CN116794017A - 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法 - Google Patents

一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116794017A
CN116794017A CN202310770914.5A CN202310770914A CN116794017A CN 116794017 A CN116794017 A CN 116794017A CN 202310770914 A CN202310770914 A CN 202310770914A CN 116794017 A CN116794017 A CN 116794017A
Authority
CN
China
Prior art keywords
aluminum foil
carbon
coated aluminum
coating layer
coated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202310770914.5A
Other languages
English (en)
Inventor
黄秀力
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Cornex New Energy Co ltd
Original Assignee
Cornex New Energy Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cornex New Energy Co ltd filed Critical Cornex New Energy Co ltd
Priority to CN202310770914.5A priority Critical patent/CN116794017A/zh
Publication of CN116794017A publication Critical patent/CN116794017A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/73—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/40—Concentrating samples
    • G01N1/4044—Concentrating samples by chemical techniques; Digestion; Chemical decomposition
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/44—Sample treatment involving radiation, e.g. heat
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
    • G01N5/04—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本发明提供了一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，属于锂离子电池技术领域。本发明的测定方法先采用消解剂将涂碳铝箔溶解，测得涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，同时做过程空白，测得涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b；然后另外取与涂碳铝箔中基体铝箔相同的基体铝箔，或者将涂碳铝箔煅烧后获得涂碳铝箔中的基体铝箔，采用消解剂将该基体铝箔溶解，测得该基体铝箔中杂质元素的质量占比c，同时做过程空白，测得基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d；最后结合公式(1)计算得到涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e。本发明的测定方法能准确地测试出涂碳铝箔涂覆层各元素含量。

Description

一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法
技术领域
本发明属于锂离子电池技术领域，具体涉及一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法。
背景技术
近年来，锂离子电池由于具有能量密度高、寿命长、环境友好等优点而在二次电池领域受到广泛地应用。锂离子电池主材料包括正极、负极、隔膜和电解液四大部分，其中正极又包括正极集流体和涂覆在正极集流体表面的正极活性物质，目前正极集流体通常采用涂碳铝箔。
例如专利申请文件CN106602076A公开了涂碳铝箔、制备方法及应用。该涂炭铝箔由铝箔、以及沿铝箔至少一个表面向外依次设置的Super P导电层、石墨烯导电层和混合导电层构成，混合导电层中包含至少两种导电剂，导电剂选自VGCF、CNT、Super P。又例如专利申请文件CN113054198A公开了一种涂碳铝箔及其制备方法和用途。该涂炭铝箔包括铝箔基体和涂炭层；所述涂炭层由复合浆料经涂覆固化得到；所述复合浆料以质量百分含量计包括：粘接剂20-25％，导电剂5-10％，氢氧化钙0.3-0.8％，余量为溶剂；所述复合浆料的固含量为12-13％；所述复合浆料的pH为3-5。
可见，涂碳铝箔的基体是铝箔，铝箔上涂覆已分散好的导电碳黑或碳包覆粒，涂碳铝箔主要用于磷酸铁锂动力电池，具有提高电池能量密度、抑制电池极化、降低电池内阻、增加电池循环寿命、改善电池材料加工性能等优势。
在锂离子电池中，杂质元素的含量需要保持在规定含量以下，过高时会对锂离子电池的性能带来不利影响，尤其在长循环和低温时表现更加显著。例如Ni、Mn、Mg、Cr等杂质元素的含量太多时容易在循环过程中被还原聚集成金属单质，从而刺穿隔膜导致正负极短路，进而使电池容量下降，极端情况下还会造成电池起火爆炸，影响人员生命和财产安全。因此，有必要对锂离子电池原料和电池结构中的杂质元素的含量进行管控。
涂碳铝箔也是锂离子电池材料中的重要部件，其与正极活性材料紧密接触，对正极活性材料的性能也有较大影响，因此，对涂碳铝箔中涂覆层的杂质元素含量进行管控也是锂离子电池生产过程中的重要一环。而相关技术中通常是对形成涂碳铝箔中涂覆层的导电浆料本身进行杂质元素测定，忽略了导电浆料在后续制备成涂覆层的过程中还有可能引入杂质，因此，有必要在涂覆层制备好之后，对涂碳铝箔中涂覆层的杂质元素含量进行测定，看涂碳铝箔产品是否合格。另外，相关技术中还有直接对涂碳铝箔整体的杂质元素含量进行测定的方法，但这种方法没有排除基体铝箔中杂质元素的影响，无法准确监控涂覆层的杂质元素含量。
发明内容
