CN116482505B - 一种led发光模组检测方法及系统 - Google Patents

一种led发光模组检测方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN116482505B
CN116482505B CN202310759113.9A CN202310759113A CN116482505B CN 116482505 B CN116482505 B CN 116482505B CN 202310759113 A CN202310759113 A CN 202310759113A CN 116482505 B CN116482505 B CN 116482505B
Authority
CN
China
Prior art keywords
information
module
brightness
diode
brightness value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310759113.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116482505A (zh
Inventor
卢军
熊永福
邢沈立
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DONGGUAN EKINGLUX OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO LTD
Original Assignee
DONGGUAN EKINGLUX OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO LTD
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DONGGUAN EKINGLUX OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO LTD filed Critical DONGGUAN EKINGLUX OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO LTD
Priority to CN202310759113.9A priority Critical patent/CN116482505B/zh
Publication of CN116482505A publication Critical patent/CN116482505A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116482505B publication Critical patent/CN116482505B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/27Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects surrounding elements
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/40Control techniques providing energy savings, e.g. smart controller or presence detection

Abstract

本申请涉及一种LED发光模组检测方法及系统,涉及灯具检测技术的领域,该方法包括获取灯光亮度信息;判断灯光亮度信息是否大于基准亮度值;若不大于,则定义该串联模组为异常模组;于异常模组确定后控制隔板沿固定方向移动以形成与各发光二极管对齐检测区域;控制供电组件依次与各发光二极管连接并获取区域亮度信息;判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;若大于,则定义该发光二极管为正常二极管;若不大于,则定义该发光二极管为异常二极管;根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。本申请便于用户得知LED发光模组的损坏情况的效果。

Description

一种LED发光模组检测方法及系统
技术领域
本申请涉及灯具检测技术的领域,尤其是涉及一种LED发光模组检测方法及系统。
背景技术
LED发光模组就是将一定数量的发光二极管按规则排列在一起再封装起来,加上一些防水处理组成的产品。
相关技术中,常见的LED发光模组为LED显示屏,将各发光二极管进行阵列排布后进串联连接或独立连接,以实现显示屏通电后各个点位的发光二极管均能通电,从而使得显示屏整体能够播放对应的显示内容。而一旦其中的部分发光二极管出现损坏,容易出现显示屏上的显示内容不够完整的情况,有可能出现无法表达所需显示的内容的情况。
针对上述中的相关技术,发明人认为当多个发光二极管进行串联时,一旦其中有一个发光二极管出现损坏,则串联的发光二极管均无法点亮,此时用户无法得知LED发光模组的具体损坏情况,从而不便于后续对其进行维修操作。
发明内容
为了便于用户得知LED发光模组的损坏情况,本申请提供一种LED发光模组检测方法及系统。
第一方面,本申请提供一种LED发光模组检测方法,采用如下的技术方案:
一种LED发光模组检测方法,包括:
获取通电状态信号;
于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取灯光亮度信息;
判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值;
若灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该串联模组为正常模组;
若灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该串联模组为异常模组;
于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域;
控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并获取区域亮度信息;
