CN117010322A - 标准单元的检查方法、装置及设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种标准单元的检查方法、装置及设备，该方法包括：获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元；根据检查需求，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；根据单元集合和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。进而，通过上述方法可以提高规则检查的准确性。

Description

标准单元的检查方法、装置及设备

技术领域

本申请涉及集成电路领域，尤其涉及一种标准单元的检查方法、装置及设备。

背景技术

目前，在集成电路设计过程中，通常有多个标准单元组成，其中，标准单元可以理解为自称集成电路的最基础单元。标准单元中可以包括有门电路和逻辑单元。在标准单元设计完成后，通常需要对设计好的标准单元进行物理规则的检查，以确保得到的标准单元符合设计规则。

如何对设计好的标准单元进行检查，以确保标准单元检查的准确性，是一个亟需解决的问题。

发明内容

本申请提供一种标准单元的检查方法、装置及设备，用以解决相关技术中标准单元检查不准确的问题。

第一方面，本申请提供一种标准单元的检查方法，包括：

获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；

根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；

根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，所述电路版图中包括所述待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

根据物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果；其中，所述物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

在一些实施例中，所述检查需求中包括：至少一个第一标识；所述第一标识为用于存储所述关联标准单元的单元库的标识；

根据所述检查需求，确定单元集合，包括：

根据所述第一标识，获取与所述第一标识所对应的白名单集合；其中，所述白名单集合中包括至少一个无关标准单元；所述无关标准单元为所述第一标识所对应的单元库中无需与所述待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；

根据所述白名单集合和所述第一标识所指示的单元库，确定所述单元集合。

在一些实施例中，根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图，包括：

确定所述待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息，并将所述第一布放信息写入位置集合中；其中，所述第一布放信息用于指示所述待检查的标准单元在所述空白版图中的布放位置；

重复以下步骤，直至达到第一预设条件：在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元；根据所述待定单元的第二器件参数信息和所述位置集合，确定所述待定单元的第二布放信息；将所述第二布放信息写入所述位置集合；所述第二布放信息为所述待定单元在所述空白版图中的布放位置；所述第一预设条件为停止选择待定单元的条件；

根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图。

在一些实施例中，根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图，包括：

根据所述位置集合，在空白版图上分别布放所述待检查的标准单元和所述待定单元，得到待定版图；

在所述待定版图中填充至少一个边界单元，得到所述电路版图；其中，所述电路版图中所述边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；所述第一区域为所述待检查的标准单元和所述待定单元在所述待定版图上占据的区域；所述第二区域为所述边界单元、所述待检查的标准单元以及所述待定单元所占据的区域；所述第二区域包括所述第一区域。

在一些实施例中，在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元，包括：

根据第一数量，随机生成一个随机数；所述第一数量为所述单元集合中的关联标准单元的总数量；

根据所述随机数，确定所述待定单元。

在一些实施例中，根据所述随机数，确定所述待定单元，包括：

确定与所述随机数一一对应的关联标准单元的第二器件参数信息；

若确定所述第二器件参数信息所指示的预设指标的参数值符合第二预设条件，则确定与所述随机数一一对应的关联标准单元，为所述待定单元；所述第二预设条件为待定单元的尺寸参数要求。

在一些实施例中，所述电路版图的数量为多个；

根据所述电路版图和物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果，包括：

将各个电路版图，写入至预设的空白文件中；

根据所述预设的空白文件的存储位置信息和所述物理设计规则，对所述预设的空白文件中的电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果。

第二方面，本申请提供一种标准单元的检查装置，包括：

获取单元，用于获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；

第一确定单元，用于根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；

第二确定单元，用于根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，所述电路版图中包括所述待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

检查单元，用于根据物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果；其中，所述物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

在一些实施例中，所述检查需求中包括：至少一个第一标识；所述第一标识为用于存储所述关联标准单元的单元库的标识；第一确定单元，包括：

获取模块，用于根据所述第一标识，获取与所述第一标识所对应的白名单集合；其中，所述白名单集合中包括至少一个无关标准单元；所述无关标准单元为所述第一标识所对应的单元库中无需与所述待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；

