CN115874231A - 一种熔盐电解制备高硅钢的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种熔盐电解制备高硅钢的方法,属于金属材料合成与加工领域,本发明以低硅钢为基材,基材中Si含量为3.0~4.5wt%。以基材为阴极,单晶/多晶Si作为阳极,在氟化物熔盐中恒电流电解。本发明通过调控电流密度、电解温度、时间和熔盐中硅离子浓度等参数,可生产表面和中心部位Si含量一致的高硅钢薄带,实现了熔盐及电解质的绿色循环利用,避免了高硅钢在轧制过程中的脆性开裂问题,产品成材率高,整个工艺可实现连续生产。
Description
技术领域
本发明属于高硅钢的制备方法领域,具体涉及一种利用熔盐电解制备高硅钢的方法。
背景技术
高硅钢一般是指Si含量在4.5 ~ 6.7wt%的硅铁合金,主要应用于发电机、变压器、汽车升压转换器等设备的磁性部件中。不同Si含量的硅钢磁性能不同。随着硅含量升高,其电阻率和磁导率增加,磁致伸缩系数和铁损降低,当Si含量达到6.5wt%时,磁导率达到最大,磁致伸缩系数近似为零,铁损最低,磁性能达到最优。然而随着Si含量的增加,高硅钢的硬度和脆性急剧增大、韧性和延展率急剧降低,机械加工性能差,难以采用传统轧制方式规模化生产6.5wt% Si硅钢,制约了高硅钢的发展和应用。
为了克服高硅钢因脆性而难以加工的问题,人们不断尝试开发新型制备技术,但均存在一些问题而难以实际应用。目前只有化学气相沉积法(CVD)实现了6.5wt% Si硅钢的小批量工业化生产,但该工艺存在Fe基损耗过大、环境污染、设备维修费高等缺点。熔盐电解技术中电解副反应少,且沉积速度快,沉积层厚而均匀,产物微观形貌可控,能够实现高硅钢的生产。
李慧等发明的一种梯度硅钢的制备方法中,以SiO2为电解质,低硅钢和石墨分别为阴极和阳极进行电沉积,沉积层表面颗粒细小、致密度较好;但电流密度较大易造成阳极钝化,影响沉积产物质量,电解体系使用的熔盐电解质无法实现循环利用,造成硅基原料的浪费及氟盐对环境的污染。盛敏奇等发明的常温电沉积-扩渗制备梯度硅钢的方法中,以低硅钢为阴极镀件,在SiCl4、FeCl2水溶液体系的还原性气氛下,通过电沉积在阴极表面制备Fe-Si合金层,结合后续热处理实现了低硅钢表层Si的二次添加;但SiCl4具有毒性和腐蚀性,污染环境,同时也造成了铁资源浪费,产物Si-Fe合金层附着于阴极表面,最终产品厚度难以控制。因此,亟需开发一种实用的新型高硅钢生产工艺。
发明内容
本发明的目的在于克服现有的技术缺陷,以高纯铁或低硅钢为基材,通过熔盐电沉积技术实现高硅钢带材的绿色制备,以解决现有高硅钢制备工艺中Si扩散不均匀、冷脆性严重等的问题。结合后续热处理能够实现控制晶粒尺寸的目的,获得塑性良好、尺寸范围可控、致密均质的取向和无取向高硅钢板带材。
为了实现上述发明目的,本发明提供以下技术方案:
本发明提供了一种以低硅钢为基材,通过流程简单、条件温和的熔盐电沉积制备高硅钢的技术,具体包括以下步骤:
(1)电解质制备:称量氟化物无机盐和无机硅盐,所述无机硅盐与氟化物无机盐的摩尔比≤1:9,混合均匀后烘干;所述无机硅盐包括Na2SiF6、 K2SiF6、Li2SiF6或SiO2。
(2)熔盐电解:将所述电解质置于电解容器中,然后将阴极和阳极浸入电解质中,将电解容器升温至电解质熔点温度以上,通入惰性气体,将电极接通电源进行恒电流电解,其中,所述阴极为低硅钢,所述阳极为单晶硅或多晶硅;待电解结束后,取出阴极,清洗、烘干,其中,电解时电流密度为1-20mA/cm2,电解时间≤24h。
(3)高温退火:将烘干后的阴极至于退火炉的恒温区域内,在保护性气体氛围下,以5-10℃/min升温速率升至目标温度并保温一定时间,热处理结束后样品随炉以5-10℃/min速率降至室温,即得硅含量分布均匀的高硅钢,目标温度范围为1000-1200℃,保温时间t与所述目标温度T'的函数关系为:。
进一步的,所述步骤(1)中氟化物无机盐包括LiF、NaF、KF或其组成的二元或三元盐。
进一步的,所述氟化物无机盐和无机硅盐纯度均在98%以上。
进一步的,所述步骤(1)中烘干具体为:在真空炉中升温至200℃,保温12h。
进一步的,所述步骤(2)中低硅钢组分包括3wt%≤Si≤ 4.5wt%,Fe ≥ 95wt%,其余为不可避免的残余元素。
进一步的,所述步骤(2)中阴极的厚度为0.05mm ~ 1mm。
进一步的,所述步骤(2)中阳极的纯度≥98%
进一步的,所述步骤(2)还包括在将阴极和阳极浸入电解质前对阴极和阳极进行清洗,并在70-80℃烘干。
进一步的,所述步骤(2)中电解容器包括坩埚和竖式电阻炉,所述将电解质置于电解容器中具体为:将电解质装于坩埚中,然后将坩埚置于竖式电阻炉的恒温区域内。
进一步的,所述坩埚包括铁坩埚、石英坩埚、刚玉坩埚、石墨坩埚或镍坩埚。
进一步的,所述步骤(2)中电解容器升温具体为:将电阻炉升温至电解质熔点温度以上。
进一步的,所述步骤(2)中电解质熔点温度以上为550~950℃。
进一步的,所述步骤(2)中惰性气体为纯度≥99%的氩气或氮气。
进一步的,所述步骤(3)中保护性气体为纯度≥99%的氩气或氮气。
进一步的,所述步骤(3)中硅含量分布均匀指对所制备样品随机取样进行硅含量测试,其硅含量差值在0.3%以内。
进一步的,所述步骤(3)中高硅钢指Si含量在6%及以上。
