CN117353842A - 多路多方向针状射频口测试平台 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种多路多方向针状射频口测试平台，涉及测试设备技术领域，解决了现有技术中缺少一种专门用来测试具有针状射频口的TR组件的夹具的技术问题。该装置包括夹具平台和射频插接组，其中，所述射频插接组的个数为多个，所述射频插接组均安装在所述夹具平台上，所述夹具平台上设置有待测件放置区，所述射频插接组在所述待测件放置区上的分布与针状射频口在待测件上的分布相对应；在驱动力的作用下，所述射频插接组与所述待测件发生相对移动，能使所有射频插接与对应的所述针状射频口相连接或分开。

Description

多路多方向针状射频口测试平台

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，尤其是涉及一种多路多方向针状射频口测试平台。

背景技术

随着TR组件的小型化发展、用量的增加，相对应的TR组件性能测试要求也越来越严谨、繁琐，需要大量的人力去进行测试和调试。

目前TR组件在进行测试时，需要将TR组件上的针状射频口与转接器以插孔形式相插接。由于每个TR组件上的针状射频口个数以及位置不相同，每次都是需要工作人员将对应数量的转接器一个个地插接到TR组件上的针状射频口上，费时费力。

本申请人发现现有技术至少存在以下技术问题：

在现有技术中，缺少一种专门用来测试具有针状射频口的TR组件的夹具。

发明内容

本发明的目的在于提供多路多方向针状射频口测试平台，以解决现有技术中缺少一种专门用来测试具有针状射频口的TR组件的夹具的技术问题。本发明提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。

为实现上述目的，本发明提供了以下技术方案：

本发明提供的一种多路多方向针状射频口测试平台，包括夹具平台和射频插接组，其中，所述射频插接组的个数为多个，所述射频插接组均安装在所述夹具平台上，所述夹具平台上设置有待测件放置区，所述射频插接组在所述待测件放置区上的分布与针状射频口在待测件上的分布相对应；

在驱动力的作用下，所述射频插接组与所述待测件发生相对移动，能使所有射频插接与对应的所述针状射频口相连接或分开。

可选地，所述射频插接组包括探测头、第一射频接头、第二射频接头和电缆，所述探测头与所述第一射频接头可拆卸连接，所述第一射频接头和所述第二射频接头通过所述电缆相连接，所述探测头与所述针状射频口插接连接；

所述探测头内设置有连接孔，所述连接孔的端口设置为锥形口。

可选地，所述夹具平台为旋转式夹具，所述旋转式夹具包括旋转盘、固定盘、转动件、第一测试模组和第一压紧结构，所述旋转盘和所述固定盘两者的中心通过所述转动件转动连接，所述射频插接组安装在所述第一测试模组内，所述第一测试模组的个数为多个，所述第一测试模组与所述固定盘滑动连接且所述第一测试模组与所述旋转盘滑动连接，所述固定盘的顶部中心为所述待测件放置区，所有所述第一测试模组沿所述待测件放置区的周向方向分布，所述第一压紧结构安装在所述固定盘上；

旋转所述旋转盘，所述第一测试模组在所述旋转盘的推动下能沿所述固定盘的径向方向移动。

可选地，所述第一测试模组包括壳体、第一导轨和导向插销，所述第一导轨和所述导向插销均与所述壳体的下端相连接，所述壳体内部设置有中空腔体、第一贯穿孔和第二贯穿孔，所述第一贯穿孔和所述第二贯穿孔分别位于所述中空腔体的两侧，所述第二射频接头和所述电缆均位于所述中空腔体内，所述第二射频接头与所述中空腔体性连接且所述第二射频接头的端头伸入到所述第一贯穿孔内，所述探测头的端头伸入到所述第一贯穿孔内且所述探测头与所述第一贯穿孔之间存在浮动空间，所述第一射频接头的端头伸入到所述第二贯穿孔内且所述第一射频接头与所述壳体相连接。

可选地，所述旋转盘上设置有弧形槽，所述固定盘上设置有径向槽，所述径向槽上设置有通口和第二导轨，所述弧形槽、所述径向槽和所述第一测试模组的个数均一致，所述第一导轨与所述第二导轨滑动连接，所述导向插销的自由端穿过所述通口并伸入到所述弧形槽内。

可选地，所述夹具平台为移动式夹具，所述移动式夹具包括底座、U型活动板、推行结构、第二测试模组、第三测试模组、导轨座、支撑块和第二压紧结构，所述底座与所述U型活动板通过导轨滑动连接，所述推行结构的两端分别与所述底座与所述U型活动板相连接，所述支撑块连接在所述底座上并位于所述U型活动板内，所述第二压紧结构连接在所述支撑块上，所述支撑块上设置有所述待测件放置区，所述第二测试模组连接在所述U型活动板的底端，所述第三测试模组位于所述U型活动板的侧端且所述第三测试模组与所述U型活动板滑动连接，所述导轨座连接在所述底座上且所述第三测试模组与所述导轨座滑动连接，所述第二测试模组和所述第三测试模组均安装有所述射频插接组；

所述推行结构能推动所述U型活动板在所述底座移动，且所述第二测试模组和所述第三测试模组在所述U型活动板的移动下向靠近或远离所述支撑块的方移动。

可选地，所述U型活动板的两端上均设置有滑行轨槽，所述第三测试模组上的导向插销穿过所述滑行轨槽且所述导向插销与所述滑行轨槽滑动连接；

所述滑行轨槽上设置有倾斜段。

可选地，所述第二测试模组上连接有多个所述探测头。

可选地，所述夹具平台为固定式夹具，所述固定式夹具包括盒体和限制板，所述限制板与所述盒体的顶部相连接，所述限制板的个数为两个，两个所述限制板之间的区域为所述待测件放置区，所述射频插接组安装在所述盒体上。

可选地，所述盒体的顶部上设置有多个定位孔和螺纹孔，所述第一射频接头和所述电缆均位于所述盒体内，所述第一射频接头与所述盒体的顶部的内壁相连接且所述第一射频接头的端头伸入到所述定位孔内，所述探测头的端头伸入到所述定位孔内并与所述第一射频接头可拆卸连接，所述探测头与所述定位孔之间存在浮动空间；

所述盒体的侧壁上设置有多个连接槽，所述第二射频接头穿过所述连接槽且所述第二射频接头与所述盒体的侧壁相连接。

本发明提供的一种多路多方向针状射频口测试平台，在对待测件（即TR组件）进行测试时，需要先确认TR组件上的针状射频口的数量以及分布，然后选择对应数量和位置的夹具平台，之后可以先将TR组件放置在待测件放置区上，通过夹具平台自身的推力可以使得射频插接组从多个方向同步或依次插入到对应的针状射频口上，或者在TR组件在放入到待测件放置区的过程中，通过外力的作用，可以使得所有针状射频口插入到对应的射频插接组上，从而不需要工作人员一个个进行插接，节省了时间与劳动力，实现了多路对插连接，解决了现有技术中缺少一种专门用来测试具有针状射频口的TR组件的夹具的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的旋转式夹具的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的旋转式夹具的部分剖视图；

图3是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的第一测试模组的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的第一测试模组的剖视图；

图5是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的第一测试模组的另一角度的剖视图；

图6是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的探测头的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的探测头的剖视图；

图8是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的移动式夹具的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的U型活动板的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的固定式夹具的结构示意图；

图11是本发明实施例提供的一种多路多方向针状射频口测试平台的固定式夹具的部分剖视图。

图中1、射频插接组；11、探测头；111、连接孔；1111、锥形口；12、第一射频接头；13、第二射频接头；14、电缆；

2、旋转式夹具；21、旋转盘；211、弧形槽；22、固定盘；221、径向槽；2211、通口；2212、第二导轨；23、转动件；24、第一测试模组；241、壳体；2411、中空腔体；2412、第一贯穿孔；2413、第二贯穿孔；242、第一导轨；243、导向插销；25、第一压紧结构；

3、移动式夹具；31、底座；32、U型活动板；321、滑行轨槽；33、推行结构；34、第二测试模组；35、第三测试模组；36、导轨座；37、支撑块；38、第二压紧结构；

