CN117289094B - 一种半导体元器件绝缘测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种半导体元器件绝缘测试装置，涉及半导体元器件绝缘测试技术领域，包括检测座、开设在检测座顶面的安装槽和设于安装槽内的承托座，承托座的顶部设有矩形框，升降腔内均设有升降机构；固定盒内设有测试机构；矩形框内部设有联动机构；绝缘盒内部设有导电机构；本发明通过承托座与测试机构和联动机构的配合，便于同步对多半导体元器件进行绝缘检测操作，便于对测试的半导体元器件进行多点位的绝缘测试，有效提高了对于半导体元器件在绝缘检测时的数据准确性；便于同步对多个半导体元器件进行同步的通断电操作，提高了对于半导体元器件在通电时的稳定性和保护效果，大幅提高了对于半导体元器件进行绝缘检测的高效性和便捷性。
Description
技术领域
本发明涉及半导体元器件绝缘测试技术领域，尤其涉及一种半导体元器件绝缘测试装置。
背景技术
半导体元器件通常，这些半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材；为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件；利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构；随着半导体元器件市场竞争越来越激烈，产品稳定性也会越来越高；作为参数测试工序，除了测试一些常规参数外，客户也提出一些特测试项，其中绝缘项就是其中之一；
按照现有做法，先是人工配合图示仪进行测试绝缘，然后再去用机台测试绝缘；但是人工测试存在效率低下，并且测试不稳定，不仅不便于成批的半导体元器件进行批量化的绝缘检测操作，而且在对于半导体元器件进行检测时，不便于对半导体元器件进行多点位的测试操作；同时在测试绝缘时不便于对多个半导体元器件进行同步的通断电操作，在测试时需要对半导体元器件进行通电，如稍微处理不当，容易造成人为触电事故的发生；因此，需对上述问题进行改进处理。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体元器件绝缘测试装置。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种半导体元器件绝缘测试装置，包括检测座、开设在检测座顶面中部的安装槽和设于安装槽内的承托座，所述承托座的顶部边缘设有矩形框，所述承托座顶面等距开设有若干用于半导体元器件检测的放置槽，所述放置槽两侧的检测座内部均开设有升降腔，所述升降腔内均设有用于承托座下落的升降机构；所述放置槽两侧的内壁上均开设有夹持槽，所述夹持槽内均设有用于半导体元器件限位的夹持组件；所述放置槽一侧的承托座顶面前后端和中部均设有固定盒，所述固定盒内均设有用于半导体元器件检测的测试机构；所述矩形框内部设有用于测试机构移动的联动机构；
所述放置槽底面的前后端均开设有插接口，所述插接口下方的安装槽内底面上均配合安装有绝缘盒，所述绝缘盒内部设有导电机构；所述安装槽下方的检测座内部开设有供电腔，所述供电腔内设有若干与导电机构配合的蓄电池。
优选地，所述升降机构包括竖向活动设于升降腔内部的升降柱、竖向转动设于升降柱内底面的丝杠和横向开设在检测座底部内的驱动腔，所述驱动腔内部设有用于丝杠转动和自锁的传动组件，所述承托座的顶部外侧突出有搭接框板，所述升降柱的顶端活动贯穿出升降腔外与搭接框板的底面固接；所述升降柱的内底面竖向开设有螺纹孔道，所述丝杠的杆体螺纹连接在螺纹孔道内部。
