CN116129780B - 故障检测电路、显示面板和故障检测方法 - Google Patents

故障检测电路、显示面板和故障检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116129780B
CN116129780B CN202310350800.5A CN202310350800A CN116129780B CN 116129780 B CN116129780 B CN 116129780B CN 202310350800 A CN202310350800 A CN 202310350800A CN 116129780 B CN116129780 B CN 116129780B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
data
unit
scan
switching tubes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310350800.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116129780A (zh
Inventor
李泽尧
李荣荣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HKC Co Ltd
Original Assignee
HKC Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HKC Co Ltd filed Critical HKC Co Ltd
Priority to CN202310350800.5A priority Critical patent/CN116129780B/zh
Publication of CN116129780A publication Critical patent/CN116129780A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116129780B publication Critical patent/CN116129780B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

本申请公开一种故障检测电路、显示面板和故障检测方法,故障检测电路包括第一检测单元、第二检测单元和控制单元,控制单元连接于第一检测单元和第二检测单元,第一检测单元用于在控制单元的控制下对显示面板中的像素单元进行短路或断路检测,若至少一个像素单元显示异常并确定为第一异常像素单元时,控制单元控制第二检测单元重新执行检测,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示正常,则表征第一检测单元出现故障,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障,通过两个检测单元进行检测,可有效提升检测准确率,避免过度筛选。

Description

故障检测电路、显示面板和故障检测方法
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及故障检测电路、显示面板和故障检测方法。
背景技术
电子墨水技术(Electronic Paper Display,EPD)是借助环境光显示的新技术。其显示原理是将黑、白两色的带电颗粒封装于微胶囊结构中,由外加电场控制不同电荷的黑白颗粒升降移动,以呈现出黑白单色的显示效果,在电场的作用下,黑白两种不同的墨滴不停运动,当白色的墨滴上升到上表面时,所有的环境光照射到上表面被完全反射,这样就呈现白色状态,两种不同的墨滴成比例混合,就可以形成黑白及有灰度层次的不同颜色。
目前,对电子纸显示面板异常检测主要是通过设置晶体管来分别驱动数据线和扫描线,并依据显示面板的显示效果来判断整个显示区是否正常,但是这样检测是直接对成品后的电子纸显示区进行检测,在检测出现异常时,重新拆装会损坏显示区内电子纸膜的像素单元和驱动像素单元的驱动用集成电路,从而造成资源的浪费。因此,如何在电子纸成品之前进行检测以提升检测准确性是亟需解决的问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本申请提出一种可有效提升检测准确性的故障检测电路、显示面板和故障检测方法。
本申请提供一种故障检测电路,应用于包括多个像素单元以执行图像显示的显示面板,包括第一检测单元、第二检测单元和控制单元,控制单元连接于第一检测单元和第二检测单元,第一检测单元用于在控制单元的控制下对显示面板中的像素单元进行短路或断路检测,若至少一个像素单元显示异常并确定为第一异常像素单元时,控制单元控制第二检测单元重新执行检测,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示正常,则表征第一检测单元出现故障,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障。
可选地,第二检测单元执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当第一异常像素单元与第二检测单元检测到的第二异常像素单元不相同时,表征第一检测单元以及第二异常像素单元出现故障。
可选地,显示面板包括扫描测试端、数据测试端、沿第一方向延伸的多条扫描线和沿第二方向延伸的多条数据线,其中第一方向不同于第二方向,第一检测单元连接于控制单元的第一控制信号输出端、扫描测试端、数据测试端、多条数据线和多条扫描线,用于自第一控制信号输出端接收的第一控制信号并依据第一控制信号自扫描测试端接收并传输测试扫描信号以及自数据测试端接收并传输测试数据信号至像素单元,以控制像素单元进行图像显示。第二检测单元连接于控制单元的第二控制信号输出端、扫描测试端、数据测试端、多条数据线和多条扫描线,用于自第二控制信号输出端接收第二控制信号并依据第二控制信号自扫描测试端接收并传输测试扫描信号以及自数据测试端接收并传输测试数据信号至像素单元,以控制像素单元进行图像显示。
可选地,显示面板包括第一数据测试端、第二数据测试端、第一扫描测试端、第二扫描测试端、沿第一方向延伸的多条扫描线和沿第二方向延伸的多条数据线,其中,第一方向不同于第二方向,第一检测单元连接于第一扫描测试端、第一数据测试端、多条数据线和多条扫描线,用于依据控制单元输出控制信号自第一扫描测试端接收并传输第一测试扫描信号以及自第一数据测试端接收并传输第一测试数据信号至像素单元,以控制像素单元进行图像显示。第二检测单元连接于第二扫描测试端、第二数据测试端、多条数据线和多条扫描线,用于依据控制信号自第二扫描测试端接收并传输第二测试扫描信号以及自第二数据测试端接收并传输第二测试数据信号至像素单元,以控制像素单元进行图像显示。
可选地,第一检测单元包括多个第一开关管和多个第二开关管,多个第一开关管的栅极连接于第一控制信号输出端,多个第一开关管的源极连接于扫描测试端,多个第一开关管的漏极分别连接于多条扫描线,用于依据第一控制信号导通并自扫描测试端接收测试扫描信号并传输至像素单元。多个第二开关管的栅极连接于第一控制信号输出端,多个第二开关管的源极连接于数据测试端,多个第二开关管的漏极分别连接于多条数据线,用于依据第一控制信号导通并自数据测试端接收测试数据信号并传输至像素单元。
可选地,第二检测单元包括多个第三开关管和多个第四开关管,多个第三开关管的栅极连接于第二控制信号输出端,多个第三开关管的源极连接于扫描测试端,多个第三开关管的漏极分别连接于多条扫描线,用于依据第二控制信号导通并自扫描测试端接收测试扫描信号并传输至像素单元,多个第四开关管的栅极连接于第二控制信号输出端,多个第四开关管的源极连接于数据测试端,多个第四开关管的漏极分别连接于多条数据线,用于依据第二控制信号导通并自数据测试端接收测试数据信号并传输至像素单元。
可选地,显示面板包括相邻设置的显示区域与非显示区域,第一检测单元与第二检测单元相邻设置并设置于显示区域同一侧的非显示区域,多个第一开关管与多个第三开关管依序一一对应设置,任意对应设置的第一开关管与第三开关管的源极连接于扫描测试端,漏极连接于同一条扫描线,用于不同时传输测试扫描信号,多个第二开关管与多个第四开关管依序一一对应设置,任意对应设置的第二开关管与第四开关管的源极连接于数据测试端,漏极连接于相同的数据线,用于不同时传输测试数据信号。
可选地,第一检测单元与第二检测单元相对设置,分别设置于显示区域不同侧边的非显示区域。
可选地,像素单元包括多个微型液态胶囊,微型液态胶囊为密封的球体,内部封装有白色颗粒、黑色颗粒和透明分散媒,其中,白色颗粒和黑色颗粒为两种带有不同电荷的颗粒,白色颗粒和黑色颗粒完全浸泡于透明分散媒内,并依据电场力的作用在透明分散媒内进行相应的移动。
本申请还公开一种显示面板,包括数据驱动电路、扫描驱动电路呈阵列排布的多个像素单元和前述的故障检测电路,扫描驱动电路用于输出扫描信号至像素单元,数据驱动电路用于输出数据信号至像素单元,像素单元用于在扫描信号的控制下接收数据信号进行图像显示,故障检测电路用于对像素单元进行短路或断路检测。
本申请还提供一种故障检测方法,应用于前述故障检测电路,包括:控制第一检测单元对显示面板内的像素单元进行短路或断路检测,若所有像素单元显示正常则表征像素单元无故障;若第一检测单元检测到至少一个像素单元显示异常,确定为第一异常像素单元,且控制第二检测单元重新进行检测;若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示正常,表征第一检测单元出现故障;若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障。
可选地,“控制第二检测单元重新进行检测”包括:控制第二检测单元对显示区域内的像素单元重新进行检测;“若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示正常,则表征第一检测单元出现故障”包括:若第二检测单元检测到所有像素单元显示正常,表征第一异常像素单元无故障,且第一检测单元出现故障。
可选地,“若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障”包括:若第二检测单元执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当第一异常像素单元与第二检测单元检测到的第二异常像素单元不相同时,表征第一检测单元以及第二异常像素单元出现故障。
相较于现有技术问题,通过第一检测单元与第二检测单元分别对显示面板中的像素单元进行故障检测,可有效提升显示面板的故障检测质量,并控制第二检测单元对异常像素单元进行复检,有效降低了由于第一检测单元故障导致对显示面板的过度筛选而造成的材料浪费,节省了显示面板生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例中所
需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请
的一些实施例,对于本领普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前
提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种显示面板的侧面结构示意图;
图2为图1所示显示面板中阵列基板的平面布局示意图;
图3为图2中显示介质层的结构示意图;
图4为本申请第二实施例提供的一种故障检测电路的电路结构示意图;
图5为本申请第三实施例提供的如图4中故障检测电路的电路结构示意图;
图6为图5中故障检测电路的平面布局示意图;
图7为本申请第四实施例提供如图4中故障检测电路的平面布局示意图;
图8为本申请第五实施例提供的一种故障检测电路的电路结构示意图;
图9为图8中故障检测电路的布局示意图;
图10为本申请第六实施例提供的如图8中故障检测电路平面布局示意图;
图11为本申请第七实施例提供的一种故障检测方法流程图。
附图标记:
显示面板-10、显示区域-10a、非显示区域-10b、阵列基板-10c、对向基板-10d、显示介质层-10e、m条数据线-S1~Sm、n条扫描线-G1~Gn、像素单元-P、时序控制电路-11、数据驱动电路-12、扫描驱动电路-13、微型液态胶囊-e、白色颗粒-a、黑色颗粒-b、透明分散媒-c、故障检测电路-20、第一检测单元-21、第二检测单元-22、控制单元-23、第一开关管-T1、第二开关管-T2、第三开关管-T3、第四开关管-T4、数据测试端-14、第一数据测试端-14a、第二数据测试端-14b、扫描测试端-15、第一扫描测试端-15a、第二扫描测试端-15b、数据信号线-140、扫描信号线-150、第一控制信号输出端-231、第二控制信号输出端-232、开关管组-TB、第一数据信号线-141、第二数据信号线-142、第一扫描信号线-151、第二扫描信号线-152。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
