CN117930162A - 一种雷达测试的装置、雷达测试的方法和电子装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例涉及雷达测试领域,并具体提供一种雷达测试的装置、雷达测试的方法和电子装置,能够实现自动化的雷达测试,该装置包括暗室、上位机、设置于暗室内的水平直导轨、第一水平弧导轨和雷达转台;其中,雷达转台用于放置待测雷达,水平直导轨沿第一方向设置;水平直导轨上设置的两个第一驱动部件驱动第一角反射器沿水平直导轨移动;第一水平弧导轨上设置的两个第二驱动部件驱动第二角反射器沿第一水平弧导轨移动;上位机控制雷达转台对准水平直导轨或第一水平弧导轨的方位以及确定待测雷达的距离分辨率和方位角分辨率。通过该装置自动调节角反射器位置和自动对准能够实现便捷的距离分辨率和方位角分辨率的自动化测试。
Description
技术领域
本申请涉及雷达领域,特别涉及一种测试雷达测试的装置、雷达测试的方法和电子装置。
背景技术
雷达功能测试主要是对待测雷达的距离分辨率、方位角分辨率等参数进行测试,但是不同测试需要的设备不同,从而需要在不同的环境和设备下测试雷达,测试过程繁琐,难以实现自动化测试。
所以如何实现自动化雷达功能测试成为亟待解决的问题。
发明内容
本申请提供一种测试雷达测试的装置、雷达测试的方法和电子装置,能够对待测雷达的距离分辨率、方位角分辨率等参数进行同步的自动化测试。
第一方面,提供了一种雷达测试的装置,该装置包括:封闭的壳体所围成的暗室,壳体的内壁上设置有吸波材料;设置于暗室内的水平直导轨、第一水平弧导轨和雷达转台,其中,雷达转台用于放置待测雷达,水平直导轨与放置于雷达转台上的待测雷达处于同一水平面内,且沿着第一方向设置,第一方向与待测雷达的径向平行;水平直导轨上设置有两个第一驱动部件,两个第一驱动部件上分别设置有第一角反射器,两个第一驱动部件用于驱动第一角反射器沿水平直导轨移动;第一水平弧导轨设置有两个第二驱动部件,两个第二驱动部件上分别设置有第二角反射器,两个第二驱动部件用于驱动第二角反射器沿第一水平弧导轨移动,其中,第一水平弧导轨的开口朝向待测雷达;装置还包括上位机,上位机用于控制雷达转台对准水平直导轨的方位或第一水平弧导轨的方位,获取第一角反射器的第一位移量和第二角反射器的移动距离,并根据第一位移量确定待测雷达的距离分辨率,根据移动距离确定待测雷达的方位角分辨率;其中,第一位移量为两个第一角反射器沿着水平直导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的位移量,移动距离为两个第二角反射器沿着第一水平弧导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的路程。
本申请提供的实施例中,通过对雷达测试装置的改进,将需要多次、多地进行的繁琐的待测雷达的距离分辨率和方位角分辨率参数测试进行同步测试,简化了测试过程,实现了自动化雷达测试。
结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,水平直导轨数量为两条,两个第一驱动部件分别设置于两条水平直导轨上,两条水平直导轨与第三驱动部件连接,其中第三驱动部件用于驱动水平直导轨在第二方向上平移,其中,第二方向与第一方向垂直且处于同一水平面;上位机还用于获取两条水平直导轨沿第二方向平移以使得两个第一角反射器从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中,第一驱动部件记录的第二位移量,并根据第二位移量确定方位角分辨率的初测结果;两个第二驱动部件还用于调节两个第二角反射器的高度;上位机还用于根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值。
在测试方位角分辨率时,如果第二角反射器的高度一致,此时,反射的雷达波之间会产生干涉,对测量结果产生影响,所以需要在高度上区分两个第二角反射器。但是当高度的差值过大时,上位机始终无法获取第二角反射器从一个物体被识别为两个的识别结果。
本申请提供的实施例中,根据方位角分辨率初测结果确定两个第二角反射器的高度的差值,能够在测试开始时使第二角反射器在高度上处于不能识别的范围内,能够在测试时减小雷达识别所需的时间,提高测试效率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值,可以是根据方位角分辨率的初测结果确定第一阈值,两个第二角反射器的高度的差值小于第一阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,上位机还用于获取两条水平直导轨沿第二方向运动以使得两个第一角反射器从接触状态互相远离到其中任一个不再被待测雷达识别到的过程中,第一驱动部件记录的第二位移量,并根据第二位移量确定方位角范围的初测结果,上位机还用于根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位。
由于雷达测试时,可能需要根据雷达的识别结果判断雷达方位角分辨率,如果在开始测试时,雷达只识别出了一个物体,此时可能有两种情况,第一种,有一个角反射器在雷达的方位角范围外,第二种,两个角反射器靠的比较近从而被识别为一个物体。此时,上位机不知道应该控制角反射器向边缘移动还是向中心靠拢。
本申请提供的实施例中,根据方位角范围初测结果确定两个第二角反射器的初始水平方位,能够在测试开始时使上位机能够确定第二角反射器的方位,能够在测试时减小雷达识别所需的时间。。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位,包括:根据方位角范围的初测结果确定第二阈值,两个第二角反射器在第一水平弧导轨上的初始位置与待测雷达的夹角小于第二阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,第一驱动部件还用于调节两个第一角反射器的高度;上位机还用于获取两个第一角反射器沿着第一驱动部件从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的第一高度变化,并根据第一高度变化确定待测雷达的俯仰角分辨率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,水平直导轨上设置有沿着第二方向设置的垂直直导轨,垂直直导轨与水平直导轨垂直且处于同一水平面,水平直导轨和垂直直导轨通过两个第一驱动部件中的至少一个连接;垂直直导轨上设置有第四驱动部件,第一角反射器固定于第四驱动部件上,其中,第四驱动部件用于驱动第一角反射器沿垂直直导轨移动;上位机还用于获取两个第一角反射器沿着水平直导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中,第四驱动部件记录的第三位移量,并根据第三位移量确定方位角分辨率的初测结果;两个第二驱动部件还用于调节两个第二角反射器的高度;上位机还用于根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值。
