CN116827451A - 射频组件测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种射频组件测试装置，包括：底座、下测试插头和移动平台。底座的顶面上向下开设有第一导孔。下测试插头与射频组件底面的插口匹配并固定向上设置在底座的顶面上，下测试插头与测试设备电连接。移动平台的顶面上设置有底面预设孔槽的第一放置槽，移动平台的底面上向下固定设置第一导柱，第一导柱可滑动地插入第一导孔。下测试插头穿过孔槽插入第一放置槽中的射频组件底部的插口中进行测试，测试完毕后，将移动平台升起即可带动射频组件竖直向上移动而离开下测试插头。如此设置，保证下测试插头竖直拔出，防止下测试插头拔出时发生倾斜造成射频组件底部插口的损伤。且可以同时以同一力度和行程插拔所有下测试插头，增加了工作效率。

Description

射频组件测试装置

技术领域

本申请涉及电气测试技术领域，更具体地说，涉及一种射频组件测试装置。

背景技术

射频组件是通信电路中用于连接收发单元和处理单元的组件，其作用为将接收信号进行放大、移相、衰减。如T/R组件一端接天线，另一端接中频处理单元就构成一个无线收发系统。射频组件的底面上具有用于电连接的插口，在生产过程中，需要对射频组件底面上的插口进行测试。

现有的测试方法是将测试电缆的一端连接用于对射频组件进行测试的测试设备，另一端设置插头，将插头直接插入射频组件上的插口后对射频组件进行测试，测试完毕后将插头直接拔出。由于人工拔出过程中存在操作误差，若在拔出过程中发生倾斜，则容易损伤射频组件上的插口。且人工同时插拔多个插头难以控制插拔行程和力道。

发明内容

为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本申请的目的在于提供一种射频组件测试装置，其能够解决测试时人工拔出插头过程中发生倾斜容易损伤射频组件上的插口以及同时插拔多个插头时难以控制插拔行程力道的问题。本申请提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。

本申请提供了一种射频组件测试装置，包括：

底座，所述底座的顶面上向下开设有第一导孔；

下测试插头，固定向上设置在所述底座的顶面上，所述下测试插头与射频组件底面的插口匹配，所述下测试插头与测试设备电连接；

移动平台，所述移动平台的顶面上设置有供射频组件的底部嵌入的第一放置槽，所述第一放置槽的底面上设置有供下测试插头穿过的孔槽(24)，所述移动平台的底面上向下固定设置第一导柱，所述第一导柱能插入所述第一导孔并沿所述第一导孔滑动。

可选地，还包括用于向上撬动所述移动平台的翘起结构，所述翘起结构包括：

条形槽，设置在所述底座的顶面上；

撬杆，转动设置在所述条形槽的内壁上，所述撬杆的第一端位于所述移动平台的下方，所述撬杆的第二端伸出所述条形槽。

可选地，还包括：

固定块，所述底座的顶面上设置有安装槽，所述固定块可拆卸地设置在所述安装槽中，所述固定块上设置有用于插设所述下测试插头的插孔，

所述移动平台包括：

外框，所述第一导柱设置在所述外框的底面上；

置物块，可拆卸地设置在所述外框内，所述第一放置槽设置在所述置物块的顶面上。

可选地，还包括：

上盖，盖设在所述底座上，所述上盖内设置有容纳所述移动平台的容纳槽；

下压平台，所述下压平台的底面上设置有供射频组件的顶部嵌入的第二放置槽，所述下压平台上设置有导向通孔，所述上盖的底面上向下固定设置导向柱，所述导向柱能插入所述导向通孔并沿所述导向通孔滑动。

可选地，还包括用于上下扳动所述移动平台的扳动结构，所述扳动结构包括：

连接杆，固定连接在所述下压平台的侧壁上，所述上盖的侧壁上设置有供所述连接杆穿出的条形通槽；

扳动杆，所述连接杆转动连接在所述扳动杆上，所述扳动杆的一端转动连接在所述上盖上。

可选地，还包括：

顶座，固定连接在所述下压平台的顶面上，

上测试插头，固定向下设置在所述顶座的底面上，所述下压平台的顶面上设置有供所述上测试插头穿过的开槽，所述上测试插头与射频组件顶面的插口匹配，所述上测试插头与测试设备电连接。

可选地，还包括：

上测试接口，固定设置在所述顶座上，所述上测试接口与所述上测试插头电连接。

可选地，所述上盖的底面上设置有定位柱，所述底座的顶面上设置有定位孔，所述定位柱能插入所述定位孔。

可选地，还包括：

锁紧扣爪，设置在所述底座上，所述锁紧扣爪能扣紧在所述上盖上。

可选地，还包括：

下测试接口，固定设置在所述底座上，所述下测试接口与所述下测试插头电连接。

本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

利用本射频组件测试装置，下测试插头穿过移动平台上的孔槽伸至第一放置槽中，然后插入第一放置槽中嵌入的射频组件底部的插口中，下测试插头与测试设备连接完成测试。测试完毕后，将移动平台升起即可带动射频组件竖直向上移动而下测试插头从射频组件底面上的插口中拔出。如此设置，保证下测试插头竖直拔出，防止下测试插头拔出时发生倾斜造成射频组件底部插口的损伤，且可以同时以同一力度和行程插拔所有下测试插头，增加了工作效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的爆炸图；

图2是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的底座结构示意图；

图3是根据一些示例性实施例示出的撬杆结构示意图；

图4是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的移动平台结构示意图；

图5是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的上盖和下压平台结构示意图；

图6是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的下压平台结构示意图；

图7是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的底座顶面示意图；

图8是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的固定块结构示意图；

图9是根据一些示例性实施例示出的射频组件测试装置的底座底部示意图。

图中：1、底座；2、下测试插头；3、移动平台；31、外框；32、置物块；4、第一放置槽；5、第一导孔；6、第一导柱；7、条形槽；8、撬杆；9、上盖；10、容纳槽；11、下压平台；12、第二放置槽；13、导向通孔；14、导向柱；15、通槽；16、扳动杆；17、顶座；18、上测试插头；19、上测试接口；20、下测试接口；21、定位柱；22、定位孔；23、连接杆；24、孔槽；25、射频组件；26、锁紧扣爪；27、开窗；28、固定块；29、安装槽；30、胶垫。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与本申请的一些方面相一致的装置或方法的例子。

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。

以下，参照附图对实施例进行说明。此外，下面所示的实施例不对权利要求所记载的发明内容起任何限定作用。另外，下面实施例所表示的构成的全部内容不限于作为权利要求所记载的发明的解决方案所必需的。

参考图1-9，本具体实施方式提供了一种射频组件测试装置，包括：底座1、下测试插头2和移动平台3。下测试插头2固定设置在底座1的顶面上，其竖直向上设置。测试设备是用于测试该射频组件25的设备，将射频组件25与测试设备电连接即可进行测试。将下测试插头2与测试设备电连接。下测试插头2与射频组件25底面的插口互相匹配，下测试插头2插入射频组件25底面的插口后，射频组件25即与测试设备电连接。

在底座1的顶面上向下开设第一导孔5，在移动平台3的底面上固定连接第一导柱6，第一导柱6竖直向下设置。将第一导柱6插入第一导孔5中。第一导柱6在第一导孔5中移动时，移动平台3升降而靠近和远离底座1。

在移动平台3的顶面上向下挖设第一放置槽4，使得射频组件25的底部能嵌入第一放置槽4中。由于第一放置槽4的形状根据射频组件25设置，即第一放置槽4内侧边形状与射频组件25的外侧边形状相同。在第一放置槽4的底面预先开设孔槽24，移动平台3在自身重力的作用下下降至与底座1的顶面贴合，此时下测试插头2能穿过孔槽24伸至第一放置槽4中并插入。其中下测试插头2根据射频组件25的底部的插口数量设置，同时每个下测试插头2对应一个孔槽24。

当需要对射频组件25进行测试时，移动平台3在自身重力的作用下下降至与底座1的顶面贴合，此时下测试插头2能穿过孔槽24伸至第一放置槽4中。将射频组件25向下按压，使得射频组件25的底部嵌入第一放置槽4中，此时下测试插头2插入射频组件25底面的插口中，然后使用测试设备即可对射频组件25进行测试。如此设置，可以一次性向所有插口中插入下测试插头2，插接更加方便，可以保证所有下测试插头2均以同一力度和行程插入插口中，降低了插接难度，提高了工作效率。

测试完毕后，将移动平台3升起，即可带动射频组件25竖直向上移动而下测试插头2从射频组件25底面上的插口中拔出。如此设置，保证下测试插头2竖直拔出，防止下测试插头2拔出时发生倾斜造成射频组件25底部插口的损伤。

为了施力方便，作为可选的实施方式，还包括用于向上撬动移动平台3的翘起结构，其中翘起结构包括：条形槽7和撬杆8。其中条形槽7开设在底座1的顶面上。在条形槽7的内壁上设置转轴，将撬杆8转动连接在转轴上，使得撬杆8的第一端和第二端均可以绕转轴转动。其中撬杆8的第一端位于移动平台3的下方，撬杆8的第二端伸出条形槽7。

如此设置，当移动平台3下降至与底座1的顶面接触时，按压撬杆8的第一端进入条形槽7，撬杆8的第二端向上翘起。当需要升起移动平台3时，用力向下按压撬杆8的第二端。此时撬杆8的第一端向上翘起而推动移动平台3向上升起，从而使得下测试插头2从射频组件25底面上的插口中拔出。施力更加省力方便。

其中翘起结构应在底座1的两侧均有设置，保证施力平衡，且每侧的翘起结构可设置两个，将同侧的两个翘起结构的撬杆8的第二端通过压杆连接，这样按压压杆即可同时按压同侧两个翘起结构的撬杆8的第二端，操作更加方便。

一些实施例中，还包括：固定块28。在固定块28上贯穿设置插孔，将下测试插头2插入插孔中固定面使得下测试插头2上下穿过固定块28。在底座1的顶面上向下开设安装槽29，将固定块28通过螺栓固定连接在安装槽29中，从而下测试插头2固定设置在底座1的顶面上。

而移动平台3包括：外框31和置物块32。其中第一导柱6设置在外框31的底面上，第一放置槽4设置在置物块32的顶面上。将置物块32通过螺栓固定连接在外框31上，从而构成整个移动平台3。

当需要测试其他底面插口位置和数量不同的射频组件时，将在用的置物块32上的螺栓旋出，将在用的置物块32从外框31中拆下，然后将待用的置物块32通过螺栓固定连接在外框31上，待用的置物块32上的第一放置槽4能嵌入待测射频组件。将在用的固定块28上的螺栓旋出，将在用的固定块28从安装槽29中拆下，然后将待用的固定块28固定连接在安装槽29中。

其中待用的置物块32上的孔槽24的位置和数量以及待用的固定块28上插孔的位置和数量对应待测射频组件底面插口的位置和数量，将下测试插头2插入插孔中，从而待测射频组件跟随移动平台3升降时，下测试插头2能够插入待测射频组件底面的插口中。

如此设置，便于更换对应的置物块32和固定块28，以用于测试不同的射频组件，操作方便，效率更高。

值得说明的是，应当在底座1的底面上设置开窗27，该开窗直接连通至安装槽29的底面。如此设置，当固定块28安装在安装槽29中后，从开窗27处能够触碰固定块28的底面，安装和拆卸固定块28均更加方便。

作为可选的实施方式，还包括：上盖9和下压平台11。在上盖9内设置有容纳槽10。将上盖9盖设在底座1上后，移动平台3进入容纳槽10中，保证上盖9能盖设在底座1上。在下压平台11的底面上向上挖设第二放置槽12，第二放置槽12的形状根据射频组件25设置，使得射频组件25的顶部能嵌入第二放置槽12中。

在下压平台11上设置有导向通孔13，在上盖9内部的底面上向下固定连接导向柱14。将导向柱14插入导向通孔13中，导向柱14在导向通孔13中滑动，从而下压平台11相对于上盖9上下移动。

值得说明的是，可以在导向柱14侧壁的底端设置挡块，防止导向柱14从导向通孔13中脱离，即防止下压平台11脱离导向柱14。

具体的，当需要对射频组件25进行测试时，移动平台3在自身重力的作用下下降至与底座1的顶面贴合，此时下测试插头2能穿过孔槽24伸至第一放置槽4中。将射频组件25的底部放入移动平台3顶面上的第一放置槽4中，此时下测试插头2不完全插入射频组件25底部的插口中。然后将上盖9盖设在底面上，此时射频组件25的顶部进入下压平台11底面上的第二放置槽12中。此时向下按压下压平台11，射频组件25的顶部嵌入第二放置槽12后其底部嵌入第一放置槽4中，此时下测试插头2完全插入射频组件25底部的插口中，施力更加均匀。

进一步的，还包括用于上下扳动移动平台3的扳动结构。其中扳动结构包括：连接杆23和扳动杆16。将连接杆23的第一端固定连接在下压平台11的外侧壁上。在上盖9的侧壁上开设条形通槽15，条形通槽15竖向设置。将连接杆23的第二端穿过条形通槽15而伸至上盖9的外侧。此时将连接杆23沿条形通槽15上下移动，从而带动移动平台3上下移动。

在扳动杆16上设置转孔，将连接杆23的第二端转动设置在转孔中。将扳动杆16的第一端铰接上盖9的侧壁上，使得扳动杆16能绕其第一端转动。如此设置，向下按压扳动杆16的第二端，扳动杆16绕其第一端向下转动，从而带动连接杆23向下移动，进而带动移动平台3上下移动。

值得说明的是，扳动杆16上的转孔内径应大于连接杆23第二端的外径。以保证连接杆23沿条形通槽15上下移动时有足够的活动空间。

作为可选的实施方式，还包括：顶座17和上测试插头18。上测试插头18固定设置在顶座17的底面上。上测试插头18竖直向下设置。在下压平台11的顶面上设置开槽，将顶座17通过螺栓固定连接在下压平台11的顶面上，使得上测试插头18穿过下压平台11顶面上设置的开槽而进入第二放置槽12中。将上测试插头18与测试设备电连接。

如此设置，对于顶部具有插口的射频组件25，顶座17固定连接在下压平台11的顶面上后，上测试插头18位于射频组件25顶部插口的正上方。当向下按压下压平台11时，射频组件25的顶部嵌入第二放置槽12后其底部嵌入第一放置槽4中，此时下测试插头2插入射频组件25底部的插口中的同时上测试插头18插入射频组件25顶部的插口中。从而可以使用测试设备同时对射频组件25顶部和底部的插口进行测试。

进一步的，还包括：上测试接口19，将上测试接口19固定设置在顶座17上，将上测试接口19与上测试插头18电连接。如此设置，将测试设备通过连接线与上测试接口19插接即可通过上测试接口19与上测试插头18电连接。将连接线从上测试接口19拔出即可断开测试设备与上测试插头18之间的连接。操作更加方便。

作为可选的实施方式，在上盖9的底面上固定连接定位柱21，在底座1的顶面上向下开设定位孔22，将定位柱21插入定位孔22后使得上盖9贴合在底座1上，定位更加精准。

进一步的，还包括：锁紧扣爪26，锁紧扣爪26设置在底座1上，在上盖9上设置锁紧槽，上盖9贴合在底座1上后，将锁紧扣爪26卡紧在锁紧槽中，从而将上盖9扣紧在底座1上，防止上盖9发生晃动。

作为可选的实施方式，还包括下测试接口20。将下测试接口20固定设置在底座1上，将下测试接口20与下测试插头2电连接。如此设置，将测试设备通过连接线与下测试接口20插接即可通过下测试接口20与下测试插头2电连接。将连接线从下测试接口20拔出即可断开测试设备与下测试插头2之间的连接。操作更加方便。

值得说明的是，在底座1的底面上设置开窗27后，该开窗直接连通至下测试插头2的底端和下测试接口20的内端。如此设置，下测试接口20与下测试插头2安装完毕后，通过开窗27可以使用电缆将下测试接口20和下测试插头2电连接，操作更加方便。

