CN110031359A - 面密度测量仪的标定方法 - Google Patents

面密度测量仪的标定方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110031359A
CN110031359A CN201910277777.5A CN201910277777A CN110031359A CN 110031359 A CN110031359 A CN 110031359A CN 201910277777 A CN201910277777 A CN 201910277777A CN 110031359 A CN110031359 A CN 110031359A
Authority
CN
China
Prior art keywords
surface density
pole piece
standard pole
measuring instrument
scaling method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910277777.5A
Other languages
English (en)
Inventor
文云超
李奎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Ju Innovative Energy Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Hongpeng New Energy Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Hongpeng New Energy Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Hongpeng New Energy Technology Co Ltd
Priority to CN201910277777.5A priority Critical patent/CN110031359A/zh
Publication of CN110031359A publication Critical patent/CN110031359A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/24—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by observing the transmission of wave or particle radiation through the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
    • G01N2223/04—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016—X-ray
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/102—Different kinds of radiation or particles beta or electrons
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/303—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/601—Specific applications or type of materials density profile

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明公开了一种面密度测量仪的标定方法。该面密度测量仪的标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。该标定方法可简便高效地对面密度测量仪进行标定，且具有准确性高、成本损耗低的优点。

Description

面密度测量仪的标定方法
技术领域
本发明涉及锂电池生产工艺领域，具体而言，本发明涉及面密度测量仪的标定方法。
背景技术
锂离子电池涂布工段为保证涂膜准确性和一致性，需要使用面密度测量仪来测量极片表面涂膜的面密度。面密度测量仪可利用高压射线管产生射线穿透物质时的吸收、反散射效应实现无损非接触式测量薄膜类材料的面密度。该设备可放置于涂布机放卷后、涂布头前，测量待涂布基材的面密度；也可以放在烘箱外、收卷前，测量已烘干的极片面密度。
