CN116168750B - 存储器阵列修补方法 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种存储器阵列修补方法，涉及半导体技术领域。该方法包括：获取目标存储器阵列的故障单元位置信息；读取预设格式的冗余架构数据；对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列；对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果；根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。该方法提高了故障单元修复效率。

Description

存储器阵列修补方法

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，具体而言，涉及一种存储器阵列修补方法。

背景技术

随着半导体技术的迅速发展，一方面促进了半导体存储器容量和密度的快速提高，另一方面也对存储器芯片的设计和测试带来了诸多挑战。在芯片的研制、生产等过程中，不可避免会产生故障单元。为了修复这些故障单元以提升芯片产品良率，冗余架构和用于对冗余架构中的备用电路进行分派的冗余分析（Redundancy Analysis，RA）算法被广为采用。冗余架构中备用电路的数量通常有限，因此，如何选择从备用电路配置不同的多个冗余架构中确定合适的冗余架构，以提高故障单元修复效率成为亟待解决的问题。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种存储器阵列修补方法，至少在一定程度上提高故障单元修复效率。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一方面，提供一种存储器阵列修补方法，包括：获取目标存储器阵列的故障单元位置信息；读取预设格式的冗余架构数据；对所述冗余架构数据按照所述预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，所述多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，所述备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列；对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息和所述冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果；根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补。

根据本公开的一实施例，所述方法还包括：获取冗余架构初始信息；从所述冗余架构初始信息中提取调控维度；根据所述调控维度建立第一冗余架构模型；按照所述第一冗余架构模型对所述冗余架构初始信息进行格式化处理，获得所述预设格式的冗余架构数据。

根据本公开的一实施例，根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，包括：读取所述各个冗余架构的模拟修补结果；对于所述各个冗余架构，根据模拟修补结果按照预设指标进行统计分析，获得分析结果；根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构。

根据本公开的一实施例，根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，还包括：根据所述各个冗余架构的分析结果生成可视化分析报告；根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构，包括：根据所述各个冗余架构的分析结果和所述可视化分析报告比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构。

根据本公开的一实施例，所述冗余架构的信息包括对应的备用电路配置中备用电路的类型、备用电路的长度、以及备用线路的数量；对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息和所述冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果，包括：对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，根据目标存储器阵列的阵列大小和所述备用电路的长度对所述目标存储器阵列进行块划分，获得目标存储器阵列的块划分结果；根据所述目标存储器阵列的块划分结果、所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息；通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果。

根据本公开的一实施例，所述目标存储器阵列的块划分结果包括目标存储器阵列的各个块的编号；所述备用电路的覆盖块信息包括各个备用电路的覆盖块的编号；根据所述目标存储器阵列的块划分结果、所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息，包括：根据所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量将各个备用电路与所述目标存储器阵列的各个块的编号进行对应，获得所述各个备用电路的覆盖块的编号。

根据本公开的一实施例，所述目标存储器阵列的块划分结果还包括各个块的对应的地址范围；通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果，包括：通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果。

根据本公开的一实施例，所述备用电路的类型包括全局类型、中间类型和本地类型；通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果，包括：根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照预设块顺序依次为各个块的故障单元模拟分派备用电路，获得所述模拟修补结果，其中，本地类型备用电路的分派优先级大于中间类型备用电路的分派优先级，中间类型备用电路的分派优先级大于全局类型备用电路的分派优先级。

根据本公开的一实施例，所述多个冗余架构包括第一冗余架构和第二冗余架构，所述第一冗余架构对应的备用电路配置包括多个本地类型备用列和多个全局类型备用行，所述第一冗余架构对应的备用电路配置包括多个本地类型备用列、多个中间类型备用列和多个全局类型备用行；所述目标存储器阵列包括第一块、第二块、第三块和第四块；根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照预设块顺序依次为各个块的故障单元模拟分派备用电路，获得所述模拟修补结果，包括：对于所述第一冗余架构，根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照列优先修补规则，为所述第一块和所述第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为所述第三块模拟分派对应的本地类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列和/或全局类型备用行对所述第四块进行分析，获得第一冗余架构的模拟修补结果为不可修补；对于所述第二冗余架构，根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照所述列优先修补规则，为所述第一块和所述第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为所述第三块模拟分派对应的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行对所述第四块进行分析，获得第二冗余架构的模拟修补结果为可修补；根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，包括：根据所述第一冗余架构的模拟修补结果和所述第二冗余架构的模拟修补结果将所述第二冗余架构确定为所述目标冗余架构，以利用所述第二冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补。

根据本公开的一实施例，还包括：通过数据采集引擎以预设频率从存储器自动化测试设备中批量采集故障存储器信息；通过存储服务将所述故障存储器信息缓存至第一数据库中；获取目标存储器阵列的故障单元位置信息，包括：从所述第一数据库中读取所述故障存储器信息，获得所述目标存储器阵列的故障单元位置信息。

根据本公开的再一方面，提供一种存储器阵列修补装置，包括：第一获取模块，用于获取目标存储器阵列的故障单元位置信息；第二获取模块，用于读取预设格式的冗余架构数据；模型解析模块，用于对所述冗余架构数据按照所述预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，所述多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，所述备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列；处理模块，用于对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息和所述冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果；评估模块，用于根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补。

根据本公开的再一方面，提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器中并可在所述处理器中运行的可执行指令，所述处理器执行所述可执行指令时实现如上述任一种方法。

根据本公开的再一方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时实现如上述任一种方法。

本公开的实施例提供的存储器阵列修补方法，通过读取预设格式的冗余架构数据并对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个对应各自包括至少一个备用行和至少一个备用列的备用电路配置的冗余架构的信息对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据获取的目标存储器阵列的故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果，然后根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，从而可在解析获取统一配置化格式的冗余架构的信息和获取存储器阵列的故障单元位置信息的基础上，通过第一冗余分析算法对各个冗余架构进行模拟分派，并据此确定目标冗余架构，以对不同的备用电路配置进行模拟评估，实现了一定程度上提高故障单元修复效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。

附图说明

通过参照附图详细描述其示例实施例，本公开的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。

图1示例性示出了一种存储器阵列及其备用电路的修复示意图。

图2示出本公开实施例中一种存储器阵列修补方法的流程图。

图3示出了图2中所示的步骤S202在一实施例中的处理过程示意图。

图4是根据图3示出的测试数据采集架构示意图。

图5示出了图2中所示的步骤S204在一实施例中的处理过程示意图。

图6根据一示例性实施例示出了一种备用电路调控维度示意图。

图7示出了图2中所示的步骤S206在一实施例中的处理过程示意图。

图8是根据图4和图7示出的备用电路模拟分派架构示意图。

图9示出了图2中所示的步骤S208在一实施例中的处理过程示意图。

图10示出了图2中所示的步骤S208在另一实施例中的处理过程示意图。

图11是根据图8至图10示出的评估架构示意图。

图12是根据图2至图11示出的冗余架构模拟评估实现示意图。

图13根据一示例性实施例示出了一种存储器阵列的块划分示意图。

图14根据图13示出了一种备用电路配置示意图。

图15根据图13示出了另一种备用电路配置示意图。

图16根据图14示出了一种备用电路分派方案示意图。

图17根据图15示出了另一种备用电路分派方案示意图。

图18示出本公开实施例中一种存储器阵列修补装置的框图。

图19示出本公开实施例中另一种存储器阵列修补装置的框图。

图20示出本公开实施例中一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现或者操作以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。

此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。符号“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是电连接或可以互相通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

下面对本公开提到的术语进行解释。

全局（Global）：备用资源（例如可为备用电路，包括备用行和/或备用列）若为全局类型，该备用资源可修复整个阵列范围内的故障行/列。

中间（Central）：备用资源若为中间类型，该备用资源可修复一个区域（section）范围内的故障行/列。

本地（Local）：备用资源若为本地类型，该备用资源仅可修复一个块（block）范围内的故障行/列。例如，在RA算法中，本地类型备用电路的分派优先级大于中间类型备用电路的分派优先级，中间类型备用电路的分派优先级大于全局类型备用电路的分派优先级。

区域（Section）：在一个维度（行或列维度）上包含多个块。

互补修复（Co-complement）：对于一些待修复范围需同时分派两条或两条以上备用电路资源进行修复。

如上所述，通常采用备用电路修复存储器阵列中的故障单元以提升芯片产品良率。备用电路一般分为备用行（Spare Row）和备用列（Spare Column）。图1示例性示出了一种存储器阵列及其备用电路的修复示意图，如图1所示，存储器阵列（Array）为8×8的大小，故障单元1002的地址为[3,0]（[行地址，列地址]）、[3,2]、[1,3]、[2,3]、[4,3]、[5,3]、[6,3]，其备用电路配置为一条备用行102和一条备用列104。

可以通过RA算法对数量有限的备用电路进行分配，实现高效地使用这些备用电路来修复故障单元。如图1所示，通过RA算法将备用行102分派到行地址为3的行进行修复，将备用列104分派到列地址为3的列进行修复。

如何根据现有产品的特性以及线上测试数据来指导和迭代改良产品设计和优化测试修补方案，这对于整个存储芯片行业都是一个重难点。

因此，本公开提供了一种存储器阵列修补方法，通过在获取存储器阵列的故障单元位置信息的基础上，采用第一冗余分析算法对各个冗余架构进行模拟分派，并据此确定目标冗余架构，以对不同的备用电路配置进行模拟评估，可一定程度上提高故障单元修复效率。

图2是根据一示例性实施例示出的一种存储器阵列修补方法的流程图。参考图2，本公开实施例提供的方法20可以包括以下步骤。

在步骤S202中，获取目标存储器阵列的故障单元位置信息。

在一些实施例中，可通过数据采集模块采集不同产品在不同周期内的线上测试数据，从中批量地获取故障数据，例如包括目标存储器阵列的故障单元位置信息。具体实施方式可参照图3和图4。

在步骤S204中，读取预设格式的冗余架构数据。

在一些实施例中，可通过分析现有产品的备用电路冗余架构的可调控维度，设计复杂冗余架构模型（例如第一冗余架构模型），然后基于复杂冗余架构模型，实现统一配置化格式，再解析获取相应的冗余架构信息，具体实施方式可参照图5。

在步骤S206中，对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列。

在一些实施例中，获得的冗余架构的信息可以包括备用电路的类型、备用电路的长度、以及备用线路的数量，可以按照建立第一冗余架构模型时提取的维度对应，各个维度的信息可以参照图6。

在步骤S208中，对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

在一些实施例中，第一冗余分析算法可以为预设的RA算法，预设的RA算法中可以设置备用电路分配逻辑，以使有限的备用电路尽可能地覆盖目标存储器阵列的上所有故障单元。

在一些实施例中，可以根据目标存储器阵列的阵列大小和备用电路的长度对目标存储器阵列进行块划分，再根据目标存储器阵列的块划分结果、备用电路的类型以及备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息，然后通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息以及备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。具体实施方式可参照图7和图8。

在步骤S210中，根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。

在一些实施例中，可根据模拟修补结果对各个冗余架构按照预设指标进行统计分析，根据分析结果比较各个冗余架构的修补效率，然后根据修补效率从多个冗余架构确定一个或多个目标冗余架构。具体实施方式可参照图9至图11。

根据本公开实施例提供的存储器阵列修补方法，在跟踪采集不同产品、不同周期的线上数据信息的基础上，基于设计的第一冗余架构模型，模拟在不同的备用电路配置下，通过统计和分析备用电路分派算法的模拟分派结果的关键指标数据，找到一组或多组最佳的备用电路配置方案，从而可促进优化产品设计和提高修补效率的良性循环，对产品良率和产能都带来积极作用。

图3示出了图2中所示的步骤S202在一实施例中的处理过程示意图。如图3所示，本公开实施例中，上述步骤S202可以进一步包括以下步骤。

步骤S302，通过数据采集引擎以预设频率从存储器自动化测试设备（the autotest equipment for wafer test，ATE）中批量采集故障存储器信息。

步骤S304，通过存储服务将故障存储器信息缓存至第一数据库中。

步骤S306，从第一数据库中读取故障存储器（the fail memory（FM） in thetester contains all the fail data during test）信息，获得目标存储器阵列的故障单元位置信息。

图4是根据图3示出的测试数据采集架构示意图。如图4所示，自动化测试设备（ATE）402的测试系统4022获取测试数据源（Data Source）4002进行测试，得到测试结果，其中包括故障存储器信息4042。通过自动化部署的数据采集引擎404，来周期性地获取批量的线上ATE 402中测试得到的故障存储器信息4042。可以搭建存储服务和数据库，用于缓存数据采集引擎404采集的故障数据，例如将周期性采集的故障存储器信息4042缓存到第一数据库406中。

根据本公开实施例提供的方法，通过数据采集引擎从测试系统中周期性第采集不同产品不同周期内的线上数据，可为后续模拟系统提供稳定和大批量的数据源。

图5示出了图2中所示的步骤S204在一实施例中的处理过程示意图。如图5所示，本公开实施例中，上述步骤S204可以进一步包括以下步骤。

步骤S502，获取冗余架构初始信息。

在一些实施例中，冗余架构初始信息可以为现有产品的冗余架构（备用电路）信息，例如可以包括备用电路的类型、备用电路的长度、以及备用线路的数量等等。

其中，备用电路的类型例如可以为全局（Global）类型、中间（Central）类型和本地（Local）类型，Global类型备用电路修复范围为整个Array，Local类型备用电路修复范围为只能修复某一块（Block），Central类型备用电路修复范围为在一个方向上可以跨Block进行修复。备用电路的长度即为可划分区域的宽度，例如，参照图6，备用列6042的长度即为区域1的宽度，备用列6044的长度即为区域m的宽度。

步骤S504，从冗余架构初始信息中提取调控维度。

在一些实施例中，调控维度（也可以称为可调控维度）可以包括备用电路的类型维度、备用电路的长度维度、以及备用线路的数量维度。

步骤S506，根据调控维度建立第一冗余架构模型。

在一些实施例中，可通过对各个调控维度统一可配置化的文档数据格式，不同调控维度构造相应字段，建立第一冗余架构模型。

步骤S508，按照第一冗余架构模型对冗余架构初始信息进行格式化处理，获得预设格式的冗余架构数据。

在一些实施例中，通过复杂冗余架构模型的设计，可实现统一可配置化的文档数据格式，例如可按照备用电路的类型、备用电路的长度、以及（可修补范围内）备用线路的数量等维度，不同维度构造相应字段，获得统一格式的冗余架构数据。

在一些实施例中，可模拟配置不同的冗余架构的设置档信息，例如，在备用电路总数一定的情况下，可通过设置不同的备用电路类型，获得不同的备用电路配置，一种备用电路配置对应一个待模拟评估的冗余架构。具体实施方式可参照图14和图15。

在一些实施例中，可通过解析冗余架构数据获取相应的冗余架构信息，便于后续利用RA算法模拟分析和评估。

相关技术中如何针对复杂的冗余架构进行表达也是目前急需解决的问题之一。根据本公开实施例提供的方法，通过提炼现有产品的备用电路冗余架构的可调控维度信息，定义和设计复杂冗余架构模型，以基于复杂冗余架构模型，实现统一配置化格式，可以实现不同种复杂冗余架构的配置与解析。

图6根据一示例性实施例示出了一种备用电路调控维度示意图。如图6所示的存储器阵列划分为多个区域，每个区域可以在行延伸方向（图中为纵向）上划分为多个块，其备用电路包括多条备用行602和多条备用列604，备用行602用于修补阵列上行地址6002对应的各行，备用列604用于修补阵列上列地址6004对应的各列，备用列604例如可以包括用于区域1的列6042和用于区域m的列6044和。备用电路的类型包括（a）全局、（b）本地和（c）中间。例如，若多条备用行602的类型为（a）全局，则各条备用行602可修复整个阵列中的任意一行。再例如，若多条用于区域1的列6042的类型为（b）本地，则其仅可以修复一个块，例如为区域1中的一个块。又例如，若多条用于区域m的列6044的类型为（c）中间，则其仅可以修复一个区域中的至少两个块，例如为区域m（m为大于1的正整数）中的至少两个块。

图7示出了图2中所示的步骤S206在一实施例中的处理过程示意图。如图7所示，本公开实施例中，上述步骤S206可以进一步包括以下步骤。

步骤S702，对于多个冗余架构中的各个冗余架构，根据目标存储器阵列的阵列大小和备用电路的长度对目标存储器阵列进行块划分，获得目标存储器阵列的块划分结果。

在一些实施例中，可以类型为本地和/或中间的备用电路的长度为块的边长，将目标存储器阵列划分为若干个块。

在一些实施例中，目标存储器阵列的块划分结果可以包括目标存储器阵列的各个块的编号。

在一些实施例中，目标存储器阵列的块划分结果还可以包括各个块的对应的地址范围。

步骤S704，根据目标存储器阵列的块划分结果、备用电路的类型以及备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息。

在一些实施例中，备用电路的覆盖块信息可以包括各个备用电路的覆盖块的编号。

在一些实施例中，可根据备用电路的类型以及备用线路的数量将各个备用电路与目标存储器阵列的各个块的编号进行对应，获得各个备用电路的覆盖块的编号。

步骤S706，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息以及备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

在一些实施例中，可通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息、各个备用电路的覆盖块的编号以及各个块的对应的地址范围进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

在一些实施例中，冗余架构的信息还可以包括备用电路类型的优先级。可通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息以及备用电路的覆盖块信息按照备用电路类型的优先级进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

图8是根据图4和图7示出的备用电路模拟分派架构示意图。如图8所示，模拟处理模块802读取冗余架构的配置信息（即冗余配置）8002以及进行解析，获取当前冗余架构的信息；模拟处理模块802从第一数据库406中读取故障存储器信息4042，然后根据当前的冗余架构信息进行相应的块切分并获得备用电路的覆盖块信息；模拟处理模块802可调用现有的第一RA算法8004进行备用电路模拟分派，并将模拟分派结果数据进行缓存，例如可以缓存到存储804中，便于后续评估模块进行分析和统计。

根据本公开实施例提供的方法，通过读取和解析冗余架构的配置档，并调用已有RA算法，对采集的故障数据进行备用电路模拟分派，并对分派结果数据进行缓存，便于后续评估模块进行评估和分析。可以批量对不同种复杂冗余架构模型进行配置和解析，通过模拟分析模块，得到不同种冗余架构下分析的结果，用于后续评估与比较。

图9示出了图2中所示的步骤S208在一实施例中的处理过程示意图。如图9所示，本公开实施例中，上述步骤S208可以进一步包括以下步骤。

步骤S902，读取各个冗余架构的模拟修补结果。

步骤S904，对于各个冗余架构，根据模拟修补结果按照预设指标进行统计分析，获得分析结果。

步骤S906，根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从多个冗余架构中确定目标冗余架构。

图10示出了图2中所示的步骤S208在另一实施例中的处理过程示意图。如图10所示，本公开实施例中，上述步骤S208可以进一步包括以下步骤。

步骤S1002，读取各个冗余架构的模拟修补结果。

步骤S1004，对于各个冗余架构，根据模拟修补结果按照预设指标进行统计分析，获得分析结果。

步骤S1006，根据各个冗余架构的分析结果生成可视化分析报告。

步骤S1008，根据各个冗余架构的分析结果和可视化分析报告比较各个冗余架构的修补效率，以从多个冗余架构中确定目标冗余架构。

图11是根据图8至图10示出的评估架构示意图。如图11所示，通过评估引擎1102进行结果评估，即从存储804中读取不同种冗余架构下的模拟分派结果数据，并按所需的各项评估指标进行统计与分析，生成相应的分析结果和报告，例如可生成可视化的修复率1104结果，便于直观地进行分析比较。可以基于分析的结果，以及可视化的分析和比较1106结果，直观地输出所需的统计和对比结果信息，便于进行多维度分析和比较不同种冗余架构模型的修补效率。

图12是根据图2至图11示出的冗余架构模拟评估实现示意图，具体实施方式可参照图4、图8和图11。

根据本公开实施例提供的方法，通过综合的统计与比对数据，可以对比不同冗余架构模型在相同数据源和RA算法基础上的效果，有助于找到一组或多组的最佳化冗余架构方案。

以下通过一个示例性实施例来进行说明上述基于复杂冗余架构模型的模拟评估流程。

图13根据一示例性实施例示出了一种存储器阵列的块划分示意图。如图13所示，当前的Array区域为16×16的大小，可在X和Y方向上将整个区域划分成了4个Block，4个Block的编号分别为B0、B1、B2和B3，每个Block的尺寸为8×8。在此Array的该块划分的基础上，示例性地模拟设计以下图14和图15两种不同的复杂冗余架构配置，其中两种配置的备用资源的总数相等，但备用资源类型不同。

图14根据图13示出了一种备用电路配置示意图。图14的备用电路配置为上述第一冗余架构的示例。如图14所示，该备用电路配置2条Global spare row （即全局类型备用行）1402和12条Local spare column （即本地类型备用列）1404。其中，Global spare row1402修复范围为整个Array（一次修补2个Block，B0与B2，或B1与B3）；Local spare column1404只能修复某一Block，例如为各个Block均匀地配置3条Local spare column 1404。

对图14所示的备用电路配置对应的冗余架构信息进行解析，可以得到以下配置信息：

阵列为16×16大小；

块划分及对应地址范围为[x1,y1,x2,y2]；

划分的block编号为[0,1,2,3]；

各block的地址范围为[[0,0,7,7],[8,0,15,7],[0,8,7,15],[8,8,15,15]]；

冗余架构配置A包括：

2条Global spare row以及对应修补（即修复）的块的编号，即可同时修补B0和B2，或同时修补B1和B3；

12条Local spare column，修补块[0]、块[1]、块[2]和块[3]的Local sparecolumn各三条列优先修补。

图15根据图13示出了另一种备用电路配置示意图。图15的备用电路配置为上述第二冗余架构的示例。如图15所示，该备用电路配置2条Global spare row（即全局类型备用行）1502、4条Central spare column（即中间类型备用列） 1504和8条Local spare column（即本地类型备用列）1506。其中，Global spare row 1502修复范围为整个Array（一次修补2个Block，B0与B2，或B1与B3）；Central spare column 1504在Y方向上可以跨Block进行修复，例如为B0与B2、B1与B3各配置2条Central spare column 1504；Local spare column1506只能修复某一Block，例如为各个Block均匀地配置2条Local spare column 1506。

对图15所示的备用电路配置对应的冗余架构信息进行解析，可以得到以下配置信息：

阵列为16×16大小；

块划分及对应地址范围为[x1,y1,x2,y2]；

划分的block编号[0,1,2,3]；

各block的地址范围为[[0,0,7,7],[8,0,15,7],[0,8,7,15],[8,8,15,15]]；

冗余架构配置B包括：

2条Global spare row以及对应修补的块的编号，即可同时修补B0和B2，或同时修补B1和B3；

8条Local spare column，修补块[0]、块[1]、块[2]和块[3]的Local sparecolumn各两条；

4条Central spare column，其中2条Central spare column修补B0或B2，2条Central spare column修补B1或B3；

列优先修补。

通过前面配置不同的冗余架构的设置档信息，可以解析获取不同的冗余架构信息对应的不同的冗余架构配置，然后可针对相同的故障分布数据进行RA算法分析，对比不同冗余架构配置在相同数据源和RA算法基础上的效果，可获得找到一组或多组的最佳化冗余架构方案。

图16根据图14示出了一种备用电路分派方案示意图。如图16所示，阵列中总共有3（B0中黑色实心圆点）+2（B1中黑色实心圆点）+6（B2中黑色实心圆点）+6（B3中黑色实心圆点）=17个故障单元，可按照B0-B1-B2-B3的顺序（即预设块顺序），在冗余架构配置A基础上可以通过RA算法进行备用线路分派：

（1）由于这里Local spare column 1404受限于其修复范围，这里配置了列优先进行修补，所以B0和B1可以利用对应的Local spare column 1404进行修复即可；

（2）而B2和B3较为复杂些，对B2进行分析可知，其可修补的最优解需要2条SpareRow和2条Spare Col（Co-complement），如图16所示；

（3）对B3进行分析，其可修补最优解需要1条Spare Row和3条Spare Col，如图16所示；

综上，要修复整个Array，最少需要3条Spare Row，但此时Global spare row 1402数量不够，导致当前Array不可修补。

图17根据图15示出了另一种备用电路分派方案示意图。如图17所示，阵列中总共有17个故障单元（同图16），可按照B0-B1-B2-B3的顺序（即预设块顺序），在冗余架构配置B基础上可以通过RA算法进行备用线路分派：

（1）B0和B1可以利用对应的Local spare column 1404进行修复即可；

（2）对B2进行分析可知，考虑列优先修补，其可修补的最优解之一是需要1条SpareRow（Global spare row 1502）和4条Spare Col（包括2条Central spare column 1504和2条Local spare column 1506），如图17所示；

（3）对B3进行分析，考虑列优先修补，其可修补的最优解之一是需要1条Spare Row（Global spare row 1502）和3条Spare Col（包括1条Central spare column 1504和2条Local spare column 1506），如图17所示；

综上，该备用电路分派方案可修补当前整个Array。

因此可基于复杂冗余架构模型，将备用电路资源进行排列组合，获得多种修补方案，那么在不同的架构，以及相同的数据源和RA算法基础上，得到的修补效果究竟如何，能否修补当前Array，可通过本公开实施例提供的模拟评估系统进行评估。

类似于上述流程，可以通过复杂冗余架构模型，来模拟不同的冗余架构，然后对大批量线上故障数据进行RA分析，通过各项评估指标的统计与分析，有助于找到一组或多组的最佳化冗余架构方案，以实现促进优化产品设计和提高修补效率的良性循环。

图18是根据一示例性实施例示出的一种存储器阵列修补装置的框图。如图18所示的装置例如可以应用于图12的架构中。

参考图18，本公开实施例提供的装置180可以包括第一获取模块1802、第二获取模块1804、模型解析模块1805、处理模块1806和评估模块1808。

第一获取模块1802可用于获取目标存储器阵列的故障单元位置信息。

第二获取模块1804可用于读取预设格式的冗余架构数据。

模型解析模块1805可用于对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列。

处理模块1806可用于对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

评估模块1808可用于根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。

图19是根据一示例性实施例示出的另一种存储器阵列修补装置的框图。如图19所示的装置例如可以应用于图12的架构中。

参考图19，本公开实施例提供的装置190可以包括数据采集模块19012、数据存储模块19014、第一获取模块1902、模型设计模块19032、模型配置模块19034、第二获取模块1904、模型解析模块1905、处理模块1906和评估模块1908。

数据采集模块19012可用于从存储器自动化测试设备中采集故障存储器信息。

数据采集模块19012还可用于通过数据采集引擎以预设频率从存储器自动化测试设备中批量采集故障存储器信息。

数据存储模块19014可用于通过存储服务将故障存储器信息缓存至第一数据库中。

第一获取模块1902可用于获取目标存储器阵列的故障单元位置信息。

第一获取模块1902还可用于从第一数据库中读取故障存储器信息，获得目标存储器阵列的故障单元位置信息。

模型设计模块19032可用于获取冗余架构初始信息；从冗余架构初始信息中提取调控维度；根据调控维度建立第一冗余架构模型。

调控维度可以包括备用电路的类型维度、备用电路的长度维度、以及备用线路的数量维度。

模型配置模块19034可用于按照第一冗余架构模型对冗余架构初始信息进行格式化处理，获得预设格式的冗余架构数据。

第二获取模块1904可用于获取多个冗余架构的信息。

多个冗余架构可以包括第一冗余架构和第二冗余架构，第一冗余架构对应的备用电路配置可以包括多个本地类型备用列和多个全局类型备用行，第一冗余架构对应的备用电路配置可以包括多个本地类型备用列、多个中间类型备用列和多个全局类型备用行。

冗余架构的信息对应的备用电路配置中可以包括备用电路的类型、备用电路的长度、以及备用线路的数量。

备用电路的类型可以包括全局类型、中间类型和本地类型。

冗余架构的信息还可以包括备用电路类型的优先级。

第二获取模块1904还可用于读取预设格式的冗余架构数据。

模型解析模块1905可用于对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息。

处理模块1906可用于对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

处理模块1906还可用于对于多个冗余架构中的各个冗余架构，根据目标存储器阵列的阵列大小和备用电路的长度对目标存储器阵列进行块划分，获得目标存储器阵列的块划分结果；根据目标存储器阵列的块划分结果、备用电路的类型以及备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息；通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息以及备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

目标存储器阵列的块划分结果可以包括目标存储器阵列的各个块的编号。

目标存储器阵列的块划分结果还可以包括各个块的对应的地址范围。

备用电路的覆盖块信息可以包括各个备用电路的覆盖块的编号。

目标存储器阵列可以包括第一块、第二块、第三块和第四块。

处理模块1906还可用于根据备用电路的类型以及备用线路的数量将各个备用电路与目标存储器阵列的各个块的编号进行对应，获得各个备用电路的覆盖块的编号。

处理模块1906还可用于通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息、各个备用电路的覆盖块的编号以及各个块的对应的地址范围进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

处理模块1906还可用于通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息以及备用电路的覆盖块信息按照备用电路类型的优先级进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果。

处理模块1906还可用于根据故障单元位置信息、各个备用电路的覆盖块的编号以及各个块的对应的地址范围，按照预设块顺序依次为各个块的故障单元模拟分派备用电路，获得模拟修补结果，其中，本地类型备用电路的分派优先级大于中间类型备用电路的分派优先级，中间类型备用电路的分派优先级大于全局类型备用电路的分派优先级。

处理模块1906还可用于对于第一冗余架构，根据故障单元位置信息、各个备用电路的覆盖块的编号以及各个块的对应的地址范围，按照列优先修补规则，为第一块和第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为第三块模拟分派对应的本地类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列和/或全局类型备用行对第四块进行分析，获得第一冗余架构的模拟修补结果为不可修补；对于第二冗余架构，根据故障单元位置信息、各个备用电路的覆盖块的编号以及各个块的对应的地址范围，按照列优先修补规则，为第一块和第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为第三块模拟分派对应的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行对第四块进行分析，获得第二冗余架构的模拟修补结果为可修补。

评估模块1908可用于根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。

评估模块1908还可用于根据第一冗余架构的模拟修补结果和第二冗余架构的模拟修补结果将第二冗余架构确定为目标冗余架构，以利用第二冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。

评估模块1908还可用于读取各个冗余架构的模拟修补结果；对于各个冗余架构，根据模拟修补结果按照预设指标进行统计分析，获得分析结果；根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从多个冗余架构中确定目标冗余架构。

评估模块1908还可用于根据各个冗余架构的分析结果生成可视化分析报告；根据各个冗余架构的分析结果和可视化分析报告比较各个冗余架构的修补效率，以从多个冗余架构中确定目标冗余架构。

本公开实施例提供的装置中的各个模块的具体实现可以参照上述方法中的内容，此处不再赘述。

图20示出本公开实施例中一种电子设备的结构示意图。需要说明的是，图20示出的设备仅以计算机系统为示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图20所示，设备2000包括中央处理单元（CPU）2001，其可以根据存储在只读存储器（ROM）2002中的程序或者从存储部分2008加载到随机访问存储器（RAM）2003中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 2003中，还存储有设备2000操作所需的各种程序和数据。CPU2001、ROM 2002以及RAM 2003通过总线2004彼此相连。输入/输出（I/O）接口2005也连接至总线2004。

以下部件连接至I/O接口2005：包括键盘、鼠标等的输入部分2006；包括诸如阴极射线管（CRT）、液晶显示器（LCD）等以及扬声器等的输出部分2007；包括硬盘等的存储部分2008；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分2009。通信部分2009经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器2010也根据需要连接至I/O接口2005。可拆卸介质2011，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器2010上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分2008。

特别地，根据本公开的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分2009从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质2011被安装。在该计算机程序被中央处理单元（CPU）2001执行时，执行本公开的系统中限定的上述功能。

需要说明的是，本公开所示的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦式可编程只读存储器（EPROM或闪存）、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器（CD-ROM）、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本公开中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

附图中的流程图和框图，图示了按照本公开各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本公开实施例中所涉及到的模块可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。所描述的模块也可以设置在处理器中，例如，可以描述为：一种处理器包括第一获取模块、第二获取模块、处理模块和评估模块。其中，这些模块的名称在某种情况下并不构成对该模块本身的限定，例如，第一获取模块还可以被描述为“从存储器中获取测试数据的模块”。

作为另一方面，本公开还提供了一种计算机可读介质，该计算机可读介质可以是上述实施例中描述的设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该设备中。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被一个该设备执行时，使得该设备包括：

读取预设格式的冗余架构数据；对冗余架构数据按照预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列；获取多个冗余架构的信息；对于多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据故障单元位置信息和冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果；根据各个冗余架构的模拟修补结果从多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用目标冗余架构对应的备用电路配置对目标存储器阵列进行修补。

以上具体地示出和描述了本公开的示例性实施例。应可理解的是，本公开不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法；相反，本公开意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效设置。

Claims (9)

1.一种存储器阵列修补方法，其特征在于，包括：

获取冗余架构初始信息；

从所述冗余架构初始信息中提取调控维度；

根据所述调控维度建立第一冗余架构模型；

按照所述第一冗余架构模型对所述冗余架构初始信息进行格式化处理，获得预设格式的冗余架构数据；

获取目标存储器阵列的故障单元位置信息；

读取所述预设格式的冗余架构数据；

对所述冗余架构数据按照所述预设格式进行解析，获得多个冗余架构的信息，所述多个冗余架构中各个冗余架构对应各自的备用电路配置，所述备用电路配置包括至少一个备用行和至少一个备用列；

对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息和所述冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果；

根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，包括：

读取所述各个冗余架构的模拟修补结果；

对于所述各个冗余架构，根据模拟修补结果按照预设指标进行统计分析，获得分析结果；

根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，还包括：

根据所述各个冗余架构的分析结果生成可视化分析报告；

根据各个冗余架构的分析结果比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构，包括：

根据所述各个冗余架构的分析结果和所述可视化分析报告比较各个冗余架构的修补效率，以从所述多个冗余架构中确定所述目标冗余架构。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述冗余架构的信息包括对应的备用电路配置中备用电路的类型、备用电路的长度、以及备用线路的数量；

对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，通过第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息和所述冗余架构的信息进行备用电路模拟分派，获得模拟修补结果，包括：

对于所述多个冗余架构中的各个冗余架构，根据目标存储器阵列的阵列大小和所述备用电路的长度对所述目标存储器阵列进行块划分，获得目标存储器阵列的块划分结果；

根据所述目标存储器阵列的块划分结果、所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息；

通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标存储器阵列的块划分结果包括目标存储器阵列的各个块的编号；

所述备用电路的覆盖块信息包括各个备用电路的覆盖块的编号；

根据所述目标存储器阵列的块划分结果、所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量获得备用电路的覆盖块信息，包括：

根据所述备用电路的类型以及所述备用线路的数量将各个备用电路与所述目标存储器阵列的各个块的编号进行对应，获得所述各个备用电路的覆盖块的编号。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标存储器阵列的块划分结果还包括各个块的对应的地址范围；

通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果，包括：

通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述备用电路的类型包括全局类型、中间类型和本地类型；

通过所述第一冗余分析算法根据所述故障单元位置信息以及所述备用电路的覆盖块信息进行备用电路模拟分派，获得所述模拟修补结果，包括：

根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照预设块顺序依次为各个块的故障单元模拟分派备用电路，获得所述模拟修补结果，其中，本地类型备用电路的分派优先级大于中间类型备用电路的分派优先级，中间类型备用电路的分派优先级大于全局类型备用电路的分派优先级。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述多个冗余架构包括第一冗余架构和第二冗余架构，所述第一冗余架构对应的备用电路配置包括多个本地类型备用列和多个全局类型备用行，所述第一冗余架构对应的备用电路配置包括多个本地类型备用列、多个中间类型备用列和多个全局类型备用行；

所述目标存储器阵列包括第一块、第二块、第三块和第四块；

根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照预设块顺序依次为各个块的故障单元模拟分派备用电路，获得所述模拟修补结果，包括：

对于所述第一冗余架构，根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照列优先修补规则，为所述第一块和所述第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为所述第三块模拟分派对应的本地类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列和/或全局类型备用行对所述第四块进行分析，获得第一冗余架构的模拟修补结果为不可修补；

对于所述第二冗余架构，根据所述故障单元位置信息、所述各个备用电路的覆盖块的编号以及所述各个块的对应的地址范围，按照所述列优先修补规则，为所述第一块和所述第二块模拟分派对应的本地类型备用列，为所述第三块模拟分派对应的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行，并根据剩余的本地类型备用列、中间类型备用列和全局类型备用行对所述第四块进行分析，获得第二冗余架构的模拟修补结果为可修补；

根据各个冗余架构的模拟修补结果从所述多个冗余架构中确定目标冗余架构，以利用所述目标冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补，包括：

根据所述第一冗余架构的模拟修补结果和所述第二冗余架构的模拟修补结果将所述第二冗余架构确定为所述目标冗余架构，以利用所述第二冗余架构对应的备用电路配置对所述目标存储器阵列进行修补。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

通过数据采集引擎以预设频率从存储器自动化测试设备中批量采集故障存储器信息；

通过存储服务将所述故障存储器信息缓存至第一数据库中；

获取目标存储器阵列的故障单元位置信息，包括：

从所述第一数据库中读取所述故障存储器信息，获得所述目标存储器阵列的故障单元位置信息。