CN111928997A - 压力传感器的测试方法、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种压力传感器的测试方法、装置以及存储介质，压力传感器的测试方法包括：在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，第一预设压力值大于常压；获取压力冲击测试后待测压力传感器的第一性能参数；若第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对待测压力传感器进行压力测试，以确定待测压力传感器的性能信息，第二预设压力值小于常压。本发明压力传感器的复测过程包括高压以及低压复测，提高复测的准确度。
Description
技术领域
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种压力传感器的测试方法、装置及存储介质。
背景技术
随着科技的进步，防水气压传感器产品在智能穿戴方面得到了广泛应用，为了保证产品性能，在对压力传感器进行压力测试后，对传感器进行性能的复测，在复测时往往对压力传感器进行压力冲击测试，该测试方式仅能对高压下的性能进行复测，复测结果不够准确。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种压力传感器的测试方法、装置及存储介质，旨在提高压力传感器复测的准确度。
为实现上述目的，本发明提供一种压力传感器的测试方法，所述压力传感器的测试方法包括：
在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；
获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。
可选地，所述在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以得到测试结果的步骤包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第一预设时长内降至所述第二压力值；
维持所述第二压力值第二预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第三预设时长内升至常压；
获取所述待测压力传感器在常温下检测到的第二性能参数；
获取所述第二性能参数与标准性能参数的差值；
根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息。
可选地，所述根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息的步骤包括：
在所述差值处于预设范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常；
在所述差值处于预设范围外时，确定所述待测压力传感器的性能异常。
可选地，所述第二性能参数为所述待测压力传感器检测到的压力值以及温度值。
可选地，所述第二预设压力值为30kpa，所述第一预设压力值为5ATM。
可选地，所述第一性能参数包括所述待测压力传感器检测到的压力值以及所述待测压力传感器检测到的温度值，所述第一预设条件包括：
所述待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在第一预设差值范围内；
所述待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值之间的差值在第二预设差值范围内。
可选地，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤之后，所述压力传感器的测试方法还包括：
判断所述待测压力传感器通信连接是否正常；
在所述待测压力传感器通信连接正常时，读取所述待测压力传感器中的压力检测程序；
在所述压力检测程序读取正常时，执行所述获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数的步骤。
可选地，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第四预设时长内升至所述第一压力值；
维持所述第二压力值第五预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第六预设时长降至常压。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种压力传感器的测试装置，所述第一终端包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被所述处理器执行如以上所述的压力传感器的测试方法。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被处理器执行时实现如以上所述的压力传感器的测试方法的步骤。
本发明提出的压力传感器的测试方法、装置及存储介质，在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，并在获取压力冲击测试后待测压力传感器的第一性能参数，若第一性能参数满足第一预设条件，说明压力传感器的高压性能正常；则在常温以及小于常压的第二预设压力值的环境下对压力传感器进行压力测试，以对待测压力传感器的性能信息进行低压复测，在低压复测正常时，说明压力传感器正常，该压力传感器的复测过程包括高压以及低压复测，提高复测的准确度。
附图说明
图1为本发明压力传感器的测试方法涉及的终端设备的硬件架构示意图；
图2为本发明压力传感器的测试方法的示例性实施例一的流程示意图；
图3为本发明压力传感器的测试方法的示例性实施例二的流程示意图。
本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图1，图1为本发明压力传感器的测试方法涉及的终端设备的硬件架构示意图。
如图1所示，本实施例涉及的终端设备可为PC机，本实施例中的终端设备包括存储器110、处理器120以及通信模块130，存储器110可存储压力传感器的测试程序以及控制系统。
本实施例中的通信模块130可包括WIFI模块或蓝牙模块等无线通信模块；或者通信模块130可为有线通信模块如RS485接口。
在本实施例中的终端设备为第一终端时，存储器110中的压力传感器的测试程序被处理器120执行时实现以下步骤：
在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试；
获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。
实施例一
参照图2，图2为本发明压力传感器的测试方法的示例性实施例一的流程示意图，在本实施例中，所述压力传感器的测试方法包括：
步骤S10，在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；
步骤S20，获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
步骤S30，若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。
在本实施例中，第一预设压力值可为5ATM，第二预设压力值小于常压，可为30kpa；可设置一检测腔，待测压力传感器位于该检测腔内，通过调整检测腔内的温度以及压力即可进行压力测试以及压力冲击测试。可以理解的是，在第一性能参数不满足第一预设条件时，判定待测压力传感器的性能异常。
本实施例中，在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第四预设时长内升至所述第一压力值；
维持所述第二压力值第五预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第六预设时长降至常压。
本实施例中的第四预设时长、第五预设时长以及第六预设时长可相等也可不等；该第四预设时长、第五预设时长以及第六预设时长可为5s，即第四预设时长、第五预设时长以及第六预设时长相等。第一预设条件可包括：所述待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在第一预设差值范围内；所述待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值之间的差值在第二预设差值范围内。
在本实施例中，步骤S30包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第一预设时长内降至所述第二压力值；
维持所述第二压力值第二预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第三预设时长内升至常压；
获取所述待测压力传感器在常温下检测到的第二性能参数；
获取所述第二性能参数与标准性能参数的差值；
根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息。
在本实施例中，第二预设压力值可为30Kpa，在将压力传感器所在环境的压力降至第二压力值之前该待测试压力传感器所在的环境可为常压，即在压力测试完成时，待测试压力传感器所在环境为常压。本实施例中，该第一预设时长、第二预设时长以及所述第三预设时长可相同也可不同，第一预设时长可为2s，第二预设时长可为5s，第三预设时长可为2s，即第一预设时长与所述第三预设时长可相等，第二预设时长可大于第一预设时长和第三预设时长。
所述根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息的步骤包括：
在所述差值处于预设范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常；
在所述差值处于预设范围外时，确定所述待测压力传感器的性能异常。
本实施例中，所述第二性能参数为所述待测压力传感器检测到的压力值以及温度值，标准性能参数包括标准温度值以及标准压力值，预设范围为[-90pa，90pa]以及[-3℃,+3℃]，即在待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值的差值在[-3℃,+3℃]内时以及待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在[-90pa，90pa]范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常。本实施例中，标准性能参数为标准样品在常压以及常温下读取到的性能参数，即标准样品在常压以及常温下读取到的压力值以及温度值，该标准药品为多个待测压力传感器经过压力检测后，精度最高的压力传感器，即在常压以及常温下读取的压力值与常温常压差值最小的压力传感器。
本实施例提出的压力传感器的测试方法，在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，并在获取压力冲击测试后待测压力传感器的第一性能参数，若第一性能参数满足第一预设条件，说明压力传感器的高压性能正常；则在常温以及小于常压的第二预设压力值的环境下对压力传感器进行压力测试，以对待测压力传感器的性能信息进行低压复测，在低压复测正常时，说明压力传感器正常，该压力传感器的复测过程包括高压以及低压复测，提高复测的准确度。
实施例二
在实施例一的基础上提出本申请实施例二，参照图3，在本实施例中在本实施例中压力传感器的测试方法包括：
步骤S10，在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；
步骤S40，判断所述待测压力传感器通信连接是否正常；
步骤S50，在所述待测压力传感器通信连接正常时，读取所述待测压力传感器中的压力检测程序；
步骤S60，在所述压力检测程序读取正常时，获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
步骤S30，若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。
在本实施例中，第一预设条件包括：
所述待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在第一预设差值范围内；
所述待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值之间的差值在第二预设差值范围内。
在本实施例中，待测压力传感器的通信是否正常可通过向压力传感器发送信息，并确定是否接受到待测压力传感器返回的信息来确定通信接口是否异常；也可通过待测压力传感器与检测终端的通信接口得连接状态来确定通信是否正常，该压力传感器的测试方法运行于检测终端中。可以理解的是，在在所述待测压力传感器通信连接异常或者在所述压力检测程序读取异常时，判定待测压力传感器的性能异常。
本实施例中可在待测压力传感器的预设存储空间中读取压力检测程序，在读取的数据为空或者读取失败时，说明待测压力传感器中不存在压力检测程序或者压力检测程序异常，在压力检测程序读取异常时，无法进行后续的检测。
本实施例公开的待测压力传感器的测试方法，在压力冲击测试后，先确定压力传感器的通信以及程序正常，才根据读取的压力值以及温度值确定待测压力传感器是否异常，进一步提高压力测试的准确性。
本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有第二终端的压力传感器的测试程序，所述第二终端的压力传感器的测试程序被处理器执行时实现如以上任一项所述的压力传感器的测试方法的步骤。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，被控终端，或者网络设备等)执行本发明每个实施例的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种压力传感器的测试方法，其特征在于，所述压力传感器的测试方法包括：
在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；
获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。
2.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以得到测试结果的步骤包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第一预设时长内降至所述第二压力值；
维持所述第二压力值第二预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第三预设时长内升至常压；
获取所述待测压力传感器在常温下检测到的第二性能参数；
获取所述第二性能参数与标准性能参数的差值；
根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息。
3.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息的步骤包括：
在所述差值处于预设范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常；
在所述差值处于预设范围外时，确定所述待测压力传感器的性能异常。
4.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二性能参数为所述待测压力传感器检测到的压力值以及温度值。
5.如权利要求1-3任一项所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二预设压力值为30kpa，所述第一预设压力值为5ATM。
6.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第一性能参数包括所述待测压力传感器检测到的压力值以及所述待测压力传感器检测到的温度值，所述第一预设条件包括：
所述待测压力传感器检测到的压力值与标准压力值之间的差值在第一预设差值范围内；
所述待测压力传感器检测到的温度值与标准温度值之间的差值在第二预设差值范围内。
7.如权利要求6所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤之后，所述压力传感器的测试方法还包括：
判断所述待测压力传感器通信连接是否正常；
在所述待测压力传感器通信连接正常时，读取所述待测压力传感器中的压力检测程序；
在所述压力检测程序读取正常时，执行所述获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数的步骤。
8.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试的步骤包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第四预设时长内升至所述第一压力值；
维持所述第二压力值第五预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第六预设时长降至常压。
9.一种压力传感器的测试装置，其特征在于，所述压力传感器的测试装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被所述处理器执行如权利要求1-8中任一项所述的压力传感器的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有压力传感器的测试程序，所述待测压力传感器的测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的压力传感器的测试方法的步骤。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20201113 |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |