CN116929997A - 面密度仪的校正方法及校正系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种面密度仪的校正方法及校正系统，面密度仪的校正方法应用于校正系统，校正系统中包括面密度仪、称重单元以及校正控制单元，面密度仪和称重单元分别与校正控制单元建立通信连接，校正方法包括：称重单元对待检测极片进行称重，得到待检测极片的标准重量；面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度；校正控制单元接收称重单元发送的标准重量和面密度；校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移。上述方案，能够调整面密度仪的线性偏移，从而提高后续面密度仪对待检测极片的面密度检测准确度。
Description
技术领域
本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种面密度仪的校正方法及校正系统。
背景技术
极片面密度检测设备的测量原理是以一定量的射线穿透极片，从射线穿透极片后的损失量来判断极片的面密度。面密度在工程材料方面是指定厚度的物质单位面积的质量。锂电池生产工艺中，干膜锂电池极片面密度测量主要通过人工校正实现，人工校正过程繁琐，取样频次高，存在人力与物料浪费等问题。
发明内容
本申请至少提供一种面密度仪的校正方法及校正系统。
本申请提供了一种面密度仪的校正方法，包括：面密度仪的校正方法应用于校正系统，校正系统中包括面密度仪、称重单元以及校正控制单元，面密度仪和称重单元分别与校正控制单元建立通信连接，校正方法包括：称重单元对待检测极片进行称重，得到待检测极片的标准重量；面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度；校正控制单元接收称重单元发送的标准重量和面密度；校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移。
在上述方案中，校正系统中校正控制单元分别与称重单元和面密度仪建立通信连接，方便称重单元对待测物品称重得到的标准重量与校正控制单元进行交互，以及面密度仪对待检测极片进行面密度测量得到的面密度与校正控制单元进行交互，使得校正控制单元能够根据待检测极片的标准重量与测量得到的面密度之间的差异，调整面密度仪的线性偏移，从而提高后续面密度仪对待检测极片进行面密度测量的准确度，相对于人工校正而言，本方案通过校正系统实现对面密度仪的线性偏移进行调整，更为节省人力。
在一些实施例中，校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移，包括：将偏差作为面密度仪的新偏移量；校正控制单元将新偏移量发送至面密度仪，新偏移量用于更正面密度仪后续测量得到的面密度。
在上述方案中，通过将面密度与标准重量之间的偏差作为面密度仪的偏移量发送给面密度仪，方便后续面密度根据该偏移量对测量得到的面密度进行矫正，使得后续面密度输出的测量结果更为准确。
在一些实施例中，在校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移之前，校正方法还包括：获取标准重量和面密度之间的偏差；响应于标准重量和面密度之间的偏差大于或等于预设偏差，执行校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移的步骤。
在上述方案中，在标准重量和面密度之间的偏差较大时才对面密度进行校正，相对于实时对面密度进行校正而言，本方案能够减少对面密度进行校正的次数。
在一些实施例中，待检测极片数量为多个，获取标准重量和面密度之间的偏差，包括：获取多个待检测极片的标准重量的均值以及面密度均值；将标准重量的均值和面密度均值之间的偏差，作为标准重量和面密度之间的偏差。
在上述方案中，通过获取多个待检测极片的标准重量与面密度均值之间的偏差，使得确定得到的面密度仪的偏移量更为准确。
在一些实施例中，待检测极片的数量为多组，每组待检测极片的数量为多个，各组之间待检测极片的标准重量不同，面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度，包括：分别对各组中的待检测极片进行测量，得到各组待检测极片的面密度均值；校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移，包括：对于每一组，获取面密度均值和待检测极片的标准重量的均值之间的偏差；分别利用各组的偏差，调整面密度仪的线性偏移。
在上述方案中，通过设置多组标准重量不同的待检测极片，然后将待检测极片对各组待检测极片进行面密度测量之后根据各组待检测极片的标准重量与面密度之间的偏差调整面密度仪的偏移量，从而使得调整后的面密度仪对多种标准重量的待检测极片都能测量较准确的面密度。
在一些实施例中，面密度仪包括射线发射源、射线接收传感器、测厚仪控制单元以及旋转托盘，旋转托盘设置在射线发射源和射线接收传感器之间，面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度，包括：测厚仪控制单元控制射线发射源向射线接收传感器发出射线，以便射线穿透放置于旋转托盘上的待检测极片到达射线接收传感器；射线接收传感器接收射线并基于射线的强度生成电压信号，将电压信号发送至测厚仪控制单元；测厚仪控制单元接收电压信号，并基于电压信号和面密度仪的当前偏移量，确定待检测极片的面密度。
在上述方案中，通过射线的损失量就能够实现对待检测极片的面密度的测量。
在一些实施例中，校正方法还包括：对待进行检测的极片进行裁剪，得到裁片；对裁片进行冲片，得到待检测极片。
在上述方案中，待检测极片可以认为是对待进行检测的极片采样得到，对待检测极片测量得到的面密度可以用于表示整个待进行检测的极片的面密度。
在一些实施例中，在校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移之后，校正方法还包括：响应于面密度仪的测量准确度大于或等于预设准确度，利用面密度仪对其他待检测极片进行面密度测量，其他待检测极片从待进行检测的极片得到；响应于面密度不符合面密度合格条件，发出预设提示以提示用户对待检测极片进行处理。
在上述方案中，通过在检测到待检测极片的面密度不符合面密度合格条件的情况下，发出预设提示，方便用户对待检测极片进行处理，例如将待检测极片回收等处理。
本申请提供了一种校正系统，包括：称重单元，称重单元用于对待检测极片进行称重，得到待检测极片的标准重量；面密度仪，面密度仪用于对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度；校正控制单元，校正控制单元分别与称重单元和面密度仪之间通信连接，校正控制单元用于接收称重单元发送的标准重量和面密度，并根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移。
在一些实施例中，面密度仪包括射线发射源、射线接收传感器、测厚仪控制单元以及旋转托盘，旋转托盘设置在射线发射源和射线接收传感器之间；测厚仪控制单元用于控制射线发射源向射线接收传感器发出射线，以便射线穿透放置于旋转托盘上的待检测极片到达射线接收传感器；射线接收传感器用于接收射线并基于射线的强度生成电压信号，将电压信号发送至测厚仪控制单元；测厚仪控制单元还用于接收电压信号，并基于电压信号和面密度仪的当前偏移量，确定待检测极片的面密度。
在上述方案中，通过射线的损失量或者射线的穿透率就能够实现对待检测极片的面密度的测量。
在上述方案中，校正系统中校正控制单元分别与称重单元和面密度仪建立通信连接，方便称重单元对待测物品称重得到的标准重量与校正控制单元进行交互，以及面密度仪对待检测极片进行面密度测量得到的面密度与校正控制单元进行交互，使得校正控制单元能够根据待检测极片的标准重量与测量得到的面密度之间的差异，调整面密度仪的线性偏移，从而提高后续面密度仪对待检测极片进行面密度测量的准确度，相对于人工校正而言，本方案通过校正系统实现对面密度仪的线性偏移进行调整，更为节省人力。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本申请。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，这些附图示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于说明本申请的技术方案。
图1是本申请一些实施例提供的校正系统一实施例的结构示意图一；
图2是本申请一些实施例提供的校正系统一实施例的结构示意图二；
图3是图2中面密度仪的部分结构示意图；
图4是本申请一些实施例提供的面密度仪的校正方法一实施例的流程示意图。
附图标记：校正系统10、称重单元12、面密度仪11、校正控制单元13、待检测极片20、射线发射源111、射线接收传感器113、测厚仪控制单元114、旋转托盘112、显示屏15、通讯接口14、旋转驱动器16、旋转托板17、卡盘1121、防尘罩1122、定位器18。
具体实施方式
下面结合说明书附图，对本申请实施例的方案进行详细说明。
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定子系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请。
本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外，本文中的“多”表示两个或者多于两个。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括A、B、C中的至少一种，可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
面密度在工程材料方面是指定厚度的物质单位面积的质量。锂电池在涂布生产时切拉换型时的面密度从150～1500g/m2内范围变化，因极片涂层配方与材料的变化，不同面密度仪机台、不同品种产品均需各自校正来修正标定后射线的吸收比例系数以保证测量精度。锂电池生产工艺中，干膜锂电池极片面密度测量主要通过人工校正实现，存在人力与物料浪费等问题。本方案考虑到若使用人工校正效率不高的问题，提出了一种校正系统及其校正方法，实现面密度仪与称重单元分别与校正控制单元进行交互，实现自动调整面密度仪的线性偏移。
请参阅图1和图2，本申请提供的校正系统10包括称重单元12、面密度仪11以及校正控制单元13。称重单元12用于对待检测极片20进行称重，得到待检测极片20的标准重量。面密度仪11用于对待检测极片20进行测量，得到待检测极片20的面密度。校正控制单元13分别与称重单元12和面密度仪11之间通信连接，校正控制单元13用于接收称重单元12发送的标准重量和面密度，并根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪11的线性偏移。
称重单元12可以是电子秤、电子称重装置等。面密度仪11可以是任意能够对待检测极片20进行面密度测量的仪器，例如x-ray(β-ray)面密度仪11。校正控制单元13可以是MES系统、中央处理器或其他控制器等。MES系统可以是处于计划层和现场自动化系统之间的执行层，主要负责车间生产管理和调度执行。MES系统可以在统一平台上集成诸如生产调度、产品跟踪、质量控制、设备故障分析等管理功能，使用统一的数据库和通过网络连接可以同时为生产部门、质检部门、工艺部门、物流部门等提供车间管理信息服务。校正控制单元13分别与称重单元12和面密度仪11之间通信连接，使得称重单元12在对待检测极片20进行称重之后，能够将称重结果反馈至校正控制单元13。面密度仪11对待检测极片20进行面密度测量之后，将面密度反馈至校正控制单元13。其中，通信连接的方式可以是有线通信，也可以是无线通信，目前通信连接方式众多，此处不做具体限定。待检测极片20可以通过传送带或机械手抓取等传输方式将其从卷尾采样之后放置在称重单元12上，从而根据称重单元12对待检测极片20进行称重。然后再将其传输到面密度仪11上的放置位置，利用面密度仪11进行面密度的测量。另一些实施例中，也可通过人工的方式将待检测极片20放置在称重单元12和面密度仪11上的放置位置上。如上述，面密度是指定厚度的物质单位面积的质量，面密度仪11对待检测极片20的测量面积已知（例如测量面积可以是单位面积或其他已知的面积大小），待检测极片20的端面面积可以等于测量面积，或者端面面积可以大于测量面积，待检测极片20的端面面积与待检测极片20中平行于该端面的截面的面积相同。本实施例以待检测极片20的端面面积等于测量面积为例，校正控制单元13用于接收称重单元12发送的标准重量和面密度，并根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪11的线性偏移的具体方式可以是，将面密度转换为测量重量，测量重量即为面密度与测量面积之间的乘积，然后利用面密度仪11测量得到待检测极片20的重量与标准重量之间的误差，调整面密度仪11的线性偏移，或者还可以是将标准重量通过测量面积转换成面密度，根据面密度仪11输出的面密度与标准重量对应的面密度之间的误差，调整面密度仪11的线性偏移。本方案中调整面密度仪11的线性偏移，可以默认称重单元12测量结果准确。待检测极片20可以是待检测的电池极片，电池极片在与其他组件组装之前或者电池极片出厂之前，通过采样得到待检测极片20，然后可以先利用部分待检测极片20与称重单元12调整面密度仪11的线性偏移之后，若面密度仪11的精度符合要求，则后续可以直接利用面密度仪11对采样得到的待检测极片20进行面密度的测量，能够保证测量得到的面密度的准确度。若面密度仪11测量的面密度准确度较高，那么测量得到的面密度和该待检测极片20的标准重量之间的差值在允许的范围内，那么无需对面密度进行校正，而面密度与标准重量之间的差值较大时，很明显不能直接利用面密度仪11对后续的待检测极片20进行面密度的测量，需要进行调整面密度仪11的线性偏移之后再利用面密度仪11对待检测极片20进行面密度的测量。其中，校正系统10具体的校正方法请参考下述校正方法实施例，此处不做赘述。
在上述方案中，校正系统10中校正控制单元13分别与称重单元12和面密度仪11建立通信连接，方便称重单元12对待测物品称重得到的标准重量与校正控制单元13进行交互，以及面密度仪11对待检测极片20进行面密度测量得到的面密度与校正控制单元13进行交互，使得校正控制单元13能够根据待检测极片20的标准重量与测量得到的面密度之间的差异，调整面密度仪11的线性偏移，从而提高后续面密度仪11对待检测极片20进行面密度测量的准确度，相对于人工校正而言，本方案通过校正系统10实现对面密度进行校正，更为节省人力。