本发明是基于发明人对以下事实和问题的发现和认识做出的：发明人曾经尝试将涂碳铝箔中涂覆层刮取下来，进而测定涂覆层粉末中的杂质元素的含量，但是，由于目前的涂碳铝箔厚度一般为8-15μm，涂覆层的厚度更是仅有1μm左右，且涂覆层还与基体铝箔紧密接触，因此刮取涂覆层的过程中容易刮到基体铝箔，误将基体铝箔中的杂质一并算入涂覆层中，导致涂覆层杂质元素含量测定结果不准确。所以，急需设计出一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法。
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明提出一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法。
本发明提供了一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
S1、称取质量为m1的涂碳铝箔；
S2、采用消解剂将所述涂碳铝箔溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔待测液；同时采用消解剂将涂碳铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔过程空白待测液；
S3、称取质量为m2的基体铝箔，所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔相同；
S4、采用所述消解剂将所述基体铝箔溶解，再稀释定容后得到基体铝箔待测液；同时采用所述消解剂将基体铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到基体铝箔过程空白待测液；
S5、采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对所述涂碳铝箔过程空白待测液、所述基体铝箔过程空白待测液、所述涂碳铝箔待测液、所述基体铝箔待测液中杂质元素的浓度进行测定，再根据标准曲线得到所述涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，所述涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b，所述基体铝箔中杂质元素的质量占比c，所述基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d，然后根据公式(1)计算出所述涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)
其中，m1、m2的单位为g；a、b、c、d以及e的单位均为ppm。
本发明的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法带来的优点和技术效果为：本发明的测定方法能准确地测试出涂碳铝箔涂覆层各元素含量，对于原材料生产及锂电池来料监控、机理分析等至关重要。
优选地，步骤S3中所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔的面积、厚度、体积、密度、质量、生产厂家和生产批次均相同。
优选地，步骤S2和S4中的所述消解剂包括盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的混合物。
优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为35wt％以上，所述硝酸溶液的质量浓度为60wt％以上，所述硫酸溶液的质量浓度为95wt％以上，所述盐酸溶液、所述硝酸溶液和所述硫酸溶液的体积比为(2-8)：(2-8)：(8-10)。
优选地，步骤S2和S4中在160-400℃条件下进行溶解。
优选地，步骤S2中的所述涂碳铝箔过程空白样品和步骤S4中的所述基体铝箔过程空白样品包括去离子水、蒸馏水或超纯水。
优选地，步骤S5中电感耦合等离子体发射光谱仪的测试条件如下：等离子体流量为12-15L/min，雾化气流量为0.6-0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为40-60s，测试次数为2-4次，雾化器背压为280-320KPa。
优选地，所述杂质元素包括Ni、Mn、Mg、Cr、Li、Fe、P、Cu、Zn、S、Ti、V、Si、B、Pb、Ca、Na和K中的至少一种。
另外，本发明还提供了另外一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
S1、称取质量为m1的涂碳铝箔；
S2、采用消解剂将所述涂碳铝箔溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔待测液；同时采用消解剂将涂碳铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔过程空白待测液；
S3、称取质量为m1的所述涂碳铝箔，将所述涂碳铝箔进行煅烧，得到所述涂碳铝箔中的基体铝箔，所述基体铝箔的质量记为m2；
S4、采用所述消解剂将所述基体铝箔溶解，再稀释定容后得到基体铝箔待测液；同时采用所述消解剂将基体铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到基体铝箔过程空白待测液；
S5、采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对所述涂碳铝箔过程空白待测液、所述基体铝箔过程空白待测液、所述涂碳铝箔待测液、所述基体铝箔待测液中杂质元素的浓度进行测定，再根据标准曲线得到所述涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，所述涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b，所述基体铝箔中杂质元素的质量占比c，所述基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d，然后根据公式(1)计算出所述涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)
其中，m1、m2的单位为g；a、b、c、d以及e的单位均为ppm。
本发明的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法带来的优点和技术效果为：本发明的测定方法能准确地测试出涂碳铝箔涂覆层各元素含量，对于原材料生产及锂电池来料监控、机理分析等至关重要。
优选地，步骤S3中将所述涂碳铝箔在350-600℃条件下进行煅烧8-24h。
优选地，将所述涂碳铝箔进行煅烧后，再进行擦拭和吹扫。
优选地，步骤S2和S4中的所述消解剂包括盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的混合物。
优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为35wt％以上，所述硝酸溶液的质量浓度为60wt％以上，所述硫酸溶液的质量浓度为95wt％以上，所述盐酸溶液、所述硝酸溶液和所述硫酸溶液的体积比为(2-8)：(2-8)：(8-10)。
优选地，步骤S2和S4中在160-400℃条件下进行溶解。
优选地，步骤S2中的所述涂碳铝箔过程空白样品和步骤S4中的所述基体铝箔过程空白样品包括去离子水、蒸馏水或超纯水。
优选地，步骤S5中电感耦合等离子体发射光谱仪的测试条件如下：等离子体流量为12-15L/min，雾化气流量为0.6-0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为40-60s，测试次数为2-4次，雾化器背压为280-320KPa。
优选地，所述杂质元素包括Ni、Mn、Mg、Cr、Li、Fe、P、Cu、Zn、S、Ti、V、Si、B、Pb、Ca、Na和K中的至少一种。
具体实施方式
下面详细描述本发明，下面描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
第一方面
本发明第一方面提供了一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
S1、称取质量为m1的涂碳铝箔；
S2、采用消解剂将所述涂碳铝箔溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔待测液；同时采用消解剂将涂碳铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔过程空白待测液；
S3、称取质量为m2的基体铝箔，所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔相同；
S4、采用所述消解剂将所述基体铝箔溶解，再稀释定容后得到基体铝箔待测液；同时采用所述消解剂将基体铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到基体铝箔过程空白待测液；
S5、采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对所述涂碳铝箔过程空白待测液、所述基体铝箔过程空白待测液、所述涂碳铝箔待测液、所述基体铝箔待测液中杂质元素的浓度(质量浓度或摩尔浓度均可)进行测定，再根据标准曲线得到所述涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，所述涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b，所述基体铝箔中杂质元素的质量占比c，所述基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d，然后根据公式(1)计算出所述涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)
其中，m1、m2的单位为g；a、b、c、d以及e的单位均为ppm。
工作原理：本发明先采用消解剂将涂碳铝箔溶解，利用电感耦合等离子体发射光谱仪和标准曲线测得涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，同时做过程空白，以同样的方式测得涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b。然后另外取与步骤S1中涂碳铝箔中基体铝箔相同的基体铝箔，再次采用消解剂将该另外取用的基体铝箔溶解，利用电感耦合等离子体发射光谱仪和标准曲线测得该基体铝箔中杂质元素的质量占比c，同时做过程空白，以同样的方式测得基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d。最后结合公式(1)计算得到涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e。相对于刮取涂碳铝箔中的涂覆层再测定其中杂质元素含量的方法，本发明的测定方法测试结果更准确有效。
优选地，步骤S3中所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔的面积、厚度、体积、密度、质量、生产厂家和生产批次均相同。这样可以保证步骤S3中另取的基体铝箔杂质元素含量与步骤S1中涂碳铝箔中的杂质元素含量完全相同，有利于提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法测试结果的准确性。
优选地，步骤S2和S4中的所述消解剂包括盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的混合物。步骤S2中盐酸主要用于溶解涂碳铝箔中的基体铝箔，硝酸和硫酸主要用于溶解涂碳铝箔中的涂覆层。步骤S4中虽然只有基体铝箔，但消解剂也与步骤S2中的消解剂一样，是为了提高测试结果的准确性。
更优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为35wt％以上，所述硝酸溶液的质量浓度为60wt％以上，所述硫酸溶液的质量浓度为95wt％以上，所述盐酸溶液、所述硝酸溶液和所述硫酸溶液的体积比为(2-8)：(2-8)：(8-10)。当盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的浓度以及体积比在以上范围内时，消解剂能将涂碳铝箔和基体铝箔完全溶解，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性，避免了碳未全溶而导致的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果偏低的问题。进一步优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为36-68％，所述硝酸溶液的质量浓度为64-66wt％，所述硫酸溶液的质量浓度为98wt％以上。
优选地，步骤S2和S4中在160-400℃条件下进行溶解。步骤S2和S4中消解剂涂碳铝箔或基体铝箔发生消解反应将其溶解。加热条件下有利于提高消解反应的速率，缩短溶解时间，提高测试效率。可以理解的是，步骤S2和S4中也可以采用微波消解仪进行溶解，但微波消解仪属于贵重仪器，不利于降低检测辅材成本。
优选地，步骤S2中的所述涂碳铝箔过程空白样品和步骤S4中的所述基体铝箔过程空白样品包括去离子水、蒸馏水或超纯水。步骤S2中除了用水代替涂碳铝箔，其他条件均与涂碳铝箔待测液的配制过程一致。步骤S4中除了用水代替基体铝箔，其他条件均与均与基体铝箔待测液的配制过程一致。做过程空白是为了排除消解剂及试验仪器对涂碳铝箔待测液、基体铝箔待测液的影响，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性。
优选地，步骤S5中电感耦合等离子体发射光谱仪的测试条件如下：等离子体流量为12-15L/min，雾化气流量为0.6-0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为40-60s，测试次数为2-4次，雾化器背压为280-320KPa。在以上条件下测试电感耦合等离子体发射光谱，可以提高相应待测液及过程空白待测液中杂质浓度测试结果的准确性，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性。
需要说明的是，本发明中所述杂质元素包括Ni、Mn、Mg、Cr、Li、Fe、P、Cu、Zn、S、Ti、V、Si、B、Pb、Ca、Na和K中的至少一种，监控的杂质元素种类需要根据涂碳铝箔生产环境中可能引入的杂质类型来定。
第二方面
本发明第二方面提供了一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
S1、称取质量为m1的涂碳铝箔；
S2、采用消解剂将所述涂碳铝箔溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔待测液；同时采用消解剂将涂碳铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔过程空白待测液；
S3、称取质量为m1的所述涂碳铝箔，将所述涂碳铝箔进行煅烧，得到所述涂碳铝箔中的基体铝箔，所述基体铝箔的质量记为m2；
S4、采用所述消解剂将所述基体铝箔溶解，再稀释定容后得到基体铝箔待测液；同时采用所述消解剂将基体铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到基体铝箔过程空白待测液；
S5、采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对所述涂碳铝箔过程空白待测液、所述基体铝箔过程空白待测液、所述涂碳铝箔待测液、所述基体铝箔待测液中杂质元素的浓度(质量浓度或摩尔浓度均可)进行测定，再根据标准曲线得到所述涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，所述涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b，所述基体铝箔中杂质元素的质量占比c，所述基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d，然后根据公式(1)计算出所述涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)
其中，m1、m2的单位为g；a、b、c、d以及e的单位均为ppm。
工作原理：本发明先采用消解剂将涂碳铝箔溶解，利用电感耦合等离子体发射光谱仪和标准曲线测得涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，同时做过程空白，以同样的方式测得涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b。然后取与步骤S1中相同的涂碳铝箔，经煅烧后得到涂碳铝箔中的基体铝箔，再次采用消解剂将基体铝箔溶解，利用电感耦合等离子体发射光谱仪和标准曲线测得基体铝箔中杂质元素的质量占比c，同时做过程空白，以同样的方式测得基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d。最后结合公式(1)计算得到涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e。相对于刮取涂碳铝箔中的涂覆层再测定其中杂质元素含量的方法，本发明的测定方法测试结果更准确有效。
优选地，步骤S3中将所述涂碳铝箔在350-600℃条件下进行煅烧8-24h。需要说明的是，相关技术中采用的涂覆层一般含有90wt％以上的纳米石墨、SP和/或碳纳米管等成分，还含有一部分的PVDF，而PVDF的热分解温度为316℃，基体铝箔的熔点是660℃，因此为了在不影响基体铝箔的基础上使涂覆层完全灰化，优选煅烧温度为350-600℃，PVDF经煅烧后裂解为HF气体和含C气体，不会影响测试结果的准确性。可以理解的是，如果涂覆层采用的粘结剂是除了PVDF意外其他类型的粘结剂，则可以根据该粘结剂的热分解温度来确定步骤S3中的煅烧温度。
在以上所述温度条件下煅烧规定的时间，可以将涂碳铝箔中的涂覆层完全灰化，得到基体铝箔，没有可目视残余物。当煅烧温度过低时，涂覆层中可能含有的PVDF达不到裂解温度，进而会有残余物，不利于提高测试结果的准确性。当煅烧温度过高时，浪费能源，另外，基体铝箔的熔点是660℃，因此煅烧温度优选不超过600℃。当煅烧时间过短时，不利于涂覆层完全灰化，进而不利于提高测试结果的准确性。当煅烧时间过高时，则增加测试时长且浪费测试资源。
优选地，将所述涂碳铝箔进行煅烧后，再进行擦拭和吹扫，可以去除涂覆层残余的金属氧化物，进一步提高测试结果的准确性。
优选地，步骤S2和S4中的所述消解剂包括盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的混合物。步骤S2中盐酸主要用于溶解涂碳铝箔中的基体铝箔，硝酸和硫酸主要用于溶解涂碳铝箔中的涂覆层。步骤S4中虽然只有基体铝箔，但消解剂也与步骤S2中的消解剂一样，是为了提高测试结果的准确性。
更优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为35wt％以上，所述硝酸溶液的质量浓度为60wt％以上，所述硫酸溶液的质量浓度为95wt％以上，所述盐酸溶液、所述硝酸溶液和所述硫酸溶液的体积比为(2-8)：(2-8)：(8-10)。盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的浓度以及体积比在以上范围内，有利于提高涂碳铝箔和基体铝箔的溶解度，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性，避免了碳未全溶而导致的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果偏低的问题。进一步优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为36-68％，所述硝酸溶液的质量浓度为64-66wt％，所述硫酸溶液的质量浓度为98wt％以上。
优选地，步骤S2和S4中在160-400℃条件下进行溶解。步骤S2和S4中消解剂涂碳铝箔或基体铝箔发生消解反应将其溶解。加热条件下有利于提高消解反应的速率，缩短溶解时间，提高测试效率。可以理解的是，步骤S2和S4中也可以采用微波消解仪进行溶解，但微波消解仪属于贵重仪器，不利于降低检测辅材成本。
优选地，步骤S2中的所述涂碳铝箔过程空白样品和步骤S4中的所述基体铝箔过程空白样品包括去离子水、蒸馏水或超纯水。步骤S2中除了用水代替涂碳铝箔，其他条件均与涂碳铝箔待测液的配制过程一致。步骤S4中除了用水代替基体铝箔，其他条件均与均与基体铝箔待测液的配制过程一致。做过程空白是为了排除消解剂及试验仪器对涂碳铝箔待测液、基体铝箔待测液的影响，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性。
优选地，步骤S5中电感耦合等离子体发射光谱仪的测试条件如下：等离子体流量为12-15L/min，雾化气流量为0.6-0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为40-60s，测试次数为2-4次，雾化器背压为280-320KPa。在以上条件下测试电感耦合等离子体发射光谱，可以提高相应待测液及过程空白待测液中杂质浓度测试结果的准确性，进而提高涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量测试结果的准确性。
需要说明的是，本发明中所述杂质元素包括Ni、Mn、Mg、Cr、Li、Fe、P、Cu、Zn、S、Ti、V、Si、B、Pb、Ca、Na和K中的至少一种，监控的杂质元素种类需要根据涂碳铝箔生产环境中可能引入的杂质类型来定。
下面结合实施例详细描述本发明。
实施例1
一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
(1)使用万分位天平称取m1＝0.1±0.0010g涂碳铝箔(厂家：五星铝业，牌号：1+13+1)，置于100mL烧杯内。
(2)向步骤(1)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔待测液。
(3)同时做过程空白，以与步骤(1)的涂碳铝箔相同质量的去离子水代替涂碳铝箔，置于100mL烧杯内。
(4)向步骤(3)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔过程空白待测液。
(5)使用万分位天平称取与步骤(1)中涂碳铝箔中的基体铝箔的面积、厚度、体积、密度、质量、生产厂家和生产批次均相同的基体铝箔(厂家：五星铝业，牌号：1+13+1)，置于100mL烧杯内，基体铝箔的质量记为m2，单位为g。
(6)向步骤(5)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为基体铝箔待测液。
(7)同时做过程空白，以与步骤(5)的基体铝箔相同质量的去离子水代替基体铝箔，置于100mL烧杯内。
(8)向步骤(7)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为基体铝箔过程空白待测液。
(9)打开电感耦合等离子体发射光谱仪，设置等离子体流量为15L/min，雾化气流量为0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为45s，测试次数为2，雾化器背压为300MPa。取不同体积的梯度浓度的多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)标准溶液，分别配制成1.0μg/mL、2.0μg/mL、5.0μg/mL、10.0μg/mL、15.0μg/mL的标准溶液，得到多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)的标准曲线，并拟合得到标准曲线方程，线性≥0.999。
(10)在与步骤(9)相同的测试条件下，采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对涂碳铝箔过程空白待测液、基体铝箔过程空白待测液、涂碳铝箔待测液、基体铝箔待测液中的杂质金属元素的质量浓度进行测定，再根据步骤(9)的标准曲线得到步骤(1)中涂碳铝箔中的杂质金属元素的质量占比a，单位为ppm，步骤(3)、(4)中涂碳铝箔过程空白中的杂质金属元素的质量占比b，单位为ppm，步骤(5)中基体铝箔中的杂质金属元素的质量占比c，单位为ppm，以及d步骤(7)、(8)中基体铝箔过程空白中的杂质金属元素的质量占比d，单位为ppm。
(11)根据公式(1)计算出涂碳铝箔涂覆层中各个杂质金属元素的质量占比e，单位为ppm，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)。
步骤(1)需要做6个平行样，分别记为#1、#2、#3、#4、#5、#6，分别测试这6组的相应杂质元素的含量，测试结果如表1-3所示。
表1.涂碳铝箔杂质元素质量占比
序号 质量m1(g) Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
过程空白 / 0.004 0 0 0
#1 0.1002 21.952 26.542 12.832 12.485
#2 0.1005 22.098 24.982 11.876 12.867
#3 0.1001 21.896 27.071 12.573 11.684
#4 0.1004 22.483 26.473 12.049 12.816
#5 0.1005 22.451 27.556 11.997 12.824
#6 0.1000 21.473 26.437 12.068 12.283
平均值 / 22.059 26.510 12.233 12.493
标准差 / 0.379 0.866 0.379 0.459
COV(％) / 1.7％ 3.3％ 3.1％ 3.7％
表2.基体铝箔杂质元素质量占比
序号 质量m2(g) Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
过程空白 / 0.002 0 0 0
#1 0.0971 22.457 27.042 13.065 12.691
#2 0.0973 22.484 25.347 12.047 13.033
#3 0.0972 22.379 27.581 12.808 11.871
#4 0.0975 23.025 26.995 12.285 13.048
#5 0.0972 23.009 28.178 12.234 13.051
#6 0.0970 21.918 26.893 12.268 12.471
平均值 / 22.545 27.006 12.451 12.694
标准差 / 0.419 0.946 0.394 0.468
COV(％) / 1.9％ 3.5％ 3.2％ 3.7％
表3.涂碳铝箔涂覆层杂质元素质量占比e
序号 Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
#1 6.644 11.386 5.769 6.241
#2 6.967 10.674 5.173 6.360
#3 6.783 11.113 5.220 5.833
#4 7.020 11.581 5.316 6.197
#5 6.986 10.318 5.429 6.533
#6 7.085 11.693 5.601 6.204
平均值 6.914 11.127 5.418 6.228
标准差 0.166 0.539 0.231 0.232
COV(％) 2.4％ 4.8％ 4.3％ 3.7％
由公式(1)根据表1、表2的数据可计算出表3的数值，即涂碳铝箔涂覆层的杂质元素的含量。表1和表2中#1-#6组杂质元素测试协方差(COV)＜5％，表3中计算后得到的#1-#6组杂质元素测试COV＜5％，说明该测试方法非常稳定，测试结果准确有效。
实施例2
一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
(1)使用万分位天平称取m1＝0.1±0.0010g涂碳铝箔(厂家：五星铝业，牌号：1+13+1)置于100mL烧杯内。
(2)向步骤(1)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔待测液。
(3)同时做过程空白，以与步骤(1)的涂碳铝箔相同质量的去离子水代替涂碳铝箔，置于100mL烧杯内。
(4)向步骤(3)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔过程空白待测液。
(5)称取质量为m1的与步骤(1)中相同的涂碳铝箔，放入马弗炉中，将涂碳铝箔在600℃下进行煅烧12h，取出后在干燥器中冷却至室温，得到涂碳铝箔中的基体铝箔，使用万分位天平称量基体铝箔的质量，记为m2，单位为g，将基体铝箔置于100mL烧杯内。
(6)向步骤(5)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为基体铝箔待测液。
(7)同时做过程空白，以与步骤(5)的基体铝箔相同质量的去离子水代替基体铝箔，置于100mL烧杯内。
(8)向步骤(7)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为基体铝箔过程空白待测液。
(9)打开电感耦合等离子体发射光谱仪，设置等离子体流量为15L/min，雾化气流量为0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为45s，测试次数为2，雾化器背压为300KPa。取不同体积的梯度浓度的多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)标准溶液，分别配制成1.0μg/mL、2.0μg/mL、5.0μg/mL、10.0μg/mL、15.0μg/mL的标准溶液，得到多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)的标准曲线，并拟合得到标准曲线方程，线性≥0.999。
(10)在与步骤(9)相同的测试条件下，采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对涂碳铝箔过程空白待测液、基体铝箔过程空白待测液、涂碳铝箔待测液、基体铝箔待测液中的杂质金属元素的质量浓度进行测定，再根据步骤(9)的标准曲线得到步骤(1)中涂碳铝箔中的杂质金属元素的质量占比a，单位为ppm，步骤(3)、(4)中涂碳铝箔过程空白中的杂质金属元素的质量占比b，单位为ppm，步骤(5)中基体铝箔中的杂质金属元素的质量占比c，单位为ppm，以及d步骤(7)、(8)中基体铝箔过程空白中的杂质金属元素的质量占比d，单位为ppm。
(11)根据公式(1)计算出涂碳铝箔涂覆层中各个杂质金属元素的质量占比e，单位为ppm，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2) (1)。
步骤(1)需要做6个平行样，分别记为#1、#2、#3、#4、#5、#6，分别测试这6组的相应杂质元素的含量，测试结果如表4-6所示。
表4.涂碳铝箔杂质元素质量占比
序号 质量m1(g) Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
过程空白 / 0.002 0 0.001 0
#1 0.0999 20.626 25.004 12.766 11.348
#2 0.1002 21.624 24.182 12.417 12.519
#3 0.1 20.678 23.924 13.632 11.292
#4 0.0995 20.784 23.499 13.183 11.343
#5 0.1003 22.051 25.258 13.626 11.421
#6 0.0989 22.074 25.427 12.879 11.812
平均值 / 21.306 24.549 13.084 11.623
标准差 / 0.689 0.788 0.488 0.478
COV(％) / 3.2％ 3.2％ 3.7％ 4.1％
表5.基体铝箔杂质元素质量占比
序号 质量m2(g) Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
过程空白 / 0.002 0 0.001 0
#1 0.0956 21.283 25.732 13.123 11.557
#2 0.0958 22.358 24.721 12.784 12.808
#3 0.0951 21.442 24.554 14.091 11.549
#4 0.0944 21.59 24.129 13.663 11.638
#5 0.0957 22.824 25.864 14.071 11.674
#6 0.0948 22.782 25.989 13.238 12.053
平均值 / 22.047 25.165 13.495 11.880
标准差 / 0.693 0.792 0.534 0.491
COV(％) / 3.1％ 3.1％ 4.0％ 4.1％
表6.涂碳铝箔涂覆层杂质元素质量占比e
序号 Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
#1 6.019 11.850 4.829 6.701
#2 5.643 12.447 4.426 6.227
#3 5.850 11.697 4.724 6.304
#4 5.865 11.838 4.298 5.883
#5 5.969 12.651 4.368 6.158
#6 5.704 12.432 4.578 6.240
平均值 5.842 12.152 4.537 6.252
标准差 0.146 0.403 0.210 0.265
COV(％) 2.5％ 3.3％ 4.6％ 4.2％
由公式(1)根据表4、表5的数据可计算出表6的数值，即涂碳铝箔涂覆层的杂质元素的含量。表4和表5中#1-#6组杂质元素测试COV＜5％，表6中计算后得到的#1-#6组杂质元素测试COV＜5％，说明该测试方法非常稳定，测试结果准确有效。
对比例1
一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
(1)使用万分位天平称取m1＝0.1±0.0010g涂碳铝箔(厂家：五星铝业，牌号：1+13+1)，用刮刀将涂碳铝箔上的涂敷层刮取下来，使用万分位天平称量刮下来的涂覆层粉末的质量m3，然后将涂覆层粉末置于100mL烧杯内。
(2)向步骤(1)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔涂覆层待测液。
(3)同时做过程空白，以与步骤(1)的涂覆层粉末相同质量的去离子水代替涂覆层粉末，置于100mL烧杯内。
(4)向步骤(3)的烧杯内加入2mL盐酸溶液(37wt％，GR)、2mL硝酸溶液(64wt％，GR)、8mL硫酸溶液(98wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔涂覆层过程空白待测液。
(5)打开电感耦合等离子体发射光谱仪，设置等离子体流量为15L/min，雾化气流量为0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为45s，测试次数为2，雾化器背压为300KPa。取不同体积的梯度浓度的多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)标准溶液，分别配制成1.0μg/mL、2.0μg/mL、5.0μg/mL、10.0μg/mL、15.0μg/mL的标准溶液，得到多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)的标准曲线，并拟合得到标准曲线方程，线性≥0.999。
(6)在与步骤(5)相同的测试条件下，采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对涂碳铝箔涂覆层过程空白待测液、涂碳铝箔涂覆层待测液中的杂质金属元素的质量浓度进行测定，再根据步骤(5)的标准曲线得到步骤(1)中涂碳铝箔涂覆层中的杂质金属元素的质量占比f，单位为ppm，步骤(3)、(4)中涂碳铝箔涂覆层过程空白中的杂质金属元素的质量占比g，单位为ppm。
(7)根据公式(2)计算出涂碳铝箔涂覆层中各个杂质金属元素的实际质量占比h，单位为ppm，
h＝f-g (2)。
步骤(1)需要做6个平行样，分别记为#1、#2、#3、#4、#5、#6，分别测试这6组的相应杂质元素的含量，测试结果如表7所示。
表7.涂碳铝箔涂覆层杂质元素质量占比h
序号 Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
#1 7.024 13.275 5.994 7.084
#2 7.198 14.008 5.137 6.563
#3 7.882 13.129 5.087 7.342
#4 8.014 13.680 5.473 6.943
#5 7.637 15.176 5.208 6.567
#6 7.812 13.069 5.334 6.018
平均值 7.595 13.764 5.372 6.753
标准差 0.398 0.797 0.335 0.470
COV(％) 5.2％ 5.8％ 6.2％ 7.0％
表7中#1-#6组杂质元素Ni、Mn、Cr的含量均比实施例1-2的偏大，且#1-#6组杂质元素测试COV>5％，说明该测试方法准确性较差，且稳定性也较差，这可能是由于刮取涂覆层粉末时不可避免刮到基底铝箔导致引入基底铝箔中杂质元素而造成的。
对比例2
一种涂碳铝箔杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：
(1)使用万分位天平称取m1＝0.1±0.0010g涂碳铝箔(厂家：五星铝业，牌号：1+13+1)，置于100mL烧杯内。
(2)向步骤(1)的烧杯内加入10mL盐酸溶液(37wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后过滤转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔待测液。
(3)同时做过程空白，以与步骤(1)的涂碳铝箔相同质量的去离子水代替涂碳铝箔，置于100mL烧杯内。
(4)向步骤(3)的烧杯内加入10mL硝酸溶液(64wt％，GR)，在石墨加热板上180℃加热煮至4mL后转移定容至100mL玻璃容量瓶内，记为涂碳铝箔过程空白待测液。
(5)打开电感耦合等离子体发射光谱仪，设置等离子体流量为15L/min，雾化气流量为0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为45s，测试次数为2，雾化器背压为300KPa。取不同体积的梯度浓度的多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)标准溶液，分别配制成1.0μg/mL、2.0μg/mL、5.0μg/mL、10.0μg/mL、15.0μg/mL的标准溶液，得到多金属元素(Ni、Mn、Mg、Cr)的标准曲线，并拟合得到标准曲线方程，线性≥0.999。
(6)在与步骤(5)相同的测试条件下，采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对涂碳铝箔涂覆层过程空白待测液、涂碳铝箔涂覆层待测液中的杂质金属元素进行测定，再根据步骤(5)的标准曲线得到步骤(1)中涂碳铝箔中的杂质金属元素的质量占比a，单位为ppm，步骤(3)中涂碳铝箔过程空白中的杂质金属元素的质量占比b，单位为ppm。
(7)根据公式(2)计算出涂碳铝箔中各个杂质金属元素的实际质量占比i，单位为ppm，
i＝a-b (2)。
步骤(1)需要做6个平行样，分别记为#1、#2、#3、#4、#5、#6，分别测试这6组的相应杂质元素的含量，测试结果如表8所示。
表8.涂碳铝箔杂质元素质量占比i
序号 Ni(ppm) Mn(ppm) Mg(ppm) Cr(ppm)
#1 19.386 19.176 10.102 8.769
#2 23.467 16.023 10.943 7.551
#3 21.146 17.428 9.117 7.038
#4 21.743 19.994 9.864 8.165
#5 19.917 18.32 8.62 9.007
#6 21.005 18.367 9.735 8.724
平均值 21.111 18.218 9.730 8.209
标准差 1.440 1.382 0.804 0.777
COV(％) 6.8％ 7.6％ 8.3％ 9.5％
表8中#1-#6组杂质元素的含量均比实施例1中的偏大，且#1-#6组杂质元素测试COV>5％，说明该测试方法准确性较差，且稳定性也较差。分析原因，主要在于以下两方面：一、没有去除基体铝箔的影响，导致基体铝箔中的杂质溶出，该测定方法与实施例1的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法完全没有可比性，不能用于测定涂覆层中的杂质元素含量；二、单独使用盐酸进行消解，虽然使基体铝箔溶解，但涂覆层的碳未完全消解而导致测试结果偏低和测试偏差较大。
在本发明中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、称取质量为m1的涂碳铝箔；
S2、采用消解剂将所述涂碳铝箔溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔待测液；同时采用消解剂将涂碳铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到涂碳铝箔过程空白待测液；
S3、称取质量为m2的基体铝箔，所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔相同；
S4、采用所述消解剂将所述基体铝箔溶解，再稀释定容后得到基体铝箔待测液；同时采用所述消解剂将基体铝箔过程空白样品溶解，再稀释定容后得到基体铝箔过程空白待测液；
S5、采用电感耦合等离子体发射光谱仪分别对所述涂碳铝箔过程空白待测液、所述基体铝箔过程空白待测液、所述涂碳铝箔待测液、所述基体铝箔待测液中杂质元素的浓度进行测定，再根据标准曲线得到所述涂碳铝箔中杂质元素的质量占比a，所述涂碳铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比b，所述基体铝箔中杂质元素的质量占比c，所述基体铝箔过程空白样品中杂质元素的质量占比d，然后根据公式(1)计算出所述涂碳铝箔中涂覆层中的杂质元素的质量占比e，
e＝{(a-b)×m1-(c-d)×m2}/(m1-m2)(1)
其中，m1、m2的单位为g；a、b、c、d以及e的单位均为ppm。
2.根据权利要求1所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S3中所述基体铝箔与所述涂碳铝箔中的基体铝箔的面积、厚度、体积、密度、质量、生产厂家和生产批次均相同。
3.根据权利要求1所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，将步骤S3替换为：称取质量为m1的所述涂碳铝箔，将所述涂碳铝箔进行煅烧，得到所述涂碳铝箔中的基体铝箔，所述基体铝箔的质量记为m2。
4.根据权利要求3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S3中将所述涂碳铝箔在350-600℃条件下进行煅烧8-24h。
5.根据权利要求3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，将所述涂碳铝箔进行煅烧后，再进行擦拭和吹扫。
6.根据权利要求1或3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S2和S4中的所述消解剂包括盐酸溶液、硝酸溶液和硫酸溶液的混合物；优选地，所述盐酸溶液的质量浓度为35wt％以上，所述硝酸溶液的质量浓度为60wt％以上，所述硫酸溶液的质量浓度为95wt％以上，所述盐酸溶液、所述硝酸溶液和所述硫酸溶液的体积比为(2-8)：(2-8)：(8-10)。
7.根据权利要求1或3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S2和S4中在160-400℃条件下进行溶解。
8.根据权利要求1或3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S2中的所述涂碳铝箔过程空白样品和步骤S4中的所述基体铝箔过程空白样品包括去离子水、蒸馏水或超纯水。
9.根据权利要求1或3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，步骤S5中电感耦合等离子体发射光谱仪的测试条件如下：等离子体流量为12-15L/min，雾化气流量为0.6-0.8L/min，泵速为1.5mL/min，延迟时间为40-60s，测试次数为2-4次，雾化器背压为280-320KPa。
10.根据权利要求1或3所述的涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法，其特征在于，所述杂质元素包括Ni、Mn、Mg、Cr、Li、Fe、P、Cu、Zn、S、Ti、V、Si、B、Pb、Ca、Na和K中的至少一种。
CN202310770914.5A 2023-06-28 2023-06-28 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法 Pending CN116794017A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310770914.5A CN116794017A (zh) 2023-06-28 2023-06-28 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310770914.5A CN116794017A (zh) 2023-06-28 2023-06-28 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN116794017A true CN116794017A (zh) 2023-09-22

Family

ID=88049340

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310770914.5A Pending CN116794017A (zh) 2023-06-28 2023-06-28 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116794017A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104979542B (zh) 一种改性钛酸锂复合材料及其制备方法和应用
Iarchuk et al. Influence of carbon coating on intercalation kinetics and transport properties of LiFePO4
CN111024681B (zh) 一种三元锂离子电池正极极片分析方法
CN110108698A (zh) 一种锂离子电池正极材料的性能判断方法
CN116487553A (zh) 一种双包覆高镍锂离子正极材料及其制备方法和应用
CN115501809A (zh) 锂离子电池浆料均匀性的评估方法以及锂离子电池浆料的制备方法
CN104297333A (zh) 采用直流辉光放电质谱法测定高纯α-Al2O3中杂质元素的方法
CN111551523A (zh) 一种快速评估电池正负极浆料分散性能的方法
CN111024564A (zh) 锂离子电池浆料中固体物质分散均匀性的快速分析方法
CN116794017A (zh) 一种涂碳铝箔涂覆层杂质元素含量的测定方法
CN108344730A (zh) 一种高浓度硫酸氧钒溶液中痕量杂质元素含量的测定方法
CN116804629A (zh) 一种涂碳铜箔涂覆层杂质元素含量的测定方法
CN116519415A (zh) 碳包覆磷酸铁锂中杂质金属元素的测定方法和应用
CN112945791A (zh) 一种锂离子二次电池浆料分散性的评估方法
CN115015225A (zh) 一种锂离子电池用磷酸铁锂中磷、铁和锂含量的测定方法
CN110412116A (zh) 硫元素含量的测试方法及其应用
CN114354521B (zh) 一种锂电池用单壁碳纳米管Fe含量测试方法
CN110715902A (zh) 一种铅酸蓄电池正铅膏均匀性的检测方法
CN111474166B (zh) 测定钛酸锂硅碳负极材料中元素含量的方法
CN107959019A (zh) 一种石墨烯锡基硅基电池负极材料的制备
CN114563537B (zh) 一种磷酸铁锂电池循环寿命的快速判定方法
CN114689568A (zh) 一种有机聚合物中金属异物的检测方法和应用
CN116593447A (zh) 一种钴酸锂表面氧化铝包覆效果的评估方法
CN112816278A (zh) 一种测试锂离子电池正极材料中改性元素含量的方法
CN113314699A (zh) 一种锂离子电池正极材料及制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination