CN116359104A - 粒子计数装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供进一步提高便利性的粒子计数装置。使用照射光(La)对在流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数的粒子计数器(1)具备：多流动池(80)，具有多个流动池(10a～10j)；X轴致动器(62)，对于多流动池(80)，与选择的流动池(10a～10j)匹配地调整照射光(La)的光路的位置；以及调整单元(100、200、300)，调整向选择的流动池(10a～10j)的流路内照射的照射光(La)的条件。

Description

粒子计数装置

技术领域

本发明涉及对试样流体中所含的粒子的个数进行计数的粒子计数装置。

背景技术

在这种计数技术的领域中，例如已知多流动池型的粒子计数装置(参照专利文献1。)。该装置的特征在于，相对于固定的多流动池，移动光学系统，该光学系统形成从共同的光源射出的光照射至各流动池(流路内)为止的光路。由此，连接于各流动池的配管不会承担过大的负荷，能可靠地防止因配管的松动、裂纹而引起试样流体漏出。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2020－118549号公报

在此基础上，对于该粒子计数装置，存在进一步的便利性的期望。例如，光学系统中使用了共同的光源，但根据流动池中流动的试样流体(药液)、粒子的种类，适当的照射光的条件各不相同，因此理想的是，能按每个试样流体(在多流动池的情况下为调整光路位置的对象的每个流动池)在适当的照射光的条件下使用。这是出于以下考虑，即：若对全部试样流体、粒子使用共同的条件的照射光，则在特定的计数对象的粒子(在多流动池的情况下为选择的流动池)中，由于照射光的功率对于试样流体、其粒子自身过强或过弱，粒子的计数结果可能会产生不良状况。

发明内容

因此本发明提供进一步提高便利性的粒子计数装置。

为了解决上述问题，本发明采用以下的解决方案。需要说明的是，以下的括号中的文字仅仅是示例，本发明不限定于此。

〔第一发明〕

本发明提供粒子计数装置。粒子计数装置使用向流路内照射的照射光对在流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数。此外，粒子计数装置具备流动池，所述流动池具有流路，试样流体(药液)经由连接配管等流向流路。就粒子而言，使照射光的光路(光轴)的位置对准于流路内，基于由通过流路内的检测区域的粒子产生的放出光的强度，按每个粒径对粒子进行计测。此外，粒子计数装置具备条件调整单元。作为一个例子，条件调整单元能调整向流路内照射的照射光的条件(例如功率、波长、密度分布、偏振状态等)。

粒子计数装置能在调整出与在流路内流动的试样流体、粒子的特性匹配的照射光的条件的基础上，对粒子进行计测。由此，能可靠地抑制计数结果产生不良状况，能高水准地维持计数结果的可靠性。

〔第二发明〕

此外，本发明提供粒子计数装置。粒子计数装置使用向流路内照射的照射光对在流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数。此外，粒子计数装置具备多流动池。作为一个例子，多流动池具有多个流路，试样流体(药液)经由连接配管等流向各流路。就粒子而言，在选择为计数对象的流路内调整照射光的光路(光轴)的位置，基于由通过流路内的检测区域的粒子产生的放出光的强度，按每个粒径对粒子进行计测。

粒子计数装置具备位置调整单元。对于多流动池，位置调整单元如上述那样与从多个流路中选择的流路匹配地调整照射光的光路的位置。此外，粒子计数装置具备条件调整单元。作为一个例子，条件调整单元在与选择的流路匹配地调整光路的位置时，能调整向流路内照射的照射光的条件(例如功率、波长、密度分布、偏振状态等)。

粒子计数装置能在调整出与在选择为计数对象的流路内流动的试样流体、粒子的特性匹配的照射光的条件的基础上，对粒子进行计测。由此，能可靠地抑制计数结果产生不良状况，能高水准地维持计数结果的可靠性。

条件调整单元包括光学器具。光学器具例如由光学滤波器、分束器等构成。通过使光学器具配置于光路上，能将从光源射出的照射光的强度调整为期望的强度。由此，即使粒子计数装置采用共同的光源，也能通过使用光学器具来将照射光调整为与在各个流路内流动的试样流体、粒子的特性匹配的强度。需要说明的是，光学滤波器也可以是ND滤波器、偏振滤波器、其他种类的光学性滤波器。

在使用光学器具来调整照射光的强度的情况下，如果已知在各个流路内流动的试样流体、粒子的特性，则能按不同流路准备能使照射光的强度与各个流路匹配地调整为最佳的光学器具。优选的是，光学器具配置于通过位置调整单元调整了位置的光路上。光学器具既可以仅使用光学滤波器，也可以仅使用分束器，还可以使用光学滤波器和分束器这两方。此外，在光学滤波器、分束器是个体化的产品器具的情况下，可以以单品的方式使用它们，或将多个产品组合使用。

粒子计数装置仅通过与选择为对象的流路匹配地调整光路的位置，就能联动地调整光学器具的照射光的强度。由此，能将粒子计数装置的便利性维持得高。

光学器具既可以仅配置于与多个流路中的一部分对应的光路上，也可以与全部流路对应地配置。在光学器具与一部分流路对应地配置的情况下，可以在与其他流路对应的光路上配置透光构件(例如玻璃板)。透光构件能使照射光与随着照射光穿过光学器具而发生的光轴的变化同步。由此，在配置有光学器具的流路和其他的流路中能使光轴的条件一致。

此外，本发明的粒子计数装置可以具有使光学器具的配置位移的功能来作为条件调整单元。条件调整单元能使光学器具的配置在供照射光穿过的光路上的穿过位置与偏离光路的不穿过位置之间位移。而且，在为了调整照射光的强度而使用特性不同的多个光学器具的情况下，条件调整单元可以将与选择为调整光路位置的对象的流路相应的特性的光学器具选择性地配置于光路上。此外，由条件调整单元实现的调整动作可以设为自动地控制。

由此，能与选择为调整光路位置的对象的流路(在流路内流动的试样流体、粒子)的特性匹配地进行以下操作：由光学器具实现的强度的调整或不进行调整、按照各个流路进行单独的强度调整，从而能进一步维持提高便利性。

发明效果

如上所述，根据本发明，能提供进一步提高便利性的粒子计数装置。

附图说明

图1是简略地表示一个实施方式中的粒子计数器1的立体图。

图2是表示后级功率调整单元100的构成例1的图。

图3是表示后级功率调整单元100的构成例1的图。

图4是表示后级功率调整单元100的构成例2的图。

图5的(A)是表示前级功率调整单元200的构成例1的图。

图5的(B)是表示前级功率调整单元200的构成例1的图。

图6是表示前级功率调整单元200的构成例2的图。

图7的(A)是表示中级功率调整单元300的构成例的图。

图7的(B)是表示中级功率调整单元300的构成例的图。

图8是表示一个实施方式中的粒子计数器1的控制构成例的框图。

图9是简略地表示另一个实施方式中的粒子计数器401的立体图。

图10是表示在一个实施方式中的粒子计数器1中使用了捕集设备124的构成例的图。

附图标记说明：

1：粒子计数器；2：传感器基座；5：流动池基座；6：流动池保持架；10a～10j：流动池；20：光源；30：反射镜；40：照明用透镜；50：受光单元；60：X轴载台；70：Y轴载台；80：多流动池；100：后级功率调整单元；104、106、110、112、114：光学器具；120：透光构件；122：分束器(光学器具)；124：捕集设备；200：前级功率调整单元；208、212、214、216、218、220：光学器具；300：中级功率调整单元；302、304：光学器具。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。需要说明的是，以下的实施方式只不过是示例，本发明不限定于该示例。

〔粒子计数器的构成〕

图1是简略地表示一个实施方式中的粒子计数器1的立体图。需要说明的是，图1中省略了一部分构成部件的图示。粒子计数器1是粒子计数装置的一个方案，是计数器还是计数装置只是称呼上的不同，没有技术上的差异。

构成粒子计数器1的光源20、反射镜30、照明用透镜40、多流动池(流动池单元)80、受光单元50等各构成部件通过未图示的夹具等直接或间接地支承于传感器基座2。传感器基座2的底面设有多个脚部3。脚部3由能吸收振动的防振橡胶等弹性构件形成。此外，粒子计数器1容纳于省略了图示的壳体。

在本实施方式中，粒子计数器1具备多流动池80来作为流动池的一个例子。多流动池80例如具有在宽度方向上排列的10个流动池10a～10j。各流动池10a～10j例如由石英、蓝宝石等透明的材料形成，在其内部具有大致“コ”字形的流路(未图示)。流路在各流动池10a～10j的前表面侧在上下两处开口。在这些开口连接有供试样流体流动的配管。需要说明的是，多流动池80所具有的流动池的个数没有限定。

在粒子计数器1的设置状态或使用状态下，在以传感器基座2的长尺寸方向为计数器主体的宽度方向、以与该长尺寸方向正交的方向为前后(进深)方向的情况下，多流动池80在宽度方向上排列。虽然在图1中省略了图示，但各流动池10a～10j固定于流动池保持架的内部。在以下的说明中，将排列多个流动池10a～10j的方向称为“X方向”，并将沿X方向延伸的轴称为“X轴”。

光源20固定于传感器基座2，使照射光La(例如激光)以规定的强度和波长照射。照射光La以能视为平行的范围的扩展角向X方向射出。传感器基座2兼作光源20的散热器。反射镜30将从光源20射出的照射光La朝向流动池10a～10j内的检测区域反射。此外，在反射后的照射光La的光路上设有照明用透镜40。照射光La穿过照明用透镜40。

在多流动池80的背后设有受光单元50。受光单元50具备多个受光用透镜、受光元件、放大器、A/D转换器等。为了防止背景噪声的受光，多个受光用透镜容纳于圆筒形状的受光筒52。在照射光La射入的流动池10a～10j中，当试样流体中所含的粒子通过检测区域时，从粒子产生散射光。该散射光由受光用透镜聚光并且聚于受光元件(例如光电二极管)，转换为电信号。由此，能基于散射光的强度，按每个粒径对粒子进行计数。需要说明的是，在粒子中包含荧光物质的情况下，通过接受从粒子放出的荧光，能与散射光的情况同样地对粒子进行计数。

在以下的说明中，将受光用透镜的中心轴(以下，称为“受光轴”。)称为“Y轴”，将Y轴延伸的方向(计数器主体的前后方向)称为“Y方向”。在以铅垂方向为“Z方向”的情况下，X方向、Y方向、Z方向均相互正交。

〔光学系统的移动构成(位置调整)〕

粒子计数器1能使从共同的光源20射出的照射光La的光路(光轴)移动至与各流动池10a～10j对应的位置。换言之，光源20、多流动池80固定于传感器基座2，但由反射镜30反射后的照射光La的光路能在流动池10a～10j的排列方向移动。

这样的光学系统的移动例如使用X轴致动器62来实现。当X轴致动器62移动滑动件时，X轴载台60使反射镜30和照明用透镜40与铅垂托架65、保持件66一起在X方向移动。由此，能与各流动池10a～10j匹配地调整照射光La的光路的位置。

例如在图1中，光路的位置与位于多流动池80一端的流动池10a匹配。若如上所述地驱动X轴致动器62，则照射光La的光路的位置能调整为与其他的各流动池10b～10j匹配。

此外，包括受光单元50的受光光学系统能沿Y方向调整位置。在X轴载台60上设有Y轴致动器72。在该滑动件上经由Y轴载台70支承有包括受光单元50的受光光学系统的构成部件。

