CN116338442B - 一种dut的边界扫描测试系统及自检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及边界扫描测试治具领域，特别涉及一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法，包括工作桌面、固定部、伸缩气缸、回形架和测试部；本发明能够解决现有技术对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中存在的以下问题：需要将多根JTAG信号线和电路板芯片的多个引脚依次连接，无法实现JTAG信号线和引脚之间的同时连接，从而影响测试效率，且JTAG信号线和引脚相连接时容易出现偏差，进而影响测试精度，导致测试结果出现误差；现有技术无法根据电路板芯片的引脚之间的间距对JTAG信号线进行调节，因此无法使JTAG信号线和电路板芯片的引脚快速连接，进而影响测试效率。

Description

一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法

技术领域

本发明涉及边界扫描测试治具领域，特别涉及一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法。

背景技术

在现代电子应用系统中，电路板的设计越来越复杂，电路板芯片的管脚数和管脚密度不断提高，使用万用表、示波器测试芯片的传统探针方法已不能满足要求；因此，人们会采用边界扫描技术对电路板芯片进行相应的边界扫描测试。

在现有的技术中，对电路板芯片进行边界扫描测试时，通常需要多个DUMMY卡组成的JTAG链路对电路板进行测试；但是上述的JTAG链路不具备对单张DUMMY卡的自检能力，所以增加了调试难度而且不便于后续现场维护；当出现问题时，需要依靠该链路的JTAG逐级检测，再重新插线和配置不同长度的软件测试链路，维护效率极低。

针对上述JTAG链路不便调试与维护的问题，现有技术中也提供了相应的解决方案，即每张DUMMY卡内部都有边界扫描芯片且都对应有相应的JTAG信号线，JTAG1和JTAG2中的多个DUMMY卡分别组成自检测链路；自检测链路不限于两个，可以通过JTAG信号线组成更多自检测链路；具体的检测方式分为以下三种：单链自检测、分组检测和灵活检测。

其中，单链自检测通过一张DUMMY卡引出的四根JTAG信号线的链路，可以对单链进行检测；分组检测可以多张DUMMY卡组成一条链进行检测，可以很快排除链路不通的板卡；灵活检测可灵活设定任意位置，任意DUMMY卡的数量进行检测，检测非常的灵活。

以上检测最终定位到链路不通具体的DUMMY卡的位置或线路线路不通的位置，以此便于对不通的位置快速检修。

除此之外，电路板芯片在进行边界扫描过程中，需要将其放置在测试机器内部并进行固定，再将多根JTAG信号线分别与电路板芯片的引脚相连接，然后启动JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试。

然而现有技术中对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中，存在以下不足之处：

1、现有技术将JTAG信号线与电路板芯片的引脚相连接时，需要将多根JTAG信号线和电路板芯片的多个引脚依次连接，无法实现JTAG信号线和引脚之间的同时连接，从而影响测试效率，且JTAG信号线和引脚相连接时容易出现偏差，进而影响对电路板芯片的测试精度，导致测试结果出现误差。

2、由于不同型号的电路板芯片横截面积不同，且电路板芯片的引脚之间的间距也有所不同，而现有技术无法根据电路板芯片的引脚之间的间距对JTAG信号线进行调节，因此无法使JTAG信号线和电路板芯片的引脚快速连接，进而影响测试效率。

因此，在上述陈述的观点之下，现有技术的电路板边界扫描测试手段还有可提高的空间。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种DUT的边界扫描测试系统，包括用于放置电路板芯片的工作桌面，工作桌面上安装有用于固定电路板芯片的固定部，固定部包括滑动连接在工作桌面上端的夹持块，工作桌面上端靠近其四个拐角处均设置有伸缩气缸，伸缩气缸上端安装有回形架，回形架上设置有测试部。

所述测试部包括L形板，回形架上端沿其四边均通过位移槽滑动连接有L形板，L形板的水平段沿其长度方向开设有通槽，通槽内等间距滑动连接有多个测试筒，回形架和L形板之间设置有调节组件，调节组件包括安装在L形板竖直段远离测试筒一侧的齿条板，L形板和测试筒之间安装有间距调整组件，间距调整组件包括滑动连接在L形板下端的推板。

优选的，所述固定部还包括限位滑槽，工作桌面上端开设有多个与其对角线相重合的限位滑槽，限位滑槽内滑动连接有滑移柱，滑移柱上端安装有L形结构的夹持块，工作桌面下端中部设置有定位气缸，定位气缸的伸缩端安装有联动块，联动块和滑移柱之间铰接有推拉杆，工作桌面下端还设置有多个与推拉杆位置相对应的定位杆，定位杆下端铰接有滑动套设于推拉杆外壁的套筒。

优选的，所述调节组件还包括竖立板，回形架上端沿其四个拐角处均设置有两个相互垂直的竖立板，回形架同一侧相平行的两个竖立板之间共同转动连接有转动杆，转动杆两个端部均套设有锥齿轮，相邻两个转动杆端部的锥齿轮相啮合，转动杆外壁套设有与齿条板相啮合的圆柱齿轮。

优选的，所述测试筒滑动连接在通槽内，测试筒下端安装有测试磁片，测试筒上端设置有指示灯，指示灯和测试磁片之间连接有信号线。

优选的，所述间距调整组件还包括导向滑槽，推板上沿其长度方向等间距开设有多个与连接筒位置相对应的导向滑槽，测试筒滑动连接在导向滑槽内，推板靠近回形架中部的一侧安装有矩形筒，多个矩形筒之间共同安装有联动件，任意一个L形板外壁沿其长度方向对称设置有两个推动气缸，推动气缸的伸缩端与推板相连接。

优选的，所述导向滑槽远离回形架中部的一侧向远离推板中部的一侧倾斜，相邻两个导向滑槽远离回形架中部的一侧之间的间距逐渐增大，使得远离推板中部一侧的导向滑槽的倾斜角度大于靠近推板中部一侧的导向滑槽的倾斜角度；

相对的两个推板上的导向滑槽倾斜方向相同。

优选的，所述联动件包括第一插接板和第二插接板，任意两个相对的矩形筒内部均滑动连接有第一插接板，另外两个相对的矩形筒内部均滑动连接有第二插接板，两个第一插接板之间安装有执行板，执行板上端开设有倾斜滑槽，两个第二插接板之间设置有往复板，往复板下端安装有滑动连接在倾斜滑槽内的支撑柱。

优选的，所述第一插接板和第二插接板的上下两侧壁均沿其长度方向等间距开设有多个安装槽，安装槽内底壁等间距设置有多个顶伸弹簧杆，多个顶伸弹簧杆远离安装槽的一端共同设置有限位条，矩形筒上下两侧内壁均开设有与限位条滑移抵触的凹槽。

优选的，所述L形板和推板之间共同开设有两个沿其长度方向对称排布的插孔，插孔内通过可拆卸的方式卡接有定位柱，两个定位柱上端共同安装有提压板。

此外，本发明还提供了一种DUT的边界扫描测试方法，包括以下步骤：

S1：电路板芯片放置、固定：首先将需要测试的电路板芯片放置于工作桌面上端，然后通过固定部对电路板芯片进行夹持固定；

S2：测试系统调节：通过测试部对测试筒进行调节，使得测试筒位于电路板芯片引脚的上方；

S3：电路板芯片测试：通过测试部对电路板芯片进行边界扫描测试，并提示测试结果；

S4：电路板芯片取下：将测试完成的电路板芯片从工作桌面上取下。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

一、本发明通过通过多个夹持块同时对电路板芯片的拐角处施加挤压力可以对其进行多方位夹持固定，从而确保电路板芯片测试过程中的稳定性，避免电路板芯片发生偏移的现象；且通过滑移柱和夹持块沿限位滑槽移动可以对横截面积不同的电路板芯片进行夹持固定，从而能够增强本发明的适应性。

二、本发明通过测试筒带动测试磁片抵靠在电路板芯片的引脚上端，便于多个测试磁片和电路板芯片的多个引脚同时连接，能够提高对电路板芯片的测试效率，然后通过JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试；且通过指示灯的颜色便于提示测试人员电路板芯片是否符合测试标准。

三、本发明通过旋转转动杆带动多个L形板同步沿位移槽移动，L形板带动支撑同同步移动，以此便于对横截面积大小不同的电路板芯片进行测试。

四、本发明通过推板上的导向滑槽和L形板上的通槽之间的配合可以使测试筒沿导向滑槽进行滑动，此时推板上的多个测试筒得到等间距调整；以此便于根据电路板芯片的引脚之间的间距对测试筒及其下端的测试磁片进行调节，以便于对不同型号的电路板芯片进行边界扫描测试。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的第一结构示意图。

图2是本发明固定部的结构示意图。

图3是本发明的第二结构示意图。

图4是本发明图3的S处局部放大图。

图5是本发明的第三结构示意图。

图6是本发明图5的C处局部放大图。

图7是本发明调节组件的结构示意图。

图8是本发明L形板、测试筒和间距调整组件之间的爆炸示意图。

图9是本发明间距调整组件的结构示意图。

图10是本发明图9的D处局部放大图。

图11是本发明L形板、测试筒、推板和矩形筒之间的结构示意图。

图12是本发明图11的B处局部放大图。

图中，1、工作桌面；2、固定部；21、夹持块；22、限位滑槽；23、滑移柱；24、定位气缸；25、联动块；26、推拉杆；27、定位杆；28、套筒；3、伸缩气缸；4、回形架；5、测试部；51、L形板；52、测试筒；521、测试磁片；522、指示灯；523、信号线；53、调节组件；531、齿条板；532、竖立板；533、转动杆；534、锥齿轮；535、圆柱齿轮；54、间距调整组件；541、推板；542、导向滑槽；543、矩形筒；544、联动件；545、推动气缸；546、第一插接板；547、第二插接板；548、执行板；549、倾斜滑槽；550、往复板；551、支撑柱；552、顶伸弹簧杆；553、限位条；554、插孔；555、定位柱；556、提压板。

具体实施方式

以下结合附图1-12对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

本申请实施例公开了一种DUT的边界扫描测试系统，说明的有，本DUT的边界扫描测试系统主要是应用在对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中，在技术效果上能够首先对需要接受测试的电路板芯片进行多方位夹持固定，以确保电路板芯片在测试过程中的稳定性；此外，本发明能够对横截面积大小不同以及引脚间距不同的电路板芯片进行边界扫描测试，并显示测试结果，以便于及时提示测试人员电路板芯片是否符合测试标准；进一步的，本DUT的边界扫描测试系统还能够在根据电路板芯片的横截面积以及引脚的间距大小对测试筒52及其下端的测试磁片521进行相应的调节，使得测试磁片521与引脚精准对接，进而提高对电路板芯片的测试精度。

实施例一：

参照图1所示，一种DUT的边界扫描测试系统，包括用于放置电路板芯片的工作桌面1，工作桌面1上安装有用于固定电路板芯片的固定部2，工作桌面1上端靠近其四个拐角处均设置有伸缩气缸3，伸缩气缸3上端安装有回形架4，回形架4上设置有测试部5。

在实际应用中，首先将需要测试的电路板芯片放置在工作桌面1上端，其次通过固定部2对电路板芯片进行夹持固定；然后启动伸缩气缸3，伸缩气缸3带动回形架4和测试部5整体向下移动，随后通过测试部5对电路板芯片进行测试。

参照图2和图3所示，为了提高对电路板芯片的测试效率和测试精度，需要电路板芯片放置在工作桌面1上之后进行相应的限位固定，以便于测试部5与电路板芯片的引脚相接触；基于此，本发明提供了用于对电路板芯片进行限位固定的固定部2，具体的，

固定部2还包括限位滑槽22，工作桌面1上端开设有多个与其对角线相重合的限位滑槽22，限位滑槽22内滑动连接有滑移柱23，滑移柱23上端安装有L形结构的夹持块21，工作桌面1下端中部设置有定位气缸24，定位气缸24的伸缩端安装有联动块25，联动块25和滑移柱23之间铰接有推拉杆26。

进一步的，于本实施例中，工作桌面1下端还设置有多个与推拉杆26位置相对应的定位杆27，定位杆27下端铰接有滑动套设于推拉杆26外壁的套筒28。

本实施例中，通过定位杆27和套筒28可以形成用于对支撑推拉杆26的支点，因此伸缩气缸3通过联动块25带动推拉杆26远离夹持块21的一端向上或向下移动时，推拉杆26将沿套筒28的轴线方向移动；当推拉杆26远离夹持块21的一端向上移动时，推拉杆26远离联动块25的一端带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向远离工作桌面1中部的一侧移动，此时便于对横截面积较大的电路板芯片进行夹持；反之，当推拉杆26远离夹持块21的一端向下移动时，推拉杆26远离联动块25的一端带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向靠近工作桌面1中部的一侧移动，此时便于对横截面积较小的电路板芯片进行夹持；从而适应于不同大小的电路板芯片的夹持固定。

在具体实施过程中，电路板芯片放置在工作桌面1上端之后，使其四个拐角处分别位于限位滑槽22上方，以便于夹持块21快速抵靠在电路板芯片的拐角处；然后启动定位气缸24，定位气缸24带动联动块25向下移动，联动块25带动推拉杆26远离夹持块21的一端向下倾斜；推拉杆26远离联动块25的一端带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向靠近电路板芯片的一侧移动，并带动夹持块21抵靠在电路板芯片的拐角处；以此通过多个夹持块21同时对电路板芯片的拐角处施加挤压力可以对其进行多方位夹持固定，从而确保电路板芯片测试过程中的稳定性，避免电路板芯片发生偏移的现象。

电路板芯片测试完成之后，定位气缸24带动联动块25向上移动，联动块25通过推拉杆26带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向远离工作桌面1中部的一侧移动，以此解除夹持块21对电路板芯片施加的固定效果，以便于将电路板芯片取下。

参照图3、图4、图5和图6所示，为了增强对电路板芯片的测试效果，需要将多根JTAG信号线523分别与电路板芯片的引脚相连接，然后通过JTAG信号线523与电路板芯片的引脚形成的JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试；基于此，本发明提供了测试部5，其包括L形板51，回形架4上端沿其四边均通过位移槽滑动连接有L形板51，L形板51的水平段沿其长度方向开设有通槽，通槽内等间距滑动连接有多个测试筒52，回形架4和L形板51之间设置有调节组件53，调节组件53包括安装在L形板51竖直段远离测试筒52一侧的齿条板531，L形板51和测试筒52之间安装有间距调整组件54，间距调整组件54包括滑动连接在L形板51下端的推板541。

继续参照图4所示，进一步的，于本实施例中，测试筒52滑动连接在通槽内，测试筒52下端安装有测试磁片521，测试筒52上端设置有指示灯522，指示灯522和测试磁片521之间连接有信号线523；通过通槽可以对测试筒52进行限位，使得测试筒52只能沿通槽的长度方向滑动。

在具体实施过程中，电路板芯片固定完成之后，启动伸缩气缸3，伸缩气缸3带动回形架4、L形板51和测试筒52同步向下移动，测试筒52带动测试磁片521抵靠在电路板芯片的引脚上端，便于多个测试磁片521和电路板芯片的多个引脚同时连接，能够提高对电路板芯片的测试效率；然后启动信号线523与电路板芯片之间的JTAG链路，通过JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试。

若电路板芯片的链路正常且不存在不通的情况，则测试磁片521通过信号线523对指示灯522传输信号，此时指示灯522显示绿色，以便于提示测试人员该电路板芯片符合测试标准；反之，若电路板芯片存在链路不通的情况，测试磁片521通过信号线523对指示灯522传输信号，此时指示灯522显示红色，以便于提示测试人员该电路板芯片的JTAG链路不通，不符合测试标准。

此外，通过调节组件53和间距调整组件54可以对测试筒52进行相应的调节，从而能够根据电路板芯片的引脚调整测试筒52的位置，以便于测试筒52下端的测试磁片521与电路板芯片的引脚精准对接。

电路板芯片测试完成之后，伸缩气缸3带动回形架4、L形板51、测试筒52和测试磁片521同步向上移动复位，使得测试磁片521从电路板芯片的引脚上端取下，随后将电路板芯片取下即可。

参照图6和图7所示，由于不同型号的电路板芯片横截面积大小也有所不同，因此为了提高测试效果，需要对不同型号的电路板芯片进行边界扫描测试，进而需要根据电路板芯片的引脚对测试筒52及其下端的测试磁片521进行相应的调节；基于此，本发明提供了调节组件53，具体的，调节组件53还包括竖立板532，回形架4上端沿其四个拐角处均设置有两个相互垂直的竖立板532，回形架4同一侧相平行的两个竖立板532之间共同转动连接有转动杆533，转动杆533两个端部均套设有锥齿轮534，相邻两个转动杆533端部的锥齿轮534相啮合，转动杆533外壁套设有与齿条板531相啮合的圆柱齿轮535；通过相互啮合的锥齿轮534，转动任意一个转动杆533均可以带动其他转动杆533进行转动，从而使得多个转动杆533同步转动。

需要说明的是，转动杆533和竖立板532之间设置有限位件（图中未示出），当转动杆533旋转至一定角度之后，通过限位件可以对转动杆533进行限位，避免转动杆533随意转动而导致L形板51沿位移槽随意滑动；从而L形板51的位置调节之后可以得到限位，进而对测试筒52进行限位。

在具体实施过程中，旋转转动杆533，转动杆533带动圆柱齿轮535转动，圆柱齿轮535通过与齿条板531之间的配合可以带动L形板51沿位移槽移动，L形板51带动测试筒52同步移动；由于多个转动杆533同步转动，因此多个L形板51同步移动；当L形板51沿位移槽向靠近工作桌面1中部的一侧移动时，便于对横截面积较小的电路板芯片进行测试；当L形板51沿位移槽向远离工作桌面1中部的一侧移动时，便于对横截面积较大的电路板芯片进行测试，以此可以对不同大小的电路板芯片进行测试。

实施例二：

参照图8、图9和图11所示，在实施例一的基础上，又由于，不同型号的电路板芯片的引脚之间的间距也会有所不同，因此需要根据引脚的间距对测试筒52及其下端的测试磁片521进行相应的调整；基于此，本发明提供了间距调整组件54，具体的，间距调整组件54还包括导向滑槽542，推板541上沿其长度方向等间距开设有多个与连接筒位置相对应的导向滑槽542，测试筒52滑动连接在导向滑槽542内，推板541靠近回形架4中部的一侧安装有矩形筒543，多个矩形筒543之间共同安装有联动件544，任意一个L形板51外壁沿其长度方向对称设置有两个推动气缸545，推动气缸545的伸缩端与推板541相连接。

进一步的，于本实施例中，导向滑槽542远离回形架4中部的一侧向远离推板541中部的一侧倾斜，相邻两个导向滑槽542远离回形架4中部的一侧之间的间距逐渐增大，使得远离推板541中部一侧的导向滑槽542的倾斜角度大于靠近推板541中部一侧的导向滑槽542的倾斜角度。

需要说明的是，由于测试筒52只能沿通槽的长度方向滑动，因此推板541向靠近或工作桌面1中部的一侧移动时通过导向滑槽542对测试筒52施加挤压力，使得多个测试筒52在导向滑槽542的作用下等间距增大或减小，调整之后的多个测试筒52为等间距排布；此外，由于相对的两个推板541上的导向滑槽542倾斜方向相同，因此相对两个推板541的移动方向相同。

在具体实施过程中，启动推动气缸545，推动气缸545带动推板541向靠近或工作桌面1中部的一侧移动，推板541通过联动件544带动其他的推板541同步移动；通过推板541上的导向滑槽542与L形板51上的通槽之间的配合可以使测试筒52沿导向滑槽542进行滑动，此时推板541上的多个测试筒52得到等间距调整；以此便于根据电路板芯片的引脚之间的间距对测试筒52及其下端的测试磁片521进行调节，以便于对不同型号的电路板芯片进行边界扫描测试。

继续参照图8和图9所示，为了提高调整测试筒52间距的效率，则需要多个推板541同步移动，进而通过多个推板541同时对其内部的测试筒52进行间距调节；基于此，本发明提供了联动件544，具体的，联动件544包括第一插接板546和第二插接板547，任意两个相对的矩形筒543内部均滑动连接有第一插接板546，另外两个相对的矩形筒543内部均滑动连接有第二插接板547，两个第一插接板546之间安装有执行板548，执行板548上端开设有倾斜滑槽549，两个第二插接板547之间设置有往复板550，往复板550下端安装有滑动连接在倾斜滑槽549内的支撑柱551；本实施例中，倾斜滑槽549的倾斜角度为45°，因此往复板550沿其长度方向移动时，往复板550通过支撑柱551对倾斜滑槽549施加推挤力，从而通过支撑柱551与倾斜滑槽549之间的配合可以带动执行板548、第一插接板546以及另外两个推板541沿往复板550的宽度方向移动。

在具体实施过程中，推动气缸545带动推板541移动时，该推板541通过第一插接板546和矩形筒543之间的配合带动与其相对的推板541同步移动；与此同时，第一插接板546带动执行板548移动，执行板548通过倾斜滑槽549对支撑柱551施加挤压力，使得支撑柱551通过往复板550带动第二插接板547移动，且第二插接板547通过与其滑动连接的矩形筒543带动另外两个推板541移动；以此实现多个推板541同步移动且同时对多个测试筒52进行间距调整，从而提高对测试筒52的调节效率。

参照图10所示，由于第一插接板546和第二插接板547与矩形筒543之间为滑动连接，因此，为了便于多个推板541同步移动对测试筒52进行间距调节，需要第一插接板546和第二插接板547与矩形筒543之间为固定状态；基于此，本实施例中，在第一插接板546和第二插接板547的上下两侧壁均沿其长度方向等间距开设有多个安装槽，安装槽内底壁等间距设置有多个顶伸弹簧杆552，多个顶伸弹簧杆552远离安装槽的一端共同设置有限位条553，矩形筒543上下两侧内壁均开设有与限位条553滑移抵触的凹槽。

在实际应用中，顶伸弹簧杆552始终对限位条553施加指向远离安装槽一侧的推挤力，使得限位条553始终抵靠在凹槽内；从而通过限位条553和凹槽之间的配合可以对第一插接板546和矩形筒543之间以及第二插接板547和矩形筒543之间进行限位，避免第一插接板546和第二插接板547与矩形筒543之间为滑动状态而导致多个推板541无法同步移动；以此确保多个测试筒52同步调节。

参照图11和图12所示，又由于，本发明根据电路板芯片的横截面积大小对测试筒52及其下端的测试磁片521进行调节时，需要L形板51、推板541和测试筒52整体移动，因此需要第一插接板546和第二插接板547与矩形筒543之间不会对推板541的移动造成阻碍；基于此，本发明提供了用于L形板51和推板541之间的固定件，具体如下：L形板51和推板541之间共同开设有两个沿其长度方向对称排布的插孔554，插孔554内通过可拆卸的方式卡接有定位柱555，两个定位柱555上端共同安装有提压板556。

在具体实施过程中，需要根据电路板芯片的横截面积大小对测试筒52进行调节时，将定位柱555插入插孔554内，通过定位柱555可以对L形板51和推板541进行固定，使得L形板51移动过程中可以带动推板541和测试筒52同步移动；此时定位柱555对L形板51和推板541施加的固定力大于限位条553与凹槽之间的抵触力，因此推板541可以带动矩形筒543从第一插接板546上或第二插接板547上拔出；从而避免第一插接板546、第二插接板547与矩形筒543之间的配合对L形板51、推板541和测试筒52的整体移动造成阻碍。

需要对测试筒52及其下端的测试磁片521进行间距调节时,推板541与L形板51之间需要进行相对滑动，将定位柱555从插孔554中拔出即可解除L形板51和推板541之间的固定效果，进而不会导致定位柱555对推板541造成阻挡，操作便捷。

此外，本发明还提供了一种DUT的边界扫描测试方法，包括以下步骤：

S1：电路板芯片放置、固定：首先将需要测试的电路板芯片放置在工作桌面1上端，并使其四个拐角处分别位于限位滑槽22上方；然后启动定位气缸24，定位气缸24带动联动块25向下移动，联动块25通过推拉杆26带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向靠近电路板芯片的一侧移动，并带动夹持块21抵靠在电路板芯片的拐角处；以此通过多个夹持块21同时对电路板芯片的拐角处施加挤压力可以对其进行多方位夹持固定。

S2：测试系统调节：将定位柱555插入插孔554内，通过定位柱555可以对L形板51和推板541进行固定，然后旋转转动杆533，转动杆533通过圆柱齿轮535带动齿条板531和L形板51整体沿位移槽移动，L形板51带动测试筒52同步移动；通过控制L形板51带动推板541、测试筒52及其下端的测试磁片521向靠近或远离工作桌面1中部的一侧移动，便于对不同大小的电路板芯片进行测试。

将定位柱555从插孔554中拔出并解除L形板51和推板541之间的固定效果，此时L形板51和推板541之间相对滑动，再通过推动气缸545带动推板541向靠近或工作桌面1中部的一侧移动，推板541通过联动件544带动其他的推板541同步移动；通过推板541上的导向滑槽542与L形板51上的通槽之间的配合可以使测试筒52沿导向滑槽542进行滑动，此时推板541上的多个测试筒52得到等间距调整；以此便于根据电路板芯片的引脚之间的间距对测试筒52及其下端的测试磁片521进行调节，以便于对不同型号的电路板芯片进行边界扫描测试。

S3：电路板芯片测试：通过伸缩气缸3带动回形架4、L形板51和测试筒52同步向下移动，测试筒52带动测试磁片521抵靠在电路板芯片的引脚上端；然后启动信号线523与电路板芯片之间的JTAG链路，通过JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试。

若电路板芯片的链路正常且不存在不通的情况，则测试磁片521通过信号线523对指示灯522传输信号，此时指示灯522显示绿色，以便于提示测试人员该电路板芯片符合测试标准；反之，若电路板芯片存在链路不通的情况，测试磁片521通过信号线523对指示灯522传输信号，此时指示灯522显示红色，以便于提示测试人员该电路板芯片的JTAG链路不通，不符合测试标准。

S4：电路板芯片取下：电路板芯片测试完成之后，伸缩气缸3带动回形架4、L形板51、测试筒52和测试磁片521同步向上移动复位，使得测试磁片521从电路板芯片的引脚上端取下；随后定位气缸24带动联动块25向上移动，联动块25通过推拉杆26带动滑移柱23和夹持块21沿限位滑槽22向远离工作桌面1中部的一侧移动，以此解除夹持块21对电路板芯片施加的固定效果，以便于测试人员将电路板芯片取下。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (8)

1.一种DUT的边界扫描测试系统，包括用于放置电路板芯片的工作桌面（1），工作桌面（1）上安装有用于固定电路板芯片的固定部（2），其特征在于：固定部（2）包括滑动连接在工作桌面（1）上端的夹持块（21），工作桌面（1）上端靠近其四个拐角处均设置有伸缩气缸（3），伸缩气缸（3）上端安装有回形架（4），回形架（4）上设置有测试部（5），其中：

所述测试部（5）包括L形板（51），回形架（4）上端沿其四边均通过位移槽滑动连接有L形板（51），L形板（51）的水平段沿其长度方向开设有通槽，通槽内等间距滑动连接有多个测试筒（52），回形架（4）和L形板（51）之间设置有调节组件（53），调节组件（53）包括安装在L形板（51）竖直段远离测试筒（52）一侧的齿条板（531），L形板（51）和测试筒（52）之间安装有间距调整组件（54），间距调整组件（54）包括滑动连接在L形板（51）下端的推板（541）；

所述间距调整组件（54）还包括导向滑槽（542），推板（541）上沿其长度方向等间距开设有多个与连接筒位置相对应的导向滑槽（542），测试筒（52）滑动连接在导向滑槽（542）内，推板（541）靠近回形架（4）中部的一侧安装有矩形筒（543），多个矩形筒（543）之间共同安装有联动件（544），任意一个L形板（51）外壁沿其长度方向对称设置有两个推动气缸（545），推动气缸（545）的伸缩端与推板（541）相连接；

所述联动件（544）包括第一插接板（546）和第二插接板（547），任意两个相对的矩形筒（543）内部均滑动连接有第一插接板（546），另外两个相对的矩形筒（543）内部均滑动连接有第二插接板（547），两个第一插接板（546）之间安装有执行板（548），执行板（548）上端开设有倾斜滑槽（549），两个第二插接板（547）之间设置有往复板（550），往复板（550）下端安装有滑动连接在倾斜滑槽（549）内的支撑柱（551）。

2.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述固定部（2）还包括限位滑槽（22），工作桌面（1）上端开设有多个与其对角线相重合的限位滑槽（22），限位滑槽（22）内滑动连接有滑移柱（23），滑移柱（23）上端安装有L型结构的夹持块（21），工作桌面（1）下端中部设置有定位气缸（24），定位气缸（24）的伸缩端安装有联动块（25），联动块（25）和滑移柱（23）之间铰接有推拉杆（26），工作桌面（1）下端还设置有多个与推拉杆（26）位置相对应的定位杆（27），定位杆（27）下端铰接有滑动套设于推拉杆（26）外壁的套筒（28）。

3.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述调节组件（53）还包括竖立板（532），回形架（4）上端沿其四个拐角处均设置有两个相互垂直的竖立板（532），回形架（4）同一侧相平行的两个竖立板（532）之间共同转动连接有转动杆（533），转动杆（533）两个端部均套设有锥齿轮（534），相邻两个转动杆（533）端部的锥齿轮（534）相啮合，转动杆（533）外壁套设有与齿条板（531）相啮合的圆柱齿轮（535）。

4.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述测试筒（52）滑动连接在通槽内，测试筒（52）下端安装有测试磁片（521），测试筒（52）上端设置有指示灯（522），指示灯（522）和测试磁片（521）之间连接有信号线（523）。

5.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述导向滑槽（542）远离回形架（4）中部的一侧向远离推板（541）中部的一侧倾斜，相邻两个导向滑槽（542）远离回形架（4）中部的一侧之间的间距逐渐增大，使得远离推板（541）中部一侧的导向滑槽（542）的倾斜角度大于靠近推板（541）中部一侧的导向滑槽（542）的倾斜角度；

相对的两个推板（541）上的导向滑槽（542）倾斜方向相同。

6.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述第一插接板（546）和第二插接板（547）的上下两侧壁均沿其长度方向等间距开设有多个安装槽，安装槽内底壁等间距设置有多个顶伸弹簧杆（552），多个顶伸弹簧杆（552）远离安装槽的一端共同设置有限位条（553），矩形筒（543）上下两侧内壁均开设有与限位条（553）滑移抵触的凹槽。

7.根据权利要求1所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于：所述L形板（51）和推板（541）之间共同开设有两个沿其长度方向对称排布的插孔（554），插孔（554）内通过可拆卸的方式卡接有定位柱（555），两个定位柱（555）上端共同安装有提压板（556）。

8.一种DUT的边界扫描测试方法，包括如权利要求1-7任意一项所述的一种DUT的边界扫描测试系统，其特征在于，测试方法包括以下步骤：

S1：电路板芯片放置、固定：首先将需要测试的电路板芯片放置于工作桌面（1）上端，然后通过固定部（2）对电路板芯片进行夹持固定；

S2：测试系统调节：通过测试部（5）对测试筒（52）进行调节，使得测试筒（52）位于电路板芯片引脚的上方；

S3：电路板芯片测试：通过测试部（5）对电路板芯片进行边界扫描测试，并提示测试结果；

S4：电路板芯片取下：将测试完成的电路板芯片从工作桌面（1）上取下。