CN115870228B - 一种肖特基芯片检测系统和芯片检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于检测设备技术领域，尤其是一种肖特基芯片检测系统和芯片检测方法，本发明包括机架，机架上两端分别连接有进料输送带和出料输送带；机架中间位置设有可升降的检测平台，检测平台设于进料输送带和出料输送带之间；检测平台上方设有用于对芯片检测的检测模组；检测平台包括：升降架和连接在升降架内的过渡输送带，升降架内设有一对用于带动过渡输送带运动的转动辊；其中一转动辊上连接有第一转动盘，第一转动盘上连接有第一连接杆，第一连接杆的一端连接有连接块，连接块与机架固定连接；本发明通过设有进料输送带、检测平台和出料输送带，在芯片输送的过程中对其进行检测和定位，提高了芯片的检测效率。

Description

一种肖特基芯片检测系统和芯片检测方法

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种肖特基芯片检测系统和芯片检测方法。

背景技术

肖特基芯片即肖特基二极管，是以其发明人肖特基博士命名的，是利用金属与半导体接触形成的金属－半导体结原理制作的，是一种热载流子二极管，广泛应用于开关电源、变频器、驱动器等电路，肖特基半导体集成电路芯片在生产制作过程中，因环节众多，工艺精细复杂，部分芯片在制作过程中便已出现损坏，若将损坏芯片与正常芯片同时向市场进行投放，必会造成市场的混乱，因此在芯片进入市场前，需对芯片表面线路进行检测；

现有技术中的芯片检测机一般包括用于向芯片表面发射平行光束的准直光源、以及用于获取芯片表面图像的相机，通过分析面阵相机实时抓取的图像，从而得到图像的各项参数，进而判断芯片是否合格；但目前的芯片检测机通过人工或者机械手将芯片放置在检测台上，然后再对其位置进行矫正，整个检测流程检测效率较低，芯片检测时的位置难以保证，使得检测相机抓取位置出现偏差，导致误报警的情况。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种肖特基芯片检测系统和芯片检测方法，通过设有进料输送带、检测平台和出料输送带，在芯片输送的过程中对其进行检测和定位，提高了芯片的检测效率，解决了上述背景技术中芯片检测效率低下的问题。

为达到上述技术目的，本发明的具体技术方案如下，本发明提出的一种肖特基芯片检测系统，包括机架，所述机架上两端分别连接有进料输送带和出料输送带；所述机架中间位置设有可升降的检测平台，所述检测平台设于所述进料输送带和出料输送带之间；所述检测平台上方设有用于对芯片检测的检测模组；所述检测平台包括：升降架和连接在所述升降架内的过渡输送带，所述升降架内设有一对用于带动所述过渡输送带运动的转动辊；其中一所述转动辊上连接有第一转动盘，所述第一转动盘上连接有第一连接杆，所述第一连接杆的一端连接有连接块，所述连接块与所述机架固定连接。

作为本发明的一种优选技术方案，所述检测模组包括固定架、检测相机和报警器，所述固定架上连接有可滑动的滑座，所述检测相机安装在所述滑座上，且所述固定架上转动连接有调节丝杆，所述滑座与所述调节丝杆螺纹连接。

作为本发明的一种优选技术方案，所述固定架上连接有侧板，所述侧板侧面设有凹槽，所述凹槽内滑动连接有可升降的定位板，所述定位板用于对所述芯片一侧定位。

作为本发明的一种优选技术方案，所述定位板上端设有与所述凹槽滑动连接的滑动部，所述凹槽下端设有与所述滑动部配合的挡部，且所述定位板的下端一侧连接有滚动杆。

作为本发明的一种优选技术方案，所述第一转动盘上固定连接有固定板，所述固定板表面设有槽道，所述槽道内滑动连接有滑轴，所述滑轴与所述第一连接杆转动连接。

作为本发明的一种优选技术方案，另一所述转动辊上连接有第二转动盘，所述升降架侧面设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块与所述第二转动盘之间连接有第二连接杆。

作为本发明的一种优选技术方案，所述升降架表面连接有推杆，所述推杆的一端通过第三连接杆与所述滑块连接，所述推杆的另一端设有用于对芯片定位的定位杆，且所述升降架上固定连接有与所述定位杆配合的限位板。

作为本发明的一种优选技术方案，所述升降架下方连接有驱动电机，所述驱动电机通过安装架与所述机架固定连接，所述驱动电机上连接有滚珠丝杆，所述升降架上连接有与所述滚珠丝杆螺纹连接的支架。

作为本发明的一种优选技术方案，所述过渡输送带与所述进料输送带、出料输送带之间均设有过渡板。

一种肖特基芯片的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一、芯片经过进料输送带运输到过渡输送带上；

步骤二、驱动电机带动升降架和过渡输送带向上运动，升降架在向上运动的过程中，第一连接杆带动第一转动盘转动，第一转动盘带动过渡输送带运动，从而将芯片移动至定位板位置；

步骤三、过渡输送带运动时带动第二转动盘转动，第二转动盘转动时带动滑块移动，滑块带动推杆移动，推杆带动定位杆移动，将芯片推动至限位板位置，使其位于检测相机下方。

步骤四、检测相机对芯片特定位置检测并与标准图片进行对比，若检测异常，则报警器发出警报，再通过人工复判；若检测正常，则驱动电机带动升降架和过渡输送带向下运动，同时第一转动盘继续向同一方向转动，带动过渡输送带继续运动，将芯片输送至出料输送带上；第二转动盘转动带动推杆移动至原位置。

本发明中的有益效果为：

1、本发明通过进料输送带将芯片运输至检测平台上，驱动电机带动检测平台上升，检测模组自动对芯片进行检测，然后再将芯片输送至出料输送带上，节省了芯片搬运的时间，在芯片输送过程中对其检测，提高了芯片的检测效率。

2、本发明升降架在升降的过程中，可自动带动过渡输送带转动，升降架上升时可自动将芯片输送至检测相机下方，升降架下降时可自动将芯片输送至出料输送带上，检测效率高效。

3、本发明升降架上升后，自动带动推杆移动对芯片的前后位置定位，且通过设有定位板对芯片的两侧位置限位，保证了芯片位置的精确性，减小了系统误报警的次数。

附图说明

图1为本发明提出的一种肖特基芯片检测系统的结构示意图。

图2为检测平台的结构示意图。

图3为检测平台的仰视示意图。

图4为第一转动盘的结构示意图。

图5为检测模组的结构示意图。

图6为定位板的结构示意图。

图7为定位板的另一角度示意图。

图中：1、机架；2、进料输送带；3、出料输送带；4、检测平台；41、升降架；42、过渡输送带；43、驱动电机；431、安装架；432、滚珠丝杆；44、第一转动盘；441、固定板；442、槽道；443、滑轴；45、第二转动盘；46、第一连接杆；47、连接块；48、滑块；49、滑槽；410、第二连接杆；411、第三连接杆；412、推杆；413、定位杆；414、限位板；415、支架；5、检测模组；51、固定架；52、滑座；53、调节丝杆；54、检测相机；55、定位板；551、侧板；552、凹槽；553、挡部；554、滑动部；555、滚动杆；56、报警器；6、芯片；7、过渡板。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

实施例：如图1-图7所示，本发明为一种肖特基芯片检测系统，包括机架1，机架1上两端分别连接有进料输送带2和出料输送带3；机架1中间位置设有可升降的检测平台4，检测平台4设于进料输送带2和出料输送带3之间，芯片6经过进料输送带2到达检测平台4，最后经过出料输送带3进入下个工序，其中，过渡输送带42与进料输送带2、出料输送带3之间均设有过渡板7，芯片6长度大于过渡板7的宽度，使得芯片6能够经过过渡板7到达检测平台4上，检测平台4上方设有用于对芯片6检测的检测模组5。

如图2-4所示，检测平台4包括升降架41和连接在升降架41内的过渡输送带42，升降架41下方连接有驱动电机43，驱动电机43通过安装架431与机架1固定连接，驱动电机43上连接有滚珠丝杆432，升降架41上连接有与滚珠丝杆432螺纹连接的支架415，支架415上设有与滚珠丝杆432配合的螺纹座，滚珠丝杆432转动带动升降架41和过渡输送带42升降；升降架41内设有用于带动过渡输送带42运动的转动辊；其中一转动辊上连接有第一转动盘44，第一转动盘44上连接有第一连接杆46，第一连接杆46的一端连接有连接块47，连接块47与机架1固定连接；升降架41升降时，通过第一连接杆46带动第一转动盘44持续的向同一方向转动，使得芯片6输送至检测模组5下方，且可带动芯片6输送至出料输送带3上。

