CN1180405C - 光盘再现方法和再现装置 - Google Patents

Abstract

一种再现方法，包括步骤：对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分；对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；数字化所述和信号以产生二进制信号，和产生二进制信号边缘脉冲；当检测出等于或大于差分信号的预定值的幅度时，从所述信号处理部分输出所述二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲；和产生再现数据。

Description

光盘再现方法和再现装置

技术领域

本发明涉及一种光盘再现方法和再现装置。

背景技术

已知DVD(数字通用盘)是能够存储大量数字信息的光盘。对于DVD，已经实现使用具有约650纳米波长的红色激光、在具有12厘米直径的盘的一个表面上记录/再现4.7GB(千兆比特)数据的技术。在光盘的记录表面上形成的凹坑每个具有约0.3微米的宽度和约0.4到2.0微米的长度。这样的凹坑通过使用具有约0.6微米半宽强度(见图3)的激光点进行读驭。在DVD-ROM(只读存储器)盘中，以椭圆凹/凸状的形状形成凹坑。在凹坑的台阶部分，由发射的激光光束点引起衍射，并且由于衍射导致反射光量的变化。通过利用该变化，获得再现信号。

另一方面，本发明人生产了一种样本光盘，在该光盘上形成比上面DVD的凹坑更小的凹坑。本发明人已经正在开发下一代的光盘系统，在此，使用具有减小的光束点只寸的光束，在这种其上形成更小凹坑的光盘上执行再现，以实现更高密度和更大容量。例如，当蓝色激光用作光拾取器的光源时，光束点尺寸约0.4微米，并且相应地，能够期望区域密度是传统DVD的两倍或更高。

参照图1描述了在传统DVD和开发当中的上述高密度光盘上的信息再现。图1是表示记录在光盘上的凹坑，用于再现凹坑的激光束和基于反射光的强度再现的再现信号的简图。图1(a)是低记录密度的传统DVD的图，和图1(b)是在考虑中的高密度光盘的简图。

在低记录密度的传统DVD中，如图1(a)所示，通过用DVD使用的红色激光光束点51在DVD上扫描凹坑序列50获得再现信号52。在此情况下，当不是光束点区域的全部而仅是一部分与一凹坑重叠时，由于光的衍射，反射光的强度减小。在通过检测这种反射光强度的减小产生的再现信号52中，幅度具有对应于凹坑50和镜面部分50a(此处没有凹坑形成)的形状。在该DVD例子中，假定物理尺寸，使凹坑宽度53约为0.3微米，及光束点尺寸(直径)54约是0.6微米。

另一方面，在凹坑和光束相对较小的高密度光盘中，如图1(b)所示，通过用激光光束点56扫描凹坑序列55获得再现信号57。在该情况下，当不是光束点区域的全部而是一部分与一凹坑重叠时，反射光的强度由于光的衍射而减小。在通过检测这种反射光强度的减小产生的再现信号57中，幅度具有对应于凹坑55和镜面部分554此处没有凹坑形成)的形状。在该高密度光盘例子中，假定物理尺寸，使凹坑宽度58约为0.2微米，及光束点尺寸(直径)59约是0.4微米。因此与传统DVD相比，在一维实现高1.5个因子的密度，即，区域密度高2.25个因子。

本发明人已经注意与较低级介质的兼容功能，利用该功能具有传统密度的DVD能够通过上述下一代高密度光盘系统再现。我们发现当用有着较小激光光束点尺寸的光拾取器再现传统光盘时，由于用于再现的激光光束点和记录在盘上的凹坑之间尺寸方面的关系，引起下面将描述的问题。下面参照图2描述该问题。

图2是示出多个凹坑、激光束和在通过使用高记录密度光盘系统再现传统低记录密度光盘的情况下获得的再现信号的简图。如图2所示，通过扫描凹坑序列60获得再现信号62，该凹坑序列已经用用于高密度信息的激光光束点61以传统记录密度记录。当具有小直径的光束点61扫描具有大的宽度w的凹坑60的中心部分时，几乎整个光束点包括在每个凹坑中。在该情况下，光的衍射足够小，并且相应地，反射光的强度不会大大减少。在再现信号62中，精确检测镜面部分60a(此处不形成凹坑)，但是在拉长凹坑的中心部分中检测到波形的局部峰值63，此处由于反射光强度减小应该获得弱响应(图2中的点划线65)。当用限制电平64将再现信号62转换成二进制信号66时，在二进制信号66中产生伪脉冲67。伪脉冲67引起再现过程中的临界误差。

为了防止产生这种伪脉冲，在一种方法中，通过减少光拾取器的物镜的数值孔径或通过采用以大波长工作的多个激光器，增加光束点尺寸。然而，这种方法不利地引起光拾取器的复杂和成本的增加。

鉴于上述情况实现了本发明。本发明的一个目的是提供一种光拾取器的再现方法和再现装置，借此，能够通过使用通常用于再现高记录密度光盘的小光束点的激光，从已经以相对低的密度记录了信息的光盘读出信息而不产生误差。

发明内容

根据本发明的一方面，提供一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和所述再现方法进一步包括步骤：对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分：对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；仅当检测出等于或大于一预定值的差分信号的幅度时，从所述信号处理部分输出所述二进制信号边缘脉冲作为对应于凹坑边缘的再现边缘脉冲；和基于所述再现边缘脉冲产生再现数据。

根据本发明的另一方面，提供一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和所述再现方法进一步包括步骤：对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分：对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；其中，沿着激光束的扫描方向的凹坑的长度长于沿着垂直于扫描方向的方向的凹坑的宽度，宽度由w表示，并且激光光束点的半宽强度由h表示，当2w≤h时，二进制信号边缘脉冲从所述信号处理部分按原样输出，作为对应于来自所述信号处理部分的凹坑边缘的再现边缘脉冲；和当2w＞h时，只有在检测到等于或大于一预定值的差分信号的幅度的情况下，才从所述信号处理部分输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲；以及基于所述再现边缘脉冲产生再现数据。

根据本发明的又一方面，提供一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和所述再现方法进一步包括步骤；对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分；对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；确定所述光盘是第一类型盘还是第二类型盘，其中第一类型盘的记录密度高于第二类型盘的记录密度；以及基于所述再现边缘脉冲产生再现数据，其中当确定所述光盘是第一类型盘时，从所述信号处理部分按原样输出所述二进制信号边缘脉冲，作为对应于来自所述信号处理部分的凹坑边缘的再现边缘脉冲；和当确定所述光盘是第二类型盘时，只有在检测到等于或大于一预定值的差分信号的幅度的情况下，才从所述信号处理部分输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲。

根据本发明的又一方面，提供一种光盘再现装置，包括：光拾取器，其包含由多个光检测单元形成的检测器，用于扫描记录在光盘上的凹坑序列和检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号，其中，基于所述检测器的检测信号产生再现数据，所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和所述再现装置进一步包括：加法器，对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号；差分放大器，对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号：和信号处理部分，基于所述和信号及其所述差分信号，产生对应于凹坑边缘的再现边缘脉冲，并且，所述信号处理部分包括：二进制化电路，用于对所述和信号进行数字化，以产生一二进制信号；边缘检测器，产生对应于二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；幅度检测电路，当检测出等于或大于一预定值的的差分信号的幅度时，输出一个高电平门信号：逻辑操作电路，仅当输入进高电平门信号时，才输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲；和再现数据产生部分，基于再现边缘脉冲，产生再现数据。

根据本发明的一实施例，进一步包括开关，用于接通/断开幅度检测电路和逻辑操作电路之间的电连接，其中，当所述光盘是第一类型盘时，所述开关断开，并且当所述光盘是第二类型盘时，接通所述开关，第二类型盘的记录密度低于第一类型盘的记录密度。

根据本发明的一实施例，进一步包括第一均衡器，用于校正所述和信号的频率特性；和第二均衡器，用于校正差分信号的频率特性。

附图说明

图1(a)是示出用于低记录密度DVD的凹坑、激光光束和再现信号的简图。图1(b)是示出用于高记录密度的光盘的凹坑、激光束和再现信号的简图。

图2是示出凹坑、激光束和在通过使用小直径激光光束再现低记录密度DVD上的信息的情况下获得的再现信号简图。

图3示出激光光束点的强度的轮廓。

图4示出按照本发明的光盘再现装置的整个结构。

图5示出包括在光盘再现装置中的光拾取器和矩阵放大器的细节。

图6示出按照本发明实施例1的信号处理部分的细节。

图7是表示信号处理部分的操作的信号波形图。

图8示出按照本发明实施例2的信号处理部分的细节。

具体实施方式

(实施例1)

下面，参照附图描述按照本发明实施例1的光盘再现装置和其中使用的再现方法。在该实施例中，再现激光的光束点的半宽强度基本上与记录在光盘上的凹坑的宽度相同。即，在该实施例中，使用包含将用于在高记录密度光盘上再现的光拾取器的装置再现具有相对低的记录密度的光盘。术语，激光的光束点的“半宽强度(w)”指对应于激光光束强度的最大值的1/2的光束直径，如图3所示，该图示出了激光的光束点的强度轮廓。

图4示出了按照该实施例的光盘再现装置的整个结构。光盘1具有以螺旋形式沿着圆周方向以低密度在其上形成的信号凹坑(参见图1(a)其细微的布置)。光盘1由主轴电机2旋转。通过用来自设在用于高记录密度的光拾取器3中的激光器(未示出)的具有小直径的激光光束点4照射凹坑，再现在光盘1上的信号凹坑。

光拾取器3允许激光光束点4扫描在旋转光盘1上的信号凹坑序列，并且检测来自光盘1的反射光，以便输出检测信号5-8。检测信号5-8输入进矩阵放大器9。光拾取器3和矩阵放大器9产生聚焦误差信号10、跟踪误差信号11、全加再现信号(和信号)15、及切线方向的差分信号16。

光拾取器3和矩阵放大器9构成按照该实施例的光盘再现装置的信号检测部分14。参照图5描述信号检测部分14的细节。在光拾取器3中，如图5所示，来自入射在光盘1的凹坑上的激光光束点的反射光作为接收的光束点30聚焦在以矩阵排列并且执行光电转换的四个检测器31-34的中心。从每个检测器输出的电流通过电流/电压转换放大器35-38转换成电压，从而产生检测信号5-8。

四个检测器31-34相对于光盘的圆周方向(激光光束的扫描方向)X被分组成第一光检测单元组(检测器31和32)和第二光检测单元组(检测器33和34)。下面将详细描述的切线方向的差分信号16是在来自这两个光检测单元组的检测信号之间获得的差分信号。四个检测信号输入到矩阵放大器9，并且接受七个加法器39-45和三个差分放大器46-48的运算处理。通过将由四个检测器检测的所有检测信号相加获得全加再现信号15。即，全加再现信号15表达为下列表达式：

(全加再现信号15)＝(检测信号5)+(检测信号6)+(检测信号7)+(检测信号8)。

切线方向的差分信号16是从第一光检测单元组(检测器31和32)和第二光检测单元组(检测器33和34)的检测信号获得的差分信号，这两个光检测单元组是相对于光盘的圆周方向(凹坑扫描方向)X分组的。其表达为下列表达式：

(切线方向的差分信号16)＝{(检测信号6)+(检测信号7)}-{(检测信号5)+(检测信号8)}。

跟踪误差信号11是从相对于盘的半径方向(跟踪方向)分组的检测器的检测信号获得的差分信号。这表达为下列表达式：

(跟踪误差信号11)＝{(检测信号5)+(检测信号6)}-{(检测信号7)+(检测信号8)}。

对应于跟踪方法的上述表达称为推拉方法。

聚焦误差信号10是从由对角相邻的检测器产生的检测信号的和以及由其它对角相邻的检测器产生的检测信号的和之间的差获得的差分信号。这表达为下列表达式：

(聚焦误差信号10)＝{(检测信号5)+(检测信号7)}-{(检测信号6)+(检测信号8)}。

上述表达式对应于称作象散方法的聚焦方法。

再次参照图4，在聚焦伺服电路12中处理聚焦误差信号10。在跟踪伺服电路13中处理跟踪误差信号11。基于这些信号，光拾取器3的物镜致动器(未示出)被驱动，以便执行聚焦控制和跟踪控制，使得激光光束点4移动到在光盘1上的凹坑序列中的目标位置。全加再现信号15和切线方向的差分信号16输入到信号处理部分17，以便产生用于产生再现数据的再现边缘脉冲18。

详细描述信号处理部分17。图6示出了按照该实施例的光盘再现装置的信号处理部分17的结构。图7示出了输入到信号处理部分17的信号、在信号处理部分17中产生的信号、和从信号处理部分17输出的信号的波形。

如图6所示，从信号检测部分14输入的全加再现信号15接受由预处理部分(第一均衡器)102执行的波形均衡处理，该预处理部分102由用于调节信号幅度的AGC 100和用于校正频率特性的EQ/LPF101构成。波形被均衡的、全加再现信号103示于图7中。在均衡波形全加再现信号103中，对应于长度为m的大凹坑106和107的中心部分的部分不产生期望的响应(虚线112)，而产生具有局部峰值104的响应。在对应于镜面部分110(此处不形成凹坑)、短凹坑108和109的部分中，不产生局部峰值。

如图6所示，波形均衡的全加再现信号103输入到二进制电路115。二进制电路115由比较器116和积分器117构成。二进制电路115在执行限制电平119的反馈控制的同时执行模拟—数字转换以使二进制脉冲的积分值总保持恒定，从而，产生二进制信号118。该二进制方法称为占空反馈(duty feedback)方法。进一步，二进制信号118输入到边缘检测器120，其输出对应于二进制信号118的上升沿和下降沿位置的边缘脉冲121。图7示出了通过参照限制电平119数字化全加再现信号103产生的二进制信号118和基于二进制信号118的边缘产生的边缘脉冲121之间的波形关系。在边缘脉冲(二进制信号边缘脉冲)121中，在对应于全加再现信号103的局部峰值104的位置产生伪边缘脉冲122，此处，不应该产生凹坑边缘。

如图6所示，从信号检测部分14输入的切线方向的差分信号16接受由预处理部分(第二均衡器)125执行的波形均衡处理，该预处理部分125由用于调节信号幅度的AGC 123和用于校正频率特性的EQ/LPF 124构成。波形被均衡的、切线方向的差分信号126示于图7中。在切线方向的差分信号126中，在凹坑的前沿E1处产生下降响应，在凹坑的后沿E2产生上升响应。在其它部分，切线方向的差分信号126是在中间电平126b。即，切线方向的差分信号126具有一个特性使得只在凹坑的边缘E1和E2引起幅度响应，在不存在凹坑边缘的部分不引起幅度响应。

如图6所示，切线方向的差分信号126输入到幅度检测电路127，以产生门信号135。幅度检测电路127由两个比较器128和129、第一参考电压130、第二参考电压131和或门134构成。切线方向的差分信号126通过使用第一参考电压130和比较器128被二进制化，以便检测切线方向的差分信号126的高电压部分。另一方面，切线方向的差分信号126通过使用第二参考电压131和比较器129被二进制化，以便检测切线方向的差分信号126的低电压部分。这两个二进制结果通过或门134进行逻辑和处理，由此产生一门信号135。即，幅度检测电路127将第一参考电压130设定为第一阈值，以便比没有凹坑边缘时获得的切线方向的差分信号126的幅度电平(基电平126b)高，并且将第二参考电压131设定为第二阈值，以便比基电平126b低。考虑到当没有凹坑边缘时可能引起的切线方向的差分信号126的幅度电平中的噪声，设定第一参考电压130或第二参考电压131和基电平126a之间的电平差的绝对值ΔV，使得该噪声不被错误地检测为对应于凹坑边缘(E1，E2)的响应信号。例如，能够设定绝对值ΔV使得约为对应于凹坑边缘的响应信号的峰值的一半。

当在切线方向的差分信号126中检测到等于或大于第一参考电压130或第二参考电压131和基电平126a之间的电平差的绝对值ΔV的幅度时，门信号135变高，并且从幅度检测电路127输出。当检测到小于电平差的绝对值ΔV的幅度时，门信号135变低，并且从幅度检测电路127输出。在图7中，记录的凹坑序列105、切线方向的差分信号126、第一参考电压130、第二参考电压131和门信号135之间的同步关系由垂直的点划线示出。

如图6所示，如上所述产生的门信号135和二进制信号边缘电平121输入到与门136中。通过与门136产生图7所示的再现边缘脉冲18，并且从信号处理部分输出。当门信号135在与门136中变高，二进制信号边缘脉冲121作为再现边缘脉冲18输出。换言之，在该实施例中，只有当检测到等于或大于切线方向的差分信号126的预定值(电平差的绝对值ΔV)的幅度时，二进制信号边缘脉冲121作为再现边缘脉冲18输出。

如图7所示，再现边缘脉冲18对应于凹坑的边缘E1和E2。基于再现边缘脉冲18，产生再现数据(图4：后面描述)。在该实施例中，基于门信号135执行控制，以便包括在门脉冲121中的伪边缘脉冲122不包括在再现边缘脉冲18中，该再现边缘脉冲18用于产生从信号处理部分17输出的再现数据。于是，能够实现精确的信息再现。

已经参照图6描述的预处理部分125和上述预处理部分102还具有调节全加再现信号和切线方向的差分信号之间的时间延迟的功能，从而调节边缘脉冲121和门信号135的时序，以便从再现边缘脉冲18中完全去除伪边缘。

下面，简单描述图4所示的光盘再现装置的信号处理部分17的后面阶段的结构。在信号处理部分17中检测的再现边缘脉冲18输入到PLL(锁相环)电路19，并且被转换成同步再现边缘脉冲20。最后，同步再现边缘脉冲20输入到解调电路21，从该电路输出解调的再现数据22。在本说明书中，PLL电路19和解调电路21形成再现数据产生部分。

如上所述，在按照本发明实施例的光盘再现装置中，当通过使用被设计用于再现高密度光盘上的信息的小激光光束点再现记录在低密度光盘上的宽凹坑时，由于基于从切线方向的差分信号检测的门信号执行的控制，在再现边缘脉冲18中不包括从全加再现信号检测的二进制信号中所包含的伪边缘脉冲。于是，按照本发明，即使由于在记录凹坑中包括了几乎光束点的所有部分，在大尺寸记录凹坑中不能获得足够的衍射的情况下，信息能够没有差错地从传统的、相对低密度的光盘中被读出，不用增加激光的光束直径。

在该实施例中，光拾取器的检测器包括四个光检测单元(31-34)，但是本发明不限于光检测单元的该数目。通过相加从多个光检测单元获得的某些或所有检测信号得到的信号能够用作在该实施例中描述的全加再现信号。此外，当从多个光检测单元获得检测信号时，在从多个光检测单元获得的检测信号中，从相对于光盘的圆周方向(光束的凹坑扫描方向)分组的两个光检测单元组之间的检测信号的差获得的信号，可以用作在该实施例中描述的切线方向的差分信号。

此外，在二进制电路中使用占空反馈方法，但是，本发明不限于此。作为一种二进制化方法，可以使用执行控制使得PLL中的相位误差量减少的AC反馈方法，或检测信号的包络以便确定二进制电平的包络限制方法。在使用AC反馈方法的某些情况下，能够抑制由于伪脉冲的影响引起的二进制限制电压的变化。此外，在上面示出的例子中，比较器用作二进制化装置。然而，通过使用多位AD转换器和数字操作，可以实现相同的功能。

(实施例2)

下面，描述本发明的按照实施例2的光盘再现装置和再现方法。

该实施例涉及一种通过使用包含被设计用于再现高记录密度光盘的光拾取器的装置，再现具有高记录密度的规则光盘和具有相对低记录密度的传统光盘这两种光盘的光盘再现装置。在高记录密度光盘中，记录在盘上的凹坑具有约为0.15微米到0.22微米的宽度，及约0.15微米到0.9微米的长度。在低记录密度光盘中，记录在盘上的凹坑具有约为0.25微米到0.35微米的宽度，及约0.35微米到2微米的长度。

按照本实施例的光盘再现装置和实施例1的光盘再现装置的区别在于，在该实施例中的光盘1可以是两种类型的光盘高记录密度光盘和低记录密度光盘中的任一种，并且信号处理部分的内部结构不同。在下面描述中，主要描述这些不同，但是略去其他在两个实施例中相同的特征及其描述。

按照本发明人的试验，当2w≤h时，在再现信号中产生的局部峰值的波形小，在此，w表示盘上凹坑序列的宽度，及h表示再现激光光束点的半宽强度。相应地，通过按原样二进制化再现信号，不产生伪脉冲。这是因为记录凹坑的宽度相对于再现光束光点的直径小，并且因此，引起在凹坑宽度方向上光的足够衍射。另一方面，当2w＞h时，在再现信号中产生大的局部峰值，并且在通过二进制化再现信号获得的脉冲中产生伪脉冲。即，只要不去除该伪脉冲，就引起误差。这似乎是因为再现光束点的直径和记录凹坑的宽度在尺寸上接近，并且在拉长凹坑的中心部分不能获得在凹坑宽度方向上的足够衍射。当通过使用具有小光束直径的用于高密度再现的光拾取器，再现具有小凹坑宽度的高密度光盘时，满足前者关系2w≤h。当通过使用具有小光束直径的用于高密度再现的光拾取器，再现具有大凹坑宽度的低密度光盘时，满足后者关系2w＞h。

当通过使用具有小光束直径的高密度再现光拾取器，再现凹坑宽度和凹坑长度均小的高密度光盘时，切线方向的差分信号的S/N比率减小，门信号的可靠性低。当通过使用这种降低了可靠性的门信号继续从边缘信号去除伪脉冲的操作时，在某些情况下，相反地可增加再现误差的出现。

由于上述原因，在高密度光盘再现装置中，由信号处理部分17(图6)执行的去除伪脉冲的功能最好按照在将再现的光盘上记录的凹坑宽度和再现期间激光光束点的直径(通常由半宽强度定义)之间的关系进行通/断控制。即，构造高密度光盘再现装置使得：当2w≤h(w表示盘上凹坑序列的宽度，及h表示再现激光光束点的半宽强度)，二进制信号按原样用作再现信号；当2w＞h时，基于利用差分信号的幅度从二进制信号中去除伪脉冲获得的信号，产生再现信号。

参照结合实施例1使用的图4描述按照该实施例的光盘再现装置的整个结构。在此，描述光盘1是记录凹坑宽度小的高密度光盘的情况，和光盘1是记录凹坑宽度大的低密度光盘的情况。图8是信号处理部分17’(图4)的详细图示。信号处理部分17’与图6的信号处理部分17的不同之处在于，信号处理部分17’具有开关200，用于控制门信号135是否输入到与门136。

在该实施例中，在再现高密度光盘的情况下，考虑到门信号135的低可靠性，开关200关断，因为如上所述，伪边缘脉冲不包括在边缘脉冲121中。在该情况下，边缘脉冲121按原样输出作为再现边缘脉冲18。另一方面，在再现低密度光盘的情况下，因为在边缘脉冲121中包含伪边缘脉冲，开关200接通。

当开关200在导通状态时，仅在对应于凹坑的边缘部分E1和E2(见图7)的位置，变高的门信号135从幅度检测电路127输出到与门136。通过利用门信号135，伪边缘脉冲由与门136从边缘脉冲121去除，从而，产生不包括伪边缘脉冲的再现边缘脉冲18。

最好是，光盘装置自动确定其上安装的光盘的类型(高记录密度光盘或低记录密度光盘)，并且开关200基于确定的光盘类型进行切换。作为确定光盘类型的方法，可以使用下列方法：检测跟踪误差信号的幅度差的方法；检测盘的反射系数差的方法；通过使用记录在盘的内圆周上的导入区中的标识码，确定光盘类型的方法；或当开关200接通时和当开关200关断时均执行测试读取，并且选择引起较少差错的开关200的一种状态的方法。

下面，用具体的数值数字描述该实施例的一个较好的具体例子。光拾取器包含工作在400纳米波长并且激光光束点的直径是0.45微米的半宽强度的蓝色激光器。高密度光盘通过用紫外线或电子束切割生产，并且其上形成的凹坑具有约0.18微米的凹坑宽度和约0.2微米到0.9微米的凹坑长度。光盘具有12厘米的直径，并且在此情况下，具有约15GB的容量。另一方面，DVD-ROM用作低密度光盘，具有约0.3微米的凹坑宽度，约0.4微米到2微米的凹坑长度，和约4.7GB的容量。在此，w表示凹坑宽度，和h表示激光光束点的直径，在高密度光盘中满足关系2w≤h，并且在DVD-ROM中满足关系2w＞h。当通过按照该实施例的光盘再现装置再现高密度光盘时，当开关200关断时，没有引起误差地执行再现。另一方面，当开关200关断时再现DVD-ROM时，在再现边缘脉冲18中检测到许多伪边缘脉冲。在该情况下，引起很多差错，并且该配置不实用。然而，当开关200接通时，去除伪边缘脉冲，以足够的质量再现数据。

如上所述，在按照该实施例的光盘再现装置中，仅通过改变电路设置，不改变激光光束点的直径，就能够从高密度光盘和低密度光盘两种光盘中读取信息。

通过使用高密度光盘和DVD已经描述了该实施例，但本发明不限于此。例如，本发明的思想可以应用到通过使用为DVD设计的光拾取器，再现具有密度低于DVD密度的CD(光盘)的情况，并且在此情况下，能够获得相同的效果。

