CN116518884A - 一种光学检测治具以及光学检测系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种光学检测治具以及光学检测系统，光学检测治具包括支架、承载件、发光件以及成像板。承载件设于支架上，承载件包括用于承载电子设备的承载面以及位于承载面相对两侧的托板，承载面的下方具有透光区域，托板用于配合承托电子设备的相邻侧边，使得电子设备的顶角对应于透光区域。发光件设于承载件的与承载面相背的侧面上，发光件用于向电子设备的顶角发光。成像板设于承载件背向发光件的一侧，成像板用于呈现经发光件向电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且成像板上标有用于检测光影图像的预设检测区域。上述光学检测治具不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。

Description

一种光学检测治具以及光学检测系统

技术领域

本申请涉及检测电子设备的顶角的技术领域，尤其涉及一种光学检测治具以及光学检测系统。

背景技术

由于各种机床的加工精度不同，在加工电子设备的顶角时会产生不同的误差，为了满足加工要求，需要准确的测量出加工的顶角的尺寸是否符合要求。常见的电子设备的顶角包括R角和C角，R角是零件铸造加工时产生的铸造圆角，C角是零件铸造加工时产生的铸造倒角。目前常见的R角加工精度检测方式是使用R规测量，但是R规测量的方法的精度较低，并且极易受人工主观影响，具有检测精度低以及效率低下的缺点。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本申请提供了一种光学检测治具以及光学检测系统，其不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。

本发明实施例公开了一种光学检测治具，应用于电子设备的顶角检测，所述光学检测治具包括支架，还包括：

承载件，其设于所述支架上，所述承载件包括用于承载所述电子设备的承载面以及位于所述承载面相对两侧的托板，所述承载面的下方具有透光区域，所述托板用于配合承托所述电子设备的相邻侧边，使得所述电子设备的顶角对应于所述透光区域；

发光件，其设于所述承载件的与承载面相背的侧面上，所述发光件用于向所述电子设备的顶角发光；

成像板，其设于所述承载件背向所述发光件的一侧，所述成像板用于呈现经所述发光件向所述电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且所述成像板上标有用于检测所述光影图像的预设检测区域。

在一些实施例中，所述发光件以可转动地方式设于所述承载件上。

在一些实施例中，所述承载件枢转地设于所述支架上。

在一些实施例中，所述支架包括底座和设于所述底座上的活动架，所述底座上设有滑槽，所述活动架的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述活动架的另一端与所述承载件枢接。

在一些实施例中，所述活动架包括第一架体和第二架体，所述第一架体相对所述第二架体靠近所述发光件设置，所述第一架体的两端分别与所述底座和承载件枢接，所述第二架体的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述第二架体的另一端与所述承载件枢接。

在一些实施例中，所述成像板朝向所述承载件的一侧面上形成有长度测量刻度。

在一些实施例中，所述托板由所述承载件的两侧向内弯折形成。

在一些实施例中，所述托板滑动设于所述承载面上，以调整位于所述承载面相对两侧的托板的间距。

本发明实施例还公开了一种光学检测系统，包括上述的光学检测治具，还包括电子设备，所述光学检测治具用于检测所述电子设备的顶角。

在一些实施例中，所述顶角为以下中的至少一个：C角、R角。

与现有技术相比，本申请实施例的有益效果在于：本申请通过在承载面的下方设置透光区域，以及待检测的电子设备的顶角对应透光区域，实现在发光件在向电子设备的顶角发光后，能够在成像板上投射出对应顶角的光影图像，通过判断光影图像是否于预设检测区域内，从而确定电子设备的顶角是否符合要求。上述检测电子设备的顶角的方式不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。

附图说明

在不一定按比例绘制的附图中，相同的附图标记可以在不同的视图中描述相似的部件。具有字母后缀或不同字母后缀的相同附图标记可以表示相似部件的不同实例。附图大体上通过举例而不是限制的方式示出各种实施例，并且与说明书以及权利要求书一起用于对所公开的实施例进行说明。在适当的时候，在所有附图中使用相同的附图标记指代同一或相似的部分。这样的实施例是例证性的，而并非旨在作为本装置或方法的穷尽或排他实施例。

图1为本申请实施例光学检测治具的第一视角的结构示意图；

图2为本申请实施例光学检测治具的第二视角的结构示意图；

图3为本申请实施例光学检测治具的结构示意图，图中未示出成像板；

图4为本申请实施例光学检测治具的爆炸图，图中未示出成像板。

图中的附图标记所表示的构件：

100-光学检测治具；200-电子设备；201-顶角；1-支架；11-底座；12-活动架；13-滑槽；14-第一架体；15-第二架体；2-承载件；21-承载面；22-托板；3-发光件；4-成像板。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作详细说明。下面结合附图和具体实施例对本申请的实施例作进一步详细描述，但不作为对本申请的限定。

本申请中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素，并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

在本申请中，当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时，该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件，也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。

本申请使用的所有术语（包括技术术语或者科学术语）与本申请所属领域的普通技术人员理解的含义相同，除非另外特别定义。还应当理解，在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

本发明实施例公开了一种光学检测治具100，应用于电子设备200的顶角201检测。该电子设备200可以是指智能手机、智能平板电脑、笔记本电脑、PC（Personal Computer，个人电脑）等等不同的电子设备200，对于电子设备200具体是什么样的设备本发明不做限制，只要电子设备200在加工生产过程中存在需要待检测的顶角201即可。上述顶角201可理解为电子设备200的壳体上两个相邻侧边的相交处，该顶角201在加工生产的过程中需要检测其加工精度是否符合要求，本申请光学检测治具100可在加工电子设备200后，对电子设备200的顶角201的加工精度进行检测。

进一步地，如图1至图4所示，光学检测治具100包括支架1、承载件2、发光件3以及成像板4。承载件2设于支架1上，承载件2包括用于承载电子设备200的承载面21以及位于承载面21相对两侧的托板22，承载面21的下方具有透光区域，托板22用于配合承托电子设备200的相邻侧边，使得电子设备200的顶角201对应于透光区域。发光件3设于承载件2的与承载面21相背的侧面上，发光件3用于向电子设备200的顶角201发光。成像板4设于承载件2背向发光件3的一侧，成像板4用于呈现经发光件3向电子设备200的顶角201发光所投射的光影图像，且成像板4上标有用于检测光影图像的预设检测区域。其中，预设检测区域可理解为用于顶角符合要求的一定的尺寸范围。

具体地，上述光学检测治具100在使用时可放在操作平台上，上述支架1置于该操作平台上，起到承托作用。

具体地，电子设备200放置在承载件2上，且电子设备200的平面与承载面21相平行，使得电子设备200能够得以平稳地放置。

具体地，承载件2的承载面21可倾斜设置，通过托板22配合承托电子设备200的相邻侧边，电子设备200的顶角201能够在重力作用下对应透光区域设置，无需操作人员手动调整电子设备200的位置。

具体地，上述透光区域可为承载件2的下部的缺口形成，也可为开设于承载件2上的通槽形成，本申请对此不做具体限定。示例性地，图1至图4中示出的透光区域由承载件2的下部的缺口形成。

具体地，成像板4立置于操作平台上，且成像板4可具有第一板体和第二板体，预设检测区域可形成于第一板体上，第二板体与第一板体的板面相垂直设置，第一板体上可形成有刻度，以便于确定预设尺寸具体范围和位置。

具体地，上述光影图像上对应顶角201的端部的位置于预设检测区域内，则可表明该电子设备200的顶角201符合要求；光影图像上对应顶角201的端部的位置未处于预设检测区域内，则可表明该电子设备200的顶角201不符合要求，该顶角201的尺寸过大或过小，无法满足电子设备200的出厂要求。

本申请通过在承载面21的下方设置透光区域，以及待检测的电子设备200的顶角201对应透光区域，实现在发光件3在向电子设备200的顶角201发光后，能够在成像板4上投射出对应顶角201的光影图像，通过判断光影图像是否于预设检测区域内，从而确定电子设备200的顶角201是否符合要求。上述检测电子设备200的顶角201的方式不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备200的顶角201，提高了检测效率。

在一些实施例中，如图3和图4所示，发光件3以可转动地方式设于承载件2上。如此，能够对发光件3与透光区域的相对位置关系进行调整，以调整光影图像在成像板4上的位置，增加了光学检测治具100的可调性。

具体地，上述发光件3可包括发光体和用于架设发光体的连接架，连接架可与承载件2转动连接。

具体地，连接架上可设有枢接孔，该枢接孔上穿设有连杆，连接架通过该连杆连接至承载件2上，以实现相对承载件2转动。

在一些实施例中，承载件2枢转地设于支架1上。如此，能够通过调整承载件2的转动角度，实现调整承载件2上承托的电子设备200与成像板4的相对位置关系，以提高光学检测治具100的灵活可调性，满足不同检测需求。

在一些实施例中，如图1至图4所示，支架1包括底座11和设于底座11上的活动架12，底座11上设有滑槽13，活动架12的一端滑动设于滑槽13内，并与底座11枢接，活动架12的另一端与承载件2枢接。如此，实现了承载件2可通过活动架12相对底座11进行枢转。上述结构便于操作人员调整承载件2的转动角度，且支架1结构较为稳定，提高了支撑电子设备200的稳定性。

具体地，上述活动架12可包括多个并列设置的杆体，以通过多个杆体配合支撑承载件2。

具体地，底座11可包括多个并列设置的底杆，该底杆和活动架12的杆体一一对应地设置。多个底杆配合使光学检测治具100稳定地置于操作平台上。

在一些实施例中，如图3和图4所示，活动架12包括第一架体14和第二架体15，第一架体14相对第二架体15靠近发光件3设置，第一架体14的两端分别与底座11和承载件2枢接，第二架体15的一端滑动设于滑槽13内，并与底座11枢接，第二架体15的另一端与承载件2枢接。

具体地，第一架体14可包括连接杆以及并列地设于连接杆上的多个杆体，承载件2背向承载面21的一侧面上可设有用于与连接杆枢接的连接座。上述第二架体15的结构可与第一架体14的结构相同，也可不同，本申请对此不做具体限定。如图3和图4所示，第一架体14和第二架体15结构相同，第一架体14的杆体的长度小于第二架体15的杆体的长度。

具体地，上述第二架体15的一端上可设有锁紧件，在第二架体15于滑槽13内滑动至预设位置后，可通过锁紧件将第二架体15稳定地锁定于底座11上。

在一些实施例中，如图2所示，成像板4朝向承载件2的一侧面上形成有长度测量刻度，以便于用户通过刻度确定预设检测区域，以及形成的光影图像的尺寸。

具体地，上述成像板4可包括板体，不同板体上的长度测量刻度所呈现的数字不同。例如，一个板体在第一高度上刻度值为零，另一板体在第二高度上刻度值为零。上述高度可理解为相对水平地面的高度。

在一些实施例中，如图3所示，托板22由承载件2的两侧向内弯折形成。

具体地，上述托板22为两个，两个托板22所在板面相垂直，以配合承托电子设备200的相邻两侧边。

在一些实施例中，托板22滑动设于承载面21上，以调整位于承载面21相对两侧的托板22的间距。如此，通过调整托板22的位置能够使承载件2承托尺寸差异较大的不同电子设备200，增加了光学检测治具100的适配性，以及增加了承载件2的可调性。

具体地，上述承载件2上可对应托板22设有滑槽13，托板22可滑动地安装于滑槽13内的预设位置，并在安装到预设位置后锁定于滑槽13内。

本发明实施例还公开了一种光学检测系统，包括上述的光学检测治具100，还包括电子设备200，光学检测治具100用于检测电子设备200的顶角201。采用上述光学检测治具100的光学检测系统通过在承载面21的下方设置透光区域，以及待检测的电子设备200的顶角201对应透光区域，实现在发光件3在向电子设备200的顶角201发光后，能够在成像板4上投射出对应顶角201的光影图像，通过判断光影图像是否于预设检测区域内，从而确定电子设备200的顶角201是否符合要求。上述检测电子设备200的顶角201的方式不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备200的顶角201，提高了检测效率。

在一些实施例中，顶角201为以下中的至少一个：C角、R角。其中，C角为45度边倒角，R角为倒圆角。

此外，尽管已经在本文中描述了示例性实施例，其范围包括任何和所有基于本申请的具有等同元件、修改、省略、组合（例如，各种实施例交叉的方案）、改编或改变的实施例。权利要求书中的元件将被基于权利要求中采用的语言宽泛地解释，并不限于在本说明书中或本申请的实施期间所描述的示例，其示例将被解释为非排他性的。因此，本说明书和示例旨在仅被认为是示例，真正的范围和精神由以下权利要求以及其等同物的全部范围所指示。

以上描述旨在是说明性的而不是限制性的。例如，上述示例（或其一个或更多方案）可以彼此组合使用。例如本领域普通技术人员在阅读上述描述时可以使用其它实施例。另外，在上述具体实施方式中，各种特征可以被分组在一起以简单化本申请。这不应解释为一种不要求保护的公开的特征对于任一权利要求是必要的意图。相反，本申请的主题可以少于特定的公开的实施例的全部特征。从而，以下权利要求书作为示例或实施例在此并入具体实施方式中，其中每个权利要求独立地作为单独的实施例，并且考虑这些实施例可以以各种组合或排列彼此组合。本申请的范围应参照所附权利要求以及这些权利要求赋权的等同形式的全部范围来确定。

以上实施例仅为本申请的示例性实施例，不用于限制本申请，本申请的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本申请的实质和保护范围内，对本申请做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本申请的保护范围内。

Claims (10)

1.一种光学检测治具，其特征在于，应用于电子设备的顶角检测，所述光学检测治具包括支架，还包括：

承载件，其设于所述支架上，所述承载件包括用于承载所述电子设备的承载面以及位于所述承载面相对两侧的托板，所述承载面的下方具有透光区域，所述托板用于配合承托所述电子设备的相邻侧边，使得所述电子设备的顶角对应于所述透光区域；

发光件，其设于所述承载件的与承载面相背的侧面上，所述发光件用于向所述电子设备的顶角发光；

成像板，其设于所述承载件背向所述发光件的一侧，所述成像板用于呈现经所述发光件向所述电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且所述成像板上标有用于检测所述光影图像的预设检测区域。

2.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述发光件以可转动地方式设于所述承载件上。

3.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述承载件枢转地设于所述支架上。

4.根据权利要求3所述的光学检测治具，其特征在于，所述支架包括底座和设于所述底座上的活动架，所述底座上设有滑槽，所述活动架的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述活动架的另一端与所述承载件枢接。

5.根据权利要求4所述的光学检测治具，其特征在于，所述活动架包括第一架体和第二架体，所述第一架体相对所述第二架体靠近所述发光件设置，所述第一架体的两端分别与所述底座和承载件枢接，所述第二架体的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述第二架体的另一端与所述承载件枢接。

6.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述成像板朝向所述承载件的一侧面上形成有长度测量刻度。

7.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述托板由所述承载件的两侧向内弯折形成。

8.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述托板滑动设于所述承载面上，以调整位于所述承载面相对两侧的托板的间距。

9.一种光学检测系统，其特征在于，包括如权利要求1-8中任一项所述的光学检测治具，还包括电子设备，所述光学检测治具用于检测所述电子设备的顶角。

10.根据权利要求9所述的光学检测系统，其特征在于，所述顶角为以下中的至少一个：C角、R角。