优选地，所述传动组件包括设于驱动腔中部内的双轴电机、转动设于驱动腔两侧内壁上的转轴和固定套接转轴外端轴体上的蜗杆套，所述转轴的内端与双轴电机的驱动轴同轴固接，所述丝杠的底端均活动贯穿进驱动腔内并同轴固接有与蜗杆套配合的蜗轮，所述蜗轮与蜗杆套啮合传动。
优选地，所述测试机构包括横向活动设于固定盒内部的绝缘检测头和设于绝缘检测头一端的横杆，所述绝缘检测头与绝缘电阻测试仪电性连接，所述固定盒一侧的承托座顶面滑动设有L型推板，所述横杆的一端活动贯穿出固定盒外与L型推板固接，所述固定盒靠近放置槽的一侧面上开设有矩形口；所述横杆位于固定盒内的杆体上活动套设有回位弹簧。
优选地，所述联动机构包括纵向设于固定盒上方的若干推动辊、横向开设在矩形框前后端内部的横移腔、横向转动设于横移腔内部的螺纹杆、等距配合推动辊活动套设在螺纹杆上的若干螺纹管和等距开设在矩形框前端面内壁上的矩形条口，所述推动辊一侧与L型推板的外壁活动抵接；所述矩形条口与横移腔连通设置，所述推动辊的前后端均从矩形条口内延伸进横移腔内与螺纹管固接；两根所述螺纹杆的一端均活动贯穿出横移腔外，并同轴固定套接有齿轮，所述检测座顶面一侧的前后端均竖向设有与齿轮相配合的齿条板。
优选地，所述导电机构包括水平活动设于绝缘盒上部内的绝缘环板、竖向设于绝缘环板顶部的导电柱、竖向设于绝缘盒内底面中部的供电柱和竖向设于绝缘盒内部四周的稳定杆，所述稳定杆活动贯穿绝缘环板，且稳定杆位于绝缘环板下方的杆体上活动套设有复位弹簧，所述导电柱的底面中部竖向开设有与供电柱配合的插接槽，所述插接槽内的顶部设有导电片，所述导电柱的顶端活动贯穿出绝缘盒顶部外，且导电柱和供电柱的顶面均为弧面状；所述供电柱的底端设有与蓄电池电连接的导线。
优选地，所述夹持组件包括竖向活动设于夹持槽内部的绝缘夹板和横向设于绝缘夹板内壁四角的弹簧伸缩杆，所述弹簧伸缩杆的固定端与夹持槽的内壁固接，所述绝缘夹板上部的板体为弧面状板体。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明通过承托座与测试机构和联动机构的配合，不仅便于同步对多半导体元器件进行绝缘性能检测操作，而且便于对测试的半导体元器件进行多点位的绝缘测试操作，有效提高了对于半导体元器件在绝缘检测时的数据准确性；同时便于同步对多个半导体元器件进行同步的通断电操作，通过导电机构的设置，提高了对于半导体元器件在通电时的稳定性和保护效果，有效避免导电柱在没有受压时出现漏电现象；进而大幅提高了对于半导体元器件进行绝缘检测的高效性和便捷性。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明的主视结构示意图；
图2为本发明的检测座前端结构剖视图；
图3为本发明的检测座和承托座结构剖视图；
图4为本发明的主视整体结构剖视图；
图5为本发明的矩形框俯视结构剖视图；
图6为本发明的绝缘盒结构剖视图；
图中序号：1、检测座；2、承托座；3、矩形框；4、绝缘电阻测试仪；5、升降柱；6、绝缘盒；7、丝杠；8、双轴电机；9、转轴；10、蜗轮；11、蜗杆套；12、蓄电池；13、绝缘夹板；14、固定盒；15、绝缘检测头；16、横杆；17、L型推板；18、推动辊；19、螺纹杆；20、螺纹管；21、齿轮；22、齿条板；23、弹簧伸缩杆；24、绝缘环板；25、导电柱；26、供电柱；27、稳定杆；28、复位弹簧。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例：参见图1-6，一种半导体元器件绝缘测试装置，包括检测座1、开设在检测座1顶面中部的安装槽和设于安装槽内的承托座2，承托座2的顶部边缘设有矩形框3，承托座2顶面等距开设有若干用于半导体元器件检测的放置槽，放置槽两侧的检测座1内部均开设有升降腔，升降腔内均设有用于承托座2下落的升降机构；放置槽两侧的内壁上均开设有夹持槽，夹持槽内均设有用于半导体元器件限位的夹持组件；放置槽一侧的承托座2顶面前后端和中部均设有固定盒14，固定盒14内均设有用于半导体元器件检测的测试机构；矩形框3内部设有用于测试机构移动的联动机构；放置槽底面的前后端均开设有插接口，插接口下方的安装槽内底面上均配合安装有绝缘盒6，绝缘盒6内部设有导电机构；安装槽下方的检测座1内部开设有供电腔，供电腔内设有若干与导电机构配合的蓄电池12；通过承托座2与测试机构和联动机构的配合，不仅便于同步对多半导体元器件进行绝缘性能检测操作，而且便于对测试的半导体元器件进行多点位的绝缘测试操作，有效提高了对于半导体元器件在绝缘检测时的数据准确性；同时便于同步对多个半导体元器件进行同步的通断电操作，通过导电机构的设置，提高了对于半导体元器件在通电时的稳定性和保护效果，有效避免导电柱25在没有受压时出现漏电现象；进而大幅提高了对于半导体元器件进行绝缘检测的高效性和便捷性。
在本发明中，升降机构包括竖向活动设于升降腔内部的升降柱5、竖向转动设于升降柱5内底面的丝杠7和横向开设在检测座1底部内的驱动腔，驱动腔内部设有用于丝杠7转动和自锁的传动组件，承托座2的顶部外侧突出有搭接框板，升降柱5的顶端活动贯穿出升降腔外与搭接框板的底面固接；升降柱5的内底面竖向开设有螺纹孔道，丝杠7的杆体螺纹连接在螺纹孔道内部。
在本发明中，传动组件包括设于驱动腔中部内的双轴电机8、转动设于驱动腔两侧内壁上的转轴9和固定套接转轴9外端轴体上的蜗杆套11，转轴9的内端与双轴电机8的驱动轴同轴固接，丝杠7的底端均活动贯穿进驱动腔内并同轴固接有与蜗杆套11配合的蜗轮10，蜗轮10与蜗杆套11啮合传动，便于对丝杠7起到传动和传动后的自动锁止作用，提高了丝杠7在传动中和传动后的稳定性。
在本发明中，测试机构包括横向活动设于固定盒14内部的绝缘检测头15和设于绝缘检测头15一端的横杆16，绝缘检测头15与绝缘电阻测试仪4电性连接，固定盒14一侧的承托座2顶面滑动设有L型推板17，横杆16的一端活动贯穿出固定盒14外与L型推板17固接，固定盒14靠近放置槽的一侧面上开设有矩形口；横杆16位于固定盒14内的杆体上活动套设有回位弹簧，便于对半导体元器件进行多点位的绝缘测试操作。
在本发明中，联动机构包括纵向设于固定盒14上方的若干推动辊18、横向开设在矩形框3前后端内部的横移腔、横向转动设于横移腔内部的螺纹杆19、等距配合推动辊18活动套设在螺纹杆19上的若干螺纹管20和等距开设在矩形框3前端面内壁上的矩形条口，推动辊18一侧与L型推板17的外壁活动抵接；矩形条口与横移腔连通设置，推动辊18的前后端均从矩形条口内延伸进横移腔内与螺纹管20固接；两根螺纹杆19的一端均活动贯穿出横移腔外，并同轴固定套接有齿轮21，检测座1顶面一侧的前后端均竖向设有与齿轮21相配合的齿条板22，便于对测试机构进行移动操作，便于能够在半导体元器件通电时，测试机构才对半导体元器件进行测试操作。
在本发明中，导电机构包括水平活动设于绝缘盒6上部内的绝缘环板24、竖向设于绝缘环板24顶部的导电柱25、竖向设于绝缘盒6内底面中部的供电柱26和竖向设于绝缘盒6内部四周的稳定杆27，稳定杆27活动贯穿绝缘环板24，且稳定杆27位于绝缘环板24下方的杆体上活动套设有复位弹簧28，导电柱25的底面中部竖向开设有与供电柱26配合的插接槽，插接槽内的顶部设有导电片，导电柱25的顶端活动贯穿出绝缘盒6顶部外，且导电柱25和供电柱26的顶面均为弧面状；供电柱26的底端设有与蓄电池12电连接的导线。
在本发明中，夹持组件包括竖向活动设于夹持槽内部的绝缘夹板13和横向设于绝缘夹板13内壁四角的弹簧伸缩杆23，弹簧伸缩杆23的固定端与夹持槽的内壁固接，绝缘夹板13上部的板体为弧面状板体，便于对放入放置槽内的半导体元器件进行夹紧操作。
工作原理：在本实施例中，本发明还提出了一种半导体元器件绝缘测试装置的使用方法，包括以下步骤：
步骤一，首先将绝缘电阻测试仪4和双轴电机8分别通过导线与外部控制设备电性连接，然后将若干半导体元器件分别插入放置槽内部，通过在弹簧伸缩杆23与绝缘夹板13的配合，便于对插入放置槽内的半导体元器件进行夹持固定；
步骤二，然后通过控制双轴电机8带动转轴9转动，进而通过蜗杆套11与蜗轮10的啮合带动丝杠7进行转动，通过丝杠7的转动便于带动升降柱5进行同步下降，进而使承托座2跟随升降柱5进行下降，以便使承托座2下降至安装槽内部；
步骤三，在承托座2下降件安装槽内时，便于使若干导电柱25分别从插接口插设进放置槽内与半导体元器件底部的正负极抵接，在承托座2持续下降时，便于通过半导体元器件对导电柱25进行下压，进而使导电柱25向绝缘盒6内收缩，并使供电柱26插接在导电柱25的插接槽内，然后使导电柱25能够向半导体元器件进行导电操作，便于在导电柱25没有受到下压力时不会进行通电，有效提高本装置在使用时的安全性能；
步骤四，在承托座2下降时，便于带动矩形框3同步下降，进而在使齿轮21下降与齿条板22进行啮合传动，通过齿轮21的转动便于带动螺纹杆19进行转动，通过螺纹杆19的转动便于使螺纹管20带动推动辊18向半导体元器件一侧横移，进而使推动辊18取消对于L型推板17的限位抵接，然后在回位弹簧的作用下推动绝缘检测头15从矩形口内伸出，并使绝缘检测头15抵接在半导体元器件的表面，然后通过绝缘检测头15所检测到的电流数值反馈给绝缘电阻测试仪4，然后工作人员即可通过绝缘电阻测试仪4观测到每个半导体元器件上的电流值的大小，进而即可得知半导体元器件的绝缘性能。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种半导体元器件绝缘测试装置，包括检测座（1）、开设在检测座（1）顶面中部的安装槽和设于安装槽内的承托座（2），其特征在于：所述承托座（2）的顶部边缘设有矩形框（3），所述承托座（2）顶面等距开设有若干用于半导体元器件检测的放置槽，所述放置槽两侧的检测座（1）内部均开设有升降腔，所述升降腔内均设有用于承托座（2）下落的升降机构；所述放置槽两侧的内壁上均开设有夹持槽，所述夹持槽内均设有用于半导体元器件限位的夹持组件；所述放置槽一侧的承托座（2）顶面前后端和中部均设有固定盒（14），所述固定盒（14）内均设有用于半导体元器件检测的测试机构；所述矩形框（3）内部设有用于测试机构移动的联动机构；
所述放置槽底面的前后端均开设有插接口，所述插接口下方的安装槽内底面上均配合安装有绝缘盒（6），所述绝缘盒（6）内部设有导电机构；所述安装槽下方的检测座（1）内部开设有供电腔，所述供电腔内设有若干与导电机构配合的蓄电池（12）；
所述测试机构包括横向活动设于固定盒（14）内部的绝缘检测头（15）和设于绝缘检测头（15）一端的横杆（16），所述绝缘检测头（15）与绝缘电阻测试仪（4）电性连接，所述固定盒（14）一侧的承托座（2）顶面滑动设有L型推板（17），所述横杆（16）的一端活动贯穿出固定盒（14）外与L型推板（17）固接，所述固定盒（14）靠近放置槽的一侧面上开设有矩形口；所述横杆（16）位于固定盒（14）内的杆体上活动套设有回位弹簧；
所述联动机构包括纵向设于固定盒（14）上方的若干推动辊（18）、横向开设在矩形框（3）前后端内部的横移腔、横向转动设于横移腔内部的螺纹杆（19）、等距配合推动辊（18）活动套设在螺纹杆（19）上的若干螺纹管（20）和等距开设在矩形框（3）前端面内壁上的矩形条口，所述推动辊（18）一侧与L型推板（17）的外壁活动抵接；所述矩形条口与横移腔连通设置，所述推动辊（18）的前后端均从矩形条口内延伸进横移腔内与螺纹管（20）固接；两根所述螺纹杆（19）的一端均活动贯穿出横移腔外，并同轴固定套接有齿轮（21），所述检测座（1）顶面一侧的前后端均竖向设有与齿轮（21）相配合的齿条板（22）；
所述导电机构包括水平活动设于绝缘盒（6）上部内的绝缘环板（24）、竖向设于绝缘环板（24）顶部的导电柱（25）、竖向设于绝缘盒（6）内底面中部的供电柱（26）和竖向设于绝缘盒（6）内部四周的稳定杆（27），所述稳定杆（27）活动贯穿绝缘环板（24），且稳定杆（27）位于绝缘环板（24）下方的杆体上活动套设有复位弹簧（28），所述导电柱（25）的底面中部竖向开设有与供电柱（26）配合的插接槽，所述插接槽内的顶部设有导电片，所述导电柱（25）的顶端活动贯穿出绝缘盒（6）顶部外，且导电柱（25）和供电柱（26）的顶面均为弧面状；所述供电柱（26）的底端设有与蓄电池（12）电连接的导线。
2.根据权利要求1所述的一种半导体元器件绝缘测试装置，其特征在于：所述升降机构包括竖向活动设于升降腔内部的升降柱（5）、竖向转动设于升降柱（5）内底面的丝杠（7）和横向开设在检测座（1）底部内的驱动腔，所述驱动腔内部设有用于丝杠（7）转动和自锁的传动组件，所述承托座（2）的顶部外侧突出有搭接框板，所述升降柱（5）的顶端活动贯穿出升降腔外与搭接框板的底面固接；所述升降柱（5）的内底面竖向开设有螺纹孔道，所述丝杠（7）的杆体螺纹连接在螺纹孔道内部。
3.根据权利要求2所述的一种半导体元器件绝缘测试装置，其特征在于：所述传动组件包括设于驱动腔中部内的双轴电机（8）、转动设于驱动腔两侧内壁上的转轴（9）和固定套接转轴（9）外端轴体上的蜗杆套（11），所述转轴（9）的内端与双轴电机（8）的驱动轴同轴固接，所述丝杠（7）的底端均活动贯穿进驱动腔内并同轴固接有与蜗杆套（11）配合的蜗轮（10），所述蜗轮（10）与蜗杆套（11）啮合传动。
4.根据权利要求1所述的一种半导体元器件绝缘测试装置，其特征在于：所述夹持组件包括竖向活动设于夹持槽内部的绝缘夹板（13）和横向设于绝缘夹板（13）内壁四角的弹簧伸缩杆（23），所述弹簧伸缩杆（23）的固定端与夹持槽的内壁固接，所述绝缘夹板（13）上部的板体为弧面状板体。
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