CN116930155A - 基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置 - Google Patents

基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置 Download PDF

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CN116930155A CN202311191783.1A CN202311191783A CN116930155A CN 116930155 A CN116930155 A CN 116930155A CN 202311191783 A CN202311191783 A CN 202311191783A CN 116930155 A CN116930155 A CN 116930155A
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Abstract

本发明公开了一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置,属于重金属的光学检测技术。该方法根据两组光发生器的椭圆光斑,确定工作台与样品台的角度数据,再调整工作台的倾角,保持工作台与样品台平行。同时,根据椭圆光斑计算工作台与样品台的距离数据,调整第一激光器与光探测器的夹角。再根据注入样品流体前后干涉激光的反射点的距离,预测样品流体的厚度数据并调节第二激光器的能量参数。最后第二激光器发射诱导激光,经样品流体后生成等离子信号。本发明的诱导激光可以充分烧蚀样品,从而提高光谱数据的检测精度。

Description

基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置
技术领域
本发明涉及重金属的光学检测技术,尤其涉及一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置。
背景技术
矿区重金属污染制约着农业安全生产。铜矿区的铜和镉等重金属的含量检测对农作物的精细化种植至关重要。矿区农田通常采用激光诱导击穿光谱技术(简称LIBS技术)检测土壤或水源的重金属的原始含量。如中国专利公开号CN113588627A公开的那种基于激光诱导击穿光谱的二价铜离子检测方法,通过超短脉冲激光聚焦样品表面形成等离子体,利用光谱仪对等离子体生成的光谱进行分析,以此来检测样品中铜离子的含量。为了实现快速检测,拓宽LIBS技术在生产领域的应用,现有技术开发了样品的射流检测方法。参照中国专利公开号CN104931299A公开的那种用于激光诱导检测的均匀连续工业粉末取样方法,样品通过压缩空气喷射成样品流,激光器快速烧蚀样品,光电探测器获得连续的检测结果。但是喷射的样品流速度过快,并且样品的三维尺寸难以确定,造成样品烧蚀不完全,导致检测结果不准确。因此,现有技术需要在保证精度的情况下,实现样品的快速检测。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,将样品制成可控流体,通过测量流体的厚度数据调节激光的能量参数保证样品烧蚀效果,从而提高光谱数据的精度。本发明还公开了一种实现所述基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置。
本申请的发明目的可通过以下技术手段实现:
一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,包括以下步骤:
步骤1:第一光发生器与第二光发生器互成角度地向样品台发射有色光,光探测器收集有色光反射的光斑图像;
步骤2:提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的角度数据,根据所述角度数据调整工作台的倾角;
步骤3:再次提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的距离数据,根据距离数据调整第一激光器与光探测器的夹角;
步骤4:第一激光器发射干涉激光,干涉激光经样品台反射进入光探测器,光探测器生成第一激光图像;
步骤5:将导流管套在样品台上,在导流管内施加电场,射流发生器将样品流体注入样品台;
步骤6:第一激光器再次发射干涉激光,干涉激光经样品流体反射进入光探测器,光探测器生成第二激光图像;
步骤7:根据第一激光图像与第二激光图像预测样品流体的厚度数据,根据厚度数据调整第二激光器的能量参数;
步骤8:第二激光器发射诱导激光,诱导激光烧蚀样品流体的重金属元素生成等离子信号,信号探测器收集等离子信号,若预设的循环次数执行完毕,进入步骤9,否则返回至步骤6;
步骤9:信号探测器将等离子信号发送至光谱仪,光谱仪根据波长分割等离子信号并生成光谱图像。
在本发明中,所述有色光的波长为625~740nm,所述干涉激光的波长为850nm,所述诱导激光的波长为1064nm。
在本发明中,步骤2中,提取两个椭圆光斑的短轴长度D1与D2以及长轴长度D3与D4,角度数据θ=(b1+b2)/2-(a1+a2)/2,a1=arcsin(D1/D3),a2=arcsin(D2/D4),b1和b2分别为第一光发生器和第二光发生器与工作台的夹角。
在本发明中,步骤3中,距离数据H1=(L1+D5)/( cotb1+cotb2),L1为第一光发生器与第二光发生器的距离,D5为两个椭圆光斑的中心距离。
在本发明中,步骤3中,第一激光器与光探测器的夹角c1=arctanL2/H1,L2为第一激光器与光探测器的距离。
在本发明中,步骤7中,干涉激光经反射点反射后穿过一第一聚光镜照射在光探测器的成像面上,第一激光图像与第二激光图像的中心距离为D6,厚度数据H2=L4×D6/(L5sinc1+D6cosc1),c1为第一激光器与光探测器的夹角,L4为第一聚光镜与反射点的距离,L5为第一聚光镜与成像面的距离。
在本发明中,步骤7中,能量参数E1=50+(H1/△1)×ln(H2/△2) E0,△1与△2分别为基准辐照距离与基准烧蚀深度,E0为基准辐射能量,H1为工作台与样品台的距离数据。
在本发明中,在步骤9之后还包括:提取光谱图像的多条特征谱线,根据特征谱线的波长确定光谱图像的重金属元素的种类,根据特征谱线的强度确定重金属元素的含量。
一种实现所述基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置,包括:第一光发生器、第二光发生器、第一激光器、光探测器、处理器、射流发生器、导流管、第二激光器、信号探测器、光谱仪、控制器、工作台、样品台,其中,
第一光发生器、第二光发生器被配置为互成角度地向样品台发射有色光;
第一激光器被配置为向样品台发射干涉激光;
光探测器被配置为收集有色光反射的光斑图像以及干涉激光的第一激光图像或第二激光图像;
处理器被配置为根据光斑图像计算角度数据和距离数据以及根据第一激光图像和第二激光图像计算厚度数据;
射流发生器被配置为向导流管内的样品台注入样品流体;
第二激光器被配置为向样品流体发射诱导激光;
信号探测器被配置为接收等离子信号;
光谱仪被配置为分割等离子信号并生成光谱图像;
控制器被配置为根据角度数据调整工作台的倾角,并根据距离数据调整第一激光器与光探测器的夹角,以及根据厚度数据调整第二激光器的能量参数。
在本发明中,该装置还包括一支架,工作台与样品台均铰接在支架上,第一光发生器、第二光发生器、第一激光器、光探测器、第二激光器、信号探测器安装在工作台上,样品台穿过导流管,射流发生器安装在样品台上。
实施本发明的一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法及装置,其有益效果在于:射流发生器将样品流体注入样品台,样品在导流管内形成可控的膜状流体。倾斜的样品台可以引导样品流体的方向与流速,避免膜状流体流速过快,以便诱导激光充分烧蚀样品,产生等离子信号。有色光可以检测样品台与工作台的距离数据与角度数据,保持样品台与工作台平行。本发明还可以通过干涉激光测量流体的厚度参数并调节第二激光器,保证样品烧蚀效果,从而提高光谱数据的检测精度。进一步的,在样品流体两侧施加静电场,可以提高信号探测器收集等离子信号的效率。
附图说明
图1为本发明基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的流程图;
图2为本发明光斑图像的示意图;
图3为本发明第一光发生器形成椭圆光斑的示意图;
图4为本发明第一光发生器与第二光发生器发射有色光的示意图;
图5为本发明第一激光器发射干涉激光的示意图;
图6为本发明在导流管内施加电场的示意图;
图7为本发明的信号探测器收集等离子信号的示意图;
图8为本发明的光谱仪根据波长分割等离子信号的示意图;
图9为本发明的诱导激光与等离子信号的曲线图;
图10为本发明基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置的框图;
图11为本发明基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置的部分结构图;
图12为本发明工作台的另一方向的示意图。
附图中的各附图标记:工作台为10、第一光发生器为11、第二光发生器为12、第一激光器为13、光探测器为14、支架为15、样品台为20、射流发生器为21、导流管为22、导电板为23、样品流体为30、第二激光器为31、信号探测器为32、第一聚光镜为41、第二聚光镜为42、分光镜为43、第三聚光镜为44、面板为45、第四聚光镜为46、第五聚光镜为47、第六聚光镜为48。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
实施例一
针对现有的LIBS技术无法实现连续流体的准确检测的问题,本发明通过倾斜的样品台使样品形成膜状流体,诱导激光可以与重金属元素充分作用,产生等离子信号。本发明基于流速要求调整样品台的倾角,再基于样品台的倾角调整工作台的倾角,以保证后续的检测满足光线垂直入射的要求。由于膜状流体的尺寸控制难度大,本发明通过干涉激光测量流体厚度并调节激光功率,从而提高光谱数据的检测精度。本发明可以用于农田水源以及土壤的重金属的连续检测。对于固态土壤,可以先制备溶剂,将样品土壤混入溶剂,再制成样品流体。如图1至图9所示的本发明基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,包括以下步骤。
步骤1:第一光发生器与第二光发生器互成角度地向样品台发射有色光,光探测器收集有色光反射的光斑图像。第一光发生器11与第二光发生器12例如是LED光源,样品台20为光滑的条形台面。光探测器14例如是高速相机。为了提高光探测器对光斑图像的读取效率,有色光的波长可以为625~740nm。
步骤2:提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的角度数据,根据所述角度数据调整工作台的倾角。如图2所示,第一光发生器11与第二光发生器12倾斜照射在样品台20上,光探测器14获得的光斑图像由两个椭圆形的椭圆光斑组成。根据角度数据反向调整工作台,可以使样品台20与工作台平行,保证后续激光的垂直入射。
本实施例根据椭圆光斑的短轴与长轴计算工作台与样品台20的角度数据。参照图3,第一光发生器11与样品台20的夹角a1=arcsin(D1/D3),第一光发生器11的椭圆光斑的短轴长度为D1、长轴长度为D3。角度数据θ= b1- a1,b1为第一光发生器11与工作台的夹角。同样地,第二光发生器12与样品台20的夹角a2=arcsin (D2/D4),第二光发生器12的椭圆光斑的短轴长度为D2、长轴长度为D4。角度数据θ= b2- a2,b2为第二光发生器12与工作台的夹角。本实施例通过平均值降低系统误差,角度数据θ=(b1+b2)/2-(a1+a2)/2。
步骤3:再次提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的距离数据,根据距离数据调整第一激光器与光探测器的夹角。在步骤2后,工作台调整后的倾角与样品台一致,再根据光斑图像调整光探测器14的角度。参照图4,成像交点与工作台的距离为H1',成像交点与样品台20的距离为H1'',第一光发生器11与第二光发生器12的距离L1=H1'cotb1+ H1'cotb2,两个椭圆光斑的中心距离D5=H1''cotb1+H1''cotb2。因此,距离数据H1= H1'+ H1''=(L1+D5)/( cotb1+cotb2)。
本实施进一步根据距离数据调整第一激光器13与光探测器14的夹角。激光光源的方向性好,亮度高,可以用于测量毫米级的液膜。为了保证第一激光器13的反射光被充分吸收,本发明调整光探测器14的角度,使得干涉激光的反射路径处于光探测器14的轴线上,即反射路径垂注于光探测器14的成像面。参照图5,第一激光器13通常垂直于工作台,将第一激光器13与光探测器14的夹角调整至c1=arctanL2/H1,L2为第一激光器13与光探测器14的距离。
步骤4:第一激光器发射干涉激光,干涉激光经样品台反射进入光探测器,光探测器生成第一激光图像。在具体实施例中,可以在光探测器14上增设第一聚光镜41,提高对干涉激光的吸收率。本发明不限制干涉激光的波长,可以采用波长850nm的低能量密度激光。第一聚光镜41的设置使得干涉激光聚焦在光探测器14的成像面上。
步骤5:将导流管套在样品台上,在导流管内施加电场,射流发生器将样品流体注入样品台。参照图6,在导电板23施加2kV电压,两个所述导电板23在导流管22内产生所述电场,静电场可以增强等离子信号的强度降低背景干扰。为避免尖端放电,导电板23与样品台20的间隙为2cm,导电板两侧分别串联20MΩ电阻。导电板23在第一光发生器11、第二光发生器12以及第一激光器13与第二激光器的光路上开设条形孔。进一步的,导电板23可以选用50mm×50mm×3mm的平面铜板。
步骤6:第一激光器发射干涉激光,干涉激光经样品流体反射进入光探测器,光探测器生成第二激光图像。在步骤4的调整过程中,第一激光图像的干涉激光聚焦于成像面的反射点。由于样品流体厚度的存在,步骤6中第二激光图像出现偏移。干涉激光无法聚焦,即第二激光图像的激光光斑大于第一激光图像的激光光斑。但这种由于弥散斑引起的测量误差在样品流体厚度范围内很小,误差可以忽略。
步骤7:根据第一激光图像与第二激光图像预测样品流体的厚度数据,根据厚度数据调整第二激光器的能量参数。干涉激光经反射点反射后穿过第一聚光镜41照射在光探测器的成像面上,第一激光图像与第二激光图像的中心距离为D6。根据直射光接收算法,厚度数据H2=L4×D6/(L5sinc1+ D6cosc1),c1为第一激光器与光探测器的夹角,L4为第一聚光镜与反射点的距离,L5为第一聚光镜与成像面的距离。
进一步,第二激光器31的能量参数是指激光的辐照能量,特征谱线的强度在一定程度上会随辐照能量增加呈增长趋势,从而与背景噪声的区别加大,重金属元素的检测更准确。但是当辐照能量增加到一定程度时,谱线强度会到达饱和,其强度值会不增反降。通常样品流体的辐照能量取值55至70mJ。当样品流体的厚度发生变化时,适应性地调节辐照能量可以击穿流体,保证烧蚀深度。
在本发明中,射流发生器21的阀门以及样品台20的倾角可以调节样品流体的厚度数据。厚度数据H2越大,烧蚀难度越大,理想的能量参数也越大。距离数据H1越大,能量损失越大,理想的能量参数也越大。因此可以沿距离数据H1与厚度数据H2的反方向调节能量参数。但是由于样品流体30的非均匀性质,本发明进一步通过样品流体的厚度数据调节能量参数。本发明不限制调节能量参数的详细算法公式,基于经验公式:烧蚀率d(F)=ln (F1/F2) /α,F1为激光辐照能量密度,F2能量密度烧蚀阈值。因此可以设置能量参数调节公式:能量参数E1=50+(H1/△1)×ln(H2/△2) E0,△1与△2分别为基准辐照距离与基准烧蚀深度,E0为基准辐射能量,H1为工作台与样品台的距离数据。一般基准辐照距离△1取4cm,基准烧蚀深度△2取3mm,基准辐射能量E0取10 mJ。
步骤8:第二激光器发射诱导激光,诱导激光烧蚀样品流体的重金属元素生成等离子信号,信号探测器收集等离子信号,若预设的循环次数执行完毕,进入步骤9,否则返回至步骤6。循环次数通常为5至10次,通过多次循环检测取平均值,可以降低误差。如图7,诱导激光前端设置第四聚光镜46,提高光斑中心能量。信号探测器前端设置第五聚光镜47、第六聚光镜48,充分吸收等离子信号。第二激光器通常采用Nd:YAG激光源,波长为1064nm,脉宽8ns,重复频率10Hz,光斑直径7mm。
步骤9:信号探测器将等离子信号发送至光谱仪,光谱仪根据波长分割等离子信号并生成光谱图像。不同的重金属元素对诱导激光的响应不同,产生不同波长的等离子体。参照图8,离子体信号经第二聚光镜42、分光镜43分成多种波长的光信号,再经第三聚光镜44显示在面板45上。在步骤9后,本发明可以提取光谱图像的多条特征谱线,根据特征谱线的波长确定光谱图像的重金属元素的种类,根据特征谱线的强度确定重金属元素的含量。
实施例二
结合实施例一的步骤9中,本实施例针对农作物土壤中重金属元素的光谱特性,分析土壤中的重金属。如图9,诱导激光在10ns内发射完毕,诱导激光的强度曲线为三角锯齿波。等离子体信号的持续时间约为8us,在初始阶段,等离子体信号随着诱导激光强度的增加而增加,在诱导激光消失后,等离子体信号逐渐衰减。对10ns至8us时间段内的等离子信号积分,确定光谱信号的强度。第二激光器与信号探测器的时序控制可以通过延时发生器完成。光谱仪根据不同光谱信号的强度可以生成光谱图像。光谱图像体现为带宽很窄的波峰,波峰的高度与对应目标物的含量有关。提取当前光谱图像的多条特征谱线,匹配重金属元素的特征谱线波长与基准谱线波长,可以预测光谱图像的重金属元素种类。不同重金属元素对诱导激光的响应不同,常见重金属元素的基准特征谱线波长如下表。
进一步的,结合谱线强度比的经验函数,I=βGγ,本发明可以根据特征谱线的强度确定重金属元素的的含量。I为被测元素与内标元素的谱线强度比,G为被测元素的浓度,β是常数,γ是自吸系数。具体的分析步骤可以结合现有技术的LIBS的定量分析方法,本实施例不做详述。
实施例三
如图10至图12,本实施例公开了实现所述基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置,包括:第一光发生器11、第二光发生器12、第一激光器13、光探测器14、处理器、射流发生器21、导流管22、第二激光器31、信号探测器32、光谱仪、控制器、工作台10、样品台20。第一光发生器11、第二光发生器12被配置为互成角度地向样品台20发射有色光。第一激光器13被配置为向样品台20发射干涉激光。光探测器14被配置为捕获有色光反射的光斑图像以及干涉激光反射的第一激光图像或第二激光图像。处理器可以是计算机,处理器被配置为根据光斑图像计算角度数据和距离数据以及根据第一激光图像和第二激光图像计算厚度数据。射流发生器21被配置为向导流管22注入样品流体30。导流管22被配置为引导样品流体30。第二激光器31被配置为向样品流体30发射诱导激光。信号探测器32被配置为接收等离子信号。光谱仪被配置为分割等离子信号并生成光谱图像。控制器被配置为根据角度数据调整工作台10的倾角,并根据距离数据调整第一激光器13与光探测器14的夹角,以及根据厚度数据调整第二激光器31的能量参数。为了实现诱导激光的定时发射以及等离子信号的定时积分,控制器可以内置一延时发生器。
对照图11,该装置还包括一支架15,工作台10与样品台20的均铰接在支架15上。第一光发生器11、第二光发生器12、第一激光器13、光探测器14、第二激光器31、信号探测器32安装在工作台10上,如图12所示。样品台20穿过导流管22,射流发生器21安装在样品台20上。本发明先通过调节样品台20倾角调整样品流体30的液膜厚度。再根据光斑图像测量角度参数,调整工作台的倾角,使得工作台与样品台保持平行,最终的角度数据为0。在具体实施例中,基于样品台20的槽宽(例如2cm)、样品流体30的粘度、样品流体30在样品台20流速(例如为1cm/s),以及射流发生器21的流量(例如60ml/min),确定样品流体30的厚度数据为2.5mm时的样品台20倾角,例如28°。由于液体的非均匀性质,实际样品流体30达不到理想、均一的厚度。本发明通过第一激光器13通过干涉激光测量流体厚度并调节激光功率保证样品流体30的烧蚀效果,从而提高光谱数据的检测精度。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改,等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:第一光发生器与第二光发生器互成角度地向样品台发射有色光,光探测器收集有色光反射的光斑图像;
步骤2:提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的角度数据,根据所述角度数据调整工作台的倾角;
步骤3:再次提取光斑图像的两个椭圆光斑,根据两个椭圆光斑计算工作台与样品台的距离数据,根据距离数据调整第一激光器与光探测器的夹角;
步骤4:第一激光器发射干涉激光,干涉激光经样品台反射进入光探测器,光探测器生成第一激光图像;
步骤5:将导流管套在样品台上,在导流管内施加电场,射流发生器将样品流体注入样品台;
步骤6:第一激光器发射干涉激光,干涉激光经样品流体反射进入光探测器,光探测器生成第二激光图像;
步骤7:根据第一激光图像与第二激光图像预测样品流体的厚度数据,根据厚度数据调整第二激光器的能量参数;
步骤8:第二激光器发射诱导激光,诱导激光烧蚀样品流体的重金属元素生成等离子信号,信号探测器收集等离子信号,若预设的循环次数执行完毕,进入步骤9,否则返回至步骤6;
步骤9:信号探测器将等离子信号发送至光谱仪,光谱仪根据波长分割等离子信号并生成光谱图像。
2.根据权利要求1所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,所述有色光的波长为625~740nm,所述干涉激光的波长为850nm,所述诱导激光的波长为1064nm。
3.根据权利要求1所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,步骤2中,提取两个椭圆光斑的短轴长度D1与D2以及长轴长度D3与D4,角度数据θ=(b1+b2)/2-(a1+a2)/2,a1=arcsin(D1/D3),a2=arcsin(D2/D4),b1和b2分别为第一光发生器和第二光发生器与工作台的夹角。
4. 根据权利要求3所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,步骤3中,距离数据H1=(L1+D5)/( cotb1+cotb2),L1为第一光发生器与第二光发生器的距离,D5为两个椭圆光斑的中心距离。
5.根据权利要求4所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,步骤3中,第一激光器与光探测器的夹角c1=arctanL2/H1,L2为第一激光器与光探测器的距离。
6.根据权利要求1所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,步骤7中,干涉激光经反射点反射后穿过一第一聚光镜照射在光探测器的成像面上,第一激光图像与第二激光图像的中心距离为D6,厚度数据H2=L4×D6/(L5sinc1+D6cosc1),c1为第一激光器与光探测器的夹角,L4为第一聚光镜与反射点的距离,L5为第一聚光镜与成像面的距离。
7. 根据权利要求6所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,步骤7中,能量参数E1 =50+(H1/△1)×ln(H2/△2) E0,△1与△2分别为基准辐照距离与基准烧蚀深度,E0为基准辐射能量,H1为工作台与样品台的距离数据。
8.根据权利要求1所述的基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法,其特征在于,在步骤9之后还包括:提取光谱图像的多条特征谱线,根据特征谱线的波长确定光谱图像的重金属元素的种类,根据特征谱线的强度确定重金属元素的含量。
9.一种实现权利要求1所述基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置,其特征在于,包括:第一光发生器、第二光发生器、第一激光器、光探测器、处理器、射流发生器、导流管、第二激光器、信号探测器、光谱仪、控制器、工作台、样品台,其中,
第一光发生器、第二光发生器被配置为互成角度地向样品台发射有色光;
第一激光器被配置为向样品台发射干涉激光;
光探测器被配置为收集有色光反射的光斑图像以及干涉激光的第一激光图像或第二激光图像;
处理器被配置为根据光斑图像计算角度数据和距离数据以及根据第一激光图像和第二激光图像计算厚度数据;
射流发生器被配置为向导流管内的样品台注入样品流体;
第二激光器被配置为向样品流体发射诱导激光;
信号探测器被配置为接收等离子信号;
光谱仪被配置为分割等离子信号并生成光谱图像;
控制器被配置为根据角度数据调整工作台的倾角,并根据距离数据调整第一激光器与光探测器的夹角,以及根据厚度数据调整第二激光器的能量参数。
10.根据权利要求9所述的实现所述基于激光诱导击穿光谱的重金属污染检测方法的装置,其特征在于,该装置还包括一支架,工作台与样品台均铰接在支架上,第一光发生器、第二光发生器、第一激光器、光探测器、第二激光器、信号探测器安装在工作台上,样品台穿过导流管,射流发生器安装在样品台上。
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