CN116945068A - 固定装置和测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开实施例提供一种固定装置和测试系统。其中，所述装置包括：支撑组件，包括横向设置的第一导轨；传动组件，包括传动螺杆和与所述传动螺杆螺纹连接的压块，所述传动螺杆用于驱动所述压块沿竖直方向上下移动；限位组件，用于限制所述传动螺杆上下运动，以及用于限制所述压块旋转运动；其中，所述限位组件与所述第一导轨活动连接，以沿所述第一导轨的延伸方向平移，所述限位组件还用于带动所述传动组件移动。如此，通过螺旋结构将旋转运动转化为直线运动，实现对小位移的精准控制，操作更精确，稳固待测试样品的同时且不易对待测试样品造成损坏，并且可适应不同位置和不同方向上待测试样品的固定，具有良好的实用性。

Description

固定装置和测试系统

技术领域

本公开涉及但不限于机械制造技术领域，尤其涉及一种固定装置和测试系 统。

背景技术

在一些测试过程或者装配过程中，需要通过固定装置将待固定对象(待测 试样品)固定在某一平台(系统平台)上。期望的固定装置应当操作灵活可适 应不同位置的待固定对象，且固定过程中不会对系统平台和待固定对象造成破 坏。同时固定的作用力应当稳定，结构简单易推广。

然而目前的固定装置仍存在不足，如何优化固定装置为现阶段亟需解决的 技术问题。

发明内容

本公开实施例提供一种固定装置和测试系统。

第一方面，本公开实施例提供一种固定装置，包括：支撑组件，包括横向 设置的第一导轨；传动组件，包括传动螺杆和与所述传动螺杆螺纹连接的压块， 所述传动螺杆用于驱动所述压块沿竖直方向上下移动；限位组件，用于限制所 述传动螺杆上下运动，以及用于限制所述压块旋转运动；其中，所述限位组件 与所述第一导轨活动连接，以沿所述第一导轨的延伸方向平移，所述限位组件 还用于带动所述传动组件移动。

在一些实施例中，所述第一导轨包括第一螺杆，所述第一螺杆沿水平方向 贯穿所述限位组件，所述第一螺杆通过螺旋传动驱动所述限位组件沿所述水平 方向移动。

在一些实施例中，所述限位组件包括：第一限位组件，所述第一限位组件 包括第一移动块、第一限位单元和第二限位单元，所述第一导轨沿水平方向贯 穿所述第一移动块，且用于驱动所述第一移动块沿所述水平方向平移，所述传 动组件沿竖直方向贯穿所述第一移动块，所述第一限位单元用于限制所述传动 螺杆向下运动，所述第二限位单元用于限制所述传动螺杆向上运动；第二限位 组件，用于限制所述压块旋转运动。

在一些实施例中，所述第一限位单元包括：第一限位部，所述第一限位部 与所述传动螺杆固定连接，且所述第一限位部的下表面与所述第一移动块的上 表面接触，用于限制所述传动螺杆向下运动。

在一些实施例中，所述第一限位部还用于驱动所述传动螺杆。

在一些实施例中，所述传动螺杆包括连杆和螺纹传动杆，所述第一限位部 与所述连杆固定连接以驱动所述螺纹传动杆，所述第二限位单元与所述连杆固 定连接以限制所述传动螺杆向上运动；所述螺纹传动杆与所述压块螺纹连接。

在一些实施例中，所述传动螺杆内包括孔洞，所述第二限位单元还包括： 第二限位部，部分设置于所述孔洞内，所述第二限位部的上表面与所述第一移 动块的下表面接触，用于限制所述传动螺杆向上运动。

在一些实施例中，还包括第二导轨，设置于所述第一导轨下方，且与所述 支撑组件固定连接，所述第二限位组件包括：第二移动块，所述第二导轨沿水 平方向贯穿所述第二移动块，以使所述第二移动块在所述第二导轨上沿水平方 向移动；所述第二移动块包括第一过孔，所述第一过孔用于容纳部分所述压块， 并限制所述压块的旋转运动。

在一些实施例中，所述压块包括按压部和连接部，所述连接部具有与所述 传动螺杆相匹配的螺纹，所述按压部用于固定待固定对象。

在一些实施例中，所述传动螺杆具有外螺纹，所述连接部具有内螺纹，所 述外螺纹与所述内螺纹配合连接，所述传动螺杆的旋转运动用于驱动所述连接 部沿竖直方向上下移动。

在一些实施例中，所述连接部的形状为棱柱，所述第一过孔为与所述连接 部相匹配的棱柱孔。

在一些实施例中，所述按压部的形状为棱柱，所述第一过孔为与所述按压 部相匹配的棱柱孔。

在一些实施例中，所述按压部与所述连接部可拆卸连接，所述按压部具有 一个或多个按压面。

在一些实施例中，所述支撑组件还包括：竖直移动组件，用于支撑并驱动 水平移动组件，所述水平移动组件包括所述第一导轨和所述第二导轨；纵向移 动组件，用于支撑并驱动竖直移动组件，所述传动组件基于所述水平移动组件、 所述竖直移动组件及所述纵向移动组件进行三维运动，所述水平移动组件、所 述竖直移动组件及所述纵向移动组件由步进电机驱动。

