CN117210136A - 一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 - Google Patents
一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117210136A CN117210136A CN202311173687.4A CN202311173687A CN117210136A CN 117210136 A CN117210136 A CN 117210136A CN 202311173687 A CN202311173687 A CN 202311173687A CN 117210136 A CN117210136 A CN 117210136A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- cerium
- rare earth
- based rare
- earth polishing
- polishing slurry
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 110
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 108
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 79
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 64
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 title claims abstract description 59
- 239000002002 slurry Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title abstract description 9
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 41
- -1 cerium ion Chemical class 0.000 claims abstract description 35
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 16
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 238000001354 calcination Methods 0.000 claims abstract description 8
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims abstract description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000001238 wet grinding Methods 0.000 claims abstract description 8
- ONLCZUHLGCEKRZ-UHFFFAOYSA-N cerium(3+) lanthanum(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[O--].[O--].[La+3].[Ce+3] ONLCZUHLGCEKRZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims abstract description 5
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- LPAWMRUUNWKLMO-UHFFFAOYSA-N cerium(3+) lanthanum(3+) oxygen(2-) praseodymium(3+) Chemical compound [O-2].[Pr+3].[Ce+3].[La+3] LPAWMRUUNWKLMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N praseodymium atom Chemical compound [Pr] PUDIUYLPXJFUGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- RPVIOWZTWXBTOJ-UHFFFAOYSA-N [O-2].[Pr+3].[Nd+3].[Ce+3].[La+3].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2] Chemical compound [O-2].[Pr+3].[Nd+3].[Ce+3].[La+3].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2] RPVIOWZTWXBTOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 32
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 6
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 claims description 3
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000736032 Sabia <angiosperm> Species 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- KBLRIGLPGMRISA-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+) oxygen(2-) praseodymium(3+) Chemical compound [O-2].[Pr+3].[Nd+3].[O-2].[O-2] KBLRIGLPGMRISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,包括以下步骤:步骤一,取铈基稀土抛光粉纯氧化铈、氧化镧铈、含镨氧化铈、含氟氧化镧铈、含氟氧化镧铈镨、含氟氧化镧铈镨钕的一种或几种,取一定比例的铈金属粉末,将二者进行充分混合形成混合物;步骤二,将步骤一中的混合物在800‑1600℃温度下煅烧2‑10小时,之后随炉冷却;步骤三,将步骤二所得煅烧产物在球磨机中进行循环湿磨,得到高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料。本发明利用金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2进行高温反应,并通过湿磨过程获得一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料,以满足先进集成电路日益严格的抛光精度要求及高选择比抛光要求。
Description
技术领域
本发明涉及抛光粉技术领域,尤其涉及一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法。
背景技术
稀土抛光粉的主要组分是氧化铈,又称为氧化铈抛光粉、铈基稀土抛光粉,因其优异的抛光效果,也被誉为“抛光粉之王”。稀土抛光粉主要以纯的氧化铈、含镨氧化铈、含氟氧化镧铈、含氟氧化镧铈镨、含氟氧化镧铈镨钕等材料为主,目前主体抛光材料依旧以纯铈、含氟氧化镧铈为主。稀土抛光材料具有粒度均匀、硬度适中、抛光效率高、使用寿命长、抛光质量好、清洁环保等优点,广泛应用于液晶显示器、手机盖板、高端饰品、光学玻璃、精密光学元件、集成电路等领域的抛光。
稀土抛光材料的“抛光机理”通常认为是物理研磨和化学研磨的共同作用。物理研磨特指稀土抛光材料对物体表面所进行的机械磨削作用,来平整微痕使其表面光滑。影响其物理作用的主要因素包括稀土抛光磨料的形貌、粒径大小及分布、晶型结构与其力学性能。化学研磨是指稀土抛光材料中的氧化铈与硅基材料表面的硅醇键(-Si-(OH)x)脱水形成氧桥基键(-Si-O-Ce-),由于反应形成的-Ce-O-Si-键的键强比-Si-O-Si-键更强,所以导致被抛件表面SiO2在机械力作用下去除,从而提高抛光速率。
已有研究表明,稀土抛光材料颗粒表面Ce3+在化学研磨过程中具有重要的作用,Kelsall等人验证了Ce3+和玻璃表面之间的相互作用,磨料上的Ce3+会与SiO2表面键合反应形成-Si-O-Ce-键。Sabia等人认为CeO2磨料表面的Ce3+在抛光过程中会在颗粒/工件界面上产生更多可用的活性位点,这更有利于化学研磨过程的进行。因此,高三价铈离子含量铈基稀土抛光粉在集成电路抛光过程中,例如浅沟隔离(STI)和层间介电(ILD)的化学机械抛光(CMP),对SiO2和Si3N4的高选择抛光比中具有突出的优势。
但是已有研究表明,Ce2O3的制备是非常困难的。Ce2O3可以通过在高温下用氢或碳还原CeO2得到,但所得样品被证明对空气非常敏感,在室温条件下,空气中即可被氧化为CeO2,而且所获得的样品晶格中含有较多的碳原子,对后续的研磨抛光产生不利的影响。特别是在集成电路的抛光过程中,对抛光后的产品性能出现致命的缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,利用金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2进行高温反应,使得金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2转化为Ce2O3,调控铈基稀土抛光粉中Ce3+和Ce4+之间的比例以及用于电价平衡的氧空位浓度,通过湿磨过程获得一种高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料,以满足先进集成电路日益严格的抛光精度要求及高选择比抛光要求,解决现有铈基稀土抛光材料存在的上述缺陷。
为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
本发明一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,包括以下步骤:
步骤一,取铈基稀土抛光粉纯氧化铈、氧化镧铈、含镨氧化铈、含氟氧化镧铈、含氟氧化镧铈镨、含氟氧化镧铈镨钕的一种或几种,取一定比例的铈金属粉末,将二者进行充分混合形成混合物;
步骤二,将步骤一中的混合物在800-1600℃温度下煅烧2-10小时,之后随炉冷却,整个过程炉中通有保护气体、还原气体或二者的混合气体;
步骤三,将步骤二所得煅烧产物在球磨机中进行循环湿磨,得到研磨颗粒中位粒径D50为0.01-2μm,最大粒径不超过5μm的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料。
进一步的,所述步骤一中,铈金属与铈基稀土抛光粉的摩尔比为1:1-1:5。
进一步的,所述步骤二中,所述保护气体为氮气、氩气的一种或二者的混合气体,所述还原气体为氢气、一氧化碳的一种或二者的混合气体。
进一步的,所述铈基稀土抛光浆料的研磨颗粒中三价铈比例Ce3+/TRE为5.0%-50.0%。
进一步的,对步骤三中制备的所述高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料进行灌装及包装,即得成品。
进一步的,所述步骤二中,将步骤一中的混合物置于管式炉中煅烧。
术语“Ce3+/TRE”指的是三价铈离子占稀土总离子的比例;
术语“D50”指的是一个样品的累计粒度分布百分数达到50%时所对应的粒径,物理意义为粒径大于它的颗粒占50%,小于它的颗粒占50%。
与现有技术相比,本发明的有益技术效果:
本发明提供的一种高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料及制备方法,所得铈基稀土抛光浆料中的研磨颗粒具有高比例三价铈含量,其有利于与被抛件表面的Si结合,提高抛光效率,抛光表面具有低于纳米级的表面质量,而且其对集成电路中氧化硅与氮化硅的抛光具有更高的选择比;另一方面,本发明利用金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2进行高温反应,使得金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2都向Ce2O3转化,整个过程不会引人不利于抛光性能与抛光质量的其它杂质,所得铈基稀土抛光浆料具有更加优良的质量。此外,本发明提供的高三价铈离子含量铈基稀土抛光粉是以浆料的形式存在,避免了三价铈在空气中的氧化,更加有利于储存、运输与使用。
具体实施方式
实施例1
一种高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料,纯氧化铈稀土抛光浆料中研磨颗粒中位粒径D50为1.0μm,最大粒径为3.8μm,研磨颗粒中三价铈比例为33%。
制备方法包括以下步骤:
步骤一,取市售纯氧化铈300克,按氧化铈与金属铈摩尔比为3:1取铈金属粉末,将二者进行充分混合形成混合物;
步骤二,将步骤一中的混合物置于管式炉中,在1400℃温度下煅烧8小时,之后随炉冷却,整个煅烧过程炉中通有保护气体氮气;
将步骤二所得煅烧产物在球磨机中进行循环湿磨,得到研磨颗粒中位粒径D50为1.0μm,最大粒径为3.8μm的高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料。
实施例2
一种高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料,氧化镧铈稀土抛光浆料中研磨颗粒中位粒径D50为0.8μm,最大粒径为3.1μm,研磨颗粒中三价铈比例为23%。
制备方法包括以下步骤:
步骤一,取氧化镧铈500克,按氧化镧铈与金属铈摩尔比为4:1取铈金属粉末,将二者进行充分混合形成混合物;
步骤二,将步骤一中的混合物置于管式炉中,在1550℃温度下煅烧8小时,之后随炉冷却,整个煅烧过程炉中通有保护气体氮气与还原气体一氧化碳;
将步骤二所得煅烧产物在球磨机中进行循环湿磨,得到研磨颗粒中位粒径D50为0.8μm,最大粒径为3.1μm的高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料。
对比例1
一种市售纯氧化铈稀土抛光粉,中位粒径D50为1.0μm,最大粒径为3.8μm。
对比例2
一种市售氧化镧铈稀土抛光粉,中位粒径D50为0.8μm,最大粒径为3.1μm。
抛光性能测试:本实施例和对比例中的抛光实验在UNIPOL-1200S(沈阳科晶)自动压力研磨抛光机上对K9玻璃进行抛光评价。抛光液的固含量为10%,将Φ70mm的K9玻璃作为研磨材料,使用聚氨酯抛光垫对玻璃进行抛光。抛光头转速60转/分,抛光盘转速为40转/分,研磨压力6Kg。通过称量玻璃抛光前后的重量测定材料去除速率,每30分钟测定一次玻璃重量,取平均值评价抛光粉抛光性能。抛光后后使用原子力显微镜观察玻璃表面粗糙度。
表1本实施例和对比例中抛光粉的抛光性能
样品 | 材料去除速率(μm/30min) | 表面粗糙度(nm) | 表面划痕 |
实施例1 | 9.91 | 0.62 | 无 |
实施例2 | 7.86 | 0.58 | 无 |
对比例1 | 6.96 | 1.43 | 有 |
对比例2 | 5.51 | 1.15 | 无 |
由表1可知:本实施例的高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料利用金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2进行高温反应,使得金属铈与铈基稀土抛光粉中的CeO2转化为Ce2O3,调控了铈基稀土抛光粉中Ce3+和Ce4+之间的转化以及用于电价平衡的氧空位浓度,通过湿磨过程获得一种高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料,抛光粉颗粒中Ce3+在抛光过程中会在抛光粉颗粒/玻璃界面上产生更多可用的活性位点,Ce3+和玻璃表面之间的相互作用增强,Ce3+会与SiO2表面键合反应形成-Si-O-Ce-键,这更有利于研磨抛光过程的进行。由表1可知,本实施例的高三价铈离子含量铈基稀土抛光浆料的材料去除速率相比对比例更高,且表面粗糙度更好,表面无划伤。
以上所述的实施例仅是对本发明的优选方式进行描述,并非对本发明的范围进行限定,在不脱离本发明设计精神的前提下,本领域普通技术人员对本发明的技术方案做出的各种变形和改进,均应落入本发明权利要求书确定的保护范围内。
Claims (6)
1.一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,取铈基稀土抛光粉纯氧化铈、氧化镧铈、含镨氧化铈、含氟氧化镧铈、含氟氧化镧铈镨、含氟氧化镧铈镨钕的一种或几种,取一定比例的铈金属粉末,将二者进行充分混合形成混合物;
步骤二,将步骤一中的混合物在800-1600℃温度下煅烧2-10小时,之后随炉冷却,整个过程炉中通有保护气体、还原气体或二者的混合气体;
步骤三,将步骤二所得煅烧产物在球磨机中进行循环湿磨,得到研磨颗粒中位粒径D50为0.01-2μm,最大粒径不超过5μm的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料。
2.根据权利要求1所述的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,所述步骤一中,铈金属与铈基稀土抛光粉的摩尔比为1:1-1:5。
3.根据权利要求1所述的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,所述步骤二中,所述保护气体为氮气、氩气的一种或二者的混合气体,所述还原气体为氢气、一氧化碳的一种或二者的混合气体。
4.根据权利要求1所述的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,所述铈基稀土抛光浆料的研磨颗粒中三价铈比例Ce3+/TRE为5.0%-50.0%。
5.根据权利要求1所述的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,对步骤三中制备的所述高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料进行灌装及包装,即得成品。
6.根据权利要求1所述的高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法,其特征在于,所述步骤二中,将步骤一中的混合物置于管式炉中煅烧。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311173687.4A CN117210136B (zh) | 2023-09-12 | 2023-09-12 | 一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311173687.4A CN117210136B (zh) | 2023-09-12 | 2023-09-12 | 一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117210136A true CN117210136A (zh) | 2023-12-12 |
CN117210136B CN117210136B (zh) | 2024-04-05 |
Family
ID=89043698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311173687.4A Active CN117210136B (zh) | 2023-09-12 | 2023-09-12 | 一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN117210136B (zh) |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040031206A1 (en) * | 2001-09-17 | 2004-02-19 | Yoshitsugu Uchino | Cerium-based abrasive material slurry and method for producing cerium-based abrasive material slurry |
WO2007018376A1 (en) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | In Joung | Producing method for cerium-based glass polishing material and method for using the same |
CN101550318A (zh) * | 2008-04-03 | 2009-10-07 | 北京有色金属研究总院 | 一种含Ce3+的稀土抛光粉及其制备方法 |
US20100187470A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-07-29 | Seung Joo Lee | Fine cerium oxide powder and preparing method the same and cmp slurry comprising the same |
CN102936461A (zh) * | 2012-11-14 | 2013-02-20 | 内蒙古科技大学 | 一种富铈稀土抛光粉及其制备方法 |
CN103361030A (zh) * | 2013-07-23 | 2013-10-23 | 内蒙古科技大学 | 一种含镨超细高精密度稀土抛光粉及其制备方法 |
CN107841249A (zh) * | 2017-09-28 | 2018-03-27 | 东莞市赛亚稀土实业有限公司 | 一种氧化铈抛光粉的制备方法 |
CN111348673A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-06-30 | 安阳工学院 | 一种提高氧化铈化学活性的方法 |
CN111566179A (zh) * | 2017-11-15 | 2020-08-21 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 用于实施材料去除操作的组合物及其形成方法 |
JP2021127359A (ja) * | 2020-02-10 | 2021-09-02 | 日揮触媒化成株式会社 | セリア系複合微粒子分散液、その製造方法およびセリア系複合微粒子分散液を含む研磨用砥粒分散液 |
KR20220133773A (ko) * | 2021-03-25 | 2022-10-05 | 솔브레인 주식회사 | 화학적 기계적 연마 슬러리 조성물 및 반도체 소자의 제조 방법 |
-
2023
- 2023-09-12 CN CN202311173687.4A patent/CN117210136B/zh active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040031206A1 (en) * | 2001-09-17 | 2004-02-19 | Yoshitsugu Uchino | Cerium-based abrasive material slurry and method for producing cerium-based abrasive material slurry |
WO2007018376A1 (en) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | In Joung | Producing method for cerium-based glass polishing material and method for using the same |
CN101550318A (zh) * | 2008-04-03 | 2009-10-07 | 北京有色金属研究总院 | 一种含Ce3+的稀土抛光粉及其制备方法 |
US20100187470A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-07-29 | Seung Joo Lee | Fine cerium oxide powder and preparing method the same and cmp slurry comprising the same |
CN102936461A (zh) * | 2012-11-14 | 2013-02-20 | 内蒙古科技大学 | 一种富铈稀土抛光粉及其制备方法 |
CN103361030A (zh) * | 2013-07-23 | 2013-10-23 | 内蒙古科技大学 | 一种含镨超细高精密度稀土抛光粉及其制备方法 |
CN107841249A (zh) * | 2017-09-28 | 2018-03-27 | 东莞市赛亚稀土实业有限公司 | 一种氧化铈抛光粉的制备方法 |
CN111566179A (zh) * | 2017-11-15 | 2020-08-21 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 用于实施材料去除操作的组合物及其形成方法 |
JP2021127359A (ja) * | 2020-02-10 | 2021-09-02 | 日揮触媒化成株式会社 | セリア系複合微粒子分散液、その製造方法およびセリア系複合微粒子分散液を含む研磨用砥粒分散液 |
CN111348673A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-06-30 | 安阳工学院 | 一种提高氧化铈化学活性的方法 |
KR20220133773A (ko) * | 2021-03-25 | 2022-10-05 | 솔브레인 주식회사 | 화학적 기계적 연마 슬러리 조성물 및 반도체 소자의 제조 방법 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JIAHUI MA等: "Enhancing the Polishing Efficiency of CeO2 Abrasives on the SiO2 Substrates by Improving the Ce3+ Concentration on Their Surface", AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 28 December 2022 (2022-12-28), pages 526 * |
胡浩等: "球磨法制备铈基稀土抛光粉及其抛光性能研究", 稀土, vol. 40, no. 5, 31 October 2019 (2019-10-31), pages 47 - 54 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN117210136B (zh) | 2024-04-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5333571B2 (ja) | 研磨液及びこの研磨液を用いた基板の研磨方法 | |
JP2000336344A (ja) | 研磨剤 | |
CN1209431C (zh) | 用含氨基酸的组合物研磨内存或硬盘的方法 | |
TWI406815B (zh) | 氧化鈰的製造方法、以此方法製造之氧化鈰、以及含此氧化鈰之化學機械研磨液 | |
KR20080097954A (ko) | 연마재용 산화세륨 분말, 및 이를 포함하는 cmp 슬러리 | |
CN109104866B (zh) | 合成石英玻璃基板用研磨剂及合成石英玻璃基板的研磨方法 | |
EP2623469A1 (en) | Manufacture of synthetic quartz glass substrate | |
CN107743515A (zh) | 研磨组合物及其制造方法、以及研磨方法 | |
JP2008182179A (ja) | 研磨剤用添加剤、研磨剤、基板の研磨方法及び電子部品 | |
CN113897177A (zh) | 一种复合氧化物磨粒及其制备方法 | |
JP4202183B2 (ja) | 研磨用組成物 | |
US20090121178A1 (en) | Polishing Slurry | |
JP2012186339A (ja) | 研磨液及びこの研磨液を用いた基板の研磨方法 | |
CN117210136B (zh) | 一种高三价铈离子含量的铈基稀土抛光浆料的制备方法 | |
Chen et al. | Structural regulation and polishing performance of dendritic mesoporous silica (D-mSiO2) supported with samarium-doped cerium oxide composites | |
JP2005048125A (ja) | Cmp研磨剤、研磨方法及び半導体装置の製造方法 | |
KR101197163B1 (ko) | Cmp슬러리 | |
KR102580719B1 (ko) | 합성 석영유리기판용 연마제 및 그의 제조방법 그리고 합성 석영유리기판의 연마방법 | |
EP2810997A1 (en) | A chemical mechanical polishing (cmp) composition | |
KR20120067701A (ko) | 화학 기계적 연마용 슬러리 조성물 및 이를 이용하여 반도체 소자를 제조하는 방법 | |
CN108821324A (zh) | 一种纳米氧化铈及其制备方法和应用 | |
KR101196757B1 (ko) | 고정도 연마용 산화세륨의 제조방법 | |
JP2018002883A (ja) | サファイア板用研磨液組成物 | |
KR20220060342A (ko) | 코어가 산화세륨 입자로 코팅된 복합 입자의 제조방법 및 이의 의해 제조된 복합입자 | |
KR20060014658A (ko) | 화학 기계적 연마를 위한 산화세륨 연마입자 분산액 및 그제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |