CN116878389B - 一种联合测量方法、装置、系统及存储介质 - Google Patents
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 219
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009432 framing Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种联合测量方法、装置、系统及存储介质;方法通过输出第一驱动控制信号控制线扫镜头和光源装置对待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息,将多个扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息,根据当前待测元素选择测量镜头,若线扫镜头为测量镜头,则根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上测量获得第一测量结果并进行显示;若是面阵镜头,则输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量后,获得第二测量结果并显示;通过保持待测产品位置不变,改变测量镜头的方式对待测产品进行测量,解决了相关技术中在对同一产品分别进行线扫测量和面阵测量时存在的测量效率低、测量误差大的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及器件测量技术领域,尤其是涉及一种联合测量方法、装置、系统及存储介质。
背景技术
相关技术中,在对产品进行自动化或半自动化测量时,通过线扫镜头以线扫方式对大尺寸平面产品进行测量,能够快速完成测量结果;而在面对非平面产品的测量时,线扫测量方式的精确度通常无法达到测量标准,需要转换至面阵镜头对非平面产品进行尺寸测量。而实际状况下,同一产品上通常需要进行大尺寸平面测量,同时又需要对产品上的非平面测量元素进行测量,此时若是将待测产品在线扫镜头测量系统和面阵镜头测量系统两个独立的测量系统中进行更换测量,不仅会导致测量效率的低下,而且由于两个测量系统的各项指标参数相互独立容易造成较大的测量误差。
因此,如何解决相关技术中,产品需要分别在线扫镜头测量系统和面阵镜头测量系统进行测量时,存在的测量效率低、且测量误差大的技术问题,成为本领域技术人员亟需解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提出一种联合测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质,用以解决相关技术中对同一产品需要分别在线扫镜头测量系统和面阵镜头测量系统中进行测量时存在的测量效率低、误差大的技术问题。
第一方面,本发明的一个实施例提供了一种线扫镜头和面阵镜头的联合测量方法,包括:
根据待测产品的参数信息确定扫描参数;
根据所述扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息;
依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
根据当前待测元素选择测量镜头;
若所述测量镜头选择为线扫镜头,则执行以下步骤:
根据当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素的测量参数进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示;
若所述测量镜头为面阵镜头,则执行以下步骤:
输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示。
本发明实施例的线扫镜头和面阵镜头的联合测量方法至少具有如下有益效果:
本发明实施例中一种线扫镜头和面阵镜头的联合测量方法,其通过输出第一驱动控制信号控制线扫镜头和光源装置按照预设路径对待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息,依次将多个扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息后,根据当前待测元素选择测量镜头,若是选择线扫镜头为测量镜头,则执行步骤:根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上进行测量获得第一测量结果并进行显示;若是选择面阵镜头,则执行步骤:输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量后,获得第二测量结果并显示;通过保持待测产品位置不变,改变测量镜头的方式对待测产品进行测量从而解决了相关技术中在对同一产品需要分别进行线扫测量和面阵测量时存在的测量效率低、测量误差大的技术问题,提供了一种高效且测量精度高的联合测量方法。
根据本发明的另一些实施例的联合测量方法,所述根据所述当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示包括:
根据所述当前待测元素的测量参数,遍历匹配所述全局图像上的所有器件,并筛选出所有与所述当前待测元素相匹配的器件,对所有相匹配的器件编号后,分别进行测量并显示。
根据本发明的另一些实施例的联合测量方法,所述输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示包括:
获取所述当前待测元素在所述全局图像信息中的参考坐标信息;
根据所述参考坐标信息输出所述第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量获得所述第二测量结果并显示。
根据本发明的另一些实施例的联合测量方法,还包括:
将所述线扫镜头和面阵镜头进行校准。
根据本发明的另一些实施例的联合测量方法,所述将所述线扫镜头和面阵镜头进行校准包括:
分别将所述线扫镜头、所述面阵镜头对同一校准圆的圆心进行测量,对应获得第一圆心坐标和第二圆心坐标;
根据所述第一圆心坐标、所述第二圆心坐标对所述线扫镜头和所述面阵镜头进行校准。
根据本发明的另一些实施例的联合测量方法,所述根据当前待测元素选择测量镜头包括:
判断所述当前待测元素是否为平面产品元素;
若是,则选择所述线扫镜头为测量镜头;
否则,选择所述面阵镜头为测量镜头。
第二方面,本发明的一个实施例提供了一种联合测量装置,包括:
全局图像信息生成单元,用于根据待测产品的参数信息确定扫描参数,并根据所述扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
测量镜头选择单元,用于根据当前待测元素选择测量镜头;
线扫镜头驱动测量单元,用于根据所述当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示;
面阵镜头驱动测量单元,用于输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示。
第三方面,本发明的一个实施例提供了一种联合测量系统,包括:光源装置、线扫相机装置、面阵相机装置和如上所述的联合测量装置;
其中,所述光源装置、所述线扫相机装置、所述面阵相机装置分别于所述联合测量装置电性连接,所述联合测量装置用于分别控制所述光源装置、所述线扫相机装置、所述面阵相机装置的工作状态;
其中,所述联合测量装置用于输出第一驱动控制信号控制所述光源装置和所述线扫相机装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
所述联合测量装置根据当前待测元素选择测量镜头后,用于根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果并进行显示;或者,用于输出第二驱动控制信号控制所述面阵相机装置和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并进行显示。
根据本发明的另一些实施例的联合测量系统,所述光源装置包括光源模块和第一运动机构;
所述光源模块固定于所述第一运动机构上,所述第一运动结构的工作状态受所述线扫测量装置的控制。
根据本发明的另一些实施例的联合测量系统,所述线扫相机装置包括线扫镜头和第一运动机构,所述线扫镜头固定于所述第一运动机构上,所述第一运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制;
所述面阵相机装置包括面阵镜头和第二运动机构,所述面阵镜头固定于所述第二运动机构上,所述第二运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制;
所述光源装置包括光源模块和第三运动机构,所述光源模块固定于所述第三运动机构上,所述第三运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制。
第四方面,本发明的一个实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有可执行程序,所述可执行程序被处理器执行实现如上所述的联合测量方法。
附图说明
图1是本发明实施例一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法的一具体实施例流程示意图;
图2是本发明实施例一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法中步骤S500的一具体实施例流程示意图;
图3是本发明实施例一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法中在全局图像信息上对当前待测元素进行测量的一具体实施例示意图;
图4是本发明实施例一种联合测量装置的一具体实施例模块示意图;
图5是本发明实施例一种联合测量系统的一具体实施例模块示意图。
具体实施方式
以下将结合实施例对发明的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分地理解本发明的目的、特征和效果。显然,所描述的实施例只是本发明的一部分实施例,而不是全部实施例,基于本发明的实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例,均属于本发明保护的范围。
在本发明实施例的描述中,如果涉及到“若干”,其含义是一个以上,如果涉及到“多个”,其含义是两个以上,如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”,均应理解为不包括本数,如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”,均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”,应当理解为用于区分技术特征,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
参照图1,本发明实施例提供了一种线扫镜头和面阵镜头的联合测量方法,其包括以下步骤:
S100、根据待测产品的参数信息确定扫描参数;
其中,待测产品上具有多个待测元素,且待测元素中具有平面大尺寸待测元素和非平面待测元素。本步骤中,参数信息包括待测产品的尺寸信息、待测产品的材质信息等,根据待测产品的参数信息确定扫描参数用于为后续线扫镜头对待测产品进行扫描。
S200、根据扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息;
该步骤中,第一驱动控制信号中包括有用于控制线扫镜头按照预设路径的移动的控制信号,以及控制光源装置进行移动的控制信号。由于不同的扫描参数需要按照不同的扫描路径对待测产品进行扫描以使得获得的多个扫描图像信息能够组成完整的图像信息,因此根据扫描参数输出第一驱动控制信号使得线扫镜头扫描获取的多个扫描图像信息能够组成对应于待测产品的完整的图像信息。此外,由于待测产品不同的材质需要不同的光源进行配合扫描,例如透光材质可采用底光光源(光源装置位于待测产品下方),而不透光的材质只能采用面光光源(光源装置位于待测产品上方)进行扫描。
S300、依次将多个扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
其中,在步骤S200中获得多个扫描图像信息后,此步骤中将获得的多个扫描图像信息按照接收顺序进行拼接,则将多个扫描图像信息全部进行拼接后得到的图像信息即全局图像信息,全局图像信息即通过线扫镜头对待测产品进行完整的线扫测量后得到全局图像信息。
S400、根据当前待测元素选择测量镜头;
由于待测产品上具有多个待测元素,而不同的待测元素需要不同的测量镜头进行测量,即:平面待测元素可通过线扫镜头测量,而非平面待测元素则需通过面阵镜头进行测量,因此需要针对具体的当前待测元素选择不同的测量镜头。
若选择线扫镜头为测量镜头,则执行步骤:
S500、根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上对当前待测元素的测量参数进行测量获得第一测量结果,并将第一测量结果进行显示;
其中,由于全局图像信息为通过线扫镜头按照预设路径对待测产品进行扫描后得到的多个扫描图像信息拼接而成,因此全局图像信息中包含有平面待测元素的尺寸信息、坐标信息等。若是选择线扫镜头为测量镜头,则此时只需要再全局图像信息上选择对应的当前待测元素的测量参数即可获得对应的第一测量结果,最后将第一测量结果进行显示供相关测量人员查看记录。
若选择面阵镜头为测量镜头,则执行步骤:
S600、输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量后获得第二测量结果,并将第二测量结果进行显示。
其中,由于步骤S300中获得获得的全局图像信息为通过线扫镜头扫描获得的,因此该全局图像信息无法对非平面待测元素进行精确的测量,此时若当前待测元素为非平面待测元素,则需要输出第二驱动控制信号控制面阵镜头与光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量。其中,第二驱动控制信号包括用于控制面阵镜头的驱动控制信号和用于控制光源装置的驱动信号。
本发明实施例提出的一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其通过线扫镜头预先获得待测产品的全局图像信息后,保持待测产品位置不变,根据当前待测元素切换不同的测量镜头对当前待测元素的测量参数进行测量,此时,若是选择线扫镜头为测量镜头,则只需要在获得的全局图像信息上对当前待测元素的测量参数进行测量,则即可获得第一测量结果并将其进行显示;若是选择面阵镜头为测量镜头,则输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量,则获得第二测量结果后将其进行显示;其解决了相关技术中,同一待测产品在分别需要在线扫镜头测量系统和面阵镜头测量系统中进行相关测量时,需要将待测产品移动至不同的测量系统进行测量,不仅导致测量效率低,且由于不同测量系统的设备参数存在较大差异容易导致测量结果误差较大的技术问题。
在一些实施例中,根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息对当前待测元素的测量参数进行测量获得第一测量结果进行显示包括:根据当前待测元素的测量参数,在全局图像信息上遍历匹配所有器件,筛选出所有与当前待测元素相匹配的器件,在对所有筛选出来的器件进行编号后,分别对所有筛选出来的器件的测量参数进行测量并显示。本实施例中,通过一次性将所有与当前待测元素相匹配的器件进行测量,能够有效节省测量时间。
在一些实施例中,若选择线扫镜头为测量镜头时,当前待测元素的测量参数包括外部轮廓信息、内部形状信息和测量对象信息;其中,测量对象信息包括点位置信息、点到点的距离信息、线段长度信息、圆弧弧长信息、圆弧圆心信息、夹角角度信息中的一种或多种。若选择面阵镜头为测量镜头时,当前待测元素的测量参数包括点位置信息、点到点的距离信息、线段长度信息、圆弧弧长信息、圆弧圆心信息、夹角角度信息中的一种或多种。
参照图2,在一些实施例中,在全局图像信息上遍历匹配所有器件筛选出所有与当前待测元素相匹配的器件具体包括步骤:
S510、接收当前待测元素的外部轮廓信息和内部形状信息;
S520、根据外部轮廓信息和内部形状信息遍历匹配全局图像信息上的所有器件,并筛选出所有与当前待测元素相匹配的器件进行测量后显示。
本实施例中,通过在全局图像信息上框选出当前待测元素后即可获取当前待测元素的外部轮廓信息和内部形状信息,根据当前待测元素的外部轮廓信息和内部形状信息能够精确将全图图像信息上与当前待测元素相匹配的所有器件筛选出来,进而能够在全局图像信息上一次性将所有需要进行测量的待测元素的测量对象信息进行测量,有效提高了测量的效率。此外,本实施例中,在根据外部轮廓信息和内部形状信息筛选相匹配器件的同时,将与当前待测元素的外部轮廓相同,但内部形状不一致的器件进行标注,能够有效提醒相关测量人员存在相似器件,防止选择错误的测量对象。
在一些实施例中,为了降低选择不同测量镜头时,测量结果在同一参考坐标系中的误差,在输出第一驱动控制信号控制线扫镜头和光源装置按照预设路径对待测产品进行扫描之前还需要将线扫镜头和面阵镜头进行校准。
具体的,在一些实施例中,线扫镜头和面阵镜头的校准包括:分别将线扫镜头和面阵镜头对同一校准圆的圆心坐标进行测量,其中,通过控制线扫镜头和面阵镜头在Z轴高度上处于同一高度位置上,则此时记线扫镜头测得的圆心坐标为第一圆心坐标(x1,y1),面阵镜头测得的圆心坐标为第二圆心坐标(x2,y2),则根据第一圆心坐标(x1,y1)和第二圆心坐标(x2,y2)的偏差对线扫镜头和面阵镜头进行校准。其中,可通过以某一测量镜头为基准,则另一测量镜头的测量结果与偏差值的关联计算即可实现线扫镜头与面阵镜头在同一参考坐标系下的校准。
在一些实施例中,通过面阵镜头测量当前待测元素的测量参数后,得到第二测量结果进行显示。此时,若下一待测元素的测量为平面大尺寸待测元素,则需要切换至线扫镜头对下一待测元素进行测量,而当切换至线扫镜头测量界面时,此时全局图像信息上能够将面阵镜头的测量所得的第二测量结果在全局图像信息对应的待测元素(即已经通过面阵镜头进行测量)上进行显示。
此外,在一些实施例中,步骤S600中输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量时,可以通过当前待测元素所在的全局图像信息中的粗略坐标位置(线扫镜头无法准确获取非平面待测元素的精确信息)辅助控制,将面阵镜头、光源装置驱动至能够获取当前待测元素的位置上,从而达到快速测量的目的。此外,显然的,也可以通过测量人员进行手动调节控制输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置的移动对当前待测元素的测量参数进行测量。
在一些实施例中,完成当前待测产品的所有测量工作后,则本发明实施例提供的联合测量方法在对同一型号的待测产品进行测量工作时,面阵镜头的移动控制由第一次对待测元素进行测量时获得的测量结果获得相应的坐标信息,则在对同一型号的待测产品上的当前待测元素的测量参数进行测量时,面阵镜头的移动控制通过已经获得的坐标信息进行精确控制至当前待测元素所在的位置进行测量,进而减少测量时间、提高测量效率。
以下通过一具体实施例说明本发明实施例一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法的具体实际测量过程:
参照图3,本发明实施例一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其执行控制通过计算机实现,且测量的过程中由线扫镜头或面阵镜头采集的图像信息均通过计算机进行显示和处理。首先,在驱动线扫相机与光源装置对待测产品进行扫描之前通过将线扫镜头和面阵镜头分别对同一校准圆的圆心进行测量后,对线扫镜头和面阵镜头进行校准后,根据待测产品的参数信息确定扫描参数:例如,根据待测产品的尺寸确定扫描起始位置、扫描结束位置,则确定扫描起始位置、扫描结束位置以及线扫镜头的扫描宽度后适应规划扫描的预设路径,例如:线扫镜头的线扫宽度为待测产品宽度的1/2,则预设路径为由待测产品的上半区域的左端至右端进行第一次扫描后,线扫相机移动向目标待测对象的下半区域移动,再从目标待测对象下半区域的右端至左端进行第二次扫描,将两次扫描得到的2个图像信息进行拼接后得到全局图像信息100,即预设路径通常为“弓”字形扫描路径,例如:线扫相机从目标待测对象的左边向右边扫描后,再进行第二次扫描时,线扫相机按照扫描宽度进行下移,并从目标待测对象的右边向左边进行扫描,等到第三次扫描目标待测对象时,扫描方向又改变为从目标待测对象的左边向右边扫描直至将目标待测对象进行完整扫描后接收,通过将预设路径设置为“弓”字形,能够有效减少线扫相机的扫描时间,提高线扫测量装置的工作效率。在获得全局图像信息100后,根据判断当前待测元素是否为平面产品元素进行测量镜头的选择,若当前待测元素为平面产品元素,则选择线扫镜头为测量镜头,此时,用户通过在全局图像信息上框选出当前待测元素,并选择对应的测量参数,例如:用户通过框选目标器件10作为当前待测元素,并且选择目标器件10中两条长(目标器件10为矩形)的中点的距离作为测量参数(即测量对象为a点到b点的距离信息),则此时在全局图像信息100上根据目标器件10的外部轮廓信息和内部形状信息遍历匹配全局图像信息100上的所有器件(即所有待测元素),则在全局图像信息上筛选出与目标器件10外部轮廓信息和内部形状信息一致的目标器件11、目标器件12和目标器件13,并同时分别对目标器件10、11、12、13进行a点到b点的距离信息的测量,得到对应的4个第一测量结果后,将对应的器件编号与测量结果进行显示,供测量人员进行查看记录。此外,还在全局图像信息100上标记出相似器件,其中,相似器件的判断为:与目标器件10外部轮廓信息一致但内部形状信息不一致的器件,通过标记出相似器件,可以避免测量人员选择错误的器件作为当前待测元素从而发生测量错误。在本实施例中,若当前待测元素为非平面产品元素,则选面阵扫镜头为测量镜头,在对同一型号的待测产品进行第一次测量时,面阵镜头的驱动控制至当前待测元素对测量参数进行测量可以通过当前待测元素在全局图像信息100上的位置信息进行驱动控制,进而能够快速将面阵镜头移动至相应的测量位置,例如:目标器件20为当前待测元素,其测量参数为圆心坐标(即点位置信息),则通过目标器件20在全局图像信息100上的坐标位置,输出驱动控制信号(第二驱动控制信号)驱动面阵镜头与光源装置至相应位置上对目标器件20进行圆心坐标测量获得第二测量结果,此时,若完成对目标器件20的测量后,通过将对目标器件20的测量结果在全局图像信息100对应的测量结果上进行显示,而当用户切换至线扫镜头测量的界面时,测量结果上能够同时显示出线扫镜头及面阵镜头的所有测量结果。在完成当前待测产品的测量后,在进行下一同一型号的待测产品测量时,面阵镜头的移动控制根据第一次进行测量时获得的测量结果进行驱动控制,而不再需要当前待测元素在全局图像信息100上的位置信息进行辅助计算驱动。
参照图4,本发明实施例还提供了一种联合测量装置,其包括:全局图像信息生成单元、测量镜头选择单元、线扫镜头驱动测量单元和面阵镜头驱动测量单元。其中,全局图像信息生成单元用于根据待测产品的参数信息确定扫描参数,并根据扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对所述待测产品扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息。测量镜头选择单元用于根据当前待测元素选择测量镜头;线扫驱动测量单元用于根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上对当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将第一测量结果进行显示;面阵镜头驱动测量单元用于输出第二驱动控制信号控制面阵镜头和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量后,获得第二测量结果并显示。本实施例中,联合测量装置对待测产品上当前待测元素进行测量的具体实现过程原理与上述任一实施例中所阐述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法相互参照对应,在本实施例中不再做出赘述。
在一些实施例中,联合测量装置所对应的具体产品包括计算机,计算机中装载有预设的程序软件,进而使得计算机能够实现控制线扫镜头与面阵镜头联合对待测产品进行测量。
参照图5,本发明实施例还提供了一种联合测量系统,其包括光源装置、线扫相机装置、面阵相机装置和上述实施例中的联合测量装置,光源装置、线扫相机装置、面阵相机装置分别和联合测量装置电性连接,联合测量装置用于控制光源装置、线扫相机装置以及面阵相机装置的工作状态。其中,在对待测产品进行联合测量时,联合测量装置输出第一驱动控制信号控制光源装置和线扫相机装置按照预设路径对待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个扫描图像信息进行拼接得到全局图像信息,联合测量装置根据待测产品上的当前待测元素选择对应的测量镜头,若选择线扫镜头为测量镜头,则联合测量装置用于接收用户输入的当前待测元素的测量参数后,在全局图像信息上对当前待测元素进行测量获得第一测量结果并进行显示。若选择面阵镜头为测量镜头,则联合测量装置输出第二驱动控制信号控制面阵相机装置和光源装置对当前待测元素的测量参数进行测量后,获得第二测量结果并进行显示。本实施例中,通过将待测产品在同一测量系统中进行线扫镜头测量和面阵镜头测量,能够避免需要将待测产品分别移动至不同的测量系统中进行测量从而导致的测量效率低、测量误差大的技术问题。
在一些实施例中,线扫相机装置包括线扫镜头和第一运动机构,线扫镜头固定于第一运动机构上,第一运动机构的工作状态受联合测量装置的控制。本实施例中,线扫镜头可为第一CCD相机,联合测量装置可为计算机,将第一CCD相机固定于第一运动机构上,计算机输出第一驱动控制信号,使得第一运动机构带动第一CCD相机按照预设路径对待测产品进行扫描,由于第一CCD相机的扫描宽度可能一次无法完全覆盖待测产品的宽度,因此第一CCD相机按照预设路径对待测产品进行扫描后多的多个图像信息,将扫描获得的多个扫描图像信息传输至计算机,计算机通过将多个扫描图像信息进行拼接后获得全局图像信息。测量人员在进行实际测量操作时,即可通过在计算机上框选对应的当前待测元素并选择测量参数后,对当前待测元素进行测量。
在一些实施例中,面阵相机装置包括面阵镜头和第二运动机构,面阵镜头固定于第二运动机构上,第二运动机构的工作状态受联合测量装置的控制。本实施例中,第二面阵镜头可为第二CCD相机,第二CCD相机固定于第二运动机构上,若计算机根据测量人员的控制选择面阵镜头为当前测量镜头,计算机输出第二驱动控制信号控制第二运动机构进行移动至目标位置,并同时控制第二CCD相机在目标位置上对当前待测元素的测量参数进行测量后,获得第二测量结果并进行显示。
在一些实施例中,光源装置包括光源模块和第三运动机构,光源模块固定于第三运动机构上,第三运动机构的工作状态受联合测量装置的控制。本实施例中,光源模块可为LED光源,LED光源随着第三运动机构的移动而移动,用于为第一CCD相机、第二CCD相机提供清晰的测量环境。
在一些实施例中,第一运动机构和第二运动机构可以为同一运动机构,线扫相机装置及面阵相机均安装固定在该运动机构上,计算机根据当前需求的测量镜头输出不同的驱动控制信号(即第一驱动控制信号和第二驱动控制信号)对运动机构进行控制,使得对应的测量镜头根据驱动控制信号进行移动并进行扫描测量工作。
在一些实施例中,前述的第一运动机构、第二运动机构和第三运动结构可均通过三维调整结构实现,进而可精确控制第一CCD相机、第二CCD相机和光源装置移动至对应的目标位置。
本发明实施例提出的一种联合测量系统,其对待测产品上的当前待测元素进行对应的测量参数进行测量时,其实现的功能原理与上述实施例中所阐述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法相互参照对应,在本实施例中不再做出赘述。
本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介存储有计算机可执行程序,该可执行程序被处理器执行时实现上述任一实施例中所阐述的联合测量方法。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明,但是本发明不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外,在不冲突的情况下,本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
Claims (9)
1.一种线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其特征在于,包括:
根据待测产品的参数信息确定扫描参数;
根据所述扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息;
依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
根据当前待测元素选择测量镜头;
若所述测量镜头选择为线扫镜头,则执行以下步骤:
根据当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素的测量参数进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示;
若所述测量镜头为面阵镜头,则执行以下步骤:
输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示;
其中,所述根据所述当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示包括:
根据所述当前待测元素的测量参数,遍历匹配所述全局图像上的所有器件,并筛选出所有与所述当前待测元素相匹配的器件,对所有相匹配的器件编号后,分别进行测量并显示;当前待测元素的测量参数包括外部轮廓信息、内部形状信息和测量对象信息。
2.根据权利要求1所述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其特征在于,所述输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示包括:
获取所述当前待测元素在所述全局图像信息中的参考坐标信息;
根据所述参考坐标信息输出所述第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量获得所述第二测量结果并显示。
3.根据权利要求1或2所述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其特征在于,还包括:
将所述线扫镜头和面阵镜头进行校准。
4.根据权利要求3所述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其特征在于,所述将所述线扫镜头和面阵镜头进行校准包括:
分别将所述线扫镜头、所述面阵镜头对同一校准圆的圆心进行测量,对应获得第一圆心坐标和第二圆心坐标;
根据所述第一圆心坐标、所述第二圆心坐标对所述线扫镜头和所述面阵镜头进行校准。
5.根据权利要求1或2所述的线扫镜头与面阵镜头的联合测量方法,其特征在于,所述根据当前待测元素选择测量镜头包括:
判断所述当前待测元素是否为平面产品元素;
若是,则选择所述线扫镜头为测量镜头;
否则,选择所述面阵镜头为测量镜头。
6.一种联合测量装置,其特征在于,包括:
全局图像信息生成单元,用于根据待测产品的参数信息确定扫描参数,并根据所述扫描参数输出第一驱动控制信号控制线扫镜头与光源装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
测量镜头选择单元,用于根据当前待测元素选择测量镜头;
线扫镜头驱动测量单元,用于根据所述当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示;其中,所述根据所述当前待测元素的测量参数,在所述全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果,并将所述第一测量结果进行显示包括:根据所述当前待测元素的测量参数,遍历匹配所述全局图像上的所有器件,并筛选出所有与所述当前待测元素相匹配的器件,对所有相匹配的器件编号后,分别进行测量并显示;当前待测元素的测量参数包括外部轮廓信息、内部形状信息和测量对象信息;
面阵镜头驱动测量单元,用于输出第二驱动控制信号控制所述面阵镜头和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并显示。
7.一种联合测量系统,其特征在于,包括:光源装置、线扫相机装置、面阵相机装置和如权利要求6所述的联合测量装置;
其中,所述光源装置、所述线扫相机装置、所述面阵相机装置分别与所述联合测量装置电性连接,所述联合测量装置用于分别控制所述光源装置、所述线扫相机装置、所述面阵相机装置的工作状态;
其中,所述联合测量装置用于输出第一驱动控制信号控制所述光源装置和所述线扫相机装置按照预设路径对所述待测产品进行扫描获得多个扫描图像信息后,依次将多个所述扫描图像信息进行拼接后得到全局图像信息;
所述联合测量装置根据当前待测元素选择测量镜头后,用于根据当前待测元素的测量参数在全局图像信息上对所述当前待测元素进行测量获得第一测量结果并进行显示;或者,用于输出第二驱动控制信号控制所述面阵相机装置和所述光源装置对所述当前待测元素的测量参数进行测量后,获取第二测量结果并进行显示。
8.根据权利要求7所述的联合测量系统,其特征在于,所述线扫相机装置包括线扫镜头和第一运动机构,所述线扫镜头固定于所述第一运动机构上,所述第一运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制;
所述面阵相机装置包括面阵镜头和第二运动机构,所述面阵镜头固定于所述第二运动机构上,所述第二运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制;
所述光源装置包括光源模块和第三运动机构,所述光源模块固定于所述第三运动机构上,所述第三运动机构的工作状态受所述联合测量装置的控制。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有可执行程序,所述可执行程序被处理器执行实现如权利要求1至5任一项所述的联合测量方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311146654.0A CN116878389B (zh) | 2023-09-07 | 2023-09-07 | 一种联合测量方法、装置、系统及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311146654.0A CN116878389B (zh) | 2023-09-07 | 2023-09-07 | 一种联合测量方法、装置、系统及存储介质 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116878389A CN116878389A (zh) | 2023-10-13 |
CN116878389B true CN116878389B (zh) | 2023-12-22 |
Family
ID=88255437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311146654.0A Active CN116878389B (zh) | 2023-09-07 | 2023-09-07 | 一种联合测量方法、装置、系统及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116878389B (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117685912B (zh) * | 2024-01-26 | 2024-04-26 | 东莞市兆丰精密仪器有限公司 | 一种电芯检测方法、装置、系统及存储介质 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE102016215144A1 (de) * | 2016-08-15 | 2018-02-15 | Ifm Electronic Gmbh | Verfahren zur Vollständigkeitsprüfung |
-
2023
- 2023-09-07 CN CN202311146654.0A patent/CN116878389B/zh active Active
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---|---|
CN116878389A (zh) | 2023-10-13 |
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PB01 | Publication | ||
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