本发明创造性地提出,采用单晶/多晶 Si作为阳极,在电解过程中阳极Si溶解,阴极Si沉积扩散同时进行,能够保证熔盐中硅离子浓度不变,实现熔盐绿色循环使用。选择包括Na2SiF6、 K2SiF6、Li2SiF6或SiO2的无机硅盐作为电解熔盐材料能够稳定存在于F/Li/Na/K溶剂中形成稳定的氟离子络合物,有助于降低扩散控制效应,进而避免高硅钢表面粗糙度增加、多孔,以及产生树枝或粉末状产物。
本发明创造性地提出,当沉积和扩散速率相当时,所制备的高硅钢表面无Si沉积层,电解前后阴极基材厚度不变,Si扩散层表面平滑,扩散层内Si分布均匀,浓度梯度小,电流效率更高。基于本发明的反应体系,将电流密度控制在1 ~ 20mA/cm2能够使Si4+还原速率与Si在基底内的扩散速率相当,阴极还原产物全部扩散进入基底,能够使高浓度的Si扩散至基底内部以获得高硅钢。
本发明创造性地提出,基于本发明的体系,当电解溶液中含硅离子摩尔浓度超过10%时,所得产品的Si扩散层粗糙程度急剧增大,很难达到表面平滑状态。由于硅的扩散系数大于铁,且熔盐中硅离子浓度高,使得硅扩散速率远大于铁的扩散速率,在硅-铁互扩散过程中容易引发剧烈的肯达尔效应,导致渗硅层内产生孔洞缺陷。因此优选硅离子电解质摩尔浓度范围为0~10 %,通过控制熔盐中硅离子浓度,避免缺陷的产生。
本发明创造性地提出,基底中渗入硅含量(渗入Si质量/基材总质量)(y/wt%)与电解温度(T/℃)、时间(t/h)、电流密度(J/ mA·cm-2)、硅离子浓度(c/mol%)呈正相关,通过调控以上电解参数能够制备出Si质量含量在6%及以上的高硅钢基材。其中目标Si含量的计算原则为:
本发明创造性地提出,在电解之后加入扩散退火步骤能够进一步地促使基底表层的Si向内部扩散,然而退火温度超过1250℃时,基材出现部分熔化,无法完成高硅钢的制备;当温度低于900℃时,扩散速度慢且不均匀,基于本发明的反应体系,应将扩散工艺参数控制为退火温度在1000-1200℃,保温时间t与所述目标温度T'的函数关系为:。为宜,当保温时间偏离上述函数关系时,硅在基体内部的扩散无法达到均匀化。
本发明具有以下突出特点和显著效果:
(1)本发明直接以高纯铁或低硅钢薄带为基材,避免了高硅钢在轧制过程中的脆性开裂问题,同时解决了表面质量差和尺寸规格小的问题。
(2)本发明通过调控电流密度、电解温度、时间和硅离子浓度,可生产Si含量均匀的高硅钢(随机取样检测得到Si含量分布差值小于0.3wt%),晶粒无偏析,性能稳定,根据本发明的方案,能够获得Si含量达到6%以上的均匀高硅钢,且硅的渗透深度可达到150μm。
(3)本发明阳极使用Si棒,在电解过程中实现阳极Si溶解,阴极Si沉积扩散同时进行,因此,熔盐中硅离子浓度不变,熔盐能够循环使用。操作简单,成本低,无污染,可实现整个工艺的连续生产。
附图说明
图1为实施例1电解产物的扫描电镜图。
图2为实施例1热处理产物的扫描电镜图。
图3为实施例1电解和热处理产物Si含量分布图。
具体实施方式
实施例1
称量30g纯度为99.5%的LiF、68g纯度为99.9%的KF共晶盐和5.0g纯度为99.9%的K2SiF6,通过行星式高能球磨机在300 r/min下混合1h后取出,装入被酒精擦拭干燥后的铁坩埚,将坩埚放入卧式炉中,通入高纯Ar,升温至 200℃并保温12h除去混合盐中的自由水和结合水。
以直径5mm、长度50mm的单晶Si棒用作阳极,0.5mm厚的低硅钢片为阴极,低硅钢片化学成分及质量百分数为:Si:3.0%,C:0.0022%,Als:0.55%,Mn:0.31%,O:0.0060%,P:0.011%,S:0.0017%,N:0.0019%,Ti:0.0018%,V:0.0014%,Nb:0.0015%,B:0.0049%,Sn:0.105%,其余为Fe元素,依次用去离子水和无水乙醇清洗电极表面后放入70℃烘箱中干燥备用。
用坩埚钳将上述装有盐的铁坩埚置于竖式电阻炉恒温区域内,使坩埚保持水平,将低硅钢片阴极固定在不锈钢棒一端,通过电阻炉上炉盖的管口插入到炉管中部,Si棒阳极采用同样的操作,检查电阻炉气密性良好后,通入高纯Ar气和循环水将电阻炉以5℃/min升温至600℃,达到目标温度后保温15min使混合盐完全熔融。
用万用表连接两电极上方,确定熔盐位置和电极浸入熔盐的深度,阳极和阴极均浸入2cm。固定好电极位置后,将电极连接电源,设置恒定电流为14.10mA(5mA/cm2),电解时间6h。
电解结束后,将电极缓慢提起后以5℃/min冷却速率降至室温。将电极片从炉内取出,清洗之后置于70℃烘箱中干燥。电解产物的扫描电镜图可见图1。
上述扩散退火具体过程如下:
将电解产物至于退火炉的恒温区域内,检查气密性后将退火炉用高纯Ar气清洗三次以清除炉膛内的残留氧,最后通入高纯Ar,以5℃/min升温速率升至1150℃并保温30min,热处理结束后样品随炉子以5℃/min速率降至室温,即得到Si含量分布差值小于0.3wt%的高硅钢。热处理产物的扫描电镜图可见图2,电解和热处理产物Si含量分布图见图3。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.5%,铁损P10/50=0.51 W·kg-1,P10/400=8.8 W·kg-1,B8=1.34T。本实施例的电流效率为77.3%。在样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.23wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例2
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置电流为6.24mA(3mA/cm2),电解时间8h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.1%,铁损P10/50=0.58/W·kg-1,P10/400=9.2 W·kg-1,B8=1.33T。本实施例的电流效率为81.1%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.20wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例3
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:低硅钢片化学成分及质量百分数为:Si:4.5%,C:0.0022%,Als:0.55%,Mn:0.31%,O:0.0060%,P:0.011%,S:0.0017%,N:0.0019%,Ti:0.0018%,V:0.0014%,Nb:0.0015%,B:0.0049%,Sn:0.105%,其余为Fe元素,设置电流为20.8mA(10mA/cm2),电解时间3h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.7%,铁损P10/50=0.53 W·kg-1,P10/400=9.0 W·kg-1,B8=1.35T。本实施例的电流效率为55.6%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.21wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例4
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:含K2SiF6含量为2.6g(0.5mol%)纯度为99.9%的K2SiF6,设置电流2.06mA(1mA/cm2),电解时间20h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.0%,铁损P10/50=0.56W·kg-1,P10/400=9.3W·kg-1,B8=1.30T。本实施例的电流效率为62.1%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.21wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例5
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置电解温度700℃,电流为6.28mA(3mA/cm2),电解时间4h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.4%,铁损P10/50=0.54 W·kg-1,P10/400=8.9 W·kg-1,B8=1.34T。本实施例的电流效率为88.9%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.25wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例6
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置电解温度800℃,电流为2.08mA(1mA/cm2),电解时间4h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.5%,铁损P10/50=0.50 W·kg-1,P10/400=9.0 W·kg-1,B8=1.34T。本实施例的电流效率为95.3%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.21wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
实施例7
本实施例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置热扩散退火温度1200℃,退火时间15min。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达6.5%,铁损P10/50=0.50 W·kg-1,P10/400=8.9 W·kg-1,B8=1.32T。本实施例的电流效率为77.3%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.21wt%,在误差范围内。产品孔洞少,未观察到明显缝隙,致密度高。
对比例1
本对比例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置电流为41.6mA(20 mA/cm2),电解时间4h。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达4.9%,铁损P10/50=1.02W·kg-1,P10/400=15.2W·kg-1,B8=1.28T。本实施例的电流效率为46.6%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.27wt%,在误差范围内,但产品微孔较多,观察到几十微米的缝隙,致密度差。
对比例2
本对比例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:加入K2SiF6的含量为31.2g(12mol%)纯度为99.9% 。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达5.7%,铁损P10/50=0.81W·kg-1,P10/400=14.5W·kg-1,B8=1.39T。本实施例的电流效率为39.8%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.52wt%,超过允许误差。产品微孔较多,观察到几十微米的缝隙,致密度差。
对比例3
本对比例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:设置电解温度540℃。
经测定,本实施例方案所得高硅钢最终Si含量达4.5%,铁损P10/50=0.98 W·kg-1,P10/400=16.6W·kg-1,B8=1.35T。本实施例的电流效率为45.5%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.65wt%,超过允许误差。产品微孔较多,观察到十几至几十微米的缝隙,致密度差。
对比例4
本对比例制备方法和实施例1相同,不同之处仅在于:用K2SiCl6替换K2SiF6。
本实施例方案所得高硅钢Si含量5.7%,铁损P10/50=1.05 W·kg-1,P10/400=19.8W·kg-1,B8=1.40T。本实施例的电流效率为67.7%。样品横截面上随机检测的20个点中,Si含量的最高和最低值的差值为0.72wt%,超过允许误差。电解前熔盐中没有稳定存在的硅离子,电解初期发生非硅沉积反应,导致熔盐中杂质沉积到阴极表面;样品表面有树枝状产生,观察到十几微米大小的孔洞存在,致密度差。
以上所述实施例仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,本领域技术人员在发明基础上所作的同等替代或变换,均在本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种熔盐电解制备高硅钢的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)电解质制备:称量氟化物无机盐和无机硅盐,所述无机硅盐与氟化物无机盐的摩尔比≤1:9,混合均匀后烘干;所述无机硅盐包括Na2SiF6、 K2SiF6、Li2SiF6或SiO2;
(2)熔盐电解:将所述电解质置于电解容器中,然后将阴极和阳极浸入电解质中,将电解容器升温至电解质熔点温度以上,通入惰性气体,将电极接通电源进行恒电流电解,其中,所述阴极为低硅钢,所述阳极为单晶硅或多晶硅;待电解结束后,取出阴极,清洗、烘干,其中,电解时电流密度为1-20mA/cm2,电解时间≤24h;
2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中氟化物无机盐包括LiF、NaF、KF或其组成的二元或三元盐。
3.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述氟化物无机盐和无机硅盐纯度均在98%以上。
4.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中烘干具体为:在真空炉中升温至200-300℃,保温12h以上。
5.如权利要求1-4任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中低硅钢组分包括3wt%≤Si≤ 4.5wt%,Fe ≥ 95wt%,其余为不可避免的残余元素。
6.如权利要求1-4任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中阴极的厚度为0.05mm ~ 1mm。
7.如权利要求1-4任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)还包括在将阴极和阳极浸入电解质前对阴极和阳极进行清洗,并在70-80℃烘干。
8.如权利要求1-4任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中电解质熔点温度以上为550~950℃。
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GOPALAKRISHNA M.RAO 等: "Electrowinning of Silicon from K2SiFo-Molten Fluoride Systems" * |
蔡宗英等: "电化学还原法制备Fe-6.5%Si 薄板" * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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CN115874231B (zh) | 2023-05-02 |
JP7439349B1 (ja) | 2024-02-28 |
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