判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管;
若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该发光二极管为异常二极管;
根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。
通过采用上述技术方案,获取通电状态信号以判断LED发光模组是否得电,于得电情况下控制遮盖设备移动以对每个串联模组进行遮盖检测,当遮盖设备与串联模组对齐时,串联模组与外部灯光隔离,此时通过判断亮度情况可得知该模组是否正常发光,当未正常发光时,可控制隔板移动以对模组中每个发光二极管进行单独通电检测,从而能够得知单个串联模组中每个发光二极管的损坏情况,以便于用户得知LED发光模组的整体损坏情况。
可选的,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
控制预设的短路布线设备将异常二极管短路处理,并获取除异常二极管以外的发光二极管的发光亮度信息;
判断发光亮度信息是否大于基准亮度值;
若发光亮度信息大于基准亮度值,则将未定义的发光二极管均定义为正常二极管;
若发光亮度信息未大于基准亮度值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
通过采用上述技术方案,对异常二极管进行短路处理,此时若其余发光二极管均能被点亮,说明该串联电路导通,不存在其余的异常二极管,从而提高了整体的检测效率。
可选的,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
根据串联数量以及检测数量信息进行差值计算以确定未测数量信息;
判断未测数量信息所对应的数量值是否大于预设的基准数量值;
若未测数量信息所对应的数量值大于基准数量值,则控制短路布线设备将异常二极管短路处理;
若未测数量信息所对应的数量值不大于基准数量值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
通过采用上述技术方案,可对后面出现异常二极管的情况进行不同处理,以提高整体检测效率。
可选的,若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,LED发光模组检测方法还包括:
于当前异常模组中判断当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上是否存在正常二极管;
若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上不存在正常二极管,则定义该发光二极管为异常二极管;
若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上存在正常二极管,则将当前所检测的发光二极管以及距离最近的正常二极管之间所存在的隔板定义为有效隔板,并控制有效隔板沿固定方向的反方向移动以获取移动距离信息以及正常二极管相对应的检测区域的影响亮度信息;
判断影响亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若影响亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管,并定义当前所检测的发光二极管相对应的检测区域为异常区域,且控制有效隔板沿固定方向移动移动距离信息所对应距离值;
若影响亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则控制有效隔板继续沿固定方向的反方向移动,直至移动距离信息所对应距离值与预设的极限距离值一致时定义该发光二极管为异常二极管,且于异常二极管确定后控制有效隔板沿固定方向移动移动距离信息所对应距离值。
通过采用上述技术方案,当出现亮度不足时,通过隔板的移动以利用周边相邻的传感器进行检测,以减少该区域传感器损坏而导致检测不准确的情况发生。
可选的,将未定义的发光二极管均定义为正常二极管时,LED发光模组检测方法还包括:
将正常二极管的亮度定义为作业亮度;
根据异常二极管进行计数以获取异常数量信息;
根据预设的阻值匹配关系以确定异常数量信息相对应的需求亮度信息;
判断作业亮度是否大于需求亮度信息所对应的亮度值;
若作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为合格二极管;
若作业亮度未大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为次品二极管。
通过采用上述技术方案,可得知所确定的发光二极管亮度是否满足要求,以对亮度不满足要求的发光二极管能够进行定义,便于后续工作人员进行维修。
可选的,当作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值时, LED发光模组检测方法还包括:
控制预设的固定时长倒数计时,且于计时过程中实时判断是否出现作业亮度小于基准亮度值的情况;
若出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则定义该正常二极管为闪烁二极管,并控制固定时长复位暂停;
若未出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则继续计时,直至固定时长倒数计时归零时将该正常二极管为合格二极管。
通过采用上述技术方案,可对电流不稳定的发光二极管进行确定,以便于后续工作人员进行维修。
可选的,还包括检测方向的确定方法,该方法包括:
获取供电组件的设备位置信息;
将异常模组两端的端点定义为异常端点,并根据设备位置信息以及异常端点以确定相隔距离信息;
根据预设的排序规则以确定两个相隔距离信息中相对应距离值较小的相隔距离信息,并将该相隔距离信息所对应的异常端点定义为就近端点;
将就近端点朝向另一异常端点的方向确定为检测方向。
通过采用上述技术方案,可使得供电组件移动至异常模组处距离较近,不仅提高了整体检测效率,还减少了供电组件移动所需提供的能量。
第二方面,本申请提供一种LED发光模组检测系统,采用如下的技术方案:
一种LED发光模组检测系统,包括:
获取模块,用于获取通电状态信号;
处理模块,与获取模块和判断模块连接,用于信息的存储和处理;
判断模块,与获取模块和处理模块连接,用于信息的判断;
于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时处理模块控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取模块获取灯光亮度信息;
判断模块判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为正常模组;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为异常模组;
处理模块于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域;
处理模块控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并使获取模块获取区域亮度信息;
判断模块判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为正常二极管;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为异常二极管;
处理模块根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。
通过采用上述技术方案,获取模块获取通电状态信号以使判断模块判断LED发光模组是否得电,于得电情况下处理模块控制遮盖设备移动以对每个串联模组进行遮盖检测,当遮盖设备与串联模组对齐时,串联模组与外部灯光隔离,此时通过判断模块判断亮度情况可得知该模组是否正常发光,当判断模块判断出未正常发光时,处理模块可控制隔板移动以对模组中每个发光二极管进行单独通电检测,从而能够得知单个串联模组中每个发光二极管的损坏情况,以便于用户得知LED发光模组的整体损坏情况。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
可对未发光的串联模组中的每个发光二极管进行独立检测,以便于用户得知LED发光模组的整体损坏情况;
可通过短路的方式以对串联电路中断路部分进行修补,以提高整体检测效率;
可通过周边区域的传感器对当前区域的亮度情况进行检测,以减少传感器损坏而导致检测不准确的情况发生。
附图说明
图1是LED发光模组检测方法的流程图。
图2是LED发光模组以及遮盖设备的示意图。
图3是短路布线处理方法的流程图。
图4是异常处理方法选择方法的流程图。
图5是误差消除方法的流程图。
图6是亮度检测方法的流程图。
图7是电流稳定确定方法的流程图。
图8是检测方向确定方法的流程图。
图9是LED发光模组检测方法的模块流程图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图1-9及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
下面结合说明书附图对本申请实施例作进一步详细描述。
本申请实施例公开一种LED发光模组检测方法,当LED发光模组通电时,利用遮盖设备以隔绝串联模组的灯光,通过亮度情况可得知串联模组是否正常使用,当未能正常使用时,利用隔板隔绝每个发光二极管,此时再利用供电组件以及短路布线设备可对每个发光二极管的具体情况进行检测,从而使得用户能够得知串联模组中每个发光二极管的具体损坏情况。
参照图1,LED发光模组检测方法的方法流程包括以下步骤:
步骤S100:获取通电状态信号。
通电状态信号为LED发光模组的使用状态信号,该信号包括通电使用时的状态以及未通电使用时的状态。
步骤S101:于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取灯光亮度信息。
得电状态信号为工作人员所设定的LED发光模组正常通电时的状态,参照图2,遮盖设备为长条块,其中面朝LED发光模组的一侧开设由凹槽,凹槽内沿长度方向间隔插接有隔板,隔板可于凹槽深度方向移动以使得遮盖设备能够被划分为若干独立区域,隔板的移动可由丝杆电机进行实现,具体由工作人员根据实际情况进行设置,其中遮盖设备的长度与串联模组的长度一致,隔板所形成的独立区域正好能包含每个发光二极管;检测路径为工作人员所设定的对每个串联模组进行检测时所需遮盖设备移动的路径,灯光亮度信息所对应的亮度值为遮盖设备与串联模组对齐以将串联模组的灯光于内部阻隔时所检测到的亮度值,由安装于遮盖设备凹槽底部的亮度传感器进行获取。
步骤S102:判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值。
基准亮度值为工作人员所设定的认定串联模组有发光时的最小亮度值,判断的目的是为了得知串联模组是否能够正常发光使用。
步骤S1021:若灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该串联模组为正常模组。
当灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值时,说明该串联模组可正常发光使用,此时定义该串联模组为正常模组以进行标记,以便于实现对不同串联模组的区分。
步骤S1022:若灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该串联模组为异常模组。
当灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值时,说明该串联模组无法正常发光使用,此时定义该串联模组为异常模组以进行标记,以便于实现对不同串联模组的区分。
步骤S103:于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域。
固定方向为工作人员所设定的靠近LED发光模组的方向,控制隔板移动可使得遮盖设备的凹槽能划分为若干检测区域并与发光二极管进行对齐,从而使得每个发光二极管的情况均能独立检测,其中隔板上以及遮盖设备上朝向串联模组的端面上可设置有绒毛,使得遮盖设备以及隔板地接于串联模组时不会划伤串联模组,同时在遮盖设备移动过程中,绒毛可对串联模组表面的灰尘进行处理,以减少发光二极管表面灰尘较多而影响亮度的情况发生。
步骤S104:控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并获取区域亮度信息。
