CN117744932A - 基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质 - Google Patents

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CN117744932A CN202311763622.5A CN202311763622A CN117744932A CN 117744932 A CN117744932 A CN 117744932A CN 202311763622 A CN202311763622 A CN 202311763622A CN 117744932 A CN117744932 A CN 117744932A
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蒋馨洋
田宏伟
张峥
白雪
段聪昊
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Abstract

本发明提供了一种基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质,涉及生工艺失效原因分析领域,方法包括:根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表,变更不同影响因素,记录变更的影响因素以及变更结果;基于变更后的工序记录表,判断工艺是否失效;若工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;构建异常失效的映射规则,并确定导致工艺失效的影响因素;根据维度分数确定的导致工艺失效的影响因素重要度以及失效次数确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列;根据重要度序列分析工艺失效原因。本发明提高了工艺失效的分析效率及准确度。

Description

基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质
技术领域
本发明涉及生工艺失效原因分析领域,特别是涉及一种基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质。
背景技术
如今相当多的产品工艺程序越来越复杂,使用时发生失效的情况也越来越多,为解决这些工艺失效问题进行的原因分析任务十分繁重。而且产品使用反馈是一个长期过程,工艺失效导致的后果非常严重,传统的工艺失效原因分析方法和模式难以及时有效的满足需求。
多年来工艺失效原因分析呈现出“比例低,准确率低”的特点,以至于现在产品工艺失效原因分析的效率难以适应当前产品飞速更新换代的形势。
因此急需一种工艺失效原因分析方法,提高工艺失效分析效率,精准定位失效原因,从根源上提高工艺的质量与可靠性。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质,以解决产品工艺失效原因分析效率低的问题。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
一种基于因素的工艺失效原因分析方法,包括:
根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素;
根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表;
基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效;
若所述工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境;
根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素;
根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度;
根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列;
根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
可选的,基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,具体包括:
任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;
若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。
可选的,所述映射规则为:
其中,Xn为影响因素的具体表现,n为影响因素的变更类型;为映射规则;Ti为映射前变更的影响因素,i为影响因素的类型。
可选的,导致工艺失效的影响因素重要度为:
其中,C1i-C5i为5个维度分数,i为影响因素的类型;Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Cfi用于表征导致工艺失效的影响因素重要度。
可选的,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:
Nfi*Cfi=Ti
其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数。
一种基于因素的工艺失效原因分析系统,包括:
根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素;
根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表;
基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效;
若所述工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境;
根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素;
根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度;
根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列;
根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
可选的,基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,具体包括:
任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;
若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。可选的,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:
Nfi*Cfi=Ti
其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数。
一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行上述基于因素的工艺失效原因分析方法。
一种计算机可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述基于因素的工艺失效原因分析方法。
根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:本发明实施例提供规范的信息记录模板,生成工序记录表,为工艺失效分析提供了标准的数据输入,提高了原因分析的准确度;并且,通过变更不同的影响因素,确定变更后的工序记录表以判断工艺是否失效,当工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数,基于变更的影响因素构建异常失效的映射规则,确定导致工艺失效的影响因素,最后,根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列,分析工艺失效原因;本发明能够对实现对工艺失效因素的自动化分析,大幅缩短工艺失效分析流程,提高了工艺失效的分析效率及准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明所提供的基于因素的工艺失效原因分析方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的目的是提供一种基于因素的工艺失效原因分析方法、系统、设备及介质,提高了工艺失效的分析效率及准确度。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
实施例一
如图1所示,本发明提供了一种基于因素的工艺失效原因分析方法,包括:
步骤101:根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素。
表1工序记录表
人员因素:制造产品的人,即现场所有人员。
设备因素:制造产品所用的设备。生产中,设备的是否正常运作,工具的好坏都是影响生产进度的。
材料因素:指制造产品所使用的原材料。指物料、半成品、配件、原料等产品用料。
方法因素:指制造产品所使用的方法。包括:工艺指导书,标准工序指引、生产图纸、生产计划表、产品作业标准、检验标准、各种操作规程等。
环境因素:指产品制造过程中所处的环境。
测量因素:指测量工具、测量方法、以及经过培训和授权的测量人。
步骤102:根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表。
表2变更后的工序记录表
步骤103:基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,若是,执行步骤104,若否,返回步骤102。
在实际应用中,所述步骤103具体包括:任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。
在实际应用中,根据表3判断工艺是否失效。
表3工艺失效判定标准表
步骤104:确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境。
若确定工艺失效,则需要从5个维度判断工艺失效严重程度,最终获得5个分数以代表不同程度的后果。
表4工艺失效后果严重度判定表
步骤105:根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素。
在实际应用中,所述映射规则为:其中,Xn为影响因素的具体表现,n为影响因素的变更类型;/>为映射规则;Ti为映射前变更的影响因素,i为影响因素的类型。
在实际应用中,分析失效工序的判断规则:若在改变某一因素后,产生的失效次数大于平均失效次数的15%,则其存在异常失效。具体公式如下:
其中i为因素类别i∈1,2,3,4,5,6;Ni为第i种影响因素改变后发生的失效次数,为平均失效次数(例如,开展100试验获得)。
再确定该因素会导致异常失效后,构建异常失效的映射规则,公式如下:
其中Ti为映射前的失效因素,Xn为失效因素具体表现,为映射规则()。
当人员因素发生变化,映射规则如下:
其中T1为人员因素发生调整或变更,X1为操作人员发生了变动、X2为操作人员身体状况发生了变化、X3是领导人员发生了变化;
其中T2为设备因素发生调整或变更,X4为使用的设备型号发生了变更、X5为设备状态发生了调整;
其中T3为材料因素发生调整或变更,X6为原材料供应商发生开了变更、X7为原材料发生了调整、X8为原材料批次差异;
其中T4为工艺方法因素发生调整或变更,X7为工艺指导书发生了调整、X8为操作具体行为发生了变动;
其中T5为环境因素发生调整或变更,X8为生产工艺的温度发生了变化、X9为生产工艺的湿度发生了变化、X10为生产工艺的压力发生了变化;
其中T6为测量因素发生调整或变更,X11为测量设备或器具发生了变动、X12为实施测量的人员发生了变动。
步骤106:根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度。
在实际应用中,导致工艺失效的影响因素重要度为:Cfi其中,C1i-C5i为5个维度分数,i为影响因素的类型;Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Cfi用于表征导致工艺失效的影响因素重要度。
步骤107:根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列。
在实际应用中,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:Nfi*Cfi=Ti;其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数,
步骤108:根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
数据举例:
操作人员身体发生了变化(发烧),导致工艺失效次数(128)大于平均失效次数(100)的15%,根据“工艺失效后果严重度判定表”,其得分为(1,6,4,2,1)总分,最终重要度为:
操作环境发生了变化(高压),导致工艺失效次数(115)大于平均失效次数(100)的15%,根据“工艺失效后果严重度判定表”,其得分为(1,1,1,1,1)总分,最终重要度为:
原材料批次发生了变化(发烧),导致工艺失效次数(103)小于平均失效次数(100)的15%,因此对工艺失效造成的影响较小,忽略不计。
实施例二
为了执行上述实施例一对应的方法,以实现相应的功能和技术效果,下面提供一种基于因素的工艺失效原因分析系统。
一种基于因素的工艺失效原因分析系统,包括:
根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素。
根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表。
基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效。
若所述工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境。
根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素。
根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度。
根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列。
根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
在实际应用中,基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,具体包括:任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。
在实际应用中,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:Nfi*Cfi=Ti
其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数。
实施例三
一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行上述所述的基于因素的工艺失效原因分析方法。
一种计算机可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述所述的基于因素的工艺失效原因分析方法。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种基于因素的工艺失效原因分析方法,其特征在于,包括:
根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素;
根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表;
基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效;
若所述工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境;
根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素;
根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度;
根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列;
根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
2.根据权利要求1所述的基于因素的工艺失效原因分析方法,其特征在于,基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,具体包括:
任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;
若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。
3.根据权利要求1所述的基于因素的工艺失效原因分析方法,其特征在于,所述映射规则为:
其中,Xn为影响因素的具体表现,n为影响因素的变更类型;为映射规则;Ti为映射前变更的影响因素,i为影响因素的类型。
4.根据权利要求1所述的基于因素的工艺失效原因分析方法,其特征在于,导致工艺失效的影响因素重要度为:
其中,C1i-C5i为5个维度分数,i为影响因素的类型;Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Cfi用于表征导致工艺失效的影响因素重要度。
5.根据权利要求1所述的基于因素的工艺失效原因分析方法,其特征在于,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:
Nfi*Cfi=Ti
其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数。
6.一种基于因素的工艺失效原因分析系统,其特征在于,包括:
根据影响因素的变更规则确定信息记录模板,生成工序记录表;所述影响因素包括人员因素、设备因素、材料因素、工艺方法因素、环境因素以及测量因素;
根据所述变更规则变更不同影响因素,并基于所述工序记录表,记录变更的影响因素以及变更结果,生成变更后的工序记录表;
基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效;
若所述工艺失效,确定不同维度下的工艺失效严重程度以及维度分数;所述维度包括人员安全、产品功能、用户使用感受、产品修复成本以及环境;
根据变更的影响因素,构建异常失效的映射规则,并根据所述映射规则确定导致工艺失效的影响因素;
根据所述维度分数确定导致工艺失效的影响因素重要度;
根据导致工艺失效的影响因素的失效次数以及所述导致工艺失效的影响因素重要度确定每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度,并将每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度按从大到小排列,生成导致工艺失效的影响因素的重要度序列;
根据所述重要度序列分析工艺失效原因。
7.根据权利要求6所述的基于因素的工艺失效原因分析系统,其特征在于,基于所述变更后的工序记录表,判断工艺是否失效,具体包括:
任一影响因素发生变更后,获取工艺的失效次数;
若所述失效次数大于平均失效次数的15%,确定所述工艺失效。
8.根据权利要求6所述的基于因素的工艺失效原因分析系统,其特征在于,每个导致工艺失效的影响因素的最终重要度为:
Nfi*Cfi=Ti
其中,Cfi为第i影响因素失效后的最终得分,Ti为映射前变更的影响因素,Nfi为导致工艺失效的影响因素的失效次数。
9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行如权利要求1-5中任一项所述的基于因素的工艺失效原因分析方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的基于因素的工艺失效原因分析方法。
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