CN116625624A - 一种半导体激光器抗冲击试验装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种半导体激光器抗冲击试验装置，其包括底板，所述底板上固定连接有侧板，侧板上固定连接有顶板；其中底板上放置有待检测的半导体激光器，侧板上设置有冲击单元，顶板上设置有驱动单元，驱动单元带动冲击单元对半导体激光器进行冲击；冲击单元包括开设于侧板内的滑槽，滑槽内固定连接有滑杆，滑杆上套接有一个滑块以及位于滑块上下方的两个伸缩弹簧，伸缩弹簧与连杆固定连接，连杆与冲击杆固定连接；本发明，通过设置的驱动单元和冲击单元的配合使用，能够通过冲击单元带动驱动单元对半导体激光器进行冲击试验，从而达到对半导体激光器检测的目的。

Description

一种半导体激光器抗冲击试验装置

技术领域

本发明属于半导体激光器技术领域，具体为一种半导体激光器抗冲击试验装置。

背景技术

导体激光器在生产完成后必须要经过可靠性试验来体现产品质量，现有的冲击试验机大多为摆锤式冲击试验机，摆锤式试验机大多适用于一次性冲击的工件检测可靠性，如果需要反复多次冲击的话每次都需要进行人工调整摆锤，不适用于多次冲击，有的是通过人工进行完成试验，费事费力而且人工敲击一次后，需要重新装夹且调整半导体激光器的位置，因此需要提供一种检测方便且速率高的半导体激光器抗冲击试验装置。

发明内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本发明提供一种半导体激光器抗冲击试验装置，有效的解决了需要提供一种检测方便且速率高的半导体激光器抗冲击试验装置的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种半导体激光器抗冲击试验装置，包括底板，所述底板上固定连接有侧板，侧板上固定连接有顶板；其中底板上放置有待检测的半导体激光器，侧板上设置有冲击单元，顶板上设置有驱动单元，驱动单元带动冲击单元对半导体激光器进行冲击；冲击单元包括开设于侧板内的滑槽，滑槽内固定连接有滑杆，滑杆上套接有一个滑块以及位于滑块上下方的两个伸缩弹簧，伸缩弹簧与连杆固定连接，连杆与冲击杆固定连接。

优选的，所述驱动单元包括固定于顶板上的驱动电机，驱动电机的输出轴与丝杆固定连接，丝杆与顶板转动连接，丝杆与丝筒螺纹连接，丝筒为方形并贴合顶板，丝筒与主动齿条固定连接，顶板上转动连接有同轴的第一齿轮以及第二齿轮，第一齿轮与主动齿条配合使用，第二齿轮与第三齿轮啮合连接，第三齿轮与转轮固定连接，转轮与顶板转动连接，转轮与冲击杆通过皮带固定连接。

优选的，所述底板上还分别设置有传送带装置、驱动件、联动件、夹持件以及挡止件；驱动件通过联动件带动夹持件以及挡止件实现对半导体激光器的夹持。

优选的，所述驱动件包括固定于底板上的电动推杆，电动推杆的输出端与第一板体固定连接，第一板体上均匀固定连接有第一弹簧，每个第一弹簧均与第二板体固定连接。

优选的，所述联动件包括与第一板体固定连接的弹性带，底板上转动连接有滑轮，弹性带绕过滑轮与驱动齿条固定连接，驱动齿条与连接架固定连接，连接架与移动块固定连接，移动块与固定杆滑动连接，固定杆上靠近滑轮的方向套接有复位弹簧，固定杆与移动槽固定连接，移动槽开设于底板上。

优选的，所述夹持件包括开设于底板上的安装槽，安装槽内转动连接有螺杆，螺杆的两端螺纹方向相反，螺杆上固定连接有主动齿轮，螺杆上对称螺纹连接有安装块，两个安装块分别与对应的第三板体固定连接，第三板体上均匀固定连接有第二弹簧，第二弹簧与第四板体固定连接。

优选的，所述挡止件包括开设于底板上的第一凹槽以及第二凹槽，第一凹槽内转动连接有挡板，第二凹槽内转动连接有与挡板同轴的转轴，转轴上固定连接有从动齿轮，从动齿轮与驱动齿条配合使用。

优选的，所述底板上还设置有输送件，底板上开设有辊槽，辊槽的内部转动连接有转辊，输送件与转辊配合用于半导体激光器的输送。

优选的，所述输送件包括开设于底板上的L形槽，L形槽的内部转动连接有驱动辊，驱动辊上固定连接有第二链轮，转轴上固定连接有第一链轮，第一链轮与第二链轮之间通过链条传动连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1）、在工作中，通过设置的驱动单元和冲击单元的配合使用，能够通过冲击单元带动驱动单元对半导体激光器进行冲击试验，从而达到对半导体激光器检测的目的；

2）、在工作中，通过设置的驱动件、联动件以及夹持件等的配合使用，驱动件通过联动件带动夹持件以及挡止件实现对半导体激光器的夹持，提高检测时的稳定性，同时能够连续不断的对半导体激光器进行检测，检测速率快；

3）、在工作中，通过设置的输送件，能够在检测完成后，实现对半导体激光器的输送，从而便于下一次检测的进行。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

在附图中：

图1为本发明的一种半导体激光器抗冲击试验装置结构示意图；

图2为本发明的驱动单元结构示意图；

图3为本发明的底板安装结构示意图；

图4为本发明的图3中A处放大结构示意图；

图5为本发明的联动件结构示意图；

图6为本发明的夹持件结构示意图；

图7为本发明的挡止件以及输送件结构示意图；

图中：1、底板；2、侧板；201、滑槽；202、滑杆；203、滑块；204、伸缩弹簧；205、连杆；206、冲击杆；3、顶板；301、驱动电机；302、丝杆；303、丝筒；304、主动齿条；305、第一齿轮；306、第二齿轮；307、第三齿轮；308、转轮；309、皮带；4、传送带装置；5、驱动件；501、电动推杆；502、第一板体；503、第一弹簧；504、第二板体；6、联动件；601、弹性带；602、滑轮；603、驱动齿条；604、连接架；605、移动块；606、固定杆；607、复位弹簧；608、移动槽；7、夹持件；701、安装槽；702、螺杆；703、主动齿轮；704、安装块；705、第三板体；706、第二弹簧；707、第四板体；8、挡止件；801、第一凹槽；802、第二凹槽；803、挡板；804、转轴；805、从动齿轮；9、输送件；901、L形槽；902、驱动辊；903、第一链轮；904、第二链轮；905、链条；10、辊槽；11、转辊；12、半导体激光器。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一，由图1至图7给出，本发明所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，包括底板1，底板1上固定连接有侧板2，侧板2上固定连接有顶板3；其中底板1上放置有待检测的半导体激光器12，侧板2上设置有冲击单元，顶板3上设置有驱动单元，驱动单元带动冲击单元对半导体激光器12进行冲击；冲击单元包括开设于侧板2内的滑槽201，滑槽201内固定连接有滑杆202，滑杆202上套接有一个滑块203以及位于滑块203上下方的两个伸缩弹簧204，伸缩弹簧204与连杆205固定连接，连杆205与冲击杆206固定连接；

驱动单元包括固定于顶板3上的驱动电机301，驱动电机301的输出轴与丝杆302固定连接，丝杆302与顶板3转动连接，丝杆302与丝筒303螺纹连接，丝筒303为方形并贴合顶板3，丝筒303与主动齿条304固定连接，顶板3上转动连接有同轴的第一齿轮305以及第二齿轮306，第一齿轮305与主动齿条304配合使用，第二齿轮306与第三齿轮307啮合连接，第三齿轮307与转轮308固定连接，转轮308与顶板3转动连接，转轮308与冲击杆206通过皮带309固定连接；

使用状态下，将半导体激光器12置于底板1上，也可以通过夹具进行固定，然后通过驱动电机301带动丝杆302转动，丝杆302带动丝筒303转动，丝筒303带动主动齿条304运动，主动齿条304在水平运动的过程中带动第一齿轮305转动，第一齿轮305通过第二齿轮306带动第三齿轮307转动，第三齿轮307带动转轮308转动，转轮308对皮带309进行收卷，皮带309带动冲击杆206运动，冲击杆206通过连杆205带动滑块203运动，滑块203沿着滑杆202运动后对上方的伸缩弹簧204产生挤压，收卷完成后，主动齿条304与第一齿轮305脱离，这时在上方的伸缩弹簧204的作用下，使得冲击杆206向下运动对半导体激光器12进行冲击检测，观察半导体激光器12的表面是否完整即可。

底板1上还分别设置有传送带装置4、驱动件5、联动件6、夹持件7以及挡止件8；驱动件5通过联动件6带动夹持件7以及挡止件8实现对半导体激光器12的夹持；

使用状态下，将半导体激光器12排列在传送带装置4上，通过传送带装置4将半导体激光器12传送到靠近驱动件5的位置，由于传送带装置4为现有技术，故不再详细描述，然后通过驱动件5将对应的半导体激光器12推动夹持件7内部，同时驱动件5通过联动件6带动夹持件7运动，通过夹持件7对半导体激光器12进行夹持，从而避免半导体激光器12发生偏移。

驱动件5包括固定于底板1上的电动推杆501，电动推杆501的输出端与第一板体502固定连接，第一板体502上均匀固定连接有第一弹簧503，每个第一弹簧503均与第二板体504固定连接；

联动件6包括与第一板体502固定连接的弹性带601，底板1上转动连接有滑轮602，弹性带601绕过滑轮602与驱动齿条603固定连接，驱动齿条603与连接架604固定连接，连接架604与移动块605固定连接，移动块605与固定杆606滑动连接，固定杆606上靠近滑轮602的方向套接有复位弹簧607，固定杆606与移动槽608固定连接，移动槽608开设于底板1上；

夹持件7包括开设于底板1上的安装槽701，安装槽701内转动连接有螺杆702，螺杆702的两端螺纹方向相反，螺杆702上固定连接有主动齿轮703，螺杆702上对称螺纹连接有安装块704，两个安装块704分别与对应的第三板体705固定连接，第三板体705上均匀固定连接有第二弹簧706，第二弹簧706与第四板体707固定连接；

这样设计，通过电动推杆501带动第一板体502运动，第一板体502通过第一弹簧503带动第二板体504运动，通过第二板体504将半导体激光器12推出；同时第一板体502通过弹性带601带动驱动齿条603运动，驱动齿条603通过连接架604带动移动块605运动，移动块605对复位弹簧607产生挤压；

同时驱动齿条603带动主动齿轮703转动，主动齿轮703带动螺杆702转动，螺杆702带动两个安装块704相互靠近，安装块704带动第三板体705运动，第三板体705通过第二弹簧706带动第四板体707运动，通过两个第四板体707对半导体激光器12进行夹持。

挡止件8包括开设于底板1上的第一凹槽801以及第二凹槽802，第一凹槽801内转动连接有挡板803，第二凹槽802内转动连接有与挡板803同轴的转轴804，转轴804上固定连接有从动齿轮805，从动齿轮805与驱动齿条603配合使用；

这样设计，通过驱动齿条603带动从动齿轮805转动，从动齿轮805通过转轴804带动挡板803转动，使得挡板803首先翻转到竖直方向对半导体激光器12进行阻拦，后续对其进行夹持；而在不夹持时，在复位弹簧607的作用下，最终使得挡板803翻转到第一凹槽801的内部。

底板1上还设置有输送件9，底板1上开设有辊槽10，辊槽10的内部转动连接有转辊11，输送件9与转辊11配合用于半导体激光器12的输送；

输送件9包括开设于底板1上的L形槽901，L形槽901的内部转动连接有驱动辊902，驱动辊902上固定连接有第二链轮904，转轴804上固定连接有第一链轮903，第一链轮903与第二链轮904之间通过链条905传动连接；

这样设计，通过转轴804带动第一链轮903转动，第一链轮903通过链条905带动第二链轮904转动，第二链轮904带动驱动辊902转动，这样在挡板803竖起时，由于挡板803以及第二板体504的阻拦，半导体激光器12不会移动较多距离，其中挡板803在转动到第一凹槽801的内部仍会转动移动角度，第一链轮903的半径大于第二链轮904的半径，这样就能在挡板803收纳到第一凹槽801内部时，可以继续使得驱动辊902转动，通过驱动辊902将检测后的半导体激光器12输送到其余的空间，较为方便。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种半导体激光器抗冲击试验装置，包括底板（1），其特征在于，所述底板（1）上固定连接有侧板（2），侧板（2）上固定连接有顶板（3）；其中底板（1）上放置有待检测的半导体激光器（12），侧板（2）上设置有冲击单元，顶板（3）上设置有驱动单元，驱动单元带动冲击单元对半导体激光器（12）进行冲击；冲击单元包括开设于侧板（2）内的滑槽（201），滑槽（201）内固定连接有滑杆（202），滑杆（202）上套接有一个滑块（203）以及位于滑块（203）上下方的两个伸缩弹簧（204），伸缩弹簧（204）与连杆（205）固定连接，连杆（205）与冲击杆（206）固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述驱动单元包括固定于顶板（3）上的驱动电机（301），驱动电机（301）的输出轴与丝杆（302）固定连接，丝杆（302）与顶板（3）转动连接，丝杆（302）与丝筒（303）螺纹连接，丝筒（303）为方形并贴合顶板（3），丝筒（303）与主动齿条（304）固定连接，顶板（3）上转动连接有同轴的第一齿轮（305）以及第二齿轮（306），第一齿轮（305）与主动齿条（304）配合使用，第二齿轮（306）与第三齿轮（307）啮合连接，第三齿轮（307）与转轮（308）固定连接，转轮（308）与顶板（3）转动连接，转轮（308）与冲击杆（206）通过皮带（309）固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述底板（1）上还分别设置有传送带装置（4）、驱动件（5）、联动件（6）、夹持件（7）以及挡止件（8）；驱动件（5）通过联动件（6）带动夹持件（7）以及挡止件（8）实现对半导体激光器（12）的夹持。

4.根据权利要求3所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述驱动件（5）包括固定于底板（1）上的电动推杆（501），电动推杆（501）的输出端与第一板体（502）固定连接，第一板体（502）上均匀固定连接有第一弹簧（503），每个第一弹簧（503）均与第二板体（504）固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述联动件（6）包括与第一板体（502）固定连接的弹性带（601），底板（1）上转动连接有滑轮（602），弹性带（601）绕过滑轮（602）与驱动齿条（603）固定连接，驱动齿条（603）与连接架（604）固定连接，连接架（604）与移动块（605）固定连接，移动块（605）与固定杆（606）滑动连接，固定杆（606）上靠近滑轮（602）的方向套接有复位弹簧（607），固定杆（606）与移动槽（608）固定连接，移动槽（608）开设于底板（1）上。

6.根据权利要求5所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述夹持件（7）包括开设于底板（1）上的安装槽（701），安装槽（701）内转动连接有螺杆（702），螺杆（702）的两端螺纹方向相反，螺杆（702）上固定连接有主动齿轮（703），螺杆（702）上对称螺纹连接有安装块（704），两个安装块（704）分别与对应的第三板体（705）固定连接，第三板体（705）上均匀固定连接有第二弹簧（706），第二弹簧（706）与第四板体（707）固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述挡止件（8）包括开设于底板（1）上的第一凹槽（801）以及第二凹槽（802），第一凹槽（801）内转动连接有挡板（803），第二凹槽（802）内转动连接有与挡板（803）同轴的转轴（804），转轴（804）上固定连接有从动齿轮（805），从动齿轮（805）与驱动齿条（603）配合使用。

8.根据权利要求7所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述底板（1）上还设置有输送件（9），底板（1）上开设有辊槽（10），辊槽（10）的内部转动连接有转辊（11），输送件（9）与转辊（11）配合用于半导体激光器（12）的输送。

9.根据权利要求8所述的一种半导体激光器抗冲击试验装置，其特征在于：所述输送件（9）包括开设于底板（1）上的L形槽（901），L形槽（901）的内部转动连接有驱动辊（902），驱动辊（902）上固定连接有第二链轮（904），转轴（804）上固定连接有第一链轮（903），第一链轮（903）与第二链轮（904）之间通过链条（905）传动连接。