本申请提供的实施例,通过第一角反射器在垂直直导轨的移动从而得到方位角分辨率的初测结果,并根据初测结果调节第二角反射器的高度的差值,使得测试过程中不需要先根据雷达的回波信号判断两个角反射器已经无法分辨,从而节约了测试流程,提高了测试效率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值,包括:根据方位角分辨率的初测结果确定第三阈值,两个第二角反射器的高度的差值小于第三阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,垂直直导轨还用于测试待测雷达的方位角范围;上位机还用于获取两个第二角反射器沿着水平直导轨从接触状态互相远离直到其中任一个不再被待测雷达识别到的过程中,第四驱动部件记录的第四位移量,并根据第四位移量确定方位角范围的初测结果;上位机还用于根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位。
本申请提供的实施例中,本申请提供的实施例中,通过第一角反射器在垂直直导轨的移动从而得到方位角范围的初测结果,并根据初测结果调节第二角反射器的初始水平方位,使得测试过程中不需要先调节角反射器的位置不超出雷达的方位角范围,从而节约了测试流程,提高了测试效率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位,包括:根据方位角范围的初测结果确定第四阈值,两个第二角反射器在第一水平弧导轨上的初始位置与待测雷达的夹角小于第四阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,第四驱动部件还用于调节两个第一角反射器的高度;上位机还用于获取两个第一角反射器沿着第一驱动部件从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的第二高度变化,并根据第二高度变化确定待测雷达的俯仰角分辨率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,水平直导轨上设置有第二水平弧导轨,水平直导轨与第二水平弧导轨通过两个第一驱动部件中的至少一个连接,其中,第二水平弧导轨半径为R,弧度α的范围为60°<α<180°,开口朝向待测雷达;第二水平弧导轨上设置有第五驱动部件,第一角反射器固定于第五驱动部件上,其中,第五驱动部件用于驱动第一角反射器沿第二水平弧导轨移动;上位机还用于获取两个第一角反射器沿第二水平弧导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中,第五驱动部件记录的第五位移量,并根据第五位移量确定方位角分辨率的初测结果;两个第二驱动部件还用于调节两个第二角反射器的高度;上位机还用于根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值。
本申请提供的实施例,通过第一角反射器在第二水平弧导轨的移动从而得到方位角分辨率的初测结果,并根据初测结果调节第二角反射器的高度的差值,使得测试过程中不需要先根据雷达的回波信号判断两个角反射器已经无法分辨,从而节约了测试流程,提高了测试效率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件调节两个第二角反射器的高度的差值,包括:根据方位角分辨率的初测结果确定第五阈值,两个第二角反射器的高度的差值小于第五阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,第二水平弧导轨还用于测试待测雷达的方位角范围;上位机还用于获取两个第二角反射器沿第一水平弧导轨从接触状态互相远离直到其中任一个不再被待测雷达识别到的过程中,第五驱动部件记录的第六位移量,并根据第六位移量反馈确定方位角范围的初测结果;上位机还用于根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位。
本申请提供的实施例中,本申请提供的实施例中,通过第一角反射器在第二水平弧导轨的移动从而得到方位角范围的初测结果,并根据初测结果调节第二角反射器的初始水平方位,使得测试过程中不需要先调节角反射器的位置不超出雷达的方位角范围,从而节约了测试流程,提高了测试效率。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨上的初始水平方位,包括:根据方位角范围的初测结果确定第六阈值,两个第二角反射器在第一水平弧导轨上的初始位置与待测雷达的夹角小于第六阈值。
结合第一方面及第一方面的某些实现方式,在第一方面的另一些实现方式中,第五驱动部件还用于调节第一角反射器的高度;上位机还用于获取两个第一角反射器沿第五驱动部件从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的第三高度变化,并根据第三高度变化确定待测雷达的俯仰角分辨率。
第二方面,提供了一种雷达测试的方法,该方法用于测试待测雷达,包括:上位机控制雷达转台驱动待测雷达旋转至朝向水平直导轨的方位;上位机获取两个第一角反射器沿着水平直导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的第一位移量,并根据第一位移量确定待测雷达的距离分辨率;上位机控制雷达转台驱动待测雷达旋转至朝向第一水平弧导轨的方位;上位机获取两个第二角反射器沿着第一水平弧导轨从接触状态互相远离直到被待测雷达识别为两个物体的过程中的移动距离,并根据移动距离确定待测雷达的方位角分辨率。
第三方面,提供一种电子装置,该电子装置用于执行上述第二方面提供的方法。具体地,该电子装置可以包括用于执行第二方面提供的雷达测试的方法的处理器。
第四方面,提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读介质存储用于设备执行的程序代码,该程序代码包括用于执行上述第二方面提供的雷达测试的方法。
附图说明
图1是本申请一实施例的雷达测试装置示意图。
图2是雷达测试原理的示意图。
图3是本申请实施例距离范围、距离分辨率测量方法示意图。
图4是本申请实施例俯仰角的测量方法示意图。
图5是本申请一实施例的方位角分辨率初测的示意图。
图6是本申请一实施例的角反射器的高度的差值的示意图。
图7是本申请一实施例的初始水平方位的示意图。
图8是本申请另一实施例中的自动化雷达测试装置示意图。
图9是本申请再一实施例中的自动化雷达测试装置的示意图。
图10是本申请实施例提供的电子装置的示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。其中,在本申请实施例的描述中,除非另有说明,“/”表示或的意思,例如,A/B可以表示A或B;本文中的“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,在本申请实施例的描述中,“多个”是指两个或多于两个。
以下,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
雷达在使用前需要经过一系列的设计和测试,主要考虑以下几个方面:
指向性:指向性是指天线辐射能量的主要方向。远场设计中,需要根据应用需求来选择合适的指向性天线,以确保信号能够在需要的方向上传输和接收。辐射功率和辐射效率:辐射功率是指天线向空间传播的能量,辐射效率则是辐射功率与输入功率之间的比例关系。在远场设计中,需要考虑天线的辐射功率和效率,以确保信号能够有效传输和接收。阻抗匹配:阻抗匹配是指天线输出端的阻抗和传输线或接收电路的阻抗之间的匹配。在远场设计中,需要考虑阻抗匹配,以确保信号的最大传输效率。反射和干扰:在远场设计中,需要考虑信号的反射和干扰问题。反射会导致信号能量的损失,干扰会导致信号质量的下降。因此,需要通过合理的设计和调试来降低反射和干扰的影响。衰减和补偿:在远场传输中,信号的衰减是不可避免的。因此,需要考虑衰减的影响,并采取补偿措施来确保信号的质量和可靠性。通过测试对雷达的性能进行调整。
雷达功能测试主要是对待测雷达的距离分辨率、方位角范围、方位角分辨率等参数进行测试,但是不同测试需要的设备不同,从而需要在不同的环境和设备下测试雷达,测试过程繁琐。
所以如何实现自动化测试过程成为亟待解决的问题。
图1是本申请一实施例的雷达测试装置示意图。
如图1所示的雷达测试装置,该装置可以包括封闭的壳体所围成的暗室,其中,壳体的内壁上可以设置有吸波材料,以减少反射波的影响。该装置用于测试待测雷达110的参数。待测雷达110可以设置于雷达转台120上,该雷达转台120可以使设置于其上的待测雷达110改变方位角(也可以叫水平角或水平方位角)和/或,俯仰角。
当待测雷达110不需要旋转的时候,雷达转台120可以仅仅是雷达放置台。
沿待测雷达110的径向,即第一方向X设置有水平直导轨140,该水平直导轨140可以是一条导轨,也可以是相互平行的两条导轨,水平直导轨140与放置于雷达转台120上的待测雷达110处于同一水平面内。第一方向为与待测雷达110的径向平行且与待测雷达110处于同一水平面的方向。其中,待测雷达110的径向指以待测雷达110为起点的射线的延伸方向。
水平直导轨140上可以设置两个第一驱动部件410,该两个第一驱动部件410上可以设置第一角反射器130。第一驱动部件410用于驱动第一角反射器130沿水平直导轨140移动。第一驱动部件410可以记录第一角反射器130沿水平直导轨140移动的位移量,也可以由其他设备记录第一角反射器130的位移量,本申请实施例以第一驱动部件410记录第一角反射器130的位移量为例,但本申请不限于此。角反射器是通过金属板材根椐不同用途做成的不同规格的雷达波反射器。当雷达电磁波扫描到角反射后,电磁波会在金属角上产生折射放大,产生很强的回波信号,在雷达的屏幕上出现很强的回波目标。通过合理设置角反射器,在待测雷达110在水平直导轨140方向可以测试雷达的距离范围、距离分辨率、俯仰角范围、俯仰角分辨率、速度、速度分辨率等参数。
作为一种可能的实现方式,第一驱动部件410可以是与驱动电机连接的支架或可调节高度的活动支架,在驱动电机的带动下,实现支架或可调节高度的活动支架及其上的角反射器沿着导轨移动。
该装置还可以包括第一水平弧导轨150,该第一水平弧导轨150可以是单轨导轨也可以是双轨导轨,根据不同的需要可以选择使用单轨导轨还是双轨导轨。第一水平弧导轨150设置有两个第二驱动部件710,两个第二驱动部件710上分别设置有第二角反射器160,第二驱动部件710用于驱动第二角反射器160沿第一水平弧导轨150移动,其中,第一水平弧导轨150的开口朝向待测雷达110。第一水平弧导轨150可以用于测试待测雷达110的方位角范围和方位角分辨率等。
在某些实现方式中,该雷达测试装置还包括上位机,上位机可以控制雷达转台120旋转,以对准水平直导轨140的方位或第一水平弧导轨150的方位。例如,在需要进行距离分辨率的测试时,驱动雷达转台120旋转至朝向水平直导轨140的方位,在需要进行方位角分辨率的测试时,驱动雷达转台120旋转至朝向第一水平弧导轨150的方位。
对准步骤可以根据雷达的回波能量的大小判断,例如,旋转雷达转台120,当待测雷达110接收到的回波的能量最高时确认为对准水平直导轨140或第一水平弧导轨150。
在测试时,待测雷达110设置于雷达转台120上,在朝向水平直导轨140的方位上可以测试雷达的距离范围、距离分辨率、俯仰角范围、俯仰角分辨率、速度等参数,速度测试可以通过距离和时间的测量计算得出,也可以通过多普勒频移效应求解得出,本申请对此不做限定。
上位机还可以获取两个第一角反射器130沿着水平直导轨140从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中,两个第一驱动部件410记录的第一位移量,并根据第一位移量确定待测雷达110的距离分辨率。
两个第一驱动部件410记录的第一位移量可以是指两个第一驱动部件410分别记录的位移量,也可以指两个第一驱动部件410之间的相对位移量。当两个第一驱动部件410分别记录时,可以根据两个第一驱动部件410分别记录的位移量之和计算。
上位机还可以获取两个第二角反射器160沿着第一水平弧导轨150从接触状态互相远直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中,第二驱动部件710记录的第一移动距离,并根据第一移动距离确定待测雷达110的方位角分辨率。
由于第一水平弧导轨150并非是线性的导轨,因此,第一移动距离是指实际的移动距离而非位移量。
作为另一种可能的实施例,两个第二驱动部件710也可以记录两个第二角反射器160之间的位移量,例如可以通过移动距离和移动角度的换算,根据三角函数的关系计算位移量。
在第一水平弧导轨150上测试的雷达的水平方位角范围和水平方位角分辨率后,可以根据第一水平弧导轨150上测试的雷达的方位角范围和方位角分辨率和在水平直导轨140的方向上测试的雷达的俯仰角范围、俯仰角分辨率估计雷达的实际工作角度范围和角度分辨率。
图2是雷达测试原理的示意图。
如图2所示的雷达测试的原理示意图,图2中的(a)中,雷达向目标发射波束,波束在到达目标后会产生反射的回波。如图2中的(b)所示,雷达产生脉冲信号,周期性地向天线方向发射雷达信号,脉冲信号的幅值可以是信号的电压值或功率,发射出去的雷达信号经过一定的时间T后收到了目标的反射回波,据此可以估计出目标距离雷达的距离为Tc/2,其中c为光速。在接收信号中由于其他信号的干扰以及雷达监测时的噪点,接收信号的基波波形一般不是一条直线,而是具有很多噪声的不规则图形,并且在距离雷达较近的位置噪声会更加明显。因此,测试时通常将目标置于较远的位置。并且,雷达测试需要满足远场的要求。远场的边界通常可以使用远场距离R和电磁波的波长λ来计算。一般来说,当距离R大于电磁波波长λ的2倍时,可以认为已经进入了远场区域。也可以用远场区域边界公式:R>2D²/λ计算,其中,D是发射器/天线的最大尺寸。从公式可以看出,我们远场距离是跟波长成反比的。天线尺寸不变时,电磁波的波长越小,远场距离越大。
对距离分辨率的测试是指雷达能够区分两个不同目标的距离,如图2中的(b)所示,雷达的接收信号波形图中,回波信号之间无法区分时,雷达反馈的目标只有一个,只有当两个波峰各自的积分值到达一定阈值,雷达才会反馈两个目标,即认为能够对目标进行区分。
对角度的测试可以通过相位法测量,也可以通过振幅法测量,还可以通过直接计算获得。相位法测量利用多个天线所接收的回波信号之间的相位差进行角度测量。设在偏离雷达法线θ角度上有远区目标,则达到接收点的目标反射的回波近似为平面波。两个天线之间的间距为d,两天线所接收的信号由于存在波程差x而产生一个相位差φ,可知φ=2πx/λ=(2πdsinθ)/λ。利用相位进行比较,测出相位差φ就可以确定出目标相对于法线的偏角θ。振幅法测量角度是利用天线收到的回波信号的电压幅值或功率幅值进行角度测量的,本申请对此不做限定。也可以直接计算测量角度,例如在导轨上标注距离与角度,通过直接读取数值得出角度,由于直接读取数值可以避免测试时算法估计的误差,也可以用于矫正测量值。
图3是本申请实施例距离范围、距离分辨率测量方法示意图。
如图3中的(a)所示,由于雷达测试需要满足远场测试的要求且雷达较近的位置噪声幅值较大,所以为了正确分辨目标,目标应当距离雷达有一个最小值;由于测试雷达时可能采用的雷达功率不高,因此对于高频率的电磁波,在远场传输中,信号会经历路径损耗,使得信号功率降低。路径损耗可以根据远场距离R和电磁波的波长λ来计算。
远场传播路径损耗公式:PL = 20log(4πR/λ)
其中,PL是路径损耗,以分贝(dB)为单位。可以看出,路径损耗随着电磁波波长的增加有所增加。当目标距离雷达超过一定阈值时,雷达不再能分辨出目标与噪声,因此目标与雷达的距离也有一个最大值。距离测试可以在一个导轨上完成,也可以在两个导轨上完成,以图3中的(a)为例,可以从距离雷达最近的方位沿径向移动角反射器,当目标被雷达识别时,此时记录的距离即为该频率下雷达的最小识别距离,继续沿径向移动角反射器,当目标再次无法识别时,此时记录的距离即为该频率下雷达的最大识别距离;当使用两条导轨时,两条导轨上的角反射器可以分别用于测量最小距离和最大距离,此时测量的结果具有同时性,结果更可靠。
如图3中的(b)所示,可以在一个导轨上完成,也可以在两个导轨上完成,以图3中的(b)为例,雷达距离分辨率测试使用两条水平导轨,测试开始时,两条导轨上的角反射器设置于与待测雷达110距离相同的位置上,两条导轨之间的距离小于雷达分辨率,例如,两条导轨之间的距离小于0.15m,接着径向移动任意角反射器,直到雷达区分两个角反射器,此时记录的角反射器移动的距离就是雷达的距离分辨率。若通过一个导轨完成,只需要将两个角反射器同时置于一个直线导轨上即可。
图4是本申请实施例俯仰角的测量方法示意图。
如图4所示的俯仰角的测量方法,作为一种可能的实现方式,图4可以看作图1中雷达测试装置某一种实施例中的A方向上的视图,如图4示,在水平直导轨140上进行雷达的俯仰角范围测试的方法可以是,将第一角反射器130固定在水平直导轨140的第一驱动部件410上,雷达转台120改变待测雷达110的俯仰角,使得第一角反射器130从雷达的可识别角度范围外进入可识别角度范围内,沿该方向继续转动雷达转台120,直至第一角反射器130无法被雷达识别,此时,雷达转台120转动的角度即为雷达的俯仰角范围。
作为一种测量俯仰角范围的方法的实施例。水平直导轨140为一条或两条沿待测雷达110径向平行设置的导轨,这一条或两条平行设置的导轨可以改变自身的高度,改变自身高度方式可以用电机,滑竿,齿轮等,本申请对此不做限定。在测量俯仰角时,若只有一条导轨,将第一角反射器130设置于水平直导轨140上,水平直导轨140沿高度方向移动,使得第一角反射器130从雷达的可识别角度范围外进入可识别角度范围内,沿该方向继续移动水平直导轨140,直至第一角反射器130无法被雷达识别,此时,根据三角函数的性质可以计算得出雷达的俯仰角范围;若有两条水平直导轨140,将第一角反射器130分别设置于两条水平直导轨140上,两个第一角反射器130在水平直导轨140上沿待测雷达110径向的距离近似相等,水平直导轨140沿高度方向移动,或沿第一驱动部件410在高度方向上移动第一角反射器130,使得两个第一角反射器130从雷达反馈结果都可识别出,沿该方向继续移动水平直导轨140,直至任一第一角反射器130无法被雷达识别,此时,根据三角函数的性质可以计算得出雷达的俯仰角范围。
为了减小干涉,水平直导轨140之间可以有初始水平距离,进一步,该初始水平距离d0可以是0<d0<0.15m。在该距离下,雷达一般无法分辨两个目标,即减小了干涉又减小了初始误差。
俯仰角分辨率的测量方法也可以参照图4,作为一种在水平直导轨140上进行雷达的俯仰角分辨率测试的方法的实施例,水平直导轨140上的第一驱动部件410还可以调节两个第一角反射器130的高度,例如,第一驱动部件410可以是具有可调节高度功能的支架。上位机可以获取两个角反射器沿着第一驱动部件410从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中的第一高度变化,并根据第一高度变化确定待测雷达110的俯仰角分辨率。
作为另一种在水平直140导轨上进行雷达的俯仰角分辨率测试的方法的实施例,水平直导轨140可以是两条相互平行且沿待测雷达110径向方向设置的导轨,这两条导轨可以沿高度方向移动,两条,导轨上分别设置有角反射器,第一角反射器130在水平直导轨140上与待测雷达110径向的距离近似相等。在测量开始时,两条水平直导轨140位于同一高度上,改变水平直导轨140的高度直到两个第一角反射器130能够被待测雷达110识别,此时根据导轨移动的距离、第一角反射器130距离待测雷达110的距离和三角函数的性质可以得到待测雷达110的俯仰角分辨率。
为了减小干涉,导轨之间可以有初始水平距离,进一步该初始水平距离d0可以是0<d0<0.15m。在该距离下,雷达一般无法分辨两个目标,即减小了干涉又减小了初始误差。