4、固定式夹具；41、盒体；411、定位孔；412、螺纹孔；413、连接槽；42、限制板；

5、待测件。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有说明，″多个″的含义是两个或两个以上；术语″上″、″下″、″左″、″右″、″内″、″外″、 ″前端″、″后端″、″头部″、″尾部″等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语″第一″、″第二″、″第三″等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语″安装″、″相连″、″连接″应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

本发明提供了一种多路多方向针状射频口测试平台，包括夹具平台和射频插接组1，其中，射频插接组1的个数为多个，射频插接组1均安装在夹具平台上，夹具平台上设置有待测件放置区，射频插接组1在待测件放置区上的分布与针状射频口在待测件5上的分布相对应；

在驱动力的作用下，射频插接组1与待测件5发生相对移动，能使所有射频插接与对应的针状射频口相连接或分开。本发明提供的一种多路多方向针状射频口测试平台，在对待测件5（即TR组件）进行测试时，需要先确认TR组件上的针状射频口的数量以及分布，然后选择对应数量和位置的夹具平台，之后可以先将TR组件放置在待测件放置区上，通过夹具平台自身的推力可以使得射频插接组1从多个方向同步或依次插入到对应的针状射频口上，或者在TR组件在放入到待测件放置区的过程中，通过外力的作用，可以使得所有针状射频口插入到对应的射频插接组1上，从而不需要工作人员一个个进行插接，节省了时间与劳动力，实现了多路对插连接，解决了现有技术中缺少一种专门用来测试具有针状射频口的TR组件的夹具的技术问题。

作为可选地实施方式，如图4和图5所示，射频插接组1包括探测头11、第一射频接头12、第二射频接头13和电缆14，探测头11与第一射频接头12可拆卸连接，可以方便更换探测头11，第一射频接头12和第二射频接头13通过电缆14相连接，探测头11与针状射频口插接连接，第一射频接头12可以与测试设备相连接；探测头11上设置有SMP-K射频接口，第一射频接头12上设置有SMP-J射频接口，第二射频接头13上设置有SMA射频接口。

如图6和图7所示，探测头11内设置有连接孔111，连接孔111的端口设置为锥形口1111。通过锥形口1111导向配合浮动空间可以实现针状射频口和连接孔111的盲插，配合夹具平台实现多路盲配，测试过程对待测件5零损伤，高效便捷，可重复性高。

整体测试平台通过机械结构设计实现多路同步或者分步进行对插，保证了对位的精度和容错率，通过一个简单的动作，实现多路机构的对插连接，省时省力。测试接口具有一定的导向、浮动结构，保证被测件不受到过大的轴向和侧向的力，避免损伤针状射频口（针体往往比较细，容易折弯和压变形）。

作为可选地实施方式，如图1和图2所示，夹具平台为旋转式夹具2，当待测件5的四周均有针状射频口时，可以选择旋转式夹具2，旋转式夹具2包括旋转盘21、固定盘22、转动件23、第一测试模组24和第一压紧结构25，旋转盘21和固定盘22两者的中心通过转动件23转动连接，转动件23可以为包括连接轴与轴承，射频插接组1安装在第一测试模组24内，第一测试模组24的个数为多个，第一测试模组24与固定盘22滑动连接且第一测试模组24与旋转盘21滑动连接，固定盘22的顶部中心为待测件放置区，所有第一测试模组24沿待测件放置区的周向方向分布，第一压紧结构25安装在固定盘22上；

旋转旋转盘21，第一测试模组24在旋转盘21的推动下能沿固定盘22的径向方向移动。当待测件5放入到待测件放置区后，转动第一压紧结构25，使得第一压紧结构25压住待测件5，从而避免待测件5活动，接着转动旋转盘21，第一测试模组24就会向固定盘22的径向方向移动，从而使得探测头11与针状射频口插接连接，即所有第一测试模组24可以同时与对应的针状射频口进行插接；当方向转动旋转盘21，探测头11就会与针状射频口分开，即所有第一测试模组24可以同时与对应的针状射频口分开接。

作为可选地实施方式，第一测试模组24包括壳体241、第一导轨242和导向插销243，第一导轨242和导向插销243均与壳体241的下端相连接，壳体241内部设置有中空腔体2411、第一贯穿孔2412和第二贯穿孔2413，第一贯穿孔2412和第二贯穿孔2413分别位于中空腔体2411的两侧，第二射频接头13和电缆14均位于中空腔体2411内，第二射频接头13与中空腔体2411性连接且第二射频接头13的端头伸入到第一贯穿孔2412内，探测头11的端头伸入到第一贯穿孔2412内且探测头11与第一贯穿孔2412之间存在浮动空间，使得探测头11具备一定的浮动空间，从而确保盲插时能够根据待测件5的针状射频口进行自动纠正对准，保护针状射频口，避免针状射频口受到较大外力损伤，实现多路盲插配合，第一射频接头12的端头伸入到第二贯穿孔2413内且第一射频接头12与壳体241相连接。

作为可选地实施方式，旋转盘21上设置有弧形槽211，固定盘22上设置有径向槽221，径向槽221上设置有通口2211和第二导轨2212，弧形槽211、径向槽221和第一测试模组24的个数均一致，第一导轨242与第二导轨2212滑动连接，第一导轨242与第二导轨2212会发生沿固定盘22的径向方向滑动，是为了对第一测试模组24的移动方向进行导向，导向插销243的自由端穿过通口2211并伸入到弧形槽211内。弧形槽211包括第一弧形段和第二弧形段，第一弧形段和第二弧形段相连通，第一弧形段的中心与旋转盘21的中心不同心，当导向插销243位于第一弧形段内时，随着旋转角度的不同，第一测试模组24距离旋转盘21的中心位置也不同；第二弧形段的中心与旋转盘21的中心同心，旋转盘21继续旋转时，第一测试模组24不运动并形成自锁，此时的第一测试模组24上的探测头11与针状射频口插接连接，外力拖曳旋转式夹具2，也不会影响第一测试模组24的位置。

第一压紧结构25包括弹簧组件、弹性头、压紧板手和传动架，通过转动压紧板手，传动架可以带动弹性头摆动，从而压住待测件5，弹簧组件会被压缩。

作为可选地实施方式，如图8所示，夹具平台为移动式夹具3，当待测件5的三侧面均有针状射频口时，可以选择移动式夹具3，移动式夹具3包括底座31、U型活动板32、推行结构33、第二测试模组34、第三测试模组35、导轨座36、支撑块37和第二压紧结构38，底座31与U型活动板32通过导轨滑动连接，推行结构33的两端分别与底座31与U型活动板32相连接，支撑块37连接在底座31上并位于U型活动板32内，第二压紧结构38连接在支撑块37上，支撑块37上设置有待测件放置区，第二测试模组34连接在U型活动板32的底端，第三测试模组35位于U型活动板32的侧端且第三测试模组35与U型活动板32滑动连接，导轨座36连接在底座31上且第三测试模组35与导轨座36滑动连接，第二测试模组34和第三测试模组35均安装有射频插接组1；

推行结构33能推动U型活动板32在底座31移动，且第二测试模组34和第三测试模组35在U型活动板32的移动下向靠近或远离支撑块37的方移动。当待测件5放入到待测件放置区后，转动第二压紧结构38，使得第二压紧结构38压住待测件5，从而避免待测件5活动，接着转动推行结构33，推行结构33会推动U型活动板32向前移动，从而会带动第二测试模组34向前移动，同时会带动第三测试模组35向U型活动板32的内侧移动，从而会使得第二测试模组34和两个第三测试模组35依次分别插入到对应的针状射频口；当反向转动推行结构33，第二测试模组34和两个第三测试模组35会相继远离待测件5。

作为可选地实施方式，U型活动板32的两端上均设置有滑行轨槽321，第三测试模组35上的导向插销243穿过滑行轨槽321且导向插销243与滑行轨槽321滑动连接，滑行轨槽321会相对导向插销243滑动，但第三测试模组35会在导轨座36的导向下进行滑动；

滑行轨槽321上设置有倾斜段、第一平直段和第二平直段，倾斜段的两端分别与第一平直段和第二平直段相连通，导向插销243在经过倾斜段时，可以使得第三测试模组35向靠近或远离待测件5的方向移动。两个滑行轨槽321上的倾斜段的位置不相同，可以使得两个第三测试模组35依次插接到待测件5上，不会同步插接。

作为可选地实施方式，第二测试模组34上连接有多个探测头11，第二测试模组34上也设置多个浮动孔，探测头11与浮动孔之间存在浮动空间，使得探测头11具备一定的浮动空间，从而确保盲插时能够根据待测件5的针状射频口进行自动纠正对准，保护针状射频口，避免针状射频口受到较大外力损伤，实现多路盲插配合。第三测试模组35与第一测试模组24的结构一致。第二压紧结构38与第一压紧结构25两者的结构一致。

作为可选地实施方式，如图10和图11所示，夹具平台为固定式夹具4，当所有针状射频口均在待测件5的一侧面时，可以选择固定式夹具4，固定式夹具4包括盒体41和限制板42，限制板42与盒体41的顶部相连接，限制板42的个数为两个，两个限制板42之间的区域为待测件放置区，两个限制板42用来限制待测件5的位置，射频插接组1安装在盒体41上。通过人手拿着待测件5或通过机器拿着待测件5，将待测件5向待测件放置区移动，同时将射频插接组1与针状射频口对应插接，并按压，使得待测件5固定在待测件放置区上。

作为可选地实施方式，盒体41的顶部上设置有多个定位孔411和螺纹孔412，螺纹孔412用来与待测件5螺钉连接，固定住待测件5，第一射频接头12和电缆14均位于盒体41内，第一射频接头12与盒体41的顶部的内壁相连接且第一射频接头12的端头伸入到定位孔411内，探测头11的端头伸入到定位孔411内并与第一射频接头12可拆卸连接，探测头11与定位孔411之间存在浮动空间，使得探测头11具备一定的浮动空间，从而确保盲插时能够根据待测件5的针状射频口进行自动纠正对准，保护针状射频口，避免针状射频口受到较大外力损伤，实现多路盲插配合；盒体41的侧壁上设置有多个连接槽413，第二射频接头13穿过连接槽413且第二射频接头13与盒体41的侧壁相连接。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，包括夹具平台和射频插接组（1），其中，

所述射频插接组（1）的个数为多个，所述射频插接组（1）均安装在所述夹具平台上，所述夹具平台上设置有待测件放置区，所述射频插接组（1）在所述待测件放置区上的分布与针状射频口在待测件（5）上的分布相对应；

在驱动力的作用下，所述射频插接组（1）与所述待测件（5）发生相对移动，能使所有射频插接与对应的所述针状射频口相连接或分开。

2.根据权利要求1所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述射频插接组（1）包括探测头（11）、第一射频接头（12）、第二射频接头（13）和电缆（14），所述探测头（11）与所述第一射频接头（12）可拆卸连接，所述第一射频接头（12）和所述第二射频接头（13）通过所述电缆（14）相连接，所述探测头（11）与所述针状射频口插接连接；

所述探测头（11）内设置有连接孔（111），所述连接孔（111）的端口设置为锥形口（1111）。

3.根据权利要求2所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述夹具平台为旋转式夹具（2），所述旋转式夹具（2）包括旋转盘（21）、固定盘（22）、转动件（23）、第一测试模组（24）和第一压紧结构（25），所述旋转盘（21）和所述固定盘（22）两者的中心通过所述转动件（23）转动连接，所述射频插接组（1）安装在所述第一测试模组（24）内，所述第一测试模组（24）的个数为多个，所述第一测试模组（24）与所述固定盘（22）滑动连接且所述第一测试模组（24）与所述旋转盘（21）滑动连接，所述固定盘（22）的顶部中心为所述待测件放置区，所有所述第一测试模组（24）沿所述待测件放置区的周向方向分布，所述第一压紧结构（25）安装在所述固定盘（22）上；

旋转所述旋转盘（21），所述第一测试模组（24）在所述旋转盘（21）的推动下能沿所述固定盘（22）的径向方向移动。

4.根据权利要求3所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述第一测试模组（24）包括壳体（241）、第一导轨（242）和导向插销（243），所述第一导轨（242）和所述导向插销（243）均与所述壳体（241）的下端相连接，所述壳体（241）内部设置有中空腔体（2411）、第一贯穿孔（2412）和第二贯穿孔（2413），所述第一贯穿孔（2412）和所述第二贯穿孔（2413）分别位于所述中空腔体（2411）的两侧，所述第二射频接头（13）和所述电缆（14）均位于所述中空腔体（2411）内，所述第二射频接头（13）与所述中空腔体（2411）性连接且所述第二射频接头（13）的端头伸入到所述第一贯穿孔（2412）内，所述探测头（11）的端头伸入到所述第一贯穿孔（2412）内且所述探测头（11）与所述第一贯穿孔（2412）之间存在浮动空间，所述第一射频接头（12）的端头伸入到所述第二贯穿孔（2413）内且所述第一射频接头（12）与所述壳体（241）相连接。

5.根据权利要求4所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述旋转盘（21）上设置有弧形槽（211），所述固定盘（22）上设置有径向槽（221），所述径向槽（221）上设置有通口（2211）和第二导轨（2212），所述弧形槽（211）、所述径向槽（221）和所述第一测试模组（24）的个数均一致，所述第一导轨（242）与所述第二导轨（2212）滑动连接，所述导向插销（243）的自由端穿过所述通口（2211）并伸入到所述弧形槽（211）内。

6.根据权利要求2所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述夹具平台为移动式夹具（3），所述移动式夹具（3）包括底座（31）、U型活动板（32）、推行结构（33）、第二测试模组（34）、第三测试模组（35）、导轨座（36）、支撑块（37）和第二压紧结构（38），所述底座（31）与所述U型活动板（32）通过导轨滑动连接，所述推行结构（33）的两端分别与所述底座（31）与所述U型活动板（32）相连接，所述支撑块（37）连接在所述底座（31）上并位于所述U型活动板（32）内，所述第二压紧结构（38）连接在所述支撑块（37）上，所述支撑块（37）上设置有所述待测件放置区，所述第二测试模组（34）连接在所述U型活动板（32）的底端，所述第三测试模组（35）位于所述U型活动板（32）的侧端且所述第三测试模组（35）与所述U型活动板（32）滑动连接，所述导轨座（36）连接在所述底座（31）上且所述第三测试模组（35）与所述导轨座（36）滑动连接，所述第二测试模组（34）和所述第三测试模组（35）均安装有所述射频插接组（1）；

所述推行结构（33）能推动所述U型活动板（32）在所述底座（31）移动，且所述第二测试模组（34）和所述第三测试模组（35）在所述U型活动板（32）的移动下向靠近或远离所述支撑块（37）的方移动。

7.根据权利要求6所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述U型活动板（32）的两端上均设置有滑行轨槽（321），所述第三测试模组（35）上的导向插销（243）穿过所述滑行轨槽（321）且所述导向插销（243）与所述滑行轨槽（321）滑动连接；

所述滑行轨槽（321）上设置有倾斜段。

8.根据权利要求6所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述第二测试模组（34）上连接有多个所述探测头（11）。

9.根据权利要求2所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述夹具平台为固定式夹具（4），所述固定式夹具（4）包括盒体（41）和限制板（42），所述限制板（42）与所述盒体（41）的顶部相连接，所述限制板（42）的个数为两个，两个所述限制板（42）之间的区域为所述待测件放置区，所述射频插接组（1）安装在所述盒体（41）上。

10.根据权利要求9所述的多路多方向针状射频口测试平台，其特征在于，所述盒体（41）的顶部上设置有多个定位孔（411）和螺纹孔（412），所述第一射频接头（12）和所述电缆（14）均位于所述盒体（41）内，所述第一射频接头（12）与所述盒体（41）的顶部的内壁相连接且所述第一射频接头（12）的端头伸入到所述定位孔（411）内，所述探测头（11）的端头伸入到所述定位孔（411）内并与所述第一射频接头（12）可拆卸连接，所述探测头（11）与所述定位孔（411）之间存在浮动空间；

所述盒体（41）的侧壁上设置有多个连接槽（413），所述第二射频接头（13）穿过所述连接槽（413）且所述第二射频接头（13）与所述盒体（41）的侧壁相连接。