优选的，第一转动盘44上固定连接有固定板441，固定板441朝向第一转动盘44圆心位置，固定板441表面设有槽道442，槽道442内滑动连接有滑轴443，滑轴443与第一连接杆46转动连接，其中，槽道442两端设为弧形槽，当滑轴443移动至弧形槽内，第一连接杆46与固定板441之间偏斜，避免了第一连接杆46与固定板441重合，导致第一转动盘44无法转动或者回转的情况出现。

其中，另一转动辊上连接有第二转动盘45，过渡输送带42转动时带动第二转动盘45转动，升降架41侧面设有水平方向上的滑槽49，滑槽49内滑动连接有滑块48，滑块48与第二转动盘45之间连接有第二连接杆410；升降架41表面连接有推杆412，推杆412与升降架41表面滑动连接，推杆412的一端通过第三连接杆411与滑块48连接，推杆412的另一端设有用于对芯片6定位的定位杆413，且升降架41上固定连接有与定位杆413配合的限位板414，升降架41上升时带动第二转动盘45转动，第二转动盘45转动带动滑块48滑动，滑块48滑动带动推杆412移动，从而带动定位杆413移动，将芯片6推动至限位板414位置，保证了芯片6前后位置的精确性。

如图5所示，检测模组5包括固定架51、检测相机54和报警器56，固定架51上连接有可滑动的滑座52，检测相机54安装在滑座52上，且固定架51上转动连接有调节丝杆53，滑座52与调节丝杆53螺纹连接，通过调节丝杆53可调节检测相机54的高度，检测相机54对芯片特定位置的图像进行检测，并与标准图像进行对比，对比二者的相似度，若相似度较高，如大于95%，则判断正常；若相似度小于95%，则判断异常，报警器56发出警报，再通过人工进行复判。

如图6-7所示，为达到对芯片两侧位置进行定位，在固定架51上连接有侧板551，侧板551侧面设有凹槽552，凹槽552内滑动连接有可升降的定位板55，定位板55设为可升降的作用为防止过渡输送带42与定位板55接触时，芯片6一端未与定位板55接触，无法达到定位的效果；定位板55用于对芯片6一侧定位，定位板55上端设有与凹槽552滑动连接的滑动部554，凹槽552下端设有与滑动部554配合的挡部553，且定位板55的下端一侧连接有滚动杆555，滚动杆555与过渡输送带42接触时，定位板55与过渡输送带42之间间距小于芯片6的厚度，且，当过渡输送带42向上运动时，带动芯片6向前输送，过渡输送带42表面先与定位板55上的滚动杆555接触，过渡输送带42继续向上运动带动定位板55向上运动，直至芯片6一端与定位板55接触。

一种肖特基芯片的检测方法，利用上述的一种肖特基芯片检测系统，包括以下步骤：

步骤一、芯片6经过进料输送带2运输到过渡输送带42上；

步骤二、驱动电机43带动升降架41和过渡输送带42向上运动，升降架41在向上运动的过程中，第一连接杆46带动第一转动盘44转动，第一转动盘44带动过渡输送带42运动，从而将芯片6移动至定位板55位置；

步骤三、过渡输送带42运动时带动第二转动盘45转动，第二转动盘45转动时带动滑块48移动，滑块48带动推杆412移动，推杆412带动定位杆413移动，将芯片6推动至限位板414位置，使其位于检测相机54下方。

步骤四、检测相机54对芯片6特定位置检测并与标准图片进行对比，若检测异常，则报警器56发出警报，再通过人工复判；若检测正常，则驱动电机43带动升降架41和过渡输送带42向下运动，同时第一转动盘44继续向同一方向转动，带动过渡输送带42继续运动，将芯片6输送至出料输送带3上；第二转动盘45转动带动推杆412移动至原位置。

最后应说明的是：在本发明的描述中，需要说明的是，术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种肖特基芯片检测系统，其特征在于，包括机架（1），所述机架（1）上两端分别连接有进料输送带（2）和出料输送带（3）；

所述机架（1）中间位置设有可升降的检测平台（4），所述检测平台（4）设于所述进料输送带（2）和出料输送带（3）之间；所述检测平台（4）上方设有用于对芯片（6）检测的检测模组（5）；

所述检测平台（4）包括：

升降架（41）和连接在所述升降架（41）内的过渡输送带（42），所述升降架（41）内设有一对用于带动所述过渡输送带（42）运动的转动辊；

其中一所述转动辊上连接有第一转动盘（44），所述第一转动盘（44）上连接有第一连接杆（46），所述第一连接杆（46）的一端连接有连接块（47），所述连接块（47）与所述机架（1）固定连接；

所述检测模组（5）包括固定架（51）、检测相机（54）和报警器（56），所述固定架（51）上连接有可滑动的滑座（52），所述检测相机（54）安装在所述滑座（52）上，且所述固定架（51）上转动连接有调节丝杆（53），所述滑座（52）与所述调节丝杆（53）螺纹连接；

所述固定架（51）上连接有侧板（551），所述侧板（551）侧面设有凹槽（552），所述凹槽（552）内滑动连接有可升降的定位板（55），所述定位板（55）用于对所述芯片（6）一侧定位；

所述定位板（55）上端设有与所述凹槽（552）滑动连接的滑动部（554），所述凹槽（552）下端设有与所述滑动部（554）配合的挡部（553），且所述定位板（55）的下端一侧连接有滚动杆（555）；

所述第一转动盘（44）上固定连接有固定板（441），所述固定板（441）表面设有槽道（442），所述槽道（442）内滑动连接有滑轴（443），所述滑轴（443）与所述第一连接杆（46）转动连接；

另一所述转动辊上连接有第二转动盘（45），所述升降架（41）侧面设有滑槽（49），所述滑槽（49）内滑动连接有滑块（48），所述滑块（48）与所述第二转动盘（45）之间连接有第二连接杆（410）；

所述升降架（41）表面连接有推杆（412），所述推杆（412）的一端通过第三连接杆（411）与所述滑块（48）连接，所述推杆（412）的另一端设有用于对芯片（6）定位的定位杆（413），且所述升降架（41）上固定连接有与所述定位杆（413）配合的限位板（414）。

2.根据权利要求1所述的一种肖特基芯片检测系统，其特征在于，所述升降架（41）下方连接有驱动电机（43），所述驱动电机（43）通过安装架（431）与所述机架（1）固定连接，所述驱动电机（43）上连接有滚珠丝杆（432），所述升降架（41）上连接有与所述滚珠丝杆（432）螺纹连接的支架（415）。

3.根据权利要求2所述的一种肖特基芯片检测系统，其特征在于，所述过渡输送带（42）与所述进料输送带（2）、出料输送带（3）之间均设有过渡板（7）。

4.一种肖特基芯片的检测方法，利用如权利要求3所述的一种肖特基芯片检测系统，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一、芯片（6）经过进料输送带（2）运输到过渡输送带（42）上；

步骤二、驱动电机（43）带动升降架（41）和过渡输送带（42）向上运动，升降架（41）在向上运动的过程中，第一连接杆（46）带动第一转动盘（44）转动，第一转动盘（44）带动过渡输送带（42）运动，从而将芯片（6）移动至定位板（55）位置；

步骤三、过渡输送带（42）运动时带动第二转动盘（45）转动，第二转动盘（45）转动时带动滑块（48）移动，滑块（48）带动推杆（412）移动，推杆（412）带动定位杆（413）移动，将芯片（6）推动至限位板（414）位置，使其位于检测相机（54）下方；

步骤四、检测相机（54）对芯片（6）特定位置检测并与标准图片进行对比，若检测异常，则报警器（56）发出警报，再通过人工复判；若检测正常，则驱动电机（43）带动升降架（41）和过渡输送带（42）向下运动，同时第一转动盘（44）继续向同一方向转动，带动过渡输送带（42）继续运动，将芯片（6）输送至出料输送带（3）上；第二转动盘（45）转动带动推杆（412）移动至原位置。