CN117276992A - 一种转接盒 - Google Patents

Abstract

本公开公开了一种转接盒，涉及自动测试技术领域，以解决设备性能测试的效率低，测试成本高的问题。所述转接盒包括：壳体以及分别位于所述壳体上的多个测量单元和多个线束连接器单元；每个所述线束连接器单元包括线束连接器插座，所述线束连接器插座和所述待测设备连通，至少两个所述线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同；每个所述测量单元包括测试孔，所述测试孔分别和多个所述线束连接器单元连通，所述检测装置通过所述测试孔测试所述待测设备的性能。本公开提供的转接盒用于测试待测设备的性能。

Description

一种转接盒

技术领域

本公开涉及自动测试技术领域，尤其涉及一种转接盒。

背景技术

目前，对设备性能进行测试时，需要确定与待测设备连接的线束连接器型号和转接盒型号，然后按照一一对应的关系将线束连接器和其对应的转接盒连接好进行测试。当需要测试的线束连接器数量过多时，寻找型号匹配的转接盒的过程会很繁琐，使得测试效率低下，同时，由于转接盒体数量过多，使得测试成本较高。

发明内容

本公开的目的在于提供一种转接盒，用于提高设备性能测试的效率，降低测试成本。

为了实现上述目的，本公开提供如下技术方案：

一种转接盒，所述转接盒用于通过检测装置测量待测设备的性能，所述转接盒包括：壳体以及分别位于所述壳体上的多个测量单元和多个线束连接器单元；

每个所述线束连接器单元包括线束连接器插座，所述线束连接器插座和所述待测设备连通，至少两个所述线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同；

每个所述测量单元包括测试孔，所述测试孔分别和多个所述线束连接器单元连通，所述检测装置通过所述测试孔测试所述待测设备的性能。

与现有技术相比，本公开提供的转接盒中，通过将多个线束连接器单元设置在壳体上，且每个线束连接器单元包括线束连接器插座，线束连接器插座和待测设备连通，至少两个线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同，即将不同规格的线束连接器插座设计在同一个连接盒上，减少了对设备性能进行测试时寻找线束连接器插座的时间，提高了测试效率。当使用本申请的转接盒对待测设备的性能进行测试时，由于本申请的转接盒上同时设置有多个线束连接器单元，且至少两个线束连接器单元的线束连接器插座的规格不同，即该转接盒至少支持两种规格的线束连接器，因此，在测试时，该转接盒支持的规格已知的情况下，只需要将对应规格的线束连接器连接在对应的转接盒的线束连接器插座上即可，即节省了寻找对应转接盒的时间，也节省了多个转接盒同时连接在线束连接器上所需要的空间。

基于此，由于每个测量单元包括测试孔，测试孔分别和多个线束连接器单元连通，使得多个线束连接器共用多个测量单元，从而节省了转接盒的制作成本，当测试时，检测装置可以通过测试孔测试待测设备的性能。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本公开的进一步理解，构成本公开的一部分，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本公开示例性实施例提供的转接盒的俯视图；

图2示出了根据本公开示例性实施例提供的测量孔和对应的线束连接器插座的连接示意图一；

图3示出了根据本公开示例性实施例提供的测量孔和对应的线束连接器插座的连接示意图二。

附图标记：

100-转接盒，110-壳体；

120-测量单元，121-测试孔；

1211-第一测试孔，1212-第二测试孔；

122-测试开关，130-线束连接器单元；

131-线束连接器插座，132-线束连接器；

133-第一线束连接器单元，134-第二线束连接器单元；

1331-第一线束连接器插座，1341-第二线束连接器插座。

具体实施方式

为了使本公开所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本公开进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本公开，并不用于限定本公开。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本公开的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。

在本公开的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

目前, 对于需要连接在火箭计算机模块上的外围设备或者火箭计算机模块进行测试时，通常使用转接盒进行测试。但是，一般转接盒的型号要与火箭计算机模块线束连接器的型号对应，以使得线束连接器的各个接触件与转接盒上的各个测量孔相连接，从而实现对外围设备的性能的测试，例如：电信号，波形等。

