CN111693403A - 一种黑白密度片的校验检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种黑白密度片的校验检测方法，通过拟合曲线与阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线作对比，得出不同厚度的阶梯试块处的真实黑白密度值，利用此种方法更贴近于真实情况，提高了工作黑白密度片校验的准确性。
Description
技术领域
本发明属于检验检测技术领域，特别是涉及一种黑白密度片的校验检测方法。
背景技术
黑白密度片主要是用于检定和校准各类透射式光学密度计的密度示值的计量器具。其中黑白密度片分为标准黑白密度片和工作黑白密度片，标准黑白密度片由特殊配方的卤化银感光乳剂加工处理而成，其外观特点为单乳剂面的黑白密度光楔。工作黑白密度片种类繁多，应根据应用领域的实际需要进行选择和加工。其中医院的X光机辐射值就需要定期对其进行检测，以便对X光机的辐射值进行评估，因此加工制作的工作黑白密度片的密度示值准确性显得尤为重要，现有的工作黑白密度片多是程式化生产出来的，其校验方法过于机械程式化，这样并不符合实际情况，测量出来的密度值就会较大的误差，影响其判断结果。
发明内容
本发明的目的是为了提供一种黑白密度片的校验检测方法，解决现有工作黑白密度片机械程式化校验方法存在较大误差的问题。
本发明为了解决上述问题所采取的技术方案是，提供了一种黑白密度片的校验检测方法，包括以下步骤：
步骤一：对阶梯试块进行X光线照射，在示值装置上显示阶梯试块的底片；
步骤二：根据阶梯试块的底片得出不同厚度处的黑白密度值；
步骤三：根据计算公式在坐标轴中绘制阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线，同时根据步骤二中得出的黑白密度值绘制拟合曲线；
步骤四：将黑白密度值函数曲线与拟合曲线进行对比，并对拟合曲线进行修正；
步骤五：根据修正后的拟合曲线由不同厚度的阶梯试块处得出其对应的黑白密度值作为其真实黑白密度值。
本发明的有益效果：该发明通过拟合曲线与阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线作对比，得出不同厚度的阶梯试块处的真实黑白密度值，利用此种方法更贴近于真实情况，提高了工作黑白密度片校验的准确性。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和有益效果更加清楚，下面对本发明实施方式作进一步详细描述。
本发明提供了一种黑白密度片的校验检测方法，包括以下步骤：
步骤一：对阶梯试块进行X光线照射，在示值装置上显示阶梯试块的底片；
步骤二：根据阶梯试块的底片得出不同厚度处的黑白密度值；
步骤三：根据计算公式在坐标轴中绘制阶梯试块不同厚度与黑白密度值函数曲线，同时根据步骤二中得出的黑白密度值绘制拟合曲线；
步骤四：将黑白密度值函数曲线与拟合曲线进行对比，并对拟合曲线进行修正；
步骤五：根据修正后的拟合曲线由不同厚度的阶梯试块处得出其对应的黑白密度值作为其真实黑白密度值。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及等同物界定。
Claims (1)
1.一种黑白密度片的校验检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：对阶梯试块进行X光线照射，在示值装置上显示阶梯试块的底片；
步骤二：根据阶梯试块的底片得出不同厚度处的黑白密度值；
步骤三：根据计算公式在坐标轴中绘制阶梯试块不同厚度和黑白密度值函数曲线，同时根据步骤二中得出的黑白密度值绘制拟合曲线；
步骤四：将黑白密度值函数曲线与拟合曲线进行对比，并对拟合曲线进行修正；
步骤五：根据修正后的拟合曲线由不同厚度的阶梯试块处得出其对应的黑白密度值作为其真实黑白密度值。
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| CN202010491305.2A Pending CN111693403A (zh) | 2020-06-02 | 2020-06-02 | 一种黑白密度片的校验检测方法 |
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1030980A (zh) * | 1987-05-06 | 1989-02-08 | 富士胶片公司 | 密度校正方法及装置 |
| CN103471535A (zh) * | 2013-09-06 | 2013-12-25 | 航天材料及工艺研究所 | 一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法 |
| CN104781659A (zh) * | 2012-11-09 | 2015-07-15 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析装置和质量校正方法 |
| CN104990886A (zh) * | 2014-11-10 | 2015-10-21 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种傅里叶变换红外光谱仪波数漂移的校正方法 |
| CN105937890A (zh) * | 2015-03-03 | 2016-09-14 | 帕纳科公司 | 定量x射线分析-基体厚度校正 |
| CN110031359A (zh) * | 2019-04-08 | 2019-07-19 | 深圳鸿鹏新能源科技有限公司 | 面密度测量仪的标定方法 |
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2020
- 2020-06-02 CN CN202010491305.2A patent/CN111693403A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1030980A (zh) * | 1987-05-06 | 1989-02-08 | 富士胶片公司 | 密度校正方法及装置 |
| CN104781659A (zh) * | 2012-11-09 | 2015-07-15 | 株式会社岛津制作所 | 质量分析装置和质量校正方法 |
| CN103471535A (zh) * | 2013-09-06 | 2013-12-25 | 航天材料及工艺研究所 | 一种用底片黑度值测算匀质材料厚度的方法 |
| CN104990886A (zh) * | 2014-11-10 | 2015-10-21 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种傅里叶变换红外光谱仪波数漂移的校正方法 |
| CN105937890A (zh) * | 2015-03-03 | 2016-09-14 | 帕纳科公司 | 定量x射线分析-基体厚度校正 |
| CN110031359A (zh) * | 2019-04-08 | 2019-07-19 | 深圳鸿鹏新能源科技有限公司 | 面密度测量仪的标定方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 朱凯等: "X射线检测仿真软件成像的黑度修正", 《无损检测》 * |
| 毛中彦: "压差式负压灌装机流速系数研究", 《包装工程》 * |
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