CN117885359A - 光学层叠体的制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供能够有效地制造精密地控制了起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度的光学层叠体的方法。本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法包括：准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含第1相位差层的第2层叠膜的工序；在该第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与实际的慢轴所成的轴交叉角度，判定第2层叠膜为合格品或不合格品的工序；将被判定为合格品的第2层叠膜与第1层叠膜贴合，得到层叠膜中间体的工序；检查层叠膜中间体中有无异物，判定层叠膜中间体为合格品或不合格品的工序；以及将被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁成给定尺寸，得到多个光学层叠体片的工序。

Description

光学层叠体的制造方法

技术领域

本发明涉及光学层叠体的制造方法。

背景技术

以液晶显示装置及电致发光(EL)显示装置(例如，有机EL显示装置、无机EL显示装置)为代表的图像显示装置正在迅速普及。在图像显示装置中，为了实现图像显示、和/或提高该图像显示的性能，已广泛使用了包含偏振片和相位差膜(相位差层)的光学层叠体。另一方面，近年来开发了图像显示装置的新用途。作为这样的用途的一例，可举出虚拟现实(VR)护目镜。在VR护目镜中适用光学层叠体的情况下，其尺寸与以往的用途相比显著变小。其结果是，与以往的用途相比，也可能会要求对起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度进行精密地控制。

另外，对于这样的光学层叠体而言，为了抑制图像显示缺陷等，必须将该光学层叠体内部的异物排除，代表性地可供于异物检查。例如，对作为最终产品的光学层叠体实施异物检查，基于给定的基准来筛分成合格品和不合格品。然而，如果对最终产品实施异物检查，则要实现光学层叠体的制造效率提高存在限度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-182162号公报

发明内容

发明所要解决的问题

本发明是为了解决上述问题而完成的，其主要目的在于提供有效地制造精密地控制了起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度的光学层叠体的方法。

解决问题的方法

[1]本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法包括：

准备工序，准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含作为λ/4波片发挥功能的第1相位差层的第2层叠膜；

轴对准检查工序，在上述第2层叠膜的多个部位检查上述第1相位差层的理想状态的慢轴与上述第1相位差层的实际的慢轴所成的轴交叉角度，在多个检查部位中上述轴交叉角度在给定范围内的检查部位的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品；

贴合工序，使上述第1层叠膜与在上述轴对准检查工序中被判定为合格品的第2层叠膜贴合，得到层叠膜中间体；

异物检查工序，检查上述层叠膜中间体中有无异物，判定上述层叠膜中间体为合格品或不合格品；以及

冲裁工序，将在上述异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁成给定尺寸，得到多个光学层叠体片。

[2]根据上述[1]所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在上述贴合工序中，可以以使上述偏振片的起偏镜的吸收轴与上述第1相位差层的实际的慢轴所成的角度在给定范围内的方式使上述第1层叠膜与上述第2层叠膜贴合。

[3]根据上述[1]或[2]所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在上述异物检查工序中，可以将上述层叠膜中间体划分成多个假想区域，检查上述多个假想区域中有无异物，在上述多个假想区域中包含异物的假想区域的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品。

[4]根据上述[1]～[3]中任一项所述的光学层叠体的制造方法，其中，

上述第2层叠膜可以包含：

层叠于上述第1相位差层的第2相位差层，其显示出nz＞nx＝ny的折射率特性；和

位于该第2相位差层的与上述第1相位差层相反侧的第1表面保护膜。上述第1表面保护膜可以位于上述层叠膜中间体的最表面。

[5]根据上述[4]所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在上述异物检查工序后且上述冲裁工序前，包括在上述层叠膜中间体的第1表面保护膜贴合第2表面保护膜的表面保护工序。

[6]根据上述[5]所述的光学层叠体的制造方法，其中，

上述轴对准检查工序、上述贴合工序、上述异物检查工序及上述表面保护工序可以在清洁棚内实施。

[7]根据上述[1]～[6]中任一项所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在上述轴对准检查工序前，包括分别对上述第1层叠膜及上述第2层叠膜进行清洗的清洗工序。

发明的效果

根据本发明的实施方式，能够实现可有效地制造精密地控制了起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度的光学层叠体的方法。

附图说明

图1是对本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法进行说明的工序流程图。

图2的(a)是在图1所示的准备工序中准备的第2层叠膜的剖面示意图。图2的(b)是在图1所示的准备工序中准备的第1层叠膜的剖面示意图。

图3的(a)是图1所示的贴合工序中的第2层叠膜的剖面示意图。图3的(b)是图1所示的贴合工序中的第1层叠膜的剖面示意图。

图4是通过图1所示的贴合工序得到的层叠膜中间体的剖面示意图。

图5的(a)是图1所示的贴合工序中的第1层叠膜及第2层叠膜的俯视示意图。图5的(b)是将图5的(a)所示的第1层叠膜及第2层叠膜贴合而成的层叠膜中间体的俯视示意图。

图6是图1所示的异物检查工序中的层叠膜中间体的俯视示意图。

图7是通过图1所示的冲裁工序得到的光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)的剖面示意图。

符号说明

1第1层叠膜

2第2层叠膜

3层叠膜中间体

5光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)

11偏振片

21第1相位差层

22第2相位差层

23第1表面保护膜

31第2表面保护膜

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明，但本发明不限定于这些实施方式。另外，附图全部是示意性地示出的，并不是准确地描绘了实际状态的附图。

A.光学层叠体的制造方法的概要

图1是对本发明的一个实施方式的光学层叠体的制造方法进行说明的工序流程图。本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法包括：准备工序，准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含作为λ/4波片发挥功能的第1相位差层的第2层叠膜；轴对准检查工序，在第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与第1相位差层的实际的慢轴所成的轴交叉角度，在多个检查部位中轴交叉角度在给定范围内的检查部位的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品；贴合工序，使第1层叠膜与在轴对准检查工序中被判定为合格品的第2层叠膜贴合，得到层叠膜中间体；异物检查工序，检查层叠膜中间体中有无异物，判定层叠膜中间体为合格品或不合格品；以及冲裁工序，将在异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体裁切成给定尺寸，得到多个光学层叠体片。

本发明人等新发现了：在制作非常小型(例如，VR护目镜用：20mm×30mm左右的尺寸)的光学层叠体的情况下，对于各个作为最终产品的光学层叠体而言，起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度会存在偏差，并由此而导致光学层叠体的特性的偏差不可允许地变大。进一步，本发明人等为了解决该问题而进行了不断尝试，结果发现：相比于起偏镜的吸收轴的轴偏移，相位差膜的慢轴的轴偏移对于该问题而言是更为支配性的，通过采用选择性地使用慢轴的轴偏移比较小的相位差膜的制造工艺，能够解决该问题，从而完成了本发明。即，本发明的实施方式可解决迄今为止尚未认识到的新问题，其效果是预料不到的优异效果。

根据上述的方法，在第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与实际的慢轴所成的轴交叉角度，判定第2层叠膜为合格品或不合格品后，将被判定为合格品的第2层叠膜贴合于第1层叠膜而得到层叠膜中间体。因此，与不对第2层叠膜判定合格品或不合格品而将全部的第2层叠膜贴合于第1层叠膜的情况相比，能够抑制在各个层叠膜中间体中产生的起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度上的偏差。其结果是，能够对由层叠膜中间体冲裁出的多个光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)，精密地控制起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度，从而能够减少光学层叠体片成为无法允许的不合格品的比例。由此，能够抑制光学层叠体的材料(特别是第1层叠膜)的浪费。

另外，在上述的方法中，在冲裁工序之前实施异物检查工序，在层叠膜中间体被判定为合格品或不合格品之后，由被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁出多个光学层叠体片。因此，能够充分地减少制造混入有异物的光学层叠体片的比例。另外，与对多个光学层叠体片分别实施异物检查工序的情况相比，能够抑制异物检查工序的实施频度，能够实现光学层叠体片的制造效率的提高。

图5的(a)及图5的(b)是用于对一个实施方式的贴合工序进行说明的示意图。在一个实施方式中，在上述贴合工序中，以使起偏镜的吸收轴A与第1相位差层的实际的慢轴S所成的角度在给定范围内的方式使第1层叠膜1与第2层叠膜2贴合。因此，在贴合工序中，可修正为使得起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度在给定范围内。其结果是，能够在层叠膜中间体中极为精密地控制吸收轴与慢轴所成的角度。

图6是用于对一个实施方式的异物检查工序进行说明的示意图。在一个实施方式中，在上述异物检查工序中，将层叠膜中间体3划分成多个假想区域E，检查多个假想区域E中有无异物，在多个假想区域E中包含异物的假想区域的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品。然后，由异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁出多个光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)。因此，能够在实现光学层叠体片的制造效率的提高的同时，进一步降低制造混入有异物的光学层叠体片的比例。

在一个实施方式中，光学层叠体的制造方法在异物检查工序后且冲裁工序前进一步包括表面保护工序。详细情况在后面阐述，如图4所示，第1表面保护膜23位于待供于异物检查工序的层叠膜中间体3的最表面，在表面保护工序中，在层叠膜中间体3的第1表面保护膜23贴合第2表面保护膜31。因此，通过在表面保护工序后实施的冲裁工序得到的光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)包含第2表面保护膜。其结果是，在光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)的流通时、运送时等，第2表面保护膜能够保护第1表面保护膜，能够抑制第1表面保护膜产生损伤。

如果第1表面保护膜产生损伤，则在对光学层叠体片实施异物检查工序时，存在第1表面保护膜的伤痕被错误地检测成异物的隐患。另一方面，在上述的构成中，第1表面保护膜是被保护的，因此，通过在将第2表面保护膜剥离后将光学层叠体片供于异物检查工序，能够抑制异物的误检测，从而能够使光学层叠体片的异物检查结果与层叠膜中间体的异物检查结果相匹配。

在一个实施方式中，轴对准检查工序、贴合工序、异物检查工序及表面保护工序在清洁棚内实施。准备工序及冲裁工序可以在清洁棚内实施，也可以在清洁棚外实施。根据这样的方法，能够抑制异物混入层叠膜中间体。

在清洁棚中，将通过空气过滤器将空气中的浮游粒子除去后的空气供给至棚(室)内。清洁棚的室内压力比清洁棚的外部的压力高(正压)。因此，能够抑制浮游粒子从外部侵入清洁棚内。作为这样的清洁棚，例如可举出：日本特开2015-047749号公报中记载的清洁室。

在一个实施方式中，光学层叠体的制造方法在轴对准检查工序之前包括分别对第1层叠膜及第2层叠膜进行清洗的清洗工序。因此，能够将附着于第1层叠膜及第2层叠膜的异物，能够更稳定地抑制异物混入层叠膜中间体。特别是在清洁棚内实施轴对准检查工序的情况下，通过在清洁棚外实施清洗工序，能够抑制附着于第1层叠膜和/或第2层叠膜的异物侵入清洁棚内。

以下，对各工序具体地进行说明。

B.准备工序

图2的(a)及图2的(b)是在准备工序中准备的第1层叠膜及第2层叠膜的剖面示意图。在准备工序中，通过任意适当的方法准备第1层叠膜1和第2层叠膜2。

B-1.第1层叠膜

第1层叠膜1包含偏振片11。在一个实施方式中，第1层叠膜1除了具备偏振片11以外，还具备：位于偏振片11的厚度方向的一侧的粘合剂层14；位于偏振片11的与粘合剂层14相反侧的粘合剂层15；粘贴于粘合剂层14的与偏振片11相反侧的表面的第1隔膜12；以及粘贴于粘合剂层15的与偏振片11相反侧的表面的第2隔膜13。

第1层叠膜1例如可以是短边75mm～310mm左右的矩形，另外例如可以是长边250mm～350mm及短边150mm～250mm左右的矩形。

偏振片11代表性地具有起偏镜和设置于起偏镜的至少一侧的保护膜。

起偏镜可以在第1层叠膜的长边方向上具有吸收轴，也可以在相对于第1层叠膜的长边方向倾斜的方向(代表性地为45°方向)上具有吸收轴。在图5(a)所示的第1层叠膜1中，起偏镜在第1层叠膜的长边方向上具有吸收轴。

作为起偏镜，可以采用任意适当的起偏镜。形成起偏镜的树脂膜可以为单层的树脂膜，也可以使用两层以上的层叠体来制作。作为由单层的树脂膜构成的起偏镜的具体例，可举出对聚乙烯醇(PVA)类树脂膜、部分缩甲醛化PVA类树脂膜、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物类部分皂化膜等亲水性高分子膜实施了利用碘、二色性染料等二色性物质进行的染色处理及拉伸处理而成的起偏镜；PVA的脱水处理物、聚氯乙烯的脱盐酸处理物等多烯类取向膜等。由于光学特性优异，因此可优选使用利用碘对PVA类树脂膜进行染色并对其进行单向拉伸而得到的起偏镜。上述利用碘的染色可通过例如将PVA类树脂膜浸渍于碘水溶液中而进行。上述单向拉伸的拉伸倍率优选为3～7倍。拉伸可以在染色处理后进行，也可以边染色边进行。另外，也可以在拉伸后进行染色。可根据需要对PVA类树脂膜实施溶胀处理、交联处理、清洗处理、干燥处理等。例如，通过在染色前将PVA类树脂膜浸渍于水中进行水洗，不仅可以对PVA类树脂膜表面的污垢、抗粘连剂进行清洗，而且可以使PVA类树脂膜溶胀而防止染色不均等。

作为使用层叠体得到的起偏镜的具体例，可举出使用树脂基材与层叠于该树脂基材的PVA类树脂层(PVA类树脂膜)的层叠体、或者使用树脂基材与涂布形成于该树脂基材的PVA类树脂层的层叠体而得到的起偏镜。使用树脂基材与涂布形成于该树脂基材的PVA类树脂层的层叠体而得到的起偏镜可以通过下述方法制作：例如，将PVA类树脂溶液涂布于树脂基材，使其干燥而在树脂基材上形成PVA类树脂层，得到树脂基材与PVA类树脂层的层叠体；将该层叠体拉伸及染色而将PVA类树脂层制成起偏镜。在本实施方式中，拉伸代表性地包括将层叠体浸渍于硼酸水溶液中来进行拉伸。此外，拉伸可以根据需要而进一步包括在硼酸水溶液中的拉伸之前将层叠体在高温(例如，95℃以上)下进行气体氛围中拉伸。得到的树脂基材/起偏镜的层叠体可以直接使用(即，可以将树脂基材制成起偏镜的保护层)，也可以将树脂基材从树脂基材/起偏镜的层叠体剥离，在该剥离面上层叠与目的相应的任意适当的保护层而使用。这样的起偏镜的制造方法的详细情况记载于例如日本特开2012-73580号公报、日本专利第6470455号中。将这些专利文献的记载作为参考而引用至本说明书中。

起偏镜的厚度例如为15μm以下，优选为12μm以下、更优选为10μm以下、尤其优选为8μm以下，例如为1μm以上。

保护膜可以由能够作为起偏镜的保护膜使用的任意适当的膜构成。作为成为该膜的主成分的材料的具体例，可举出三乙酸纤维素(TAC)等纤维素类树脂、聚酯类、聚乙烯醇类、聚碳酸酯类、聚酰胺类、聚酰亚胺类、聚醚砜类、聚砜类、聚苯乙烯类、聚降冰片烯类、聚烯烃类、环状烯烃类、(甲基)丙烯酸类、乙酸酯类等透明树脂等。另外，还可举出：(甲基)丙烯酸类、氨基甲酸酯类、(甲基)丙烯酸氨基甲酸酯类、环氧类、有机硅类等的热固性树脂或紫外线固化型树脂等。除此以外，还可举出例如硅氧烷类聚合物等玻璃态类聚合物。另外，也可以使用日本特开2001-343529号公报(WO01/37007)中记载的聚合物膜。作为该膜的材料，可使用例如含有在侧链具有取代或未取代的酰亚胺基的热塑性树脂、和在侧链具有取代或未取代的苯基及腈基的热塑性树脂的树脂组合物，可举出例如：具有由异丁烯和N-甲基马来酰亚胺形成的交替共聚物、和丙烯腈-苯乙烯共聚物的树脂组合物。该聚合物膜例如可以是上述树脂组合物的挤出成型物。可以优选使用TAC、(甲基)丙烯酸类树脂、环状烯烃类树脂。需要说明的是，在本说明书中，(甲基)丙烯酸是指丙烯酸和/或甲基丙烯酸。

粘合剂层14及粘合剂层15分别由任意适当的粘合剂(压敏粘接剂)形成。作为形成粘合剂层的粘合剂，例如可举出：(甲基)丙烯酸类粘合剂、氨基甲酸酯类粘合剂、有机硅类粘合剂、橡胶类粘合剂，可优选举出(甲基)丙烯酸类粘合剂。

第1隔膜12是用于保护光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)的表面的产品保护膜。第1隔膜12代表性地临时粘贴于粘合剂层14、直到使用光学层叠体为止，在使用光学层叠体片时从粘合剂层14剥离。第1隔膜12例如具备由环烯烃类树脂形成的基材、和位于基材的粘合剂层侧的表面的剥离处理层(例如有机硅处理层)。

第2隔膜13是在光学层叠体的制造工序中被剥离的工序保护膜。代表性地，在轴对准检查工序之后并且在贴合工序之前将第2隔膜13从粘合剂层15剥离。代表性地，与第1隔膜12的构成同样地对第2隔膜13的构成进行说明。

B-2.第2层叠膜

第2层叠膜2包含第1相位差层21。在一个实施方式中，第2层叠膜2除了具备第1相位差层21以外还具备：层叠于第1相位差层21的第2相位差层22；和位于第2相位差层22的与第1相位差层21相反侧的第1表面保护膜23。另外，第2层叠膜2具备：位于第1表面保护膜23与第2相位差层22之间的基材24；位于基材24与第2相位差层22之间的粘合剂层25；粘贴于第1相位差层21的外侧的第1临时保护膜26；以及粘贴于第1表面保护膜23的外侧的第2临时保护膜27。

第2层叠膜2代表性地具有与第1层叠膜1相同的尺寸。第2层叠膜2例如可以为短边75mm～310mm左右的矩形，另外例如可以为长边250mm～350mm及短边150mm～250mm左右的矩形。

第1相位差层21显示出nx＞ny的关系。第1相位差层21代表性地显示出nx＞ny≥nz的折射率特性。需要说明的是，这里，“ny＝nz”不仅包括ny与nz完全相等的情况，还包括实质上相等的情况。

第1相位差层21可作为λ/4波片发挥功能。第1相位差层21的面内相位差Re(550)优选为100nm～200nm、更优选为110nm～180nm，进一步优选为130nm～150nm。这里，“Re(λ)”是在23℃下以波长λnm的光测得的面内相位差。因此，“Re(550)”是在23℃下以波长550nm的光测得的面内相位差。在将层(膜)的厚度设为d(nm)时，可通过式：Re(λ)＝(nx-ny)×d求出Re(λ)。

第2层叠膜中的第1相位差层的慢轴方向代表性地可根据与第1层叠膜中的起偏镜的吸收轴方向的关系而设定。在起偏镜在第1层叠膜的长边方向上具有吸收轴的情况下，第1相位差层在相对于第2层叠膜的长边方向倾斜的方向(代表性地为45°方向)上具有慢轴，在起偏镜在相对于第1层叠膜的长边方向倾斜的方向(代表性地为45°方向)上具有吸收轴的情况下，第1相位差层在第2层叠膜的长边方向上具有慢轴。在图5(a)所示的第2层叠膜2中，第1相位差层在相对于第2层叠膜的长边方向为45°的方向上具有慢轴。

第1相位差层21可以根据目的而由具有任意适当的光学特性和/或机械特性的相位差膜构成。相位差膜代表性地为树脂膜的拉伸膜。作为构成相位差膜的树脂的代表例，可举出聚碳酸酯类树脂、聚酯碳酸酯类树脂、聚酯类树脂、聚乙烯醇缩醛类树脂、聚芳酯类树脂、环状烯烃类树脂、纤维素类树脂、聚乙烯醇类树脂、聚酰胺类树脂、聚酰亚胺类树脂、聚醚类树脂、聚苯乙烯类树脂、丙烯酸类树脂。

相位差膜可以显示出相位差值相应于测定光的波长而变大的反向波长色散特性，也可以显示出相位差值相应于测定光的波长变小的正的波长色散特性，还可以显示出相位差值几乎不随着测定光的波长变化的平坦的波长色散特性。

相位差膜(第1相位差层)的厚度可以以能够最适宜地作为λ/4波片发挥功能的方式设定。换言之，厚度可以以可得到上述期望的面内相位差的方式设定。相位差膜(第1相位差层)的厚度例如为70μm以下，优选为60μm以下，例如为15μm以上。

第2相位差层22代表性地经由任意适当的粘接层(粘接剂层、粘合剂层：未图示)贴合于第1相位差层21。第2相位差层22代表性地显示出nz＞nx＝ny的折射率特性。需要说明的是，这里，“nx＝ny”不仅包括nx与ny完全相等的情况，还包括实质上相等的情况。第2相位差层22的厚度方向的相位差Rth(550)优选为-50nm～-300nm、更优选为-100nm～-180nm。这里，“Rth(λ)”是在23℃下以波长λnm的光测得的厚度方向的相位差。例如，“Rth(550)”是在23℃下以波长550nm的光测得的厚度方向的相位差。将层(膜)的厚度设为d(nm)时，可通过式：Rth(λ)＝(nx-nz)×d求出Rth(λ)。

第2相位差层22可以由任意适当的材料形成。第2相位差层22优选由包含固定为垂面取向的液晶材料的膜构成。能够发生垂面取向的液晶材料(液晶化合物)可以为液晶单体，也可以为液晶聚合物。作为该液晶化合物及该相位差层的形成方法的具体例，可举出日本特开2002-333642号公报的[0020]～[0028]中记载的液晶化合物及该相位差层的形成方法。第2相位差层的厚度例如为0.5μm～10μm，优选为0.5μm～8μm、更优选为0.5μm～5μm。

第1表面保护膜23是用于保护光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)的表面的产品保护膜。代表性地，第1表面保护膜23临时粘贴至使用光学层叠体为止，在使用光学层叠体片时被剥离。在图2的(a)所示的第2层叠膜2中，第1表面保护膜23临时粘贴于基材24。第1表面保护膜23代表性地具备由环烯烃类树脂形成的基材、和设置于基材上的粘合剂层。粘合剂层由任意适当的粘合剂(压敏粘接剂)形成，代表性地由(甲基)丙烯酸类粘合剂形成。

基材24经由粘合剂层25而贴合于第2相位差层22。基材24由任意适当的膜形成。作为构成基材24的树脂的代表例，例如可举出：与成为上述B-1项中说明的保护层的主成分的材料同样的树脂(上述的透明树脂、上述的热固性树脂或紫外线固化型树脂、上述的玻璃态类聚合物、及上述的树脂组合物)。作为构成基材24的树脂，可优选使用(甲基)丙烯酸类树脂，可更优选使用具有戊二酰亚胺结构的(甲基)丙烯酸类树脂。可以对基材24的表面实施硬涂处理、防反射处理、抗粘连处理、防眩处理等表面处理。

粘合剂层25由任意适当的粘合剂(压敏粘接剂)形成。作为形成粘合剂层的粘合剂，例如可举出：(甲基)丙烯酸类粘合剂、氨基甲酸酯类粘合剂、有机硅类粘合剂、橡胶类粘合剂，可优选举出(甲基)丙烯酸类粘合剂。

第1临时保护膜26及第2临时保护膜27是在光学层叠体的制造工序中被剥离的工序保护膜。代表性地，在清洗工序之后且轴对准检查工序之前，将第1临时保护膜26从第1相位差层21剥离。代表性地，在轴对准检查工序之后、并且贴合工序之前将第2临时保护膜27从第1表面保护膜23剥离。第1临时保护膜26及第2临时保护膜27由任意适当的粘合剂(压敏粘接剂)形成。

C.清洗工序

优选在清洗工序中分别对上述B中记载的第1层叠膜1及第2层叠膜2进行清洗。层叠膜的清洗方法没有特别限制。层叠膜的清洗方法可以为干法方式，也可以为湿法方式。作为干法方式，例如可举出：使粘合辊接触膜而进行清洗的粘合辊式；在空气中对膜施加超声波而吸引从膜脱离的异物的干法超声波式。作为湿法方式，例如可举出：在液体中对膜施加超声波而从膜除去异物的湿法超声波式。这些清洗方法中，可优选举出干法方式。

D.轴对准检查工序

在轴对准检查工序中，在第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与实际的慢轴所成的轴交叉角度，在多个检查部位中轴交叉角度在给定范围内的检查部位的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品。

更详细而言，如下所述。首先，如图2的(a)及图3的(a)所示，在第2层叠膜2具备第1临时保护膜26的情况下，将第1临时保护膜26从第1相位差层21剥离。然后，对第2层叠膜2的长边的边缘进行检测，以检测到的边缘为基准，设定与边缘形成给定角度(例如为45°或0°)的理想状态的慢轴(假想的慢轴)。

接下来，在第2层叠膜的多个部位(代表性地为与理想状态的慢轴正交的方向上的多个部位)测定第1相位差层的实际的慢轴。测定部位的个数为2个以上，优选为3个以上，例如为10个以下。测定部位优选包含第2层叠膜的中心，更优选包含第2层叠膜2的中心、与相对于该中心呈点对称的多个部位。在图5(a)所示的第2层叠膜2中，测定部位是第2层叠膜2的中心、与相对于该中心呈点对称的第2层叠膜2的对角的角部。作为慢轴的测定方法，可以采用任意适当的方法。例如，可以通过Axometrics公司制造的“AxoScan”对慢轴进行测定。

第1相位差层的慢轴的轴偏移比起偏镜的吸收轴的轴偏移大。因此，在第2层叠膜中，有时实际的慢轴不是在第1相位差层的每个部分平行。例如，在图5(a)所示的第2层叠膜2中，第2层叠膜的中心的慢轴与长边方向所成的角度、与除中心以外的部分的慢轴与长边方向所成的角度可以不同。更详细而言，有时第2层叠膜2的第1角部的慢轴S1与长边方向所成的角度比第2层叠膜2的中心的慢轴S2与长边方向所成的角度小给定角度(例如为0.1°～3°)，有时第2层叠膜2的第2角部的慢轴S3与长边方向所成的角度比第2层叠膜2的中央部的慢轴S2与长边方向所成的角度大给定角度(例如为0.1°～3°)。

接下来，计算出各测定部位的实际的慢轴与理想状态的慢轴所成的轴交叉角度，计算出多个检查部位(测定部位)中轴交叉角度为给定范围(允许范围)内的检查部位的比例。

轴交叉角度的允许范围的上限例如为1.0°以下，优选为0.5°以下、更优选为0.2°以下。轴交叉角度的允许范围的下限代表性地为0°以上。

接下来，在多个检查部位中轴交叉角度在上述允许范围内的检查部位的比例(轴交叉角度为上述允许范围内的检查部位的数量/检查部位的总数×100；以下称为允许部位比例)为给定范围(允许范围)内的情况下判定为合格品，在为给定范围(允许范围)外的情况下判定为不合格品。

允许部位比例的允许范围的下限是合格品与不合格品的判定基准，例如为50％以上，优选为60％以上、更优选为70％以上、尤其优选为80％以上、特别优选为90％以上、最优选为95％以上。允许部位比例的允许范围的上限代表性地为100％以下。如果轴对准检查工序中的合格品与不合格品的判定基准为上述下限值，则在将第1层叠膜与第2层叠膜贴合而得到的层叠膜中间体中，能够极为精密且稳定地控制起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度。

需要说明的是，对于在轴对准检查工序中被判定为不合格品的第2层叠膜，从本实施方式的光学层叠体片的制造方法中排除(代表性地为废弃)，不在其后的工序中使用。

E.贴合工序

接下来，使第1层叠膜与在轴对准检查工序中被判定为合格品的第2层叠膜贴合。

更详细而言，如下所述。首先，如图2的(b)及图3的(b)所示，在第1层叠膜1具备第2隔膜13及粘合剂层15的情况下，将第2隔膜13从粘合剂层15剥离。接下来，以使上述实际的慢轴各自与起偏镜的吸收轴所成的角度基于上述的轴对准的各检查部位(测定部位)中的第1相位差层的实际的慢轴代表性地为45°±1°以内、优选为45°±0.5°以内、更优选为45°±0.2°以内的方式配置第1层叠膜和第2层叠膜，使粘合剂层15与第1相位差层21接触。

在一个实施方式中，如图5(a)及图5(b)所示，以使从第2层叠膜2的厚度方向观察，使第2层叠膜2的中心与第1层叠膜1的中心一致，上述的实际的慢轴各自与吸收轴所成的角度达到上述范围的方式，以第2层叠膜2为中心旋转，在保持着慢轴与吸收轴的轴角度的关系的状态下将第2层叠膜2贴合于第1层叠膜1。

这样一来，通过在贴合工序中，实施对实际的慢轴与吸收轴的轴角度加以修正的“贴合修正”，能够更精密地控制层叠膜中间体的慢轴与吸收轴所成的角度。

需要说明的是，起偏镜中的吸收轴的轴偏移实质上不存在，或者即使存在，相对于相位差膜的慢轴的轴偏移而言也非常小。因此，在第1层叠膜中，起偏镜的各个部分的吸收轴实质上是平行的。例如，在图5(a)所示的第1层叠膜1中，第1层叠膜1的中心处的起偏镜的吸收轴A2、与除中心以外的部分(在图示例中，第1层叠膜的对角的角部)中的起偏镜的吸收轴A1及A3实质上相互平行。更具体而言，吸收轴A1及A3相对于吸收轴A2的轴偏移代表性地小于0°±1°，优选小于0°±0.5°。因此，即使不对第1层叠膜的各部分的实际的吸收轴进行测定，也能够实施上述的贴合修正。

通过以上操作，使第1层叠膜与第2层叠膜贴合而得到层叠膜中间体。在图4所示的层叠膜中间体3中，第1表面保护膜23位于最表面。

另外，在贴合工序中，也可以以使第1层叠膜的外缘与第2层叠膜的外缘一致的方式进行贴合。如上所述，在轴对准检查工序中，慢轴方向的精度不满足基准的第2层叠膜是被排除的，因此，即使以使各自的外缘一致的方式进行贴合，也能够抑制层叠膜中间体中的起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度。另一方面，如上所述地实施贴合修正时，能够精密地控制起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度，因而更优选。

F.异物检查工序

接下来，检查层叠膜中间体中有无异物，判定层叠膜中间体为合格品和不合格品。异物检查工序利用任意适当的异物检查装置而实施。作为异物检查装置，可举出公知的异物检查装置，作为记载异物检查装置的文献，例如可举出：国际公开第2011/148790号、日本特开2003-344302号公报、日本特开2011-226957号公报、日本特开2016-70856号公报。

在一个实施方式中，如图6所示，将层叠膜中间体3中的异物检查有效范围基于后述的光学层叠体片(最终产品)的尺寸划分成多个假想区域E，检查多个假想区域E中有无异物。被检查的异物的尺寸代表性地为5μm以上且300μm以下，或者为5μm以上且200μm以下，或者为5μm以上且100μm以下。

接下来，在多个假想区域E中包含异物的假想区域的比例(包含异物的假想区域的数量/多个假想区域的总数×100；以下称为异物占有率)为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品。

异物占有率的上限为合格品与不合格品的判定基准，例如为10％以下，优选为5％以下。另外，异物占有率的下限例如为0％以上。

如果异物检查工序中的合格品与不合格品的判定基准为上述的上限值，则能够进一步减少混入有异物的光学层叠体片的制造比例。

需要说明的是，在异物检查工序中被判定为不合格品的层叠膜中间体被从本实施方式的光学层叠体片的制造方法中排除(代表性地为废弃)，不在随后的工序中使用。

G.表面保护工序

在一个实施方式中，在异物检查工序后且冲裁工序前，将第2表面保护膜贴合于在异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体的第1表面保护膜。代表性地，与第1表面保护膜的构成同样地对第2表面保护膜的构成进行说明。

H.冲裁工序

接下来，将在异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体(优选为贴合有第2表面保护膜的层叠膜中间体)冲裁成给定尺寸，得到多个光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)。冲裁代表性地可沿着异物检查工序中的多个假想区域的划分线进行。其结果是，能够得到起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度为上述范围内的光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)。如上所述，在层叠膜中间体中，起偏镜的吸收轴与第1相位差层的慢轴所成的角度被良好地控制。因此，由层叠膜中间体制作光学层叠体片时，不需要一边修正轴偏移一边进行冲裁。其结果是，在本发明的实施方式中，通过使用例如格子状的冲裁刀，能够由一个层叠膜中间体一并冲裁出多个光学层叠体片。如此地，通过一并冲裁出多个带相位差层的偏振片，能够实现优异的制造效率。

此外，如上所述，在冲裁工序前，多个假想区域中的异物占有率超过基准值的层叠膜中间体是被排除了的。因此，通过对层叠膜中间体沿着多个假想区域的划分线进行冲裁，能够充分地减少制造混入有异物的光学层叠体片的比例。即，能够有效地制造可精密地控制吸收轴方向及慢轴方向、并且每个产品的上述偏差均非常小(实质上没有偏差)、进而抑制了异物的混入的光学层叠体片。

如上所述地实施，可得到光学层叠体片(作为最终产品的光学层叠体)。将一个实施方式中的光学层叠体片5示于图7。光学层叠体片例如可以为长边10mm～70mm及短边10mm～70mm左右，另外例如可以为长边20mm～40mm及短边10mm～30mm左右，更详细而言，可以为长边30mm及短边20mm左右的矩形。此外，光学层叠体片不限定于矩形状，也可以为异形状。异形状的光学层叠体片可以具有从外周缘向内侧凹陷的缺陷部(凹部)。这样的光学层叠体片例如可以用作VR护目镜用的圆偏振片。

工业实用性

本发明的实施方式的制造方法可适宜用于光学层叠体的制造，特别是，可适宜用于非常小型(例如，VR护目镜用)的光学层叠体的制造。

Claims (7)

1.一种光学层叠体的制造方法，该方法包括：

准备工序，准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含作为λ/4波片发挥功能的第1相位差层的第2层叠膜；

轴对准检查工序，在所述第2层叠膜的多个部位检查所述第1相位差层的理想状态的慢轴与所述第1相位差层的实际的慢轴所成的轴交叉角度，在多个检查部位中所述轴交叉角度在给定范围内的检查部位的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品；

贴合工序，使所述第1层叠膜与在所述轴对准检查工序中被判定为合格品的第2层叠膜贴合，得到层叠膜中间体；

异物检查工序，检查所述层叠膜中间体中有无异物，判定所述层叠膜中间体为合格品或不合格品；以及

冲裁工序，将在所述异物检查工序中被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁成给定尺寸，得到多个光学层叠体片。

2.根据权利要求1所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在所述贴合工序中，以使所述偏振片的起偏镜的吸收轴与所述第1相位差层的实际的慢轴所成的角度在给定范围内的方式使所述第1层叠膜与所述第2层叠膜贴合。

3.根据权利要求1所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在所述异物检查工序中，将所述层叠膜中间体划分成多个假想区域，检查所述多个假想区域中有无异物，在所述多个假想区域中包含异物的假想区域的比例为给定范围内的情况下判定为合格品，在为给定范围外的情况下判定为不合格品。

4.根据权利要求1所述的光学层叠体的制造方法，其中，

所述第2层叠膜具备：

层叠于所述第1相位差层的第2相位差层，其显示出nz＞nx＝ny的折射率特性；和

位于所述第2相位差层的与所述第1相位差层相反侧的第1表面保护膜，

所述第1表面保护膜位于所述层叠膜中间体的最表面。

5.根据权利要求4所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在所述异物检查工序后且所述冲裁工序前，包括在所述层叠膜中间体的第1表面保护膜贴合第2表面保护膜的表面保护工序。

6.根据权利要求5所述的光学层叠体的制造方法，其中，

所述轴对准检查工序、所述贴合工序、所述异物检查工序及所述表面保护工序在清洁棚内实施。

7.根据权利要求1所述的光学层叠体的制造方法，其中，

在所述轴对准检查工序前，包括分别对所述第1层叠膜及所述第2层叠膜进行清洗的清洗工序。