面密度测量仪在使用前需要进行准确性标定，传统方法是在涂布机上连续生产可以包含工厂所有面密度范围的极片，人为制造面密度梯度，极片连续走带至面密度测量仪放射源探头正下方后停止，启动面密度测量仪扫描得到一系列面密度机测值，然后在放射源探头扫描的极片同一位置上冲孔取样使用高精度电子称称量面密度得到实测值，从而在设备测量面密度值与实际测量面密度值之间得到一个线性关系：y＝kx+b(x为机测面密度值，y为实测面密度值)，通过k、b值来补偿机测与实测面密度值之间的差异，实现测量的准确性。并且电池厂会定期对面密度测量仪的准确性会进行校验，方法与上述相似。
传统面密度测量仪校准方式优点在于同一张极片上多次冲孔测量面密度取平均值，准确性高，但是缺点是操作复杂，进行一次标定/校验需要4h以上，并报废10～20kg极片，而电池厂会针对不同面密度测量设备、不同浆料体系及单双面极片进行多次标定/校验，甚至会针对不同种类的集流体进行标定/校验，且由于射线放射源的衰减、老化，对于检测设备的标定/校验需要重复进行，一般周期为1～2年，由此产生的复杂交互作用导致大量产品报废，耗费人力、物力和时间成本，目前市场正极活性材料价格持续走高，企业更需要从每一个细节降低成本，减轻负担。因而，现有的面密度测量仪标定方法仍有待改进。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出面密度测量仪的标定方法。该标定方法可简便高效地对面密度测量仪进行标定，且具有准确性高、成本损耗低的优点。
在本发明的一个方面，本发明提出了一种面密度测量仪的标定方法。根据本发明的实施例，该标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。
根据本发明实施例的面密度测量仪的标定方法，通过将标准极片置于待标定面密度测量仪射线源光斑下方，可以实现极片面密度的静态检测，直接从面密度测量仪上读取得到标准极片的机测面密度值，从而获得机测面密度值与极片面密度实测值(即“已知面密度值”)之间的关系，完成对面密度测量仪的标定。相对于传统面密度测量仪标定方法，本发明提出的方法可以极大地减少面密度测量仪标定所需时间和人工成本，单次标定可控制在10min内完成，并只需一个工位。同时，该标定方法可在设备正常运行的情况下进行操作，对设备稼动率无影响。另外，本发明的标定方法无需对标准极片进行冲孔取样，不会造成标准极片报废，成本损耗大大降低，且重复使用标准极片还可以避免人工取样误差，不受操作人员熟练度影响，标定准确显著提高。
另外，根据本发明上述实施例的面密度测量仪的标定方法还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一些实施例中，所述已知面密度值为20～50mg/cm2。
在本发明的一些实施例中，所述已知面密度值通过称量所述标准极片的重量获得。
在本发明的一些实施例中，所述标准极片包括多个，多个所述标准极片表面上所形成涂层的面密度值不同。
在本发明的一些实施例中，不同所述标准极片上所述涂层的面密度值呈梯度分布。
在本发明的一些实施例中，所述射线源发出的射线包括X射线和β射线中的至少之一。
在本发明的一些实施例中，所述光斑的直径为15～25mm。
在本发明的一些实施例中，所述标准极片的直径为30～50mm。
在本发明的一些实施例中，在步骤(3)之前，预先对所述标准极片所处位置进行温度修正。
在本发明的一些实施例中，步骤(4)中，通过将所述面密度机测值与所述已知面密度值进行线性拟合，从而完成所述标定。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是根据本发明一个实施例的面密度测量仪的标定方法操作示意图；
图2是实施例1中对面密度测量仪的标定结果图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本发明的一个方面，本发明提出了一种面密度测量仪的标定方法。根据本发明的实施例，该标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将标准极片置于射线源下方，以便使标准极片完全覆盖光斑；(3)利用待标定面密度测量仪测量标准极片的面密度，获得标准极片的面密度机测值；(4)根据面密度机测值与已知面密度值对待标定面密度测量仪进行标定。
根据本发明实施例的面密度测量仪的标定方法，通过将标准极片置于待标定面密度测量仪射线源光斑下方，可以实现极片面密度的静态检测，直接从面密度测量仪上读取得到标准极片的机测面密度值，从而获得机测面密度值与极片面密度实测值(即“已知面密度值”)之间的关系，完成对面密度测量仪的标定。相对于传统面密度测量仪标定方法，本发明提出的方法可以极大地减少面密度测量仪标定所需时间和人工成本，单次标定可控制在10min内完成，并只需一个工位。同时，该标定方法可在设备正常运行的情况下进行操作，对设备稼动率无影响。另外，本发明的标定方法无需对标准极片进行冲孔取样，不会造成标准极片报废，成本损耗大大降低，且重复使用标准极片还可以避免人工取样误差，不受操作人员熟练度影响，标定准确显著提高。
参考图1，常见的用于测定锂电池极片面密度测量仪包括射线源100、射线接收单元200和射线源支撑杆300(也称为射线源导轨)。现有的面密度测量仪标定方法中，不需要将标准极片500在射线源100与射线接收单元200之间进行固定。因而，利用本发明的方法对面密度测量仪进行标定时，需要采用工装夹具400将标准极片500固定在射线源100与射线接收单元200之间。根据本发明的具体示例，工装夹具400可固定在射线源支撑杆300上，两者的连接方式并不受特别限制，只要能够保证工装夹具400在射线源支撑杆300上连接稳固即可。标定过程中标准极片500的位置称为测量点，由于射线的吸收会受到温度影响，在标定前应确保测量点没有明显温度变化；测量点优选位于射线源100与射线接收单元200上下距离的中点。另外，为了便于操作，应保证射线源100与射线接收单元200之间满足空间足够、无异物格挡等要求，在此不再赘述。
进一步地，标准极片500固定完成后，将射线源100移至测量点上方，并使标准极片500能够完全覆盖射线源100发出射线所形成的光斑，优选将射线源100移至标准极片500的正上方，记录此时射线源100的坐标。射线源100就位后打开开关，待稳定后读取面密度测量仪人机界面上限值的面密度值，为保证测量的准确性，根据中心极限定理，对标准极片500重复测量2～3次取平均值，作为该标准极片的机测面密度值，进而根据机测面密度值与标准极片的已知面密度值对面密度测量仪进行标定。
下面进一步对根据本发明实施例的面密度测量仪的标定方法进行详细描述。
根据本发明的一些实施例，标准极片的已知面密度值为20～50mg/cm2。发明人发现，通过控制制作的标准极片的面密度值在以上范围，可以进一步提高面密度测量仪标定的准确性。如果标准极片的已知面密度值过小，一方面会增大面密度测量仪本身的机测误差，另一方面在制作标准极片时也难以准确测量标准极片的实际面密度。如果标准极片的已知面密度值过大，则会不可避免地提高标准的成本。
根据本发明的一些实施例，标准极片的已知面密度值可通过称量标准极片的重量获得。具体地，由于标准极片基体的重量和表面积已知，在标准极片表面形成涂层后，很容易通过成了标准极片整体的重量来获得涂层的重量，进而根据涂层的重量和标准极片基体表面积计算得到标准极片的实测面密度值。
根据本发明的一些实施例，标准极片包括多个，多个标准极片表面上所形成涂层的面密度值不同。由此，通过多个面密度值不同的标准极片对面密度测量仪进行标定，可以获得多组标准极片机测面密度值与实测值之间的关系，从而满足实际生产中测量不同极片面密度的需要。
根据本发明的一些实施例，不同标准极片上涂层的面密度值呈梯度分布。也即是说，不同标准极片的面密度在适宜范围内逐渐增大(或减小)，由此，获得多组标准极片机测面密度值与实测值之间的关系很容易拟合为线性关系，从而对面密度测量仪的标定的准确性。
根据本发明的一些实施例，上述射线源发出的射线包括X射线和β射线中的至少之一。换言之，本领域常见的根据X射线和β射线吸收、反散射效应原理工作的面密度测量仪均可以采用本发明提出的方法进行标定。
根据本发明的一些实施例，上述光斑的直径为15～25mm，标准极片的直径为30～50mm。发明人发现，目前市场上的面密度测量仪射线源光斑直径一般在15～25mm，本发明的标定方法中，通过控制标准极片的直径在30～50mm，例如30mm、35mm、40mm、45mm或是50mm，不仅可以满足使标准极片完全覆盖射线源光斑的要求，还可以避免因标准极片尺寸过大而造成的成本损耗浪费。
根据本发明的一些实施例，在上述步骤(3)之前，可预先对标准极片所处位置(即测量点)进行温度修正。如前所述，面密度测量仪发出的射线吸收会受到环境温度的影响，可以预先测定当前环境温度下射线穿透介质时的损失值，即环境损失值，然后对实测值进行补偿。
根据本发明的一些实施例，在上述步骤(4)中，通过将测得的标准极片面密度机测值与已知面密度值(实测值)进行线性拟合，从而完成标定。具体地，在获得多组面密度机测值与实测值后，可将多组面密度机测值与实测值拟合得到线性关系：y＝kx+b，式中x为机测面密度值，y为实测值，通过k、b值来补偿机测与实测面密度之间的差异，实现测量的准确性并完成面密度测量仪的标定。
如上所述，根据本发明实施例的面密度测量仪的标定方法可以具有选自下列的优点至少之一：
本发明提出的面密度测量仪标定方法，相较于目前现有的标定方法具有便捷性、可重复性、准确性高等特点。单次标定/校验可控制在10min以内，1个工位即可完成，而目前标定方法需要至少2个工位，4h的作业时间才能完成，很大程度上解放人力及设备，可在设备正常生产情况下进行操作，以及重复性使用标准片可以避免传统标定方法人工取样误差造成的标定误差，不受操作人员熟练度影响，提高了标定准确性，并且可以避免传统标定方式造成的极片报废，减少大量成本。
本发明的标定方法与现有技术的对比如表1所示：
表1
本发明 现有技术
标定耗时 10min 4h
需要工位 1人 2人
成本损耗 无 约3000元人民币/次
设备稼动率影响 无影响 停机标定