图5-图7是本申请实施例进行自动化测试的测量方法的示意图。
图5是本申请一实施例的方位角分辨率初测的示意图。图6是本申请一实施例的角反射器的高度的差值的示意图。图7是本申请一实施例的初始水平方位的示意图。如图5所示,水平直导轨140数量为两条,两个第一驱动部件410分别设置于两条水平直导轨140上,两条水平直导轨140与第三驱动部件连接(图中未示出),其中第三驱动部件用于驱动水平直导轨140在第二方向Y上平移。在测量距离时和距离分辨率时,可以采用上述实施例中的测试方法进行测试,在此不做过多赘述。在测量方位角分辨率时,上位机还可以获取两条水平直导轨140沿第二方向Y平移以使得两个第一角反射器130从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中,第一驱动部件410记录的第二位移量,并根据第二位移量确定方位角分辨率的初测结果。例如,根据第二位移量、待测雷达110到第一角反射器130的距离,通过三角函数关系计算方位角分辨率。
在水平直导轨140的方位上测试雷达的方位角范围的初测结果和方位角分辨率的初测结果可以用于调整第一水平弧导轨150上第二角反射器160的参数从更加高效快捷地自动化获取待测雷达110的测试结果。
如图6所示,作为一种可能的实现方式,两个第二驱动部件710还可以调节两个第二角反射器160的高度;上位机可以根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值。
根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值可以是指根据方位角分辨率的初测结果确定第一阈值,两个第二角反射器160的高度的差值小于第一阈值。
示例性的,方位角分辨率的初测结果为5°,第一水平弧导轨150距离待测雷达1.5m,则第二角反射器160的高度的差值可以估计为1.5m×sin5°≈1.5m×0.08=0.12m。则,可以将两个第二角反射器160的高度的差值设置在第一阈值0.12m以内。以上举例仅是示例性的,本申请实施例不以此为限。
在测试方位角分辨率时,如果第二角反射器的高度一致,此时,反射的雷达波之间会产生干涉,对测量结果产生影响,所以需要在高度上区分两个第二角反射器。但是当高度的差值过大时,上位机始终无法获取第二角反射器从一个物体被识别为两个的识别结果。根据方位角分辨率初测结果确定两个第二角反射器的高度的差值,能够在测试开始时使第二角反射器在高度上处于不能识别的范围内,能够在测试时减小雷达识别所需的时间。
上位机还可以获取两条水平直导轨140沿第二方向Y运动以使得两个第一角反射器130从接触状态互相远离到其中任一个不再被待测雷达110识别到的过程中,第一驱动部件410记录的第二位移量,并根据第二位移量确定方位角范围的初测结果;上位机还可以根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位。
其中,根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位的方式可以是,根据方位角范围的初测结果确定第二阈值,两个第二角反射器160在第一水平弧导轨150上的初始位置与待测雷达110的夹角小于第二阈值。
示例性的,如图7所示,图中左侧是水平直导轨140,右侧是第一水平弧导轨150,在水平直导轨140进行方位角范围的初测结果为120°,则两个第二角反射器160在第一水平弧导轨150上的初始位置与待测雷达110的夹角小于120°。或者假设第一水平弧导轨150距离待测雷达110的距离为1.5m,则第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位之间的距离应当小于1.5m×0.5=0.75m。
由于雷达测试时,可能需要根据雷达的识别结果判断雷达方位角范围,如果在开始测试时,雷达只识别出了一个物体,此时可能有两种情况,第一种,有一个角反射器在雷达的方位角范围外,第二种,两个角反射器靠的比较近从而被识别为一个物体。此时,上位机不知道应该控制角反射器向边缘移动还是向中心靠拢。根据方位角范围初测结果确定两个第二角反射器的初始水平方位,能够在测试开始时使上位机能够确定第二角反射器的方位,能够在测试时减小雷达识别所需的时间。
图8是本申请另一实施例中的自动化雷达测试装置示意图。
作为另一种可能的实现方式,如图8所示,水平导轨包括在水平方向上沿径向(即第一方向X)设置的直线导轨和与该导轨垂直(即沿第二方向Y)的一条或两条垂直直导轨810(图中以两条为例),垂直直导轨810与水平直导轨140垂直且处于同一水平面,水平直导轨140和垂直直导轨810通过第一驱动部件410连接。垂直直导轨810上设置有第四驱动部件,第一角反射器130固定于第四驱动部件上,其中,第四驱动部件可以驱动第一角反射器130沿垂直直导轨810移动。
上位机还可以获取两个第一角反射器130沿着水平直导轨140从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中,第四驱动部件记录的第三位移量,并根据第三位移量确定方位角分辨率的初测结果。
根据第三位移量确定方位角分辨率的方式可以是,例如第三位移量为0.15m,第一角反射器130距离待测雷达3m,则方位角分辨率可以是arcsin(0.15/3)≈3°。
两个第二驱动部件710还可以调节两个第二角反射器160的高度;上位机还可以根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值。
根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值的方式可以是,根据方位角分辨率的初测结果确定第三阈值,两个第二角反射器160的高度的差值小于第三阈值。
示例性的,方位角分辨率的初测结果为3°,第一水平弧导轨150距离待测雷达1.5m,则第二角反射器160的高度的差值可以估计为1.5m×sin3°≈1.5m×0.05=0.08m。则,可以将两个第二角反射器160的高度的差值设置在第一阈值0.08m以内。以上举例仅是示例性的,本申请实施例不以此为限。
第一水平弧导轨150还可以测试待测雷达110的方位角范围;上位机还可以获取两个第二角反射器160沿着水平直导轨140从接触状态互相远离直到其中任一个不再被待测雷达110识别到的过程中,第四驱动部件记录的第四位移量,并根据第四位移量确定方位角范围的初测结果。
根据第四位移量确定方位角范围的方式可以是,例如第四位移量为6.28m,第一角反射器130距离待测雷达3m,则方位角分辨率可以以待测雷达110为圆心半径3m做辅助圆,方位角分辨率为第四位移量除以辅助圆的周长乘以360°,即,6.28/(3×2π)×360°≈120°。
上位机还可以根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位。
根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位可以是,根据方位角范围的初测结果确定第四阈值,两个第二角反射器160在第一水平弧导轨150上的初始位置与待测雷达110的夹角小于第四阈值。
确定第一水平弧导轨150上的初始水平方位的方法可以参考上述实施例,在此不做过多赘述。
第四驱动部件还可以调节两个第一角反射器130的高度;上位机还可以获取两个第一角反射器130沿着第一驱动部件410从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中的第二高度变化,并根据第二高度变化确定待测雷达110的俯仰角分辨率。
图9是本申请再一实施例中的自动化雷达测试装置的示意图。
作为一种实施例,水平直导轨140上设置有第二水平弧导轨910,水平直导轨140与第二水平弧导轨910通过第一驱动部件410连接,其中,第二水平弧导轨910半径为R,弧度α的范围为60°<α<180°,开口朝向待测雷达110。第二水平弧导轨910上设置有第五驱动部件,第一角反射器130固定于第五驱动部件上,其中,第五驱动部件用于驱动第一角反射器130沿第二水平弧导轨910移动。
上位机还可以获取两个第一角反射器130沿第二水平弧导轨910从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中,第五驱动部件记录的第五位移量,并根据第五位移量确定方位角分辨率的初测结果。两个第二驱动部件710还可以调节两个第二角反射器160的高度。
上位机还可以根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值。
根据方位角分辨率的初测结果控制两个第二驱动部件710调节两个第二角反射器160的高度的差值可以是,根据方位角分辨率的初测结果确定第五阈值,两个第二角反射器160的高度的差值小于第五阈值。
第一水平弧导轨150还可以测试待测雷达110的方位角范围;上位机还可以获取两个第二角反射器160沿第一水平弧导轨150从接触状态互相远离直到其中任一个不再被待测雷达110识别到的过程中,第五驱动部件记录的第六位移量,并根据第六位移量反馈确定方位角范围的初测结果。
上位机还可以根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位。
根据方位角范围的初测结果确定两个第二角反射器160在方位角分辨率测试时在第一水平弧导轨150上的初始水平方位可以是,根据方位角范围的初测结果确定第六阈值,两个第二角反射器160在第一水平弧导轨150上的初始位置与待测雷达110的夹角小于第六阈值。
也可以对第二水平弧导轨150进行标注,从而直接读取第二水平弧导轨150上的角度读数。第二水平弧导轨150相对于使用直导轨的长度更短,占用空间更小,在对第二水平弧导轨150的角度进行标注的情况下,角度和标注具有对应关系,便于记录和较正。
第五驱动部件还可以调节第一角反射器130的高度;上位机还可以获取两个第一角反射器130沿第五驱动部件从接触状态互相远离直到被待测雷达110识别为两个物体的过程中的第三高度变化,并根据第三高度变化确定待测雷达110的俯仰角分辨率。
第二水平弧导轨910的测试结果也可以直接当做方位角分辨率和方位角范围的结果,此时,可以不设置第一水平弧导轨150即可完成雷达测试,相应的,也可以不设置雷达转台120。
图10是本申请实施例提供的电子装置的示意图。
如图10所示的电子装置,该电子装置可以包括处理器1010。
如图10所示,该电子装置还包括收发器1020,收发器1020用于信号的接收和/或发送。例如,处理器1010用于控制收发器1020进行信号的接收和/或发送,用以执行上述实施例中的控制雷达转台和驱动部件步骤和获取位移量的步骤。可选的,收发器1020可以包括接收器和发射器,接收器用于信号的接收,发射器用于信号的发送。
处理器1010可以与存储器1030耦合,存储器1030用于存储计算机程序或指令和/或数据,处理器1010用于执行存储器1030存储的计算机程序或指令,或读取存储器1030存储的数据,以执行上文各方法实施例中的方法。
可选地,处理器1010为一个或多个。
可选地,存储器1030为一个或多个。
可选地,该存储器1030与该处理器1010集成在一起,或者分离设置。
作为一种方案,该电子装置用于实现上文各个方法实施例中由上位机执行的操作。
例如,处理器1010用于执行存储器1030存储的计算机程序或指令,以实现上文各个方法实施例中上位机的相关操作。
应理解,本申请实施例中提及的处理器可以是中央处理单元(centralprocessing unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signalprocessor,DSP)、专用集成电路(application specific integrated circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
还应理解,本申请实施例中提及的存储器可以是易失性存储器和/或非易失性存储器。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory,ROM)、可编程只读存储器(programmable ROM,PROM)、可擦除可编程只读存储器(erasable PROM,EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(electrically EPROM,EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory,RAM)。例如,RAM可以用作外部高速缓存。作为示例而非限定,RAM包括如下多种形式:静态随机存取存储器(static RAM,SRAM)、动态随机存取存储器(dynamic RAM,DRAM)、同步动态随机存取存储器(synchronous DRAM,SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate SDRAM,DDR SDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced SDRAM,ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(synchlinkDRAM,SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus RAM,DR RAM)。
需要说明的是,当处理器为通用处理器、DSP、ASIC、FPGA或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件时,存储器(存储模块)可以集成在处理器中。
图10中的电子装置可以是芯片或者芯片系统,例如:片上系统(system on chip,SoC)。其中,收发器可以是输入输出电路、通信接口;处理器为该芯片上集成的处理器或者微处理器或者集成电路。在此不做限定。
还需要说明的是,本文描述的存储器旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
当该电子装置是该芯片系统时可以(或者也可以称为处理系统)包括逻辑电路以及输入/输出接口(input/output interface)。
其中,逻辑电路可以为芯片系统中的处理电路。逻辑电路可以耦合连接存储单元,调用存储单元中的指令,使得芯片系统可以实现本申请各实施例的方法和功能。输入/输出接口,可以为芯片系统中的输入输出电路,将芯片系统处理好的信息输出,或将待处理的数据或信令信息输入芯片系统进行处理。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有用于实现上述各方法实施例中由上位机执行的方法的计算机程序指令。
例如,该计算机程序指令被计算机执行时,使得该计算机可以实现上述方法各实施例中由上位机执行的方法。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,包含程序指令,该程序指令被计算机执行时以实现上述各方法实施例中由上位机执行的方法。
应理解,上述本申请的具体实施方式是示例性的,本领域技术人员可以单独实施,也可以将实施例之间的方法组合起来实施。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (19)
1.一种雷达测试的装置,其特征在于,所述装置包括:
封闭的壳体所围成的暗室,所述壳体的内壁上设置有吸波材料;
设置于所述暗室内的水平直导轨(140)、第一水平弧导轨(150)和雷达转台(120),其中,所述雷达转台(120)用于放置待测雷达(110),所述水平直导轨(140)与放置于所述雷达转台(120)上的所述待测雷达(110)处于同一水平面内,且沿着第一方向(X)设置,所述第一方向(X)与所述待测雷达(110)的径向平行;
所述水平直导轨(140)上设置有两个第一驱动部件(410),所述两个第一驱动部件(410)上分别设置有第一角反射器(130),所述两个第一驱动部件(410)用于驱动所述第一角反射器(130)沿所述水平直导轨(140)移动;
所述第一水平弧导轨(150)设置有两个第二驱动部件(710),所述两个第二驱动部件(710)上分别设置有第二角反射器(160),所述两个第二驱动部件(710)用于驱动所述第二角反射器(160)沿所述第一水平弧导轨(150)移动,其中,所述第一水平弧导轨(150)的开口朝向所述待测雷达(110);
所述装置还包括上位机,所述上位机用于控制所述雷达转台(120)对准所述水平直导轨(140)的方位或所述第一水平弧导轨(150)的方位,获取所述第一角反射器(130)的第一位移量和所述第二角反射器(160)的移动距离,并根据所述第一位移量确定所述待测雷达(110)的距离分辨率,根据所述移动距离确定所述待测雷达(110)的方位角分辨率;
其中,所述第一位移量为两个所述第一角反射器(130)沿着所述水平直导轨(140)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的位移量,所述移动距离为两个所述第二角反射器(160)沿着所述第一水平弧导轨(150)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的路程。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述水平直导轨(140)数量为两条,所述两个第一驱动部件(410)分别设置于两条水平直导轨(140)上,
所述两条水平直导轨(140)与第三驱动部件连接,其中所述第三驱动部件用于驱动所述水平直导轨(140)在第二方向(Y)上平移,其中,所述第二方向(Y)与所述第一方向(X)垂直且处于同一水平面;
所述上位机还用于获取所述两条水平直导轨(140)沿所述第二方向(Y)平移以使得两个所述第一角反射器(130)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第二位移量,并根据所述第二位移量确定所述方位角分辨率的初测结果;
所述两个第二驱动部件(710)还用于调节两个所述第二角反射器(160)的高度;
所述上位机还用于根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的高度的差值。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的高度的差值,包括:
根据所述方位角分辨率的初测结果确定第一阈值,两个所述第二角反射器(160)的所述高度的差值小于第一阈值。
4.根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于,所述上位机还用于获取所述两条水平直导轨(140)沿所述第二方向(Y)运动以使得两个所述第一角反射器(130)从接触状态互相远离到其中任一个不再被所述待测雷达(110)识别到的过程中的第三位移量,并根据所述第三位移量确定方位角范围的初测结果;
所述上位机还用于根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位,包括:
根据所述方位角范围的所述初测结果确定第二阈值,两个所述第二角反射器(160)在所述第一水平弧导轨(150)上的初始位置与所述待测雷达(110)的夹角小于所述第二阈值。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的装置,其特征在于,所述两个第一驱动部件(410)还用于调节两个所述第一角反射器(130)的高度;
所述上位机还用于获取两个所述第一角反射器(130)沿着所述两个第一驱动部件(410)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第一高度变化,并根据所述第一高度变化确定所述待测雷达(110)的俯仰角分辨率。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述水平直导轨(140)上设置有沿着第二方向Y设置的垂直直导轨(810),所述垂直直导轨(810)与所述水平直导轨(140)垂直且处于同一水平面,
所述水平直导轨(140)和所述垂直直导轨(810)通过所述两个第一驱动部件(410) 中的至少一个连接;
所述垂直直导轨(810)上设置有第四驱动部件,所述第一角反射器(130)固定于所述第四驱动部件上,其中,所述第四驱动部件用于驱动所述第一角反射器(130)沿所述垂直直导轨(810)移动;
所述上位机还用于获取两个所述第一角反射器(130)沿着所述水平直导轨(140)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第四位移量,并根据所述第四位移量确定所述方位角分辨率的初测结果;
所述两个第二驱动部件(710)还用于调节两个所述第二角反射器(160)的高度;
所述上位机还用于根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的高度的差值。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的高度的差值,包括:
根据所述方位角分辨率的初测结果确定第三阈值,两个所述第二角反射器(160)的所述高度的差值小于第三阈值。
9.根据权利要求7或8所述的装置,其特征在于,所述垂直直导轨(810)还用于测试所述待测雷达(110)的方位角范围;
所述上位机还用于获取两个所述第二角反射器(160)沿着所述水平直导轨(140)从接触状态互相远离直到其中任一个不再被所述待测雷达(110)识别到的过程中的第五位移量,并根据所述第五位移量确定所述方位角范围的初测结果;
所述上位机还用于根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位,包括:
根据所述方位角范围的所述初测结果确定第四阈值,两个所述第二角反射器(160)在所述第一水平弧导轨(150)上的初始位置与所述待测雷达(110)的夹角小于所述第四阈值。
11.根据权利要求7或8所述的装置,其特征在于,所述第四驱动部件还用于调节两个所述第一角反射器(130)的高度;
所述上位机还用于获取两个所述第一角反射器(130)沿着所述两个第一驱动部件(410)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第二高度变化,并根据所述第二高度变化确定所述待测雷达(110)的俯仰角分辨率。
12.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述水平直导轨(140)上设置有第二水平弧导轨(910),所述水平直导轨(140)与所述第二水平弧导轨(910)通过所述两个第一驱动部件(410)中的至少一个连接,其中,所述第二水平弧导轨(910)半径为R,弧度α的范围为60°<α<180°,开口朝向所述待测雷达(110);
所述第二水平弧导轨(910)上设置有第五驱动部件,所述第一角反射器(130)固定于所述第五驱动部件上,其中,所述第五驱动部件用于驱动所述第一角反射器(130)沿所述第二水平弧导轨(910)移动;
所述上位机还用于获取两个所述第一角反射器(130)沿所述第二水平弧导轨(910)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第六位移量,并根据所述第六位移量确定所述方位角分辨率的初测结果;
所述两个第二驱动部件(710)还用于调节两个所述第二角反射器(160)的高度;
所述上位机还用于根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的所述高度的差值。
13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角分辨率的初测结果控制所述两个第二驱动部件(710)调节两个所述第二角反射器(160)的所述高度的差值,包括:
根据所述方位角分辨率的初测结果确定第五阈值,两个所述第二角反射器(160)的所述高度的差值小于第五阈值。
14.根据权利要求12或13所述的装置,其特征在于,所述第二水平弧导轨(910)还用于测试所述待测雷达(110)的方位角范围;
所述上位机还用于获取两个所述第二角反射器(160)沿所述第一水平弧导轨(150)从接触状态互相远离直到其中任一个不再被所述待测雷达(110)识别到的过程中的第七位移量,并根据所述第七位移量确定所述方位角范围的初测结果;
所述上位机还用于根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位。
15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述根据所述方位角范围的初测结果确定两个所述第二角反射器(160)在所述方位角分辨率测试时在所述第一水平弧导轨(150)上的初始水平方位,包括:
根据所述方位角范围的所述初测结果确定第六阈值,两个所述第二角反射器(160)在所述第一水平弧导轨(150)上的初始位置与所述待测雷达(110)的夹角小于所述第六阈值。
16.根据权利要求12或13所述的装置,其特征在于,所述第五驱动部件还用于调节所述第一角反射器(130)的高度;
所述上位机还用于获取两个所述第一角反射器(130)沿所述第五驱动部件从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第三高度变化,并根据所述第三高度变化确定所述待测雷达(110)的俯仰角分辨率。
17.一种雷达测试的方法,其特征在于,所述方法应用于如权利要求1至16任一项所述的装置,所述方法包括:
所述上位机控制所述雷达转台(120)驱动所述待测雷达(110)旋转至朝向所述水平直导轨(140)的方位;
所述上位机获取两个所述第一角反射器(130)沿着所述水平直导轨从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的第一位移量,并根据所述第一位移量确定所述待测雷达(110)的距离分辨率;
所述上位机控制所述雷达转台(120)驱动所述待测雷达(110)旋转至朝向所述第一水平弧导轨(150)的方位;
所述上位机获取两个所述第二角反射器(160)沿着所述第一水平弧导轨(150)从接触状态互相远离直到被所述待测雷达(110)识别为两个物体的过程中的移动距离,并根据所述移动距离确定所述待测雷达(110)的方位角分辨率。
18.一种电子装置,其特征在于,所述电子装置包括:
处理器;
所述处理器用于根据如权利要求17所述的方法对待测雷达进行测试。
19.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时实现如权利要求17所述的方法。
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