工业应用性

按照用于本发明的光盘的再现方法和再现装置，当使用为高记录密度设计的光拾取器再现低记录密度光盘时，检测通过由相对于激光光束扫描方向分组的检测器检测的信号的差分操作所产生的差分信号(切线方向的差分信号)幅度的大小，从而能够电去除可能通常包括在二进制信号中的伪脉冲。于是，通过使用同一个再现装置在具有不同记录密度的多个类型的光盘上执行信息的再现。结果，用整个装置成本的最小增加，能够实现与较低级光盘的兼容性。

Claims (6)

1、一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：

所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和

所述再现方法进一步包括步骤：

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分；

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；

通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；

仅当检测出等于或大于一预定值的差分信号的幅度时，从所述信号处理部分输出所述二进制信号边缘脉冲作为对应于凹坑边缘的再现边缘脉冲；和

基于所述再现边缘脉冲产生再现数据。

2.一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：

所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和

所述再现方法进一步包括步骤：

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分；

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；

通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；

其中，沿着激光束的扫描方向的凹坑的长度长于沿着垂直于扫描方向的方向的凹坑的宽度，宽度由w表示，并且激光光束点的半宽强度由h表示，

当2w≤h时，二进制信号边缘脉冲从所述信号处理部分按原样输出，作为对应于来自所述信号处理部分的凹坑边缘的再现边缘脉冲；和

当2w＞h时，只有在检测到等于或大于一预定值的差分信号的幅度的情况下，才从所述信号处理部分输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲；以及

基于所述再现边缘脉冲产生再现数据。

3.一种光盘再现方法，包括步骤：用激光束扫描记录在光盘上的凹坑序列，并且通过由多个光检测单元形成的检测器，检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号：和基于该检测信号产生再现数据，其中：

所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和

所述再现方法进一步包括步骤：

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号，并且将该和信号输出到信号处理部分；

对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号，并且将该差分信号输出到信号处理部分；

通过所述信号处理部分数字化所述和信号以产生一二进制信号，和产生对应于该二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；

确定所述光盘是第一类型盘还是第二类型盘，其中第一类型盘的记录密度高于第二类型盘的记录密度；以及

基于所述再现边缘脉冲产生再现数据，其中：

当确定所述光盘是第一类型盘时，从所述信号处理部分按原样输出所述二进制信号边缘脉冲，作为对应于来自所述信号处理部分的凹坑边缘的再现边缘脉冲；和

当确定所述光盘是第二类型盘时，只有在检测到等于或大于一预定值的差分信号的幅度的情况下，才从所述信号处理部分输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲。

4.一种光盘再现装置，包括：光拾取器，其包含由多个光检测单元形成的检测器，用于扫描记录在光盘上的凹坑序列和检测来自光盘的反射光的强度，以产生检测信号，其中，基于所述检测器的检测信号产生再现数据，

所述检测器相对于激光束的扫描方向，被分组为第一光检测单元组和第二光检测单元组，和

所述再现装置进一步包括：

加法器，对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行加法操作，以产生一个和信号；

差分放大器，对通过所述第一光检测单元组获得的检测信号和通过第二光检测单元组获得的检测信号执行差分操作，以产生一个差分信号；和

信号处理部分，基于所述和信号及其所述差分信号，产生对应于凹坑边缘的再现边缘脉冲，并且，

所述信号处理部分包括；

二进制化电路，用于对所述和信号进行数字化，以产生一二进制信号；

边缘检测器，产生对应于二进制信号的上升沿或下降沿的二进制信号边缘脉冲；

幅度检测电路，当检测出等于或大于一预定值的的差分信号的幅度时，输出一个高电平门信号：

逻辑操作电路，仅当输入进高电平门信号时，才输出二进制信号边缘脉冲作为再现边缘脉冲；和

再现数据产生部分，基于再现边缘脉冲，产生再现数据。

5.如权利要求4所述的光盘再现装置，进一步包括：开关，用于接通/断开幅度检测电路和逻辑操作电路之间的电连接，其中，当所述光盘是第一类型盘时，所述开关断开，并且当所述光盘是第二类型盘时，接通所述开关，第二类型盘的记录密度低于第一类型盘的记录密度。

6.如权利要求4所述的光盘再现装置，进一步包括：第一均衡器，用于校正所述和信号的频率特性；和第二均衡器，用于校正差分信号的频率特性。

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