供电组件为工作人员所设定的具有供电能源且能够进行移动的组件,该供电组件具有正负极,可与各发光二极管的正负极进行连接以实现发光二极管通电;检测方向为工作人员所设定的对串联模组沿长度方向进行检测的方向,区域亮度信息所对应的亮度值为利用供电组件以使所连接的发光二极管导通时,相对应的检测区域中所采集到的亮度值。
步骤S105:判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值。
判断的目的是为了得知发光二极管是否被点亮。
步骤S1051:若区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管。
当区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值时,说明该发光二极管被点亮,说明该发光二极管正常未损坏,此时定义正常二极管以进行标识,以实现对不同发光二极管的区分,便于后续工作人员维修操作。
步骤S1052:若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该发光二极管为异常二极管。
当区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值时,说明该发光二极管未被点亮,说明该发光二极管损坏,此时定义异常二极管以进行标识,以实现对不同发光二极管的区分,便于后续工作人员维修操作。
步骤S106:根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。
检测数量信息所对应的数量值为被检测过的发光二极管的总数量值,可通过对正常二极管以及异常二极管一一计数进行确定;串联数量为串联模组中发光二极管的总数量值,当检测数量信息与串联数量一致时,说明完成该异常模组的检测,此时控制遮盖设备移动以继续对其余串联模组进行检测。
参照图3,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
步骤S200:控制预设的短路布线设备将异常二极管短路处理,并获取除异常二极管以外的发光二极管的发光亮度信息。
短路布线设备为具有移动功能且能对发光二极管两端进行短路连线的设备,且所连接的电线残留需工作人员后续处理;发光亮度信息所对应的亮度值为除异常二极管意外其余发光二极管所在检测区域所检测到的亮度值。
步骤S201:判断发光亮度信息是否大于基准亮度值。
判断的目的是为了得知串联模组是否能够正常使用。
步骤S2011:若发光亮度信息大于基准亮度值,则将未定义的发光二极管均定义为正常二极管。
当发光亮度信息大于基准亮度值时,说明串联模组此时能够正常使用,说明该串联模组中仅为已经检测到的异常二极管对整个模组产生断路影响,此时未检测的发光二极管中不存在损坏的二极管,此时直接进行正常二极管的定义以提高整体检测效率。
步骤S2012:若发光亮度信息未大于基准亮度值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
当发光亮度信息未大于基准亮度值时,说明整个串联模组未成功被点亮,即后续还存在损坏的发光二极管,此时继续检测即可。
参照图4,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
步骤S300:根据串联数量以及检测数量信息进行差值计算以确定未测数量信息。
未测数量信息所对应的数量值为还未被定义检测的发光二极管的总数量值,由串联数量减去检测数量信息所对应的数量值进行确定。
步骤S301:判断未测数量信息所对应的数量值是否大于预设的基准数量值。
基准数量值为工作人员所设定的直接通过供电组件比利用短路布线设备更加方便的最大数量值,判断的目的是为了得知是否需要继续通过短路布线设备进行二极管检测。
步骤S3011:若未测数量信息所对应的数量值大于基准数量值,则控制短路布线设备将异常二极管短路处理。
当未测数量信息所对应的数量值大于基准数量值时,说明此时若利用供电组件进行检测,还需要较多次检测,此时利用短路布线设备有可能提高整体检测效率。
步骤S3012:若未测数量信息所对应的数量值不大于基准数量值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
当未测数量信息所对应的数量值不大于基准数量值时,说明后续待检测的发光二极管数量较少,此时直接利用供电组件检测以使得短路布线设备无需布线,提高整体检测效率的同时,使得后续工作人员无需所需处理的短路线减少。
参照图5,若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,LED发光模组检测方法还包括:
步骤S400:于当前异常模组中判断当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上是否存在正常二极管。
若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值时,可能存在该检测区域的亮度传感器损坏而导致检测不准确的情况,需要进一步分析;判断的目的是为了得知是否已经确定有未损坏的亮度传感器。
步骤S4001:若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上不存在正常二极管,则定义该发光二极管为异常二极管。
当当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上不存在正常二极管时,说明未确定有未损坏的亮度传感器,此时无法得知是否因亮度传感器损坏而导致检测异常,正常定义异常二极管以进行标识,便于后续工作人员进行处理。
步骤S4002:若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上存在正常二极管,则将当前所检测的发光二极管以及距离最近的正常二极管之间所存在的隔板定义为有效隔板,并控制有效隔板沿固定方向的反方向移动以获取移动距离信息以及正常二极管相对应的检测区域的影响亮度信息。
当当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上存在正常二极管时,说明存在已经确定过未出现损坏的亮度传感器,此时定义有效隔板以进行隔板区分,从而能够控制有效隔板移动以使得若干检测区域光线连通,此时若处于检测的发光二极管发亮时,已经确定过未损坏的亮度传感器能够检测到对应亮度值,记录该亮度值的信息即影响亮度信息;移动距离信息所对应距离值为有效隔板沿固定方向反方向移动的距离值。
步骤S401:判断影响亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值。
判断的目的是为了得知当前被检测的发光二极管是否被点亮。
步骤S4011:若影响亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管,并定义当前所检测的发光二极管相对应的检测区域为异常区域,且控制有效隔板沿固定方向移动移动距离信息所对应距离值。
当影响亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值时,说明该二极管被点亮,即发光二极管未损坏,而该检测区域的亮度传感器损坏,此时定义异常区域以进行标识,以实现遮盖设备的标识,便于后续工作人员处理;同时控制有效隔板移动以便于后续继续对其余发光二极管进行检测。
步骤S4012:若影响亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则控制有效隔板继续沿固定方向的反方向移动,直至移动距离信息所对应距离值与预设的极限距离值一致时定义该发光二极管为异常二极管,且于异常二极管确定后控制有效隔板沿固定方向移动移动距离信息所对应距离值。
当影响亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值时,说明该发光二极管未被点亮,此时可能存在有效隔板阻隔亮度以使亮度不满足要求,此时正常控制有效隔板移动,当有效隔板移动至极限距离值时,说明该发光二极管确定未成功点亮,即该发光二极管损坏,此时正常定义异常二极管即可;其中,极限距离值为有效隔板于固定方向反方向上可进行移动的最大距离值。
参照图6,将未定义的发光二极管均定义为正常二极管时,LED发光模组检测方法还包括:
步骤S500:将正常二极管的亮度定义为作业亮度。
定义作业亮度以实现对正常二极管亮度的标识,便于后续分析。
步骤S501:根据异常二极管进行计数以获取异常数量信息。
异常数量信息所对应的数量值为已经检测到的异常二极管的总数量值,可通过对异常二极管一一计数进行确定。
步骤S502:根据预设的阻值匹配关系以确定异常数量信息相对应的需求亮度信息。
需求亮度信息所对应的亮度值为发光二极管处于正常工作情况下所需呈现的亮度值,不同的异常数量信息代表被短路的二极管数量不同,此时串联模组所在的电路中电阻发生变化,因此使得发光二极管所能产生的亮度不同,两者之间的阻值匹配关系由工作人员事先进行多次试验确定。
步骤S503:判断作业亮度是否大于需求亮度信息所对应的亮度值。
判断的目的是为了得知当前正在发光的二极管是否符合正常发光要求。
步骤S5031:若作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为合格二极管。
当作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值时,说明该发光二极管满足正常发光要求,此时定义合格二极管以进行标识,以实现对不同正常二极管的区分。
步骤S5032:若作业亮度未大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为次品二极管。
当作业亮度未大于需求亮度信息所对应的亮度值时,说明该发光二极管未满足亮度要求,此时虽然该发光二极管能够正常通电使用,但存在一定缺陷,此时定义次品二极管以进行标识,以便于后续工作人员对其进行维修操作。
参照图7,当作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值时, LED发光模组检测方法还包括:
步骤S600:控制预设的固定时长倒数计时,且于计时过程中实时判断是否出现作业亮度小于基准亮度值的情况。
固定时长为工作人员所设定的定值时长,判断的目的是为了得知发光二极管通电发光后是否出现熄灭的情况,以判断该发光二极管使用是否稳定。
步骤S6001:若出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则定义该正常二极管为闪烁二极管,并控制固定时长复位暂停。
当出现作业亮度小于基准亮度值的情况时,说明存在发光二极管熄灭的情况,即灯光会存在闪烁情况,此时该二极管所接收的电流不稳定,该二极管存在缺陷,此时定义闪烁二极管以实现对不同发光二极管的区分,便于后续工作人员维修操作。
步骤S6002:若未出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则继续计时,直至固定时长倒数计时归零时将该正常二极管为合格二极管。
当未出现作业亮度小于基准亮度值的情况时,说明未存在闪烁现象,此时正常定义合格二极管即可。
参照图8,还包括检测方向的确定方法,该方法包括:
步骤S700:获取供电组件的设备位置信息。
设备位置信息所对应的位置为供电组件于移动的平面上所处的位置,可通过在供电组件上安装定位器进行确定。
步骤S701:将异常模组两端的端点定义为异常端点,并根据设备位置信息以及异常端点以确定相隔距离信息。
定义异常端点以实现对异常模组中不同发光二极管的区分,相隔距离信息所对应的距离值为供电组件与异常端点之间的距离值,可通过两点位置坐标进行计算确定。
步骤S702:根据预设的排序规则以确定两个相隔距离信息中相对应距离值较小的相隔距离信息,并将该相隔距离信息所对应的异常端点定义为就近端点。
排序规则为工作人员所设定的能对数值大小进行排序的方法,例如冒泡法,通过排序规则可确定出距离供电组件较近的异常端点,此时将其定义为就近端点以进行标识,便于后续进一步处理。
步骤S703:将就近端点朝向另一异常端点的方向确定为检测方向。
此时以就近端点为起点确定检测方向,使得后续供电组件移动时所需移动的路程较短,提高整体检测效率。
参照图9,基于同一发明构思,本发明实施例提供一种LED发光模组检测系统,包括:
获取模块,用于获取通电状态信号;
处理模块,与获取模块和判断模块连接,用于信息的存储和处理;
判断模块,与获取模块和处理模块连接,用于信息的判断;
于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时处理模块控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取模块获取灯光亮度信息;
判断模块判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为正常模组;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为异常模组;
处理模块于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域;
处理模块控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并使获取模块获取区域亮度信息;
判断模块判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为正常二极管;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为异常二极管;
处理模块根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测;
短路布线控制模块,对异常二极管进行短路处理,以使得串联电路断路处能够进行修补,提高整体检测效率;
异常处理选择模块,对出现异常二极管的处理情况进行选择,以提高整体检测效率;
异常误差消除模块,对传感器损坏所导致异常二极管出现对的情况进行大量排除,提高整体检测的准确性;
亮度异常检测模块,对发光的二极管的亮度情况进行检测,以确定亮度是否满足要求;
电流闪烁检测模块,用于对电流不稳定的发光二极管进行确定;
检测方向确定模块,用于确定检测方向,以使得供电组件移动时所需移动的整体路径较短。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,本说明书(包括摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或者具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

Claims (8)

1.一种LED发光模组检测方法,其特征在于,包括:
获取通电状态信号;
于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取灯光亮度信息,其中所述串联模组为LED发光模组,所述遮盖设备的长度与串联模组的长度一致;
判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值;
若灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该串联模组为正常模组;
若灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该串联模组为异常模组;
于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域;
控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并获取区域亮度信息;
判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管;
若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则定义该发光二极管为异常二极管;
根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。
2.根据权利要求1所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
控制预设的短路布线设备将异常二极管短路处理,并获取除异常二极管以外的发光二极管的发光亮度信息;
判断发光亮度信息是否大于基准亮度值;
若发光亮度信息大于基准亮度值,则将未定义的发光二极管均定义为正常二极管;
若发光亮度信息未大于基准亮度值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
3.根据权利要求2所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,于异常二极管确定后,LED发光模组检测方法还包括:
根据串联数量以及检测数量信息进行差值计算以确定未测数量信息;
判断未测数量信息所对应的数量值是否大于预设的基准数量值;
若未测数量信息所对应的数量值大于基准数量值,则控制短路布线设备将异常二极管短路处理;
若未测数量信息所对应的数量值不大于基准数量值,则控制供电组件沿检测方向继续检测,直至检测数量信息与串联数量一致。
4.根据权利要求1所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,若区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,LED发光模组检测方法还包括:
于当前异常模组中判断当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上是否存在正常二极管;
若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上不存在正常二极管,则定义该发光二极管为异常二极管;
若当前所检测的发光二极管于检测方向的反方向上存在正常二极管,则将当前所检测的发光二极管以及距离最近的正常二极管之间所存在的隔板定义为有效隔板,并控制有效隔板沿固定方向的反方向移动以获取移动距离信息以及正常二极管相对应的检测区域的影响亮度信息;
判断影响亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若影响亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则定义该发光二极管为正常二极管,并定义当前所检测的发光二极管相对应的检测区域为异常区域,且控制有效隔板沿固定方向以所述移动距离信息所对应距离值进行移动;
若影响亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则控制有效隔板继续沿固定方向的反方向移动,直至移动距离信息所对应距离值与预设的极限距离值一致时定义该发光二极管为异常二极管,且于异常二极管确定后控制有效隔板沿固定方向以所述移动距离信息所对应距离值进行移动。
5.根据权利要求2所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,将未定义的发光二极管均定义为正常二极管时,LED发光模组检测方法还包括:
将正常二极管的亮度定义为作业亮度;
根据异常二极管进行计数以获取异常数量信息;
根据预设的阻值匹配关系以确定异常数量信息相对应的需求亮度信息;
判断作业亮度是否大于需求亮度信息所对应的亮度值;
若作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为合格二极管;
若作业亮度未大于需求亮度信息所对应的亮度值,则定义该正常二极管为次品二极管。
6.根据权利要求5所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,当作业亮度大于需求亮度信息所对应的亮度值时, LED发光模组检测方法还包括:
控制预设的固定时长倒数计时,且于计时过程中实时判断是否出现作业亮度小于基准亮度值的情况;
若出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则定义该正常二极管为闪烁二极管,并控制固定时长复位暂停;
若未出现作业亮度小于基准亮度值的情况,则继续计时,直至固定时长倒数计时归零时将该正常二极管为合格二极管。
7.根据权利要求1所述的LED发光模组检测方法,其特征在于,还包括检测方向的确定方法,该方法包括:
获取供电组件的设备位置信息;
将异常模组两端的端点定义为异常端点,并根据设备位置信息以及异常端点以确定相隔距离信息;
根据预设的排序规则以确定两个相隔距离信息中相对应距离值较小的相隔距离信息,并将该相隔距离信息所对应的异常端点定义为就近端点;
将就近端点朝向另一异常端点的方向确定为检测方向。
8.一种LED发光模组检测系统,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取通电状态信号;
处理模块,与获取模块和判断模块连接,用于信息的存储和处理;
判断模块,与获取模块和处理模块连接,用于信息的判断;
于通电状态信号与预设的得电状态信号一致时处理模块控制预设的遮盖设备沿预设的检测路径移动,并于遮盖设备与串联模组对齐时获取模块获取灯光亮度信息,其中所述串联模组为LED发光模组,所述遮盖设备的长度与串联模组的长度一致;
判断模块判断灯光亮度信息所对应的亮度值是否大于预设的基准亮度值;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为正常模组;
若判断模块判断出灯光亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该串联模组为异常模组;
处理模块于异常模组确定后控制遮盖设备停止移动,并控制预设于遮盖设备上的各隔板沿预设的固定方向移动抵接于串联模组以形成与各发光二极管一一对齐的检测区域;
处理模块控制预设的供电组件沿预设的检测方向依次与各发光二极管连接并使获取模块获取区域亮度信息;
判断模块判断区域亮度信息所对应的亮度值是否大于基准亮度值;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为正常二极管;
若判断模块判断出区域亮度信息所对应的亮度值不大于基准亮度值,则处理模块定义该发光二极管为异常二极管;
处理模块根据正常二极管以及异常二极管进行计数以确定检测数量信息,且于检测数量信息与预设的串联数量一致时控制遮盖设备继续移动检测。
CN202310759113.9A 2023-06-26 2023-06-26 一种led发光模组检测方法及系统 Active CN116482505B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310759113.9A CN116482505B (zh) 2023-06-26 2023-06-26 一种led发光模组检测方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310759113.9A CN116482505B (zh) 2023-06-26 2023-06-26 一种led发光模组检测方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116482505A CN116482505A (zh) 2023-07-25
CN116482505B true CN116482505B (zh) 2023-08-18

Family

ID=87223641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310759113.9A Active CN116482505B (zh) 2023-06-26 2023-06-26 一种led发光模组检测方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116482505B (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200624834A (en) * 2005-01-14 2006-07-16 Youngtek Electronics Corp Mass production type LED tester
JP2009038247A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp Led点灯装置
KR20110071341A (ko) * 2009-12-21 2011-06-29 (주)제이티 엘이디소자검사장치
CN206038881U (zh) * 2016-08-30 2017-03-22 苏州康贝尔电子设备有限公司 一种可移动的灯条测试机
CN107481655A (zh) * 2017-09-15 2017-12-15 厦门致通自动化科技有限公司 一种室内led显示屏在线点亮测试工装装置
CN108663636A (zh) * 2018-04-13 2018-10-16 海宁市丁桥镇永畅知识产权服务部 一种led灯的照明检测设备
CN109298355A (zh) * 2018-09-17 2019-02-01 盐城东紫光电科技有限公司 一种紫外led芯片测试装置
CN109342976A (zh) * 2018-11-14 2019-02-15 广东昇辉电子控股有限公司 一种串灯检测装置
CN218538467U (zh) * 2022-07-19 2023-02-28 福建鼎坤电子科技有限公司 一种led灯具智能老化测试生产线

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201221988A (en) * 2010-11-18 2012-06-01 Askey Computer Corp Inspection fixture for light emitting diode array
CN113257958A (zh) * 2020-02-11 2021-08-13 晶元光电股份有限公司 发光二极管测试电路、发光二极管测试方法及制造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200624834A (en) * 2005-01-14 2006-07-16 Youngtek Electronics Corp Mass production type LED tester
JP2009038247A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp Led点灯装置
KR20110071341A (ko) * 2009-12-21 2011-06-29 (주)제이티 엘이디소자검사장치
CN206038881U (zh) * 2016-08-30 2017-03-22 苏州康贝尔电子设备有限公司 一种可移动的灯条测试机
CN107481655A (zh) * 2017-09-15 2017-12-15 厦门致通自动化科技有限公司 一种室内led显示屏在线点亮测试工装装置
CN108663636A (zh) * 2018-04-13 2018-10-16 海宁市丁桥镇永畅知识产权服务部 一种led灯的照明检测设备
CN109298355A (zh) * 2018-09-17 2019-02-01 盐城东紫光电科技有限公司 一种紫外led芯片测试装置
CN109342976A (zh) * 2018-11-14 2019-02-15 广东昇辉电子控股有限公司 一种串灯检测装置
CN218538467U (zh) * 2022-07-19 2023-02-28 福建鼎坤电子科技有限公司 一种led灯具智能老化测试生产线

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A fault detecting and motion sensing wireledd light controller for LED lighting system;Vishwanath Gupta et al.;2020 IEEE CALCON;第 462-466页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116482505A (zh) 2023-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI743151B (zh) 可充電電池組
JP2008298495A (ja) 検体ラック、及び検体搬送システム
JP2000121440A (ja) 色識別装置
SE448031B (sv) Forfarande och apparat for indikering av avkenning av pipetteringspositioner vid en testplatta
EP1562406B1 (en) Method and apparatus for monitoring the condition of LEDs
CN103439337A (zh) 压电陶瓷蜂鸣片外观缺陷自动检测装置及方法
CN101187684B (zh) 主板发光二极管测试装置及方法
CN116482505B (zh) 一种led发光模组检测方法及系统
US11039518B2 (en) Method for LED fault detection and mechanism having LED fault detection
CN112684313B (zh) 一种led发光性能的自动化测试装置和方法
CN111157876A (zh) 带有发光led的pcba的测试系统及方法
KR101380700B1 (ko) 태양 전지 모듈을 구비한 발광소자 측정 장치 및 측정 방법
KR102539972B1 (ko) 교합압 해석 프로그램
KR100676279B1 (ko) 광센서를 이용한 표면 검사 장치
CN113709065A (zh) 交换机的面板灯的自动检测方法、系统、设备及存储介质
CN113525701A (zh) 一种无人机动力系统智能故障指示方法及其装置
CN208043393U (zh) Led灯颜色视觉检测机
CN113514752A (zh) 电路板多性能参数同步测试系统及装置
CN215773656U (zh) Led串联灯珠串检测保护电路
US20170343606A1 (en) Method and apparatus or determining presence and operation of components in a printed circuit board
US7317311B2 (en) Wafer handling checker
CN219475418U (zh) 一种具有智能检测效果的视觉检测机
TW201430326A (zh) 具背光之裝置的亮度量測方法及系統
CN214225327U (zh) 晶圆级发光二极管晶片检测装置
JP7208810B2 (ja) 計測システム

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant