JP6237417B2 - 分析装置及び分析方法 - Google Patents
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Description
上記問題点を鑑み、本発明は、検出対象に対する定量性を向上できる分析装置及び分析方法を提供することを目的とする。
本発明の実施の形態に分析装置は、図1に示すように、基板100と、基板100を回転させるモータ2と、基板100を光学的に走査する光走査部3と、モータ2及び光走査部3を制御する制御部5とを備える。
図3に示す3つの検出信号DS1〜DS3は、基板100上のビーズ1個を想定した凸ピット1個、ビーズ2個を想定した隣接した凸ピット2個、隣接ビーズ3個を想定した隣接した凸ピット3個をそれぞれ走査する際の検出信号をシミュレーションした結果である。横軸はある区間における先頭のビーズ66に対するスポットSの位置、縦軸は検出信号をビーズ66が存在しないときの検出信号で正規化した信号強度である。検出信号DS1〜DS3は、孤立する1個のビーズ66から、2個、3個とビーズ66の個数が増加する従い、パルス幅が大きくなると考えられる。
図8のフローチャートを用いて、本発明の実施の形態に係る分析装置において、光走査部3が基板100を光学的に走査することにより、計数部50が基板100に固定されたビーズ66を計数し、ビーズ66に標識された検出対象を分析する方法を説明する。
図11用いて、本発明の実施の形態に係る分析装置によるビーズ66の計数結果と、従来方法による計数結果との比較例を説明する。横軸は、検出対象となるバイオマーカーの濃度であり、縦軸はビーズ66の計数結果である。本発明の実施の形態に係る分析装置による計数結果を曲線P1に、従来方法による計数結果を曲線P2に示す。
上記のように、本発明を実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面は本発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
3 光走査部
4 光学系制御部
5 制御部
21 回転制御部
31 レーザ発振器
32 コリメータレンズ
33 ビームスプリッタ
34 アクチュエータ
35 対物レンズ
36 集光レンズ
37 光検出部
50 計数部
51 パルス検出部
52 記憶部
61 抗体
62 抗原
63 試料液
64 緩衝液
65 抗体
66 ビーズ(粒子)
100 基板
501 第1カウンタ
502 第2カウンタ
503 対象カウンタ
Claims (7)
- 表面に粒子が固定された基板を光学的に走査する光走査部と、
前記光走査部が前記基板を走査することにより前記光走査部から取得される検出信号に含まれるパルス波及び前記パルス波のパルス幅を検出するパルス検出部と、
前記パルス検出部により第1基準値未満のパルス幅をそれぞれ有する2つのパルス波が2回連続して検出されると、前記2つのパルス波のパルス間隔を、前記光走査部が互いに隣接する複数の前記粒子を走査した場合に検出された第1パルス幅で割った数に基づいて、前記粒子の数を計数する計数部と、
を備えることを特徴とする分析装置。 - 前記第1基準値は、前記第1パルス幅と前記検出信号が有する所定値との和であることを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
- 前記計数部は、前記パルス検出部において、前記第1基準値以上かつ第2基準値未満のパルス幅を有するパルス波が検出されると、前記粒子の数を1として計数することを特徴とする請求項1または2に記載の分析装置。
- 前記第2基準値は、第2パルス幅と前記検出信号が有する所定値との和であることを特徴とする請求項3に記載の分析装置。
- 前記計数部は、前記パルス検出部において、前記第1基準値未満のパルス幅を有するパルス波が検出された次に、前記第1基準値以上前記第2基準値未満のパルス幅を有するパルス波が検出された場合において、先に検出された前記第1基準値未満のパルス幅を有するパルス波を計数しないことを特徴とする請求項3または4に記載の分析装置。
- 前記計数部は、前記パルス検出部において、前記第2基準値以上のパルス幅を有するパルス波が検出された場合において、前記第2基準値以上のパルス幅を有するパルス波を計数しないことを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の分析装置。
- 光走査部が、表面に粒子が固定された基板を光学的に走査し、
前記光走査部が前記基板を走査することにより前記光走査部から取得される検出信号に含まれるパルス波及び前記パルス波のパルス幅を検出し、
前記パルス波及びパルス幅の検出の結果、第1基準値未満のパルス幅をそれぞれ有する2つのパルス波が2回連続して検出されると、前記2つのパルス波のパルス間隔を、前記光走査部が互いに隣接する複数の前記粒子を走査した場合に検出された第1パルス幅で割った数に基づいて、前記粒子の数を計数する
ことを特徴とする分析方法。
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