CN1755824A - 盘区域检测方法和设备 - Google Patents

Abstract

一种盘区域类型检测的方法和设备，盘区域类型检测方法包括：检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于检测的差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。根据所述方法和设备，盘的用户数据区域和存储介质相关的信息区域可被容易地区别，允许适当地执行锁相环(PLL)控制。

Description

盘区域检测方法和设备

本申请要求于2004年9月2日提交到韩国知识产权局的第2004-69998号韩国专利申请的优先权，该申请公开于此以资参考。

                         技术领域

本发明涉及一种盘，更特别地，涉及一种盘区域类型检测方法和设备。

                         背景技术

如光盘的光信息存储介质被广泛地使用，与可记录和再现信息的光学拾取设备关联而不用物理接触。

压缩盘(CD)和数字多用盘(DVD)是两种类型的光盘，每种都有不同的记录容量。光盘还可被分为只读盘和可记录盘。前者的示例是650MB CD和4.7GB DVD-ROM。后者的示例是650MB CD-可读(R)和CD-可写(RW)，和4.7GB DVD+R/RW、DVD-RAM和DVD-R/RW。并且，具有23GB或更高的记录容量的高密度光盘(HD-DVD)还在开发中。

普通的光信息存储介质使用通过以凹坑或者凹槽抖动的形式来记录数据的方法。这里，凹槽是在制造期间通过雕刻基底形成的孔，并且凹槽信号作为抖动的值被检测。所述凹槽抖动是以波的形式在底部形成的凹槽，并且凹槽抖动信号作为推挽信号被检测。

图1示出根据传统技术的光信息存储介质的示例。

参照图1，传统高密度可写光记录信息存储介质包括在其中记录用户数据的用户数据区域120，在用户区域里面的导入区域110，和在用户数据区域外面的导出区域130。存储介质相关信息区域111占用了全部或者部分导入区域110，并且仅存储如存储介质的相关信息的用于再现的数据。所述用于再现的数据由高频抖动(high frequency wobble)形成。覆盖了部分导入区域110、用户数据区域120、和导出区域130的可记录区域由相对的低频抖动形成，并且在所述槽中用户数据可被记录。因此，由于用户数据区域的抖动形式与存储介质相关的信息区域的抖动形式不同，所以PLL条件在存储的数据可被读取之前必须被改变。因此，需要通过确定激光束投射向用户数据区域还是投射向存储介质相关的信息区域来改变PLL条件。

同时，根据传统的技术的推挽信号产生方法现在将被简要地解释。

图2A至2C示出根据传统技术的推挽信号产生方法。

在DPP方法中，衍射单元与来自激光光源的光束对准成一行，并且在光盘中由第九级衍射的光(主光束)和第一级衍射的光(副光束)的三个光束形成三个光斑。来自每一光斑的反射光被相应的光电检测机接收，并且由主光束形成的主要光斑被用于记录或读取信号，而由副光束形成的副光斑被用于检测轨道误差。

在DPP方法中，通过使用主光斑和两个副光斑，产生寻轨误差信号。参照图2B，主要光电检测器23从主要光斑接收光。光电检测器23在垂直和水平方向被分成了四部分。参照图2A和2C，两副光电检测器21和25的每个从副光斑接收光并且每一光电检测器21和25在水平方向被分成两部分。当光电检测器的输出信号由A、B、C、D、E、F、G、和H表示时，寻轨误差信号分别由如下方程获得：

                    MPP＝(B+C)-(A+D)

                      SPP1＝E-F

                      SPP2＝G-H

                    DPP＝MPP-k(SPP1+SPP2)

这里，主推挽(MPP)信号是由在主光电检测器中产生的信号的对角差，副推挽(SPP)1和SPP2是由分别在副光电检测器产生的信号的差。此外，k表示系数，DPP表示由DPP方法产生的寻轨误差信号。

参照图2A，第一减法器22执行由在第一副光电检测器21产生的E和F信号的减法，以产生SPP1信号，并且第三减法器26执行在第二副光电检测器25产生的G和H信号的减法，以产生SPP2信号。同时，第二减法器24使用在主要光电检测器23产生的A、B、C、和D信号来产生由MPP＝(B+C)-(A+D)给出的MPP信号。

                         发明内容

根据本发明的一方面，提供一种能够对盘区域类型进行简单识别的盘区域类型检测方法和设备。

根据本发明的另一方面，提供了一种盘区域类型检测方法，该方法包括：基于从盘反射的信号检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。

根据本发明的另一方面，差值的检测可包括检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。此时，确定区域类型可包括：如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则确定所述区域是存储介质相关的信息区域。

根据本发明的另一方面，差值的检测可包括检测在SPP1和SPP2之间的相位差。此时检测区域类型还可包括：如果相位差被作为直流(DC)输出，则确定所述区域是存储介质相关的信息区域。

根据本发明的另一方面，所述方法还可包括基于确定结果向锁相环(PLL)输出PLL的条件。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检测盘的区域的类型的盘区域类型检测设备，该设备包括：差值信号检测单元，用于基于从盘反射的信号来检测在SPP1信号和SPP2信号之间的差值；和区域确定单元，用于基于检测的差值来确定盘上的区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域。

本发明的另外方面和/或优点将在如下的描述中被部分地阐述，部分地，从描述中将变得明显，或可通过本发明的实施被理解。

                         附图说明

通过结合附图进行的对实施例的如下的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将变得清楚和易于理解，其中：

图1示出根据传统技术的光信息存储介质的示例；

图2A至2C示出根据传统技术的推挽信号产生方法；

图3A和3B示出根据本发明的实施例的子光束的相位关系以解释确定存储介质相关的信息区域的概念；

图4是根据本发明的实施例的包括区域检测单元的光记录和/或再现设备的结构的示图；

图5示出在图4中所示的区域检测单元的实施例；

图6示出在图4中所示的区域检测单元的另一实施例；

图7A和7B显示在偏轨(off-track)状态下对用户数据区域和存储介质相关的信息区域的(SPP1-SPP2)信号的比较的图表；

图8A至8D显示在R-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图；

图9A至9D显示在T-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图；和

图10A和10B示出在偏轨状态下用户数据区域和存储介质相关的信息区域的相位差信号的图。

                       具体实施方式

现在，将详细地参照本发明的实施例和附图中所示的实例，其中相同的标号指的是表示相同的部件。实施例被描述如下以通过参照附图解释本发明。

参照图3A，可以看出在用户数据区域的SPP1和SPP2精确地对应，而在图3B中，在存储介质相关的信息区域中在SPP1和SPP2之间则有相位差。

因此，本发明的实施例基于通过检测子光束SPP1和SPP2的相位差可将用户数据区域与存储介质相关的信息区域进行区别的事实。

图4是根据本发明的实施例的包括区域检测单元的光记录和/或再现设备的结构的示图。

本发明所使用的光记录和/或再现设备包括光盘410、拾取器(pickup)420、RF和伺服误差产生单元440、伺服控制单元450、聚焦伺服驱动单元460、寻轨伺服驱动单元470、滑动伺服驱动单元480、滑动发动机430、和PLL 490。

拾取器420包括：包括激光二极管的光系统、光检测器、多个透镜、和聚焦/寻轨驱动器。根据伺服控制单元450的寻轨和聚焦，光束被会聚到物镜上，并且拾取器420指引光束到光盘410的轨道上。并且，为了检测聚焦误差信号和寻轨误差信号，从光盘410的记录表面上反射的光被再次会聚到物镜上并且被指引到光检测器上。

光电检测器包括多个光电检测装置，并且将与由每一光电检测装置获得的光数量成比例的电信号输出到RF和伺服误差产生单元440。

RF和伺服误差产生单元440从在光电检测器的每一光电检测装置输出的电信号来产生用于再现数据的RF信号、用于伺服控制的聚焦误差(FE)信号和寻轨误差(TE)信号。

产生的RF信号被输出到数据解码器(未示出)，并且聚焦误差(FE)信号和寻轨误差(TE)信号被输出到伺服控制单元450。

伺服控制单元450处理聚焦误差(FE)信号并将用于聚焦控制的驱动信号输出到聚焦伺服驱动单元460，并处理寻轨误差(TE)信号并将用于寻轨控制的驱动信号输出到寻轨伺服驱动单元470。

聚焦伺服驱动单元460通过对在拾取器420中的聚焦驱动器进行驱动来将拾取器420进行上下移动以跟随盘，从而根据与盘410的旋转一起的向上和向下的移动在盘410的表面上形成聚焦。

寻轨伺服驱动单元470通过对在拾取器420中的寻轨操作器进行驱动来径向地移动拾取器420的物镜，从而光束跟随轨道。

根据本发明的实施例，所述RF和伺服误差产生单元440包括寻轨误差信号产生电路，还包括用于检测拾取器420是在盘的用户数据区域还是在存储介质相关的信息区域的区域检测单元441。为了解释的方便，假设在拾取器420中嵌入的光电检测器具有图2所示的结构，但是显而易见的是除了在图2中所示的类型之外各种类型的光电检测器可被应用于本发明。

图5示出在图4中显示的区域检测单元的实施例。

参照图5，区域检测单元441包括：SPP1信号产生单元510、SPP2信号产生单元520、减法单元530、和区域确定单元540。

SPP1信号产生单元510从E信号中减去F信号，并且产生和输出SPP1信号。

SPP2信号产生单元520从G信号中减去H信号，并且产生和输出SPP2信号。

减法单元530接收SPP1信号和SPP2信号，从SPP1信号减去SPP2信号，并且将结果输出到区域确定单元540。

如果由从SPP1信号减去SPP2信号得到结果的信号的峰峰值比预定的阈值小，则区域确定单元540确定所述拾取器在用户数据区域中，如果得到结果的值比预定阈值大，则区域确定单元540确定所述拾取器在存储介质相关的信息区域中。然后，根据确定的区域，区域确定单元540向PLL 490输出PLL控制条件信息。

图6示出在图4中显示的区域检测单元的另一实施例。

参照图6，区域检测单元441包括SPP1信号产生单元610、二进制单元620、SPP2信号产生单元630、二进制单元640、相位检测单元650、低通滤波器(LPF)660、减法单元680、和区域确定单元690。

SPP1信号产生单元610从E信号中减去F信号并产生和输出SPP1信号，二进制单元620对SPP1信号进行二值化并向相位检测单元650输出结果。

SPP2信号产生单元630从G信号中减去H信号并产生和输出SPP2信号，以及二进制单元640对SPP2信号进行二值化并向相位检测单元650输出结果。

相位检测单元650接收二进制的SPP1和SPP2信号并检测相位差。如果SPP1信号的相位比较大，则相位差被输出到LPF 660，以及如果SPP2信号的相位比较大，则相位差被输出到LPF 670。

LPF 660和LPF 670滤波器的任何一个从相位检测单元650接收信号，并向减法单元680输出结果。

减法单元680从由LPF 660输出的信号减去由LPF670输出的信号，并向区域检测单元690输出减法结果PIC_s。

如果接收的PIC_s值接近0，则区域检测单元690确定拾取器在用户数据区域中，并且如果所述值是预定的正数或负数值时，区域预定单元690确定拾取器在存储介质相关的信息区域中。

图7A和7B显示在偏轨(off-track)状态下对用户数据区域和存储介质相关的信息区域的(SPP1-SPP2)信号的比较的图表。

参照图7A，由于SPP1和SPP2在用户数据区域中几乎相同，所以可看出(SPP1-SPP2)在预定的上限和下限之间。即，可看出峰峰值接近0。

同时，参照图7B，由于在存储介质相关的信息区域中在SPP1和SPP2之间有相位差，所以(SPP1-SPP2)以正弦波的形式出现，因此可看出峰峰值超过预定的阈值。

因此，如果(SPP1-SPP2)的峰峰值比预定的阈值小，则可确定拾取器在用户数据区域中，并且如果峰峰值比预定的阈值大，则可确定拾取器在存储介质相关的信息区域中。

因此，当盘被倾斜时，通过使用在SPP1和SPP2之间的差值来确定区域也可被应用。

图8A至8D显示在R-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图。

参照图8A至8D，由于当如图8A所示的R-tilt是-1.0，如图8B所示的0，如图8C所示的+1.0时所有的(SPP1-SPP2)的峰峰值超过了预定的阈值，所以可确定拾取器在存储介质相关的信息区域。

图9A至9D显示在T-tilt变化情况下的比较(SPP1-SPP2)信号的图表。

参照图9A至9D，由于当如图9A所示的T-tilt是-0.5，如图9B所示的0，如图9C所示的+0.5时，所有的(SPP1-SPP2)的峰峰值超过了预定的阈值，所以可确定拾取器在存储介质相关的信息区域。

图10A和10B示出在偏轨状态下用户数据区域和存储介质相关的信息区域的信号的相位差的图表。

图10A显示用户数据区域的PIC_s信号，并且图10B显示存储介质相关的信息区域的PIC_s信号。

参照图10A，在用户数据区域，PIC_s接近零。

参照图10B，在存储介质相关的信息区域，PIC_s为vcc*0.2或-vcc*0.2。极性根据激光束的移动方向而改变。因此，当PIC_s接近零时，可确定拾取器在用户数据区域中，并且当PIC_s超过预定的正数或者负数值时，可确定拾取器在存储介质相关的信息区域中。

同时，在对轨状态下，通过检测(SPP1-SPP2)和确定值是DC，可简单地确定拾取器是否在存储介质相关的信息区域中。

虽然本发明参照其示例性实施例的本发明已被具体地显示和描述，但本领域普通技术人员将理解，在不脱离所附权利要求所定义的本发明的精神和范围的情况下可以在形式和细节上在其中进行各种改变。

根据如上描述的本发明，允许合适的PLL控制执行，可很容易地区别用户数据区域和存储介质相关的信息区域。

Claims (21)

1、一种盘区域类型检测方法包括：

基于从盘反射的信号检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和

基于所述差值，确定在盘上的区域是存储介质的相关信息区域还是用户数据区域。

2、根据权利要求1所述的方法，其中，检测差值包括：

检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。

3、根据权利要求2所述的方法，其中，确定盘区域类型包括：

如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则确定盘的区域是存储介质相关的信息区域。

4、根据权利要求1所述的方法，其中，检测差值包括：

检测在SPP1和SPP2之间的相位差。

5、根据权利要求4所述的方法，其中，确定区域类型还包括：

如果相位差被输出直流(DC)，则确定盘的区域是存储介质相关的信息区域。

6、根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于所述区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域的确定来向锁相环(PLL)输出PLL条件。

7、一种检测盘区域的类型的盘区域类型检测设备，包括：

差值信号检测单元，用于基于从盘反射的信号来检测在副推挽(SPP)1信号和SPP2信号之间的差值；和

区域确定单元，用于基于检测的差值来确定盘上的区域是存储介质相关的信息区域还是用户数据区域。

8、根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元检测(SPP1-SPP2)的峰峰值。

9、根据权利要求8所述的设备，其中，如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超过预定的阈值，则区域确定单元确定该区域是存储介质相关的信息区域。

10、根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元检测SPP1和SPP2之间的相位差。

11、根据权利要求10所述的设备，其中，如果相位差输出直流(DC)，则区域确定单元确定所述区域是存储介质相关的信息区域。

12、根据权利要求7所述的设备，其中，区域检测单元基于确定的结果还向锁相环(PLL)输出PLL的条件。

13、根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元包括SPP1信号产生单元、SPP2信号产生单元和减法单元。

14、根据权利要求7所述的设备，其中，差值信号检测单元还包括第一二进制单元、第二二进制单元、相位检测单元、第一低通滤波器、第二低通滤波器和减法单元。

15、根据权利要求14所述的设备，其中，相位检测单元接收二进制的SPP1和SPP2信号并且检测在所述信号之间的相位差。

16、根据权利要求15所述的设备，其中，如果SPP1信号的相位大于SPP2信号的相位，则相位差被输出到第一低通滤波器。

17、根据权利要求16所述的设备，其中，如果SPP2信号的相位比SPP1信号的相位大，则相位差被输出到第二低通滤波器。

18、根据权利要求14所述的设备，其中，减法单元从第一低通滤波器的输出信号减去第二低通滤波器的输出信号，并将减法结果输出到区域确定单元。

19、根据权利要求18所述的设备，其中，如果减法结果近似为0，则区域确定单元确定所述区域是用户数据区域，并且如果减法结果是预定的正数或者负数值，则区域确定单元确定所述区域是存储介质相关的信息区域。

20、根据权利要求14所述的设备，其中，第一二进制单元对SPP1信号进行二值化并将结果输出到相位检测单元，以及第二二进制单元对SPP2信号进行二值化并将结果输出到相位检测单元，并且相位检测单元基于输出的结果检测相位差。

21、一种盘区域类型检测方法，包括：

基于从盘反射的信号来检测在第一信号和第二信号之间的相位差；和

基于在第一和第二信号之间的相位差确定盘上的区域是第一类型区域还是第二类型区域。

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