CN117368808A - 霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供了一种霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质，涉及数据标定领域，标定装置主机、铜排、一排测试位以及一排测试探头组、测试托盘以及托盘移动机构，铜排与主机中数控电流源的输出连接，以产生所需要的测量磁场，测试位排设置在铜排上方的预设距离处，每个测试位与一排测试探头组中的一个对应，一排测试探头组受主机控制，与测试位排对应，测试托盘设置有用于固定放置霍尔器件的若干排固定位，托盘移动机构，用于固定整个测试托盘、并在主机的控制下移动、将测试托盘的一排测试位上放置的待标定霍尔传感器，送入到测试位排上进行参数标定。实现批量对霍尔传感器进行标定，并且可以适应不同用户的标定需求。

Description

霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质

技术领域

本发明涉及数据标定领域，具体而言，涉及一种霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质。

背景技术

霍尔传感器在使用时需要进行工作状态的设置，为此，出现了可编程的霍尔传感器以便客户根据自己的实际需要进行设置。

由于目前还没有能够根据用户需求对霍尔传感器工作参数进行批量标定的设备，客户需要根据实际需求逐一通过相应的设置接口将霍尔传感器设置到所需要的状态，这在需要对批量设置时，将耗时耗力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质，能够提高对霍尔传感器标定的效率。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种霍尔传感器的标定装置，所述标定装置包括：主机、铜排、一排测试位以及一排测试探头组、测试托盘以及托盘移动机构；

所述铜排与主机中数控电流源的输出连接，以产生所需要的测量磁场；

测试位排设置在所述铜排上方的预设距离处，每个测试位与所述一排测试探头组中的一个对应，所述一排测试探头组受所述主机控制；

与所述测试位排对应，所述测试托盘设置有用于固定放置霍尔器件的若干排固定位；

所述托盘移动机构，用于固定整个测试托盘、并在主机的控制下移动、将测试托盘的一排测试位上放置的待标定霍尔传感器，送入到所述测试位排上进行参数标定。

可选的，所述主机包括：主控单元和数控电流源电路；

所述主控单元和所述数控电流源连接；

所述主控单元用于，接收到用户输入的待标定的霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标；基于所述工作环境参数确定控制参数，并基于所述控制参数控制所述数控电流源向铜排输出对应的电流，以产生所需要的测量磁场。

可选的，所述主控单元还用于：检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于所述输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下，是否满足所述性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足所述性能指标要求。

可选的，每个所述测试探头包括：第一组探针、第二组探针以及第三组探针；所述第一组探针与所述数控电流源的一端连接，用于向待标定霍尔传感器施加激励电流；所述第二组探针用于获取所述待标定霍尔传感器的输出参数；所述第三组探针用于向所述待标定霍尔传感器写入目标标定参数。

第二方面，本申请实施例提供了一种霍尔传感器的标定方法，所述方法包括：

接收输入的待标定霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标要求；

基于所述工作环境参数确定第一电流，控制所述铜排移动到测试位排下方并向所述铜排输出第一电流，以产生所述工作环境参数；

在测试托盘上放置各待标定霍尔传感器后，控制所述测试托盘移动以将测试托盘上的待标定霍尔传感器逐行移动至对应的测试位排以完成参数标定，当前行中各待标定霍尔传感器各自占据一个测试位；所述测试托盘中所有的待标定霍尔传感器完成参数标定后整个参数标定过程结束；

完成当前行中各待标定霍尔传感器的参数标定，包括：

针对所述测试位排的每个测试位，控制所述测试位上对应的测试探头分别与对应的待标定霍尔传感器接触；检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于所述输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下是否满足所述性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足所述性能指标要求。

可选的，所述向所述铜排输出第一电流，以达到待标定霍尔传感器的工作环境参数的步骤，包括：

所述向所述铜排输出第一电流，以达到待标定霍尔传感器的工作环境参数的步骤，包括：

向所述铜排输出第一电流后，获取在测试位产生的磁场强度作为当前测量磁场强度；

将所述当前测量磁场强度与所述工作环境参数中的目标测量磁场强度进行比较，基于比较结果调整所述第一电流，直至当前测量磁场强度与所述目标测量磁场强度相同。

在可选的实施方式中，所述调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，包括：对待标定霍尔传感器增益进行调整，对待标定霍尔传感器的延时进行调整，对待标定霍尔传感器的零点偏移Offset。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述霍尔传感器的标定方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现所述霍尔传感器的标定方法。

本申请具有以下有益效果：

本申请通过对霍尔传感器的标定装置进行设计，标定装置主机、铜排、一排测试位以及一排测试探头组、测试托盘以及托盘移动机构，铜排与主机中数控电流源的输出连接，以产生所需要的测量磁场，测试位排设置在铜排上方的预设距离处，每个测试位与一排测试探头组中的一个对应，一排测试探头组受主机控制，与测试位排对应，测试托盘设置有用于固定放置霍尔器件的若干排固定位，托盘移动机构，用于固定整个测试托盘、并在主机的控制下移动、将测试托盘的一排测试位上放置的待标定霍尔传感器，送入到测试位排上进行参数标定。实现批量对霍尔传感器进行标定，并且可以适应不同用户的标定需求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的一种霍尔传感器的标定装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种霍尔传感器的标定方法的流程图之一；

图3为本发明实施例提供的电子设备的方框示意图；

图4为本发明实施例提供的一种霍尔传感器的标定方法的流程图之二；

图5为本发明实施例提供的一种霍尔传感器的标定方法的流程图之三；

图6为本发明实施例提供的一种霍尔传感器的标定装置的结构框图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

经过发明人大量研究发现，霍尔传感器在使用时需要进行工作状态的设置，为此，出现了可编程的霍尔传感器以便客户根据自己的实际需要进行设置。

由于目前还没有能够根据用户需求对霍尔传感器工作参数进行批量标定的设备，客户需要根据实际需求逐一通过相应的设置接口将霍尔传感器设置到所需要的状态，这在需要对批量设置时，将耗时耗力。

有鉴于对上述问题的发现，本实施例提供了一种霍尔传感器的标定装置、方法及存储介质，能够通过设计的霍尔传感器的标定装置，实现批量对霍尔传感器进行标定，并且可以适应不同用户的标定需求，下面对本实施例提供的方案进行详细阐述。

本实施例提供一种可以对资源进行获取的电子设备。在一种可能的实现方式中，所述电子设备可以为霍尔传感器的标定装置的主机。

请参照图3，图3是本申请实施例提供的电子设备100的结构示意图。所述电子设备100还可包括比图3中所示更多或者更少的组件，或者具有与图3所示不同的配置。图3中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

所述电子设备100包括霍尔传感器的标定装置110、存储器120及处理器130。

所述存储器120及处理器130各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述霍尔传感器的标定装置110包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述存储器120中或固化在所述电子设备100的操作系统(operating system，OS)中的软件功能模块。所述处理器130用于执行所述存储器120中存储的可执行模块，例如所述霍尔传感器的标定装置110所包括的软件功能模块及计算机程序等。

其中，所述存储器120可以是，但不限于，随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EEPROM)等。其中，存储器120用于存储程序，所述处理器130在接收到执行指令后，执行所述程序。

请参照图1，为一种霍尔传感器的标定装置的结构示意图。

标定装置包括：铜排1、一排测试探头组2以及测试托盘3，标定装置还包括主机、一排测试位以及托盘移动机构；所述铜排与主机中数控电流源的输出连接，以产生所需要的测量磁场；测试位排设置在所述铜排上方的预设距离处，每个测试位与所述一排测试探头组中的一个对应，所述一排测试探头组受所述主机控制；与所述测试位排对应，所述测试托盘设置有用于固定放置霍尔器件的若干排固定位；所述托盘移动机构，用于固定整个测试托盘、并在主机的控制下移动、将测试托盘的一排测试位上放置的待标定霍尔传感器，送入到所述测试位排上进行参数标定。

主机包括：主控单元和数控电流源电路，主控单元和数控电流源连接，主控单元用于，接收到用户输入的待标定的霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标，基于所述工作环境参数确定控制参数，并基于所述控制参数控制所述数控电流源向铜排输出对应的电流，以产生所需要的测量磁场。所述主控单元还用于：检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下，是否满足性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足性能指标要求。

每个所述测试探头包括：第一组探针、第二组探针以及第三组探针；所述第一组探针与所述数控电流源的一端连接，用于向待标定霍尔传感器施加激励电流；所述第二组探针用于获取所述待标定霍尔传感器的输出参数；所述第三组探针用于向所述待标定霍尔传感器写入目标标定参数。

在对待标定霍尔传感器进行标定时，可以基于测试托盘，将各待标定霍尔传感器排布为多行多列，基于托盘每次对一行或者一列的霍尔传感器进行标定，在测试托盘中的所有待标定霍尔传感器均标定完成后，将托盘中的标定好的霍尔传感器取下，重新将其他待标定霍尔传感器放置在测试托盘中，并进行标定处理。

在对待标定霍尔传感器标定的过程中，在主机接收输入装置输入待标定霍尔传感器的工作环境参数和性能指标，由主机基于工作环境参数确定出施加至铜排的第一电流，控制测试托盘回退到最外侧，在测试托盘上依次放满待标定霍尔传感器，控制测试托盘向一排测试位方向移动，将测试托盘中的第一行或者第一列，即靠近测试位的行或者列的待标定霍尔传感器分别移动到对应的测试位，并控制铜排伸入到测试位下方，控制每个测试位上方的测试探头下压，测试探头中的第一组探针、第二组探针以及第三组探针分别与待标定霍尔传感器对应的引脚接触。控制第一组探针向待标定霍尔传感器施加电流，控制数控电流源向铜排输出第一电流，以使产生的测量磁场强度满足待标定霍尔所要的工作环境参数，基于第三组探针将标定参数写入待标定霍尔传感器，并在当前测量磁场强度下，基于第二组探针获取待标定霍尔传感器的输出参数，并通过判断输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下是否满足性能指标要求，在满足时，则完成对待标定霍尔传感器的标定，在不满足时，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足性能指标要求，对待标定霍尔传感器的标定参数调整的方式可以为：对待标定霍尔传感器的信号放大电路的放大倍数进行调整。

请参照图2，图2为应用于图3的电子设备100的一种霍尔传感器的标定方法的流程图，以下将方法包括各个步骤进行详细阐述。

S201：接收输入的待标定霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标要求。

S202：基于工作环境参数确定第一电流，控制铜排移动到测试位排下方并向铜排输出第一电流，以产生工作环境参数。

S203：在测试托盘上放置各待标定霍尔传感器后，控制测试托盘移动以将测试托盘上的待标定霍尔传感器逐行移动至对应的测试位排以完成参数标定，当前行中各待标定霍尔传感器各自占据一个测试位，测试托盘中所有的待标定霍尔传感器完成参数标定后整个参数标定过程结束。

完成当前行中各待标定霍尔传感器的参数标定，包括：

针对测试位排的每个测试位，控制测试位上对应的测试探头分别与对应的待标定霍尔传感器接触；检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下是否满足性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足性能指标要求示例性的，客户如果要求其定制的霍尔传感器在出厂时工作环境参数为：在其工作电流小于0.1A，工作电压为5V时的前提下，其在2A/m其有效信号应该大于3v，对应的标定过程，在输入装置输入待标定霍尔传感器中设定的工作环境参数和性能指标要求，其中，工作环境参数包括工作电流、工作电压、磁场大小，即将工作电流设置为1A，工作电压对应设置为5V，磁场大小设置为2A/m，OFFset对应的磁场设置为0，性能指标要求可以为期望电压，期望电压设置大于3V，在测试托盘中放置各待标定霍尔传感器，并控制测试托盘逐行或者逐列将待标定霍尔传感器移动至测试位排，通过控制铜排的移动，并向铜排输入第一电流，使得铜排可以产生工作环境参数对应的测量磁场，控制各测试位上的测试探头与待标定霍尔传感器对应的引脚接触，通过第二组探针获取待标定霍尔传感器的输出参数，基于输出参数判断确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下是否满足性能指标要求，若是，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足性能指标要求，则需要调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足性能指标要求。

逐行或者逐列对待标定霍尔传感器进行标定，从而实现对霍尔传感器的批量标定，提高标定效率。

向铜排输出第一电流，以达到待标定霍尔传感器所要达到的工作环境参数的实现方式有多种，在一种实现方式中，如图4所示，包括以下步骤：

S301：向铜排输出第一电流后，获取在测试位产生的磁场强度作为当前测量磁场强度。

S302：将当前测量磁场强度与工作环境参数中的目标测量磁场强度进行比较，基于比较结果调整第一电流，直至当前测量磁场强度与目标测量磁场强度相同。

在向铜排输出第一电流后，产生当前测量磁场强度，为了满足客户的需求，需要将当前测量磁场强度与工作环境参数的目标测量磁场强度进行比较，在当前测量磁场强度小于目标测量磁场强度时，可以基于当前测量磁场强度与目标测量磁场强度的差值，确定差值的第一调整量，从而基于第一调整量增大第一电流。在当前测量磁场强度大于目标测量磁场强度时，基于当前测量磁场强度与目标测量磁场强度的差值确定第二调整量，从而基于第二调整量减小第一电流，从而实现当前测量磁场强度可以满足客户的需求。

调整当前待标定霍尔传感器的标定参数的方式可以通过以下方式进行调整，示例性的，可以对待标定霍尔传感器增益进行调整，可以对待标定霍尔传感器的延时进行调整，可以对待标定霍尔传感器的零点偏移Offset。

为了提高对待标定霍尔传感器标定的准确性，如图5所示，包括以下步骤：

S401：针对每个写入目标标定参数的待标定霍尔传感器，获取该待标定霍尔传感器的多个输出参数。

S402：在多个输出参数均满足性能指标要求时，则确定写入目标标定参数的待标定霍尔传感器的标定完成。

示例性的，针对每个写入目标标定参数的待标定霍尔传感器，在写入目标标定参数的待标定霍尔传感器的为第一霍尔传感器时，按照预设周期获取第一霍尔传感器的多个输出参数，在预设周期为2s时，获取第一霍尔传感器在0s的输出参数，在2s的输出参数以及在4s的输出参数，分别判断各输出参数是否满足性能指标参数，在满足时，表明标定后的第一霍尔传感器满足用户的需求，即完成第一霍尔传感器的标定。在不满足时，可以重新对第一霍尔传感器进行标定。

请参照图6，本申请实施例还提供了一种应用于图3所述电子设备100的霍尔传感器的标定装置110，所述霍尔传感器的标定装置110包括：

接收模块111，用于接收输入的待标定霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标要求；

控制模块112，用于基于所述工作环境参数确定第一电流，控制所述铜排移动到测试位排下方并向所述铜排输出第一电流，以产生所述工作环境参数；

标定模块113，用于在测试托盘上放置各待标定霍尔传感器后，控制所述测试托盘移动以将测试托盘上的待标定霍尔传感器逐行移动至对应的测试位排以完成参数标定，当前行中各待标定霍尔传感器各自占据一个测试位；所述测试托盘中所有的待标定霍尔传感器完成参数标定后整个参数标定过程结束。

本申请还提供一种电子设备100，电子设备100包括处理器130以及存储器120。存储器120存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令被处理器130执行时，实现该霍尔传感器的标定方法。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器130执行时，实现该霍尔传感器的标定方法。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述，仅为本申请的各种实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种霍尔传感器的标定装置，其特征在于，所述标定装置包括：主机、铜排、一排测试位以及一排测试探头组、测试托盘以及托盘移动机构；

所述铜排与主机中数控电流源的输出连接，以产生所需要的测量磁场；

测试位排设置在所述铜排上方的预设距离处，每个测试位与所述一排测试探头组中的一个对应，所述一排测试探头组受所述主机控制；

与所述测试位排对应，所述测试托盘设置有用于固定放置霍尔器件的若干排固定位；

所述托盘移动机构，用于固定整个测试托盘、并在主机的控制下移动、将测试托盘的一排测试位上放置的待标定霍尔传感器，送入到所述测试位排上进行参数标定。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主机包括：主控单元和数控电流源电路；

所述主控单元和所述数控电流源连接；

所述主控单元用于，接收到用户输入的待标定的霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标；基于所述工作环境参数确定控制参数，并基于所述控制参数控制所述数控电流源向铜排输出对应的电流，以产生所需要的测量磁场。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述主控单元还用于：检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于所述输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下，是否满足所述性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足所述性能指标要求。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

每个所述测试探头包括：第一组探针、第二组探针以及第三组探针；

所述第一组探针与所述数控电流源的一端连接，用于向待标定霍尔传感器施加激励电流；

所述第二组探针用于获取所述待标定霍尔传感器的输出参数；

所述第三组探针用于向所述待标定霍尔传感器写入目标标定参数。

5.一种霍尔传感器的标定方法，应用于所述权利要求1-4任一项所述霍尔传感器的标定装置的主机，其特征在于，所述方法包括：

接收输入的待标定霍尔传感器的工作环境参数以及对应的性能指标要求；

基于所述工作环境参数确定第一电流，控制所述铜排移动到测试位排下方并向所述铜排输出第一电流，以产生所述工作环境参数；

在测试托盘上放置各待标定霍尔传感器后，控制所述测试托盘移动以将测试托盘上的待标定霍尔传感器逐行移动至对应的测试位排以完成参数标定，当前行中各待标定霍尔传感器各自占据一个测试位；所述测试托盘中所有的待标定霍尔传感器完成参数标定后整个参数标定过程结束；

完成当前行中各待标定霍尔传感器的参数标定，包括：

针对所述测试位排的每个测试位，控制所述测试位上对应的测试探头分别与对应的待标定霍尔传感器接触；检测当前待标定霍尔传感器的输出参数；基于所述输出参数确定当前待标定霍尔传感器在当前写入的标定参数下是否满足所述性能指标要求，若满足，则完成当前待标定霍尔传感器的参数标定工作，若不满足，则调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，直至当前待标定霍尔传感器满足所述性能指标要求。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述向所述铜排输出第一电流，以达到待标定霍尔传感器的工作环境参数的步骤，包括：

向所述铜排输出第一电流后，获取在测试位产生的磁场强度作为当前测量磁场强度；

将所述当前测量磁场强度与所述工作环境参数中的目标测量磁场强度进行比较，基于比较结果调整所述第一电流，直至当前测量磁场强度与所述目标测量磁场强度相同。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述调整当前待标定霍尔传感器的标定参数，包括：对待标定霍尔传感器增益进行调整，对待标定霍尔传感器的延时进行调整，对待标定霍尔传感器的零点偏移Offset。

8.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时，实现权利要求5-7中任一项所述的霍尔传感器的标定方法。