〔照射光的条件调整〕

像本实施方式那样，具备多流动池80的粒子计数器1具有粒子计数用的多个通道。即，粒子计数器1通过在10个流动池10a～10j中分别使不同种类的试样流体流动，能使用多个通道来进行粒子的计数。此时，照射光La的光路的位置能与各流动池10a～10j匹配地调整。需要说明的是，光源20为单一(共同)的，原样照射的话照射光La的条件(强度)对于全部试样流体是一样的。因此，粒子计数器1需要与在各流动池10a～10j流动的试样流体、粒子的特性匹配地，按每个通道调整照射光La的条件。

因此，在本实施方式中，可以使用照射光La的条件调整用的多个单元100、200、300，优选的是，举例示出后级功率调整单元100、前级功率调整单元200以及中级功率调整单元300。其中，后级功率调整单元100在光学系统中配置于从照明用透镜40至多流动池80之间的照射光La的光路上。此外，前级功率调整单元200配置于从光源20至反射镜30之间的光路上。中级功率调整单元300配置于保持件66内的光路上。需要说明的是，中级功率调整单元300在保持件66内，分为配置于反射镜30的射入侧的部分和配置于射出侧(从反射镜30至照明用透镜40之间)的部分。需要说明的是，关于这些单元100、200、300，将在后文参照别的附图进一步进行叙述。

〔光学器具(光学元件)〕

在本实施方式中，粒子计数器1例如使用光学滤波器、分束器等来调整照射光La的条件，特别是其强度(功率、密度分布)。在光学滤波器中，可以使用ND(Neutral Density：中性密度)滤波器、偏振滤波器、其他种类的光学滤波器。以下，将本实施方式中使用的光学滤波器和分束器概括地称为“光学器具”，但称呼只是一个例子，也可以称为“光学元件”，或者还可以称为“光学滤波器”。

〔光学特性的可变〕

而且，在本实施方式中，可以将能使光学特性变化的物质用于光学器具。作为使光学特性变化的效应，可列举出电光效应(几个效应的总称)。通过各电光效应，粒子计数器1能可变地控制光学滤波器、分束器等光学器具所具有的折射率、吸光度(≈透射率)、焦距、偏振等特性。

需要说明的是，作为具有电光效应的物质，例如列举出液晶、晶体(电光晶体)。电光晶体是具有电光效应的晶体，因此存在各种各样的种类。因此，在本实施方式中可以使用适当的晶体。

如此，在本实施方式中，就粒子计数器1而言，由具有电光效应的物质构成光学器具，通过来自外部的电信号(来自外部的电影响)能使该物质的特性变化。由此，能在不将光学器具在物理上变更为别的器具或改变其位置的情况下可变地控制光学器具的特性。

〔后级功率调整单元〕

图2和图3是表示后级功率调整单元100的构成例1的图。在图2中用正面视图示出图1的粒子计数器1，在图3中用侧面视图示出图1的粒子计数器1。此外在图2中用圆形表示各流动池10a～10j的前表面侧开口。

后级功率调整单元100例如将光学器具104、106、110、112、114等配置于多流动池80的下方而构成。作为一个例子，光学器具104等中使用板形状的光学器具，将它们配置为位于照射光La的光路上。为了保持光学器具104等，在多流动池80的下表面向下方突出地形成有多个托架102。托架102与各流动池10a～10j对应地以等间隔排列于X方向上。光学器具104等在插入于相邻的托架102间的状态下被保持。

需要说明的是，多流动池80向传感器基座2的固定例如使用流动池基座5。流动池基座5由垂直地立起设置于传感器基座2的上表面的、呈“コ”字形的板状的构件构成。此外，流动池基座5在多流动池80的两端形成一对地配置。因此，多流动池80在使其下方开放的状态下固定于传感器基座2。

就单独的配置而言，在图2中与位于右端的流动池10a对应的照射光La的光路上，例如配置有两个光学器具104、106。此外，在与从右起第四个流动池10d对应的光路上，例如配置有一个光学器具108。此外，在与从右起第七个流动池10g对应的光路上，例如配置有两个光学器具110、112。并且，在与从右起第八个流动池10h对应的光路上，例如配置有一个光学器具114。

需要说明的是，在图2中，用实线表示照射光La的光路(光轴)对准于右端的流动池10a的状态。例如，如图2中双点划线所示，在驱动X轴致动器62而使保持件66与X轴载台60一起在X方向移动的情况下，也能将光路调整至与其他的流动池10h对应的位置。此外，对于其他的流动池10b～10j，也能分别调整光路的位置。因此，光学器具104等对于各流动池10a～10j单独地调整位置，配置为位于照射光La的各光路上。

光学器具104、106、110、112、114等各自种类、光学特性不同，或者一部分相同。此外，在此列举出将两个光学器具104等重叠配置的例子，但光学器具104等也可以在一个光路上配置三个以上。需要说明的是，关于几个流动池10b、10c、10e、10f、10i、10j，未配置光学器具104等，但对于这些流动池也可以适当配置光学器具104等。

无论如何，后级功率调整单元100通过将光学器具104等配置于光路上，能与在各流动池10a～10j中流动的试样流体、粒子的特性匹配地调整照射光La的强度。在后级功率调整单元100中配置了光学器具104等的情况下，照射光La穿过它们，由此照射光La成为调整为适当的强度的状态。此外，在后级功率调整单元100中未配置光学器具104等的情况下，照射光La能在调整为从光源20射出时的强度的状态下，照射向各流动池10a～10j的流路内。

图4是表示后级功率调整单元100的构成例2的图。在上述的构成例1中，未配置光学器具104等的部位是单纯的空间(空气)。另一方面，在构成例2的情况下，在未配置光学器具104等的部位配置有透光构件120。此外，流动池10d除了配置有一个光学器具108以外还配置有透光构件120。流动池10h也同样，除了配置有一个光学器具114以外还配置有透光构件120。

在构成例1中，在后级功率调整单元100内供照射光La穿过的介质按流动池10a～10j的每一个在有无配置光学器具104等上不同。另一方面，在构成例2中，在全部流动池10a～10j中，照射光La穿过光学器具104等或透光构件120中的任意介质(例如各两个)。

透光构件120例如为透明玻璃板、透明丙烯酸树脂板等，对照射光La不具有特别的强度调整功能。其中，通过使照射光La透过透光构件120，能与随着穿过光学器具104等而产生的光轴的变化同步。因此，在构成例2中，与有无光学器具104等无关，能使相对于全部流动池10a～10j的光轴变化一致。由此，使用了X轴致动器62的光路的位置调整变得容易。在该方面，在构成例1的情况下，在未配置光学器具104等的部位照射光La没有光轴的变化，因此粒子计数器1需要进行使用了X轴致动器62的光路的位置调整。

通过后级功率调整单元100，能获得以下的有用性。

(1)在调整强度的光学器具104等中例如使用ND滤波器的情况下，与未配置ND滤波器的情况相比，向流路内照射的照射光La的强度减少。由此，能使向在相应的流动池10a、10d、10g、10h流动的试样流体照射的照射光La的强度减少。因此，能对在流路中流动的试样流体、粒子照射更适当的强度的照射光La，粒子计数器1能进行更高精度的粒子计数。

(2)ND滤波器的光学特性(例如衰减量)能根据光源20射出的照射光La的强度、试样流体、粒子的种类等，来选择适于粒子计数的ND滤波器的光学特性。例如，在光源20射出的照射光La的强度固定的条件下，在某通道中试样流体A流动的情况下将ND滤波器α应用于光学器具104等，在通道中试样流体B流动的情况下将ND滤波器β应用于光学器具104等。如此，能进行与成为计数对象的粒子或者试样流体的种类、特性匹配的强度的调整。

(3)通过预先将光学器具104等配置于光路上，即使在粒子计数器1切换了成为计数对象的通道(流动池10a～10j)的情况下，粒子计数器1也不需要进行特别的操作。能以原样调整为适于在对象的通道中流动的试样流体、粒子的特性的照射光La的强度。

(4)粒子计数器1所使用的光学器具104等不限于ND滤波器，只要是通过配置于照射光La的光路上来作用于照射光La的光学元件即可，也可以是偏振滤波器、波长选择滤波器那样的光学滤波器。此外，也可以使用非偏振分束器、偏振分束器那样的分束器等性能、种类不同的光学滤波器、分束器。

(5)此外，即使在各流动池10a～10j中流动的试样流体、粒子的种类改变的情况下，粒子计数器1也能通过适当更换、追加或去除光学器具104等，迅速且容易地进行强度的调整。

〔其他的构成例〕

后级功率调整单元100也可以采用以下的构成例。

配置于与各流动池10a～10j对应的光路上的光学器具104等的数量是任意的，单个或多个皆可，也可以为三个以上。

此外，在配置多个光学器具104等来设为滤波器组的情况下，在该滤波器组内可以叠加配置具有相同功能、性能的各滤波器，也可以叠加配置具有不同功能、性能的各滤波器。也可以是，光学器具104等在光路方向上的厚度不同。

光学器具104等也可以采用如下构成：按到各流动池10a～10j为止的每个光路配置不同的滤波器(滤波器组)。

光学器具104等也可以是如下构成：通过像构成例1那样使相对于托架102的拆装变得容易，能按到各流动池10a～10j为止的每个光路切换(应用/不应用)有无配置。

此外，也可以是，光学器具104等不是固定配置，例如在同一流动池10a～10j内中，在试样流体A流动的情况下将ND滤波器α应用于光学器具104等，在试样流体B流动的情况下卸下光学滤波器α而更换为另一个光学滤波器β。

到各流动池10a～10j为止的光路上有无配置(应用/不应用)光学器具104等的切换，可以由操作员手动进行，也可以使用驱动机构等自动进行。

在采用了自动切换有无配置光学器具104等的构成的情况下，例如可以根据预设于粒子计数器1的试样流体、其他的条件，来选择并配置适当的光学器具104等，或变更其配置。或者也可以采用以下构成：对在选择为计数对象的通道的流动池10a～10j中流动的试样流体、其他的条件进行感测，基于其感测结果来自动选择并配置适当的光学器具104等。

〔前级功率调整单元〕

接着，对前级功率调整单元200进行说明。图5是表示前级功率调整单元200的构成例1的图。在图5的(A)中，用正面视图示出包括光源20的一部分，在图5的(B)中，用侧面视图示出包括光源20的一部分。

图5的(A)：前级功率调整单元200例如在光源20的照射方向的正前方的照射光La的光路上配置光学器具208而构成。需要说明的是，前级功率调整单元200设于不干涉由X轴致动器62实现的保持件66(照射光学系统)的可动范围、流动池基座5等的位置。在此，光学器具208也可以采用光学滤波器、分束器等。前级功率调整单元200具有立起设置于传感器基座2上的箱形状的壳体201。在该壳体201开口形成有供照射光La穿过的窗202。此外，在壳体201的内部与上述的光学器具208一起设有旋转式致动器204。旋转式致动器204的输出轴能绕图1的X轴旋转。

图5的(B)：光学器具208经由托架206支承于旋转式致动器204的输出轴。构成例1的光学器具208虽然是单一的构成，但通过旋转式致动器204的驱动，能在双点划线所示的光路上照射光La所穿过的位置(穿过位置)与实线所示的偏离光路的位置(不穿过位置)之间位移。

因此，根据前级功率调整单元200的构成例1，在使光学器具208位移至不穿过位置的状态下，照射光La的强度调整为光源20的射出的强度。反之，在使光学器具208位移至穿过位置的状态下，照射光La的强度调整为伴随着穿过光学器具208的强度。

接着，图6是表示前级功率调整单元200的构成例2的图。在图6中，用侧面视图示出包括光源20的一部分。

在构成例2中，前级功率调整单元200具有与构成例1同样的壳体201，在壳体201形成有窗202。在构成例2的情况下，在旋转式致动器204的输出轴装配有旋转盘210。在该旋转盘210上，在同一节圆上沿周向以等间隔形成有多个孔210a，在各孔210a分别嵌入有光学器具208、212、214、216、218、220。

在构成例2中，通过驱动旋转式致动器204使旋转盘210的角度向旋转方向位移，粒子计数器1在照射光La的光路上切换光学器具208、212、214、216、218、220的配置来使用。例如，在图6所示的角度下，在光路上配置有光学器具208，能根据光学器具208的功能、性能来调整照射光La的强度。强度调整后的照射光La经由反射镜30和照明用透镜40向各流动池10a～10j的流路照射。

并且，例如在从图6的角度以60度间隔改变旋转盘210的角度的情况下，粒子计数器1可以将其他的光学器具212、214、216、218、220按此顺序配置于光路上来使用。因此，在此也可以根据配置于光路上的光学器具212、214、216、218、220的功能、性能来调整照射光La的强度。

此外，也可以由透光构件(透明玻璃板、透明丙烯酸板等)构成旋转盘210。由此，通过使旋转盘210位移至未形成孔210a的区域位于光路上的角度，粒子计数器1能成为使光学器具208、212、214、216、218、220均不配置于光路上的状态。在该情况下，照射光La以从光源20射出的强度经由反射镜30和照明用透镜40向各流动池10a～10j的流路照射。

根据前级功率调整单元200，能获得以下的有用性。

(1)与后级功率调整单元100同样，能实现使用了光学器具208等的照射光La的强度的调整。

(2)在此基础上，在构成例1的情况下，与需要在到对应的各流动池10a～10j为止的光路上用单独的光学器具104等准备滤波器(滤波器组)的后级功率调整单元100不同，粒子计数器1在光源20的正前方的位置将单一的光学器具208配置于光路上，因此应用于流动池10a～10j的滤波器(滤波器组)均相同。由此，能使光学器具208为最小数量而谋求构成的简化。

(3)另一方面，在构成例2的情况下，通过准备与应用的流动池10a～10j相应的数量的光学器具208等，根据选择的通道使适当的光学器具208等配置于光路上，粒子计数器1能进行与各个流动池10a～10j中流动的试样流体、粒子的特性匹配的照射光La的强度调整。

〔其他的构成例〕

前级功率调整单元200也可以采用以下的构成例。

在图5的构成例1中，也可以在光路上重叠配置多个光学器具208等。例如，通过准备多个下述组：多个旋转式致动器204、托架206以及光学器具208，并以可动区域相互不干涉的方式配置，粒子计数器1能使一个或多个光学器具208配置于光路上。由此，能进行与配置于光路上的光学器具208的数量相应的照射光La的强度的阶段性的调整。

在图6的构成例2中同样，粒子计数器1能准备多个下述组：旋转式致动器204、旋转盘210以及光学器具208等，并以可动区域相互不干涉的方式配置。由此，能对应用的各流动池10a～10j进行细小的强度调整，能进一步提高有用性。

在前级功率调整单元200中，也可以采用下述构成：对选择为计数对象的通道的流动池10a～10j中流动的试样流体、其他的条件进行感测，基于该感测结果自动选择并配置适当的光学器具208等。

〔中级功率调整单元〕

接着，对中级功率调整单元300进行说明。图7是表示中级功率调整单元300的构成例的图。在图7的(A)中，示出包括图1的反射镜30和照明用透镜40的保持件66的一部分，在图7的(B)中，用正面视图(一部分为剖面)示出保持件66的内部结构。

图7的(A)：如上所述，中级功率调整单元300可以采用下述构成：在保持件66内分为配置于反射镜30的射入侧的光路上的部分和配置于射出侧(从反射镜30至照明用透镜40之间)的光路上的部分。需要说明的是，中级功率调整单元300也可以采用仅任一方的配置。

图7的(B)：在中级功率调整单元300中，也可以使用光学器具302、304来调整照射光La的强度。在该构成例中，一方的光学器具302为在反射镜30的射入侧配置于光路上的光学器具，另一方的光学器具304为在反射镜30的反射侧配置于光路上的光学器具。在此，光学器具302、304也可以采用光学滤波器、分束器等。此外，关于光学器具302、304，通过驱动未图示的直线致动器的驱动，能单独地在光路上在供照射光La穿过的位置(穿过位置：图中双点划线所示)与偏离光路的位置(不穿过位置：图中实线所示)之间位移。

根据中级功率调整单元300，能获得如下的有用性。

(1)与后级功率调整单元100同样，能实现使用了光学器具302、304的照射光La的强度的调整。

(2)在此基础上，与后级功率调整单元100、前级功率调整单元200的情况不同，在中级功率调整单元300中，光学器具302、304的滤波器(滤波器组)配置于保持件66内，成为随着包括反射镜30和照明用透镜40的保持件66这一套可动的配置。由此，无需像后级功率调整单元100、前级功率调整单元200那样，为了配置滤波器(滤波器组)而另外确保空间。由此，粒子计数器1能在内部使构成构件的密集度减轻，能谋求提高散热性、维护作业性。

(3)通过单独地使两个光学器具302、304位移，根据应用的流动池10a～10j使光学器具302或光学器具304中的任一个配置于光路上，或使两个光学器具302、304同时配置于光路上。由此，通过根据选择的通道使适当的光学器具302、304配置于光路上，粒子计数器1能进行与流动池10a～10j中流动的试样流体、粒子的特性匹配的照射光La的强度调整。

〔其他的构成例〕

中级功率调整单元300也可以采用以下的构成例。

也可以是，仅将光学器具302、304中任一方配置于保持件66内。此时，可以是，射入侧的光学器具302在从光源20至反射镜30之间配置于随着保持件66可动的位置。此外，关于射出侧的光学器具304，也可以是，在从照明用透镜40至各流动池10a～10j之间配置于随着保持件66可动的位置。

或者，即使在将光学器具302、304这两方都配置的情况下，也可以设为，射入侧的光学器具302在从光源20至反射镜30之间配置于随着保持件66可动的位置，射出侧的光学器具304在从照明用透镜40至各流动池10a～10j之间配置于随着保持件66可动的位置。在该情况下，可以是，光学器具302、304的滤波器(滤波器组)在保持件66的附近占有大概均等的空间，也可以是一方在保持件66的附近占有更多的空间。

在中级功率调整单元300中，也可以采用下述构成：对选择为计数对象的通道的流动池10a～10j中流动的试样流体、其他的条件进行感测，基于该感测结果自动选择并配置适当的光学器具302、304。

〔控制构成例〕

图8是表示一个实施方式中的粒子计数器1的控制构成例的框图。需要说明的是，在此为了方便说明，示出将后级功率调整单元100、前级功率调整单元200以及中级功率调整单元300中的全部纳入粒子计数器1而成的构成例。另一方面，可以将三个单元100、200、300中的任一个或多个任意地选择性地纳入并采用。

粒子计数器1除了具备上述各构成部件以外，还具备控制粒子的检测和计数的控制单元90。控制单元90例如具有：操作输入部91、存储部92、位置调整部93、检测管理部94、计数部95、数据输出部96以及功率调整部150。

操作输入部91对用户提供操作画面，并且经由操作画面接受由用户进行的操作。用户可以在操作画面中进行对选择计数对象的通道、开始和结束检测、保存计数结果、照射光La的强度调整等进行指示的操作。操作输入部91对其他功能部93、94、96、150进行与接受的操作的内容相应的指示，除此以外，根据来自其他功能部93、94、96、150的输入的内容进行操作画面的切换等。

存储部92为所谓的存储区域，存储与粒子的检测、计数相关的信息。在存储部92中预先存储有与各通道的流动池10a～10j相应的X坐标和Y坐标。此外，预先存储有与各通道的各流动池10a～10j的试样流体、粒子的特性对应的适当的照射光La的强度水平。需要说明的是，可以设为，存储部92的存储信息能适当地重写。

当通过操作输入部91对特定的通道进行指定时，位置调整部93首先从存储部92读出与该通道的流动池10a～10j对应的X坐标和Y坐标。然后，使X轴致动器62工作，驱动X轴马达64而使X轴载台60滑动至X坐标，进而使Y轴致动器72工作，驱动Y轴马达74而使Y轴载台70滑动至Y坐标。当结束驱动X轴马达64和Y轴马达74时(当X轴载台60、Y轴载台70的位置调整结束时)，成为能开始检测的状态。位置调整部93将能开始检测这一情况传送至操作输入部91。

〔未应用后级功率调整单元100的情况〕

在粒子计数器1中未应用后级功率调整单元100，而应用前级功率调整单元200或中级功率调整单元300中的一方，或者两方的情况下，功率调整部150进行以下的指示。

即，当操作输入部91对特定的通道进行指定时，功率调整部150从存储部92读出应用于相应的通道的流动池10a～10j的照射光La的强度水平的信息。然后，将驱动信号输出至前级功率调整单元200或中级功率调整单元300的各致动器。基于该驱动信号，在前级功率调整单元200或中级功率调整单元300中，分别使适当的滤波器(滤波器组)配置于光路上的穿过位置或不穿过位置。

〔应用后级功率调整单元100时〕

另一方面，在粒子计数器1中应用后级功率调整单元100，而未应用前级功率调整单元200和中级功率调整单元300的情况下，功率调整部150不进行特别的指示，而成为等待状态。这是因为，后级功率调整单元100使用固定式的光学器具208等。

〔应用后级功率调整单元100时其他的构成例〕

其中，如上所述，关于后级功率调整单元100，也可以采用自动进行光学器具208等的拆装的构成。在该情况下，当通过操作输入部91对特定的通道进行指定时，功率调整部150从存储部92读出应用于相应的通道的流动池10a～10j的照射光La的强度水平的信息，对后级功率调整单元100指示下述动作：使适当的光学器具208等配置于与各流动池10a～10j的对应的位置的托架102。由此，如图2～图4所示，按流动池10a～10j使适当的光学器具208(透光构件120)等配置于光路上。

当通过操作输入部91进行对于特定的通道的检测开始的指示时，检测管理部94将光源20和受光单元50切换为工作状态。此外，当操作输入部91进行对于特定的通道的检测结束的指示时，检测管理部94将光源20和受光单元50切换为非工作状态。当光源20和受光单元50切换为非工作状态时，成为能变更计数对象的通道的状态。检测管理部94将能变更通道这一情况传送至操作输入部91。

需要说明的是，也可以设为，光源20的工作状态的切换不在每次检测的开始和结束时进行，而在粒子计数器1起动的期间保持工作状态。此外，也可以采用，检测的开始和结束不经由操作输入部91(用户的操作)而进行的构成。例如，也可以是，以由位置调整部93实现的载台60、70的位置调整结束为契机自动地开始检测，在检测开始起经过规定时间后自动地结束检测。

当通过检测管理部94使光源20和受光单元50工作时，由光源20射出的照射光La在由反射镜30反射之后穿过照明用透镜40，并在聚集状态下射入流动池10a～10j，在试样流体的流路内的规定位置形成检测区域。当试样流体中所含的粒子通过检测区域时，从粒子产生散射光，该侧方散射光由受光用透镜53聚光并射入受光元件54而被受光元件54接收。由受光元件54受光的侧方散射光转换为与其强度相应的电信号，在通过放大器55以规定的增益放大之后，通过A/D转换器56转换为数字信号。然后，受光单元50将最终获得的数字信号输出至计数部。

计数部95对基于由受光单元50输出的数字信号的大小即散射光的强度检测出的粒子的粒径进行判断，按每个粒径对粒子进行计数。计数部95将计数的结果输出至数据输出部96。

数据输出部96基于由计数部95输出的计数结果输出数据。数据的输出可以通过向结果显示画面的显示来进行，也可以通过向打印机的输出、经由网络向其他设备的发送来进行。当计数结果的最终数据随着检测结束而完成时，成为能保存最终数据的状态。数据输出部96将能保存最终数据这一情况传送至操作输入部91。

需要说明的是，控制单元90可以一体地设于粒子计数器1的内部，也可以在粒子计数器1的外部分体设置，以通过缆线、网络等连接的方案来使用。

此外，控制单元90也可以具备感测部。在感测部中具备感测元件，其能对在各流动池10a～10j流动的试样流体、粒子的种类进行感测。在该情况下，当通过操作输入部91进行对于特定的通道的检测开始的指示，感测部对在指示的通道中流动的试样流体、粒子进行感测，并将其感测结果传送至功率调整部150。然后，功率调整部150基于感测部的感测结果从存储部92读出适当的强度水平的信息，进行对应用的单元100、200、300的指示。

〔特性的可变控制〕

此外，在将特性可变的光学器具用于后级功率调整单元100、前级功率调整单元200或中级功率调整单元300中的至少任一个的情况下，在应用各单元100、200、300时，功率调整部150能根据计数对象的通道的流动池10a～10j中流动的试样流体、粒子的特性、应用的照射光La的强度水平，来适当变更光学器具的特性。在该情况下，例如关于后级功率调整单元100，能在不根据每个通道的试样流体、粒子的特性来更换光学器具104等的情况下，通过控制使光学特性可变来使用。此外，在前级功率调整单元200中也同样，能在不切换光学器具208等的配置的情况下，使固定配置的光学器具208等的特性可变来使用。中级功率调整单元300也同样，能根据计数对象的通道使光学器具302、304的特性可变来使用。

〔其他的实施方式中的粒子计数器的构成〕

图9是简略地表示其他的实施方式中的粒子计数器401的立体图。在图9中，也与图1同样，省略一部分构成部件的图示。

在粒子计数器401中，照射光La的光源使用光纤激光器，该情况下的光源配置于壳体的外部(未图示)。在从未图示的光源延伸出的光纤的顶端设有头部422。该头部422固定于保持件466。因此，头部422根据选择的通道与X轴载台60联动地在X方向移动。与上述实施方式不同，在此不设有反射镜。

〔使用了捕集设备的构成例〕

图10是在一个实施方式中的粒子计数器1中使用了捕集设备124的构成例的图。在该构成例中，粒子计数器1除了具备后级功率调整单元100以外，还具备捕集设备124。需要说明的是，在此示出了一个实施方式的粒子计数器1，但也可以将捕集设备124应用于其他的实施方式中的粒子计数器401。

在本构成例中，在后级功率调整单元100中使用反射型的光学器具(作为一个例子，为分束器122)。因此，照射光La通过分束器122而被分离成射入至各流动池10a～10j的射入光和与射入光不同方向的剩余光La’，由此向各流动池10a～10j的射入光被减光。

需要说明的是，在此对全部流动池10a～10j设有分束器122，但既可以是，如之前的构成例1、构成例2那样，存在未配置分束器122的部位，也可以是，分束器122的光学特性根据配置部位而不同的方案，还可以是，混合存在供与分束器122不同的ND滤波器等配置的部位。此外，配置分束器122的角度是适当的，也可以水平地配置。而且，也可以是，分束器122是立方体型的分束器而不是板型的分束器。

在本构成例中应用的捕集设备124例如在保持件66的上表面配置于不干涉照明用透镜40的位置。捕集设备124配置于保持件66的上表面，由此与由X轴致动器62实现的光路的位置调整联动地在X方向移动。然而，如图10中的实线和双点划线所示，相对于各分束器122相对地配置于剩余光La’的分离方向。由此，就粒子计数器1而言，能使所使用的捕集设备124为最少的一个，无需按每个流动池10a～10j将捕集设备124配置于多个部位。

无论如何，这样的捕集设备124能通过约束由分束器122分离(反射)的剩余光La’来排除其不利影响(噪声的产生等)。需要说明的是，就捕集设备124而言，例如优选使用具有通过吸收激光并转换为热从而终止光束的功能的各种光学设备(称为波束捕集器、波束阻尼器、波束截断器、波束扩散器等的产品)。此外，捕集设备124的配置可以是保持件66上表面以外的部位，也可以是多个部位(按每个流动池10a～10j)。

如上所述，根据上述实施方式，能获得如下效果。

(1)就粒子计数器1而言，即使在应用了后级功率调整单元100、前级功率调整单元200、中级功率调整单元300中任一个的情况下，也能在使用共同的光源的多流动池粒子计数器中，按试样流体、粒子的每个种类在适当的照射光的条件下使用。由此能获得准确的测定结果。

(2)就粒子计数器1而言，在应用了后级功率调整单元100的情况下，预先将光学器具208等的配置固定配置于各流动池10a～10j的光路上，由此在粒子计数器1中选择计数对象的通道，仅通过使照射光La的光路移动来调整为适当的照射光La的条件(强度)。由此，能减少机构上的可动部件，并且能减少故障、调整等的工夫。

(3)就粒子计数器1而言，关于应用了前级功率调整单元200的情况、应用了中级功率调整单元300的情况，仅在需要进行照射光La的强度调整的情况下将光学器具208等配置于光路上，因此在不需要进行照射光La的强度调整的情况下，能将整个光路设为空的状态。此外，在不需要进行照射光La的强度调整的情况下，不需要特别进行机构上的动作，能谋求降低动作音、消耗能量。

(4)就粒子计数器1而言，在应用了捕集设备124的情况下，能排除由反射型的光学器具反射的光(来自分束器122的剩余光La’等)的影响，能进一步提高测定结果的准确性。

(5)此外，就粒子计数器1而言，通过由特性可变的物质构成光学器具，在不在物理上变更光学器具本身，或改变位置，或替换的情况下，通过电控制来变更光学器具的特性，由此能根据计数对象的通道来调整为适当的条件而进行计数。

本发明不受上述实施方式制约，可以进行各种各样的变形来实施。

在上述实施方式中，进行作为照射光La的条件的强度(功率)的调整，但调整的条件不限于强度(功率、密度分布)，也可以设为其他的条件(例如波长、偏振状态等)。此外，不限于光学滤波器、分束器，也可以使用能调整照射光La的条件的各种光学元件。

在上述实施方式中，在粒子计数器1中采用了多流动池80，但也可以是流动池为一个的构成。在该情况下，无需使光学系统移动，但通过应用后级功率调整单元100或前级功率调整单元200，能在流动池中流动的试样流体、粒子的种类改变的情况下，根据变化后的特性来调整照射光La的强度。

在图8的控制构成例中，也可以应用后级功率调整单元100整体能相对于多流动池80位移的机构。在该情况下，功率调整部150基于特定的通道被指定这一情况，能使后级功率调整单元100整体位移来配置在从照明用透镜40至多流动池80为止的光路上，或使其移动至偏离光路的位置。

捕集设备124不仅在应用于后级功率调整单元100的情况下配置，在使用了反射型的光学器具的情况下，也可以适当地配置于能约束这些反射光的部位。此外，根据相对于光轴的角度、与使用的光学器具的关系，也可以根据需要将捕集设备124应用于前级功率调整单元200、中级功率调整单元300。

此外，作为粒子计数器1的各构成部件的例子而列举出的材料、数值等只不过是示例，可以在实施本发明时适当地变形。

Claims (14)

1.一种粒子计数装置，使用向流路内照射的照射光对在所述流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数，其中，所述粒子计数装置具备：

流动池，具有所述流路；以及

条件调整单元，调整向所述流路内照射的所述照射光的条件。

2.根据权利要求1所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元包括光学器具，

所述光学器具配置于所述照射光的光路上，由调整从规定的光源射出的所述照射光的强度的光学滤波器和分束器中的至少一方构成。

3.根据权利要求2所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元能使所述光学器具的配置在所述光路上的穿过位置与不穿过位置之间位移，该穿过位置是供所述照射光穿过的位置，该不穿过位置是从所述光路偏离的位置。

4.一种粒子计数装置，使用向流路内照射的照射光对在所述流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数，其中，所述粒子计数装置具备：

多流动池，具有多个所述流路；

位置调整单元，对于所述多流动池，与从多个所述流路中选择的所述流路匹配地调整所述照射光的光路的位置；以及

条件调整单元，调整向所述选择的所述流路内照射的所述照射光的条件。

5.根据权利要求4所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元包括光学器具，

所述光学器具配置于所述光路上，由调整从规定的光源射出的所述照射光的强度的光学滤波器和分束器中的至少一方构成。

6.根据权利要求5所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元包括所述光学器具，

所述光学器具配置于按所述流路调整位置的所述光路上，并且具有能根据各个所述流路调整所述照射光的强度的特性。

7.根据权利要求6所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元仅在与多个所述流路中的一部分对应的所述光路上配置有所述光学器具。

8.根据权利要求7所述的粒子计数装置，其特征在于，

在与未配置所述光学器具的其他所述流路对应的所述光路上，配置有透光构件，该透光构件使所述照射光与随着穿过所述光学器具而发生的光轴的变化同步。

9.根据权利要求5至8中任一项所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元能使所述光学器具的配置在所述光路上的穿过位置与不穿过位置之间位移，该穿过位置是供所述照射光穿过的位置，该不穿过位置是从所述光路偏离的位置。

10.根据权利要求9所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元还包括位移机构，

所述位移机构使所述光学器具的配置在所述穿过位置与所述不穿过位置之间位移。

11.根据权利要求5至9中任一项所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述条件调整单元能将能调整所述照射光强度的特性不同的多个所述光学器具中的、与通过所述位置调整单元调整所述光路的位置的所述流路相应的特性的所述光学器具选择性地配置于所述光路上。

12.根据权利要求4至11中任一项所述的粒子计数装置，其特征在于，还具备：

控制单元，基于在通过所述位置调整单元调整光路的位置的选择对象的所述流路内流动的试样流体，控制由所述条件调整单元实现的条件的调整动作。

13.根据权利要求2、3、5至11中任一项所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述光学器具由分束器构成，

所述分束器通过将所述照射光分离成射入所述流路内的射入光和与射入光不同方向的剩余光来对射入光进行减光，

所述粒子计数装置还具备捕集设备，该捕集设备配置于所述分束器的所述剩余光的分离方向，吸收所述剩余光。

14.根据权利要求2、3、5至11中任一项所述的粒子计数装置，其特征在于，

所述光学器具由光学特性可变的物质构成。

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