由于在测试时需要将火箭计算机模块线束连接器的型号和转接盒型号一一对应进行连接，当火箭计算机模块线束连接器较多时,寻找该线束连接器对应的转接盒的过程过于繁琐，浪费时间且使得测试效率低下，同时，当需要的转接盒数量过多时，测试成本和测试需要的空间较大。

为了克服上述问题，本公开示例性实施例提供了一种转接盒，该转接盒包括多个测量单元和多个线束连接器单元，至少两个线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同，以使得该转接盒可以用于匹配多个不同规格的线束连接器。由于每个测量单元包括的测试孔分别和多个线束连接器单元连通，使得多个不同规格的线束连接器插座可以通用该转接盒上的多个测量单元，以节省成本。

图1示出了根据本公开示例性实施例提供的转接盒的俯视图。如图1所示，本公开实施例提供的转接盒100用于通过检测装置（图中未示出）测量待测设备（图中未示出）的性能。应理解，这里的检测装置可以为电流表，电压表，示波器等检测装置。在实际应用中，可以根据需要检测的待测设备的性能选择合适的检测装置。

如图1所示，上述转接盒100可以包括：壳体110以及分别位于壳体110上的多个测量单元120和多个线束连接器单元130。应理解，本公开示例性实施例的转接盒100的壳体110的材质可以根据实际情况进行选择，例如，该壳体110可以为金属材质，也可以为树脂材质等，并不限于此。壳体110可以为可拆卸的结构设计，例如，该壳体110可以包括下壳体110和上盖，上盖和下壳体110通过螺栓连接等可拆卸连接方式连接在一起。通过设置可拆卸的上盖和下壳体110，以便于组装和检修与多个测量单元120和多个线束连接器单元130连接的内部线路。多个线束连接器单元130固定连接在壳体110上。例如，可以通过螺栓连接的方式固定在壳体110的对应位置处。

如图1所示，上述每个线束连接器单元130包括线束连接器插座131，线束连接器插座131和待测设备（图中未示出）连通，至少两个线束连接器单元130包括的线束连接器插座131的规格不同。以使得该转接盒100可以与多个不同规格的待测设备的接口对应的线束连接器132连接，即将不同规格的线束连接器插座131设计在同一个连接盒上，减少了对设备性能进行测试时寻找线束连接器插座131的时间，提高了测试效率。当使用本申请的转接盒100对待测设备的性能进行测试时，由于本申请的转接盒100上同时设置有多个线束连接器单元130，且至少两个线束连接器单元130的线束连接器插座131的规格不同，即该转接盒100至少支持两种规格的线束连接器132，因此，在测试时，该转接盒100支持的规格已知的情况下，只需要将对应规格的线束连接器132连接在对应的转接盒100的线束连接器插座131上即可，即节省了寻找对应转接盒100的时间，也节省了多个转接盒100同时连接在线束连接器132上所需要的空间。应理解，本公开示例性实施例的规格指的是线束连接器插座131的规格，即线束连接器插座131的接触件的数量。例如，欧克斯的P20K2Q的规格为2芯，即该线束连接器插座131的接触件的数量为2，支持的线束连接器132的规格也为2芯。

如图1所示，上述每个测量单元120包括测试孔121，每个测试孔121分别和多个线束连接器单元130连通，以使得多个线束连接器单元130共用多个测量单元120。检测装置通过测试孔121测试待测设备的性能。由于每个测量单元120包括测试孔121，测试孔121分别和多个线束连接器单元130连通，使得多个线束连接器132共用多个测量单元120，从而节省了转接盒100的制作成本，当测试时，检测装置可以通过测试孔121测试待测设备的性能。

