CN116057836A - 检测电路及供电控制装置 - Google Patents

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CN116057836A
CN116057836A CN202180062839.6A CN202180062839A CN116057836A CN 116057836 A CN116057836 A CN 116057836A CN 202180062839 A CN202180062839 A CN 202180062839A CN 116057836 A CN116057836 A CN 116057836A
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China
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voltage
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resistor
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小田康太
伊奈征哉
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
AutoNetworks Technologies Ltd
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
AutoNetworks Technologies Ltd
Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/18Modifications for indicating state of switch
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Abstract

在第二检测电路(25)中,电流输出器(50)将与被输入电流的第二FET(40)的输入端和第二驱动电路(42)的接地之间的电路电压对应的电流向电路电阻(51)输出,所述第二驱动电路(42)将第二FET(40)切换为接通或断开。第二检测电路(25)输出电路电阻(51)的两端之间的电压。第二驱动电路(42)的接地与电路电阻(51)的下游侧的一端之间的电压超过0V。

Description

检测电路及供电控制装置
技术领域
本公开涉及检测电路及供电控制装置。
本申请主张基于在2020年10月1日提出申请的日本申请第2020-167159号的优先权,并援引所述日本申请记载的全部的记载内容。
背景技术
专利文献1公开了从直流电源向负载供给电力的车辆用的电源系统。在该电源系统中,在从直流电源的正极向负载的一端流动的电流的电流路径配置半导体开关。半导体开关是N沟道型的FET(Field Effect Transistor:场效应晶体管)。在被输入电流的半导体开关的输入端即漏极连接直流电源的正极。切换电路对半导体开关的输入端的电压进行升压,将升压后的电压向半导体开关的控制端即栅极施加。由此,半导体开关切换为接通。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2019-106624号公报
发明内容
本公开的一形态的检测电路具备:电流输出器,输出与被输入电流的半导体开关的输入端和切换电路的接地之间的电路电压对应的电流,所述切换电路将所述半导体开关切换为接通或断开;电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
本公开的一形态的供电控制装置控制经由半导体开关的供电,其中,具备:切换电路,将所述半导体开关切换为接通或断开;检测电路,检测被输入电流的所述半导体开关的输入端与所述切换电路的接地之间的电路电压,输出表示检测到的电路电压的电压;及处理部,执行处理,所述处理部根据所述检测电路输出的电压,对所述切换电路指示所述半导体开关的向接通或断开的切换,所述检测电路具有:电流输出器,输出与所述电路电压对应的电流;及电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
需要说明的是,不仅可以将本公开作为具备这样的特征性的处理部的供电控制装置实现,而且可以作为将上述的特征性的处理设为步骤的供电控制方法来实现,或者作为用于使计算机执行所述步骤的计算机程序实现。而且,可以将本公开作为实现供电控制装置的一部分或全部的半导体集成电路实现,或者作为包含供电控制装置的电源系统实现。
附图说明
图1是表示实施方式1的电源系统的主要部分结构的框图。
图2是第一控制器及第一检测电路的电路图。
图3是第二控制器及第二检测电路的电路图。
图4是表示微机的主要部分结构的框图。
图5是表示第二故障诊断处理的次序的流程图。
图6是表示第二供电控制处理的次序的流程图。
图7是表示实施方式2的第二供电控制处理的次序的流程图。
图8是实施方式3的第二检测电路的电路图。
图9是表示微机的主要部分结构的框图。
图10是表示第二故障诊断处理的次序的流程图。
图11是表示第二供电控制处理的次序的流程图。
图12是表示实施方式4的第二供电控制处理的次序的流程图。
图13是表示实施方式5的电源系统的主要部分结构的框图。
图14是表示实施方式6的电源系统的主要部分结构的框图。
具体实施方式
[本公开要解决的课题]
在专利文献1记载那样的以往的电源系统中,切换电路对切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压进行升压。通过将直流电源的负极连接于接地导体,例如连接于车辆的车身而直流电源的负极被接地。切换电路通过连接线而连接于接地导体。在向切换电路供给电力的情况下,电流按照切换电路、连接线及接地导体的顺序流动。切换电路的接地是连接线的上游侧的一端的电位。
连接线的电阻值假定为无法忽视的值。在该情况下,切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压小于直流电源的两端之间的电压。连接线的两端之间的电压越高,则切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压越低。在切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压小于一定值的状态下切换电路进行了升压的情况下,可能无法从切换电路向半导体开关施加适当的电压。在该情况下,例如,在半导体开关中,输入端与输出电流的输出端之间的电阻值可能不会下降为充分小的电阻值。
在半导体开关的输入端与输出端之间的电阻值不是充分小的值的状态下,在电流经由半导体开关流动的情况下,半导体开关的发热量多。因此,存在半导体开关的温度上升为异常的温度且半导体开关发生故障的可能性。为了防止半导体开关的故障,在切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压小于一定值的情况下,不对切换电路指示半导体开关的向接通的切换。为了实现该结构,需要不是检测直流电源的两端之间的电压而是检测切换电路的接地与半导体开关的输入端之间的电压。
因此,目的在于提供一种检测被输入电流的半导体开关的输入端与将半导体开关切换为接通或断开的切换电路的接地之间的电压的检测电路、具备该检测电路的供电控制装置。
[本公开的效果]
根据本公开,检测被输入电流的半导体开关的输入端与将半导体开关切换为接通或断开的切换电路的接地之间的电压。
[本公开的实施方式的说明]
首先,列举本公开的实施形态进行说明。也可以将以下记载的实施方式的至少一部分任意组合。
(1)本公开的一形态的检测电路具备:电流输出器,输出与被输入电流的半导体开关的输入端和切换电路的接地之间的电路电压对应的电流,所述切换电路将所述半导体开关切换为接通或断开;及电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
在上述的形态中,通过输出与电路电压对应的电流,来检测电路电压。在电路电阻的电阻值一定的情况下,电路电阻的两端之间的电压与向电路电阻输出的电流成比例。与电路电压对应的电流经由电路电阻流动。因此,基于电路电阻的两端之间的电压,能够算出电路电压。而且,电路电压被转换成与电路电压对应的电流,因此接地与切换电路的接地不同的微型计算机(以下,称为微机)能够算出电路电压。
(2)在本公开的一形态的检测电路中,所述电流输出器具有:设备电阻,电流从所述半导体开关的输入端流向所述设备电阻;PNP型的双极型晶体管,所述双极型晶体管的发射极连接于所述设备电阻的下游侧的一端,所述双极型晶体管的基极的电位是所述切换电路的接地,从所述双极型晶体管的集电极输出的电流流向所述电路电阻。
在上述的形态中,双极型晶体管以使流过设备电阻的电流成为与电路电压成比例的电流的方式调整发射极与集电极之间的电阻值。结果是,电路电压被转换成与电路电压成比例的电流。
(3)本公开的一形态的供电控制装置具备连接开关,所述连接开关连接于所述半导体开关的输入端与所述电流输出器之间,所述电流输出器将从所述半导体开关的输入端引入的电流向所述电路电阻输出。
在上述的形态中,通过将连接开关切换为接通而检测电路工作。通过将连接开关切换为断开而检测电路停止动作。仅在需要检测电路电压的期间,使检测电路工作。由此,能抑制多余的电力消耗。
(4)本公开的一形态的供电控制装置控制经由半导体开关的供电,其中,具备:切换电路,将所述半导体开关切换为接通或断开;检测电路,检测被输入电流的所述半导体开关的输入端与所述切换电路的接地之间的电路电压,输出表示检测到的电路电压的电压;及处理部,执行处理,所述处理部根据所述检测电路输出的电压,对所述切换电路指示所述半导体开关的向接通或断开的切换,所述检测电路具有:电流输出器,输出与所述电路电压对应的电流;及电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
在上述的形态中,根据检测电路输出的电路电压,将半导体开关适当地切换为接通或断开。
(5)本公开的一形态的供电控制装置具备电流输出部,所述电流输出部输出与经由所述半导体开关流动的电流对应的电流,所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压根据所述电流输出部输出的电流而变动。
在上述的形态中,根据电流输出部输出的电流而电路电压变动。
(6)在本公开的一形态的供电控制装置中,所述切换电路对所述电路电压进行升压,并将升压后的电压向所述半导体开关的控制端施加,从而将所述半导体开关切换为接通。
在上述的形态中,半导体开关例如为N沟道型的FET。在该情况下,半导体开关的输入端及控制端分别为例如漏极及栅极。切换电路对电路电压进行升压,并将升压后的电压向控制端施加。由此,半导体开关切换为接通。
(7)在本公开的一形态的供电控制装置中,所述处理部基于在所述半导体开关断开的状态下所述检测电路输出的电压,判定所述电路电压是否为接通电压,所述接通电压是能够向实现所述半导体开关的向接通的切换的电压升压的电压,所述处理部在判定为所述电路电压是所述接通电压的情况下,对所述切换电路指示所述半导体开关的向接通的切换,所述处理部在指示了所述半导体开关的向接通的切换之后判定所述半导体开关是否接通。
在上述的形态中,在电路电压为接通电压的情况下,确认是否能够将半导体开关切换为接通。
(8)在本公开的一形态的供电控制装置中,电流从所述半导体开关的输入端按照所述切换电路及所述切换电路的接地的顺序流动,从而向所述切换电路供给电力,所述处理部基于在所述半导体开关断开的状态下所述检测电路输出的电压,判定所述电路电压是否小于阈值电压,所述处理部在判定为所述电路电压小于所述阈值电压的情况下,判定所述切换电路是否工作。
在上述的形态中,在向切换电路施加的电压小于一定电压的情况下,切换电路停止动作。阈值电压例如为该一定电压。与切换电路的两端之间的电压小于阈值电压无关,切换电路工作是指检测电路发生故障。通过判定切换电路是否工作,能够检测检测电路的故障。
[本公开的实施方式的详情]
以下,参照附图,说明本公开的实施方式的电源系统的具体例。需要说明的是,本发明没有限定为这些例示,由权利要求书公开,并意图包含与权利要求书等同的意思及范围内的全部变更。
(实施方式1)
<电源系统的结构>
图1是表示实施方式1的电源系统1的主要部分结构的框图。电源系统1搭载于车辆,具备直流电源10、第一负载11、第二负载12及供电控制装置13。直流电源10例如是蓄电池。电源系统1的连接中使用无法忽视电阻值的第一导线W1及第二导线W2。第一导线W1及第二导线W2各自的等价电路由第一导线电阻Rw1及第二导线电阻Rw2表示。作为第一导线W1及第二导线W2的一例,可列举长导线。在第一导线W1长的情况下,第一导线电阻Rw1的电阻值是无法忽视的值。在第二导线W2长的情况下,第二导线电阻Rw2的电阻值是无法忽视的值。
直流电源10的负极连接于接地导体G。通过向接地导体G的连接来实现接地。接地导体G例如为车辆的车身。直流电源10的正极连接于供电控制装置13和第一导线电阻Rw1的一端。第一导线电阻Rw1的另一端连接于供电控制装置13。供电控制装置13还分别连接于第一负载11、第二负载12及第二导线电阻Rw2的一端。供电控制装置13、第一负载11的另一端、第二负载12的另一端、第一导线电阻Rw1的另一端连接于接地导体G。
直流电源10向供电控制装置13供给电力。此时,电流从直流电源10的正极按照供电控制装置13及接地导体G的顺序流动。直流电源10也向第一负载11供给电力。此时,电流从直流电源10的正极按照供电控制装置13、第一负载11及接地导体G的顺序流动。直流电源10也向第二负载12供给电力。此时,电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、供电控制装置13、第二负载12及接地导体G的顺序流动。
供电控制装置13控制从直流电源10向第一负载11的供电,并控制从直流电源10向第二负载12的供电。第一负载11及第二负载12是搭载于车辆的电气设备。第一负载11及第二负载12分别在被供给了电力的情况下工作。第一负载11及第二负载12分别在电力供给停止的情况下停止动作。
<供电控制装置13的结构>
供电控制装置13具有第一控制器21、第二控制器22、调节器23、第一检测电路24、第二检测电路25及微机26。在供电控制装置13内,第一控制器21、调节器23及第一检测电路24连接于直流电源10的正极。第一控制器21还连接于第一负载11的上游侧的一端和微机26。调节器23及第一检测电路24分别还连接于微机26。第一控制器21、第一检测电路24及微机26连接于接地导体G。
第二控制器22及第二检测电路25分别连接于第一导线电阻Rw1的下游侧的一端、微机26、第二导线电阻Rw2的一端。第二控制器22还连接于第二负载12的上游侧的一端。第二检测电路25还连接于接地导体G。
电流从直流电源10的正极按照第一控制器21及接地导体G的顺序流动,直流电源10向第一控制器21供给电力。第一控制器21具有作为半导体开关发挥作用的第一FET30(参照图2)。直流电源10经由第一FET30向第一负载11供给电力。微机26将表示高电平电压及低电平电压的第一指示信号向第一控制器21输出。
在第一控制器21中,在经由第一负载11流动的第一负载电流小于一定的第一阈值电流的状态下,在第一指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压的情况下,第一FET30切换为接通。由此,电流从直流电源10的正极按照第一FET30、第一负载11及接地导体G的顺序流动,向第一负载11供给电力。在第一指示信号表示的电压从高电平电压切换为低电平电压的情况下或者第一负载电流上升为第一阈值电流以上的电流的情况下,第一FET30切换为断开。由此,向第一负载11的供电停止,第一负载11停止动作。
以下,将直流电源10的正极的电压记载为电源电压。电源电压的基准电位是接地导体G的电位。微机26的接地是接地导体G的电位。电源电压由于各种主要原因而变动。第一检测电路24检测电源电压。第一检测电路24将表示检测到的电源电压的电压作为电源电压信息向微机26输出。微机26根据电源电压信息表示的电源电压,将第一指示信号表示的电压切换为高电平电压或低电平电压。由此,实现与电源电压对应的第一FET30的切换。
调节器23将电源电压降压为一定电压,并将降压后的电压向微机26施加。由此,电流从直流电源10的正极按照调节器23、微机26及接地导体G的顺序流动,向微机26供给电力。调节器23降压后的电压的基准电位是接地导体G的电位。
电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、第二控制器22、第二导线电阻Rw2及接地导体G的顺序流动。直流电源10向第二控制器22供给电力。第二控制器22具有作为半导体开关发挥作用的第二FET40(参照图3)。直流电源10经由第二FET40向第二负载12供给电力。微机26将表示高电平电压及低电平电压的第二指示信号向第二控制器22输出。
在经由第二负载12流动的第二负载电流小于一定的第二阈值电流的状态下,在第二指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压的情况下,第二FET40切换为接通。由此,电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、第二FET40、第二负载12及接地导体G的顺序流动,向第二负载12供给电力。在第二指示信号表示的电压从高电平电压切换为低电平电压的情况下或者第二负载电流上升为第二阈值电流以上的电流的情况下,第二FET40切换为断开。由此,向第二负载12的供电停止,第二负载12停止动作。
如以上所述,在供电控制装置13中,通过将第一FET30切换为接通或断开,来控制经由第一FET30的供电。此外,通过将第二FET40切换为接通或断开,来控制经由第二FET40的供电。
第一FET30及第二FET40为N沟道型的FET。分别在第一FET30及第二FET40中,向漏极输入电流,从源极输出电流。分别在第一FET30及第二FET40中,漏极作为被输入电流的输入端发挥作用,源极作为输出电流的输出端发挥作用。
以下,将第二FET40的漏极的电压记载为电路电压。电路电压的基准电位是第二导线电阻Rw2的上游侧的一端的电位。在电源电压发生了变动的情况下,电路电压也变动。第二检测电路25检测电路电压,并将表示检测到的电路电压的电压作为电路电压信息向微机26输出。电路电压信息的基准电位是微机26的接地,即接地导体G的电位。微机26根据电路电压信息表示的电路电压,将第二指示信号表示的电压切换为高电平电压或低电平电压。由此,实现与电路电压对应的第二FET40的切换。
<第一控制器21的结构>
图2是第一控制器21及第一检测电路24的电路图。第一控制器21除了第一FET30之外,还具有第一输出部31、第一驱动电路32及第一电压电阻33。第一FET30的漏极连接于直流电源10的正极。第一FET30的源极连接于第一输出部31。第一输出部31还分别连接于第一负载11的上游侧的一端和第一电压电阻33的一端。第一FET30的漏极及栅极分别连接于第一驱动电路32。第一驱动电路32还连接于微机26。第一输出部31与第一电压电阻33之间的连接节点连接于微机26和第一驱动电路32。第一驱动电路32和第一电压电阻33的另一端连接于接地导体G。
在第一FET30中,在基准电位为源极的电位的栅极的电压为一定的第一开关电压以上的情况下,第一FET30的漏极与源极之间的电阻值非常小。此时,第一FET30接通,电流能够经由第一FET30的漏极及源极流动。在第一FET30接通的情况下,从直流电源10的正极按照第一FET30、第一输出部31、第一负载11及接地导体G的顺序流动。在第一FET30中,在基准电位为源极的电位的栅极的电压小于第一开关电压的情况下,第一FET30的漏极与源极之间的电阻值非常大。此时,第一FET30断开,电流不会经由第一FET30的漏极及源极流动。
电流从直流电源10的正极按照第一驱动电路32及接地导体G的顺序流动,向第一驱动电路32供给电力。在电源电压上升为一定的第一动作电压以上的电压的情况下,第一驱动电路32工作。在电源电压下降为小于第一动作电压的电压的情况下,第一驱动电路32停止动作。第一驱动电路32的接地是接地导体G的电位。
第一驱动电路32对电源电压进行升压,并将升压后的电压向第一FET30的栅极施加。由此,在第一FET30中,基准电位为源极的电位的栅极的电压上升为第一开关电压以上的电压。结果是,第一FET30切换为接通。升压后的电压的基准电位是接地导体G的电位。在第一驱动电路32停止升压的情况下,在第一FET30中,基准电位为源极的电位的栅极的电压下降为小于第一开关电压的电压。由此,第一FET30切换为断开。如以上所述,第一驱动电路32通过调整第一FET30的栅极的电压,来将第一FET30切换为接通或断开。
第一输出部31例如使用电流镜电路构成,将与经由第一FET30向第一负载11流动的第一负载电流成比例的电流向第一电压电阻33输出。第一电压电阻33的电阻值一定。因此,第一电压电阻33的两端之间的电压与流过第一电压电阻33的电流成比例。因此,第一电压电阻33的两端之间的电压与第一负载电流成比例。第一电压电阻33的两端之间的电压作为表示第一负载电流的第一电流信息向微机26及第一驱动电路32输出。
如前所述,微机26将第一指示信号向第一驱动电路32输出。第一驱动电路32在第一电流信息表示的第一负载电流小于第一阈值电流的状态下,在第一指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压的情况下,将第一FET30切换为接通。第一驱动电路32在第一指示信号表示的电压从高电平电压切换为低电平电压的情况下或者第一电流信息表示的第一负载电流成为了第一阈值电流以上的电流的情况下,将第一FET30切换为断开。
微机26与第一驱动电路32通信。微机26通过与第一驱动电路32进行通信,能够判定第一驱动电路32是否工作。例如,微机26将要求响应信号的发送的要求信号向第一驱动电路32发送。微机26基于从第一驱动电路32是否接收到响应信号,来判定第一驱动电路32是否工作。
<第一检测电路24的结构>
第一检测电路24具有两个分压电阻Rd1、Rd2。分压电阻Rd1的一端连接于直流电源10的正极。分压电阻Rd1的另一端连接于分压电阻Rd2的一端。分压电阻Rd2的另一端连接于接地导体G。两个分压电阻Rd1、Rd2之间的连接节点连接于微机26。
第一检测电路24对电源电压进行分压。两个分压电阻Rd1、Rd2的电阻值一定。因此,通过第一检测电路24对电源电压进行分压而得到的电压与电源电压成比例。第一检测电路24通过对电源电压进行分压来检测电源电压。第一检测电路24将通过对电源电压进行分压而得到的电压作为电源电压信息向微机26输出。如前所述,微机26根据电源电压信息表示的电源电压,将第一指示信号表示的电压切换为高电平电压或低电平电压。
<第二控制器22的结构>
图3是第二控制器22及第二检测电路25的电路图。第二控制器22除了第二FET40之外,还具有第二输出部41、第二驱动电路42及第二电压电阻43。第二FET40的漏极连接于第一导线电阻Rw1的下游侧的一端。第一导线电阻Rw1的上游侧的一端连接于直流电源10的正极。第二FET40的源极连接于第二输出部41。第二输出部41还连接于第二负载12的上游侧的一端和第二电压电阻43的一端。第二FET40的漏极及栅极分别连接于第二驱动电路42。第二驱动电路42还连接于微机26。第二输出部41与第二电压电阻43之间的连接节点连接于微机26和第二驱动电路42。第二驱动电路42和第二电压电阻43的另一端连接于第二导线电阻Rw2的上游侧的一端。如前所述,第二导线电阻Rw2的下游侧的一端连接于接地导体G。
在第二FET40中,在基准电位为源极的电位的栅极的电压为一定的第二开关电压以上的情况下,第二FET40的漏极与源极之间的电阻值非常小。此时,第二FET40接通,电流能够经由第二FET40的漏极及源极流动。在第二FET40接通的情况下,从直流电源10的正极按照第二FET40、第二输出部41、第二负载12及接地导体G的顺序流动。在第二FET40中,在基准电位为源极的电位的栅极的电压小于第二开关电压的情况下,第二FET40的漏极与源极之间的电阻值非常大。此时,第二FET40断开,电流不会经由第二FET40的漏极及源极流动。
电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、第二驱动电路42、第二导线电阻Rw2及接地导体G的顺序流动。由此,向第二驱动电路42供给电力。在电路电压上升为一定的第二动作电压以上的电压的情况下,第二驱动电路42工作。在电路电压下降为小于第二动作电压的电压的情况下,第二驱动电路42停止动作。第二驱动电路42的接地是第二导线电阻Rw2的上游侧的一端的电位。在向第二驱动电路42供给电力的情况下,电流从第二FET40的漏极按照第二驱动电路42及第二驱动电路42的接地的顺序流动。
第二驱动电路42调整基准电位为第二驱动电路42的接地的栅极的电压。如前所述,电路电压的基准电位是第二导线电阻Rw2的上游侧的一端的电位,即第二驱动电路42的接地。第二驱动电路42对电路电压进行升压,并将升压后的电压向第二FET40的栅极施加。由此,在第二FET40中,基准电位为源极的电位的栅极的电压上升为第二开关电压以上的电压。结果是,第二FET40切换为接通。升压后的电压的基准电位为第二驱动电路42的接地。
第二驱动电路42停止电路电压的升压。由此,基准电位为第二驱动电路42的接地的栅极的电压下降。结果是,在第二FET40中,基准电位为源极的电位的栅极的电压下降为小于第二开关电压的电压。由此,第二FET40切换为断开。
第二输出部41例如使用电流镜电路构成,输出与经由第二FET40向第二负载12流动的第二负载电流成比例的电流。第二输出部41作为电流输出部发挥作用。第二输出部41输出的电流经由第二电压电阻43及第二导线电阻Rw2流动。第二电压电阻43的电阻值一定。因此,第二电压电阻43的两端之间的电压与流过第二电压电阻43的电流成比例。因此,第二电压电阻43的两端之间的电压与第二负载电流成比例。第二电压电阻43的两端之间的电压作为表示第二负载电流的一个第二电流信息向第二驱动电路42输出。
第二导线电阻Rw2的电阻值也一定。因此,在第二电压电阻43串联连接第二导线电阻Rw2的串联电路的两端之间的电压与流过第二电压电阻43的电流成比例。因此,串联电路的两端之间的电压与第二负载电流成比例。串联电路的两端之间的电压作为表示第二负载电流的另一个第二电流信息向微机26输出。
如前所述,微机26将第二指示信号向第二驱动电路42输出。第二驱动电路42在第二电流信息表示的第二负载电流小于第二阈值电流的状态下,在第二指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压的情况下,将第二FET40切换为接通。第二驱动电路42在第二指示信号表示的电压从高电平电压切换为低电平电压的情况下或者第二电流信息表示的第二负载电流成为了第二阈值电流以上的电流的情况下,将第二FET40切换为断开。
与第一驱动电路32同样,微机26与第二驱动电路42进行通信。微机26通过与第二驱动电路42进行通信,能够判定第二驱动电路42是否工作。例如,微机26将要求响应信号的发送的要求信号向第二驱动电路42发送,基于从第二驱动电路42是否接收到响应信号,来判定第二驱动电路42是否工作。
<第二检测电路25的结构>
第二检测电路25具有电流输出器50及电路电阻51。电流输出器50具有设备电阻Re及晶体管Te。晶体管Te是PNP型的双极型晶体管。
设备电阻Re的一端连接于第二FET40的漏极。设备电阻Re的另一端连接于晶体管Te的发射极。晶体管Te的基极连接于第二导线电阻Rw2的上游侧的一端。因此,晶体管Te的基极的电位是第二驱动电路42的接地。晶体管Te的集电极连接于微机26和电路电阻51的一端。电路电阻51的另一端连接于接地导体G。
电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、设备电阻Re、晶体管Te、电路电阻51及接地导体G的顺序流动。因此,电流从第一导线电阻Rw1的下游侧的一端,即第二FET40的漏极向设备电阻Re流动。在晶体管Te中,电流按照发射极及集电极的顺序流动。晶体管Te的发射极连接于设备电阻Re的下游侧的一端。
在晶体管Te中,从设备电阻Re向发射极输入的电流的极少一部分从基极按照第二导线电阻Rw2及接地导体G的顺序流动。向发射极输入的电流的大致全部从集电极输出。因此,从基极输出的电流是可以忽视的值,向发射极输入的电流与从集电极输出的电流实质上一致。
将第二FET40的漏极的电压记载为Vd。将第二导线电阻Rw2的上游侧的一端的电压记载为Vg。电压Vd、Vg各自的基准电位是接地导体G的电位。(Vd-Vg)是电路电压。将设备电阻Re的电阻值记载为re。将晶体管Te的基极与发射极之间的电压(绝对值)记载为Vf。将经由设备电阻Re流动的电流记载为Iv。
晶体管Te以基准电位为接地导体G的电位的发射极的电压成为(Vg+Vf)的方式调整发射极与集电极之间的电阻值。结果是,晶体管Te以电流Iv满足下述的(1)式的方式调整发射极与集电极之间的电阻值。
Iv=(Vd-(Vg+Vf))/re…(1)
如前所述,向发射极输入的电流的大致全部从集电极输出。因此,流过电路电阻51的电流与电流Iv实质上一致。
通过将(1)式展开而能得到下述的(2)式。
Iv=((Vd-Vg)-Vf)/re…(2)
如前所述,(Vd-Vg)为电路电压。电压Vf及电阻值re分别实质上为一定值,因此电流Iv与电路电压成比例。因此,电流输出器50将电路电压转换成与电路电压成比例的电流Iv,并将转换后的电流Iv向电路电阻51输出。电流Iv是从第二FET40的漏极引入的电流。从电流输出器50具有的晶体管Te的集电极输出的电流Iv经由电路电阻51流动。电流输出器50通过输出电流Iv来检测电路电压。
将电路电阻51的电阻值记载为rc。将电路电阻51的两端之间的电压记载为Vc。电压Vc由下述的(3)式表示。
Vc=rc·Iv…(3)
“·”表示积。在使用(2)式及(3)式将电流Iv消去的情况下,关于电压Vc,满足下述的(4)式。
Vc=((Vd-Vg)-Vf)·rc/re…(4)
如前所述,(Vd-Vg)为电路电压。不仅是电压Vf及电阻值re,电阻值rc也实质上为一定值。因此,电压Vc与电路电压成比例。电压Vf及电阻值rc、re分别实质上为一定值,因此将电压Vc向(4)式代入,由此能够算出电路电压,即(Vd-Vg)。
如以上所述,第二检测电路25检测电路电压,将与检测到的电路电压成比例的电压Vc作为电路电压信息向微机26输出。微机26基于电路电压信息,即电压Vc和(4)式,算出电路电压。微机26的接地如前所述为接地导体G的电位,与第二驱动电路42的接地不同。然而,在第二检测电路25中,电流输出器50将电路电压转换成电流Iv,因此微机26能够算出电路电压。
在向第二驱动电路42供给电力的情况下,电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、第二驱动电路42、第二导线电阻Rw2及接地导体G的顺序流动。电路电阻51的下游侧的一端连接于接地导体G。如前所述,第二导线电阻Rw2的上游侧的一端的电位为第二驱动电路42的接地。在向第二驱动电路42供给电力的情况下,电流经由第二导线电阻Rw2流动,因此第二驱动电路42的接地与电路电阻51的下游侧的一端之间的电压超过0V。
如前所述,第二输出部41输出的电流与第二负载电流成比例,经由第二导线电阻Rw2流动。因此,在第二FET40断开的情况下,从第二输出部41输出的电流为0A。在第二FET40切换为接通的情况下,从第二输出部41输出的电流上升。由此,经由第二导线电阻Rw2流动的电流也上升。而且,在第二FET40断开的情况下,经由第一导线电阻Rw1流动的电流仅是经由第二驱动电路42流动的电流,较小。在第二FET40切换为接通的情况下,经由第一导线电阻Rw1流动的电流是经由第二驱动电路42流动的电流与经由第二FET40流动的电流的总计电流。根据以上的情况,第二FET40断开时的电路电压比第二FET40接通时的电路电压高。
如前所述,第二输出部41输出的电流经由第二导线电阻Rw2流动。因此,第二导线电阻Rw2的两端之间的电压即第二驱动电路42的接地与电路电阻51的下游侧的一端之间的电压根据第二输出部41输出的电流而变动。
<微机26的结构>
图4是表示微机26的主要部分结构的框图。微机26具有A/D转换部60、61、62、63、信号输出部64、65、通信部66、67、通知部68、存储部69及控制部70。A/D转换部60、61、62、63、信号输出部64、65、通信部66、67、通知部68、存储部69及控制部70连接于内部总线71。
A/D转换部60还连接于第一检测电路24具有的分压电阻Rd1、Rd2之间的连接节点。信号输出部64及通信部66分别还连接于第一驱动电路32。A/D转换部61还连接于第一控制器21具有的第一输出部31与第一电压电阻33之间的连接节点。A/D转换部62还连接于第二检测电路25具有的电路电阻51的上游侧的一端。信号输出部65及通信部67分别还连接于第二驱动电路42。A/D转换部63连接于第二控制器22具有的第二输出部41与第二电压电阻43之间的连接节点。
从第一检测电路24将模拟的电源电压信息向A/D转换部60输入。A/D转换部60将输入的模拟的电源电压信息转换成数字的电源电压信息。控制部70从A/D转换部60取得数字的电源电压信息。
信号输出部64将第一指示信号向第一驱动电路32输出。信号输出部64按照控制部70的指示,将第一指示信号表示的电压转换成高电平电压或低电平电压。
通信部66按照控制部70的指示,向第一驱动电路32发送信号。通信部66还从第一驱动电路32接收信号。
从第一控制器21将模拟的第一电流信息向A/D转换部61输入。A/D转换部61将输入的模拟的第一电流信息转换成数字的第一电流信息。控制部70从A/D转换部61取得数字的第一电流信息。
从第二检测电路25将模拟的电路电压信息向A/D转换部62输入。A/D转换部62将输入的模拟的电路电压信息转换成数字的电路电压信息。控制部70从A/D转换部62取得数字的电路电压信息。
信号输出部65将第二指示信号向第二驱动电路42输出。信号输出部65按照控制部70的指示,将第二指示信号表示的电压切换成高电平电压或低电平电压。
通信部67按照控制部70的指示向第二驱动电路42发送信号。通信部67还从第二驱动电路42接收信号。
从第二控制器22向A/D转换部63输入模拟的第二电流信息。A/D转换部63将输入的模拟的第二电流信息转换成数字的第二电流信息。控制部70从A/D转换部63取得数字的第二电流信息。
通知部68按照控制部70的指示进行通知。通知通过信号的发送、灯的点亮或消息的显示等实现。
存储部69是例如非易失性存储器。在存储部69存储计算机程序P。控制部70具有执行处理的处理元件,例如CPU(Central Processing Unit)。控制部70的处理元件通过执行计算机程序P而执行第一故障检测处理、第一供电控制处理、第二故障检测处理及第二供电控制处理等。控制部70作为处理部发挥作用。
第一故障检测处理是检测与第一控制器21或第一检测电路24相关的故障的处理。第一供电控制处理是控制向第一负载11的供电的处理。第二故障检测处理是检测与第二控制器22或第二检测电路25相关的故障的处理。第二供电控制处理是控制向第二负载12的供电的处理。
需要说明的是,计算机程序P也可以是以控制部70的处理元件能够读取的方式存储于存储介质A。在该情况下,通过未图示的读出装置从存储介质A读出的计算机程序P向存储部69写入。存储介质A是光盘、软盘、磁盘、磁光盘或半导体存储器等。光盘是CD(CompactDisc)-ROM(Read Only Memory)、DVD(Digital Versatile Disc)-ROM或BD(Blu-ray(注册商标)Disc)等。磁盘例如是硬盘。而且,也可以从与未图示的通信网连接的未图示的装置下载计算机程序P,将下载的计算机程序P写入存储部69。
控制部70具有的处理元件的个数没有限定为1个,也可以为2个以上。在该情况下,多个处理元件也可以按照计算机程序P协同地执行第一故障检测处理、第一供电控制处理、第二故障检测处理、第二供电控制处理等。
在将本公开的技术与现有技术进行了比较的情况下,主要差异在于第二故障检测处理及第二供电控制处理。因此,以下,先说明第二故障检测处理及第二供电控制处理。然后,通过叙述第一故障检测处理及第二故障检测处理的差异来说明第一故障检测处理。通过叙述第一供电控制处理及第二供电控制处理的差异来说明第一供电控制处理。在假定为第一负载电流未上升为第一阈值电流以上的电流且第二负载电流未上升为第二阈值电流以上的电流的基础上,说明这些处理。
<第二故障检测处理>
图5是表示第二故障检测处理的次序的流程图。控制部70在使第二负载12工作之前执行第二故障检测处理。控制部70例如在第二负载12停止动作的状态下车辆的发动机起动的情况下执行第二故障检测处理。因此,第二故障检测处理在第二FET40断开的状态下执行。控制部70在第二故障检测处理中未检测到故障的情况下,执行第二供电控制处理。
在第二故障检测处理中,控制部70从A/D转换部62取得电路电压信息(步骤S1)。通过步骤S1取得的电路电压信息是第二FET40断开的状态下第二检测电路25输出的电压。通过步骤S1取得的电路电压信息表示的电路电压比第二FET40接通时的电路电压高。接下来,控制部70判定通过步骤S1取得的电路电压信息表示的电路电压是否小于第二动作电压(步骤S2)。在电路电压小于第二动作电压的情况下,第二驱动电路42停止动作。第二动作电压作为阈值电压发挥作用。
控制部70在判定为电路电压信息表示的电路电压小于第二动作电压的情况下(S2:是),判定第二驱动电路42是否工作(步骤S3)。在执行了步骤S3的时间点,第二驱动电路42工作的情况表示第二检测电路25未输出适当的电压的情况,即,在第二检测电路25中发生故障的情况。控制部70通过执行步骤S2能够检测第二检测电路25的故障。
作为判定第二驱动电路42是否工作的方法,可列举使用通信的方法。在该方法中,控制部70例如使通信部66将要求响应信号的发送的要求信号向第二驱动电路42发送。在从被发送要求信号起为规定期间以内通信部66接收到响应信号的情况下,控制部70判定为第二驱动电路42正在工作。在从被发送要求信号起为规定期间以内通信部66未接收到响应信号的情况下,控制部70判定为第二驱动电路42未工作。
作为判定第二驱动电路42是否工作的其他的方法,可列举确认第二FET40的状态的方法。在该方法中,控制部70例如对信号输出部65进行指示而使第二指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压。控制部70在第二指示信号表示高电平电压的状态下,从A/D转换部63取得第二电流信息,对信号输出部65进行指示而使第二指示信号表示的电压返回成低电平电压。第二电流信息表示的第二负载电流为一定值以上的情况表示第二FET40接通的情况。第二电流信息表示的第二负载电流小于一定值的情况表示第二FET40断开的情况。控制部70在第二电流信息表示的第二负载电流为一定值以上的情况下,判定为第二驱动电路42正在工作。控制部70在第二电流信息表示的第二负载电流小于一定值的情况下,判定为第二驱动电路42未工作。
控制部70在判定为第二驱动电路42正在工作的情况下(S3:是),作为在第二检测电路25发生故障,将第二FET40固定为接通或断开(步骤S4)。控制部70对信号输出部65进行指示而使第二指示信号表示的电压固定为高电平电压,由此将第二FET40固定为接通。控制部70对信号输出部65进行指示而使第二指示信号表示的电压固定为低电平电压,由此将第二FET40固定为断开。
根据第二负载12的特性而固定为接通或断开。将在动作停止的情况下运转会发生障碍的可能性不存在的负载,例如室内灯假定为第二负载12。在该情况下,在步骤S4中,控制部70将第二FET40固定为断开。将在动作停止的情况下运转会发生障碍的可能性存在的负载,例如前照灯假定为第二负载12。在该情况下,在步骤S4中,控制部70将第二FET40固定为接通。
控制部70在判定为电路电压信息表示的电路电压为第二动作电压以上的情况下(S2:否),判定通过步骤S1取得的电路电压信息表示的电路电压是否为接通电压(步骤S5)。第二驱动电路42在电路电压低的情况下,无法使电路电压升压为实现第二FET40的向接通的切换的电压。接通电压是能够向实现第二FET40的向接通的切换的电压升压的电压,是预先设定的电压范围内的电压。在第二FET40断开的状态下电路电压为接通电压的情况下,即使在第二FET40切换为接通时,电路电压也高,第二驱动电路42能够将第二FET40切换为接通。
控制部70在判定为电路电压为接通电压的情况下(S5:是),对信号输出部65指示第二FET40的向接通的切换(步骤S6)。具体而言,控制部70对信号输出部65进行指示,使第二指示信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压。由此,第二驱动电路42将第二FET40切换为接通。
接下来,控制部70基于从A/D转换部63取得的第二电流信息表示的第二负载电流,判定第二FET40是否接通(步骤S7)。在步骤S7中,控制部70在第二负载电流为一定值以上的情况下,判定为第二FET40接通。控制部70在第二负载电流小于一定值的情况下,判定为第二FET40未接通。控制部70通过执行步骤S6、S7,来确认是否能够将第二FET40切换为接通。
控制部70在判定为第二FET40接通的情况下(S7:是),对信号输出部65指示第二FET40的向断开的切换(步骤S8)。具体而言,控制部70对信号输出部65进行指示,使第二指示信号表示的电压切换为低电平电压。由此,第二驱动电路42将第二FET40切换为断开。控制部70在执行了步骤S8之后,结束第二故障检测处理。控制部70在执行了步骤S8之后结束第二故障检测处理的情况下,执行第二供电控制处理。
控制部70在判定为第二驱动电路未工作的情况下(S3:否),在执行了步骤S4之后判定为电路电压不是接通电压的情况下(S5:否),或者判定为第二FET40未接通的情况下(S7:否),使通知部68进行通知(步骤S9)。在判定为第二驱动电路未工作的情况下或者判定为电路电压不是接通电压的情况下,控制部70对通知部68进行指示,例如将表示电路电压低的内容的信号向未图示的装置输出。在执行了步骤S4之后进行的通知中,将例如表示在第二检测电路25发生故障的内容的信号向装置输出。控制部70在判定为第二FET40未接通的情况下,对通知部68进行指示,将例如表示在第二检测电路25或第二驱动电路42产生故障的内容的信号向装置输出。
控制部70在执行了步骤S9之后,结束第二故障检测处理。控制部70在执行了步骤S9之后结束第二故障检测处理的情况下,不执行第二供电控制处理。
<第二供电控制处理>
图6是表示第二供电控制处理的次序的流程图。第二供电控制处理在第二FET40断开的状态下执行。在第二供电控制处理中,控制部70判定是否使第二负载12工作(步骤S11)。控制部70在例如未图示的受理装置受理了第二负载12的工作指示的情况下,判定为使第二负载12工作。控制部70在受理装置未受理第二负载12的工作指示的情况下,判定为不使第二负载12工作。
控制部70在判定为不使第二负载12工作的情况下(S11:否),结束第二供电控制处理,再次开始第二供电控制处理。因此,控制部70在步骤S11中判定为不使第二负载12工作的情况下,再次执行步骤S11。
控制部70在判定为使第二负载12工作的情况下(S11:是),从A/D转换部62取得电路电压信息(步骤S12)。通过步骤S12取得的电路电压信息表示的电路电压是第二FET40断开时的电路电压。接下来,控制部70判定通过步骤S12取得的电路电压信息表示的电路电压是否为正常范围内的电压(步骤S13)。正常范围是第二驱动电路42能够将第二FET40适当地切换为接通或断开的电路电压的范围。
控制部70在判定为电路电压为正常范围内的电压的情况下(S13:是),与第二故障检测处理的步骤S6同样,对信号输出部65指示第二FET40的向接通的切换(步骤S14)。由此,向第二负载12供给电力,第二负载12工作。控制部70在执行了步骤S14之后,从A/D转换部62取得电路电压信息(步骤S15)。通过步骤S15取得的电路电压信息表示的电路电压是第二FET40接通时的电路电压。
接下来,控制部70判定通过步骤S15取得的电路电压信息表示的电路电压是否为正常范围内的电压(步骤S16)。控制部70在判定为电路电压为正常范围内的电压的情况下(S16:是),判定是否使第二负载12的动作停止(步骤S17)。控制部70例如在受理装置受理了第二负载12的停止指示的情况下,判定为使第二负载12的动作停止。控制部70在受理装置未受理第二负载12的停止指示的情况下,判定为不使第二负载12的动作停止。
控制部70在判定为不使第二负载12的动作停止的情况下(S17:否),再次执行步骤S15,在电路电压成为正常范围外的电压或者使第二负载12的动作停止之前,反复执行步骤S16、S17。控制部70在判定为电路电压不是正常范围内的电压的情况下(S16:否)或者判定为使第二负载12的动作停止的情况下(S17:是),与第二故障检测处理的步骤S8同样,对信号输出部65进行指示,指示第二FET40的向断开的切换(步骤S18),结束第二供电控制处理。控制部70在结束了第二供电控制处理之后,再次执行第二供电控制处理。控制部70例如在发动机停止了动作的情况下,停止第二供电控制处理的反复。
如以上所述,在第二供电控制处理中,根据第二检测电路25输出的电路电压信息表示的电路电压,控制部70对信号输出部65指示第二FET40的向接通或断开的切换。第二驱动电路42按照控制部70的指示将第二FET40切换为接通或断开。因此,根据第二检测电路25检测到的电路电压,第二FET40由第二驱动电路42适当地切换为接通或断开。适当地控制向第二负载12的供电。第二驱动电路42作为切换电路发挥作用。
<第一故障检测处理及第一供电控制处理>
控制部70与第二故障检测处理同样地执行第一故障检测处理。控制部70与第二供电控制处理同样地执行第一供电控制处理。第二故障检测处理及第二供电控制处理的说明中叙述的第二FET40、第二驱动电路42、电路电压信息、第二动作电压及第二电流信息分别在第一故障检测处理及第一供电控制处理中对应于第一FET30、第一驱动电路32、电源电压信息、第一动作电压及第一电流信息。
此外,第二故障检测处理及第二供电控制处理的说明中叙述的A/D转换部62、63、信号输出部65及通信部67分别在第一故障检测处理及第一供电控制处理中对应于A/D转换部60、61、信号输出部64及通信部66。第一供电控制处理的正常范围是第一驱动电路32能够将第一FET30适当地切换为接通或断开的电源电压的范围。
(实施方式2)
在实施方式1的第二供电控制处理中,第二驱动电路42根据电路电压是否为正常范围内的电压而将第二FET40切换为接通或断开。然而,第二FET40的切换没有限定为与电路电压是否为正常范围内的电压对应的切换。
以下,关于实施方式2,说明与实施方式1不同的点。关于除了后述的结构之外的其他的结构,与实施方式1共通。因此,对于与实施方式1共通的结构部,标注与实施方式1相同的参照标号,省略该结构部的说明。
<微机26的结构>
在实施方式2中,图4所示的信号输出部65不是将第二指示信号而是将第二PWM信号向第二驱动电路42输出。第二PWM信号与第二指示信号同样地表示高电平电压及低电平电压。与实施方式1同样,第二驱动电路42在第二PWM信号表示的电压从低电平电压切换为高电平电压的情况下将第二FET40切换为接通。第二驱动电路42在第二PWM信号表示的电压从高电平电压切换为低电平电压的情况下将第二FET40切换为断开。第二驱动电路42在第二PWM信号的输出停止的情况下,将第二FET40维持为断开。
在第二PWM信号中,从低电平电压向高电平电压的切换周期性地进行。通过调整从高电平电压向低电平电压切换的时刻,来调整第二PWM信号的占空比。占空比是在一个周期中第二PWM信号表示高电平电压的期间的比例。
需要说明的是,在第二PWM信号中,从高电平电压向低电平电压的切换也可以周期性地进行。在该情况下,通过调整从低电平电压向高电平电压切换的时刻来调整第二PWM信号的占空比。
信号输出部65按照控制部70的指示,进行第二PWM信号的输出和第二PWM信号的输出的停止。控制部70在信号输出部65中设定第二PWM信号的占空比。信号输出部65在输出第二PWM信号的情况下,将第二PWM信号的占空比调整为设定的值。
<第二供电控制处理>
图7是表示实施方式2的第二供电控制处理的次序的流程图。关于实施方式2的第二供电控制处理,对于与实施方式1的第二供电控制处理的步骤共通的步骤标注相同标号,省略该步骤的说明。共通的步骤是步骤S11、S12、S15、S17。
实施方式2的第二供电控制处理与实施方式1同样,在第二FET40断开的状态下执行。在第二供电控制处理中,控制部70首先执行步骤S11。控制部70在判定为不使第二负载12工作的情况下(S11:否),结束第二供电控制处理,再次开始第二供电控制处理。因此,控制部70在步骤S11中判定为不使第二负载12工作的情况下,再次执行步骤S11。
控制部70在判定为使第二负载12工作的情况下(S11:是),执行步骤S12。控制部70在步骤S12中从A/D转换部62取得了电路电压信息之后,在信号输出部65中,将第二PWM信号的占空比设定为与取得的电路电压信息表示的电路电压对应的值(步骤S21)。在步骤S12中取得的电路电压信息表示的电路电压是第二FET40断开时的电路电压。
接下来,控制部70对信号输出部65进行指示,而将第二PWM信号向第二驱动电路42输出(步骤S22)。由此,第二驱动电路42按照第二PWM信号表示的电压,交替地反复进行第二FET40的向接通及断开的切换。结果是,电流按照第一导线电阻Rw1、第二FET40、第二输出部41、第二负载12及接地导体G的顺序流动,向第二负载12供给电力。向第二负载12施加的电压的平均值调整为与第二PWM信号的占空比对应的值。
控制部70在执行了步骤S22之后,执行步骤S15。在步骤S15中,控制部70在第二FET40接通期间,即第二PWM信号表示高电平电压期间取得电路电压信息。控制部70在步骤S15中取得了电路电压信息之后,将第二PWM信号的占空比变更为与取得的电路电压信息表示的电路电压对应的值(步骤S23)。由此,第二PWM信号的占空比被变更。控制部70在执行了步骤S23之后,执行步骤S17。
控制部70在判定为不使第二负载12的动作停止的情况下(S17:否),执行步骤S15。控制部70反复进行与电路电压对应的占空比的变更直至判定为使第二负载12的动作停止为止。控制部70在判定为使第二负载12的动作停止的情况下(S17:是),对信号输出部65进行指示,使第二PWM信号的输出停止(步骤S24),结束第二供电控制处理。控制部70在结束了第二供电控制处理之后,再次执行第二供电控制处理。控制部70例如在发动机停止了动作的情况下停止第二供电控制处理的反复。
如以上所述,在第二供电控制处理中,根据第二检测电路25输出的电路电压信息表示的电路电压,控制部70变更第二PWM信号的占空比。第二驱动电路42根据第二PWM信号表示的电压将第二FET40切换为接通或断开。因此,向第二负载12施加的电压的平均值被调整为适当的值,适当地控制向第二负载12的供电。实施方式2的第二负载12例如为灯。
实施方式2的供电控制装置13及第二检测电路25分别同样地发挥实施方式1的供电控制装置13及第二检测电路25发挥的效果。
<附注>
在实施方式2中,信号输出部64也可以与信号输出部65同样地构成。在该情况下,信号输出部64输出与第二PWM信号同样的第一PWM信号,第一驱动电路32根据第一PWM信号表示的电压将第一FET30切换为接通或断开。控制部70与第二供电控制处理同样地执行第一供电控制处理。
第二供电控制处理的说明中叙述的第二FET40、第二驱动电路42及电路电压信息分别在第一供电控制处理中对应于第一FET30、第一驱动电路32及电源电压信息。此外,第二供电控制处理的说明中叙述的A/D转换部62、63及信号输出部65分别在第一供电控制处理中对应于A/D转换部60、61及信号输出部64。
(实施方式3)
在实施方式1中,电流经由第二检测电路25始终流动,第二检测电路25始终检测电路电压。然而,第二检测电路25也可以不始终检测电路电压。
以下,关于实施方式3,说明与实施方式1不同的点。关于除了后述的结构之外的其他的结构,与实施方式1共通。因此,对于与实施方式1共通的结构部,标注与实施方式1相同的参照标号,省略该结构部的说明。
<第二检测电路25的结构>
图8是实施方式3的第二检测电路25的电路图。实施方式3的第二检测电路25与实施方式1同样具有电流输出器50及电路电阻51。电流输出器50及电路电阻51的连接除了设备电阻Re的上游侧的一端的连接之外,与实施方式1同样。
实施方式3的第二检测电路25还具有第一电路开关52、第二电路开关53、开关电阻54、55、56、57。第一电路开关52是PNP型的双极型晶体管。第二电路开关53是NPN型的双极型晶体管。
第一电路开关52的发射极连接于第二FET40的漏极。第一电路开关52的集电极连接于设备电阻Re的上游侧的一端。在第一电路开关52的发射极与基极之间连接开关电阻54。第一电路开关52的基极连接开关电阻55的一端。第一电路开关52作为连接开关发挥作用。
开关电阻55的另一端连接于第二电路开关53的集电极。第二电路开关53的发射极连接于接地导体G。在第二电路开关53的发射极与基极之间连接开关电阻56。第二电路开关53的基极经由开关电阻57连接于微机26。
关于第二电路开关53,微机26将基准电位为接地导体G的电位的基极的电压调整为高电平电压或低电平电压。在微机26将第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压的情况下,第二电路开关53切换为接通。在第二电路开关53接通的情况下,第二电路开关53的集电极与发射极之间的电阻值非常小,电流能够经由集电极及发射极流动。
在第二电路开关53接通的情况下,电流从第二控制器22的上游侧的一端向开关电阻54、55、第二电路开关53及接地导体G流动。由此,第一电路开关52切换为接通。在第一电路开关52接通的情况下,第一电路开关52的发射极与集电极之间的电阻值非常小,电流能够经由发射极及集电极流动。在第一电路开关52接通的情况下,电流输出器50从第二FET40的漏极经由第一电路开关52引入电流,第二检测电路25检测电路电压。如以上所述,在第一电路开关52接通的情况下,第二检测电路25工作。
在微机26将第二电路开关53的基极的电压调整为低电平电压的情况下,第二电路开关53切换为断开。在第二电路开关53断开的情况下,第二电路开关53的集电极与发射极之间的电阻值非常大,电流无法经由集电极及发射极流动。
在第二电路开关53切换为断开的情况下,经由开关电阻54的电流的流通停止,因此第一电路开关52切换为断开。在第一电路开关52断开的情况下,第一电路开关52的发射极与集电极之间的电阻值非常大,电流无法经由发射极及集电极流动。在第一电路开关52切换为断开的情况下,电流输出器50停止经由第一电路开关52的电流的引入,第二检测电路25停止动作。
如以上所述,微机26通过将第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压或低电平电压而将第一电路开关52切换为接通或断开。
<第一检测电路24的结构>
实施方式3的第一检测电路24除了分压电阻Rd1、Rd2之外,与第二检测电路25同样地具有第一电路开关52、第二电路开关53及开关电阻54、55、56、57。第一电路开关52、第二电路开关53及开关电阻54、55、56、57与第二检测电路25同样地连接。因此,第一电路开关52连接于第一控制器21与分压电阻Rd1的上游侧的一端之间。第二电路开关53的发射极连接于分压电阻Rd2的下游侧的一端。第二电路开关53的基极经由开关电阻57连接于微机26。
微机26通过将基准电位为接地导体G的电位的第二电路开关53的基极电压调整为高电平电压或低电平电压而将第一电路开关52切换为接通或断开。在第二电路开关53的基极切换为高电平电压的情况下,第一电路开关52切换为接通,第一检测电路24工作。在第二电路开关53的基极切换为低电平电压的情况下,第一电路开关52切换为断开,第一检测电路24停止动作。
<微机26的结构>
图9是表示微机26的主要部分结构的框图。实施方式3的微机26除了实施方式1的微机26具有的结构部之外,具有切换部72、73。切换部72、73连接于内部总线71。切换部72还在第一检测电路24内经由开关电阻57连接于第二电路开关53。切换部73还在第二检测电路25内经由开关电阻57连接于第二电路开关53。
切换部72在第一检测电路24内将基准电位为接地导体G的电位的第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压或低电平电压。切换部72按照控制部70的指示将第一电路开关52切换为接通或断开。具体而言,切换部72通过将第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压而将第二电路开关53切换为接通。由此,第一电路开关52切换为接通。切换部72通过将第二电路开关53的基极的电压调整为低电平电压而将第二电路开关53切换为断开。由此,第一电路开关52切换为断开。
同样,切换部73在第二检测电路25内将基准电位为接地导体G的电位的第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压或低电平电压。切换部73按照控制部70的指示将第一电路开关52切换为接通或断开。具体而言,切换部73通过将第二电路开关53的基极的电压调整为高电平电压而将第二电路开关53切换为接通。由此,第一电路开关52切换为接通。切换部73通过将第二电路开关53的基极的电压调整为低电平电压而将第二电路开关53切换为断开。由此,第一电路开关52切换为断开。
<第二故障检测处理>
图10是表示第二故障检测处理的次序的流程图。与实施方式1同样,控制部70在使第二负载12工作之前执行第二故障检测处理。因此,第二故障检测处理在第二FET40断开的状态下执行。控制部70在第二故障检测处理中未检测到故障的情况下,执行第二供电控制处理。
在实施方式3的第二故障检测处理中,执行由实施方式1的第二故障检测处理执行的全部的步骤。对这些步骤标注相同标号,省略该步骤的说明。由实施方式1的第二故障检测处理执行的步骤是步骤S1~S9。
在第二故障检测处理中,控制部70首先使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为接通,由此使第二检测电路25工作(步骤S31)。控制部70在执行了步骤S31之后,执行步骤S1,从A/D转换部62取得电路电压信息。
控制部70在执行了步骤S1之后,使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为断开,由此使第二检测电路25的动作停止(步骤S32)。控制部70在执行了步骤S32之后,执行步骤S2。
<第二供电控制处理>
图11是表示第二供电控制处理的次序的流程图。与实施方式1同样,第二供电控制处理在第二FET40断开的状态下执行。
在实施方式3的第二供电控制处理中,执行由实施方式1的第二供电控制处理执行的全部的步骤。对这些步骤标注相同标号,省略该步骤的说明。由实施方式1的第二供电控制处理执行的步骤是步骤S11~S18。
在第二供电控制处理中,控制部70在判定为使第二负载12工作的情况下(S11:是),使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为接通,由此使第二检测电路25工作(步骤S31)。控制部70在执行了步骤S31之后,执行步骤S12。
控制部70在执行了步骤S18之后或者判定为通过步骤S12取得的电路电压信息表示的电路电压不是正常范围内的电压的情况下(S13:否),使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为断开,由此使第二检测电路25的动作停止(步骤S42)。控制部70在执行了步骤S42之后,结束第二供电控制处理。
<第一故障检测处理及第一供电控制处理>
控制部70与第二故障检测处理同样地执行第一故障检测处理。控制部70与第二供电控制处理同样地执行第一供电控制处理。控制部70在需要取得电源电压信息的情况下,对切换部72进行指示,使第一检测电路24的第一电路开关52切换为接通。由此,第一检测电路24工作。控制部70在不需要取得电源电压信息的情况下,对切换部72进行指示,使第一检测电路24的第一电路开关52切换为断开。由此,第一检测电路24停止动作。
如以上所述,在实施方式3的供电控制装置13中,仅在需要检测电源电压的期间使第一检测电路24工作。仅在需要检测电路电压的期间使第二检测电路25工作。由此,能抑制多余的电力消耗。
实施方式3的供电控制装置13发挥与实施方式1的供电控制装置13同样的效果。
(实施方式4)
在实施方式2中,微机26、第一检测电路24及第二检测电路25也可以与实施方式3同样地构成。
以下,关于实施方式4,说明与实施方式2不同的点。关于除了后述的结构之外的其他的结构,与实施方式2共通。因此,对于与实施方式2共通的结构部,标注与实施方式2相同的参照标号,省略该结构部的说明。
<第一故障检测处理及第二故障检测处理>
在实施方式4的供电控制装置13中,微机26、第一检测电路24及第二检测电路25与实施方式3同样地构成。微机26的控制部70与实施方式3同样地执行第一故障检测处理及第二故障检测处理。
<第二供电控制处理>
图12是表示实施方式4的第二供电控制处理的次序的流程图。与实施方式2同样,第二供电控制处理在第二FET40断开的状态下执行。
在实施方式4的第二供电控制处理中,执行由实施方式2的第二供电控制处理执行的全部的步骤。对这些步骤标注相同标号,省略该步骤的说明。由实施方式2的第二供电控制处理执行的步骤是步骤S11、S12、S15、S17、S21~S24。
在第二供电控制处理中,控制部70在判定为使第二负载12工作的情况下(S11:是),使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为接通,由此使第二检测电路25工作(步骤S51)。控制部70在执行了步骤S51之后,执行步骤S12。
控制部70在执行了步骤S24之后,使切换部72将第二检测电路25的第一电路开关52切换为断开,由此使第二检测电路25的动作停止(步骤S52)。控制部70在执行了步骤S52之后,结束第二供电控制处理。
<第一供电控制处理>
控制部70与第二供电控制处理同样地执行第一供电控制处理。控制部70在需要取得电源电压信息的情况下使第一检测电路24工作。控制部70在不需要取得电源电压信息的情况下使第一检测电路24的动作停止。
如以上所述,在实施方式4的供电控制装置13中,仅在需要检测电源电压的期间使第一检测电路24工作。仅在需要检测电路电压的期间使第二检测电路25工作。由此,能抑制多余的电力消耗。
实施方式4的供电控制装置13发挥与实施方式2的供电控制装置13同样的效果。
<附注>
在实施方式3、4中,第一电路开关52没有限定为PNP型的双极型晶体管,也可以为P沟道型的FET。第二电路开关53没有限定为NPN型的双极型晶体管,也可以为N沟道型的FET。而且,第一电路开关52没有限定为半导体开关,也可以为继电器触点。将第一电路开关52切换为接通或断开的电路没有限定为使用了第二电路开关53的电路。
(实施方式5)
实施方式1的电源系统1具备的直流电源的个数为1个。然而,电源系统1具备的直流电源的个数没有限定为1个。
以下,关于实施方式5,说明与实施方式1不同的点。关于除了后述的结构之外的其他的结构,与实施方式1共通。因此,对与实施方式1共通的结构部标注与实施方式1相同的参照标号,省略该结构部的说明。
<电源系统1的结构>
图13是表示实施方式5的电源系统1的主要部分结构的框图。实施方式5的电源系统1除了实施方式1的电源系统1具备的结构部之外,还具备第二直流电源14。第二直流电源14例如为蓄电池。第二直流电源14的负极连接于接地导体G。第二直流电源14的正极连接于第一导线电阻Rw1的一端。第一导线电阻Rw1的另一端与实施方式1同样地连接。在实施方式5中,不是直流电源10而是第二直流电源14作为第二负载12、第二控制器22及第二检测电路25的电源发挥作用。
实施方式5的供电控制装置13、第一检测电路24及第二检测电路25分别发挥与实施方式1的供电控制装置13、第一检测电路24及第二检测电路25同样的效果。
(实施方式6)
实施方式1的第二负载12的下游侧的一端的连接对象是接地导体G。然而,第二负载12的下游侧的一端的连接对象没有限定为接地导体G。以下,关于实施方式5,说明与实施方式1不同的点。关于除了后述的结构之外的其他的结构,与实施方式1共通。因此,对于与实施方式1共通的结构部,标注与实施方式1相同的参照标号,省略该结构部的说明。
<电源系统1的结构>
图14是表示实施方式6的电源系统1的主要部分结构的框图。在实施方式6的电源系统1中,第二负载12的下游侧的一端连接于第二导线电阻Rw2的上游侧的一端。在实施方式6的电源系统1中,在第二控制器22的第二FET40接通的情况下,电流从直流电源10的正极按照第一导线电阻Rw1、第二FET40、第二输出部41、第二负载12、第二导线电阻Rw2及接地导体G的顺序流动。在该情况下,电路电压与第二负载12的下游侧的一端的电位为基准电位的第二FET40的漏极的电压一致。
实施方式6的供电控制装置13、第一检测电路24及第二检测电路25分别发挥与实施方式1的供电控制装置13、第一检测电路24及第二检测电路25同样的效果。
<附注>
在实施方式2~4、6中,与实施方式5同样,电源系统1也可以具备直流电源10及第二直流电源14。
在实施方式2~5中,与实施方式6同样,第二负载12的下游侧的一端的连接对象也可以为接地导体G。
在实施方式1~6中,只要使用第二导线W2,就需要检测电路电压,第二检测电路25有效地发挥作用。因此,第一导线W1也可以是能够忽视电阻值的导线。
在实施方式1~6中,第二控制器22的第二电压电阻43的下游侧的一端的连接对象没有限定为第二导线电阻Rw2的上游侧的一端,也可以为接地导体G。在该情况下,第二输出部41输出的电流在第二导线电阻Rw2中不流动,因此不会出现根据第二输出部41输出的电流而第二导线电阻Rw2的两端之间的电压发生变动的情况。
在实施方式1~6中,连接于直流电源10的正极与第二FET40的漏极之间的构件只要是具有电阻成分的电阻构件,就没有问题。因此,也可以取代第一导线W1而配置无法忽视电阻值的电路元件。该电路元件例如是无法忽视接通电阻值的半导体开关。同样,在实施方式1~6中,连接于第二驱动电路42与接地导体G之间的构件只要是具有电阻成分的电阻构件,就没有问题。因此,也可以取代第二导线W2而配置无法忽视电阻值的电路元件。
在实施方式1~6中,用于对第一负载11及第二负载12各自的电力供给进行控制的开关只要是向控制端施加的电压越大则电流的输入端与电流的输出端之间的电阻值越小的半导体开关,就没有问题。因此,也可以取代第一FET30而使用IGBT(Insulated GateBipolar Transistor:绝缘栅双极型晶体管)。同样,也可以取代第二FET40而使用IGBT。
应考虑的是公开的实施方式1~6在全部的点上为例示而不是限制性内容。本发明的范围不是由上述的意思而是由权利要求书公开,并意图包含与权利要求书等同的意思及范围内的全部变更。
标号说明
1 电源系统
10 直流电源
11 第一负载
12 第二负载
13 供电控制装置
14 第二直流电源
21 第一控制器
22 第二控制器
23 调节器
24 第一检测电路
25 第二检测电路
26 微机
30第一FET
31 第一输出部
32 第一驱动电路
33 第一电压电阻
40第二FET(半导体开关)
41第二输出部(电流输出部)
42第二驱动电路(切换电路)
43 第二电压电阻
50 电流输出器
51 电路电阻
52第一电路开关(连接开关)
53第二电路开关
54、55、56、57开关电阻
60、61、62、63A/D转换部
64、65 信号输出部
66、67 通信部
68 通知部
69 存储部
70控制部(处理部)
71 内部总线
72、73 切换部
A 存储介质
G 接地导体
P 计算机程序
Rd1、Rd2分压电阻
Re 设备电阻
Rw1 第一导线电阻
Rw2 第二导线电阻
Te晶体管(双极型晶体管)
W1第一导线
W2第二导线。

Claims (8)

1.一种检测电路,其中,具备:
电流输出器,输出与被输入电流的半导体开关的输入端和切换电路的接地之间的电路电压对应的电流,所述切换电路将所述半导体开关切换为接通或断开;及
电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,
所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,
所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其中,
所述电流输出器具有:
设备电阻,电流从所述半导体开关的输入端流向所述设备电阻;
PNP型的双极型晶体管,所述双极型晶体管的发射极连接于所述设备电阻的下游侧的一端,
所述双极型晶体管的基极的电位是所述切换电路的接地,
从所述双极型晶体管的集电极输出的电流流向所述电路电阻。
3.根据权利要求1或2所述的检测电路,其中,
所述检测电路具备连接开关,所述连接开关连接于所述半导体开关的输入端与所述电流输出器之间,
所述电流输出器将从所述半导体开关的输入端引入的电流向所述电路电阻输出。
4.一种供电控制装置,控制经由半导体开关的供电,其中,具备:
切换电路,将所述半导体开关切换为接通或断开;
检测电路,检测被输入电流的所述半导体开关的输入端与所述切换电路的接地之间的电路电压,输出表示检测到的电路电压的电压;及
处理部,执行处理,
所述处理部根据所述检测电路输出的电压,对所述切换电路指示所述半导体开关的向接通或断开的切换,
所述检测电路具有:
电流输出器,输出与所述电路电压对应的电流;及
电路电阻,所述电流输出器输出的电流流过所述电路电阻,
所述检测电路输出所述电路电阻的两端之间的电压,
所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压超过0V。
5.根据权利要求4所述的供电控制装置,其中,
所述供电控制装置具备电流输出部,所述电流输出部输出与经由所述半导体开关流动的电流对应的电流,
所述切换电路的接地与所述电路电阻的下游侧的一端之间的电压根据所述电流输出部输出的电流而变动。
6.根据权利要求4或5所述的供电控制装置,其中,
所述切换电路对所述电路电压进行升压,并将升压后的电压向所述半导体开关的控制端施加,从而将所述半导体开关切换为接通。
7.根据权利要求6所述的供电控制装置,其中,
所述处理部基于在所述半导体开关断开的状态下所述检测电路输出的电压,判定所述电路电压是否为接通电压,所述接通电压是能够向实现所述半导体开关的向接通的切换的电压升压的电压,
所述处理部在判定为所述电路电压是所述接通电压的情况下,对所述切换电路指示所述半导体开关的向接通的切换,
所述处理部在指示了所述半导体开关的向接通的切换之后判定所述半导体开关是否接通。
8.根据权利要求4~7中任一项所述的供电控制装置,其中,
电流从所述半导体开关的输入端按照所述切换电路及所述切换电路的接地的顺序流动,从而向所述切换电路供给电力,
所述处理部基于在所述半导体开关断开的状态下所述检测电路输出的电压,判定所述电路电压是否小于阈值电压,
所述处理部在判定为所述电路电压小于所述阈值电压的情况下,判定所述切换电路是否工作。
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JP6277151B2 (ja) * 2015-03-31 2018-02-07 日立オートモティブシステムズ株式会社 センサ装置
JP6904229B2 (ja) * 2017-12-12 2021-07-14 株式会社オートネットワーク技術研究所 給電制御装置及び給電制御方法
JP6911792B2 (ja) * 2018-02-21 2021-07-28 株式会社オートネットワーク技術研究所 給電制御装置
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