以下各实施例的说明是参考附加的图示,用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。本申请中所提到的方向用语,例如,“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“侧面”等,仅是参考附加图式的方向,因此,使用的方向用语是为了更好、更清楚地说明及理解本申请,而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸地连接,或者一体地连接;可以是机械连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。
此外,本申请中使用的术语“包括”、“可以包括”、“包含”、或“可以包含”表示公开的相应功能、操作、元件等的存在,并不限制其他的一个或多个更多功能、操作、元件等。此外,术语“包括”或“包含”表示存在说明书中公开的相应特征、数目、步骤、操作、元素、部件或其组合,而并不排除存在或添加一个或多个其他特征、数目、步骤、操作、元素、部件或其组合,意图在于覆盖不排他的包含。此外,当描述本申请的实施方式时,使用“可”表示“本申请的一个或多个实施方式”。并且,用语“示例性的”旨在指代示例或举例说明。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本申请。
请参阅图1,图1为本申请实施例提供的一种显示面板的侧面结构示意图。如图1所示,显示面板10包括图像用显示区域10a与非显示区域10b。显示区域10a用于执行图像显示,非显示区域10b环绕设置于显示区域10a周围以设置其他辅助部件或者模组。具体地,显示面板10包括有阵列基板(Array substrate, AS)10c与对向基板10d,以及夹设于阵列基板10c与对向基板10d之间的显示介质层10e。阵列基板10c与对向基板10d上设置驱动元件依据数据信号(Data)产生相应的电场,从而驱动显示介质层10e中透射相应灰度的光线,以执行图像显示。
请参阅图2,图2为图1所示显示面板中阵列基板的平面布局示意图。如图2所示,阵列基板10c中对应图像显示区域10a包括多个呈矩阵排列的m*n像素单元P、m条数据线S1~Sm、n条扫描线G1~Gn,m、n为大于1的自然数。
其中,该n条扫描线G1~Gn沿第一方向F1延伸且沿第二方向F2相互绝缘且平行排列,该m条数据线S1~Sm沿第二方向F2延伸且沿第一方向F1相互绝缘且平行排列,所述第一方向F1与第二方向F2相互垂直。
对应显示面板10的非显示区域10b(图1),进一步包括的用于驱动像素单元进行图像显示的时序控制电路11、数据驱动电路12以及设置于阵列基板10c的扫描驱动电路13。
其中,时序控制电路11电性连接于数据驱动电路12与扫描驱动电路13,用于控制数据驱动电路12与扫描驱动电路13的工作时序,也即是输出对应的时序控制信号至数据驱动电路12至扫描驱动电路13,以控制何时输出对应的扫描信号以及数据信号。
数据驱动电路12与该m条数据线S1~Sm电性连接,用于将待显示用的数据信号(Data)通过该m条数据线S1~Sm以数据电压的形式传输至该多个像素单元P。
扫描驱动电路13用于与该n条扫描线G1~Gn电性连接,用于通过该n条扫描线G1~Gn输出扫描信号用于控制像素单元P何时接收数据信号。其中,扫描驱动电路13按照位置排列顺序自n条扫描线G1~Gn按照扫描周期依次自扫描线G1、G2、……,Gn输出扫描信号。
本实施例中,扫描驱动电路13中的电路元件与阵列基板10c中的像素单元P同一制程制作于阵列基板10c中,也即是GOA(Gate Driver on Array)技术。
请参阅图3,图3为图2中显示介质层的结构示意图。
如图3所示,显示介质层10e为电子纸膜片,包括多个微型液态胶囊e,微型液态胶囊e为密封的球体,内部封装有白色颗粒a、黑色颗粒b和透明分散媒c。其中,白色颗粒a和黑色颗粒b为两种带有不同电荷的颗粒。例如,白色颗粒a带正电,黑色颗粒b带负电或者白色颗粒a带负电,黑色颗粒b带正电。白色颗粒a和黑色颗粒b完全浸泡于透明分散媒c内,并能够在透明分散媒c内自由移动。当微型液态胶囊e两端的电极形成电场时,带正电的白色颗粒a和点负电的黑色颗粒b在电场力的作用下进行相应的移动,每一个微型液态胶囊e靠近对向基板10d一侧会呈现一定程度的黑色或者白色,最后所有微型液态胶囊e在对向基板10d一侧共同形成一定图像。
请参阅图4,图4为本申请第二实施例提供的一种故障检测电路的电路结构示意图。如图4所示,故障检测电路20设置于显示面板10的非显示区域10b,故障检测电路20包括第一检测单元21和控制单元23,其中,控制单元23连接于第一检测单元21,第一检测单元21连接于数据测试端14、扫描测试端15、m条数据线S1~Sm和n条扫描线G1~Gn,用于自控制单元23接收第一控制信号,并在第一控制信号的控制下将m条数据线S1~Sm与n条扫描线G1~Gn在交叉位置出电性连接,并用于自数据测试端14接收测试数据信号、自扫描测试端15接收测试扫描信号,显示面板10中像素单元P依据测试扫描信号与测试数据信号进行图像显示,依据图像显示结果判断某一行或多行扫描线或数据线出现断路或短路故障。其中,数据测试端14和扫描测试端15用于连接外部信号输出单元,用于自外部信号输出单元接收测试扫描信号和测试数据信号并传输至像素单元P。
第一检测单元21用于在控制单元23的控制下对显示区域内的像素单元进行短路或断路检测识别,若至少一个像素单元显示异常并确定为第一异常像素单元时,控制单元23控制第二检测单元22重新执行检测,若第二检测单元22检测到第一异常像素单元显示正常,则表征第一检测单元21出现故障,若第二检测单元22检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障。第二检测单元22执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当第一异常像素单元与第二检测单元22检测到的第二异常像素单元不相同时,表征第一检测单元21以及第二异常像素单元出现故障。
在进行检测时,当某一行像素单元P显示的颜色与相邻像素单元显示颜色明显不同时,表征控制该行像素单元P进行图像显示的扫描线G出现故障,当某一列像素单元P显示的颜色与相邻像素单元显示的颜色明显不同时,表征控制该列像素单元P进行图像显示的数据线S出现故障。例如当某一行像素单元显示为纯白色而相邻的多行像素单元显示为黑色时,表征该行像素单元P对应的扫描线G断路或短路。当某一列像素单元显示为纯白色而相邻的多列像素单元显示为黑色时,表征该列像素单元P对应的扫描线G断路或短路。
具体地,第一检测单元21包括多个第一开关管T1和多个第二开关管T2,第一开关管T1的栅极连接于控制单元23,第一开关管T1的源极连接于扫描测试端15,第一开关管T1的漏极连接于显示面板10中的扫描线G,用于依据控制单元23输出的第一控制信号导通,将扫描测试端15输出的测试扫描信号传输至显示面板10中的像素单元P。
第二开关管T2的栅极连接于控制单元23,第二开关管T2的源极连接于数据测试端14,第二开关管T2的漏极连接于显示面板10中的数据线S,用于依据控制单元23输出的第二控制信号导通,将数据测试端14输出的测试数据信号传输至显示面板10中的像素单元P。像素单元P依据接收的测试数据信号与测试扫描信号进行图像显示。其中,第一检测单元21包括n个第一开关管T1和m个第二开关管T2,n个第一开关管T1分别与n条扫描线G1~Gn连接,m个第二开关管T2分别与m条数据线S1~Sm连接。
请参阅图5,图5为本申请第三实施例提供的如图4中故障检测电路的电路结构示意图。如图5所示,显示面板10还包括数据测试端14和扫描测试端15,故障检测电路20包括第一检测单元21、第二检测单元22和控制单元23,其中,控制单元23连接于第一检测单元21和第二检测单元22,用于控制第一检测单元21或第二检测单元22对显示区域10a中的像素单元P进行故障检测。
第一检测单元21连接于控制单元23的第一控制信号输出端231、m条数据线S1~Sm、n条扫描线G1~Gn,并经数据信号线140连接于数据测试端14、经扫描信号线150连接于扫描测试端15,用于自第一控制信号输出端231接收第一控制信号,并在第一控制信号的控制下将m条数据线S1~Sm与n条扫描线G1~Gn在交叉位置出电性连接,并用于自数据测试端14接收测试数据信号、自扫描测试端15接收测试扫描信号,显示面板10中像素单元P依据测试扫描信号与测试数据信号进行图像显示,依据图像显示结果判断某一行或多行扫描线或数据线出现断路或短路故障。其中,数据测试端14和扫描测试端15用于连接外部信号输出单元,用于自外部信号输出单元接收测试扫描信号和测试数据信号并传输至像素单元P。
第二检测单元22连接于控制单元23的第二控制信号输出端232、m条数据线S1~Sm和n条扫描线G1~Gn,并经数据信号线140连接于数据测试端14、经扫描信号线150连接于扫描测试端15,用于自第二控制信号输出端232接收第二控制信号,并在第二控制信号的控制下将m条数据线S1~Sm与n条扫描线G1~Gn在交叉位置出电性连接,并用于自数据测试端14接收测试数据信号、自扫描测试端15接收测试扫描信号,显示面板10中像素单元P依据测试扫描信号与测试数据信号进行图像显示,依据图像显示结果判断某一行或多行扫描线或数据线出现断路或短路故障。
当某一行像素单元P显示的颜色与相邻像素单元显示颜色明显不同时,表征控制该行像素单元P进行图像显示的扫描线G出现故障,当某一列像素单元P显示的颜色与相邻像素单元显示的颜色明显不同时,表征控制该列像素单元P进行图像显示的数据线S出现故障。例如当某一行像素单元显示为纯白色而相邻的多行像素单元显示为黑色时,表征该行像素单元P对应的扫描线G断路或短路。当某一列像素单元显示为纯白色而相邻的多列像素单元显示为黑色时,表征该列像素单元P对应的扫描线G断路或短路。
当第一检测单元21与第二检测单元22对显示面板10的检测结果均为无异常时,表征显示面板10无短路或断路故障,当第一检测单元21与第二检测单元22对显示面板10的检测结果为相同行或列的像素单元出现异常时,表征显示面板10有短路或短路故障。
当第一检测单元21对显示面板10的检测结果为异常,第二检测单元22对显示面板的检测结果为无异常时,表征第一检测单元21出现故障,显示面板10无故障。
当第一检测单元21对显示面板的检测结果为异常,第二检测单元对显示面板10的检测结果也为异常,但是异常的像素单元位于不同行或不同列,表征显示面板10与第一检测单元21均出现故障。
通过第一检测单元21与第二检测单元22分别对显示面板10中的像素单元进行故障检测,可有效提升显示面板10的故障检测质量,并控制第二检测单元22对异常像素单元进行复检,有效降低了由于第一检测单元21故障导致对显示面板10的过度筛选而造成的材料浪费,节省了显示面板10生产成本。
具体地,第一检测单元21包括多个第一开关管T1和多个第二开关管T2,第一开关管T1的栅极连接于第一控制信号输出端231,第一开关管T1的源极经扫描信号线150连接于扫描测试端15,第一开关管T1的漏极连接于显示面板10中的扫描线G,用于依据控制单元23输出的第一控制信号导通,将扫描测试端15输出的测试扫描信号传输至显示面板10中的像素单元P。
第二开关管T2的栅极连接于第一控制信号输出端231,第二开关管T2的源极经数据信号线140连接于数据测试端14,第二开关管T2的漏极连接于显示面板10中的数据线S,用于依据控制单元23输出的第二控制信号导通,将数据测试端14输出的测试数据信号传输至显示面板10中的像素单元P。像素单元P依据接收的测试数据信号与测试扫描信号进行图像显示。其中,第一检测单元21包括n个第一开关管T1和m个第二开关管T2,n个第一开关管T1分别与n条扫描线G1~Gn连接,m个第二开关管T2分别与m条数据线S1~Sm连接。
第二检测单元22包括多个第三开关管T3和多个第四开关管T4,第三开关管T3的栅极连接于第二控制信号输出端232,第三开关管T3的源极经扫描信号线150连接于扫描测试端15,第三开关管T3的漏极连接于显示面板10中的扫描线G,用于依据控制单元23输出的第二控制信号导通,将扫描测试端15输出的测试扫描信号传输至显示面板10中的像素单元P。
第四开关管T4的栅极连接于第二控制信号输出端232,第四开关管T4的源极经数据信号线140连接于数据测试端14,第四开关管T4的漏极连接于显示面板10中的数据线S,用于依据控制单元23输出的第二控制信号导通,将数据测试端14输出的测试数据信号传输至显示面板10中的像素单元P。像素单元P依据接收的测试数据信号与测试扫描信号进行图像显示。
其中,第二检测单元22包括n个第三开关管T3和m个第四开关管T4,n个第三开关管T3分别与n条扫描线G1~Gn连接,m个第四开关管T4分别与m条数据线S1~Sm连接。
请参阅图6,图6为图5中故障检测电路的平面布局示意图。
如图6所示,第一检测单元21与第二检测单元22相邻且设置于邻近显示区域10a的同一侧。在第一检测单元21中,n个第一开关管T1沿第一方向F1依次排列,分别连接于扫描信号线150、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第二开关管T2沿第一方向F1依次排列,且与n个第一开关管T1设置于同一行,分别连接于数据信号线140、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
在第二检测单元22中,n个第三开关管T3与n个第一开关管T1沿第二方向F2间隔预设距离并依序一一对应设置,分别连接于扫描信号线150、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第四开关管T4与m个第二开关管T2沿第二方向F2间隔预设距离一一对应设置,且与n个第三开关管T3设置于同一行,分别连接于数据信号线140、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
其中,将间隔预设距离并依序一一对应设置的第一开关管T1与第三开关管T3视为一个开关管组TB,开关管组TB中的第一开关管T1与第三开关管T3的源极经同一条扫描信号线150连接于扫描驱动电路13,漏极连接于同一条扫描线,用于不同时自扫描驱动电路13接收测试扫描信号并传输至像素单元P,即当控制单元23输出第一控制信号至第一开关管T1时,第一开关管T1导通并传输测试扫描信号,当控制单元输出第二控制信号至第三开关管T3时,第三开关管T3导通并传输测试扫描信号。
将间隔预设距离并依序一一对应设置的第二开关管T2与第四开关管T4视为一个开关管组TB,开关管组TB中的第二开关管T2与第四开关管T4的源极经同一条数据信号线140连接于数据驱动电路12,漏极连接于同一条数据线,用于不同时接收测试数据信号并传输至像素单元P,即当控制单元23输出第一控制信号至第二开关管T2时,第二开关管T2导通并传输测试数据信号,当控制单元输出第二控制信号至第四开关管T4时,第四开关管T4导通并传输测试数据信号。
请参阅图7,图7为本申请第四实施例提供如图4中故障检测电路的平面布局示意图。如图7所示,第一检测单元21和第二检测单元22相对设置,分别设置于显示区域10a的不同侧。在第一检测单元21中,n个第一开关管T1沿第一方向F1依次排列,分别连接于扫描信号线150、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第二开关管T2沿第一方向F1依次排列,且与n个第一开关管T1设置于同一行,分别连接于数据信号线140、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
请参阅图8,图8为本申请第五实施例提供的一种故障检测电路的电路结构示意图。如图8所示,显示面板10还包括第一数据测试端14a、第二数据测试端14b、第一扫描测试端15a和第二扫描测试端15b,故障检测电路20包括第一检测单元21、第二检测单元22和控制单元23,其中,控制单元23连接于第一检测单元21和第二检测单元22,用于控制第一检测单元21或第二检测单元22对显示区域10a中的像素单元P进行故障检测。
具体地,第一检测单元21经第一数据信号线141连接于第一数据测试端14a,经第一扫描信号线151连接于第一扫描测试端15a,并连接于m条数据线S1~Sm和n条扫描线G1~Gn,用于自控制单元23接收控制信号,并在依据控制信号将m条数据线S1~Sm与n条扫描线G1~Gn在交叉位置处电性连接,并用于自第一数据测试端14a接收第一测试数据信号、自第一扫描测试端15a接收第一测试扫描信号,显示面板10中像素单元P依据第一测试扫描信号与第一测试数据信号进行图像显示,依据图像显示结果判断某一行或多行扫描线或数据线出现断路或短路故障。其中,第一数据测试端14a、第二数据测试端14b、第一扫描测试端15a和第二扫描测试端15b用于连接外部信号输出单元,用于自外部信号输出单元接收第一测试数据信号第二测试数据信号、第一测试扫描信号和第二测试扫描信号并传输至像素单元P。
第二检测单元22经第二数据信号线142连接于的第二数据测试端14b、经第二扫描信号线152连接于的第二扫描测试端15b,并连接于m条数据线S1~Sm和n条扫描线G1~Gn,用于自控制单元23接收控制信号,并依据控制信号将m条数据线S1~Sm与n条扫描线G1~Gn在交叉位置处电性连接,并用于自第二数据测试端14b接收第二测试数据信号、自第二扫描测试端15b接收第二测试扫描信号,显示面板10中像素单元P依据第二测试扫描信号与第二测试数据信号进行图像显示,依据图像显示结果判断某一行或多行扫描线或数据线出现断路或短路故障。
具体地,第一检测单元21包括多个第一开关管T1和多个第二开关管T2,第一开关管T1的栅极连接于控制单元23,第一开关管T1的源极经第一扫描信号线151连接于第一扫描测试端15a,第一开关管T1的漏极连接于显示面板10中的扫描线G,用于依据控制单元23输出的控制信号导通,将输出的第一测试扫描信号传输至显示面板10中的像素单元P。
第二开关管T2的栅极连接于控制单元23,第二开关管T2的源极经第一数据信号线141连接于第一数据测试端14a,第二开关管T2的漏极连接于显示面板10中的数据线S,用于依据控制单元23输出的控制信号导通,将输出的第一测试数据信号传输至显示面板10中的像素单元P。像素单元P依据接收的第一测试数据信号与第一测试扫描信号进行图像显示。其中,第一检测单元21包括n个第一开关管T1和m个第二开关管T2,n个第一开关管T1分别与n条扫描线G1~Gn连接,m个第二开关管T2分别与m条数据线S1~Sm连接。
第二检测单元22包括多个第三开关管T3和多个第四开关管T4,第三开关管T3的栅极连接于控制单元23,第三开关管T3的源极经第二扫描信号线152连接于第二扫描测试端15b,第三开关管T3的漏极连接于显示面板10中的扫描线G,用于依据控制单元23输出的控制信号导通,将输出的第二测试扫描信号传输至显示面板10中的像素单元P。
第四开关管T4的栅极连接于控制单元23,第四开关管T4的源极经第二数据信号线142连接于第二数据测试端14b,第四开关管T4的漏极连接于显示面板10中的数据线S,用于依据控制单元23输出的控制信号导通,以将输出的第二测试数据信号传输至显示面板10中的像素单元P。像素单元P依据接收的第二测试数据信号与第二测试扫描信号进行图像显示。
其中,第二检测单元22包括n个第三开关管T3和m个第四开关管T4,n个第三开关管T3分别与n条扫描线G1~Gn连接,m个第四开关管T4分别与m条数据线S1~Sm连接。
请参阅图9,图9为图8中故障检测电路的布局示意图。
如图9所示,第一检测单元21与第二检测单元22相邻且设置于邻近显示区域10a的同一侧。在第一检测单元21中,n个第一开关管T1沿第一方向F1依次排列,分别连接于第一扫描信号线151、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第二开关管T2沿第一方向F1依次排列,且与n个第一开关管T1设置于同一行,分别连接于第一数据信号线141、控制单元23和m条数据线S1~Sm。第一开关管T1和第二开关管T2的栅极连接于同一条线。
在第二检测单元22中,n个第三开关管T3与n个第一开关管T1沿第二方向F2间隔预设距离并依序一一对应设置,分别连接于第二扫描信号线152、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第四开关管T4与m个第二开关管T2沿第二方向F2间隔预设距离一一对应设置,且与n个第三开关管T3设置于同一行,分别连接于第二数据信号线142、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
其中,将间隔预设距离并依序一一对应设置的第一开关管T1与第三开关管T3视为一个开关管组TB,开关管组TB中的第一开关管T1与第三开关管T3的源极分别经第一扫描信号线151和第二扫描信号线152连接于扫描驱动电路13,漏极连接于同一条扫描线,用于不同时自扫描驱动电路13接收测试扫描信号并传输至像素单元P,即当控制单元23输出第一控制信号至第一开关管T1时,第一开关管T1导通自第一扫描信号线151接收测试扫描信号并传输至像素单元P,当控制单元输出第二控制信号至第三开关管T3时,第三开关管T3导通并自第二扫描信号线152接收测试扫描信号并传输像素单元P。
将间隔预设距离并依序一一对应设置的第二开关管T2与第四开关管T4视为一个开关管组TB,开关管组TB中的第二开关管T2与第四开关管T4的源极分别经第一数据信号线141和第二数据信号线142连接于数据驱动电路12,漏极连接于同一条数据线,用于不同时接收测试数据信号并传输至像素单元P,即当控制单元23输出第一控制信号至第二开关管T2时,第二开关管T2导通并自第一数据信号线141接收测试数据信号并传输至像素单元P,当控制单元输出第二控制信号至第四开关管T4时,第四开关管T4导通自第二数据信号线142接收测试数据信号并传输像素单元P。
请参阅图10,图10为本申请第六实施例提供的如图8中故障检测电路平面布局示意图。如图10所示,第一检测单元21和第二检测单元22相对设置,分别设置于显示区域10a的不同侧。在第一检测单元21中,n个第一开关管T1沿第一方向F1依次排列,分别连接于第一扫描信号线151、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第二开关管T2沿第一方向F1依次排列,且与n个第一开关管T1设置于同一行,分别连接于第一数据信号线141、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
在第二检测单元22中,n个第三开关管T3沿第一方向F1依次排列,分别连接于第二扫描信号线152、控制单元23和n条扫描线G1~Gn。m个第四开关管T4沿第一方向F1依次排列,且与n个第三开关管T3设置于同一行,分别连接于第二数据信号线142、控制单元23和m条数据线S1~Sm。
请参阅图11,图11为本申请第七实施例提供的一种故障检测方法流程图。如图11所示,通过故障检测电路20对显示面板10进行短路或短路检测,具体步骤如下:
S101,控制第一检测单元对显示面板内的像素单元进行短路或断路检测,若所有像素单元显示正常则表征像素单元无故障。
通过控制单元23输出第一控制信号至第一检测单元21,第一检测单元21依据第一控制信号将所有第一开关管T1与所有第二开关管T2打开,使扫描测试端15经n个第一开关管T1连接到n条扫描线G1~Gn,使数据测试端14经m个第二开关管T2连接到m条数据线S1~Sm,n条扫描线G1~Gn和m条数据线S1~Sm在显示区域10a相互短接。
扫描测试端15经多个第一开关管T1输出测试扫描信号至多个像素单元P,数据测试端14经多个第二开关管T2输出测试数据信号至多个像素单元P,当显示面板10显示纯色画面即全为黑色或全为白色时,表征显示面板10中像素单元P无短路或断路故障。
S102,若第一检测单元检测到至少一个像素单元显示异常,确定为第一异常像素单元,且控制第二检测单元重新进行检测。
当显示面板10显示出现白色条纹或黑色条纹时,表征显示面板10中像素单元P可能出现故障。
S103,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示正常,表征第一检测单元出现故障。
当第一检测单元21检测到第一异常像素单元时即检测到显示面板10出现故障时,控制单元23输出第二控制信号至第二检测单元22,第二检测单元22依据第二控制信号将所有第三开关管T3与所有第四开关管T4打开,使扫描测试端15经n个第三开关管T3连接到n条扫描线G1~Gn,使数据测试端14经m个第四开关管T4连接到m条数据线S1~Sm,n条扫描线G1~Gn和m条数据线S1~Sm在显示区域10a相互短接。
扫描测试端15经多个第三开关管T3输出测试扫描信号至多个像素单元P,数据测试端14经多个第四开关管T4输出测试数据信号至多个像素单元P,当显示面板10显示纯色画面即全为黑色或全为白色时,表征显示面板10无短路或断路故障,则表征第一检测单元21出现故障,显示面板10中像素单元P无故障,也即是第一异常像素单元无故障。
S104,若第二检测单元检测到第一异常像素单元显示异常,则表征第一异常像素单元出现故障。
当第二检测单元22控制显示面板10显示出现白色条纹或黑色条纹且条纹的位置与显示面板10第一次检测出现条纹位置相同时,表征第一异常像素单元出现故障,第一检测单元21无故障。
若第二检测单元22执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当第一异常像素单元与第二检测单元检测到的第二异常像素单元不相同时,表征第一检测单元以及第二异常像素单元出现故障,也即是当第二检测单元22控制显示面板10显示出现白色条纹或黑色条纹且条纹的位置与显示面板10第一次检测出现条纹位置不同时,表征第一检测单元21和显示面板10均出现故障。
通过第二检测单元22对第一检测单元21检测过的显示面板10再进行检测可有效提升第一检测单元21的检测质量,解决了由于第一检测单元21故障导致对显示面板10的过度筛选而造成的材料浪费,有效节省了显示面板10材料的浪费。
应当理解的是,本发明的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (11)

1.一种故障检测电路,应用于包括多个像素单元以执行图像显示的显示面板,其特征在于,包括第一检测单元、第二检测单元和控制单元,所述控制单元连接于所述第一检测单元和所述第二检测单元,所述第一检测单元用于在所述控制单元的控制下对所述显示面板中的所述像素单元进行短路或断路检测,若至少一个所述像素单元显示异常并确定为第一异常像素单元时,所述控制单元控制所述第二检测单元重新执行检测,若所述第二检测单元检测到所述第一异常像素单元显示正常,则表征所述第一检测单元出现故障,若所述第二检测单元检测到所述第一异常像素单元显示异常,则表征所述第一异常像素单元出现故障。
2.如权利要求1所述的故障检测电路,其特征在于,所述第二检测单元执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当所述第一异常像素单元与所述第二检测单元检测到的第二异常像素单元不相同时,表征所述第一检测单元以及所述第二异常像素单元出现故障。
3.如权利要求2所述的故障检测电路,其特征在于,所述显示面板包括扫描测试端、数据测试端、沿第一方向延伸的多条扫描线和沿第二方向延伸的多条数据线,其中所述第一方向不同于所述第二方向;
所述第一检测单元连接于所述控制单元的第一控制信号输出端、所述扫描测试端、所述数据测试端、所述多条数据线和所述多条扫描线,用于自所述第一控制信号输出端接收第一控制信号并依据所述第一控制信号自所述扫描测试端接收并传输测试扫描信号以及自所述数据测试端接收并传输测试数据信号至所述像素单元,以控制所述像素单元进行图像显示;
所述第二检测单元连接于所述控制单元的第二控制信号输出端、所述扫描测试端、所述数据测试端、所述多条数据线和所述多条扫描线,用于自所述第二控制信号输出端接收第二控制信号并依据所述第二控制信号自所述扫描测试端接收并传输所述测试扫描信号以及自所述数据测试端接收并传输所述测试数据信号至所述像素单元,以控制所述像素单元进行图像显示。
4.如权利要求2所述的故障检测电路,其特征在于,所述显示面板包括第一数据测试端、第二数据测试端、第一扫描测试端、第二扫描测试端、沿第一方向延伸的多条扫描线和沿第二方向延伸的多条数据线,其中,所述第一方向不同于所述第二方向;
所述第一检测单元连接于第一扫描测试端、第一数据测试端、所述多条数据线和所述多条扫描线,用于依据控制单元输出的控制信号自所述第一扫描测试端接收并传输第一测试扫描信号以及自所述第一数据测试端接收并传输第一测试数据信号至所述像素单元,以控制所述像素单元进行图像显示;
所述第二检测单元连接于第二扫描测试端、第二数据测试端、所述多条数据线和所述多条扫描线,用于依据所述控制信号自所述第二扫描测试端接收并传输第二测试扫描信号以及自所述第二数据测试端接收并传输第二测试数据信号至所述像素单元,以控制所述像素单元进行图像显示。
5.如权利要求3所述的故障检测电路,其特征在于,所述第一检测单元包括多个第一开关管和多个第二开关管,所述多个第一开关管的栅极连接于所述第一控制信号输出端,所述多个第一开关管的源极连接于所述扫描测试端,所述多个第一开关管的漏极分别连接于所述多条扫描线,用于依据所述第一控制信号导通并自所述扫描测试端接收所述测试扫描信号并传输至所述像素单元;
所述多个第二开关管的栅极连接于所述第一控制信号输出端,所述多个第二开关管的源极连接于所述数据测试端,所述多个第二开关管的漏极分别连接于所述多条数据线,用于依据所述第一控制信号导通并自所述数据测试端接收所述测试数据信号并传输至所述像素单元。
6.如权利要求5所述的故障检测电路,其特征在于,所述第二检测单元包括多个第三开关管和多个第四开关管,所述多个第三开关管的栅极连接于所述第二控制信号输出端,所述多个第三开关管的源极连接于扫描测试端,所述多个第三开关管的漏极分别连接于所述多条扫描线,用于依据所述第二控制信号导通并自所述扫描测试端接收所述测试扫描信号并传输至所述像素单元;
所述多个第四开关管的栅极连接于所述第二控制信号输出端,所述多个第四开关管的源极连接于数据测试端,所述多个第四开关管的漏极分别连接于所述多条数据线,用于依据所述第二控制信号导通并自所述数据测试端接收所述测试数据信号并传输至所述像素单元。
7.如权利要求6所述的故障检测电路,其特征在于,所述显示面板包括相邻设置的显示区域与非显示区域,所述第一检测单元与所述第二检测单元相邻设置且设置于所述显示区域同一侧的所述非显示区域,所述多个第一开关管与所述多个第三开关管依序一一对应设置,任意对应设置的所述第一开关管与所述第三开关管的源极连接于所述扫描测试端,漏极连接于同一条所述扫描线,用于不同时传输所述测试扫描信号;
所述多个第二开关管与所述多个第四开关管依序一一对应设置,任意对应设置的所述第二开关管与所述第四开关管的源极连接于所述数据测试端,漏极连接于相同的所述数据线,用于不同时传输所述测试数据信号。
8.如权利要求1-7中任意一项所述的故障检测电路,其特征在于,所述像素单元包括多个微型液态胶囊,所述微型液态胶囊为密封的球体,内部封装有白色颗粒、黑色颗粒和透明分散媒,其中,所述白色颗粒和所述黑色颗粒为两种带有不同电荷的颗粒,所述白色颗粒和所述黑色颗粒完全浸泡于所述透明分散媒内,并依据电场力的作用在所述透明分散媒内进行相应的移动。
9.一种显示面板,其特征在于,包括数据驱动电路、扫描驱动电路、呈阵列排布的多个所述像素单元和如权利要求1-8任意一项所述的故障检测电路,所述扫描驱动电路用于输出扫描信号至所述像素单元,所述数据驱动电路用于输出数据信号至所述像素单元,所述像素单元用于在所述扫描信号的控制下接收所述数据信号进行图像显示,所述故障检测电路用于对所述像素单元进行短路或断路检测。
10.一种故障检测方法,应用于如权利要求1-8中任意一项所述的故障检测电路,其特征在于,包括:
控制第一检测单元对显示面板内的像素单元进行短路或断路检测,若所有所述像素单元显示正常则表征所述像素单元无故障;
若所述第一检测单元检测到至少一个所述像素单元显示异常,确定为第一异常像素单元,且控制所述第二检测单元重新进行检测;
若所述第二检测单元检测到所述第一异常像素单元显示正常,表征所述第一检测单元出现故障;
若所述第二检测单元检测到所述第一异常像素单元显示异常,则表征所述第一异常像素单元出现故障。
11.如权利要求10所述的故障检测方法,其特征在于,
若所述第二检测单元执行检测时出现显示异常的像素单元即确定为第二异常像素单元,当所述第一异常像素单元与所述第二检测单元检测到的第二异常像素单元不相同时,表征所述第一检测单元以及所述第二异常像素单元出现故障。
CN202310350800.5A 2023-04-04 2023-04-04 故障检测电路、显示面板和故障检测方法 Active CN116129780B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310350800.5A CN116129780B (zh) 2023-04-04 2023-04-04 故障检测电路、显示面板和故障检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310350800.5A CN116129780B (zh) 2023-04-04 2023-04-04 故障检测电路、显示面板和故障检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116129780A CN116129780A (zh) 2023-05-16
CN116129780B true CN116129780B (zh) 2023-06-23

Family

ID=86299359

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310350800.5A Active CN116129780B (zh) 2023-04-04 2023-04-04 故障检测电路、显示面板和故障检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116129780B (zh)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4587678B2 (ja) * 2004-02-27 2010-11-24 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション アレイ基板の検査方法及び検査装置
TW200732808A (en) * 2006-02-24 2007-09-01 Prime View Int Co Ltd Thin film transistor array substrate and electronic ink display device
CN207458545U (zh) * 2017-11-23 2018-06-05 昆山龙腾光电有限公司 一种显示面板和显示装置
CN110580869A (zh) * 2018-06-11 2019-12-17 深超光电(深圳)有限公司 线路检测系统
CN109345988B (zh) * 2018-11-21 2021-04-30 惠科股份有限公司 测试电路、显示面板测试装置和显示装置
CN111179794B (zh) * 2020-01-06 2022-04-19 京东方科技集团股份有限公司 检测电路、阵列基板、显示面板

Also Published As

Publication number Publication date
CN116129780A (zh) 2023-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108831362B (zh) 一种显示面板、其驱动方法及显示装置
CN109891313B (zh) 液晶显示装置和故障检查方法
US6246074B1 (en) Thin film transistor substrate with testing circuit
US11693284B2 (en) Display panel and method of repairing the same
US8975905B2 (en) Display apparatus with reduced number of test lines for array test process and method of testing the same
US8415966B2 (en) Liquid crystal display device and inspection method thereof
CN106909253B (zh) 触控显示面板和触控显示装置
CN100538452C (zh) 用于显示装置的面板组件、显示装置及显示装置修理方法
CN110136618B (zh) 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法
JP2001265248A (ja) アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
US20170025051A1 (en) Detecting Circuit, Detecting Method and Display Device
KR20100040266A (ko) 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법
KR20060051407A (ko) 전기 광학 장치용 기판 및 전기 광학 장치, 그리고 검사방법
CN109697947B (zh) 显示装置及裂纹感测的方法
CN211237679U (zh) 测试电路及其显示装置
CN111785196A (zh) 显示面板及其测试方法、显示装置
CN205334925U (zh) 显示面板、显示装置
JP2003043980A (ja) 表示装置の基板、アレイ基板、検査用回路、検査方法および液晶セルの製造方法
CN116129780B (zh) 故障检测电路、显示面板和故障检测方法
CN110543053A (zh) 阵列基板及触控信号线的修复方法及显示面板
CN106909008B (zh) 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法
KR102256245B1 (ko) 내장형 터치스크린 테스트 회로
CN205318809U (zh) 一种显示装置及显示系统
KR20070029920A (ko) 표시 장치용 테스트 패턴 생성 장치
JP2004102260A (ja) アクティブ・マトリックス表示装置の検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant