CN117434311A - 功率器件的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种功率器件的测试装置，功率器件的测试装置包括：测试支架，测试支架设置有测试件；高度调节件，高度调节件可升降地设置于测试支架，高度调节件位于测试件的下方，并且与测试件相互间隔，高度调节件和测试件之间用于放置待测试的功率器件，高度调节件选择性地驱动功率器件与测试件相接触，以使测试件测试功率器件。由此，通过在测试支架上设置可升降的高度调节件，升高高度调节件，可以将功率器件与测试支架上的测试件接触且限位，降低高度调节件，可以取消高度调节件对功率器件的限位，以将功率器件轻松取出，从而不仅可以提高功率器件的测试准确度，而且还可以提升功率器件在测试装置中的拆装便利性。

Description

功率器件的测试装置

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其是涉及一种功率器件的测试装置。

背景技术

温升测试是功率器件中常用的一种测试手段。通过温升测试，可以评估器件在工作状态下的温度变化和热管理能力，并为性能和可靠性的提升提供有效依据。温升测试广泛应用于电子产品、电力设备、汽车电子等领域。

现有技术中，贴片式功率器件通常未使用散热器散热，它的温升测试方法有两种。第一种是将温升测试线用高温胶带固定在功率器件的本体表面，这种固定方式的缺点是较易脱落，且接触不紧密；第二种是利用胶水在功率器件的表面固定温升测试线，这种固定方式的缺点是拆温升测试线过程中容易对焊盘产生应力、且可能损坏器件。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种功率器件的测试装置，该功率器件的测试装置可以提高测试准确度，而且还可以提升拆装便利性。

根据本发明实施例的功率器件的测试装置，包括：测试支架，所述测试支架设置有测试件；高度调节件，所述高度调节件可升降地设置于所述测试支架，所述高度调节件位于所述测试件的下方，并且与所述测试件相互间隔，所述高度调节件和所述测试件之间用于放置待测试的功率器件，所述高度调节件选择性地驱动所述功率器件与所述测试件相接触，以使所述测试件测试所述功率器件。

由此，通过在测试支架上设置可升降的高度调节件，升高高度调节件，可以将功率器件与测试支架上的测试件接触且限位，降低高度调节件，可以取消高度调节件对功率器件的限位，以将功率器件轻松取出，从而不仅可以提高功率器件的测试准确度，而且还可以提升功率器件在测试装置中的拆装便利性。

在本发明的一些示例中，所述测试支架上设置有测试孔，所述测试件为测试线，所述测试线设置于所述测试孔内，所述高度调节件选择性地驱动所述功率器件与所述测试孔的底部贴合，以使所述测试线的采样点与所述功率器件相接触。

在本发明的一些示例中，所述测试孔为多个，多个所述测试孔在所述测试支架上间隔设置，所述测试线为多个，多个所述测试线与多个所述测试孔一一对应。

在本发明的一些示例中，所述测试线粘接设置于所述测试孔内。

在本发明的一些示例中，所述测试支架包括主板部和加厚凸出部，所述加厚凸出部设置于所述主板部，并且相对所述主板部向下凸出设置，所述测试孔设置于所述加厚凸出部，所述测试线的采样点位于所述加厚凸出部的底部。

在本发明的一些示例中，所述主板部包括避让区域和测试区域，所述加厚凸出部设置于所述测试区域，所述避让区域的底部表面与所述加厚凸出部的底部表面在上下方向上相互间隔。

在本发明的一些示例中，所述避让区域的至少部分开设有避让通孔。

在本发明的一些示例中，所述高度调节件为限位螺钉，所述测试支架上设置有螺纹孔，所述限位螺钉与所述螺纹孔螺纹配合，以上下升降。

在本发明的一些示例中，所述测试支架包括所述主板部、侧板部和连接板部，所述侧板部设置于所述主板部的至少一侧，并且向下延伸设置，所述连接板部设置于所述侧板部远离所述主板部的一端，所述连接板部在所述侧板部朝向所述主板部的一侧延伸设置，并且与所述主板部相互平行，所述螺纹孔设置于所述连接板部。

在本发明的一些示例中，所述连接板部为两个，两个所述连接板部分别设置于所述主板部的两侧，并且相对设置，每个所述连接板部上设置有至少一个所述限位螺钉。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明实施例的测试装置的示意图；

图2是根据本发明实施例的测试装置另一视角的示意图；

图3是根据本发明实施例的测试装置另一视角的示意图；

图4是根据本发明实施例的功率器件和测试装置的示意图；

图5是根据本发明实施例的功率器件和测试装置另一视角的示意图。

附图标记：

100、测试装置；200、功率器件；

10、测试支架；11、测试件；111、采样点；12、测试孔；13、主板部；131、避让区域；1311、避让通孔；132、测试区域；14、加厚凸出部；15、螺纹孔；16、侧板部；17、连接板部；

20、高度调节件；30、系统板体。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本发明的实施例。

下面参考图1-图5描述根据本发明实施例的功率器件200的测试装置100，本发明实施例中的测试装置100包括但不限于对功率器件200的温升进行测试。

结合图1-图5所示，根据本发明的功率器件200的测试装置100可以主要包括：测试支架10和高度调节件20，其中，测试支架10设置有测试件11。具体地，测试支架10可以为测试件11提供稳定可靠的设置位置，可以保证测试件11在测试支架10中的设置稳定性。测试件11适于与待测功率器件200直接接触，以准确测量功率器件200的温升。

进一步地，高度调节件20可升降地设置于测试支架10，高度调节件20位于测试件11的下方，并且与测试件11相互间隔，高度调节件20和测试件11之间用于放置待测试的功率器件200，高度调节件20选择性地驱动功率器件200与测试件11相接触，以使测试件11测试功率器件200。具体地，测试支架10可以为高度调节件20提供稳定可靠的设置位置，可以保证高度调节件20在测试支架10中的设置稳定性。高度调节件20在测试支架10上可升降，这样可以改变高度调节件20在测试支架10上的高度位置。

进一步的，高度调节件20位于测试件11的下方，并且与测试件11相互间隔设置，这样可以便于将待测功率器件200放置于高度调节件20和测试件11之间的间隔区域，如此设置，一方面，可以保证待测功率器件200至少有一侧与测试件11直接接触，可以使测试件11对待测功率器件200的温升进行测量，另一方面，待测功率器件200设置于高度调节件20和测试件11之间的间隔区域中时，待测功率器件200与高度调节件20接触，在高度调节件20改变高度位置时，可以带动功率器件200上下移动，以改变待测功率器件200在测试装置100中的位置。

进一步地，在升高高度调节件20时，高度调节件20的在测试支架10上的位置升高，同时驱动待测功率器件200靠近测试支架10上的测试件11，直至待测功率器件200与测试件11接触，停止升高高度调节件20，此时测试件11限制待测功率器件200向上移动，高度调节件20限制待测功率器件200向下移动，从而可以使待测功率器件200在测试支架10中保持不动，以便于测试件11可以对待测功率器件200进行测试，同时通过调节高度调节件20的高度，可以对待测功率器件200施加不同大小的压力，以保证待测功率器件200与测试件11紧密接触，这样可以提高测试装置100对待测功率器件200的测量准确度。

进一步地，测试完成后，可以降低高度调节件20在测试支架10上的高度，取消高度调节件20对待测功率器件200底部的限位，使待测功率器件200下移，这样可以轻松将功率器件200从测试装置100中取出，测试装置100可以重复使用，这样可以节约功率器件200的测试成本。本发明中的测试装置100装置结构简单，拆装方便，不仅可以保证对功率器件200的测试准确性，而且还可以提升对功率器件200的测试便利性。

由此，通过在测试支架10上设置可升降的高度调节件20，升高高度调节件20，可以将功率器件200与测试支架10上的测试件11接触且限位，降低高度调节件20，可以取消高度调节件20对功率器件200的限位，以将功率器件200轻松取出，从而不仅可以提高功率器件200的测试准确度，而且还可以提升功率器件200在测试装置100中的拆装便利性。

结合图1-图5所示，测试支架10上设置有测试孔12，测试件11为测试线，测试线设置于测试孔12内，高度调节件20选择性地驱动功率器件200与测试孔12的底部贴合，以使测试线的采样点111与功率器件200相接触。具体地，测试支架10可以为测试提供稳定可靠的设置位置，可以便于测试孔12在测试支架10上的开设，可以保证测试孔12在测试支架10上的结构可靠性。测试件11为测试线，测试线设置于测试孔12内，可以便于将测试线上的采样点111固定与测试支架10上，通过测试孔12对测试线的固定，可以便于在功率器件200的测试过程中将功率器件200与测试件11对准，以保证测试装置100的测试准确性。测试线的采样点111位于测试孔12的底部，在高度调节件20驱动功率器件200升高至与测试孔12底部接触时，可以使功率器件200与测试线的采样点111接触，以便于测试线对功率器件200直接测试。

结合图1、图2和图5所示，测试孔12为多个，多个测试孔12在测试支架10上间隔设置，测试线为多个，多个测试线与多个测试孔12一一对应。具体地，测试装置100开设有多个测试孔12，可以便于在测试支架10上设置多个测试线，这样可以对多个功率器件200进行同时测试，从而可以节省功率器件200的测试时间，降低功率器件200的测试成本，提高功率器件200的测试效率。

进一步地，多个测试孔12在测试支架10上间隔设置，可以保证多个测试线的采样点111在测试支架10上间隔设置，多个测试线与多个测试孔12一一对应，这样可以保证每个测试线的采样点111独立工作，互不干扰，有利于提升每个测试线的测试准确性。

结合图3和图4所示，测试线粘接设置于测试孔12内。具体地，在多个测试线与多个测试孔12一一对应的前提下，将每个测试线独立粘接设置于测试孔12内，如此设置，一方面，可以简化测试线与测试孔12的连接操作，可以提升测试装置100的生产便利性，进而可以提高测试装置100的生产效率，另一方面，可以将测试线的采样点111准确设置于测试孔12的底部，这样在待测功率器件200与测试孔12底部接触时，可以保证测试孔12内对应的测试线采样点111与待测功率器件200接触，以保证测试装置100对功率器件200的测量结果有效性。

现有技术中，贴片式功率器件的温升测试方法有两种，第一种是将温升测试线用高温胶带固定在功率器件的本体表面，这种固定方式的缺点是较易脱落，并且接触不紧密，无法保证贴片式功率器件的测试准确性。第二种是利用胶水在功率器件的表面固定温升测试线，这种固定方式的缺点是拆温升测试线过程中容易对焊盘产生应力、且可能损坏器件。

根据本发明的实施例，将测试线固定于测试支架10的测试孔12中的粘接材料包括但不限于胶水，将测试线粘接于测试孔12中，如此设置，一方面，可以替代现有技术中将温升测试线粘接在功率器件的本体表面，并且测试线不易从测试孔12中脱落，另一方面，可以保护功率器件200的结构不被破坏，从而可以保证功率器件200正常使用。

结合图1-图5所示，测试支架10包括主板部13和加厚凸出部14，加厚凸出部14设置于主板部13，并且相对主板部13向下凸出设置，测试孔12设置于加厚凸出部14，测试线的采样点111位于加厚凸出部14的底部。具体地，测试装置100包括主板部13和架构凸出部，主板部13可以为加厚凸出部14提供稳定可靠的设置位置，可以保证加厚凸出部14在测试装置100中的结构稳定性。加厚凸出部14相对主板部13向下凸出设置，以使测试孔12的底部相较于主板部13更加靠近功率器件200，这样不仅可以减少功率器件200在测试支架10中的移动距离，可以提高功率器件200的测试效率，而且还可以便于测试孔12与功率器件200对准，提高测试装置100的操作便利性。测试线的采样点111位于加厚凸出部14的底部，可以使测试线的采样点111优先向下凸出设置，以便于测试线的采样点111靠近功率器件200，并且与功率器件200接触。

结合图3和图4所示，主板部13包括避让区域131和测试区域132，加厚凸出部14设置于测试区域132，避让区域131的底部表面与加厚凸出部14的底部表面在上下方向上相互间隔。具体地，主板部13上分为避让区域131和测试区域132，避让区域131用于避让除待测功率器件200的其他元器件，测试区域132用于对准功率器件200，可以对功率器件200进行测试，以保证测试装置100测量结果准确性。加厚凸出部14设置于测试区域132，可以使加厚凸出部14对应功率器件200的位置向下凸出设置，以便于加厚凸出部14的底部与待测功率器件200对准，提高测试的操作便利性。避让区域131的底部表面与加厚凸出部14的底部表面在上下方向上相互间隔，这样可以为测试装置100内除待测功率器件200的其他元器件提供充分的避让空间，不仅可以保证待测功率器件200的测量准确性，而且还可以避让测试装置100内除待测功率器件200的其他元器件，以防止其他元器件对待测功率器件200的测试产生干涉。

结合图1、图2和图5所示，避让区域131的至少部分开设有避让通孔1311。具体地，根据本发明的实施例，如果测试装置100内除待测功率器件200的其他元器件在上下方向的高度较高，在避让区域131对应该结构的位置至少部分地开设避让通孔1311，以对高度较高的元器件进行避让，这样可以保证待测功率器件200与加厚凸出部14底部贴紧，以保证测试线的采样点111可以对待测功率器件200接触采样。

在本发明的实施例中，功率器件200设置于系统板体30上，系统板体30在与功率器件200同一侧上还设置有其他元器件。

结合图2-图4所示，高度调节件20为限位螺钉，测试支架10上设置有螺纹孔15，限位螺钉与螺纹孔15螺纹配合，以上下升降。具体地，在本发明的实施例中，高度调节件20为限位螺钉，测试支架10上设置有螺纹孔15，将限位螺钉穿设螺纹孔15，可以将限位螺钉设置于测试支架10上，通过转动限位螺钉，可以调节限位螺钉相对螺纹孔15的高度，进而可以调节限位螺钉在测试支架10上上下升降。如此设置，不仅可以轻松实现功率器件200的上下升降，而且还可以简化测试装置100的结构，降低测试装置100的生产成本。

结合图3和图4所示，测试支架10包括主板部13、侧板部16和连接板部17，侧板部16设置于主板部13的至少一侧，并且向下延伸设置，连接板部17设置于侧板部16远离主板部13的一端，连接板部17在侧板部16朝向主板部13的一侧延伸设置，并且与主板部13相互平行，螺纹孔15设置于连接板部17。具体地，测试支架10中除主板部13之外，还包括侧板部16和连接板部17，侧板部16设置于主板部13的至少一侧，并且向下延伸设置，可以对主板部13提供支撑作用，可以保证主板部13的结构稳定性，以用于对功率器件200进行测试。

进一步地，连接板部17设置于侧板部16远离主板部13的一端，可以使连接板部17与主板部13之间组成一定的空间，用于放置功率器件200。连接板部17在侧板部16朝向主板部13的一侧延伸设置，并且与主板部13相互平行，这样可以为螺纹孔15提供稳定可靠的设置位置，可以保证限位螺钉安装于连接板部17时的结构可靠性。螺纹孔15设置于连接板部17，这样在限位螺钉与螺纹孔15螺纹配合时，可以使限位螺钉的一端垂直朝向主板部13，以限定限位螺钉沿垂直与主板部13的方向升降，这样可以保证限位螺钉驱动功率器件200朝向测试区域132平顺移动，以提升测试装置100的操作便利性。

结合图3和图4所示，连接板部17为两个，两个连接板部17分别设置于主板部13的两侧，并且相对设置，每个连接板部17上设置有至少一个限位螺钉。具体地，侧板部16在主板部13的两侧均有设置，并且两个侧板部16向下延伸的尺寸相等。这样可以保证主板部13两侧的两个连接板部17均处于同一平面。每个连接板部17上设置有至少一个限位螺钉，以在主板部13的两侧下方均设置有高度调节件20，这样在功率器件200设置于测试装置100中时，主板部13两侧的高度调节件20可以同时升降，以驱动功率器件200平稳移动，如此设置，不仅可以保证功率器件200在测试装置100中的结构稳定性，而且还可以保证功率器件200的上端与加厚凸出部14的底部平行接触，以保证功率器件200与测试线采样点111的接触可靠性，从而可以提高测试装置100对功率器件200的测试准确度。另需说明的是，限位螺钉的数量可以根据安装有待测功率器件200的系统板体30的底面尺寸进行设置，以保证限位螺钉升降时，可以驱动系统板体30平稳移动，这样有利于提升测试装置100装置的系统稳定性。

在本发明的实施例中，主板部13的长度略大于系统板体30的长度，以保证系统板体30可以全部放置于测试装置100中，进而可以使功率器件200与测试线的采样点111接触。连接板部17在上下方向上的尺寸可以根据功率器件200在测试装置100中的位置进行设计。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“周向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种功率器件的测试装置，其特征在于，包括：

测试支架，所述测试支架设置有测试件；

高度调节件，所述高度调节件可升降地设置于所述测试支架，所述高度调节件位于所述测试件的下方，并且与所述测试件相互间隔，所述高度调节件和所述测试件之间用于放置待测试的功率器件，所述高度调节件选择性地驱动所述功率器件与所述测试件相接触，以使所述测试件测试所述功率器件。

2.根据权利要求1所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试支架上设置有测试孔，所述测试件为测试线，所述测试线设置于所述测试孔内，所述高度调节件选择性地驱动所述功率器件与所述测试孔的底部贴合，以使所述测试线的采样点与所述功率器件相接触。

3.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试孔为多个，多个所述测试孔在所述测试支架上间隔设置，所述测试线为多个，多个所述测试线与多个所述测试孔一一对应。

4.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试线粘接设置于所述测试孔内。

5.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试支架包括主板部和加厚凸出部，所述加厚凸出部设置于所述主板部，并且相对所述主板部向下凸出设置，所述测试孔设置于所述加厚凸出部，所述测试线的采样点位于所述加厚凸出部的底部。

6.根据权利要求5所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述主板部包括避让区域和测试区域，所述加厚凸出部设置于所述测试区域，所述避让区域的底部表面与所述加厚凸出部的底部表面在上下方向上相互间隔。

7.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述避让区域的至少部分开设有避让通孔。

8.根据权利要求5所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述高度调节件为限位螺钉，所述测试支架上设置有螺纹孔，所述限位螺钉与所述螺纹孔螺纹配合，以上下升降。

9.根据权利要求8所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述测试支架包括所述主板部、侧板部和连接板部，所述侧板部设置于所述主板部的至少一侧，并且向下延伸设置，所述连接板部设置于所述侧板部远离所述主板部的一端，所述连接板部在所述侧板部朝向所述主板部的一侧延伸设置，并且与所述主板部相互平行，所述螺纹孔设置于所述连接板部。

10.根据权利要求9所述的功率器件的测试装置，其特征在于，所述连接板部为两个，两个所述连接板部分别设置于所述主板部的两侧，并且相对设置，每个所述连接板部上设置有至少一个所述限位螺钉。