第二方面，本公开实施例提供一种测试系统，包括上述装置；其中，通过 所述装置将待测试样品固定于系统平台上，所述待测试样品包含芯片。

在一些实施例中，还包括：压力传感器，用于检测加载于所述待测试样品 上的压力值；控制模块，用于基于所述压力值调整传动螺杆，以使压块对所述 待测试样品施加预设压力。

本公开实施例中，提供了一种固定装置，所述固定装置包括：支撑组件， 包括横向设置的第一导轨；传动组件，包括传动螺杆和与所述传动螺杆螺纹连 接的压块，所述传动螺杆用于驱动所述压块沿竖直方向上下移动；限位组件， 用于限制所述传动螺杆上下运动，以及用于限制所述压块旋转运动；其中，所 述限位组件与所述第一导轨活动连接，以沿所述第一导轨的延伸方向平移，所 述限位组件还用于带动所述传动组件移动。如此，本公开实施例提供的固定装 置具有以下优点：1、采用移动式结构扩展了装置的使用范围，包括不同位置和 多个待测试样品的固定，操作灵活、可控性高且易推广，具有良好的实用性；2、驱动方式简单，通过旋转传动螺杆就可以使压块上下移动，无需在系统平台上 打孔固定，并提供较大的压力；3、通过螺旋结构将旋转运动转化为直线运动， 实现对小位移的精准控制，操作更精确，稳固芯片的同时且不易对芯片造成损 坏；4、利用螺纹自锁功能，提高了整个装置的稳定性，有效防止压缩力变化， 制作成本低，可量产，易推广。

附图说明

在附图(其不一定是按比例绘制的)中，相似的附图标记可在不同的视图 中描述相似的部件。具有不同字母后缀的相似附图标记可表示相似部件的不同 示例。附图以示例而非限制的方式大体示出了本文中所讨论的各个实施例。

图1为本公开实施例提供的一种固定装置的组成结构示意图；

图2为本公开实施例提供的一种固定装置的局部结构示意图；

图3为本公开实施例提供的一种固定装置的局部结构示意图；

图4为本公开实施例提供的一种固定装置的局部结构示意图；

图5为本公开实施例提供的一种固定装置的局部结构示意图；

图6为本公开实施例提供的另一种固定装置的组成结构示意图；

图7为本公开实施例提供的一种第一、第二限位单元和传动螺杆的组成结 构示意图；

图8为本公开实施例提供的一种滑块的组成结构示意图；

图9a为本公开实施例提供的一种压块的组成结构示意图；

图9b中的I图为本公开实施例提供的另一种压块的组成结构示意图，II图 为I图提供的压块在拆卸状态下的组成结构示意图。

附图标记：

10-支撑组件；101-第一导轨；1011-第一螺杆；102-第一支架；103-第二支 架；104-底座；105-待测试样品；106-系统平台；107-插销；11-竖直移动组件； 111-第三螺杆；112-第四螺杆；12-水平移动组件；13-纵向移动组件；131-第五 螺杆；132-第六螺杆；14-步进电机；

20-传动组件；201-传动螺杆；2012-螺纹传动杆；2013-连杆；202-压块； 2021-按压部；2022-连接部；

30-限位组件；31-第一限位组件；311-第一限位单元；3111-第一限位部； 3112-旋转手柄；312-第二限位单元；3121-第二限位部；3122-第三限位部；313- 第一移动块；32-第二限位组件；321-第二导轨；3211-第二螺杆；322-滑块；323- 第二移动块；

A-第一滑动槽；B-第二滑动槽；C-孔洞；D-第一过孔；E-第二过孔；F-按 压面。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开公开的示例性实施方式。虽然附图中 显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开， 而不应被这里阐述的具体实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能 够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开公开的范围完整的传达给本领域的 技术人员。

在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本公开更为彻底的理 解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本公开可以无需一个或多 个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本公开发生混淆，对于 本领域公知的一些技术特征未进行描述；即，这里不描述实际实施例的全部特 征，不详细描述公知的功能和结构。

在附图中，为了清楚，层、区、元件的尺寸以及其相对尺寸可能被夸大。 自始至终相同附图标记表示相同的元件。

应当明白，当元件或层被称为“在……上”、“与……相邻”、“连接到” 或“耦合到”其它元件或层时，其可以直接地在其它元件或层上、与之相邻、 连接或耦合到其它元件或层，或者可以存在居间的元件或层。相反，当元件被 称为“直接在……上”、“与……直接相邻”、“直接连接到”或“直接耦合 到”其它元件或层时，则不存在居间的元件或层。应当明白，尽管可使用术语 第一、第二、第三等描述各种元件、部件、区、层和/或部分，这些元件、部件、 区、层和/或部分不应当被这些术语限制。这些术语仅仅用来区分一个元件、部 件、区、层或部分与另一个元件、部件、区、层或部分。因此，在不脱离本公 开教导之下，下面讨论的第一元件、部件、区、层或部分可表示为第二元件、 部件、区、层或部分。而当讨论的第二元件、部件、区、层或部分时，并不表 明本公开必然存在第一元件、部件、区、层或部分。

在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本公开的限制。 在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式， 除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组成”和/或“包括”，当在 该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在， 但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存 在或添加。在此使用时，术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

测试是芯片研发中关键的环节，芯片测试过程中需要通过测试夹具对芯片 进行固定。测试夹具的好坏直接关系调试的进度。芯片测试夹具多为插座式， 通过在系统平台上打孔的方式进行固定。首先，当系统平台上的电路板含有复 杂电路时，打孔会对电路板造成损坏，无法采用插座式夹具进行固定；其次， 插座式测试夹具通过弹簧力进行压缩，使用过程中，由于弹簧的疲劳会造成压 缩力逐渐减小情况出现，导致芯片接触不良，从而造成测试失败的情况经常发 生；再次，插座式测试夹具需要对电路板打孔，其弹簧压缩结构比较复杂，使 用成本较高；最后，插座式测试夹具的位置固定，对于不同位置的待固定对象测试往往不能适用。

基于此，本公开实施例提供了一种固定装置，参见图1-图5，固定装置包 括：支撑组件10，包括横向设置的第一导轨101；传动组件20，包括传动螺杆 201和与传动螺杆201螺纹连接的压块202，传动螺杆201用于驱动压块202 沿竖直方向上下移动；限位组件30，用于限制传动螺杆201上下运动，以及用 于限制压块202旋转运动；其中，限位组件30与第一导轨101活动连接，以沿 第一导轨101的延伸方向平移，限位组件30还用于带动传动组件20移动。

本公开实施例中，通过限位组件30限制传动螺杆201上下运动，并且限制 压块202旋转运动。当旋转驱动传动螺杆201向下时，压块202不能自由旋转， 压块202会沿竖直方向做直线运动慢慢靠近待测试样品，直至将待测试样品固 定。另外，限位组件30带动传动组件20沿第一导轨101的延伸方向平移，可 固定不同位置的待测试样品。

在一些实施例中，传动组件的数量可以根据需要来设置，例如待测试样品 的数量为一个，可以设置一个传动组件；又例如，待测试样品的数量为三个， 可以设置三个传动组件，一次可以固定多个待测试样品，提高固定效率，进而 提高测试效率，本公开实施例对此并不限定。在一些实施例中，当设置多个传 动组件时，相邻传动组件之间可以相对运动。

在一些实施例中，参见附图1，第一导轨101包括第一螺杆1011，第一螺 杆1011沿水平方向贯穿限位组件30，第一螺杆1011通过螺旋传动驱动限位组 件30沿水平方向移动。如此，限位组件30可带动传动组件20固定不同位置的 待测试样品，提高可控性和操作的灵活性。

在一些实施例中，参见附图1，限位组件30包括：第一限位组件31，第一 限位组件31包括第一移动块313、第一限位单元311和第二限位单元312，第 一导轨101沿水平方向贯穿第一移动块313，且用于驱动第一移动块313沿水 平方向平移，传动组件20沿竖直方向贯穿第一移动块313，第一限位单元311 用于限制传动螺杆201向下运动，第二限位单元312用于限制传动螺杆201向 上运动；第二限位组件32，用于限制压块202旋转运动。如此，通过第一限位 组件限制传动螺杆上下运动，通过第二限位组件限制压块旋转运动，为实现螺 纹自锁提供前提条件，使得传动螺杆的转动即可实现压块产生上下的位移，即 可通过将旋转运动转化为直线运动的方式实现运动传递。

在一些实施例中，参见附图1，第一限位单元311包括：第一限位部3111， 第一限位部3111与传动螺杆201固定连接，且第一限位部3111的下表面与第 一移动块313的上表面接触，用于限制传动螺杆201向下运动。即当传动螺杆 201向下运动时，由于第一限位部的限位作用，传动螺杆201将无法向下运动。

在一些实施例中，第一限位部还用于驱动传动螺杆201，例如附图1示出 的，第一限位部3111同时充当驱动传动螺杆201旋转运动的旋钮或电机；应当 理解的是，在一些其他实施例中，第一限位部3111也可以是独立于驱动旋钮之 外专门设置的限位部件，例如垫片等结构，在本文后续实施方式的说明中，会 对独立设置的第一限位部进行详细介绍，此处不作赘述。

在一些实施例中，如附图2所示，传动螺杆201包括连杆2013和螺纹传动 杆2012，第一限位部3111与连杆2013固定连接以驱动螺纹传动杆2012，第二 限位单元312与连杆2013固定连接以限制传动螺杆201向上运动；螺纹传动杆 2012与压块202螺纹连接。通过设置连杆，可以将压块上下的位移限制在期望 的范围内，防止压块向上移动时，移动范围过大以至于脱离第二限位组件。这 里，期望的范围可以为螺纹传动杆的长度范围。应当理解的是，上述实施例并 非限制传动螺杆201一定需要设置连杆，在一些实施例中，也可以不设置连杆， 例如附图1示出的，传动螺杆201只包括螺纹传动杆，第一限位部3111与螺纹 传动杆固定连接以驱动传动螺杆201，第二限位单元312与螺纹传动杆固定连 接以限制传动螺杆201向上运动；螺纹传动杆与压块202螺纹连接。如此，可 以降低加工工艺难度。

在一些实施例中，参见附图1，传动螺杆201内包括孔洞C，第二限位单 元312还包括：第二限位部3121，部分设置于孔洞C内，第二限位部3121的 上表面与第一移动块313的下表面接触，用于限制传动螺杆201向上运动。即 当传动螺杆201向上运动时，由于第二限位部3121的限位作用，传动螺杆201 将无法向上运动。本公开实施例中，第二限位部3121可以是插销。在实际操作 中，第二限位部3121可以是螺纹插销，孔洞C为与螺纹插销相匹配的内螺纹 孔。这里，孔洞C可以是通孔也可以是盲孔。

在一些实施例中，参见附图1，还包括第二导轨321，设置于第一导轨101 下方，且与支撑组件10固定连接，第二限位组件32包括：第二移动块323， 第二导轨321沿水平方向贯穿第二移动块323，以使第二移动块323在第二导 轨321上沿水平方向移动；第二移动块323包括第一过孔，第一过孔用于容纳 部分压块202，并限制压块202的旋转运动。这里，第一导轨和第二导轨在竖 直平面内平行，第一移动块和第二移动块相互配合，还可带动传动组件沿第一 导轨和第二导轨的延伸方向水平移动。在实际操作中，参见附图4，第二导轨321可以包括第二螺杆3211，第二螺杆3211沿水平方向贯穿第二移动块323， 第二螺杆3211通过螺旋传动驱动第二移动块323沿水平方向移动。应当理解的 是，第一移动块313和第二移动块313的平移是同步的，从而共同带动传动组 件20的移动。如此，可提升整个装置的耐用度。

在实施时，第二移动块的数量可以根据传动螺杆的数量进行设置，第一过 孔的形状也可以根据压块的形状进行设置。

在一些实施例中，参见附图1-附图5，支撑组件10还包括：竖直移动组件 11，用于支撑并驱动水平移动组件12，水平移动组件12包括第一导轨101和 第二导轨321；纵向移动组件13，用于支撑并驱动竖直移动组件，传动组件基 于水平移动组件12、竖直移动组件11及纵向移动组件13进行三维运动，水平 移动组件12、竖直移动组件11及纵向移动组件13由步进电机14驱动。如此， 采用电机驱动系统扩展了芯片测试装置的使用范围，包括不同位置和不同方向 上芯片的固定，操作灵活，具有良好的实用性。在X轴、Y轴、Z轴三个方向 上的实现电机驱动可以达到空间中任何位置对于芯片的测试。

在实际操作中，参见附图3和附图4，支撑组件10还包括：竖直设置于第 一导轨101和第二导轨321两端的两个支架(第一支架102和第二支架103)， 第一支架102和第二支架103的内部分别设置有竖直移动组件11，竖直移动组 件11包括第三螺杆111和第四螺杆112，第一导轨和第二导轨的一端通过滑动 件与第三螺杆111螺纹连接，第一导轨和第二导轨的另一端通过滑动件与第四 螺杆112螺纹连接，第三螺杆111和第四螺杆112通过螺旋传动驱动第一导轨 和第二导轨沿Z轴移动。第三螺杆和第四螺杆的上端用于接轨步进电机14，步 进电机14用于驱动支架内的第三螺杆和第四螺杆，用于驱动支架之间的第一导 轨101和第二导轨321进行移动，实现Z轴方向驱动。在其他实施例中，竖直 移动组件可以作为支架，即设置于第一导轨101和第二导轨321两端的第三螺 杆111和第四螺杆112分别作为第一支架和第二支架。在一些实施例中，第三 螺杆111和第四螺杆112的螺纹精度小于传动螺杆201的螺纹精度。如此，竖 直移动组件中第三螺杆111和第四螺杆112的螺纹精度比较低，第三螺杆111 和第四螺杆112一圈转动的竖直移动距离更远，传动螺杆的螺纹精度较高，传 动螺杆一圈转动的竖直移动距离更短。在对待测试样品进行测试时，可以先通 过驱动第三螺杆和第四螺杆粗略接近待测试样品，再通过驱动传动组件精细的 固定待测试样品，以缩短固定时间，降低成本。

在实际操作中，参见附图5，支撑组件10还包括：底座104；底座104上 设置纵向移动组件13，纵向移动组件13包括第五螺杆131和第六螺杆132，结 合附图3可以看到，第五螺杆131和第六螺杆132沿Y轴分别贯穿第一支架102 和第二支架103，其中，第五螺杆131和第六螺杆132与分别与第一支架102 和第二支架103进行螺纹配合，第五螺杆131和第六螺杆132通过螺旋传动驱 动第一支架102和第二支架103沿Y轴移动。第五螺杆131和第六螺杆132的 一端分别用于接轨步进电机14，步进电机14用于驱动第一支架102和第二支 架103实现Y轴方向驱动。在实际操作中，可在底座的四个边角上分别设置凸 块用于安装纵向移动组件。

在实际操作中，参见附图1，第一导轨101和第二导轨321的一端分别用 于接轨步进电机14，步进电机14用于驱动移动组件以带动传动组件实现X轴 方向移动。

在一些实施例中，参见附图1，固定装置还包括：被测组件，被测组件包 括待测试样品105。这里待测试样品可以是芯片，包括但不限于存储芯片、逻 辑芯片等。在实际操作中，测试样品105可以位于系统平台106上。这里系统 平台可以为系统板或电路板。相关技术中，芯片测试夹具通过在系统平台上打 孔的方式对测试样品进行固定，本公开提供的固定装置驱动方式简单，通过旋 转传动螺杆就可以使压块上下移动，无需在系统平台上打孔固定，固定过程中 不会对系统平台造成破坏。

在实施时，首先可以根据待测试样品放置的位置对待测试样品进行精准定 位。

接着，通过电机使第五螺杆131和第六螺杆132实现第一支架102和第二 支架103在Y轴方向驱动。

接下来，通过电机使第一支架102和第二支架103内部第三螺杆111和第 四螺杆112实现用于安装在第一支架102和第二支架103之间的第一导轨101 和第二导轨321在Z轴方向精准同步驱动。

然后，通过电机可以实现传动组件20在X轴方向精准同步运动。

最后，通过电机实现直压块202做上下位移直线运动，直至直压块202下 端与待测试样品105贴合并施加一定的力作用在待测试样品105上，以固定待 测试样品105。

如此，可以在X轴、Y轴、Z轴三个方向上的实现电机驱动可以达到空间 中任何位置对于待测试样品的测试情况。应当理解的是，上述驱动传动组件20 在X轴、Y轴、Z轴三个方向上的位移的先后顺序不作限定，在一些实施例中， 在对待测试样品进行精准定位后，所有的电机可同时开启，实现传动组件20 在X轴、Y轴、Z轴三个方向同时移动以使直压块202下端与待测试样品105 贴合。如此，可节省固定时间，提高效率。

本公开实施例还提供了另一种固定装置，参见图6-图8，固定装置包括： 支撑组件10，包括横向设置的第一导轨101；传动组件20，包括传动螺杆201 和与传动螺杆201螺纹连接的压块202，传动螺杆201用于驱动压块202沿竖 直方向上下移动；限位组件30，用于限制传动螺杆201上下运动，以及用于限 制压块202旋转运动；其中，限位组件30与第一导轨101活动连接，以沿第一 导轨101的延伸方向平移，限位组件30还用于带动传动组件20移动。支撑组 件10还包括底座104、设置于底座104上的两个支架(第一支架102、第二支 架103)，底座和支架通过插销107固定连接。第一支架102、第二支架103与 第一导轨101通过插销107固定连接。插销只是作为示例性的说明，固定连接 的方式可以根据需要选择，这里并不限定。

本公开实施例中，通过限位组件30限制传动螺杆201上下运动，并且限制 压块202旋转运动。当旋转驱动传动螺杆201向下时，压块202不能自由旋转， 压块202会沿竖直方向做直线运动慢慢靠近待测试样品，直至将待测试样品固 定。同时，传动组件20和限位组件30与第一导轨101活动连接，可固定不同 位置的待测试样品。

这里，第一导轨可以是简支梁、悬臂梁或者连续梁；第一导轨的材质可以 是钢材质，可以是其他合适的材质。第一导轨的形状可以是柱状，例如圆柱状、 棱柱状等。第一导轨用于支撑传动组件，因此，第一导轨应尽可能的不发生形 变。

在一些实施例中，传动组件的数量可以根据需要来设置，例如待测试样品 的数量为一个，可以设置一个传动组件；又例如，待测试样品的数量为三个， 可以设置三个传动组件，一次可以固定多个待测试样品，提高固定效率，进而 提高测试效率，本公开实施例对此并不限定。

在一些实施例中，参见附图6，第一导轨101包括第一滑动槽A，传动螺 杆201沿竖直方向贯穿第一导轨101，第一滑动槽A容纳传动螺杆201。如此， 传动螺杆可针对不同位置的待测试样品在滑动槽内水平移动，提高可控性和操 作的灵活性。

在一些实施例中，参见附图6，限位组件30包括：第一限位组件31，第一 限位组件31包括第一限位单元311和第二限位单元312，第一限位单元311用 于限制传动螺杆201向下运动，第二限位单元312用于限制传动螺杆201向上 运动；第二限位组件32，用于限制压块202旋转运动。如此，通过第一限位组 件限制传动螺杆上下运动，通过第二限位组件限制压块旋转运动，为实现螺纹 自锁提供前提条件，使得传动螺杆的转动即可实现压块产生上下的位移，即可 通过将旋转运动转化为直线运动的方式实现运动传递。

附图7为本公开实施例提供的一种第一、第二限位单元和传动螺杆的组成 结构示意图。在一些实施例中，参见附图6和附图7，第一限位单元311包括： 第一限位部3111，第一限位部3111与传动螺杆201固定连接，且第一限位部 3111的下表面与第一导轨101的上表面接触，用于限制传动螺杆201向下运动。

在一些实施例中，参见附图6和附图7，第二限位单元312包括：第三限 位部3122，第三限位部3122与传动螺杆201固定连接，且第三限位部3122的 上表面与第一导轨101的下表面接触，用于限制传动螺杆201向上运动。在一 些具体实施例中，第一限位部3111或者第三限位部3122可以包括垫片。垫片 可以防止传动螺杆在旋转的过程中上下移动，同时可以增加接触面积，减小压 力，防止松动，在旋转传动螺杆时对第一导轨的表面起保护作用，减小对第一 导轨的磨损。在实施时，垫片可以由片状材料制成，例如金属，橡胶，硅橡胶，氯丁橡胶，丁腈橡胶，玻璃纤维或塑料聚合物(如聚四氟乙烯)。

在一些实施例中，参见附图6和附图7，传动螺杆201内还包括孔洞C， 第二限位单元312还包括：第二限位部3121，部分设置于孔洞C内，第二限位 部3121的上表面与第三限位部3122的下表面接触，用于限制传动螺杆201向 上运动。本公开实施例中，第二限位部可以是插销。在实际操作中，第二限位 部3121可以是螺纹插销，孔洞C为与螺纹插销相匹配的内螺纹孔。这里，孔 洞C可以是通孔也可以是盲孔。如此，第三限位部3122的上表面与第一导轨 101的下表面接触，第三限位部3122的下表面与第二限位部3121的上表面接 触，使得第三限位部3122与传动螺杆201固定连接，从而限制传动螺杆向上运 动。

在一些实施例中，参见附图6，第二限位组件32包括：第二导轨321，设 置于第一导轨101下方，且与支撑组件10固定连接；第二导轨321包括第二滑 动槽B，传动螺杆201沿竖直方向贯穿第二导轨321，第二滑动槽B容纳传动 螺杆201。在实际操作中，第一支架102、第二支架103与第二导轨321可以通 过插销107固定连接。通过在与支撑组件固定连接的第二导轨内设置滑动槽， 传动螺杆可在滑动槽内水平移动。

在一些实施例中，参见附图6和附图8，第二限位组件32包括：滑块322， 滑块322包括第一过孔D和第二过孔E，第一过孔D用于容纳部分压块202， 并限制压块202的旋转运动；第二过孔E用于容纳部分第二导轨321，以使得 滑块322在第二导轨321上水平移动，压块202可随滑块322沿第二滑动槽B 水平移动。如此，部分压块位于滑块内，在旋转传动螺杆时，滑块内的第一过 孔可限制压块的旋转运动，同时，滑块还可带动压块沿第二滑动槽水平移动。

在实施时，滑块的数量可以根据传动螺杆的数量进行设置，第一过孔D的 形状也可以根据压块的形状进行设置。为了便于理解，本公开实施例中以设置 一个滑块、第一过孔D的形状为四棱柱孔为例进行说明。

在一些实施例中，参见附图6和附图7，传动螺杆201还包括旋转手柄3112、 连杆2013和螺纹传动杆2012，连杆2013用于连接旋转手柄311与螺纹传动杆 2012，螺纹传动杆2012与压块202螺纹连接，旋转手柄3112用于驱动螺纹传 动杆2012，且旋转手柄3112作为第一限位单元311组成部分，配合第一导轨 101，用于限制传动螺杆201向下运动。这里，旋转手柄3112的形状可以是具 有多棱角的形状，例如四棱柱、五棱柱等，这样在旋转时容易抓握，方便使力。 如此，第一限位部3111的下表面与第一导轨101的上表面接触，第一限位部 3111的上表面与旋转手柄3112的下表面接触，使得第一限位部3111与传动螺 杆201固定连接，从而限制传动螺杆201向下运动。

在实际操作中，第一滑动槽A与第二滑动槽B的宽度与连杆2013的直径 相匹配，用于传动螺杆沿第一导轨101和第二导轨102的直线滑动。在一些具 体实施例中，第一滑动槽A和第二滑动槽B的宽度与连杆2013的直径的比例 可以为1至1.3。示例性的，第一滑动槽A和第二滑动槽B的宽度与连杆2013 的直径的比例为1.05或1.25。合适的宽度可以减少滑动阻力，且可以限制压块 旋转运动。宽度较大，传动螺杆在滑动过程中易晃动，不稳定，容易损坏待测 试样品。

在一些实施例中，参见附图6，支撑组件10还包括：竖直设置于第一导轨 101和第二导轨321两端的两个支架，第一导轨101和第二导轨321均可相对 于支架上下移动。在实施时，两个支架上可设置有滑动槽(图中未示出)，第一 导轨和第二导轨可以通过滑动槽在支架上上下移动。如此，在压块距离待测试 样品距离较远时，可以先通过向下移动第一导轨和第二导轨，再通过传动组件 固定待测试样品，缩短固定时间，同时可以对距离压块不同高度的待测试样品 进行固定，满足不同需求。

继续参见图6，第一支架102和第二支架103上都设置有滑动槽(图中未示 出)，当第一导轨101和第二导轨321滑动到预设位置时，可以采用插销107将 第一导轨101和第二导轨321分别固定在第一支架102和第二支架103上。当 再次移动第一导轨101和第二导轨321时，可以拆卸插销107，从而使第一导 轨101和第二导轨321可以在第一支架102和第二支架103上自由移动。

在一些实施例中，两个支架中的每一个支架上可以设置多个不同盲孔，通 过将第一导轨和第二导轨插在盲孔中将第一导轨和第二导轨固定在两个支架 上；两个支架中的每一个支架上还可以设置多个通孔，通过将插销插在通孔中 第一导轨和第二导轨固定在两个支架上。

在一些实施例中，参见附图6，固定装置还包括：被测组件，被测组件包 括待测试样品105。这里待测试样品可以是芯片，包括但不限于存储芯片、逻 辑芯片等。在实际操作中，测试样品105可以位于系统平台106上。这里系统 平台可以为系统板或电路板。相关技术中，芯片测试夹具通过在系统平台上打 孔的方式对测试样品进行固定，本公开提供的固定装置驱动方式简单，通过旋 转传动螺杆就可以使压块上下移动，无需在系统平台上打孔固定，固定过程中 不会对系统平台造成破坏。

在实施时，参见附图6，压块的下表面正对着待测试样品105，待测试样品 105置于系统平台106上，通过旋转传动螺杆201使压块向下运动对系统平台 106上的待测试样品105施加一定的力来使待测试样品105与系统平台106连 接；其中，系统平台106置于底座104之上。

在实施时，根据底座和支架上插销的位置将支架固定在底座上。

在实施时，首先，确定待测试样品的形状、大小和数量以及按压待测试样 品时所需要的力的大小来设计第二导轨的厚度和压块的类型。

接着，根据系统平台高度决定传动螺杆和压块的长度。

接下来，确定待测试样品的具体位置并在第一导轨和第二导轨上移动传动 螺杆带动压块的下端正对待测试样品。

然后，转动传动螺杆带动压块沿竖直方向做直线运动，直至压块下端与待 测试样品贴合并施加一定的力作用在待测试样品上，以固定待测试样品。

最后，检查装置是否已经装配合理并对不合理的地方作出修正，即可开始 对待测试样品的测试。

本公开实施例还提供了一种压块，参见附图9a-9b，压块可适用于上述两种 固定装置。这里，为了便于理解，本公开实施例中以第二种固定装置为例进行 说明。

如附图9a所示，图9a为本公开实施例提供的一种压块的组成结构示意图， 压块202包括按压部2021和连接部2022，连接部2022具有与传动螺杆201相 匹配的螺纹，按压部用于固定待固定对象。在实施时，连接部2022上的螺纹可 以是内螺纹，也可以是外螺纹。

在一些实施例中，连接部的长度大于按压部的长度。如此，能够使压块在 按压待测试样品的过程中避免发生偏转以及提供更大的压力。

在一些实施例中，参见附图7和附图9a，传动螺杆201具有外螺纹，连接 部2022具有内螺纹，外螺纹与内螺纹配合连接。在实际操作中，外螺纹与连接 部的内螺纹相互配合，当旋转传动螺杆201时，压块202就可以沿竖直方向上 下运动。在实施时，传动螺杆上可以全部设置螺纹，也可以部分设置螺纹，本 公开实施例对此并不限定。如此，可以采用简单的螺纹驱动方式实现对待测试 样品的固定，解决了在系统平台上进行打孔造成的损坏系统平台的问题；同时 因为具有螺纹自锁功能，能够解决因弹簧疲劳而导致的压缩力变化的问题。在 一些其他实施例中，传动螺杆可以具有内螺纹，连接部可以具有外螺纹，外螺 纹与内螺纹配合连接。这样，同样可以通过旋转传动螺杆时使得压块沿竖直方 向上下运动。

在一些实施例中，参见附图8和图9a，连接部2022的形状为棱柱，第一 过孔D为与连接部2022相匹配的棱柱孔。如此，第一过孔可以更好地限制连 接部旋转运动，更有利于将旋转运动转化为直线运动，减小对待测试样品的损 坏。这里，连接部的形状可以为三棱柱、四棱柱、五棱柱、六棱柱等，本公开 实施例中对此并不限定。

以常见的四棱柱为例对连接部的形状进行说明，继续参见图8和图9a，连 接部2022的形状为四棱柱；由于连接部2022要穿过滑块322，因此，对应地， 滑块322上的第一过孔D可以是四棱柱孔或者六棱柱孔等多边形棱柱孔，只需 要保证压块无法旋转运动即可。

在一些实施例中，参见附图8和图9a，按压部2021的形状为棱柱，第一 过孔D为与按压部2021相匹配的棱柱孔。这里，按压部的形状可以为三棱柱、 四棱柱、五棱柱、六棱柱等，本公开实施例中对此并不限定。以常见的四棱柱 为例对按压部的形状进行说明，参见附图8和附图9a，按压部2021的形状四 棱柱，滑块322上的第一过孔D为与按压部2021相匹配的四棱柱孔，从而使 压块在向下移动的过程中不会发生晃动，减小对待测试样品的损坏。

在另一些实施例中，按压部的形状可以根据需要来设置，例如根据待测试 样品的横截面的形状来确定。若待测试样品的横截面的形状为圆形，按压部的 形状可以是圆柱状；若待测试样品的横截面的形状为矩形，按压部的形状可以 是四棱柱。如此，可以更好地固定待测试样品，防止待测试样品移动。

在一些实施例中，参见附图9b所示，按压部2021与连接部2022可拆卸连 接，按压部2021具有一个或多个按压面F。这里，按压面可以为一个、两个、 三个、四个等等。这样，可以根据待测试样品的数量更换按压部，可以一次固 定多个待测试样品，提高固定效率，进而提高后续测试效率，且能够适用不同 系统平台的待测试样品的测试。

在实施时，可拆卸连接可以是卡勾连接、键连接、卡接或销连接，也可以 螺纹连接，本领域技术人员可以根据需要选择，这里并不限定。

以卡接为例对连接部与按压部之间可拆卸连接进行说明。连接部可以具有 开口向下的卡接槽，按压部可以具有径向向外的卡接凸起；可以理解的是，连 接部具有凹部，按压部具有凸起，凸起可以稳定卡接在凹部内，不发生相对移 动。在实施时，凹部可以为“T型”，凸起可以为“T型”。装配时，将连接部 放在按压部上，旋转连接部使卡接凸起位于卡接槽内。

以螺纹连接为例对连接部与按压部之间可拆卸连接进行说明。按压部可以 具有开口朝下的螺纹孔，连接部可以具有外螺纹，螺纹孔内具有与外螺纹相匹 配的内螺纹，从而使得按压部经由内螺纹及外螺纹旋于连接部上。如此，需要 固定多个待测试样品时，可以拆卸并更换按压部，一次性固定多个样品。同时， 按压部的形状为棱柱，表面具有棱角，在拆卸和装配时拆卸工具更容易卡住， 并且不容易打滑，方便拆卸与装配。

本公开实施例提供一种测试系统，包括上述任一实施例中的装置；其中， 通过装置将待测试样品固定于系统平台上，待测试样品包含芯片。

本公开实施例中，通过采用固定装置将待测试样品固定与系统平台上，无 需在系统平台上打孔，从而解决了因打孔对系统平台上的电路板造成损坏的问 题；而且解决了因弹簧的疲劳，压缩力逐渐减小造成的芯片与系统平台接触不 良，测试中断这一问题。

在一些实施例中，系统还包括：压力传感器，用于检测加载于待测试样品 上的压力值；控制模块，用于基于压力值调整传动螺杆，以使压块对待测试样 品施加预设压力。如此，可以根据检测的加载于待测试样品上的压力值，通过 控制模块将压力值调整至预设压力，防止压力过大对芯片造成损坏，同时避免 压力值过低影响固定效果。

在本公开所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可 以通过非目标的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如， 所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方 式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可 以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直 接耦合。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为 单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可 以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来 实现本实施例方案的目的。

本公开所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况 下可以任意组合，得到新的方法实施例或设备实施例。

以上所述，仅为本公开实施例的一些实施方式，但本公开实施例的保护范 围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开实施例揭露的技术 范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开实施例的保护范围之内。 因此，本公开实施例的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (16)

1.一种固定装置，其特征在于，包括：

支撑组件，包括横向设置的第一导轨；

传动组件，包括传动螺杆和与所述传动螺杆螺纹连接的压块，所述传动螺杆用于驱动所述压块沿竖直方向上下移动；

限位组件，用于限制所述传动螺杆上下运动，以及用于限制所述压块旋转运动；其中，

所述限位组件与所述第一导轨活动连接，以沿所述第一导轨的延伸方向平移，所述限位组件还用于带动所述传动组件移动。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一导轨包括第一螺杆，所述第一螺杆沿水平方向贯穿所述限位组件，所述第一螺杆通过螺旋传动驱动所述限位组件沿所述水平方向移动。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述限位组件包括：

第一限位组件，所述第一限位组件包括第一移动块、第一限位单元和第二限位单元，所述第一导轨沿水平方向贯穿所述第一移动块，且用于驱动所述第一移动块沿所述水平方向平移，所述传动组件沿竖直方向贯穿所述第一移动块，所述第一限位单元用于限制所述传动螺杆向下运动，所述第二限位单元用于限制所述传动螺杆向上运动；

第二限位组件，用于限制所述压块旋转运动。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一限位单元包括：

第一限位部，所述第一限位部与所述传动螺杆固定连接，且所述第一限位部的下表面与所述第一移动块的上表面接触，用于限制所述传动螺杆向下运动。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第一限位部还用于驱动所述传动螺杆。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述传动螺杆包括连杆和螺纹传动杆，所述第一限位部与所述连杆固定连接以驱动所述螺纹传动杆，所述第二限位单元与所述连杆固定连接以限制所述传动螺杆向上运动；

所述螺纹传动杆与所述压块螺纹连接。

7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述传动螺杆内包括孔洞，所述第二限位单元还包括：

第二限位部，部分设置于所述孔洞内，所述第二限位部的上表面与所述第一移动块的下表面接触，用于限制所述传动螺杆向上运动。

8.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，还包括第二导轨，设置于所述第一导轨下方，且与所述支撑组件固定连接，所述第二限位组件包括：

第二移动块，所述第二导轨沿水平方向贯穿所述第二移动块，以使所述第二移动块在所述第二导轨上沿水平方向移动；

所述第二移动块包括第一过孔，所述第一过孔用于容纳部分所述压块，并限制所述压块的旋转运动。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述压块包括按压部和连接部，所述连接部具有与所述传动螺杆相匹配的螺纹，所述按压部用于固定待固定对象。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述传动螺杆具有外螺纹，所述连接部具有内螺纹，所述外螺纹与所述内螺纹配合连接。

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述连接部的形状为棱柱，所述第一过孔为与所述连接部相匹配的棱柱孔。

12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述按压部的形状为棱柱，所述第一过孔为与所述按压部相匹配的棱柱孔。

13.根据权利要求9-12中任一项所述的装置，其特征在于，所述按压部与所述连接部可拆卸连接，所述按压部具有一个或多个按压面。

14.根据权利要求8-12中任一项所述的装置，其特征在于，所述支撑组件还包括：

竖直移动组件，用于支撑并驱动水平移动组件，所述水平移动组件包括所述第一导轨和所述第二导轨；纵向移动组件，用于支撑并驱动竖直移动组件，所述传动组件基于所述水平移动组件、所述竖直移动组件及所述纵向移动组件进行三维运动，所述水平移动组件、所述竖直移动组件及所述纵向移动组件由步进电机驱动。

15.一种测试系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求1至14任一项所述的装置；其中，通过所述装置将待测试样品固定于系统平台上，所述待测试样品包含芯片。

16.根据权利要求15所述的系统，其特征在于，还包括：

压力传感器，用于检测加载于所述待测试样品上的压力值；

控制模块，用于基于所述压力值调整传动螺杆，以使压块对所述待测试样品施加预设压力。