在一些实施例中，请同时参阅图3，面密度仪11包括射线发射源111、射线接收传感器113、测厚仪控制单元114以及旋转托盘112。旋转托盘112设置在射线发射源111和射线接收传感器113之间；测厚仪控制单元114用于控制射线发射源111向射线接收传感器113发出射线，以便射线穿透放置于旋转托盘112上的待检测极片20到达射线接收传感器113；射线接收传感器113用于接收射线并基于射线的强度生成电压信号，将电压信号发送至测厚仪控制单元114；测厚仪控制单元114还用于接收电压信号，并基于电压信号和面密度仪11的当前偏移量，确定待检测极片20的面密度。
射线发射源111发出的射线可以是x-ray或β-ray。射线发射源111和射线接收传感器113相对设置。测厚仪控制单元114可以认为是面密度仪11中的处理器或处理系统，能够对射线接收传感器113输出的电压信号确定待检测极片20的面密度。旋转托盘112可拆卸地设置在射线发射源111和射线接收传感器113之间，方便旋转托盘112的拆卸和安装。旋转托盘112能够在面密度仪11中的驱动器驱动下进行旋转，方便将旋转托盘112上的待检测极片20旋转至射线发射源111和射线传感器之间的检测位置，或者将经过检测的极片从检测位置移开，方便后续其他的极片到该检测位置进行检测。面密度仪11中射线的穿透率与待检测极片20的面密度相关，具体为：，R表示射线的穿透率，/>表示射线的发射强度，/>表示射线接收传感器113接收到的射线强度。一般而言，若射线穿过空气，那么可以认为射线的发射强度和射线接收传感器113接收到的射线强度基本相同。μ表示射线吸收比例系数，m表示待检测极片20的面密度。由此可见，待检测极片20的面密度m的计算方式为：。由此可见，若μ存在误差，则可能导致计算得到的面密度存在误差。由此可见，不同待检测极片20的面密度存在以下关系：/>，其中，/>为样本极片的面密度，/>为被测极片的面密度，/>为射线穿透空气射线后接收传感器接收到的射线强度，/>为射线穿透样本极片后射线接收传感器113接收到的射线强度，为射线穿透被测极片后射线接收传感器113接收到的射线强度。通过此种方式，可以在确定射线穿透样本极片的射线强度与样本极片的面密度之间的关系之后，可以根据射线穿透待测极片的射线强度与穿透样本极片后射线强度之间的关系，确定被测极片的面密度，例如样本极片是极片两侧均没有涂层的极片，而待检测极片20可以是单侧具有涂层的极片或双侧均有涂层的极片。通过先确定样本极片的面密度以及待检测极片20的面密度，样本极片与待检测极片20的面密度差值可以认为是涂层的面密度，由此可以根据涂层的面密度确定涂层是否合格。面密度仪11的偏移量可以是认为是μ中的一个分量。或者，一些实施例中，标准重量y与被测重量x之间的关系可以是：y=kx+b，其中，k可以认为是映射系数，b可以认为是面密度仪11的偏移量，被测重量x具体可以是待检测极片20的面密度与端面面积的乘积，若端面面积等于测量面积，则被测重量x也可以认为是待检测极片20的面密度与测量面积的乘积。例如，k可以是/>。
在上述方案中，通过射线的损失量就能够实现对待检测极片20的面密度的测量。
在一些实施例中，校正系统10包括显示屏15。可选地，显示屏15的数量可以是多个，例如显示屏15包括第一显示器（图未示）和第二显示器（图未示），第一显示器可以用于显示对待检测极片20的面密度和/或面密度同标准重量之间的偏差，第二显示器可以显示称重单元12的称重结果。校正控制单元13通过通讯接口14与称重单元12和面密度仪11连接。
在一些实施例中，面密度仪11还包括旋转驱动器16，旋转托盘112与旋转驱动器16连接，旋转驱动器16能够驱动旋转托盘112绕旋转托盘112的转动轴旋转。旋转托盘112上设置有多个卡盘1121，各卡盘1121的中心点与转动轴之间的距离相等，任意两个卡盘1121的中心点之间的距离相等。卡盘1121用于放置待检测极片20。通过卡盘1121在旋转托盘112上均匀分布，使得旋转托盘112旋转一个角度之后，能够将旋转托盘112上一个卡盘1121上的待检测极片20旋转至射线发射源111和射线传感器之间的检测位置，或者将另一个卡盘1121上的经过检测的极片从检测位置移开。在一些实施例中，面密度仪11还包括防尘罩1122，防尘罩1122与卡盘1121配合以防灰尘落到待检测极片20上，对待检测极片20的测量结果造成影响。在一些实施例中，面密度仪11还包括旋转托板17，旋转托盘112可拆卸设置在旋转托板17上，旋转托板17与旋转驱动器16连接，旋转驱动器16通过驱动旋转托板17旋转从而带动旋转托盘112旋转。
在一些实施例中，面密度仪11还包括定位器18，定位器18用于在旋转托盘112旋转之后能够对旋转托盘112进行定位。定位器18可以是弹簧定位销。
请参阅图4，本申请提供的面密度仪的校正方法应用于上述校正系统，校正系统中包括面密度仪、称重单元以及校正控制单元，面密度仪和称重单元分别与校正控制单元建立通信连接。校正方法可以包括步骤S11至步骤S14的内容。步骤S11：称重单元对待检测极片进行称重，得到待检测极片的标准重量。步骤S12：面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度。步骤S13：校正控制单元接收称重单元发送的标准重量和面密度。步骤S14：校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移。
如上述，称重单元可以是电子秤、电子称重装置等。面密度仪可以是任意能够对待检测极片进行面密度测量的仪器，例如x-ray(β-ray)面密度仪。校正控制单元可以是MES系统、中央处理器或其他控制器等。其中，步骤S11与步骤S12的执行顺序可以是先执行步骤S11后执行步骤S12，也可以是先执行步骤S12再执行步骤S11，或者使用从同一待进行检测的极片上采样得到的两个待检测极片，利用称重单元对其中一个待检测极片进行称重，利用面密度仪对另一个待检测极片进行面密度测量，也就是步骤S11和步骤S12可以同步进行。待检测极片可以是待检测的电池极片。若标准重量与面密度之间的偏差较大，根据该偏差调整面密度仪的线性偏移，若标准重量与面密度之间的偏差在允许的范围内时，则无需根据该偏差对面密度进行校正。具体调整面密度仪的线性偏移的方式可以是修正、补偿面密度仪的偏移量，还可以是调整面密度仪测量得到的面密度与标准重量之间的映射关系等。
在上述方案中，校正系统中校正控制单元分别与称重单元和面密度仪建立通信连接，方便称重单元对待测物品称重得到的标准重量与校正控制单元进行交互，以及面密度仪对待检测极片进行面密度测量得到的面密度与校正控制单元进行交互，使得校正控制单元能够根据待检测极片的标准重量与测量得到的面密度之间的差异，调整面密度仪的线性偏移，从而提高后续面密度仪对待检测极片进行面密度测量的准确度，相对于人工校正而言，本方案通过校正系统实现对面密度仪的线性偏移进行调整，更为节省人力。
在一些实施例中，如上述面密度仪包括射线发射源、射线接收传感器、测厚仪控制单元以及旋转托盘。旋转托盘设置在射线发射源和射线接收传感器之间，上述面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度的方式可以是：测厚仪控制单元控制射线发射源向射线接收传感器发出射线，以便射线穿透放置于旋转托盘上的待检测极片到达射线接收传感器；射线接收传感器接收射线并基于射线的强度生成电压信号，将电压信号发送至测厚仪控制单元；测厚仪控制单元接收电压信号，并基于电压信号和面密度仪的当前偏移量，确定待检测极片的面密度。
射线发射源发出的射线可以是x-ray或β-ray。射线发射源和射线接收传感器相对设置。测厚仪控制单元可以认为是面密度仪中的处理器或处理系统，能够对射线接收传感器输出的电压信号确定待检测极片的面密度。旋转托盘可拆卸地设置在射线发射源和射线接收传感器之间，方便旋转托盘的拆卸和安装。旋转托盘能够在面密度仪中的驱动器驱动下进行旋转，方便将旋转托盘上的待检测极片旋转至射线发射源和射线传感器之间的检测位置，或者将经过检测的极片从检测位置移开，方便后续其他的极片到该检测位置进行检测。面密度仪中射线的穿透率与待检测极片的面密度相关，具体为：，R表示射线的穿透率，/>表示射线的发射强度，/>表示射线接收传感器接收到的射线强度。一般而言，若射线穿过空气，那么可以认为射线的发射强度和射线接收传感器接收到的射线强度基本相同。μ表示射线吸收比例系数，m表示待检测极片的面密度。由此可见，待检测极片的面密度m的计算方式为：/>。电压信号是射线接收传感器基于射线的强度生成的，具体面密度仪如何根据射线的强度生成电压信号并非本方案重点，此处不再赘述。测厚仪控制单元基于电压信号和面密度仪的当前偏移量，确定待检测极片的面密度的方式可以是根据当前偏移量对射线吸收比例系数进行更新，利用更新后的射线吸收比例系数和电压信号确定面密度。另一些实施例中，测厚仪控制单元基于电压信号和面密度仪的当前偏移量，确定待检测极片的面密度的方式还可以是在利用射线吸收比例系数确定面密度之后，将确定得到的面密度与当前偏移量相加，得到待检测极片最终的面密度。
在上述方案中，通过射线的损失量就能够实现对待检测极片的面密度的测量。
在一些实施例中，上述校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移的方式包括：将偏差作为面密度仪的新偏移量。校正控制单元将新偏移量发送至面密度仪。新偏移量用于更正面密度仪后续测量得到的面密度。
面密度仪在接收到新偏移量之后，面密度仪在根据电压信号和射线比例吸收系数确定得到初始面密度之后，将初始面密度与新偏移量相加，得到面密度仪最终测量得到的面密度。
在上述方案中，通过将面密度与标准重量之间的偏差作为面密度仪的偏移量发送给面密度仪，方便后续面密度根据该偏移量对测量得到的面密度进行矫正，使得后续面密度输出的测量结果更为准确。
在一些实施例中，在校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移之前，校正方法还包括：获取标准重量和面密度之间的偏差。响应于标准重量和面密度之间的偏差大于或等于预设偏差，执行校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移的步骤。
可选地，响应于标准重量和面密度之间的偏差小于预设偏差，不执行校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移的步骤。若标准重量与面密度之间的偏差较大，说明面密度仪不准确，需要对面密度的偏移进行校正。若标准重量与面密度之间的偏差较小，则说明面密度仪比较准确，无需调整面密度仪的线性偏移。
在上述方案中，在标准重量和面密度之间的偏差较大时才对面密度进行校正，相对于实时对面密度进行校正而言，本方案能够减少对面密度进行校正的次数。
在一些实施例中，待检测极片数量为多个，上述获取标准重量和面密度之间的偏差的方式可以是：获取多个待检测极片的标准重量的均值以及面密度均值。将标准重量的均值和面密度均值之间的偏差，作为标准重量和面密度之间的偏差。
可选地，旋转托盘上可以设置多个卡盘，每个卡盘可以用于放置一个待检测极片。多个待检测极片的标准重量的均值具体为各待检测极片的标准重量的平均值，称重单元分别对各待检测极片进行称重，得到各检测极片的标准重量，并将各待检测极片的标准重量发送至校正控制单元。面密度仪分别对各待检测极片进行面密度的测量，并将测量得到的各个面密度发送至校正控制单元，由校正控制单元计算各面密度的均值。然后基于标准重量的均值和面密度均值之间的偏差，确定是否调整面密度仪的线性偏移。
在上述方案中，通过获取多个待检测极片的标准重量与面密度均值之间的偏差，使得确定得到的面密度仪的偏移量更为准确。
在一些实施例中，待检测极片的数量为多组，每组待检测极片的数量为多个，各组之间待检测极片的标准重量不同，面密度仪对待检测极片进行测量，得到待检测极片的面密度，包括：分别对各组中的待检测极片进行测量，得到各组待检测极片的面密度均值；校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移，包括：对于每一组，获取面密度均值和待检测极片的标准重量的均值之间的偏差；分别利用各组的偏差，调整面密度仪的线性偏移。
待检测极片的数量为多组，不同组之间待检测极片的标准重量不同，可以理解为相同组中各待检测极片的标准重量相同，不同组之间的各待检测极片的标准重量不同，还可以理解为相同组中各待检测极片的标准重量也可以不同，不同组之间各标准重量之和不同。每组对应的面密度均值和标准重量均值之间的偏差都可以用于调整面密度仪的线性偏移。可选地，不同组之间的各待检测极片的涂层材料不同或涂层工艺不同。分别利用各组的偏差，调整面密度仪的线性偏移的方式可以是根据各组的标准重量或各组待检测极片分别设置对应的偏移量，后续面密度仪可以接收选择指令，选择其中一个偏移量用于确定待检测极片的面密度。示例性地，各组待检测极片涂层材料不同，可以对各待检测极片设置对应的偏移量，后续用户可以根据需要进行检测到待检测极片选择对应的偏移量，用于对待检测件极片进行面密度的测量。
在上述方案中，通过设置多组标准重量不同的待检测极片，然后将待检测极片对各组待检测极片进行面密度测量之后根据各组待检测极片的标准重量与面密度之间的偏差调整面密度仪的偏移量，从而使得调整后的面密度仪对多种标准重量的待检测极片都能测量较准确的面密度。
在一些实施例中，校正方法还包括：对待进行检测的极片进行裁剪，得到裁片；对裁片进行冲片，得到待检测极片。
对待进行检测极片进行裁剪的方式可以是利用校正系统中的裁剪装置对卷尾的极片进行裁剪，得到裁片。对裁片进行冲片的方式可以是利用校正系统中的冲片装置对裁片进行冲片，得到待检测极片。
在上述方案中，待检测极片可以认为是对待进行检测的极片采样得到，对待检测极片测量得到的面密度可以用于表示整个待进行检测的极片的面密度。
在一些实施例中，在校正控制单元根据标准重量和面密度之间的偏差，调整面密度仪的线性偏移之后，校正方法还包括：响应于面密度仪的测量准确度大于或等于预设准确度，利用面密度仪对其他待检测极片进行面密度测量，其他待检测极片从待进行检测的极片得到；响应于面密度不符合面密度合格条件，发出预设提示以提示用户对待检测极片进行处理。
准确度可以是面密度仪对多个待检测极片进行面密度测量，得到多个面密度，然后获取各面密度与其对应的标准重量之间的偏差确定准确度。例如，若偏差小于预设偏差，则确定测量得到的面密度准确，将面密度准确的数量与总面密度个数的商作为准确度。预设准确度可以根据需求设定，此处不做具体限定。也即是，若面密度仪的准确度较高，则可以直接利用面密度仪对后续的待检测极片进行面密度的测量。面密度合格条件可以根据其他待检测极片具有涂层的数量确定，示例性地，其他待检测极片可以单侧具有涂层、双侧具有涂层或者不具有涂层。双侧具有涂层的待检测极片对应的面密度合格条件比单侧具有涂层的待检测极片对应的面密度宽松，例如单侧具有涂层的待检测极片的面密度合格条件为涂层的面密度与标准涂层的面密度之间的差值小于或等于第一差值，例如第一差值可以是1mg，涂层的面密度为待检测极片的面密度与样本极片（两侧都不具有涂层的极片）的面密度之间的差值，双侧具有涂层的待检测极片的面密度合格条件为涂层的面密度与标准涂层的面密度之间的差值小于或等于第二差值，第二差值可以是1.5mg，第一差值和第二差值可根据极片的具体需求设定，此处不做具体限定。预设提示可以是灯光闪烁或者发出提示音，还可向预设方发送提示信息。
在上述方案中，通过在检测到待检测极片的面密度不符合面密度合格条件的情况下，发出预设提示，方便用户对待检测极片进行处理，例如将待检测极片回收等处理。
在一些实施例中，校正系统通过MES系统与面密度测量系统自动校验装置与电子秤通讯交互， 能够实现不同x-ray(β-ray)面密度仪、同种配方浆料涂层及基材的干膜面密度的自动校验，也即是校正系统中可以包括多种不同厂商或不同面密度测量原理的面密度仪，利用待检测极片能够对不同的面密度仪进行校正，解决了目前锂电池面密度测量射线的吸收比例系数因涂层配方的浆料、基材的极片和设备变化需要人工周期性、频繁校验与试涂浪费物料的问题。
另外，通过卷尾取样冲片的极片之后对面密度仪进行自动校验代替人工校验，因为称重装置以及面密度仪与MES系统交互，无需人工为待检测极片打标签的过程，减少了人工校验涂膜标记、测厚仪标记扫描过程。通过卷尾取样得到的待检测极片的面密度均值与标准重量均值进行差值对比，确定是否需要调整面密度仪的线性偏移，当差值大于设定阈值时，需要调整，当差值小于阈值时，无需调整，降低调整次数。
另外，待检测极片上涂层使用的浆料不同，射线的吸收比例系数可能也会存在差异，可以利用不同浆料的待检测极片对面密度仪进行校验并记录不同浆料对应的待检测极片的偏移量，方便后续用户选择对应的偏移量对待检测极片进行测量。
在线校验过程中，称重单元可以是电子秤，通过电子秤测量样片，将电子称称重数据上传至MES系统。通过X/β-ray面密度仪扫描待检测极片、电子称称重待检测极片，然后电子称、面密度仪、MES系统信息交互联动，实现标准重量E-面密度B差值对面密度仪的在线闭环调整功能。具体地，面密度仪向MES系统发送校正请求，MES系统向电子秤发送数据获取请求，电子秤将测量得到的标准重量发送至MES系统，然后面密度仪获取到的面密度发送至MES，由MES系统确定偏移量并下发至面密度仪。另一些实施例中，面密度仪与电子秤也可进行交互，面密度仪测量得到的面密度也可发送至电子秤，由电子秤将标准重量和面密度发送至MES。
在一些实施例中，可以利用多组及以上待检测极片的标准重量E与面密度仪扫描B值与MES系统交互后，对实际值与测量值的偏差进行修正后，以使每一台x/β-ray面密度仪测量相同配方待检测极片的自动校验（B值）。
具体地，测试系统可以应用于涂布生产线上，面密度仪工作时旋转驱动器驱动旋转托盘，将旋转托盘上的待检测极片旋转至射线发射源正下方检测位置，各个待检测极片依次在射线发射源与射线接收传感器间隙通过，实现射线接收传感器通过射线发射源对待检测极片进行穿透以获取射线发射源经射线接收传感器处理后的射线信号换成电压信号，传送到x/β-ray测厚仪控制单元后得到测量值，完成待检测极片的面密度测量。
通过将多组待检测极片以旋转的方式依次将待检测极片传送到对应的检测位置，实现射线发射源发出的射线对待检测极片进行穿透以获取不同范围内的电压信号形成全量程范围内的校验。
上述方案，通过由X/β-ray测厚仪单元与射线探测传感器交互联动，当涂层配方及基材属性发生变化时，射线实际吸收比例系数与测量吸收比例系数出现偏差，对射线测量吸收比例系数的电压信号进行修正补偿来校验吸收比例系数。另一些实施例中，对环境因素（如尘埃、气压、温度变化）等对射线标定吸收比例系数精度的影响，可以通过单独标定不同厚度（面密度）的标定样本片通过空气校验对比吸收比例系数后对实际测量吸收比例系数进行补偿实现。
上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以互相参考，为了简洁，本文不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法和装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施方式仅仅是示意性的，例如，模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如单元或组件可以结合或者可以集成到另一个子系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性、机械或其它的形式。
Claims (10)
1.一种面密度仪的校正方法，其特征在于，所述面密度仪的校正方法应用于校正系统，所述校正系统中包括面密度仪、称重单元以及校正控制单元，所述面密度仪和所述称重单元分别与所述校正控制单元建立通信连接，所述校正方法包括：
所述称重单元对待检测极片进行称重，得到所述待检测极片的标准重量；
所述面密度仪对所述待检测极片进行测量，得到所述待检测极片的面密度；
所述校正控制单元接收所述称重单元发送的标准重量和所述面密度；
所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移。
2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移，包括：
将所述偏差作为所述面密度仪的新偏移量；
所述校正控制单元将所述新偏移量发送至所述面密度仪，所述新偏移量用于更正所述面密度仪后续测量得到的面密度。
3.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，在所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移之前，所述校正方法还包括：
获取所述标准重量和所述面密度之间的偏差；
响应于所述标准重量和所述面密度之间的偏差大于或等于预设偏差，执行所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移的步骤。
4.根据权利要求3所述的校正方法，其特征在于，所述待检测极片数量为多个，所述获取所述标准重量和所述面密度之间的偏差，包括：
获取多个所述待检测极片的标准重量的均值以及面密度均值；
将所述标准重量的均值和所述面密度均值之间的偏差，作为所述标准重量和所述面密度之间的偏差。
5.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述待检测极片的数量为多组，每组所述待检测极片的数量为多个，各组之间所述待检测极片的标准重量不同，所述面密度仪对所述待检测极片进行测量，得到所述待检测极片的面密度，包括：
分别对各组中的待检测极片进行测量，得到各组待检测极片的面密度均值；
所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移，包括：
对于每一组，获取所述面密度均值和所述待检测极片的标准重量的均值之间的偏差；
分别利用各组的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移。
6.根据权利要求2至5任意一项所述的校正方法，其特征在于，所述面密度仪包括射线发射源、射线接收传感器、测厚仪控制单元以及旋转托盘，所述旋转托盘设置在所述射线发射源和所述射线接收传感器之间，所述面密度仪对所述待检测极片进行测量，得到所述待检测极片的面密度，包括：
所述测厚仪控制单元控制所述射线发射源向所述射线接收传感器发出射线，以便所述射线穿透放置于所述旋转托盘上的待检测极片到达所述射线接收传感器；
所述射线接收传感器接收所述射线并基于所述射线的强度生成电压信号，将所述电压信号发送至所述测厚仪控制单元；
所述测厚仪控制单元接收所述电压信号，并基于所述电压信号和所述面密度仪的当前偏移量，确定所述待检测极片的面密度。
7.根据权利要求1至5中任意一项所述的校正方法，其特征在于，所述校正方法还包括：
对待进行检测的极片进行裁剪，得到裁片；
对所述裁片进行冲片，得到所述待检测极片。
8.根据权利要求1至5中任意一项所述的校正方法，其特征在于，在所述校正控制单元根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移之后，所述校正方法还包括：
响应于所述面密度仪的测量准确度大于或等于预设准确度，利用所述面密度仪对其他待检测极片进行面密度测量，所述其他待检测极片从待进行检测的极片得到；
响应于所述面密度不符合面密度合格条件，发出预设提示以提示用户对所述待检测极片进行处理。
9.一种校正系统，其特征在于，包括：
称重单元，所述称重单元用于对待检测极片进行称重，得到所述待检测极片的标准重量；
面密度仪，所述面密度仪用于对所述待检测极片进行测量，得到所述待检测极片的面密度；
校正控制单元，所述校正控制单元分别与所述称重单元和所述面密度仪之间通信连接，所述校正控制单元用于接收所述称重单元发送的标准重量和所述面密度，并根据所述标准重量和所述面密度之间的偏差，调整所述面密度仪的线性偏移。
10.根据权利要求9所述的校正系统，其特征在于，所述面密度仪包括射线发射源、射线接收传感器、测厚仪控制单元以及旋转托盘，所述旋转托盘设置在所述射线发射源和所述射线接收传感器之间；
所述测厚仪控制单元用于控制所述射线发射源向所述射线接收传感器发出射线，以便所述射线穿透放置于所述旋转托盘上的待检测极片到达所述射线接收传感器；
所述射线接收传感器用于接收所述射线并基于所述射线的强度生成电压信号，将所述电压信号发送至所述测厚仪控制单元；
所述测厚仪控制单元还用于接收所述电压信号，并基于所述电压信号和所述面密度仪的当前偏移量，确定所述待检测极片的面密度。
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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