在实际应用中，当需要对连接在火箭计算机模块上的待测设备的性能进行测试时，可以按照该待测设备接口的型号确定与该接口连接的线束连接器的型号，然后，根据该线束连接器的型号，确定与该线束连接器的型号匹配的转接盒上的多个线束连接器单元包括的线束连接器插座，通过将型号匹配的线束连接器和线束连接器插座连接好后，确定该线束连接器插座和待测设备连通，此时，只需要按照火箭计算机模块的接口型号将对应型号的线束连接器和对应型号的转接盒上的多个线束连接器单元包括的线束连接器插座相连接，即可使用检测装置插入每个测量单元包括的测试孔内，对每个测量单元对应的线束连接器的线束/通道进行测试，并根据测试结果调试该待测设备。

作为一种可能的实现方式，如图1所示，上述多个线束连接器单元130还可以包括互相连通的多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134，多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134分别位于壳体110上，每个测量单元120分别与多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134连通，以使得多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134互相连通。应理解，该多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134可以按照图1所示的方式对称分布在壳体110的两侧，也可以根据实际情况进行设置。其中，多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134连接的设备不同。具体的，待测设备包括第一待测设备和第二待测设备，每个第一线束连接器单元133通过对应线束连接器132和第一待测设备（图中未示出）连通，每个第二线束连接器插座1341通过对应线束连接器132和第二待测设备（图中未示出）连通。应理解，这里的对应是指线束连接器132的规格和线束连接器插座131的规格匹配。

在实际应用中，上述第一待测设备可以为传感器等需要连接在火箭计算机模块上的待测设备，第二待测设备可以为中控机等火箭计算机模块。当第二待测设备为火箭计算机模块时，可以使用检测装置插入对应的测试孔内怼火箭计算机模块的性能进行测试。

通过将第一待测设备和对应的第一线束连接器单元连接，将第二待测设备和对应的第二线束连接器单元连接，且每个测量单元分别和多个第一线束连接器单元和多个第二线束连接器单元连接，使得多个第一线束连接器单元和多个第二线束连接器单元可以共用位于壳体上的多个测量单元进行测试，以节省多个不同规格的转接盒的制造成本，减少测试空间的占用。

示例性的，图2示出了根据本公开示例性实施例提供的测量孔和对应的线束连接器插座131的连接示意图一。如图2所示，上述第一线束连接器单元133包括的第一线束连接器插座1331、测量孔和第二线束连接器单元134包括的第二线束连接器插座1341可以通过串联的方式进行连接。其余的测量孔的连接方式与图2相同。

又例如，图3示出了根据本公开示例性实施例提供的测量孔和对应的线束连接器插座131的连接示意图二。如图3所示，上述第一线束连接器单元133包括的第一线束连接器插座1331、测量孔和第二线束连接器单元134包括的第二线束连接器插座1341可以通过并联的方式进行连接。其余的测量孔的连接方式与图3相同。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述多个第一线束连接器单元133包括第一线束连接器插座1331，第一线束连接器插座1331和第一待测设备（图中未示出）连通，至少两个第一线束连接器单元133包括的第一线束连接器插座1331的规格不同。以便于将多个不同规格的第一线束连接器插座1331集成在本公开的转接盒100上，以使得本公开的转接盒100可以适配于具有多种不同规格接口的第一待测设备，提高本公开的转接盒100的使用范围。当上述多个第一线束连接器插座1331中有相同规格的第一线束连接器插座1331时，可以避免其中一个第一线束连接器插座1331损坏时，本公开的转接盒100还可以正常匹配该规格的第一待测设备的接口。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述多个第二线束连接器插座1341的规格单元包括第二线束连接器插座1341，第二线束连接器插座1341和第二待测设备连通，至少两个第二线束连接器单元134包括的第二线束连接器插座1341的规格不同。以便于将多个不同规格的第二线束连接器插座1341集成在本公开的转接盒100上，以使得本公开的转接盒100可以适配于具有多种不同规格接口的第二待测设备，提高本公开的转接盒100的使用范围。当上述多个第二线束连接器插座1341中有相同规格的第二线束连接器插座1341时，可以避免其中一个第一线束连接器插座1331损坏时，本公开的转接盒100还可以正常匹配该规格的第二待测设备的接口。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述多个第一线束连接器插座1331和多个第二线束连接器插座1341的规格至少有两个相同或不同。具体的，多个第一线束连接器插座1331的规格可以根据实际应用场景进行设计并选择，多个第二线束连接器插座1341的规格可以根据实际应用场景进行设计并选择。

作为一种可能的实现方式，如图1~图3所示，上述转接盒100还包括多个内部线路（图中未示出），多个内部线路位于壳体110内，每个测量单元120通过对应内部线路分别与多个线束连接器单元130连通，通过内部线路实现转接盒100内部的导通，以便于当待测设备连接在转接盒100上时，可以使用检测装置检测待测设备的性能。

示例性的，每个内部线路分别连通一个测量单元120、多个第一线束连接器单元133和多个第二线束连接器单元134，具体的，该内部线路的连接方式可以参考前文相关描述，在此不作赘述。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述内部线路的数量与测量单元120的数量相同，以保证每个测量单元120均可以通过内部线路分别与多个第一线束连接器单元133和第二线束连接器单元134连通。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述内部线路的数量至少与多个线束连接器单元130包括的最大规格线束连接器插座131的接触件数量相同，即测量单元120的数量至少与最大规格的线束连接器插座131对应的线束连接器132的线芯数量相同。应理解，这里的对应是指与线束连接器插座131的规格或型号匹配的线束连接器132的规格或型号。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述测试孔121包括互相连通的第一测试孔1211和第二测试孔1212，第一测试孔1211和第二测试孔1212通过内部线路连通。第一测试孔1211和第二测试孔1212的连接方式可以参考前文图2和图3的相关描述，在此不再赘述。

如图1~图3所示，上述第一测试孔1211分别与多个第一线束连接器单元133连通，以便于检测装置插入第一测试孔1211中对与第一线束连接器单元133的对应的第一线束连接器插座1331连通的第一待测设备的性能进行测试。

如图1~图3所示，上述第二测试孔1212分别与多个第二线束连接器单元134连通，以便于检测装置插入第二测试孔1212中对与第二线束连接器单元134的对应的第二线束连接器插座1341连通的第二待测设备的性能进行测试。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述第一测试孔1211和第二测试孔1212对称分布在壳体110上。例如，第一测试孔1211和第二测试孔1212可以沿着壳体110的长度方向对称分布在壳体110上，即第一测试孔1211和第二测试孔1212所在的直线与壳体110的长度方向平行；也可以沿着壳体110的宽度方向对称分布在壳体110上，即第一测试孔1211和第二测试孔1212所在的直线与壳体110的宽度方向平行（如图1所示）。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述每个测量单元120还包括测试开关122，第一线束连接器单元133通过测试孔121与测试开关122的一端连通，第二线束连接器单元134与测试开关122的另一端连通，测试开关122用于控制测试孔121和第二线束连接器单元134之间线路的通断。通过设置测试开关122可以根据实际情况对第一待测设备的性能进行测试，使得本公开转接盒100的适用范围更加广泛。

如图1~图3所示，当测试开关122处于闭合状态时，第一待测设备（图中未示出）和第二待测设备（图中未示出）连通，此时，检测装置（图中未示出）用于测试第一待测设备和第二待测设备连通时，第一待测设备的性能，以便于根据检测结果对第一待测设备进行调整，使得第一待测设备的性能满足第二待测设备性能要求，可以将满足第二待测设备性能要求的第一待测设备与第二待测设备连接在一起。此时的第二待测设备可以为火箭计算机模块，第一待测设备可以为传感器等装置。

如图1~图3所示，当上述第一待测设备（图中未示出）为传感器，需要测试该传感器的阻值时，若将第一待测设备和第二待测设备连通，该传感器的电阻与火箭计算机模块内的内部电路之间形成串并联关系，影响该传感器的阻值的测试结果。

为了避免上述情况的发生，可以在测试传感器的阻值时，将测试开关打开，使得该测试开关处于开放的状态，测试孔和第二线束连接器单元之间线路处于断开的状态。

如图1~图3所示，当上述第一待测设备的性能测试是依托于预设性能要求进行调整，而不是根据火箭计算机模块的性能要求进行调整时，可以将测试开关122打开，使得该测试开关122处于开放的状态，测试孔121和第二线束连接器单元134之间线路处于断开的状态，使用检测装置检测并调整第一待测设备的性能，直至第一待测设备的性能符合预设性能要求。应理解，这里的预设性能要求和前文的第二待测设备性能要求可以为具体的数值也可以为范围值，可以根据实际情况进行设置和选择。

在一些可选方式中，如图1~图3所示，上述每个线束连接器单元130还包括多个线束连接器132，线束连接器132和对应线束连接器单元130包括的线束连接器插座131连通。应理解，这里的对应是指，每个线束连接器单元130包括的线束连接器132和同一线束连接器单元130包括的线束连接器插座131连通。此时，当该转接盒100用于对第一待测设备的性能进行测试时，可以确定与该第一待测设备的接口规格匹配的线束连接器132，然后通过将选择的线束连接器132和第一待测设备的接口连接后，通过检测装置对第一待测设备的性能进行测试并调整。

在上述实施方式的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种转接盒，其特征在于，所述转接盒用于通过检测装置测量待测设备的性能，所述转接盒包括：壳体以及分别位于所述壳体上的多个测量单元和多个线束连接器单元；

每个所述线束连接器单元包括线束连接器插座，所述线束连接器插座和所述待测设备连通，至少两个所述线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同；

每个所述测量单元包括测试孔，所述测试孔分别和多个所述线束连接器单元连通，所述检测装置通过所述测试孔测试所述待测设备的性能。

2.根据权利要求1所述的转接盒，其特征在于，多个线束连接器单元包括互相连通的多个第一线束连接器单元和多个第二线束连接器单元，多个所述第一线束连接器单元和多个所述第二线束连接器单元分别位于所述壳体上，每个所述测量单元分别与多个第一线束连接器单元和多个第二线束连接器单元连通，所述待测设备包括第一待测设备和第二待测设备；

每个所述第一线束连接器单元和所述第一待测设备连通；

每个所述第二线束连接器单元和所述第二待测设备连通。

3.根据权利要求2所述的转接盒，其特征在于，多个第一线束连接器单元包括第一线束连接器插座，所述第一线束连接器插座和所述第一待测设备连通，至少两个所述第一线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同；和/或，

多个第二线束连接器插座的规格单元包括第二线束连接器插座，所述第二线束连接器插座和所述第二待测设备连通，至少两个所述第二线束连接器单元包括的线束连接器插座的规格不同。

4.根据权利要求1所述的转接盒，其特征在于，所述转接盒还包括多个内部线路，多个所述内部线路位于所述壳体内，每个所述测量单元通过对应所述内部线路分别与多个所述线束连接器单元连通。

5.根据权利要求4所述的转接盒，其特征在于，所述内部线路的数量与所述测量单元的数量相同。

6.根据权利要求4所述的转接盒，其特征在于，所述内部线路的数量至少与最大规格的所述线束连接器插座的接触件数量相同。

7.根据权利要求2所述的转接盒，其特征在于，所述测试孔包括互相连通的第一测试孔和第二测试孔；

所述第一测试孔分别与多个所述第一线束连接器单元连通；

所述第二测试孔分别与多个所述第二线束连接器单元连通。

8.根据权利要求7所述的转接盒，其特征在于，所述第一测试孔和所述第二测试孔对称分布在所述壳体上。

9.根据权利要求2所述的转接盒，其特征在于，每个所述测量单元还包括测试开关，所述第一线束连接器单元通过所述测试孔与所述测试开关的一端连通，所述第二线束连接器单元与所述测试开关的另一端连通，所述测试开关用于控制所述测试孔和所述第二线束连接器单元之间线路的通断；

当所述测试开关处于闭合状态时，所述第一待测设备和所述第二待测设备连通，所述检测装置用于测试所述第一待测设备和所述第二待测设备连通时所述第一待测设备的性能。

10.根据权利要求1所述的转接盒，其特征在于，每个所述线束连接器单元还包括线束连接器，所述线束连接器和对应所述线束连接器单元包括的所述线束连接器插座连通。