第一确定模块，用于根据所述白名单集合和所述第一标识所指示的单元库，确定所述单元集合。

在一些实施例中，第二确定单元，包括：

第二确定模块，用于确定所述待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息；

第一写入模块，用于并将所述第一布放信息写入位置集合中；其中，所述第一布放信息用于指示所述待检查的标准单元在所述空白版图中的布放位置；

重复以下第三确定模块、第四确定模块以及第二写入模块，直至达到第一预设条件：第三确定模块，用于在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元；第三确定模块，用于根据所述待定单元的第二器件参数信息和所述位置集合，确定所述待定单元的第二布放信息；第二写入模块，用于将所述第二布放信息写入所述位置集合；所述第二布放信息为所述待定单元在所述空白版图中的布放位置；所述第一预设条件为停止选择待定单元的条件；

生成模块，用于根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图。

在一些实施例中，生成模块，具体用于：

根据所述位置集合，在空白版图上分别布放所述待检查的标准单元和所述待定单元，得到待定版图；

在所述待定版图中填充至少一个边界单元，得到所述电路版图；其中，所述电路版图中所述边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；所述第一区域为所述待检查的标准单元和所述待定单元在所述待定版图上占据的区域；所述第二区域为所述边界单元、所述待检查的标准单元以及所述待定单元所占据的区域；所述第二区域包括所述第一区域。

在一些实施例中，第三确定模块，具体用于：

根据第一数量，随机生成一个随机数；所述第一数量为所述单元集合中的关联标准单元的总数量；根据所述随机数，确定所述待定单元。

在一些实施例中，第三确定模块，具体用于：

确定与所述随机数一一对应的关联标准单元的第二器件参数信息；若确定所述第二器件参数信息所指示的预设指标的参数值符合第二预设条件，则确定与所述随机数一一对应的关联标准单元，为所述待定单元；所述第二预设条件为待定单元的尺寸参数要求。

在一些实施例中，所述电路版图的数量为多个；检查单元，包括：

第三写入模块，用于将各个电路版图，写入至预设的空白文件中；

检查模块，用于根据所述预设的空白文件的存储位置信息和所述物理设计规则，对所述预设的空白文件中的电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果。

第三方面，本申请提供一种电子设备，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现如第一方面中所述的方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如第一方面中所述的方法。

第五方面，本申请提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中所述的方法。

本申请提供的标准单元的检查方法、装置及设备，该方法包括：获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元；根据检查需求，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；根据单元集合和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。本实施例中，为了提高待检查的标准单元检查的准确性，会将待检查的标准检查单元和与待检查的标准检查单元所关联使用的关联标准单元布放至同一电路版图中，以便在物理规则检查规则过程中，可以模拟真实的待检查的标准检查单元的使用场景进行检测，进而降低了后续在待检查的标准单元的实际使用过程中出现设计错误的可能性。而相关技术中仅对单一的待检查的标准检查单元进行检查的方式，进而无法真实模拟待检查的检查单元的实际使用场景，例如，和其余检查单元之间的连接、位置相对关系等，容易导致出现针对上述使用场景的检查规则无法通过的现象。相比于相关技术中当待检查的标准单元被实际应用到集成电路设计中时才能发现待检查的标准单元中的设计错误的问题，本实施例中所提供的检查方式，在对待检查的标准单元进行检查的阶段就考虑了后续待检查的标准单元的使用场景，进而可以避免后续在待检查的标准单元实际使用过程中，在包括待检查的标准单元的集成电路中出现问题时仍需要逐一进行单元排查的现象，有利于提高集成电路的设计效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请提供的一种标准单元的检查方法的流程示意图；

图2为本申请实施例提供的又一种标准单元的检查方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种电路版图的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的又一种测试版图的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的一种标准单元的检查装置的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的又一种标准单元的检查装置的结构示意图；

图7为本申请实施例中提供的一种电子设备的结构示意图。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

下列为本申请中所使用的名词的解释：

标准单元(Standard cell)，集成电路设计中的最基本的逻辑单元，通常包括基本门电路和简单的逻辑电路。

边界单元(Boundary cell)，用于确保芯片边界标准单元的物理环境一致。

在集成电路设计过程中，通常开发人员设计用于组成当前需要构建的集成电路的标准单元。在得到设计好的标准单元之后，开发人员通常直接对设计好的单个标准单元进行规则验证，以确保当前的标准单元设计符合设计标准。

然而，在单独对设计好的一个标准单元进行验证时，通常会出现规则检验出错的现象。举例来说，当需要验证的规则中存在一条用于验证标准单元和其余单元连接的连接方式的验证时，由于本次用于检查的器件中仅包括当前设计好的标准单元，进而导致当前设计好的标准单元无法通过上述检查规则的检查。然而，未通过上述检查并非代表单个的标准单元的设计上一定存在问题，具体地是否符合上述检查规则，还需要在实际集成电路构建好之后，才可以进行检查，进而导致后续实际集成电路设计中仍需不断修改。

为了避免仅对单一标准单元进行规则检查，容易导致出现检查误判的现象，并且，后续在标准单元实际被应用到集成电路中仍可以检查出问题的现象，本申请中，在标准单元设计完成阶段，就会将标准单元和后续标准单元被应用到实际电路中时的其余标准单元联合检查，进而确保可以在标准单元检查阶段就可以准确确定出标准单元是否存在设计问题。

下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。

图1为本申请提供的一种标准单元的检查方法的流程示意图，如图1所示，该方法包括以下步骤：

S101、获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元。

示例性地，本实施例中，当确定标准单元设计结束需要进行验证时，首先可以获取待检查的标准单元所对应的检查需求。其中，检查需求可以用于指示与待检查的标准单元相关联的其余标准单元(即，关联标准单元)，也就是说，可以理解为在实际应用过程中需要和待检查的标准单元一起使用(例如，需要关联连接的、需要结合使用组成某一具体地电路模块)的其余标准单元。

S102、根据检查需求，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元。

示例性地，在确定出检查需求之后，进一步的可以将检查需求所指示的关联标准单元写入至单元集合中。

一个示例中，检查需求中具体可以包括关联标准单元的名称，以便后续可以通过关联标准单元的名称查找到相应的关联标准单元第一器件参数。需要说明的是，第一器件参数信息为用于描述关联标准单元所对应的设计参数(例如，注入的粒子类型、关联标准单元的层级等)。

一个示例中，检查需求中也可以具体包括各个关联标准单元各自所对应的第一器件参数的存储位置。本实施例中，对于检查需求的具体内容不做限制。

S103、根据单元集合和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元。

示例性地，本实施例中，当确定出单元集合之后，进一步的，可以根据单元结合中所包含的第一器件参数，和标准单元，构建多个电路版图。需要说明的是，此处的电路版图可以理解为一种集成电路设计版图，用于对待检查的标准单元进行检查。

一个示例中，在根据检查需求和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图时，可以可以根据预先设计的版图模板，其中，版图模板中可以预先划分多个区域，在构建电路版图时，可以根据版图模板中的区域尺寸，在单元集合中匹配符合上述尺寸要求的关联标准单元，并将匹配出的关联标准单元和待检查的标准单元，添加至版图模板中进而生成电路版图。

一个示例中，在生成电路版图时，可以根据检查需求中所要求的检查准确度，来确定电路版图的数量以及电路版图中的关联标准单元的数量。之后，在根据所确定的关联标准单元的数量，在单元集合中选择指定的关联标准单元。并根据预设的摆放规则，将关联标准单元和待检查的标准单元进行排列得到电路版图。

一个示例中，在电路版图中还设置有至少一个边界单元，以便通过设置边界单元来确保芯片边界的标准单元的物理环境一致，并且，通过设置上述边界单元，还可以避免规则检查过程中的检查错误，避免无效检查。

一个示例中，在电路版图中还设置有至少一个TAP cell，以避免标准单元出现栓锁效应。

S104、根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

示例性地，本实施例中，在获取到电路版图之后，根据电路版图中所包含的待检查单元以及关联标准单元，调取预先设置的物理设计规则，对电路版图进行检查检查，以便确定出最终的检查结果。

在实际应用过程中，当电路版图的数量为多个时，可以通过多次调用预先设置的物理设计规则，通过不断改变检查程序中的待检查的电路版图的存储位置，逐一对多个电路版图进行规则检查。

具体地，检查结果可以用于表征待检查的标准单元是否符合物理设计规则，若待检查的标准单元未通过物理设计规则检查时，可以向设计人员反馈当前待检查的标准单元不符合的物理设计规则。

可以理解的是，本实施例中，为了提高待检查的标准单元检查的准确性，会将待检查的标准检查单元和与待检查的标准检查单元所关联使用的关联标准单元布放至同一电路版图中，以便在物理规则检查规则过程中，可以模拟真实的待检查的标准检查单元的使用场景进行检测，进而降低了后续在待检查的标准单元的实际使用过程中出现设计错误的可能性。而相关技术中仅对单一的待检查的标准检查单元进行检查的方式，进而无法真实模拟待检查的检查单元的实际使用场景，例如，和其余检查单元之间的连接、位置相对关系等，容易导致出现针对上述使用场景的检查规则无法通过的现象。相比于相关技术中当待检查的标准单元被实际应用到集成电路设计中时才能发现待检查的标准单元中的设计错误的问题，本实施例中所提供的检查方式，在对待检查的标准单元进行检查的阶段就考虑了后续待检查的标准单元的使用场景，进而可以避免后续在待检查的标准单元实际使用过程中，在包括待检查的标准单元的集成电路中出现问题时仍需要逐一进行单元排查的现象，有利于提高集成电路的设计效率。

图2为本申请实施例提供的又一种标准单元的检查方法的流程示意图，如图2所示，该方法包括以下步骤：

S201、获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元。

示例性地，本实施例中，步骤S201可以参见步骤S101，此处不再赘述。

S202、根据第一标识，获取与第一标识所对应的白名单集合；其中，白名单集合中包括至少一个无关标准单元；无关标准单元为第一标识所对应的单元库中无需与待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；检查需求中包括：至少一个第一标识；第一标识为用于存储关联标准单元的单元库的标识。

示例性地，本实施例中，在步骤S201中所获取的检查需求中包括有用于存储关联标准单元的单元库所对应的第一标识。需要说明的是，当待检查的标准单元所对应的关联标准单元并非存储在一个单元库中时，则检查需求中可以包括多个第一标识。

此外，在分单元库存储标准单元时，通常会将关联使用频率较高的多个标准单元存储在同一单元库中，因此，待检查的标准单元所对应的关联标准单元通常为一个单元库中所包含的全部标准单元或者大部分标准单元。因此，本实施例中可以通过在检查需求中通过设置第一标识的方式来指定待检查的标准单元所对应的关联标准单元。

当单元库中存在实际应用中无需与待检查的标准单元同时使用的其余标准单元(即，无关标准单元)时，还可以通过设置白名单集合的方式来指示上述无关标准单元。

具体地，当根据检查需求获取到第一标识之后，可以根据第一标识，确定是否存在与第一标识对应的白名单集合。当不存在第一标识对应的白名单集合时，则表明第一标识所指示的单元库中包含的每一标准单元均可以作为关联标准单元。

在实际应用中，单元集合中可以采用二维数组的方式存储各个关联标准单元的器件参数信息，例如，器件参数信息中包括：关联标准单元的名称、关联标准单元的四个顶点的坐标信息、根据上述坐标信息所确定的长度信息、以及根据坐标信息确定的宽度信息。

S203、根据白名单集合和第一标识所指示的单元库，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元。

示例性地，若第一标识具有对应的白名单集合，则表征第一标识中存在无关标准单元，则可以将第一标识所对应的单元库中除无关标准单元以外的其余的标准单元作为关联标准单元。

进而，通过多对个第一标识各自所对应的单元库逐一进行上述处理之后，则可以将确定出的全部关联标准单元写入至单元集合中。

可以理解的是，相比于相关技术中将各个关联标准单元的标识作为检查需求所包含的内容的检查需求检查方式，本实施例中通过在检查需求中设置单元库所对应的第一标识的方式来设置检查需求，进一步的结合白名单集合的设置方式，可以减少检查需求所占用的存储空间，降低设备存储资源的消耗量。

S204、确定待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息，并将第一布放信息写入位置集合中；其中，第一布放信息用于指示待检查的标准单元在空白版图中的布放位置。

示例性地，本实施例中，当确定出待检查的标准单元对应的单元集合之后，首先可以确定待检查的标准单元在空白版图上布放时所对应的位置信息(即，上述第一布放信息)。当确定第一布放信息之后，进一步的将第一布放信息存储到初始状态为空的一个位置集合中。

重复以下步骤S205-S206，直至达到第一预设条件：

S205、在单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元。

示例性地，在确定出上述单元集合之后，可以在单元集合中选择一个关联标准单元作为后续需要布放在空白版图上与待检查的标准单元相关联检查的标准单元，即将选择出的关联标准单元作为上述待定单元。

一个示例中，在单元集合中选择关联标准单元时，可以按照关联标准单元在单元库中的排列顺序依次进行关联标准单元的选择。

一个示例中，步骤S205包括以下步骤：“根据第一数量，随机生成一个随机数；第一数量为单元集合中的关联标准单元的总数量；根据随机数，确定待定单元。”

示例性地，本实施例中，在单元集合中选择关联标准单元时，可以通过生成随机数的方式来确定本次需要选择的关联标准单元。即，首先确定单元集合中所包含的关联标准单元的总数量。之后，根据得到总数量(即，上述第一数量)，来进一步确定本次需要选择的关联标准单元。例如，可以根据总数量来确定生成的随机数的取值范围，之后，在上述取值范围内随机产生一个随机数，并将该随机数所对应的关联标准单元作为待定单元。

可以理解的是，本实施例中，通过随机数的方式，确定需要与待检查的标准单元进行检查的关联标准单元(即，待定单元)，可以提高后续规则检查检查的随机性，提高检查的准确性。

一个示例中，在执行步骤“根据随机数，确定待定单元”，包括以下步骤：“确定与随机数一一对应的关联标准单元的第二器件参数信息；若确定第二器件参数信息所指示的预设指标的参数值符合第二预设条件，则确定与随机数一一对应的关联标准单元，为待定单元；第二预设条件为待定单元的尺寸参数要求”。

示例性地，本实施例中，在根据随机数，确定本次选择的关联标准单元，首先可以根据当前生成的随机数，确定与该随机数一一对应的关联标准单元。之后，还需要对关联标准单元所对应的第二器件参数信息进行检查。需要说明的是，第二器件参数信息为关联标准单元所对应的设计参数，用于指示关联标准单元的结构信息。

在对第二器件参数信息进行检查时，可以检查第二器件参数信息是否符合预先设置的第二预设条件，具体地，第二预设条件可以为用于对第二器件参数所包含的用于表征关联标准单元的边界所对应的长度信息和/或高度信息进行检查的规则，例如，长度信息和高度信息不为空，且取值大于0。

进而，当确定第二器件参数信息符合上述第二预设条件时，可以将当前选择出的关联标准单元确定为待定单元。

一种可能的情况下，若确定第二器件参数信息不符合预先设置的第二预设条件，则可以重新生成一个随机数，以便重新选择关联标准单元。当第二预设条件为标准单元的边界所对应的长度信息和/或高度信息不为空，且取值大于0时，则可以将不符合上述第二预设条件的关联标准单元在单元集合中删除，即将参数信息不完整或者有明显错误的关联标准单元删除，以避免影响后续的检查结果的准确性。

可以理解的是，本实施例中，在单元集合中确定待定单元时，还会对选择出关联标准单元所对应的第二器件参数进行检查，进而可以避免将第二器件参数不完整的关联标准单元和待检查的标准单元一起进行规则检查时所导致的检查结果不准确的问题。

S206、根据待定单元的第二器件参数信息和位置集合，确定待定单元的第二布放信息，并将第二布放信息写入位置集合；第二布放信息为待定单元在空白版图中的布放位置。

示例性地，本实施例中，当确定出待定单元之后，可以进一步的根据第二器件参数信息(例如，第二器件参数信息中用于表征待定单元的长度和宽度的参数)，确定待定单元在空白版图上所对应的第二布放信息，并将上述第二布放信息也写入位置集合中，以便确定后续的待定单元所对应的排布信息。

需要说明的是，一种可能的实现方式中，在确定待定单元对应的第二布放信息时，可以将待定单元设置在待检查的标准单元的左侧，之后，每确定出一个待定单元，都可以沿着待检查的标准单元的外部边沿依次进行排列。

不断重复上述步骤S205和步骤S206，直至达到预先设置的第一预设条件，第一预设条件可以理解为停止选择待定单元的条件；例如第一预设条件可以为：达到了预先设置的版图排布时间、待检查的标准单元周围无法继续设置待定单元、待检查的标准单元的周围的待定单元的数量已达到预设值中的任一项。其中，待检查的标准单元的周围的待定单元的数量所对应的预设值，可以根据待检查的标准单元所对应过的检查准确度要求以及检查时长确定。

S207、根据位置集合、待检查的标准单元以及待定单元，生成电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

示例性地，当上述步骤S205-步骤S206的循环过程结束之后，进一步的可以根据最终所得到的位置信息集合中所包含的第一布放信息和第二布放信息，在空白版图上对应设置待检查的标准单元和根据上述步骤所确定出的待定单元，进而得到电路版图。

需要说明的是，步骤S205-步骤S207为生成一个电路版图的具体过程，当生成的电路版图的数量为多个时，可以重复上述过程进而得到多个电路版图。

如图3所示，图3为本申请实施例提供的一种电路版图的结构示意图，如图3所示，图中包括有一个待检查的标准单元(即，图中的cell1)，以及围在待检查的标准单元11个待定单元(即，图中的Cell2-Cell9)。需要说明的是，本实施例中所提供的电路版图的结构仅为一种可能的方式，在实际应用中，电路版图中的待检查的标准单元和待定单元所组成的区域不一定为矩形，也可能不规则图形。并且，在围绕待检查的标准单元设置待定单元时，在待检查单元的每一侧都可以预先设置需要摆放的待定单元的数量，每选定一个待定单元，都可以结合之前选定的待定单元的布放信息，确定本次选定的待定单元的布放信息。例如，摆放顺序可以为从待检查的标准单元的左下角开始，顺时针方向围绕其开始布放。此外，由于标准单元都具有各自的供电端和接地端，因此，在顺时针摆放多个待定单元时，还需要确定每一待定单元是奇数次挑选的还是偶数次挑选的，以便确定标准单元是否需要旋转一定的角度，以确保两个相邻的标准单元的供电端可以连接在一起，进而节省面积。实际应用中，当电路版图中的待检查的标准单元和待定单元所组成的区域不是矩形区域时，进一步的可以用fillcell(填充单元格)进行区域填充，以便得到一个矩形区域。

可以理解的是，本实施例中，重复在单元集合中确定待定单元以及待定单元的布放信息的方式，对将待定单元和待检查的单元排布在空白版图上的方式，相比于预先对版图中的区域进行提前划分后续在选择符合区域大小要求的待定单元的方式，本实施例中这种随机选择布放的方式，可以提高电路版图的随机性，以便提高后续检查的准确性。

一个示例中，在执行上述步骤S207时，可以通过以下步骤实现：根据位置集合，在空白版图上分别布放待检查的标准单元和待定单元，得到待定版图；在待定版图中填充至少一个边界单元，得到电路版图；其中，电路版图中边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；第一区域为待检查的标准单元和关联标准单元在待定版图上占据的区域；第二区域为边界单元、待检查的标准单元以及关联标准单元所占据的区域；第二区域包括第一区域。

示例性地，本实施例中，在根据位置集合生成电路版图的过程中，首先可以将位置集合中所包含的第一布放信息和第二布放信息，向空白版图上放置待检查的标准单元和待定单元，进而得到待定版图。之后，为了提高规则检查结果的准确性，还可以在待定版图上添加边界单元。其中，在待定版图上排布边界单元时，所设置的边界单元所处的区域需要正好围绕在第一区域的边缘，其中，第一区域为待定单元和待检查的标准单元所对应占据的区域。并且，在设置边界单元，需要确保边界单元、待定单元以及待检查的标准单元所围成的区域为一个矩形区域，进而，确定处于边界的标准单元的物理环境一致，避免处于边界的标准单元的被损坏，更加真实的模拟实际使用过程中的标准单元的使用，以便提高检查结果的准确性。

如图4所示，图4为本申请实施例提供的又一种测试版图的结构示意图。如图4所示，在图3所示的结构的基础上，还设置有8个边界单元(即，图中的边界单元1-8)，且，图中多个边界单元围绕在待定单元的边界处，且，最终围成一个矩形区域。

S208、根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

一个示例中，当电路版图的数量为多个时，在执行步骤S208时，可以通过以下步骤实现：“将各个电路版图，写入至预设的空白文件中；根据预设的空白文件的存储位置信息和物理设计规则，对预设的空白文件中的电路版图进行物理验证，得到待检查的标准单元的检查结果。”

示例性地，本实施例中，当电路版图的数量的多个，可以将多个电路版图存储至同一预设的空白文件中。之后，在进行测试时，可以直接根据预设的空白文件的存储位置信息和物理设计规则，同时对预设的空白文件中包括的多个电路版图进行物理验证，以便获取到检查结果。

可以理解的是，相比于在检查过程中不断切换当前检查的电路版图所对应的位置信息来实现对多个电路版图的检查，本实施例中通过将多个电路版图写入至同一空白文件中的方式，可以一次实现对多个电路版图的检查，进而，有利于提高检查的效率，避免重复的地址切换操作所导致的检查时间耗时较多的问题。

本实施例中，相比于相关技术中将各个关联标准单元的标识作为检查需求所包含的内容的检查需求检查方式，本实施例中通过在检查需求中设置单元库所对应的第一标识的方式来设置检查需求，进一步的结合白名单集合的设置方式，可以减少检查需求所占用的存储空间，降低设备存储资源的消耗量。此外，通过重复在单元集合中确定待定单元以及待定单元的布放信息的方式，对将待定单元和待检查的单元排布在空白版图上的方式，相比于预先对版图中的区域进行提前划分后续在选择符合区域大小要求的待定单元的方式，本实施例中这种随机选择布放的方式，可以提高电路版图的随机性，以便提高后续检查的准确性。

图5为本申请实施例提供的一种标准单元的检查装置的结构示意图，如图5所示，该装置包括：

获取单元501，用于获取待检查的标准单元和待检查的标准单元的检查需求；其中，检查需求用于指示关联标准单元；

第一确定单元502，用于根据检查需求，确定单元集合；其中，单元集合中包括至少一个关联标准单元；关联标准单元为待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；

第二确定单元503，用于根据单元集合和待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，电路版图中包括待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

检查单元504，用于根据物理设计规则，对电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果；其中，物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

本实施例提供的装置，用于实现上述方法提供的技术方案，其实现原理和技术效果类似，不再赘述。

图6为本申请实施例提供的又一种标准单元的检查装置的结构示意图，如图6所示，在图5所示的装置结构的基础上，检查需求中包括：至少一个第一标识；第一标识为用于存储关联标准单元的单元库的标识；第一确定单元502，包括：

获取模块5021，用于根据第一标识，获取与第一标识所对应的白名单集合；其中，白名单集合中包括至少一个无关标准单元；无关标准单元为第一标识所对应的单元库中无需与待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；

第一确定模块5022，用于根据白名单集合和第一标识所指示的单元库，确定单元集合。

在一些实施例中，第二确定单元503，包括：

第二确定模块5031，用于确定待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息；

第一写入模块5032，用于并将第一布放信息写入位置集合中；其中，第一布放信息用于指示待检查的标准单元在空白版图中的布放位置；

重复以下第三确定模块5033、第四确定模块5034以及第二写入模块5035，直至达到第一预设条件：第三确定模块5033，用于在单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元；第四确定模块5034，用于根据待定单元的第二器件参数信息和位置集合，确定待定单元的第二布放信息；第二写入模块5035，用于将第二布放信息写入位置集合；第二布放信息为待定单元在空白版图中的布放位置；第一预设条件为停止选择待定单元的条件；

生成模块5036，用于根据位置集合、待检查的标准单元以及待定单元，生成电路版图。

在一些实施例中，生成模块5036，具体用于：

根据位置集合，在空白版图上分别布放待检查的标准单元和待定单元，得到待定版图；

在待定版图中填充至少一个边界单元，得到电路版图；其中，电路版图中边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；第一区域为待检查的标准单元和待定单元在待定版图上占据的区域；第二区域为边界单元、待检查的标准单元以及待定单元所占据的区域；第二区域包括第一区域。

在一些实施例中，第三确定模块5036，具体用于：

根据第一数量，随机生成一个随机数；第一数量为单元集合中的关联标准单元的总数量；根据随机数，确定待定单元。

在一些实施例中，第三确定模块5036，具体用于：

确定与随机数一一对应的关联标准单元的第二器件参数信息；若确定第二器件参数信息所指示的预设指标的参数值符合第二预设条件，则确定与随机数一一对应的关联标准单元，为待定单元；第二预设条件为待定单元的尺寸参数要求。

在一些实施例中，电路版图的数量为多个；检查单元504，包括：

第三写入模块5041，用于将各个电路版图，写入至预设的空白文件中；

检查模块5042，用于根据预设的空白文件的存储位置信息和物理设计规则，对预设的空白文件中的电路版图进行检查，得到待检查的标准单元的检查结果。

本实施例提供的装置，用于实现上述方法提供的技术方案，其实现原理和技术效果类似，不再赘述。

本申请提供一种电子设备，以及与处理器通信连接的存储器；

存储器存储计算机执行指令；

处理器执行存储器存储的计算机执行指令，以实现如上述实施例中任一项的方法。

图7为本申请实施例中提供的一种电子设备的结构示意图，如图7所示，该电子设备包括：

处理器(processor)291，电子设备还包括了存储器(memory)292；还可以包括通信接口(Communication Interface)293和总线294。其中，处理器291、存储器292、通信接口293、可以通过总线294完成相互间的通信。通信接口293可以用于信息传输。处理器291可以调用存储器292中的逻辑指令，以执行上述实施例的方法。

此外，上述的存储器292中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

存储器292作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序，如本申请实施例中的方法对应的程序指令/模块。处理器291通过运行存储在存储器292中的软件程序、指令以及模块，从而执行功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的方法。

存储器292可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端设备的使用所创建的数据等。此外，存储器292可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器。

本申请提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，计算机执行指令被处理器执行时用于实现任一项的方法。

本申请提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现任一项的方法。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。

Claims (10)

1.一种标准单元的检查方法，其特征在于，包括：

获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；

根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；

根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，所述电路版图中包括所述待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

根据物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果；其中，所述物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检查需求中包括：至少一个第一标识；所述第一标识为用于存储所述关联标准单元的单元库的标识；

根据所述检查需求，确定单元集合，包括：

根据所述第一标识，获取与所述第一标识所对应的白名单集合；其中，所述白名单集合中包括至少一个无关标准单元；所述无关标准单元为所述第一标识所对应的单元库中无需与所述待检查的标准单元在实际应用过程中关联使用的标准单元；

根据所述白名单集合和所述第一标识所指示的单元库，确定所述单元集合。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图，包括：

确定所述待检查的标准单元在空白版图中的第一布放信息，并将所述第一布放信息写入位置集合中；其中，所述第一布放信息用于指示所述待检查的标准单元在所述空白版图中的布放位置；

重复以下步骤，直至达到第一预设条件：在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元；根据所述待定单元的第二器件参数信息和所述位置集合，确定所述待定单元的第二布放信息；将所述第二布放信息写入所述位置集合；所述第二布放信息为所述待定单元在所述空白版图中的布放位置；所述第一预设条件为停止选择待定单元的条件；

根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述位置集合、所述待检查的标准单元以及所述待定单元，生成电路版图，包括：

根据所述位置集合，在空白版图上分别布放所述待检查的标准单元和所述待定单元，得到待定版图；

在所述待定版图中填充至少一个边界单元，得到所述电路版图；其中，所述电路版图中所述边界单元位于第一区域的外边界处，且第二区域为矩形区域；所述第一区域为所述待检查的标准单元和所述待定单元在所述待定版图上占据的区域；所述第二区域为所述边界单元、所述待检查的标准单元以及所述待定单元所占据的区域；所述第二区域包括所述第一区域中。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述单元集合选择一个关联标准单元作为待定单元，包括：

根据第一数量，随机生成一个随机数；所述第一数量为所述单元集合中的关联标准单元的总数量；

根据所述随机数，确定所述待定单元。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述随机数，确定所述待定单元，包括：

确定与所述随机数一一对应的关联标准单元的第二器件参数信息；

若确定所述第二器件参数信息所指示的预设指标的参数值符合第二预设条件，则确定与所述随机数一一对应的关联标准单元，为所述待定单元；所述第二预设条件为待定单元的尺寸参数要求。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述电路版图的数量为多个；

根据所述电路版图和物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果，包括：

将各个电路版图，写入至预设的空白文件中；

根据所述预设的空白文件的存储位置信息和所述物理设计规则，对所述预设的空白文件中的电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果。

8.一种标准单元的检查装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取待检查的标准单元和所述待检查的标准单元的检查需求；其中，所述检查需求用于指示关联标准单元；

第一确定单元，用于根据所述检查需求，确定单元集合；其中，所述单元集合中包括至少一个关联标准单元；所述关联标准单元为所述待检查的标准单元在实际应用过程中需要关联使用的标准单元；

第二确定单元，用于根据所述单元集合和所述待检查的标准单元，确定至少一个电路版图；其中，所述电路版图中包括所述待检查的标准单元和至少一个关联标准单元；

检查单元，用于根据物理设计规则，对所述电路版图进行检查，得到所述待检查的标准单元的检查结果；其中，所述物理设计规则为用于对待检查的标准单元进行检查的规则。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现如权利要求1至7中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1至7中任一项所述的方法。