作为可选的实施方式，还包括：胶垫30，将胶垫30固定贴设在底座1的底面上。从而底座通过胶垫30与置物面接触，摩擦力更大。

需要说明的是，本文所表述的术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本文的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。本申请提供的多个方案包含本身的基本方案，相互独立，并不互相制约，但是其也可以在不冲突的情况下相互结合，达到多个效果共同实现。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，但可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种射频组件测试装置，其特征在于，包括：

底座(1)，所述底座(1)的顶面上向下开设有第一导孔(5)；

下测试插头(2)，固定向上设置在所述底座(1)的顶面上，所述下测试插头(2)与射频组件底面的插口匹配，所述下测试插头(2)与测试设备电连接；

移动平台(3)，所述移动平台(3)的顶面上设置有供射频组件的底部嵌入的第一放置槽(4)，所述第一放置槽(4)的底面上设置有供下测试插头(2)穿过的孔槽(24)，所述移动平台(3)的底面上向下固定设置第一导柱(6)，所述第一导柱(6)能插入所述第一导孔(5)并沿所述第一导孔(5)滑动。

2.根据权利要求1所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括用于向上撬动所述移动平台(3)的翘起结构，所述翘起结构包括：

条形槽(7)，设置在所述底座(1)的顶面上；

撬杆(8)，转动设置在所述条形槽(7)的内壁上，所述撬杆(8)的第一端位于所述移动平台(3)的下方，所述撬杆(8)的第二端伸出所述条形槽(7)。

3.根据权利要求1所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

固定块(28)，所述底座(1)的顶面上设置有安装槽(29)，所述固定块(28)可拆卸地设置在所述安装槽(29)中，所述固定块(28)上设置有用于插设所述下测试插头(2)的插孔，

所述移动平台(3)包括：

外框(31)，所述第一导柱(6)设置在所述外框(31)的底面上；

置物块(32)，可拆卸地设置在所述外框(31)内，所述第一放置槽(4)设置在所述置物块(32)的顶面上。

4.根据权利要求1所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

上盖(9)，盖设在所述底座(1)上，所述上盖(9)内设置有容纳所述移动平台(3)的容纳槽(10)；

下压平台(11)，所述下压平台(11)的底面上设置有供射频组件的顶部嵌入的第二放置槽(12)，所述下压平台(11)上设置有导向通孔(13)，所述上盖(9)的底面上向下固定设置导向柱(14)，所述导向柱(14)能插入所述导向通孔(13)并沿所述导向通孔(13)滑动。

5.根据权利要求4所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括用于上下扳动所述移动平台(3)的扳动结构，所述扳动结构包括：

连接杆(23)，固定连接在所述下压平台(11)的侧壁上，所述上盖(9)的侧壁上设置有供所述连接杆(23)穿出的条形通槽(15)；

扳动杆(16)，所述连接杆(23)转动连接在所述扳动杆(16)上，所述扳动杆(16)的一端转动连接在所述上盖(9)上。

6.根据权利要求4所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

顶座(17)，固定连接在所述下压平台(11)的顶面上，

上测试插头(18)，固定向下设置在所述顶座(17)的底面上，所述下压平台(11)的顶面上设置有供所述上测试插头(18)穿过的开槽，所述上测试插头(18)与射频组件顶面的插口匹配，所述上测试插头(18)与测试设备电连接。

7.根据权利要求6所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

上测试接口(19)，固定设置在所述顶座(17)上，所述上测试接口(19)与所述上测试插头(18)电连接。

8.根据权利要求4所述的射频组件测试装置，其特征在于，所述上盖(9)的底面上设置有定位柱(21)，所述底座(1)的顶面上设置有定位孔(22)，所述定位柱(21)能插入所述定位孔(22)。

9.根据权利要求8所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

锁紧扣爪(26)，设置在所述底座(1)上，所述锁紧扣爪(26)能扣紧在所述上盖(9)上。

10.根据权利要求1所述的射频组件测试装置，其特征在于，还包括：

下测试接口(20)，固定设置在所述底座(1)上，所述下测试接口(20)与所述下测试插头(2)电连接。