CN116037496A - 一种清洗、检测及分拣下料系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种清洗、检测及分拣下料系统及方法,属于高端智能装备领域,系统包括上料站、下清洗站、上清洗站、瑕疵检测站和分选下料站;本申请对料盘内产品的双面进行全自动清洗、检测和分选下料,清洗模拟人工按照擦拭轨迹清洁,检测集成双面及划痕检测并赋予产品的编码以瑕疵信息,分选引入补料方式实现循环,系统稳定可靠且成本低,适合连续生产要求,搭配AOI智能检测及图形处理技术,可在3C结构件玻璃、PCB、FPD、半导体产品等领域推广应用。

Description

一种清洗、检测及分拣下料系统及方法
技术领域
本发明属于高端智能装备领域,涉及镜头玻璃的智能筛选技术,具体公开了一种清洗、检测及分拣下料系统及方法。
背景技术
玻璃产品通常极易粘尘或者在加工过程中沾到油污,指纹印,洗涤剂等脏污。这些脏污粘附在玻璃表面非常明显,一方面会严重干扰到AOI对于划伤,崩边,镜片模糊等异常问题的检测,另一方面这些脏污同样会影响到后道生产和产品质量。脏污等甚至能够占到整体比例的60%左右,实际真正的划伤等不良仅占5%不到。
以光学玻璃AOI检测为例,如在料盘中待测的手机镜头为例,参见图1(手机镜头玻璃盖)和图2(盛有手机镜头的料盘),目前AOI设备检测出的产品中,如果不做清洁,一次通过率仅40%。污染物导致的不良占到55%左右,瑕疵造成的不良实际统计在5%以内。具体的,以镀氟化镁膜蓝宝石玻璃为例,玻璃加工过程中的灰尘或者其他杂质经常粘附于玻璃表面,只要有一点灰尘即非常明显,严重影响AOI检测。这些脏污或灰尘分为有机物杂质或无机物杂质,有机物主要包括指纹印记,油墨,油剂,含杂质的有机溶剂,衣物细绒线,毛发等,无机物包括玻璃碎屑,粉尘等。
此外,光学检测AOI常采用单站检测获得,综合检测效果不佳,需要设计整体综合上表面、下表面和划痕的检测站。而对于检测后的产品,需要根据检测结果进行分类NG与OK产品分别下料。
因此,需要设计一种集成清洗、检测和分拣下料的系统,实现料盘内产品的自动高效分选。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种清洗、检测及分拣下料系统及方法。
一种清洗、检测及分拣下料系统,系统包括上料站、下清洗站、上清洗站、瑕疵检测站和分选下料站;其中,下清洗站采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗,且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面;其中,上清洗站采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整面擦拭,并采用粘尘胶带对产品上表面进行粘尘清洁;其中,所述瑕疵检测站采用下表面图像采集、上表面图像采集及划痕图像采集的综合检测方式;其中,所述分选下料站采用NG拾取模组和OK拾取模组对料盘内的产品按类拾取分选下料。
进一步的,在所述上料站、下清洗站之间设置一个扫码站,对料盘上的产品识别并编码。
进一步的,所述下清洗站和/或上清洗站还设置有激光除尘组件,通过激光对产品表面复合清洁。
进一步的,所述瑕疵检测站包括设置在于检测机架上的输送皮带模组、上表面检测模组、划痕检测模组、划痕上料模组、下表面检测模组、下表面上料模组和图像处理器;图形处理器与各检测模组电讯连接并整合所有检测模组采集的图像判断产品瑕疵情况,并对产品赋予瑕疵情况的编码信息。
进一步的,所述分选下料站包括设置于分选下料机架上的主输送皮带模组、NG辅助分拣皮带模组、OK补料皮带模组、下料空盘搬运模组、NG取料模组、第一上检相机模组、第一下检相机模组、OK补料模组、第二上检相机模组、第二下检相机模组、OK补料盘仓、NG满盘仓、空料盘和OK满盘仓;分选下料站通过相机模组对上游检测过的料盘进行NG产品和OK产品的信息识别,并通过OK补料、NG取料实现产品分拣下料。
本发明还提供了一种对产品进行清洗、检测及分拣下料方法,方法包括:
S1、上料,通过上料站将未清洗料盘单片流线输送。
S2、下表面清洗,在下清洗站对承载在料盘内的产品下表面进行三轴顶压横移模拟人工自动擦洗。
S3、上表面清洗,在上清洗站对承载在料盘内的产品上表面进行湿式清洗和粘尘处理。
S4、瑕疵检测,清洗结束的产品料盘流转至瑕疵检测站,对产品下表面、上表面和划痕进行光学检测,通过图像处理器分析并记录对应产品的瑕疵信息。
S5、分选下料,瑕疵检测完的产品料盘流转至分选下料站,根据记录的瑕疵信息进行NG分拣、OK补料实现NG料和OK料的分拣下料。
相比现有技术,本发明的有益效果在于:本申请对料盘内产品的双面进行全自动清洗、检测和分选下料,清洗模拟人工按照擦拭轨迹清洁,检测集成双面及划痕检测并赋予产品的编码以瑕疵信息,分选引入补料方式实现循环,系统稳定可靠且成本低,适合连续生产要求,搭配AOI智能检测及图形处理技术,可在3C结构件玻璃、PCB、FPD、半导体产品等领域推广应用。
附图说明
图1为镜头玻璃图;
图2为载有手机镜头的料盘图;
图3为清洗、检测及分拣下料系统结构示意图;
图4为瑕疵检测站示意图;
图5和图6为分选下料站的一个示例的示意图;
图7和图8为分选下料站另一示例的示意图;
图9为清洗、检测及分拣下料方法的流程图。
图中,
1000、上料站;
2000、下清洗站;
3000、上清洗站;
4000、瑕疵检测站;4100、输送皮带模组;4200、上表面检测模组;4300、划痕检测模组;4400、划痕上料模组;4500、下表面检测模组;4600、下表面上料模组;4700、检测机架;
5000、分选下料站;5010、主输送皮带模组;5020、NG辅助分拣皮带模组;5030、OK补料皮带模组;5040、下料空盘搬运模组;5050、NG取料模组;
5051、第一上检相机模组;5060、第一下检相机模组;5070、OK补料模组;
5071、第二上检相机模组;5080、第二下检相机模组;5090、OK补料盘仓;
5100、NG满盘仓;5110、空料盘;5120、OK满盘仓;5130、下料机架;
6000、扫码站。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
清洗、检测及分拣下料系统
一种清洗、检测及分拣下料系统,参见图1-图8,系统包括上料站1000、下清洗站2000、上清洗站3000、瑕疵检测站4000和分选下料站5000。
系统布置:下清洗站2000采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗,且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面。上清洗站3000采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整面擦拭,并采用粘尘胶带对产品上表面进行粘尘清洁。所述瑕疵检测站4000采用下表面图像采集、上表面图像采集及划痕图像采集的综合检测方式。所述分选下料站5000采用NG拾取模组和OK拾取模组对料盘内的产品按类拾取分选下料。
进一步的,另一示例中,在所述上料站1000、下清洗站2000之间设置一个扫码站6000,对料盘上的产品识别并编码。
具体的,扫码站6000扫描产品背面的二维码,监测产品生产信息,也便于后续检测结果的瑕疵情况录入,作为后续分选下料的依据。当然,扫码站6000也可以取消,在后续的光学检测中集成扫码功能即可。
其中,所述下清洗站2000和/或上清洗站3000还设置有激光除尘组件,通过激光对产品表面复合清洁。
具体示例中,激光除尘组件包括设置在密闭清洁机壳内的三轴机器人、激光清洁头、掩膜版和载具;掩膜版和载具之间的空间为物理清洁腔,通过物理清洁将激光气化再次冷凝的污染物以及激光冲击波击飞的污染物进行集中收集处理,防止落到产品表面形成二次污染或污染无尘室;以此实现将激光清洁技术与物理清洁相结合,达到大颗粒污染物使用物理清洁,细小微粒使用激光清洁,多重清洁的办法解决玻璃检验前道的清洁问题。
具体示例中,下清洗站2000和/或上清洗站3000的湿式清洁包括用于无尘布收放料的料卷,清洁剂喷雾机构,压辊机构等,用于产品表面清洁。
具体示例中,粘尘清洁采用胶带收放料料卷,顶升机构和辊轮拖动机构,实现产品表面的粘尘清洁。
其中,所述瑕疵检测站4000包括设置在于检测机架4700上的输送皮带模组4100、上表面检测模组4200、划痕检测模组4300、划痕上料模组4400、下表面检测模组4500、下表面上料模组4600和图像处理器。
具体的,上表面检测模组4200直接对输送皮带模组4100的来料进行上表面图像采集。所述划痕上料模组4400用于将输送皮带模组4100的产品移送至划痕检测模组4300所在的划痕工位进行划痕图像采集。所述下表面上料模组4600用于将输送皮带模组4100的产品移送至下表面检测模组4500所在的下表面工位进行下表面图像采集。
图形处理器与各检测模组电讯连接并整合所有模组采集的图像判断产品瑕疵情况,并对产品赋予瑕疵情况的编码信息。
其中,参见图5和图6,分选下料站5000的一个示例,其包括设置于分选下料机架5130上的主输送皮带模组5010、NG辅助分拣皮带模组5020、OK补料皮带模组5030、下料空盘搬运模组5040、NG取料模组5050、第一上检相机模组5051、第一下检相机模组5060、OK补料模组5070、第二上检相机模组5071、第二下检相机模组5080、OK补料盘仓5090、NG满盘仓5100、空料盘5110和OK满盘仓5120。分选下料站5000通过相机模组对上游检测过的料盘进行NG产品和OK产品的信息识别,并通过OK补料、NG取料实现产品分拣下料。
具体的,所述NG辅助分拣皮带模组5020和OK补料皮带模组5030平行的布置在所述主输送皮带模组5010两侧。所述下料空盘搬运模组5040、NG取料模组5050和OK补料模组5070垂直于主输送皮带模组5010依次间隔布置。所述OK补料盘仓5090布置在OK补料皮带模组5030末端,通过顶升将OK补料盘输送给OK补料皮带模组5030。所述NG满盘仓5100布置在NG辅助分拣皮带模组5020末端,用于接收NG取料模组5050放满NG产品的NG料盘。所述OK满盘仓5120布置在主输送皮带模组5010末端,用于接收放满OK产品的OK料盘。所述下料空盘搬运模组5040用于将OK补料皮带模组5030上的空料盘5110拾取搬运至NG辅助分拣皮带模组5020上,并作为后续的NG料盘以接收NG取料模组5050送来的NG产品。NG取料模组5050用于识别拾取主输送皮带模组5010上料盘内的NG产品并输送给NG料盘。所述OK补料模组5070用于从OK料盘中拾取与NG产品等数量的OK产品填充到主输送皮带模组5010上料盘的空位中。
所述第一上检相机模组5051设置在所述NG取料模组5050上,与NG取料模组5050上的拾取头同步运行。所述第二上检相机模组5071设置在所述OK补料模组5070上,与OK补料模组5070的拾取头同步运行。
所述第一下检相机模组5060布置在主输送皮带模组5010与NG辅助分拣皮带模组5020之间,用于从底面采集NG取料模组5050拾取的NG产品信息。
所述第二下检相机模组5080布置在主输送皮带模组5010与OK补料皮带模组5030之间,用于从底面采集OK补料模组5070拾取的OK产品信息。
该示例中,拾取头的吸嘴个数与料盘的产品位或盘位数量相等,一站完成NG取料和OK补料及下料。
另一示例中,参见图7和图8,所述分选下料站5000包括并排设置的两个分拣站。其中,第一分拣站不设置OK满盘仓5120,用于对料盘的一三排产品进行NG分拣下料及OK补料。第二分拣站在主输送皮带模组5010末端设置OK满盘仓5120,用于对经过第一分拣站分拣后的料盘的二四排产品进行NG分拣下料及OK补料下料。
清洗、检测及分拣下料方法
一种根据前述系统对产品进行清洗、检测及分拣下料方法,参见图9,方法包括:
S1、上料,通过上料站1000将未清洗料盘单片流线输送。
S2、下表面清洗,在下清洗站2000对承载在料盘内的产品下表面进行三轴顶压横移模拟人工自动擦洗。
S3、上表面清洗,在上清洗站3000对承载在料盘内的产品上表面进行湿式清洗和粘尘处理。
S4、瑕疵检测,清洗结束的产品料盘流转至瑕疵检测站4000,对产品下表面、上表面和划痕进行光学检测,通过图像处理器分析并记录对应产品的瑕疵信息。
S5、分选下料,瑕疵检测完的产品料盘流转至分选下料站5000,根据记录的瑕疵信息进行NG分拣、OK补料实现NG料和OK料的分拣下料。
进一步的,步骤S5的分选下料包括:
S51、待分拣料盘从上游流向分选下料站5000的主输送皮带模组5010。
S52、NG料盘盘位信息采集,通过NG取料模组5050的第一上检相机模组5051对NG辅助分拣皮带模组5020上的NG料盘拍照,获取该NG料盘上的盘位信息。确定NG料盘上产品位哪些有产品哪些没有产品。
S53、NG产品拾取,NG取料模组5050的NG拾取头拾取主输送皮带模组5010上料盘内的NG产品。
S54、NG产品信息采集,第一下检相机模组5060从下方对NG拾取头拾取的NG产品图像采集,获取NG产品的编码及瑕疵信息。
S55、NG产品分拣下料,NG取料模组5050通过NG拾取头将拾取的NG产品转运至NG料盘,直至NG料盘内产品满盘后换盘并下料。
S56、OK产品拾取,OK补料盘仓5090顶升承载OK产品的OK补料盘至OK补料皮带模组5030,OK补料模组5070通过OK拾取头从OK补料盘内拾取与NG拾取头拾取的NG产品数量相等的OK产品数量。
S57、OK产品信息采集,第二下检相机模组5080从下方对OK拾取头拾取的OK产品图像采集,获取OK产品的编码信息。
S58、主流线料盘盘位信息采集,OK补料模组5070的第二上检相机模组5071对主输送皮带模组5010上的料盘拍照,获取主流线上已取走NG产品的料盘盘位信息。
S59、OK产品补料,OK补料模组5070通过OK拾取头将拾取的OK产品补入主输送皮带模组5010上料盘的空位内,直至主输送皮带模组5010上的料盘为OK产品满盘。
S510、OK产品下料,主输送皮带模组5010将OK产品满盘的料盘输送给OK满盘仓5120,实现OK产品下料。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种清洗、检测及分拣下料系统,其特征在于:系统包括上料站(1000)、下清洗站(2000)、上清洗站(3000)、瑕疵检测站(4000)和分选下料站(5000);
其中,下清洗站(2000)采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗,且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面;
其中,上清洗站(3000)采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整面擦拭,并采用粘尘胶带对产品上表面进行粘尘清洁;
其中,所述瑕疵检测站(4000)采用下表面图像采集、上表面图像采集及划痕图像采集的综合检测方式;
其中,所述分选下料站(5000)采用NG拾取模组和OK拾取模组对料盘内的产品按类拾取分选下料。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:在所述上料站(1000)、下清洗站(2000)之间设置一个扫码站(6000),对料盘上的产品识别并编码。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:所述下清洗站(2000)和/或上清洗站(3000)还设置有激光除尘组件,通过激光对产品表面复合清洁。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:所述瑕疵检测站(4000)包括设置在于检测机架(4700)上的输送皮带模组(4100)、上表面检测模组(4200)、划痕检测模组(4300)、划痕上料模组(4400)、下表面检测模组(4500)、下表面上料模组(4600)和图像处理器;所述上表面检测模组(4200)直接对输送皮带模组(4100)的来料进行上表面图像采集;所述划痕上料模组(4400)用于将输送皮带模组(4100)的产品移送至划痕检测模组(4300)所在的划痕工位进行划痕图像采集;所述下表面上料模组(4600)用于将输送皮带模组(4100)的产品移送至下表面检测模组(4500)所在的下表面工位进行下表面图像采集;图形处理器与各检测模组电讯连接并整合所有模组采集的图像判断产品瑕疵情况,并对产品赋予瑕疵情况的编码信息。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:所述分选下料站(5000)包括设置于分选下料机架(5130)上的主输送皮带模组(5010)、NG辅助分拣皮带模组(5020)、OK补料皮带模组(5030)、下料空盘搬运模组(5040)、NG取料模组(5050)、第一上检相机模组(5051)、第一下检相机模组(5060)、OK补料模组(5070)、第二上检相机模组(5071)、第二下检相机模组(5080)、OK补料盘仓(5090)、NG满盘仓(5100)、空料盘(5110)和OK满盘仓(5120);分选下料站(5000)通过相机模组对上游检测过的料盘进行NG产品和OK产品的信息识别,并通过OK补料、NG取料实现产品分拣下料。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于:所述分选下料站(5000)包括并排设置的两个分拣站;其中,第一分拣站不设置OK满盘仓(5120),用于对料盘的一三排产品进行NG分拣下料及OK补料;第二分拣站在主输送皮带模组(5010)末端设置OK满盘仓(5120),用于对经过第一分拣站分拣后的料盘的二四排产品进行NG分拣下料及OK补料下料。
7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于:所述NG辅助分拣皮带模组(5020)和OK补料皮带模组(5030)平行的布置在所述主输送皮带模组(5010)两侧;
所述下料空盘搬运模组(5040)、NG取料模组(5050)和OK补料模组(5070)垂直于主输送皮带模组(5010)依次间隔布置;
所述OK补料盘仓(5090)布置在OK补料皮带模组(5030)末端,通过顶升将OK补料盘输送给OK补料皮带模组(5030);
所述NG满盘仓(5100)布置在NG辅助分拣皮带模组(5020)末端,用于接收NG取料模组(5050)放满NG产品的NG料盘;
所述OK满盘仓(5120)布置在主输送皮带模组(5010)末端,用于接收放满OK产品的OK料盘;
所述下料空盘搬运模组(5040)用于将OK补料皮带模组(5030)上的空料盘(5110)拾取搬运至NG辅助分拣皮带模组(5020)上,并作为后续的NG料盘以接收NG取料模组(5050)送来的NG产品;
NG取料模组(5050)用于识别拾取主输送皮带模组(5010)上料盘内的NG产品并输送给NG料盘;
所述OK补料模组(5070)用于从OK料盘中拾取与NG产品等数量的OK产品填充到主输送皮带模组(5010)上料盘的空位中。
8.根据权利要求5或7所述的系统,其特征在于:所述第一上检相机模组(5051)设置在所述NG取料模组(5050)上,与NG取料模组(5050)上的拾取头同步运行;所述第二上检相机模组(5071)设置在所述OK补料模组(5070)上,与OK补料模组(5070)的拾取头同步运行。
9.根据权利要8所述的系统,其特征在于:
所述第一下检相机模组(5060)布置在主输送皮带模组(5010)与NG辅助分拣皮带模组(5020)之间,用于从底面采集NG取料模组(5050)拾取的NG产品信息;
所述第二下检相机模组(5080)布置在主输送皮带模组(5010)与OK补料皮带模组(5030)之间,用于从底面采集OK补料模组(5070)拾取的OK产品信息。
10.一种根据权利要求1-9任一项所述系统对产品进行清洗、检测及分拣下料方法,其特征在于,方法包括:
S1、上料,通过上料站(1000)将未清洗料盘单片流线输送;
S2、下表面清洗,在下清洗站(2000)对承载在料盘内的产品下表面进行三轴顶压横移模拟人工自动擦洗;
S3、上表面清洗,在上清洗站(3000)对承载在料盘内的产品上表面进行湿式清洗和粘尘处理;
S4、瑕疵检测,清洗结束的产品料盘流转至瑕疵检测站(4000),对产品下表面、上表面和划痕进行光学检测,通过图像处理器分析并记录对应产品的瑕疵信息;
S5、分选下料,瑕疵检测完的产品料盘流转至分选下料站(5000),根据记录的瑕疵信息进行NG分拣、OK补料实现NG料和OK料的分拣下料。
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