CN115718281A - 探测设备的校准方法、系统、存储介质和电子装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种探测设备的校准方法、系统、存储介质和电子装置，该探测设备的校准方法包括：检测待校准的多个探测设备中每个探测设备对应的相对位置信息，其中，相对位置信息用于指示每个探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，校准目标物用于反射每个探测设备的信号，参考位置是正对校准目标物的原点的位置；根据相对位置信息确定每个探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，参考角度是在参考位置上的参考探测设备的法线正对校准目标物的角度；根据具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个探测设备进行校准，采用上述技术方案，解决了相关技术中，探测设备的校准效率较低等问题。

Description

探测设备的校准方法、系统、存储介质和电子装置

技术领域

本申请实施例涉及雷达领域，具体而言，涉及一种探测设备的校准方法、系统、存储介质和电子装置。

背景技术

目前，雷达(比如：毫米波雷达)等探测设备在无人机领域的应用前景方兴未艾，雷达不仅可以帮助无人机感知周边环境，发现并识别物体，还能够通过距离、角度、速度等参数的感知及时引导无人机进行障碍物的避让、防撞等等。天线是雷达发射和接受电磁波的窗口，雷达的大部分特性都需要通过雷达上部署的天线阵列实现，在雷达等探测设备工业生产的过程中，出厂前一般会进行天线校准的操作，理论上，雷达上部署的天线的相位曲线应为直线，但由于雷达内部板路在设计及生产工艺上的问题，难免导致天线阵列信号相位幅度产生偏差，并且受到天线加工等影响，天线相位曲线也可能产生严重的畸变，故需要进行天线收发通道的校准。

传统的校准方式，一般需要单独采集数据，易产生人为误差，并且单次只能够对单一的雷达设备进行校准，工作效率低，操作一致性差。

针对相关技术中，探测设备的校准效率较低等问题，尚未提出有效的解决方案。

申请内容

本申请实施例提供了一种探测设备的校准方法、系统、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中探测设备的校准效率较低的问题。

根据本申请的一个实施例，提供了一种探测设备的校准方法，包括：

检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

在一个示例性实施例中，所述根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，包括以下至少之一：

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的俯仰角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息，所述俯仰角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差；

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的方位角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述方位角度信息，所述方位角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。

在一个示例性实施例中，所述根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，包括：

同时获取多个所述探测设备的天线校准数据集合，得到多个天线校准数据集合；

根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，并将所述校准矩阵写入到对应的探测设备中，得到多个校准探测设备；

对多个所述校准探测设备进行角度一致性检查。

在一个示例性实施例中，所述根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，包括：

将俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到第一集合，和/或，将方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到第二集合，其中，所述对应的所述天线校准数据集合包括所述俯仰校准数据集合和/或所述方位校准数据集合，所述俯仰校准数据集合中包括在探测设备的俯仰向上获取到的校准数据，所述方位校准数据集合中包括在探测设备的方位向上获取到的校准数据，所述对应的所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息和/或所述方位角度信息，所述俯仰角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，所述方位角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差；

将所述第一集合和/或所述第二集合输入天线校准算法；

获取所述天线校准算法输出的所述对应的校准矩阵。

在一个示例性实施例中，所述检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，包括：

检测每个所述探测设备对应的相对距离信息和相对方向信息作为所述相对位置信息，其中，所述相对距离信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的距离，所述相对方向信息用于指示每个所述探测设备相对于所述参考位置的方向。

在一个示例性实施例中，在所述根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准之后，所述方法还包括：

根据每个所述探测设备的校准结果获取每个所述探测设备对应的测量波动范围；

将所述测量波动范围与目标波动范围进行比对；

在所述测量波动范围落入所述目标波动范围的情况下，确定所述测量波动范围对应的所述探测设备校准成功；

在所述测量波动范围未落入所述目标波动范围的情况下，对所述测量波动范围对应的所述探测设备进行再次校准。

根据本申请的另一个实施例，提供了一种探测设备的校准系统，包括：转台矩阵，校准目标物和控制器，其中，

所述转台矩阵上设置了多个转台，每个转台用于放置待校准的探测设备，所述校准目标物对应所述转台矩阵上的参考位置，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置，在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度为参考角度；

所述校准目标物用于反射放置在转台上的探测设备的信号；

所述控制器，用于检测所述转台矩阵上放置的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的相对关系；根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时通过控制放置了探测设备的转台对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

在一个示例性实施例中，所述系统还包括：存储空间，其中，

所述存储空间，用于存储具有对应关系的转台标识和转台角度信息，其中，所述转台角度信息用于指示每个所述转台标识对应的转台上放置探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；

所述控制器，还用于识别所述转台矩阵上放置了探测设备的目标转台的目标转台标识作为所述相对位置信息；从所述具有对应关系的转台标识和转台角度信息中获取所述目标转台标识所对应的转台角度信息作为所述目标转台上放置的探测设备对应的所述校准角度信息。

根据本申请的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

根据本申请的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

通过本申请，首先检测待校准的多个探测设备中每个探测设备对应的相对位置信息；其次根据相对位置信息确定每个探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息；最后根据具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个探测设备进行校准。也就是说，根据用于指示每个探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系的相对位置信息，确定探测设备与参考位置之间的位置关系，在校准时通过考虑位置关系的转换，实现同时对多个探测设备进行校准，不仅减少了在对多个探测设备进行校准时人为参与可能产生的误差，还实现了单次对多个探测设备进行同时校准。因此，可以解决探测设备的校准效率较低的问题，达到提高探测设备的校准效率效果。

附图说明

图1是本申请实施例的一种探测设备的校准方法的终端设备的硬件结构框图；

图2是根据本申请实施例的探测设备的校准方法的流程图；

图3是根据本申请可选的实施方式的一种天线校准过程的示意图；

图4是根据本申请可选的实施方式的一种获取探测设备的天线校准数据集合的过程的示意图；

图5是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备获取校准矩阵的过程的示意图；

图6是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备角度一致性检查的过程的示意图；

图7是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备的再次校准判定的过程的示意图；

图8是根据本申请可选的实施方式的一种多探测设备的天线校准过程的示意图；

图9是本申请实施例的一种探测设备的校准系统的示意图一；

图10是本申请实施例的一种探测设备的校准系统的示意图二；

图11是根据本申请实施例的探测设备的校准装置的结构框图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本申请的实施例。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

本申请实施例中所提供的方法实施例可以在于能够对具有探测功能的设备进行控制的服务器或移动终端上中执行。以运行在移动终端上为例，图1是本申请实施例的一种探测设备的校准方法的终端设备的硬件结构框图。如图1所示，计算机终端可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器104，在一个示例性实施例中，上述计算机终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述计算机终端的结构造成限定。例如，计算机终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示等同功能或比图1所示功能更多的不同的配置。

存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的消息推送的发送方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至计算机终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输设备106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括计算机终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备106包括一个网络适配器(Network Interface Controller，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备106可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

在本实施例中提供了一种探测设备的校准方法，图2是根据本申请实施例的探测设备的校准方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：

步骤S202，检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

步骤S204，根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

步骤S206，根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

通过上述步骤，首先检测待校准的多个探测设备中每个探测设备对应的相对位置信息；其次根据相对位置信息确定每个探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息；最后根据具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个探测设备进行校准。也就是说，根据用于指示每个探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系的相对位置信息，确定探测设备与参考位置之间的位置关系，在校准时通过考虑位置关系的转换，实现同时对多个探测设备进行校准，不仅减少了在对多个探测设备进行校准时人为参与可能产生的误差，还实现了单次对多个探测设备进行同时校准。因此，可以解决探测设备的校准效率较低的问题，达到提高探测设备的校准效率效果。

可选地，在本实施例中，上述探测设备的校准方法可以但不限于应用于具有对探测设备进行校准的功能的服务器或移动终端上，比如：PC端(Personal Computer，个人计算机)、平板等等。

在上述步骤S202提供的技术方案中，上述探测设备可以但不限于是利用电磁波探测目标的电子设备，其可以但不限于用于对目标进行探测，比如：雷达发射电磁波对目标进行照射并接收其回波，由此获得目标至电磁波发射点的距离、距离变化率(径向速度)、方位、高度等信息。探测设备可以但不限于包括：脉冲雷达、连续波雷达、圆锥扫描雷达、测高雷达、二坐标雷达、超视距雷达、微波雷达、毫米波雷达以及激光雷达等等。

可选地，在本实施例中，上述校准目标物用于通过反射每个探测设备的信号对探测设备进行校准，其可以但不限于是通过金属板材根椐不同用途做成的不同规格的反射器，比如：角反射器等等。

可选地，在本实施例中，上述相对位置信息用于指示探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系。相对位置信息可以但不限于包括探测设备与参考位置所对应的参考位置的水平方向的相对位置关系，和探测设备与参考位置所对应的参考位置的竖直(垂直于水平方向)方向的相对位置关系。相对位置信息可以但不限于通过三维坐标的形式进行存储及使用。

可选地，在本实施例中，上述参考位置是正对校准目标物的原点的位置。参考位置可以但不限于是在对探测设备进行校准之前预先确定好的，比如：将校准目标物的位置作为原点(0，0，0)建立三维坐标系，再确定正对校准目标物的原点的位置为参考位置，此时，校准目标物的坐标为(x，0，z)，x和z可以但不限于为实数。

可选地，在本实施例中，上述探测设备的信号可以但不限于是探测设备发送的，比如：探测设备发射信号，信号到达校准目标物时被反射，当探测设备接收到反射信号时，可以但不限于根据反射和接收到信号的时间差值计算出相对距离。探测设备的信号可以但不限于是能够被校准目标物反射的信号，比如：电磁波等等。

在一个示例性实施例中，可以但不限于采用以下方式检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息：检测每个所述探测设备对应的相对距离信息和相对方向信息作为所述相对位置信息，其中，所述相对距离信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的距离，所述相对方向信息用于指示每个所述探测设备相对于所述参考位置的方向。

可选地，在本实施例中，相对位置信息可以但不限于是探测设备相对于参考位置的位置关系，其可以但不限于是预先确定的值，比如：预先确定参考位置和探测设备的位置信息，可以但不限于通过测量等方式获取参考位置和探测设备之间的相对位置信息。或，预先确定参考位置的位置信息，可以但不限于在距离参考位置固定距离的位置放置探测设备，其固定值即为参考位置和探测设备之间的相对位置信息。

可选地，在本实施例中，相对距离信息用于指示每个探测设备与参考位置之间的距离，其可以但不限于包括探测设备与参考位置之间在水平面上的水平距离和在竖直面(垂直于水平面的平面)的竖直距离。相对距离信息可以但不限于用于根据相对方向信息计算探测设备与参考位置之间的距离。

可选地，在本实施例中，相对方向信息用于指示每个探测设备相对于参考位置的方向，其可以但不限于包括探测设备与参考位置与水平方向的夹角即水平夹角和与竖直方向的夹角即竖直夹角。相对方向信息可以但不限于是通过角度的方式进行储存和使用。

在上述步骤S204提供的技术方案中，上述相对位置信息用于确定每个探测设备的校准角度信息，获取到每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，即相对位置信息之后，即可以确定出探测设备校准过程中的标准角度(即参考角度)之间的偏差，从而在校准过程中通过对偏差的角度进行补偿来准确对任意位置上部署的探测设备进行校准。

可选地，在本实施例中，上述参考探测设备指放置在参考位置上的探测设备，其可以是一个实际放置的待校准的探测设备，也可以不实际放置，其参数作为理论值对其他位置放置的待校准的探测设备的校准过程进行指导。

可选地，在本实施例中，上述参考角度是在参考位置上的参考探测设备的法线正对校准目标物的角度，其可以但不限于是预先确定的。参考位置是单个探测设备进行校验的过程中探测设备放置的正对校准目标物的位置，参考角度是单个探测设备进行校验的过程中探测设备在参考位置上法线正对校准目标物放置的角度。在多个探测设备同时校准的过程中，如果参考位置上也按照参考角度放置了待校准的探测设备，那么在校准过程中，该探测设备需要补偿的角度即为0°，其他位置上的探测设备需要补偿的角度为法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，即上述校准角度信息。

在一个示例性实施例中，根据所述相对位置信息可以但不限于采用以下至少之一的方式确定每个所述探测设备的校准角度信息：根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的俯仰角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息，所述俯仰角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差；根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的方位角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述方位角度信息，所述方位角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。

可选地，在本实施例中，上述校准角度信息可以但不限于包括：俯仰角度信息和方位角度信息，其可以但不限于是通过探测设备与参考位置之间的相对位置信息确定的。多个探测设备可以但不限于有与其一一对应的校准角度信息。校准角度信息可以但不限于用于指示探测设备与参考位置的角度偏差，俯仰角度信息即为每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，方位角度信息是每个探测设备的法线正对校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。比如：校准角度信息可以但不限于用于指示探测设备与参考位置在水平方向的偏移量。

在上述步骤S206提供的技术方案中，多组具有对应关系的探测设备和校准角度信息实现同时对多个探测设备进行校准，也就是说，利用每个探测设备对应的校准角度信息在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与校准目标物之间的角度关系进行补偿可以同时并行处理多个探测设备的校准过程，从而提高校准效率。

在一个示例性实施例中，根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息可以但不限于采用以下方式同时对多个所述探测设备进行校准：同时获取多个所述探测设备的天线校准数据集合，得到多个天线校准数据集合；根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，并将所述校准矩阵写入到对应的探测设备中，得到多个校准探测设备；对多个所述校准探测设备进行角度一致性检查。

可选地，在本实施例中，分别对每个探测设备执行采集探测数据，生成并写入校准矩阵以及角度一致性检查的过程，并在生成校准矩阵的过程中通过校准角度信息对角度的补偿来准确地生成任意位置上放置的探测设备的校准矩阵。

在一个可选的实施方式中，提供了一种获取多个探测设备的天线校准数据集合的方法，图3是根据本申请可选的实施方式的一种天线校准过程的示意图，如图3所示，探测设备上部署了多个用于发射和接收信号的天线，分别为接收天线阵列(Rx1至Rxi)及发送天线阵列(Tx1至Txi)。假定探测设备上两个通道间的间隔为M，任意通道相比于参考通道的相位差为

此时目标相对于雷达发射天线水平角度为A，则对于任意通道接收相位值可表述为：

通过该计算过程可以校准收发天线之间的误差，从而对天线阵列的部署参数进行补偿。

在一个示例性实施例中，根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息可以但不限于采用以下方式生成对应的校准矩阵：将俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到第一集合，和/或，将方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到第二集合，其中，所述对应的所述天线校准数据集合包括所述俯仰校准数据集合和/或所述方位校准数据集合，所述俯仰校准数据集合中包括在探测设备的俯仰向上获取到的校准数据，所述方位校准数据集合中包括在探测设备的方位向上获取到的校准数据，所述对应的所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息和/或所述方位角度信息，所述俯仰角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，所述方位角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差；将所述第一集合和/或所述第二集合输入天线校准算法；获取所述天线校准算法输出的所述对应的校准矩阵。

可选地，在本实施例中，上述第一集合可以但不限于是根据俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到的，换句话说，第一集合可以但不限于包括俯仰角度信息和俯仰向的校准数据。

可选地，在本实施例中，上述第二集合可以但不限于是根据方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到的换句话说，第二集合可以但不限于包括方位角度信息和方位向的校准数据。

在一个可选的实施方式中，提供了一种天线校准数据集合的获取过程，以获取多个探测设备中的单个探测设备的天线校准数据集合为例，多个探测设备的天线校准数据集合获取的方式与此相似，在此不过多赘述。图4是根据本申请可选的实施方式的一种获取探测设备的天线校准数据集合的过程的示意图，如图4所示，以探测设备为雷达，校准目标物为角反射器为例，雷达放置在能够进行水平和俯仰旋转的转台上，可以但不限于控制旋转台旋转至水平方向旋转的最大值或最小值，读取雷达的校准参数数据写入AZ.txt文件，控制雷达反向旋转预先设定的旋转步长，获取此时的校准参数数据写入AZ.txt文件，直到反向转台转至水平方向旋转的最小值或最大值，获取此时的校准参数数据写入AZ.txt文件(即方位校准数据集合)，完成雷达水平方向校准数据的获取。

在完成上一方向校准数据的获取后，将转台的角度归零，可以但不限于控制旋转台旋转至俯仰方向旋转的最大值或最小值，读取雷达的校准参数数据写入EL.txt文件，控制雷达反向旋转预先设定的旋转步长，获取此时的校准参数数据写入EL.txt文件，直到反向转台转至俯仰方向旋转的最小值或最大值，获取此时的校准参数数据写入EL.txt文件(俯仰校准数据集合)，完成雷达俯仰方向校准矩阵的获取。

可选地，在本实施例中，上述天线校准算法用于计算天线的校准矩阵，计算出的校准矩阵可以但不限于是写入探测设备中。探测设备可以但不限于使用校准矩阵实现目标的准确探测。

在一个可选的实施方式中，提供了一种探测设备获取校准矩阵的方法，以对多个探测设备中的单个探测设备获取校准矩阵为例，多个探测设备获取校准矩阵的方式与此相似，在此不过多赘述。图5是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备获取校准矩阵的过程的示意图，如图5所示，将方位向文件AZ.txt及俯仰向文件EL.txt输入至天线校准算法脚本，输出天线方向图，通过天线方向图生成雷达能够识别的calib.log天线校准矩阵文件，将天线校准矩阵文件写入雷达设备实现雷达对校准矩阵的获取。

在一个可选的实施方式中，提供了一种探测设备角度一致性检查的方法，以对多个探测设备中的单个探测设备获取校准矩阵为例，多个探测设备角度一致性检查的方式与此相似，在此不过多赘述。图6是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备角度一致性检查的过程的示意图，如图6所示，水平方向获取探测数据的过程：转台水平转至水平旋转角最大值，读取雷达当前角度下数据，写入AZ_test_data.txt文件。移动设定的步长，转台旋转到当前角度(当前角度＝上一个角度-步进角度)，等待ts(停留时间)，读取雷达当前角度下数据，写入AZ_test_data.txt文件，判断是否旋转至角度最小值，如果否，则继续移动设定的步长。如果是，则转台角度归零。

然后进行俯仰方向获取探测数据的过程：转台俯仰转至俯仰旋转角最大值，读取雷达当前角度下数据，写入EL_test_data.txt文件。移动设定的步长，转台旋转到当前角度(当前角度＝上一个角度-步进角度)，等待ts(停留时间)，读取雷达当前角度下数据，写入EL_test_data.txt文件，判断是否旋转至角度最小值，如果否，则继续移动设定的步长。如果是，则根据得到的AZ_test_data.txt文件和EL_test_data.txt文件生成一致性检测结果.excel文件。

将一致性检测结果.excel文件输入Test代码进行转台角度真值与雷达测量角度误差的计算，从而输出角度测量误差曲线来评估雷达角度测量性能。

在一个示例性实施例中，在根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准之后，可以但不限于采用以下方式确定探测设备是否需要再次校准：根据每个所述探测设备的校准结果获取每个所述探测设备对应的测量波动范围；将所述测量波动范围与目标波动范围进行比对；在所述测量波动范围落入所述目标波动范围的情况下，确定所述测量波动范围对应的所述探测设备校准成功；在所述测量波动范围未落入所述目标波动范围的情况下，对所述测量波动范围对应的所述探测设备进行再次校准。

可选地，在本实施例中，探测设备的校准结果可以但不限于用于指示探测设备的探测性能，可以但不限于通过使用探测设备对校准目标物进行再次探测，根据探测结果确定探测设备的校准结果。

可选地，在本实施例中，上述测量波动范围可以但不限于用于指示校准后的探测设备在多次探测工作中探测性能的波动情况，其可以但不限于是根据探测设备的校准结果得到的，比如：探测设备完成校准后，进行探测性能的测试，并记录其探测结果(即校准结果)与实际探测值之间的误差，可以但不限于将多次误差绘制为波动曲线，实现对校准后的探测设备在多次工作中探测误差的波动范围的记录。

可选地，在本实施例中，上述目标波动范围可以但不限于用于指示探测设备在完成探测工作后的校准结果与实际探测结果之间的偏差的合理区间，其可以但不限于是通过预先设定波动阈值的的方式实现的，比如：预先确定第一阈值用于指示目标波动范围的上限值，确定第二阈值用于指示目标波动范围的下限值，当校准结果与实际探测结果之间的偏差(测量波动范围)大于或等于第二阈值并且小于或等于第一阈值即可认为落入目标波动范围。

在一个可选的实施方式中，提供了一种探测设备的再次校准判定的方法，以对多个探测设备中的单个探测设备进行再次校准判定为例，多个探测设备再次校准判定的方式与此相似，在此不过多赘述。图7是根据本申请可选的实施方式的一种探测设备的再次校准判定的过程的示意图，如图7所示，以探测设备为雷达，校准目标物为角反射器为例，该过程如下：可以但不限于使用代码程序计算出转台角度真值与雷达测量角度的差值，并确定出测量波动范围，提取出测量波动范围的最大值MAX与目标值进行比对(目标波动范围为小于该目标值)，根据比对的结果，确定雷达下一步的操作，即进行二次校准或校准完成。

在一个可选的实施方式中，提供了一种多探测设备的天线校准的过程，图8是根据本申请可选的实施方式的一种多探测设备的天线校准过程的示意图，如图8所示，以探测设备为雷达，校准目标物为角反射器为例，雷达放置在能够进行水平和俯仰旋转的转台上，该过程如下：通过APP(Application，应用程序)检测雷达的连接，在通过APP识别到对应的雷达设备时，为其建立通讯。读取雷达的序列号，并与控制端(APP)的端口进行绑定。通过APP设置转台的旋转角度，再通过TCP通信(Transmission Control Protocol，传输控制协议)连接转台，通过串口或CAN通信(controller area network，串行通信协议)连接雷达。生成初始的用于雷达校准的校准参数文件，并获取雷达以及雷达上部署的天线的基本信息以及控制转台角度初始化(为零)。多路同步对雷达进行天线校准，生成校准矩阵写入雷达，并进行角度一致性检查。根据一致性检查的结果，对雷达进行对应操作。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。

在本实施例中还提供了一种探测设备的校准系统，图9是本申请实施例的一种探测设备的校准系统的示意图一。如图9所示，该系统包括：转台矩阵902，校准目标物904和控制器906，其中，

所述转台矩阵902上设置了多个转台(11至nn)，每个转台用于放置待校准的探测设备，所述校准目标物对应所述转台矩阵上的参考位置(mm)，所述参考位置是正对所述校准目标物904的原点的位置，在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物904的角度为参考角度；

所述校准目标物904用于反射放置在转台上的探测设备的信号；

所述控制器906，用于检测所述转台矩阵902上放置的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的相对关系；根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时通过控制放置了探测设备的转台对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

通过上述系统，首先检测待校准的多个探测设备中每个探测设备对应的相对位置信息；其次根据相对位置信息确定每个探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息；最后根据具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个探测设备进行校准。也就是说，根据用于指示每个探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系的相对位置信息，确定探测设备与参考位置之间的位置关系，在校准时通过考虑位置关系的转换，实现同时对多个探测设备进行校准，不仅减少了在对多个探测设备进行校准时人为参与可能产生的误差，还实现了单次对多个探测设备进行同时校准。因此，可以解决探测设备的校准效率较低的问题，达到提高探测设备的校准效率效果。

在一个示例性实施例中，图10是本申请实施例的一种探测设备的校准系统的示意图二。如图10所示，上述系统还可以但不限于包括：存储空间1002，其中，

所述存储空间1002，用于存储具有对应关系的转台标识和转台角度信息，其中，所述转台角度信息用于指示每个所述转台标识对应的转台上放置探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；

所述控制器906，还用于识别所述转台矩阵上放置了探测设备的目标转台的目标转台标识作为所述相对位置信息；从所述具有对应关系的转台标识和转台角度信息中获取所述目标转台标识所对应的转台角度信息作为所述目标转台上放置的探测设备对应的所述校准角度信息。

在一个示例性实施例中，所述控制器，还用于以下至少之一：根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的俯仰角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息，所述俯仰角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差；根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的方位角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述方位角度信息，所述方位角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。

在一个示例性实施例中，所述控制器，还用于：同时获取多个所述探测设备的天线校准数据集合，得到多个天线校准数据集合；根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，并将所述校准矩阵写入到对应的探测设备中，得到多个校准探测设备；对多个所述校准探测设备进行角度一致性检查。

在一个示例性实施例中，所述控制器，还用于：将俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到第一集合，和/或，将方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到第二集合，其中，所述对应的所述天线校准数据集合包括所述俯仰校准数据集合和/或所述方位校准数据集合，所述俯仰校准数据集合中包括在探测设备的俯仰向上获取到的校准数据，所述方位校准数据集合中包括在探测设备的方位向上获取到的校准数据，所述对应的所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息和/或所述方位角度信息，所述俯仰角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，所述方位角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差；将所述第一集合和/或所述第二集合输入天线校准算法；获取所述天线校准算法输出的所述对应的校准矩阵。

在一个示例性实施例中，所述控制器，还用于：检测每个所述探测设备对应的相对距离信息和相对方向信息作为所述相对位置信息，其中，所述相对距离信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的距离，所述相对方向信息用于指示每个所述探测设备相对于所述参考位置的方向。

在一个示例性实施例中，所述控制器，还用于：根据每个所述探测设备的校准结果获取每个所述探测设备对应的测量波动范围；将所述测量波动范围与目标波动范围进行比对；在所述测量波动范围落入所述目标波动范围的情况下，确定所述测量波动范围对应的所述探测设备校准成功；在所述测量波动范围未落入所述目标波动范围的情况下，对所述测量波动范围对应的所述探测设备进行再次校准。

在本实施例中还提供了一种探测设备的校准装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图11是根据本申请实施例的探测设备的校准装置的结构框图，如图11所示，该装置包括：

检测模块1102，用于检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

第一确定模块1104，用于根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

第一校准模块1106，用于根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

通过上述装置，首先检测待校准的多个探测设备中每个探测设备对应的相对位置信息；其次根据相对位置信息确定每个探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息；最后根据具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个探测设备进行校准。也就是说，根据用于指示每个探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系的相对位置信息，确定探测设备与参考位置之间的位置关系，在校准时通过考虑位置关系的转换，实现同时对多个探测设备进行校准，不仅减少了在对多个探测设备进行校准时人为参与可能产生的误差，还实现了单次对多个探测设备进行同时校准。因此，可以解决探测设备的校准效率较低的问题，达到提高探测设备的校准效率效果。

在一个示例性实施例中，所述确定模块，包括：

第一确定单元，用于根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的俯仰角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息，所述俯仰角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差；

第二确定单元，用于根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的方位角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述方位角度信息，所述方位角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。

在一个示例性实施例中，所述第一校准模块，包括：

获取单元，用于同时获取多个所述探测设备的天线校准数据集合，得到多个天线校准数据集合；

生成单元，用于根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，并将所述校准矩阵写入到对应的探测设备中，得到多个校准探测设备；

检查单元，用于对多个所述校准探测设备进行角度一致性检查。

在一个示例性实施例中，所述生成单元，用于：将俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到第一集合，和/或，将方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到第二集合，其中，所述对应的所述天线校准数据集合包括所述俯仰校准数据集合和/或所述方位校准数据集合，所述俯仰校准数据集合中包括在探测设备的俯仰向上获取到的校准数据，所述方位校准数据集合中包括在探测设备的方位向上获取到的校准数据，所述对应的所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息和/或所述方位角度信息，所述俯仰角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，所述方位角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差；将所述第一集合和/或所述第二集合输入天线校准算法；获取所述天线校准算法输出的所述对应的校准矩阵。

在一个示例性实施例中，所述检测模块，还包括：

检测单元，用于检测每个所述探测设备对应的相对距离信息和相对方向信息作为所述相对位置信息，其中，所述相对距离信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的距离，所述相对方向信息用于指示每个所述探测设备相对于所述参考位置的方向。

在一个示例性实施例中，所述装置还包括：

获取模块，用于在所述根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准之后，根据每个所述探测设备的校准结果获取每个所述探测设备对应的测量波动范围；

比对模块，用于将所述测量波动范围与目标波动范围进行比对；

第二确定模块，用于在所述测量波动范围落入所述目标波动范围的情况下，确定所述测量波动范围对应的所述探测设备校准成功；

第二校准模块，用于在所述测量波动范围未落入所述目标波动范围的情况下，对所述测量波动范围对应的所述探测设备进行再次校准。

需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

本申请的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

在本实施例中，上述计算机可读存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

S1，检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

S2，根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

S3，根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

计算机可读存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

S1，检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

S2，根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

S3，根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

在一个示例性实施例中，上述计算机可读存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。

本申请的实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

在一个示例性实施例中，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

在一个示例性实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：

S1，检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

S2，根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

S3，根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及示例性实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本申请的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本申请不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种探测设备的校准方法，其特征在于，包括：

检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与校准目标物所对应的参考位置之间的相对关系，所述校准目标物用于反射每个所述探测设备的信号，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置；

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度的偏差，所述参考角度是在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度；

根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，包括以下至少之一：

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的俯仰角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息，所述俯仰角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差；

根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的方位角度信息，其中，所述校准角度信息包括所述方位角度信息，所述方位角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准，包括：

同时获取多个所述探测设备的天线校准数据集合，得到多个天线校准数据集合；

根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，并将所述校准矩阵写入到对应的探测设备中，得到多个校准探测设备；

对多个所述校准探测设备进行角度一致性检查。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据对应的所述天线校准数据集合以及对应的所述校准角度信息生成对应的校准矩阵，包括：

将俯仰角度信息添加到俯仰校准数据集合中得到第一集合，和/或，将方位角度信息添加到方位校准数据集合中得到第二集合，其中，所述对应的所述天线校准数据集合包括所述俯仰校准数据集合和/或所述方位校准数据集合，所述俯仰校准数据集合中包括在探测设备的俯仰向上获取到的校准数据，所述方位校准数据集合中包括在探测设备的方位向上获取到的校准数据，所述对应的所述校准角度信息包括所述俯仰角度信息和/或所述方位角度信息，所述俯仰角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在俯仰向上的偏差，所述方位角度信息用于指示探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于参考角度在方位向上的偏差；

将所述第一集合和/或所述第二集合输入天线校准算法；

获取所述天线校准算法输出的所述对应的校准矩阵。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测待校准的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，包括：

检测每个所述探测设备对应的相对距离信息和相对方向信息作为所述相对位置信息，其中，所述相对距离信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的距离，所述相对方向信息用于指示每个所述探测设备相对于所述参考位置的方向。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时对多个所述探测设备进行校准之后，所述方法还包括：

根据每个所述探测设备的校准结果获取每个所述探测设备对应的测量波动范围；

将所述测量波动范围与目标波动范围进行比对；

在所述测量波动范围落入所述目标波动范围的情况下，确定所述测量波动范围对应的所述探测设备校准成功；

在所述测量波动范围未落入所述目标波动范围的情况下，对所述测量波动范围对应的所述探测设备进行再次校准。

7.一种探测设备的校准系统，其特征在于，包括：转台矩阵，校准目标物和控制器，其中，

所述转台矩阵上设置了多个转台，每个转台用于放置待校准的探测设备，所述校准目标物对应所述转台矩阵上的参考位置，所述参考位置是正对所述校准目标物的原点的位置，在所述参考位置上的参考探测设备的法线正对所述校准目标物的角度为参考角度；

所述校准目标物用于反射放置在转台上的探测设备的信号；

所述控制器，用于检测所述转台矩阵上放置的多个探测设备中每个所述探测设备对应的相对位置信息，其中，所述相对位置信息用于指示每个所述探测设备与所述参考位置之间的相对关系；根据所述相对位置信息确定每个所述探测设备的校准角度信息，得到具有对应关系的探测设备和校准角度信息，其中，所述校准角度信息用于指示每个所述探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；根据所述具有对应关系的探测设备和校准角度信息同时通过控制放置了探测设备的转台对多个所述探测设备进行校准，其中，所述校准角度信息用于在对应的探测设备校准的过程中对探测设备与所述校准目标物之间的角度关系进行补偿。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：存储空间，其中，

所述存储空间，用于存储具有对应关系的转台标识和转台角度信息，其中，所述转台角度信息用于指示每个所述转台标识对应的转台上放置探测设备的法线正对所述校准目标物的角度相对于所述参考角度的偏差；

所述控制器，还用于识别所述转台矩阵上放置了探测设备的目标转台的目标转台标识作为所述相对位置信息；从所述具有对应关系的转台标识和转台角度信息中获取所述目标转台标识所对应的转台角度信息作为所述目标转台上放置的探测设备对应的所述校准角度信息。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现所述权利要求1至6任一项中所述的方法的步骤。

10.一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述权利要求1至6任一项中所述的方法的步骤。

Images