到收集箱(3)中；

S6、循环往复上面的动作，当全部测试完以后，关闭所有电器的工作，从取料口(4)取出收集箱(3)即可。

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