下面参考具体实施例，对本发明进行描述，需要说明的是，这些实施例仅仅是描述性的，而不以任何方式限制本发明。
实施例1
按照下列步骤对面密度测量仪进行标定：
(1)选定面密度测量仪射线源进行温度修正时的位置作为标准极片测量点，记录此时的射线源坐标；
(2)制作7个直径为30mm且具有梯度面密度值的标准极片，利用高精度电子秤称量各个标准极片的重量，结合标准极片的表面积与重量计算得到各个标准极片的面密度实测值，结果如表2；
(3)将用于固定标准极片的工装夹具安装在面密度测量仪的射线源支撑杆上，且竖直方向上位于射线源与射线接收单元距离的中点，在工装夹具上放置标准极片后，输入测量点的射线源坐标，使射线源移动至标准极片正上方，且标准极片完全覆盖射线源光斑。
(4)标准极片与射线源就位后，打开射线源开关，待射线源稳定后读取面密度测试仪人机界面上显示的面密度值并记录，每个标准极片重复测量3次，取测量结果的平均值作为该标准极片的机测面密度值，测量结果如表2；
(5)以各个标准极片的机测面密度值为横坐标x、实测面密度值为纵坐标y绘制散点图，并对各点进行线性拟合(结果见图2)，得到标定结果为y＝0.9892x-0.4532，线性程度R2＝0.9997，完成对面密度测量仪的标定。
表2
综上可知，本发明的面密度测量仪标定方法，将标准面密度极片使用工装夹具放置于射线源光斑正下方，静态检测，直接读取面密度测量仪检测数据，与实际测量的极片面密度数据线性拟合得到对应关系，从而对面密度测量仪测量的极片面密度进行修正，达到准确检测的目的。解决了目前面密度测量仪标定费时，成本损耗等问题，并且可以提高标定的准确性，每年为企业节省一笔可观的开支。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种面密度测量仪的标定方法，其特征在于，包括：
(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；
(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；
(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；
(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。
2.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述已知面密度值为20～50mg/cm2。
3.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述已知面密度值通过称量所述标准极片的重量获得。
4.根据权利要求2所述的标定方法，其特征在于，所述标准极片包括多个，多个所述标准极片表面上所形成涂层的面密度值不同。
5.根据权利要求4所述的标定方法，其特征在于，不同所述标准极片上所述涂层的面密度值呈梯度分布。
6.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述射线源发出的射线包括X射线和β射线中的至少之一。
7.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述光斑的直径为15～25mm。
8.根据权利要求1或7所述的标定方法，其特征在于，所述标准极片的直径为30～50mm。
9.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，在步骤(3)之前，预先对所述标准极片所处位置进行温度修正。
10.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，步骤(4)中，通过将所述面密度机测值与所述已知面密度值进行线性拟合，从而完成所述标定。
CN201910277777.5A 2019-04-08 2019-04-08 面密度测量仪的标定方法 Pending CN110031359A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910277777.5A CN110031359A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 面密度测量仪的标定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910277777.5A CN110031359A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 面密度测量仪的标定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110031359A true CN110031359A (zh) 2019-07-19

Family

ID=67237753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910277777.5A Pending CN110031359A (zh) 2019-04-08 2019-04-08 面密度测量仪的标定方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110031359A (zh)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109323653A (zh) * 2018-11-14 2019-02-12 江苏六仪器有限公司 一种x光光斑定位仪及其定位方法
CN110308069A (zh) * 2019-08-05 2019-10-08 开封市测控技术有限公司 一种用于面密度测量仪的温度补偿方法
CN111693403A (zh) * 2020-06-02 2020-09-22 河南省计量科学研究院 一种黑白密度片的校验检测方法
CN113280782A (zh) * 2021-05-08 2021-08-20 上海市市政公路工程检测有限公司 一种求积仪检测方法
CN113959899A (zh) * 2021-10-11 2022-01-21 常州市大成真空技术有限公司 湿涂层面密度测量方法及测量系统、电子设备
CN114720324A (zh) * 2022-06-01 2022-07-08 浙江双元科技股份有限公司 一种锂电池极片净涂层量检测方法、装置及系统
CN115096756A (zh) * 2022-07-27 2022-09-23 浙江双元科技股份有限公司 一种自标定面密度检测仪及其标定方法
CN115683937A (zh) * 2023-01-04 2023-02-03 浙江双元科技股份有限公司 基于线阵光电传感器的锂电池极片面密度检测系统及方法
CN116929997A (zh) * 2023-09-14 2023-10-24 宁德时代新能源科技股份有限公司 面密度仪的校正方法及校正系统
WO2023226867A1 (zh) * 2022-05-25 2023-11-30 宁德时代新能源科技股份有限公司 测量方法、装置及射线测量设备
WO2024103677A1 (zh) * 2022-11-18 2024-05-23 宁德时代新能源科技股份有限公司 面密度设备标定装置及面密度设备标定方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000338023A (ja) * 1999-05-25 2000-12-08 Sony Corp 面積密度測定装置及び面積密度測定方法
CN1991345A (zh) * 2005-12-29 2007-07-04 比亚迪股份有限公司 一种电池极片面密度测量系统和方法
CN101992174A (zh) * 2010-09-14 2011-03-30 天津力神电池股份有限公司 锂离子电池极片涂敷量面密度监控方法
CN102944498A (zh) * 2012-11-08 2013-02-27 佛山市枫莱尔自动化技术有限公司 电池极片涂布生产线在线面密度检测系统及检测方法
CN202886229U (zh) * 2012-11-08 2013-04-17 佛山市枫莱尔自动化技术有限公司 电池极片涂布生产线在线面密度扫描检测装置
CN108956372A (zh) * 2018-09-21 2018-12-07 开封市测控技术有限公司 一种面密度测量仪用点检装置及其标定方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000338023A (ja) * 1999-05-25 2000-12-08 Sony Corp 面積密度測定装置及び面積密度測定方法
CN1991345A (zh) * 2005-12-29 2007-07-04 比亚迪股份有限公司 一种电池极片面密度测量系统和方法
CN101992174A (zh) * 2010-09-14 2011-03-30 天津力神电池股份有限公司 锂离子电池极片涂敷量面密度监控方法
CN102944498A (zh) * 2012-11-08 2013-02-27 佛山市枫莱尔自动化技术有限公司 电池极片涂布生产线在线面密度检测系统及检测方法
CN202886229U (zh) * 2012-11-08 2013-04-17 佛山市枫莱尔自动化技术有限公司 电池极片涂布生产线在线面密度扫描检测装置
CN108956372A (zh) * 2018-09-21 2018-12-07 开封市测控技术有限公司 一种面密度测量仪用点检装置及其标定方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109323653A (zh) * 2018-11-14 2019-02-12 江苏六仪器有限公司 一种x光光斑定位仪及其定位方法
CN109323653B (zh) * 2018-11-14 2024-03-08 江苏一六仪器有限公司 一种x光光斑定位仪及其定位方法
CN110308069A (zh) * 2019-08-05 2019-10-08 开封市测控技术有限公司 一种用于面密度测量仪的温度补偿方法
CN110308069B (zh) * 2019-08-05 2021-08-03 开封市测控技术有限公司 一种用于面密度测量仪的温度补偿方法
CN111693403A (zh) * 2020-06-02 2020-09-22 河南省计量科学研究院 一种黑白密度片的校验检测方法
CN113280782B (zh) * 2021-05-08 2023-05-19 上海市市政公路工程检测有限公司 一种求积仪检测方法
CN113280782A (zh) * 2021-05-08 2021-08-20 上海市市政公路工程检测有限公司 一种求积仪检测方法
CN113959899B (zh) * 2021-10-11 2023-05-09 常州市大成真空技术有限公司 湿涂层面密度测量方法及测量系统、电子设备
CN113959899A (zh) * 2021-10-11 2022-01-21 常州市大成真空技术有限公司 湿涂层面密度测量方法及测量系统、电子设备
WO2023226867A1 (zh) * 2022-05-25 2023-11-30 宁德时代新能源科技股份有限公司 测量方法、装置及射线测量设备
CN114720324A (zh) * 2022-06-01 2022-07-08 浙江双元科技股份有限公司 一种锂电池极片净涂层量检测方法、装置及系统
CN114720324B (zh) * 2022-06-01 2022-09-06 浙江双元科技股份有限公司 一种锂电池极片净涂层量检测方法、装置及系统
CN115096756A (zh) * 2022-07-27 2022-09-23 浙江双元科技股份有限公司 一种自标定面密度检测仪及其标定方法
CN115096756B (zh) * 2022-07-27 2022-11-22 浙江双元科技股份有限公司 一种自标定面密度检测仪及其标定方法
WO2024103677A1 (zh) * 2022-11-18 2024-05-23 宁德时代新能源科技股份有限公司 面密度设备标定装置及面密度设备标定方法
CN115683937A (zh) * 2023-01-04 2023-02-03 浙江双元科技股份有限公司 基于线阵光电传感器的锂电池极片面密度检测系统及方法
CN115683937B (zh) * 2023-01-04 2023-10-03 浙江双元科技股份有限公司 基于线阵光电传感器的锂电池极片面密度检测系统及方法
CN116929997A (zh) * 2023-09-14 2023-10-24 宁德时代新能源科技股份有限公司 面密度仪的校正方法及校正系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110031359A (zh) 面密度测量仪的标定方法
CN101655343A (zh) 电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和基准尺
CN105403581A (zh) 薄膜厚度分布及其均匀性的射线测量方法
CN106705823A (zh) 一种线位移传感器现场校准方法
CN109444180A (zh) Nf系列防热材料产品x射线检测方法
CN109855583A (zh) 三坐标测量机测量不确定度的确定方法
CN114993188A (zh) 一种解决温度影响的测长机
Wei et al. A two-strain-gage technique for determining mode I stress-intensity factor
CN114812470A (zh) 一种薄膜在线测厚仪计量校准方法
CN209868378U (zh) 用于面密度测量仪标定的工装夹具
CN207074041U (zh) 棒材长度检具
CN110455181B (zh) 一种位姿快速测量系统及方法
Garg et al. Measurement uncertainty in microphone free-field comparison calibrations
CN204731151U (zh) 激光测量核孔膜均匀度的装置
CN104131509B (zh) 一种路面纹理结构与构造深度激光测量仪
CN207586410U (zh) 采用nmr设备实现霍尔传感器校准标定的设备
CN110988972B (zh) 高精度三维便携式表面污染仪检定装置
CN211856606U (zh) 一种模拟斑点标准物质
CN204269067U (zh) 一种钢筋混凝土保护层测量仪和楼板厚度测量仪检测装置
CN209496141U (zh) 大面积放射性平面源均匀性测量装置
CN206656671U (zh) 一种计量用测量仪
CN102207470B (zh) 一种用于校准工业计算机断层摄影系统放大倍率的标准物质
CN214470737U (zh) 形变量检测装置
CN216348436U (zh) 一种用于机翼盒段件测厚的定位工装
CN211317219U (zh) 一种透照厚度比测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20190911

Address after: 215333 No. 1 Pengxi Middle Road, Kunshan Development Zone, Kunshan City, Suzhou City, Jiangsu Province

Applicant after: Kunshan Ju Innovative Energy Technology Co., Ltd.

Address before: 518023 Room 1016, Shenye Logistics Building, 2088 Baoan North Road, Shaanggang Street, Luohu District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: Shenzhen Hongpeng New Energy Technology Co., Ltd.

TA01 Transfer of patent application right
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20190719

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication